JPH076519Y2 - 穀物の単粒移送装置 - Google Patents
穀物の単粒移送装置Info
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- JPH076519Y2 JPH076519Y2 JP1987097152U JP9715287U JPH076519Y2 JP H076519 Y2 JPH076519 Y2 JP H076519Y2 JP 1987097152 U JP1987097152 U JP 1987097152U JP 9715287 U JP9715287 U JP 9715287U JP H076519 Y2 JPH076519 Y2 JP H076519Y2
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Landscapes
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
- Control Of Conveyors (AREA)
- Specific Conveyance Elements (AREA)
- Sorting Of Articles (AREA)
- Feeding Of Articles To Conveyors (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
この考案は穀物の単粒移送装置に係り、特に回転円板の
試料採取孔の回転に同期するタイミング信号を出力する
回転検出手段の改良に関する。
試料採取孔の回転に同期するタイミング信号を出力する
回転検出手段の改良に関する。
従来、穀物の単粒移送装置として、例えば第７図および
第８図に示す穀粒品質判定機に使用されているものがあ
る。これらの図において、１は穀粒品質判定機であり、
被測定試料である穀粒Ｋ、例えば玄米に光線を照射し透
過光量、反射光量を検出して、胴割、整粒、未熟粒、着
色粒等の品質ランクの判定を行うものである。２は穀粒
を一粒毎に採取して移送する回転円板、３は穀粒に光線
を照射し、その透過・反射光量を検出して検知値を出力
する機能を有する検知部、４は検知値を入力して品質ラ
ンクを決定する各種の演算制御処理を実行するマイクロ
コンピュータからなる判定制御部である。５は回転円板
２の外周縁に円周方向等角度に複数個、開設した試料採
取孔であり、穀粒Ｋを一粒毎に嵌入して採取し、検知部
３へ移送するものである。６は、判定制御部４から出力
される品質ランク信号に基づいて穀粒Ｋを品質ランク別
に選別する選別部である。 このような穀物の単粒移送装置において、判定制御部４
は回転円板２の試料採取孔５の回転に同期させて各種の
制御動作（例えば、検知値による品質ランク判定、品質
ランクに対応する選別信号の出力）などを実行してい
る。このため従来は、第８図に示すように、回転円板２
の下面には試料採取孔５に対応した数のスリットＳを有
するリング状のスリット壁Ｈをネジ等により固着すると
ともに、該スリット壁Ｈの内外側に発光・受光素子から
なる回転検出手段Ｔを設置し、判定制御部４はこの回転
検出手段Ｔによって試料採取孔５の回転に同期するタイ
ミング信号を得るようにしていた。
第８図に示す穀粒品質判定機に使用されているものがあ
る。これらの図において、１は穀粒品質判定機であり、
被測定試料である穀粒Ｋ、例えば玄米に光線を照射し透
過光量、反射光量を検出して、胴割、整粒、未熟粒、着
色粒等の品質ランクの判定を行うものである。２は穀粒
を一粒毎に採取して移送する回転円板、３は穀粒に光線
を照射し、その透過・反射光量を検出して検知値を出力
する機能を有する検知部、４は検知値を入力して品質ラ
ンクを決定する各種の演算制御処理を実行するマイクロ
コンピュータからなる判定制御部である。５は回転円板
２の外周縁に円周方向等角度に複数個、開設した試料採
取孔であり、穀粒Ｋを一粒毎に嵌入して採取し、検知部
３へ移送するものである。６は、判定制御部４から出力
される品質ランク信号に基づいて穀粒Ｋを品質ランク別
に選別する選別部である。 このような穀物の単粒移送装置において、判定制御部４
は回転円板２の試料採取孔５の回転に同期させて各種の
制御動作（例えば、検知値による品質ランク判定、品質
ランクに対応する選別信号の出力）などを実行してい
る。このため従来は、第８図に示すように、回転円板２
の下面には試料採取孔５に対応した数のスリットＳを有
するリング状のスリット壁Ｈをネジ等により固着すると
ともに、該スリット壁Ｈの内外側に発光・受光素子から
なる回転検出手段Ｔを設置し、判定制御部４はこの回転
検出手段Ｔによって試料採取孔５の回転に同期するタイ
ミング信号を得るようにしていた。
ところが、上述の回転検出手段Ｔにおいては、リング状
のスリット壁Ｈが回転円板２の回転軸に対して偏芯して
固着されると、回転検出手段Ｔは試料採取孔５の回転に
同期したタイミング信号を出力することができず、この
結果、判定制御部４は正確な制御動作を実行できなくな
る。 このために、スリット壁Ｈは回転円板２の下面に所定の
精度で位置決めして固着する必要がある。しかし、スリ
ット壁Ｈと回転円板２とは製作加工の便のために互いに
別体に形成されており、これらを前述のように所定の精
度で位置決めして固着することは、非常に困難な作業と
なった。 このために、回転円板２を製作するための製作コストが
アップしたり、またさらに、回転円板２のスリット壁Ｈ
を曲げたりして破損させないようにする必要から、その
保守点検時の取り扱いが面倒になる等の不都合が生じ
た。 そこで、本考案の目的は、回転円板からスリット壁Ｈを
取り除いた回転検出手段を構成することにより、スリッ
ト壁Ｈを所定の精度で位置決め固着する困難な作業を不
要にするとともに、回転円板２の取り扱いを容易にし得
る穀物の単粒移送装置を実現することにある。
のスリット壁Ｈが回転円板２の回転軸に対して偏芯して
固着されると、回転検出手段Ｔは試料採取孔５の回転に
同期したタイミング信号を出力することができず、この
結果、判定制御部４は正確な制御動作を実行できなくな
る。 このために、スリット壁Ｈは回転円板２の下面に所定の
精度で位置決めして固着する必要がある。しかし、スリ
ット壁Ｈと回転円板２とは製作加工の便のために互いに
別体に形成されており、これらを前述のように所定の精
度で位置決めして固着することは、非常に困難な作業と
なった。 このために、回転円板２を製作するための製作コストが
アップしたり、またさらに、回転円板２のスリット壁Ｈ
を曲げたりして破損させないようにする必要から、その
保守点検時の取り扱いが面倒になる等の不都合が生じ
た。 そこで、本考案の目的は、回転円板からスリット壁Ｈを
取り除いた回転検出手段を構成することにより、スリッ
ト壁Ｈを所定の精度で位置決め固着する困難な作業を不
要にするとともに、回転円板２の取り扱いを容易にし得
る穀物の単粒移送装置を実現することにある。
この目的を達成するためにこの考案は、回転可能に支持
した回転円板の外周縁に、円周方向等角度に複数の試料
採取孔を有し、試料供給部から試料採取孔に一粒毎に採
取した試料穀粒を回転方向に移送せしめるものにおい
て、 回転円板には、試料採取孔の回転域Ｌに隣接する回転域
に、試料採取孔と同じ円周方向等角度でもって複数のタ
イミング孔を開設するとともに、回転円板の上下面には
該タイミング孔の回転通過を検知して、試料採取孔の回
転に同期するタイミング信号を出力する回転検出手段を
配置し、該タイミング孔の上面を透明板で覆ったことを
特徴とするものである。
した回転円板の外周縁に、円周方向等角度に複数の試料
採取孔を有し、試料供給部から試料採取孔に一粒毎に採
取した試料穀粒を回転方向に移送せしめるものにおい
て、 回転円板には、試料採取孔の回転域Ｌに隣接する回転域
に、試料採取孔と同じ円周方向等角度でもって複数のタ
イミング孔を開設するとともに、回転円板の上下面には
該タイミング孔の回転通過を検知して、試料採取孔の回
転に同期するタイミング信号を出力する回転検出手段を
配置し、該タイミング孔の上面を透明板で覆ったことを
特徴とするものである。
この考案の構成によれば、回転円板には、試料採取孔の
回転域Ｌに隣接する回転域に、試料採取孔と同じ円周方
向等角度でもって複数のタイミング孔を開設するととも
に、回転円板の上下面には該タイミング孔の回転通過を
検知して、試料採取孔の回転に同期するタイミング信号
を出力する回転検出手段を配置したことにより、回転円
板の製作時に試料採取孔とタイミング孔とを高精度に位
置決めして開設することが可能となり、これによって回
転円板からスリット壁を取り除いても回転検出手段は試
料採取孔の回転に正確に同期したタイミング信号を出力
する。また、タイミング孔の上面を透明板で覆ったこと
により、タイミング孔の塞がりを防止し、回転検出手段
の精度を向上させる。
回転域Ｌに隣接する回転域に、試料採取孔と同じ円周方
向等角度でもって複数のタイミング孔を開設するととも
に、回転円板の上下面には該タイミング孔の回転通過を
検知して、試料採取孔の回転に同期するタイミング信号
を出力する回転検出手段を配置したことにより、回転円
板の製作時に試料採取孔とタイミング孔とを高精度に位
置決めして開設することが可能となり、これによって回
転円板からスリット壁を取り除いても回転検出手段は試
料採取孔の回転に正確に同期したタイミング信号を出力
する。また、タイミング孔の上面を透明板で覆ったこと
により、タイミング孔の塞がりを防止し、回転検出手段
の精度を向上させる。
以下この考案の実施例を図面に基づいて詳細、且つ具体
的に説明する。第１図ないし第４図は、前述の従来例の
穀粒品質判定機１に本考案を適用した実施例を示すもの
であり、第７図および第８図に提示した従来例と同一の
機能を果す箇所には同一符号を付して説明する。 １は穀粒品質判定機、２は回転円板、３は検知部であ
る。検知部３は、例えば２波長の透過光量を検知する透
過反射ヘッド３−１と、穀粒の長軸方向前後の透過光量
を検知する胴割ヘッド３−２とから成る。回転円板２は
穀粒を一粒毎に検知部３へ移送するものであり、その外
周縁には円周方向等角度に複数の試料採取孔５を有し、
モータ９により矢印ａ方向に回転可能に支持されてい
る。また、この回転円板２は第２図の如く角度θ傾斜さ
せて設けている。また、回転円板２の下面には試料採取
孔５に嵌入して移送される試料穀粒８が下方に落下する
のを阻止する試料基台11を設けている。回転円板２の傾
斜下方には、外周縁に沿って壁体12を試料基台11と直角
に配設し、この壁体12と回転円板２の下方斜面２−１と
の間に試料穀粒８を溜める試料供給部14を形成してい
る。 この試料供給部14に溜められた試科穀粒８は、回転円盤
２の回転に伴い一粒毎に試料採取孔５に嵌入し、試料基
台11により落下を阻止されて矢印ａ方向に移送される。
検知部３は移送されてくる試料穀粒８の各穀粒一粒毎に
光線を照射し、その透過・反射光量を検知する。そし
て、その検知値は、別途に設けた判定制御部に入力し、
例えば、整粒、未熟粒、被害粒、着色粒等の品質ランク
の判定を行うためのデータとなる。 次に、第３図ないし第５図に基づいて本実施例の要部で
ある回転検出手段について説明する。15は回転円板２に
開孔したタイミング孔であり、試料採取孔５の回転域Ｌ
に隣接する内周の回転域Ｍに、試料採取孔５と対応し
て、同一半径方向Ｒ、円周方向等角度θＡに複数個、開
設する。16は所定位置の１つのタイミング孔15に光線を
照射する発光素子である。17は、発光素子16を支持する
支持板であり、その一端は試料基台11の側端面に固定さ
れている。18は回転円板２のタイミング孔15を介して前
記発光素子16からの光線の有無を検出してタイミング孔
15の回転通過を検知し、タイミング信号として判定制御
部に出力する受光素子である。このタイミング信号によ
って判定制御部は、回転円板２の試料採取孔５の回転に
同期した各種の制御動作（例えば、検知値による品質ラ
ンク判定、品質ランクに対応する選別信号の出力）等を
実行する。 ここで、タイミング孔15と前記発光素子16と受光素子18
とで回転検出手段を構成する。19は試料基台11の上面に
張設された樹脂板であり、移送される試料穀粒８のすべ
り摩擦抵抗を低減するために設ける。20は別途設けてあ
るエアー源に接続するエアーノズルであり、試料採取孔
５に複数の穀粒が嵌入したときにエアーを吐出して余剰
穀粒の除去を行なうものであり、前記支持板17の下部に
固定される。21はタイミング孔15の回転域Ｍの回転円板
２上面に貼られた透明樹脂板であり、タイミング孔15に
破砕した穀粒等が嵌入して、受光素子18が誤作動しない
ようにするものである。 以下、この実施例の回転検出手段の動作を第６図のタイ
ミングチャートに基づいて説明する。 まず、穀粒品質判定機１の使用時においては、試料供給
部14に試料穀粒を供給した後、測定を開始するとモータ
９は回転円板２を回転方向ａに回転させる。試料供給部
14においては、試料穀粒８が試料採取孔５に嵌入して回
転方向ａに移送される。検知部３は、試料採取孔５に嵌
入され一粒毎に移送されてくる試料穀粒８に光線を照射
し、その透過・反射光量を検知する。第６図の（Ａ）
は、透過反射ヘッド３−１が検知した透過光量に対応し
た検知値の出力信号であり、回転円板２の試料採取孔５
の回転に同期した所定の周期t1毎に出力される。このと
き、同時に回転円板２のタイミング孔15は、前記発光素
子16からの光線を通過・遮断するので、受光素子18は第
６図の（Ｂ）のようなタイミング信号を出力する。この
タイミング信号は、タイミング孔15が該試料採取孔５と
対応して、同一半径方向Ｒ、円周方向等角度θＡに複
数、開設されているために、前記（Ａ）の検知値の出力
信号と同期した周期t1の信号となる。 さらに、回転円板２の製作時に試料採取孔５とタイミン
グ孔15とは互いに隣接した回転域にあるので、高精度に
位置決めして開設することが可能となり、これによっ
て、回転検出手段16,18は試料採取孔５の回転に正確に
同期したタイミング信号を出力することができる。そし
て、判定制御部はこのタイミング信号よって試料採取孔
５の回転に正確に同期させた各種の制御動作を安定的
に、実行することができる。また、従来のようにスリッ
ト壁Ｈのような追加部品を回転円板２に所定の精度で位
置決めして固着する困難な作業が不要となり、製造コス
トを低減させることができる。さらに、従来のスリット
壁Ｈを不要にしたので、回転円板２の保守点検時におけ
る取り扱いが簡単になる。なお、本考案は前記実施例に
限定されるものではなく、種々の応用，変更が可能であ
る。 例えば、前記実施例では、タイミング孔15は試料採取孔
５の回転域Ｌに隣接する内周の回転域Ｍに、該試料採取
孔５と対応して、同一半径方Ｒ、円周方向等角度θＡに
開設したが、円周方向等角度θＡであれば必ずしも同一
半径方向Ｒにする必要がない。即ち、第６図の（Ｃ）は
前記半径方向Ｒが円周方向に角度θ/2だけズラして開設
したときのタイミング信号であるが、周期t1が同一であ
るので、判定制御部にて前記（Ｂ）のタイミング信号の
ように試料採取孔５の回転に同期する信号に変換して利
用することも容易である。また、上記実施例ではタイミ
ング孔15を試料採取孔５の回転域Ｌに隣接する内周の回
転域Ｍに開設したが、回転域Ｌと同じ回転域または隣接
する外周の回転域に開設してもよい。
的に説明する。第１図ないし第４図は、前述の従来例の
穀粒品質判定機１に本考案を適用した実施例を示すもの
であり、第７図および第８図に提示した従来例と同一の
機能を果す箇所には同一符号を付して説明する。 １は穀粒品質判定機、２は回転円板、３は検知部であ
る。検知部３は、例えば２波長の透過光量を検知する透
過反射ヘッド３−１と、穀粒の長軸方向前後の透過光量
を検知する胴割ヘッド３−２とから成る。回転円板２は
穀粒を一粒毎に検知部３へ移送するものであり、その外
周縁には円周方向等角度に複数の試料採取孔５を有し、
モータ９により矢印ａ方向に回転可能に支持されてい
る。また、この回転円板２は第２図の如く角度θ傾斜さ
せて設けている。また、回転円板２の下面には試料採取
孔５に嵌入して移送される試料穀粒８が下方に落下する
のを阻止する試料基台11を設けている。回転円板２の傾
斜下方には、外周縁に沿って壁体12を試料基台11と直角
に配設し、この壁体12と回転円板２の下方斜面２−１と
の間に試料穀粒８を溜める試料供給部14を形成してい
る。 この試料供給部14に溜められた試科穀粒８は、回転円盤
２の回転に伴い一粒毎に試料採取孔５に嵌入し、試料基
台11により落下を阻止されて矢印ａ方向に移送される。
検知部３は移送されてくる試料穀粒８の各穀粒一粒毎に
光線を照射し、その透過・反射光量を検知する。そし
て、その検知値は、別途に設けた判定制御部に入力し、
例えば、整粒、未熟粒、被害粒、着色粒等の品質ランク
の判定を行うためのデータとなる。 次に、第３図ないし第５図に基づいて本実施例の要部で
ある回転検出手段について説明する。15は回転円板２に
開孔したタイミング孔であり、試料採取孔５の回転域Ｌ
に隣接する内周の回転域Ｍに、試料採取孔５と対応し
て、同一半径方向Ｒ、円周方向等角度θＡに複数個、開
設する。16は所定位置の１つのタイミング孔15に光線を
照射する発光素子である。17は、発光素子16を支持する
支持板であり、その一端は試料基台11の側端面に固定さ
れている。18は回転円板２のタイミング孔15を介して前
記発光素子16からの光線の有無を検出してタイミング孔
15の回転通過を検知し、タイミング信号として判定制御
部に出力する受光素子である。このタイミング信号によ
って判定制御部は、回転円板２の試料採取孔５の回転に
同期した各種の制御動作（例えば、検知値による品質ラ
ンク判定、品質ランクに対応する選別信号の出力）等を
実行する。 ここで、タイミング孔15と前記発光素子16と受光素子18
とで回転検出手段を構成する。19は試料基台11の上面に
張設された樹脂板であり、移送される試料穀粒８のすべ
り摩擦抵抗を低減するために設ける。20は別途設けてあ
るエアー源に接続するエアーノズルであり、試料採取孔
５に複数の穀粒が嵌入したときにエアーを吐出して余剰
穀粒の除去を行なうものであり、前記支持板17の下部に
固定される。21はタイミング孔15の回転域Ｍの回転円板
２上面に貼られた透明樹脂板であり、タイミング孔15に
破砕した穀粒等が嵌入して、受光素子18が誤作動しない
ようにするものである。 以下、この実施例の回転検出手段の動作を第６図のタイ
ミングチャートに基づいて説明する。 まず、穀粒品質判定機１の使用時においては、試料供給
部14に試料穀粒を供給した後、測定を開始するとモータ
９は回転円板２を回転方向ａに回転させる。試料供給部
14においては、試料穀粒８が試料採取孔５に嵌入して回
転方向ａに移送される。検知部３は、試料採取孔５に嵌
入され一粒毎に移送されてくる試料穀粒８に光線を照射
し、その透過・反射光量を検知する。第６図の（Ａ）
は、透過反射ヘッド３−１が検知した透過光量に対応し
た検知値の出力信号であり、回転円板２の試料採取孔５
の回転に同期した所定の周期t1毎に出力される。このと
き、同時に回転円板２のタイミング孔15は、前記発光素
子16からの光線を通過・遮断するので、受光素子18は第
６図の（Ｂ）のようなタイミング信号を出力する。この
タイミング信号は、タイミング孔15が該試料採取孔５と
対応して、同一半径方向Ｒ、円周方向等角度θＡに複
数、開設されているために、前記（Ａ）の検知値の出力
信号と同期した周期t1の信号となる。 さらに、回転円板２の製作時に試料採取孔５とタイミン
グ孔15とは互いに隣接した回転域にあるので、高精度に
位置決めして開設することが可能となり、これによっ
て、回転検出手段16,18は試料採取孔５の回転に正確に
同期したタイミング信号を出力することができる。そし
て、判定制御部はこのタイミング信号よって試料採取孔
５の回転に正確に同期させた各種の制御動作を安定的
に、実行することができる。また、従来のようにスリッ
ト壁Ｈのような追加部品を回転円板２に所定の精度で位
置決めして固着する困難な作業が不要となり、製造コス
トを低減させることができる。さらに、従来のスリット
壁Ｈを不要にしたので、回転円板２の保守点検時におけ
る取り扱いが簡単になる。なお、本考案は前記実施例に
限定されるものではなく、種々の応用，変更が可能であ
る。 例えば、前記実施例では、タイミング孔15は試料採取孔
５の回転域Ｌに隣接する内周の回転域Ｍに、該試料採取
孔５と対応して、同一半径方Ｒ、円周方向等角度θＡに
開設したが、円周方向等角度θＡであれば必ずしも同一
半径方向Ｒにする必要がない。即ち、第６図の（Ｃ）は
前記半径方向Ｒが円周方向に角度θ/2だけズラして開設
したときのタイミング信号であるが、周期t1が同一であ
るので、判定制御部にて前記（Ｂ）のタイミング信号の
ように試料採取孔５の回転に同期する信号に変換して利
用することも容易である。また、上記実施例ではタイミ
ング孔15を試料採取孔５の回転域Ｌに隣接する内周の回
転域Ｍに開設したが、回転域Ｌと同じ回転域または隣接
する外周の回転域に開設してもよい。
以上の説明から明らかなように、この考案によれば、回
転可能に支持した回転円板の外周縁に、円周方向等角度
に複数の試料採取孔を有し、試料供給部から試料採取孔
に一粒毎に採取した試料穀粒を回転方向に移送せしめる
ものにおいて、回転円板には、試料採取孔の回転域Ｌに
隣接する回転域に、試料採取孔と同じ円周方向等角度で
もって複数のタイミング孔を開設するとともに、回転円
板の上下面には該タイミング孔の回転通過を検知して、
試料採取孔の回転に同期するタイミング信号を出力する
回転検出手段を配置したので、回転検出手段は試料採取
孔の回転に正確に同期したタイミング信号を出力すると
ともに、従来のような回転円板にスリット壁Ｈを所定の
精度で位置決め固着する困難な作業を不要にし、回転円
板の製作コストを低減させ、回転円板の保守点検時の取
り扱いを簡単にすることができる。また、タイミング孔
の上面を透明板で覆ったので、破砕した穀粒等がタイミ
ング孔に嵌入して塞いで回転検出手段が誤作動するのを
防止し、回転検出手段の検出精度を向上させることでき
る。
転可能に支持した回転円板の外周縁に、円周方向等角度
に複数の試料採取孔を有し、試料供給部から試料採取孔
に一粒毎に採取した試料穀粒を回転方向に移送せしめる
ものにおいて、回転円板には、試料採取孔の回転域Ｌに
隣接する回転域に、試料採取孔と同じ円周方向等角度で
もって複数のタイミング孔を開設するとともに、回転円
板の上下面には該タイミング孔の回転通過を検知して、
試料採取孔の回転に同期するタイミング信号を出力する
回転検出手段を配置したので、回転検出手段は試料採取
孔の回転に正確に同期したタイミング信号を出力すると
ともに、従来のような回転円板にスリット壁Ｈを所定の
精度で位置決め固着する困難な作業を不要にし、回転円
板の製作コストを低減させ、回転円板の保守点検時の取
り扱いを簡単にすることができる。また、タイミング孔
の上面を透明板で覆ったので、破砕した穀粒等がタイミ
ング孔に嵌入して塞いで回転検出手段が誤作動するのを
防止し、回転検出手段の検出精度を向上させることでき
る。
第１図および第２図は本考案を適用した穀粒品質判定機
の外観図であり、第１図は第２図のＶ矢視図、第２図は
第１図の右側面図を示す。第３図は第１図における穀物
の単粒移送装置の回転円板の拡大図であり、第４図は第
１図のI-I線拡大断面図、第５図は第４図のII-II線矢視
図、第６図はタイミング信号のタイムチャート、第７図
は従来の穀粒品質判定機における単粒移送装置を示す説
明図、第８図は第７図のIII-III線矢視図である。 図において、１は穀粒品質判定機、２は回転円板、３は
検知部、５は試料採取孔、６は選別部、８は試料穀粒、
14は試料供給部、15はタイミング孔、16は発光素子、18
は受光素子、21は透明樹脂板である。
の外観図であり、第１図は第２図のＶ矢視図、第２図は
第１図の右側面図を示す。第３図は第１図における穀物
の単粒移送装置の回転円板の拡大図であり、第４図は第
１図のI-I線拡大断面図、第５図は第４図のII-II線矢視
図、第６図はタイミング信号のタイムチャート、第７図
は従来の穀粒品質判定機における単粒移送装置を示す説
明図、第８図は第７図のIII-III線矢視図である。 図において、１は穀粒品質判定機、２は回転円板、３は
検知部、５は試料採取孔、６は選別部、８は試料穀粒、
14は試料供給部、15はタイミング孔、16は発光素子、18
は受光素子、21は透明樹脂板である。
Claims (1)
- 【請求項１】回転可能に支持した回転円板の外周縁に、
円周方向等角度に複数の試料採取孔を有し、試料供給部
から試料採取孔に一粒毎に採取した試料穀粒を回転方向
に移送せしめるものにおいて、 回転円板には、試料採取孔の回転域Ｌに隣接する回転域
に、試料採取孔と同じ円周方向等角度でもって複数のタ
イミング孔を開設するとともに、回転円板の上側及び下
側には該タイミング孔の回転通過を検知して、試料採取
孔の回転に同期するタイミング信号を出力する回転検出
手段を配置し、更に該タイミング孔の塞がりにより回転
検出手段が誤作動するのを防止するため該タイミング孔
の上面を透明板で覆ったことを特徴とする穀物の単粒移
送装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1987097152U JPH076519Y2 (ja) | 1987-06-24 | 1987-06-24 | 穀物の単粒移送装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1987097152U JPH076519Y2 (ja) | 1987-06-24 | 1987-06-24 | 穀物の単粒移送装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS642149U JPS642149U (ja) | 1989-01-09 |
| JPH076519Y2 true JPH076519Y2 (ja) | 1995-02-15 |
Family
ID=30963796
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1987097152U Expired - Lifetime JPH076519Y2 (ja) | 1987-06-24 | 1987-06-24 | 穀物の単粒移送装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH076519Y2 (ja) |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP4005530B2 (ja) * | 2003-04-07 | 2007-11-07 | 株式会社小寺電子製作所 | パーツフィーダ及び端子圧着装置 |
| JP6155924B2 (ja) * | 2013-07-16 | 2017-07-05 | 株式会社デンソー | 寸法測定装置、及び寸法測定方法 |
| WO2022152646A1 (en) * | 2021-01-12 | 2022-07-21 | Gea Food Solutions Weert B.V. | Servo-driven singling equipment |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS57161642A (en) * | 1981-03-31 | 1982-10-05 | Olympus Optical Co Ltd | Inspecting device for defect of surface |
| JPS6243130A (ja) * | 1985-08-20 | 1987-02-25 | Nec Corp | 半導体装置の製造方法 |
-
1987
- 1987-06-24 JP JP1987097152U patent/JPH076519Y2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS642149U (ja) | 1989-01-09 |
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