JPH0765401A - 光ヘッド - Google Patents
光ヘッドInfo
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- JPH0765401A JPH0765401A JP5235497A JP23549793A JPH0765401A JP H0765401 A JPH0765401 A JP H0765401A JP 5235497 A JP5235497 A JP 5235497A JP 23549793 A JP23549793 A JP 23549793A JP H0765401 A JPH0765401 A JP H0765401A
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- light
- beam splitter
- reflected
- disc
- optical head
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 偏光度の悪い光源を使用しても精度の高い記
録照射パワーのモニター制御が可能な光ヘッドを提供す
ることを目的とする。 【構成】 本発明の光ヘッドは、光源とディスクとの間
に設けられ且つ前記ディスクに対向する端面Ｃが光軸と
直交する面に対して一定角度だけ傾いたビームスプリッ
ター１と、前記ディスクに向かう光ビームの前記端面Ｃ
における反射光を受光するための光検出手段４とを備
え、前記光検出手段の出力に応じて記録照射パワーをモ
ニター制御することを特徴とする。
録照射パワーのモニター制御が可能な光ヘッドを提供す
ることを目的とする。 【構成】 本発明の光ヘッドは、光源とディスクとの間
に設けられ且つ前記ディスクに対向する端面Ｃが光軸と
直交する面に対して一定角度だけ傾いたビームスプリッ
ター１と、前記ディスクに向かう光ビームの前記端面Ｃ
における反射光を受光するための光検出手段４とを備
え、前記光検出手段の出力に応じて記録照射パワーをモ
ニター制御することを特徴とする。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、光ディスク装置の光ヘ
ッドに関し、さらに詳細には記録照射パワーの前方モニ
ター制御に関する。
ッドに関し、さらに詳細には記録照射パワーの前方モニ
ター制御に関する。
【０００２】
【従来の技術】光ディスク装置、特に光磁気ディスク装
置においては、ディスク上に信号を記録する際に、ヘッ
ドからの光の照射パワーを正確に制御する必要がある。
特に、マーク長記録方式においては、ピットポジション
記録方式と比べて、より高い制御精度が要求される。従
来、記録照射パワーをモニターする方法として、後方モ
ニター制御方法および前方モニター制御方法が提案され
ている。
置においては、ディスク上に信号を記録する際に、ヘッ
ドからの光の照射パワーを正確に制御する必要がある。
特に、マーク長記録方式においては、ピットポジション
記録方式と比べて、より高い制御精度が要求される。従
来、記録照射パワーをモニターする方法として、後方モ
ニター制御方法および前方モニター制御方法が提案され
ている。
【０００３】後方モニター制御方法は、光源である半導
体レーザのチップから後方（ディスクと反対方向）に射
出される光を受光して記録照射パワーをモニター制御す
る方法である。この方法ではレーザへの戻り光などの影
響を受け易く、モニター精度を得ることが困難であるた
め、高い精度が要求される記録照射パワーのモニター制
御には不向きである。また、前方モニター制御方法は、
ビーム往路中の光学系において光源であるレーザから射
出した光を分割し、この分割された光を受光して記録照
射パワーをモニター制御する方法である。
体レーザのチップから後方（ディスクと反対方向）に射
出される光を受光して記録照射パワーをモニター制御す
る方法である。この方法ではレーザへの戻り光などの影
響を受け易く、モニター精度を得ることが困難であるた
め、高い精度が要求される記録照射パワーのモニター制
御には不向きである。また、前方モニター制御方法は、
ビーム往路中の光学系において光源であるレーザから射
出した光を分割し、この分割された光を受光して記録照
射パワーをモニター制御する方法である。
【０００４】たとえば従来の前方モニター制御を用いた
光ヘッドでは、図６に示すように、光源６１から射出し
コリメータレンズ６２を通過した光をビームスプリッタ
ー６３においてディスク（不図示）に向かう透過光と光
検出器６５に向かう反射光に分割する。反射光を受光し
た光検出器６５の出力をモニターすることによって、記
録照射パワーを制御することができる。一方、ディスク
からの反射光（戻り光）は、ビームスプリッター６３で
図中左方向に反射され、結像レンズ６４を介して信号検
出専用光検出器６６に入射する。
光ヘッドでは、図６に示すように、光源６１から射出し
コリメータレンズ６２を通過した光をビームスプリッタ
ー６３においてディスク（不図示）に向かう透過光と光
検出器６５に向かう反射光に分割する。反射光を受光し
た光検出器６５の出力をモニターすることによって、記
録照射パワーを制御することができる。一方、ディスク
からの反射光（戻り光）は、ビームスプリッター６３で
図中左方向に反射され、結像レンズ６４を介して信号検
出専用光検出器６６に入射する。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】このように従来の前方
モニター制御を用いた光ヘッドでは、モニター用光路を
別途設けてモニター専用の光検出器を備える必要があ
る。したがって、部品点数が増えるとともに構成が複雑
になってしまい、製造コストの増大を招くという不都合
があった。また、光源からの光が最初に入射するビーム
スプリッターにおいて従来の前方モニター制御を行う場
合、光源の発光パワーの変化に依存して偏光度が変化
し、その偏光度の変化に伴ってモニター出力も変化して
しまうため、モニター出力に基づいて記録照射パワーを
正確に制御することが困難であるという不都合があっ
た。この点について以下に説明を加える。
モニター制御を用いた光ヘッドでは、モニター用光路を
別途設けてモニター専用の光検出器を備える必要があ
る。したがって、部品点数が増えるとともに構成が複雑
になってしまい、製造コストの増大を招くという不都合
があった。また、光源からの光が最初に入射するビーム
スプリッターにおいて従来の前方モニター制御を行う場
合、光源の発光パワーの変化に依存して偏光度が変化
し、その偏光度の変化に伴ってモニター出力も変化して
しまうため、モニター出力に基づいて記録照射パワーを
正確に制御することが困難であるという不都合があっ
た。この点について以下に説明を加える。
【０００６】光源として一般に用いられる半導体レーザ
の偏光度は、発光パワーに依存して変化する。すなわ
ち、偏光のＰ成分とＳ成分との比が発光パワーに依存し
て変化する。そしてこの偏光のＰ成分とＳ成分との比の
変化の仕方は、個々のレーザに固有のものである。一
方、ビームスプリッターの膜特性は、一般にＳ成分の反
射率が極めて高く、逆にＰ成分の反射率は低くなってい
る。したがって、特段の手段を付設することなく前方モ
ニター制御を行うためには、ビームスプリッターを透過
してディスクに向かう光の光量と、ビームスプリッター
で反射してモニター用光学系に向かう光の光量との比が
常に一定でなければならない。
の偏光度は、発光パワーに依存して変化する。すなわ
ち、偏光のＰ成分とＳ成分との比が発光パワーに依存し
て変化する。そしてこの偏光のＰ成分とＳ成分との比の
変化の仕方は、個々のレーザに固有のものである。一
方、ビームスプリッターの膜特性は、一般にＳ成分の反
射率が極めて高く、逆にＰ成分の反射率は低くなってい
る。したがって、特段の手段を付設することなく前方モ
ニター制御を行うためには、ビームスプリッターを透過
してディスクに向かう光の光量と、ビームスプリッター
で反射してモニター用光学系に向かう光の光量との比が
常に一定でなければならない。
【０００７】ところが、ビームスプリッターに光が入射
すると、ビームスプリッターで反射されてモニター用光
路に向かう光にはＰ成分およびＳ成分の双方が含まれる
のに対し、ビームスプリッターを透過してディスクに向
かう光にはＳ成分はほとんど除去されて含まれていな
い。したがって、光源の発光パワーが変化してその偏光
度が変化すると、ビームスプリッターの透過光量と反射
光量との比が変化してしまう。このため、モニター出力
に基づいて記録照射パワーを正確に制御することができ
なくなってしまう。本発明は、前述の課題に鑑みてなさ
れたものであり、偏光度の悪い光源を使用しても精度の
高い記録照射パワーのモニター制御が可能な光ヘッドを
提供することを目的とする。
すると、ビームスプリッターで反射されてモニター用光
路に向かう光にはＰ成分およびＳ成分の双方が含まれる
のに対し、ビームスプリッターを透過してディスクに向
かう光にはＳ成分はほとんど除去されて含まれていな
い。したがって、光源の発光パワーが変化してその偏光
度が変化すると、ビームスプリッターの透過光量と反射
光量との比が変化してしまう。このため、モニター出力
に基づいて記録照射パワーを正確に制御することができ
なくなってしまう。本発明は、前述の課題に鑑みてなさ
れたものであり、偏光度の悪い光源を使用しても精度の
高い記録照射パワーのモニター制御が可能な光ヘッドを
提供することを目的とする。
【０００８】
【課題を解決するための手段】前記課題を解決するため
に、本発明においては、光源とディスクとの間に設けら
れ且つ前記ディスクに対向する端面が光軸と直交する面
に対して一定角度だけ傾いたビームスプリッターと、前
記ディスクに向かう光ビームの前記端面における反射光
を受光するための光検出手段とを備え、前記光検出手段
の出力に応じて記録照射パワーをモニター制御すること
を特徴とする光ヘッドを提供する。また、本発明の好ま
しい態様によれば、前記光検出手段は、前記ビームスプ
リッターの端面で反射し且つ前記ビームスプリッターの
境界面で反射した光を受光する。
に、本発明においては、光源とディスクとの間に設けら
れ且つ前記ディスクに対向する端面が光軸と直交する面
に対して一定角度だけ傾いたビームスプリッターと、前
記ディスクに向かう光ビームの前記端面における反射光
を受光するための光検出手段とを備え、前記光検出手段
の出力に応じて記録照射パワーをモニター制御すること
を特徴とする光ヘッドを提供する。また、本発明の好ま
しい態様によれば、前記光検出手段は、前記ビームスプ
リッターの端面で反射し且つ前記ビームスプリッターの
境界面で反射した光を受光する。
【０００９】
【作用】図５は、本発明の作用を説明するための原理図
である。図５において、光源５１から射出した光はコリ
メータレンズ５２を通りビームスプリッター５３に入射
する。ビームスプリッター５３は屈折率がｎのガラスか
ら形成され、ディスク（不図示）に対向する光射出端面
が光軸（ビームスプリッター内を伝搬して前記端面に差
しかかる光の光軸）と直交する面に対して所定の角度θ
だけ傾いている。また、前記端面には、反射防止コーテ
ィングがなされていない。したがって、ビームスプリッ
ター５３を光が通過する際、図中破線で示すように前記
端面において一部の光が反射される。一方、図中実線で
示すようにビームスプリッター５３を透過した光は、不
図示の対物レンズを介して同じく不図示のディスク上に
集光される。
である。図５において、光源５１から射出した光はコリ
メータレンズ５２を通りビームスプリッター５３に入射
する。ビームスプリッター５３は屈折率がｎのガラスか
ら形成され、ディスク（不図示）に対向する光射出端面
が光軸（ビームスプリッター内を伝搬して前記端面に差
しかかる光の光軸）と直交する面に対して所定の角度θ
だけ傾いている。また、前記端面には、反射防止コーテ
ィングがなされていない。したがって、ビームスプリッ
ター５３を光が通過する際、図中破線で示すように前記
端面において一部の光が反射される。一方、図中実線で
示すようにビームスプリッター５３を透過した光は、不
図示の対物レンズを介して同じく不図示のディスク上に
集光される。
【００１０】ビームスプリッター５３の前記端面の傾き
をθとすると、前記端面での反射光は光軸に対して２θ
の傾きを有する。図中破線で示すように、反射光はビー
ムスプリッター５３の薄膜面で反射され、再生信号検出
光学系またはサーボ信号検出光学系に向かい、焦点距離
ｆの結像レンズ５４を介して光検出器５５上に焦点を結
ぶ。一方、図中実線で示すように、ディスク上で反射さ
れた戻り光はビームスプリッター５３に再入射し、その
薄膜面で反射され、再生信号検出光学系またはサーボ信
号検出系に向かい、焦点距離ｆの結像レンズ５４を介し
て光検出器５５上に焦点を結ぶ。
をθとすると、前記端面での反射光は光軸に対して２θ
の傾きを有する。図中破線で示すように、反射光はビー
ムスプリッター５３の薄膜面で反射され、再生信号検出
光学系またはサーボ信号検出光学系に向かい、焦点距離
ｆの結像レンズ５４を介して光検出器５５上に焦点を結
ぶ。一方、図中実線で示すように、ディスク上で反射さ
れた戻り光はビームスプリッター５３に再入射し、その
薄膜面で反射され、再生信号検出光学系またはサーボ信
号検出系に向かい、焦点距離ｆの結像レンズ５４を介し
て光検出器５５上に焦点を結ぶ。
【００１１】傾きθ（ラジアン）の値が１より十分小さ
い場合には、ビームスプリッター５３の端面での反射光
が焦点を結ぶ位置とディスクからの戻り光が焦点を結ぶ
位置との距離は２ｎｆθとなる。こうして、距離２ｎｆ
θを適宜選択することによって、ディスクからの戻り光
を受光する信号用受光器とビームスプリッター５３の端
面での反射光を受光するモニター用受光器とを備えたワ
ンチップで、光検出器５５を構成することができる。反
射光の光量は、ビームスプリッター５３を構成するガラ
スの屈折率に依存する。屈折率をｎとすると、ビームス
プリッター５３の光射出端面における反射率Ｒは、次の
数式（１）で表される。 Ｒ＝（ｎ−１）2 ／（ｎ＋１）2 （１）
い場合には、ビームスプリッター５３の端面での反射光
が焦点を結ぶ位置とディスクからの戻り光が焦点を結ぶ
位置との距離は２ｎｆθとなる。こうして、距離２ｎｆ
θを適宜選択することによって、ディスクからの戻り光
を受光する信号用受光器とビームスプリッター５３の端
面での反射光を受光するモニター用受光器とを備えたワ
ンチップで、光検出器５５を構成することができる。反
射光の光量は、ビームスプリッター５３を構成するガラ
スの屈折率に依存する。屈折率をｎとすると、ビームス
プリッター５３の光射出端面における反射率Ｒは、次の
数式（１）で表される。 Ｒ＝（ｎ−１）2 ／（ｎ＋１）2 （１）
【００１２】具体的には、たとえば屈折率１．５のガラ
スでは反射率は約４％であり、屈折率１．７のガラスで
は反射率は約６．７％となる。このように、本発明では
ビームスプリッターを構成するガラスの種類を選択して
その屈折率を変えることにより、モニター用光量を適当
に選ぶことができる。また、本発明ではモニター用の光
としてビームスプリッターの境界面（薄膜面）を一旦通
過した偏光度の高い光を使用するため、光源の偏光度の
変化の影響を受けにくくなっている。
スでは反射率は約４％であり、屈折率１．７のガラスで
は反射率は約６．７％となる。このように、本発明では
ビームスプリッターを構成するガラスの種類を選択して
その屈折率を変えることにより、モニター用光量を適当
に選ぶことができる。また、本発明ではモニター用の光
としてビームスプリッターの境界面（薄膜面）を一旦通
過した偏光度の高い光を使用するため、光源の偏光度の
変化の影響を受けにくくなっている。
【００１３】
【実施例】本発明の実施例を、添付図面に基づいて説明
する。図１は、本発明の第１の実施例にかかる光ヘッド
の光学系の基本的構成を説明する図である。この実施例
では、光磁気信号検出部で前方モニター制御を行ってい
る。明瞭化のために、図１では光の伝搬を光軸のみで示
している。図示の光ヘッドは、図示を省略した光源から
の平行光が入射するビームスプリッター１を備えてい
る。ビームスプリッター１の射出端面Ｃは図示を省略し
たディスクに対向し、光軸と直交する面に対して傾いて
いる。したがって、ビームスプリッター１を通過した光
は屈折され、対物レンズを介してディスク上に集光され
る。ディスクからの戻り光は、ビームスプリッター１に
再入射し、その薄膜面Ａで図中左方向に反射される。
する。図１は、本発明の第１の実施例にかかる光ヘッド
の光学系の基本的構成を説明する図である。この実施例
では、光磁気信号検出部で前方モニター制御を行ってい
る。明瞭化のために、図１では光の伝搬を光軸のみで示
している。図示の光ヘッドは、図示を省略した光源から
の平行光が入射するビームスプリッター１を備えてい
る。ビームスプリッター１の射出端面Ｃは図示を省略し
たディスクに対向し、光軸と直交する面に対して傾いて
いる。したがって、ビームスプリッター１を通過した光
は屈折され、対物レンズを介してディスク上に集光され
る。ディスクからの戻り光は、ビームスプリッター１に
再入射し、その薄膜面Ａで図中左方向に反射される。
【００１４】ビームスプリッター１を射出した戻り光
は、光軸に対して４５度だけ回転したウォラストンプリ
ズム２を通過して２つの偏光成分に分離された後、結像
レンズ３を介して光検出器４に集光される。一方、図中
破線で示すように、ビームスプリッター１の端面Ｃで反
射された光はその薄膜面Ａで図中左方向に反射され、光
軸に対して４５度だけ回転したウォラストンプリズム２
を通過して２つの偏光成分に分離された後、結像レンズ
３を介して光検出器４に集光される。
は、光軸に対して４５度だけ回転したウォラストンプリ
ズム２を通過して２つの偏光成分に分離された後、結像
レンズ３を介して光検出器４に集光される。一方、図中
破線で示すように、ビームスプリッター１の端面Ｃで反
射された光はその薄膜面Ａで図中左方向に反射され、光
軸に対して４５度だけ回転したウォラストンプリズム２
を通過して２つの偏光成分に分離された後、結像レンズ
３を介して光検出器４に集光される。
【００１５】図２は、図１の光検出器４の構成および受
光パターンを示す図である。なお、図１における鉛直方
向は、図２において水平方向に対応している。図２にお
いて、光検出器４は、ウォラストンプリズム２で分離さ
れた戻り光の２つの成分をそれぞれ受光するための２つ
の信号用受光器２１および２２と、ウォラストンプリズ
ム２で分離された反射光の２つの成分を受光するための
モニター用受光器２３とを備えている。
光パターンを示す図である。なお、図１における鉛直方
向は、図２において水平方向に対応している。図２にお
いて、光検出器４は、ウォラストンプリズム２で分離さ
れた戻り光の２つの成分をそれぞれ受光するための２つ
の信号用受光器２１および２２と、ウォラストンプリズ
ム２で分離された反射光の２つの成分を受光するための
モニター用受光器２３とを備えている。
【００１６】図示のように、信号用受光器２１および２
２は図中斜め４５度に傾斜した軸線上に配置され、同じ
く斜め４５度に傾斜して離間した戻り光の２つの光スポ
ット２２をそれぞれほぼ中央部で受光するように構成さ
れている。また、モニター用受光器２３も、反射光の２
つの光スポット２３が対角線のほぼ中央に形成されるよ
うに位置決めされている。こうして、光検出器４におい
て、信号用受光器２１および２２の出力に基づき光磁気
再生信号を検出するとともに、モニター用受光器２３の
出力に基づき記録照射パワーの前方モニター制御を行う
ことができる。
２は図中斜め４５度に傾斜した軸線上に配置され、同じ
く斜め４５度に傾斜して離間した戻り光の２つの光スポ
ット２２をそれぞれほぼ中央部で受光するように構成さ
れている。また、モニター用受光器２３も、反射光の２
つの光スポット２３が対角線のほぼ中央に形成されるよ
うに位置決めされている。こうして、光検出器４におい
て、信号用受光器２１および２２の出力に基づき光磁気
再生信号を検出するとともに、モニター用受光器２３の
出力に基づき記録照射パワーの前方モニター制御を行う
ことができる。
【００１７】図３は、本発明の第２の実施例にかかる光
ヘッドの光学系の基本的構成を説明する図である。この
実施例では、サーボ信号検出部で前方モニター制御を行
っている。明瞭化のために、図３では光の伝搬を光軸の
みで示している。図３の光ヘッドは、図示を省略した光
源からの平行光が入射するビームスプリッター３１を備
えている。ビームスプリッター３１の射出端面Ｃは図示
を省略したディスクに対向し、光軸と直交する面に対し
て傾いている。したがって、ビームスプリッター３１を
通過した光は屈折され、対物レンズを介してディスク上
に集光される。ディスクからの戻り光は、ビームスプリ
ッター３１に再入射する。
ヘッドの光学系の基本的構成を説明する図である。この
実施例では、サーボ信号検出部で前方モニター制御を行
っている。明瞭化のために、図３では光の伝搬を光軸の
みで示している。図３の光ヘッドは、図示を省略した光
源からの平行光が入射するビームスプリッター３１を備
えている。ビームスプリッター３１の射出端面Ｃは図示
を省略したディスクに対向し、光軸と直交する面に対し
て傾いている。したがって、ビームスプリッター３１を
通過した光は屈折され、対物レンズを介してディスク上
に集光される。ディスクからの戻り光は、ビームスプリ
ッター３１に再入射する。
【００１８】ビームスプリッター３１の薄膜面Ａで反射
された戻り光は、図示を省略した光磁気信号再生光学系
に向かう。一方、ビームスプリッター３１の薄膜面Ｂで
反射された戻り光は、結像レンズ３２および光軸に対し
て４５度だけ回転したシリンドリカルレンズ３３を介し
て光検出器３４に集光される。一方、図中破線で示すよ
うに、ビームスプリッター３１の端面Ｃで反射された光
はその薄膜面Ａを通過し薄膜面Ｂで図中左方向に反射さ
れ、結像レンズ３２および光軸に対して４５度だけ回転
したシリンドリカルレンズ３３を介して光検出器３４に
集光される。
された戻り光は、図示を省略した光磁気信号再生光学系
に向かう。一方、ビームスプリッター３１の薄膜面Ｂで
反射された戻り光は、結像レンズ３２および光軸に対し
て４５度だけ回転したシリンドリカルレンズ３３を介し
て光検出器３４に集光される。一方、図中破線で示すよ
うに、ビームスプリッター３１の端面Ｃで反射された光
はその薄膜面Ａを通過し薄膜面Ｂで図中左方向に反射さ
れ、結像レンズ３２および光軸に対して４５度だけ回転
したシリンドリカルレンズ３３を介して光検出器３４に
集光される。
【００１９】図４は、図３の光検出器３４の構成および
受光パターンを示す図である。なお、図３における鉛直
方向は、図４において水平方向に対応している。図４に
おいて、光検出器３４は、戻り光を受光するためのサー
ボ信号用４分割受光器４１と、反射光を受光するための
モニター用受光器４２とを備えている。図示のように、
サーボ信号用受光器４１は戻り光の光スポット４３をほ
ぼ中央部で受光するように構成されている。また、モニ
ター用受光器４２も、反射光の光スポット４４がほぼ中
央に形成されるように位置決めされている。
受光パターンを示す図である。なお、図３における鉛直
方向は、図４において水平方向に対応している。図４に
おいて、光検出器３４は、戻り光を受光するためのサー
ボ信号用４分割受光器４１と、反射光を受光するための
モニター用受光器４２とを備えている。図示のように、
サーボ信号用受光器４１は戻り光の光スポット４３をほ
ぼ中央部で受光するように構成されている。また、モニ
ター用受光器４２も、反射光の光スポット４４がほぼ中
央に形成されるように位置決めされている。
【００２０】このように、サーボ信号用受光器４１の出
力に基づき、たとえば非点収差法によるフォーカスエラ
ー信号あるいはプッシュプル法によるトラッキングエラ
ー信号を得ることができる。こうして、光検出器３４に
おいて、サーボ信号用受光器４１の出力に基づきサーボ
信号を検出するとともに、モニター用受光器４２の出力
に基づき記録照射パワーの前方モニター制御を行うこと
ができる。なお、上述の２つの実施例では端面での反射
光をビームスプリッターの薄膜面で反射させている例を
示したが、端面での反射光をビームスプリッターの薄膜
面で反射させることなく別の光検出手段で受光してもよ
い。
力に基づき、たとえば非点収差法によるフォーカスエラ
ー信号あるいはプッシュプル法によるトラッキングエラ
ー信号を得ることができる。こうして、光検出器３４に
おいて、サーボ信号用受光器４１の出力に基づきサーボ
信号を検出するとともに、モニター用受光器４２の出力
に基づき記録照射パワーの前方モニター制御を行うこと
ができる。なお、上述の２つの実施例では端面での反射
光をビームスプリッターの薄膜面で反射させている例を
示したが、端面での反射光をビームスプリッターの薄膜
面で反射させることなく別の光検出手段で受光してもよ
い。
【００２１】
【効果】以上説明したごとく、本発明の光ヘッドでは、
偏光度の悪い光を使用しても偏光度の変化の影響をほと
んど受けることなく、記録照射パワーを高精度にモニタ
ー制御することができる。また、モニター用光検出器を
他の信号検出用光検出器とともにワンチップ化すること
ができるため、部品点数が削減され、製造コストを低減
することができる。
偏光度の悪い光を使用しても偏光度の変化の影響をほと
んど受けることなく、記録照射パワーを高精度にモニタ
ー制御することができる。また、モニター用光検出器を
他の信号検出用光検出器とともにワンチップ化すること
ができるため、部品点数が削減され、製造コストを低減
することができる。
【図１】本発明の第１の実施例にかかる光ヘッドの光学
系の基本的構成を説明する図である。
系の基本的構成を説明する図である。
【図２】図１の光検出器の構成および受光パターンを説
明する図である。
明する図である。
【図３】本発明の第２の実施例にかかる光ヘッドの光学
系の基本的構成を説明する図である。
系の基本的構成を説明する図である。
【図４】図３の光検出器の構成および受光パターンを説
明する図である。
明する図である。
【図５】本発明の作用を説明するための原理図である。
【図６】従来の前方モニター制御方法を用いた光ヘッド
の構成を示す図である。
の構成を示す図である。
１、３１、５３、６３ ビームスプリッター ５２、６２ コリメータレンズ ３、３２、５４、６４ 結像レンズ ４、３４、５５、６５、６６ 光検出器 ５１、６１ 光源 ２ ウォラストンプリズム ３３ シリンドリカルレンズ ２１、２２、２３、４１、４２ 光検出器受光部 ２４、２５、４３、４４ 光スポット
Claims (2)
- 【請求項１】 光源とディスクとの間に設けられ且つ前
記ディスクに対向する端面が光軸と直交する面に対して
一定角度だけ傾いたビームスプリッターと、前記ディス
クに向かう光ビームの前記端面における反射光を受光す
るための光検出手段とを備え、 前記光検出手段の出力に応じて記録照射パワーをモニタ
ー制御することを特徴とする光ヘッド。 - 【請求項２】 前記光検出手段は、前記ビームスプリッ
ターの端面で反射し且つ前記ビームスプリッターの境界
面で反射した光を受光することを特徴とする請求項１に
記載の光ヘッド。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5235497A JPH0765401A (ja) | 1993-08-27 | 1993-08-27 | 光ヘッド |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5235497A JPH0765401A (ja) | 1993-08-27 | 1993-08-27 | 光ヘッド |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0765401A true JPH0765401A (ja) | 1995-03-10 |
Family
ID=16986911
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5235497A Pending JPH0765401A (ja) | 1993-08-27 | 1993-08-27 | 光ヘッド |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0765401A (ja) |
-
1993
- 1993-08-27 JP JP5235497A patent/JPH0765401A/ja active Pending
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
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Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20040120 |
|
| A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20040910 |
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| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20041005 |
|
| A521 | Written amendment |
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| TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
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