JPH0765742B2 - サーミスタ回路及び調理器 - Google Patents
サーミスタ回路及び調理器Info
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- JPH0765742B2 JPH0765742B2 JP4102796A JP10279692A JPH0765742B2 JP H0765742 B2 JPH0765742 B2 JP H0765742B2 JP 4102796 A JP4102796 A JP 4102796A JP 10279692 A JP10279692 A JP 10279692A JP H0765742 B2 JPH0765742 B2 JP H0765742B2
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- semiconductor elements
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Links
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims description 25
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 claims description 15
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 10
- 238000010411 cooking Methods 0.000 claims description 9
- 230000002950 deficient Effects 0.000 claims description 6
- 238000007689 inspection Methods 0.000 claims description 6
- 230000006870 function Effects 0.000 description 7
- 230000005611 electricity Effects 0.000 description 3
- 238000000034 method Methods 0.000 description 3
- 230000008054 signal transmission Effects 0.000 description 3
- 238000002485 combustion reaction Methods 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 230000005856 abnormality Effects 0.000 description 1
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 1
- 238000012790 confirmation Methods 0.000 description 1
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 1
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000011990 functional testing Methods 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05B—ELECTRIC HEATING; ELECTRIC LIGHT SOURCES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; CIRCUIT ARRANGEMENTS FOR ELECTRIC LIGHT SOURCES, IN GENERAL
- H05B3/00—Ohmic-resistance heating
Landscapes
- Control Of Combustion (AREA)
- Regulation And Control Of Combustion (AREA)
- Control Of High-Frequency Heating Circuits (AREA)
- Cookers (AREA)
- Measuring Temperature Or Quantity Of Heat (AREA)
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、サーミスタの端子電圧
に基づいて温度を検出するサーミスタ回路、及び該サー
ミスタ回路を用いた調理器に関する。
に基づいて温度を検出するサーミスタ回路、及び該サー
ミスタ回路を用いた調理器に関する。
【０００２】
【従来の技術】サーミスタを、複数の抵抗体を介して電
源回路に接続し、抵抗体間を複数のトランジスタにより
段階的に短絡させて、抵抗値を切り替える事により、広
範囲、且つ高精度の温度検出を可能にしたサーミスタ回
路が知られている。
源回路に接続し、抵抗体間を複数のトランジスタにより
段階的に短絡させて、抵抗値を切り替える事により、広
範囲、且つ高精度の温度検出を可能にしたサーミスタ回
路が知られている。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】上記のサーミスタ回路
では、サーミスタの端子電圧にレンジ補正を加える事に
より温度を算出しているが、一つでもトランジスタが壊
れると、端子電圧の値に狂いが生じ、従ってレンジ補正
された検出温度は意味を成さなくなって温調制御等に支
障をきたすという欠点がある。本発明の第１の目的は、
広範囲、且つ高精度の温度検出が可能であるとともに、
半導体素子の機能検査ができるサーミスタ回路の提供に
あり、第２の目的は、半導体素子が壊れても、誤った検
出温度でもって加熱手段が制御される事が無い調理器の
提供にある。
では、サーミスタの端子電圧にレンジ補正を加える事に
より温度を算出しているが、一つでもトランジスタが壊
れると、端子電圧の値に狂いが生じ、従ってレンジ補正
された検出温度は意味を成さなくなって温調制御等に支
障をきたすという欠点がある。本発明の第１の目的は、
広範囲、且つ高精度の温度検出が可能であるとともに、
半導体素子の機能検査ができるサーミスタ回路の提供に
あり、第２の目的は、半導体素子が壊れても、誤った検
出温度でもって加熱手段が制御される事が無い調理器の
提供にある。
【０００４】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決する為、
本発明は以下の構成を採用した。 （１）サーミスタ回路は、電気抵抗値が段階的に低くな
る様に複数の抵抗体を直列接続し、高抵抗端を直流電源
回路の一方極側に接続した抵抗群と、一方を前記抵抗群
の低抵抗端に接続し、他方を前記直流電源回路の他方極
側に接続したサーミスタと、読込用信号が入力されると
導通する端子組を上記抵抗体の両端に接続した複数の半
導体素子と、これら半導体素子に前記読込用信号を送出
する信号送出手段、及び前記サーミスタの端子電圧を入
力するサーミスタ電圧入力手段を有するマイクロコンピ
ュータとを備え、前記信号送出手段の非作動状態でのサ
ーミスタ電圧値をＥ0 、前記信号送出手段が前記半導体
素子の何れか一つに前記読込用信号を送出した時のサー
ミスタ電圧値をＥn とし、全ての半導体素子の各々につ
いて同様にサーミスタ電圧値Ｅn を検出し、判定値をａ
とすると、検査時に、｜Ｅ0 −Ｅn ｜＜ａが一つでも成
立した場合、前記マイクロコンピュータは、上記複数の
半導体素子の内、少なくとも一つが不良状態であると判
定して、前記サーミスタによる温度検出を中止する。 （２）調理器は、被調理物を入れた調理容器を加熱する
加熱手段と、前記調理容器の温度を検出するサーミスタ
を内蔵した感熱筒と、検出温度に基づいて前記加熱手段
を制御する加熱制御器とを備え、前記サーミスタは、上
記（１）記載のサーミスタ回路に組み込まれている。
本発明は以下の構成を採用した。 （１）サーミスタ回路は、電気抵抗値が段階的に低くな
る様に複数の抵抗体を直列接続し、高抵抗端を直流電源
回路の一方極側に接続した抵抗群と、一方を前記抵抗群
の低抵抗端に接続し、他方を前記直流電源回路の他方極
側に接続したサーミスタと、読込用信号が入力されると
導通する端子組を上記抵抗体の両端に接続した複数の半
導体素子と、これら半導体素子に前記読込用信号を送出
する信号送出手段、及び前記サーミスタの端子電圧を入
力するサーミスタ電圧入力手段を有するマイクロコンピ
ュータとを備え、前記信号送出手段の非作動状態でのサ
ーミスタ電圧値をＥ0 、前記信号送出手段が前記半導体
素子の何れか一つに前記読込用信号を送出した時のサー
ミスタ電圧値をＥn とし、全ての半導体素子の各々につ
いて同様にサーミスタ電圧値Ｅn を検出し、判定値をａ
とすると、検査時に、｜Ｅ0 −Ｅn ｜＜ａが一つでも成
立した場合、前記マイクロコンピュータは、上記複数の
半導体素子の内、少なくとも一つが不良状態であると判
定して、前記サーミスタによる温度検出を中止する。 （２）調理器は、被調理物を入れた調理容器を加熱する
加熱手段と、前記調理容器の温度を検出するサーミスタ
を内蔵した感熱筒と、検出温度に基づいて前記加熱手段
を制御する加熱制御器とを備え、前記サーミスタは、上
記（１）記載のサーミスタ回路に組み込まれている。
【０００５】
〔請求項１について〕半導体素子の機能検査は、以下の
様に行われる。信号送出手段を非作動状態にしてサーミ
スタ電圧値Ｅ0 を測定する。信号送出手段が、半導体素
子の何れか一つに読込用信号を送出すると、その半導体
素子は導通し、対応する抵抗体は電気的に短絡し、サー
ミスタ電圧値はＥnとなる。他の全ての半導体素子の各
々について同様に読込用信号を送出して、夫々のサーミ
スタ電圧値Ｅn を検出する。この時、｜Ｅ0 −Ｅn ｜＜
ａが成立するか、否かを全てのサーミスタ電圧値Ｅ n に
ついて行なう。半導体素子が電気的に壊れていると、Ｅ
0 とＥn との差が小さくなる。そこで、｜Ｅ0 −Ｅn ｜
＜ａが一つでも成立した場合、マイクロコンピュータ
は、複数の半導体素子の内、少なくとも一つが不良状態
であると判定して、サーミスタによる温度検出を中止す
る。
様に行われる。信号送出手段を非作動状態にしてサーミ
スタ電圧値Ｅ0 を測定する。信号送出手段が、半導体素
子の何れか一つに読込用信号を送出すると、その半導体
素子は導通し、対応する抵抗体は電気的に短絡し、サー
ミスタ電圧値はＥnとなる。他の全ての半導体素子の各
々について同様に読込用信号を送出して、夫々のサーミ
スタ電圧値Ｅn を検出する。この時、｜Ｅ0 −Ｅn ｜＜
ａが成立するか、否かを全てのサーミスタ電圧値Ｅ n に
ついて行なう。半導体素子が電気的に壊れていると、Ｅ
0 とＥn との差が小さくなる。そこで、｜Ｅ0 −Ｅn ｜
＜ａが一つでも成立した場合、マイクロコンピュータ
は、複数の半導体素子の内、少なくとも一つが不良状態
であると判定して、サーミスタによる温度検出を中止す
る。
【０００６】〔請求項２について〕マイクロコンピュー
タが、複数の半導体素子の内、少なくとも一つが不良状
態であると判定すると、サーミスタによる温度検出が中
止され、加熱制御器は、検出温度に基づく加熱手段の制
御を止める。
タが、複数の半導体素子の内、少なくとも一つが不良状
態であると判定すると、サーミスタによる温度検出が中
止され、加熱制御器は、検出温度に基づく加熱手段の制
御を止める。
【０００７】
【発明の効果】〔請求項１について〕広範囲、且つ高精
度の温度検出を可能にする複数の抵抗体や複数の半導体
素子を有効に利用し、半導体素子の不良を速やかに発見
でき、検出温度の信頼性が向上する。尚、半導体素子の
機能検査の際に他の部品を追加する必要がない。
度の温度検出を可能にする複数の抵抗体や複数の半導体
素子を有効に利用し、半導体素子の不良を速やかに発見
でき、検出温度の信頼性が向上する。尚、半導体素子の
機能検査の際に他の部品を追加する必要がない。
【０００８】〔請求項２について〕複数の半導体素子の
内、少なくとも一つが不良状態であると判定されると、
サーミスタによる温度検出が中止され、加熱制御器は、
検出温度に基づく加熱手段の制御を止めるので、誤った
検出温度でもって加熱手段が制御されるという不具合は
生じない。
内、少なくとも一つが不良状態であると判定されると、
サーミスタによる温度検出が中止され、加熱制御器は、
検出温度に基づく加熱手段の制御を止めるので、誤った
検出温度でもって加熱手段が制御されるという不具合は
生じない。
【０００９】
【実施例】本発明の一実施例を図１〜図３に基づいて説
明する。図２に示す様に、サーミスタ回路Ａは、抵抗
１、２、３と、サーミスタ４と、トランジスタ５、６
と、マイクロコンピュータ７とで構成され、図１に示す
ガステーブルＢに採用されている。
明する。図２に示す様に、サーミスタ回路Ａは、抵抗
１、２、３と、サーミスタ４と、トランジスタ５、６
と、マイクロコンピュータ７とで構成され、図１に示す
ガステーブルＢに採用されている。
【００１０】高抵抗値を有する抵抗１は、高精度の抵抗
であり、一端１１を電源回路（図示せず）の＋極側８１
に接続している。
であり、一端１１を電源回路（図示せず）の＋極側８１
に接続している。
【００１１】中抵抗値（抵抗１より低い）を有する抵抗
２は、高精度の抵抗であり、一端２１を抵抗１の他端１
２に接続している。
２は、高精度の抵抗であり、一端２１を抵抗１の他端１
２に接続している。
【００１２】低抵抗値（抵抗２より低い）を有する抵抗
３は、高精度の抵抗であり、一端３１を抵抗２の他端２
２に接続している。
３は、高精度の抵抗であり、一端３１を抵抗２の他端２
２に接続している。
【００１３】感熱温度が室温程度の場合には高抵抗（数
ＭΩ）となり、２００℃前後の高温では低抵抗（数十
Ω）となるサーミスタ４は、一端４１を抵抗３の他端３
２に接続し、他端４２を電源回路の−極側８２に接続し
ている。このサーミスタ４は、被調理物８０１が入れら
れＭバーナ８０２又はＨバーナ８０８により加熱される
調理容器８０３の容器底８０４を押圧する様に配される
感熱筒８０５内に配されている。
ＭΩ）となり、２００℃前後の高温では低抵抗（数十
Ω）となるサーミスタ４は、一端４１を抵抗３の他端３
２に接続し、他端４２を電源回路の−極側８２に接続し
ている。このサーミスタ４は、被調理物８０１が入れら
れＭバーナ８０２又はＨバーナ８０８により加熱される
調理容器８０３の容器底８０４を押圧する様に配される
感熱筒８０５内に配されている。
【００１４】トランジスタ５は、端子５１、５２が抵抗
１の一端１１、他端１２にそれぞれ接続され、中温域読
込用信号ＳM が制御端子５３に入力されると端子５１-
５２間が導通する。尚、このトランジスタ５は、中温域
読込用信号ＳM が送出された状態で、通常１９０℃未満
の温度を測定する。
１の一端１１、他端１２にそれぞれ接続され、中温域読
込用信号ＳM が制御端子５３に入力されると端子５１-
５２間が導通する。尚、このトランジスタ５は、中温域
読込用信号ＳM が送出された状態で、通常１９０℃未満
の温度を測定する。
【００１５】トランジスタ６は、端子６１、６２が一端
１１、他端２２にそれぞれ接続され、高温域読込用信号
ＳH が制御端子６３に入力されると端子６１- ６２間が
導通する。尚、このトランジスタ６は、高温域読込用信
号ＳH が送出された状態で、通常１９０℃以上の温度を
測定する。
１１、他端２２にそれぞれ接続され、高温域読込用信号
ＳH が制御端子６３に入力されると端子６１- ６２間が
導通する。尚、このトランジスタ６は、高温域読込用信
号ＳH が送出された状態で、通常１９０℃以上の温度を
測定する。
【００１６】マイクロコンピュータ７は、トランジスタ
５に中温域読込用信号ＳM を送出する端子７１（信号送
出手段に相当）と、トランジスタ６に高温域読込用信号
ＳHを送出する端子７２（信号送出手段に相当）と、サ
ーミスタ４の一端４１- 他端４２間に発生する端子電圧
Ｅを取り込む端子７３、７４（サーミスタ電圧入力手段
に相当）とを有する。
５に中温域読込用信号ＳM を送出する端子７１（信号送
出手段に相当）と、トランジスタ６に高温域読込用信号
ＳHを送出する端子７２（信号送出手段に相当）と、サ
ーミスタ４の一端４１- 他端４２間に発生する端子電圧
Ｅを取り込む端子７３、７４（サーミスタ電圧入力手段
に相当）とを有する。
【００１７】図１に示すガステーブルＢにおいて、８０
６はサーミスタ回路Ａや他の制御回路を組み込んだ制御
ユニットであり、Ｍバーナ８０２又はＨバーナ８０８の
使用時において、サーミスタ４の検出温度に基づき、所
定温度到達時の自動消火等の温度制御を行なう。また、
Ｍバーナ８０２のみに備えられ、制御ユニット８０６に
より開閉弁される温調用電磁弁８０７は、Ｍバーナ８０
２を大火- 小火に燃焼切り替えを行なって、被調理物８
０１の温度を一定に保つ。
６はサーミスタ回路Ａや他の制御回路を組み込んだ制御
ユニットであり、Ｍバーナ８０２又はＨバーナ８０８の
使用時において、サーミスタ４の検出温度に基づき、所
定温度到達時の自動消火等の温度制御を行なう。また、
Ｍバーナ８０２のみに備えられ、制御ユニット８０６に
より開閉弁される温調用電磁弁８０７は、Ｍバーナ８０
２を大火- 小火に燃焼切り替えを行なって、被調理物８
０１の温度を一定に保つ。
【００１８】次に、例えば、Ｍバーナ８０２の使用時に
おけるサーミスタ回路Ａの作動（機能チェック部分）を
図３のフローチャートに基づいて説明する。Ｍバーナ８
０２の点火操作を行なうと、Ｍバーナ８０２は点火する
とともに、点火スイッチＳＷが閉成して＋極側８１- −
極側８２に直流電圧が印加され、サーミスタ４には抵抗
１、２、３を介して電気が供給され、サーミスタ４の一
端４１- 他端４２間に発生する端子電圧Ｅの電圧値はＥ
0 となる（Ｅ0 はメモリされる）。ステップｓ１でマイ
クロコンピュータ７が、端子７１からトランジスタ５に
中温域読込用信号ＳM を送出すると、トランジスタ５の
端子５１- ５２間は導通し、サーミスタ４には抵抗２、
３を介して電気が供給される様になる。また、この時の
サーミスタ４の端子電圧Ｅの電圧値はＥM となる。ステ
ップｓ２で｜Ｅ0 −ＥM ｜が判定値ａ（例えば１Ｖ）未
満であるか否か判断し、判定値ａ以上である場合（Ｎ
ｏ）はステップｓ３に進み、判定値ａ未満である（Ｙｅ
ｓ）場合はステップｓ７に進む。ステップｓ３でマイク
ロコンピュータ７は、トランジスタ５への中温域読込用
信号ＳM の送出を停止し、ステップｓ４に進む。ステッ
プｓ４でマイクロコンピュータ７が、端子７２からトラ
ンジスタ６に高温域読込用信号ＳH を送出すると、トラ
ンジスタ６の端子６１- ６２間は導通し、サーミスタ４
には抵抗３を介して電気が供給される様になる。また、
この時のサーミスタ４の端子電圧Ｅの電圧値はＥH とな
る。ステップｓ５で｜Ｅ0 −ＥH ｜が判定値ａ未満であ
るか否か判断し、判定値ａ以上である場合（Ｎｏ）はス
テップｓ６に進み、判定値ａ未満である（Ｙｅｓ）場合
はステップｓ７に進む。ステップｓ６でマイクロコンピ
ュータ７は、トランジスタ６への高温域読込用信号ＳH
の送出を停止し、機能確認検査は終了する。この場合、
トランジスタ５、６の何方も正常であると判断し、マイ
クロコンピュータ７は、端子電圧値Ｅ0、ＥM 、ＥH の
内の何れかの端子電圧値Ｅに基づいて温度を算出する。
トランジスタ５、６の内、少なくともどれか一つが不良
状態になっていると判断されると、ステップｓ７で、マ
イクロコンピュータ７は、サーミスタ４による温度検出
を中止してＭバーナ８０２を消火するとともに、ブザー
で異常を報知する。
おけるサーミスタ回路Ａの作動（機能チェック部分）を
図３のフローチャートに基づいて説明する。Ｍバーナ８
０２の点火操作を行なうと、Ｍバーナ８０２は点火する
とともに、点火スイッチＳＷが閉成して＋極側８１- −
極側８２に直流電圧が印加され、サーミスタ４には抵抗
１、２、３を介して電気が供給され、サーミスタ４の一
端４１- 他端４２間に発生する端子電圧Ｅの電圧値はＥ
0 となる（Ｅ0 はメモリされる）。ステップｓ１でマイ
クロコンピュータ７が、端子７１からトランジスタ５に
中温域読込用信号ＳM を送出すると、トランジスタ５の
端子５１- ５２間は導通し、サーミスタ４には抵抗２、
３を介して電気が供給される様になる。また、この時の
サーミスタ４の端子電圧Ｅの電圧値はＥM となる。ステ
ップｓ２で｜Ｅ0 −ＥM ｜が判定値ａ（例えば１Ｖ）未
満であるか否か判断し、判定値ａ以上である場合（Ｎ
ｏ）はステップｓ３に進み、判定値ａ未満である（Ｙｅ
ｓ）場合はステップｓ７に進む。ステップｓ３でマイク
ロコンピュータ７は、トランジスタ５への中温域読込用
信号ＳM の送出を停止し、ステップｓ４に進む。ステッ
プｓ４でマイクロコンピュータ７が、端子７２からトラ
ンジスタ６に高温域読込用信号ＳH を送出すると、トラ
ンジスタ６の端子６１- ６２間は導通し、サーミスタ４
には抵抗３を介して電気が供給される様になる。また、
この時のサーミスタ４の端子電圧Ｅの電圧値はＥH とな
る。ステップｓ５で｜Ｅ0 −ＥH ｜が判定値ａ未満であ
るか否か判断し、判定値ａ以上である場合（Ｎｏ）はス
テップｓ６に進み、判定値ａ未満である（Ｙｅｓ）場合
はステップｓ７に進む。ステップｓ６でマイクロコンピ
ュータ７は、トランジスタ６への高温域読込用信号ＳH
の送出を停止し、機能確認検査は終了する。この場合、
トランジスタ５、６の何方も正常であると判断し、マイ
クロコンピュータ７は、端子電圧値Ｅ0、ＥM 、ＥH の
内の何れかの端子電圧値Ｅに基づいて温度を算出する。
トランジスタ５、６の内、少なくともどれか一つが不良
状態になっていると判断されると、ステップｓ７で、マ
イクロコンピュータ７は、サーミスタ４による温度検出
を中止してＭバーナ８０２を消火するとともに、ブザー
で異常を報知する。
【００１９】以下、本実施例の利点を述べる。 （あ）マイクロコンピュータ７が、トランジスタ５、６
の機能が正常であるか否かを図３のフローチャートに基
づいて自動的に判定するので機能検査に手間がかからな
い。 （い）Ｍバーナ８０２又はＨバーナ８０８の使用中（燃
焼中）において、温度検出前にトランジスタ５、６の機
能検査を毎回行う構成であるので、検出温度の信頼性は
常に確保される。 （う）サーミスタ４のレンジを切り替える為の抵抗１、
２やトランジスタ５、６を利用して、トランジスタ５、
６自体を検査しており、検査用に特別な部品を追加する
必要が無いので、ガステーブルＢの製造コストは殆ど上
昇しない。
の機能が正常であるか否かを図３のフローチャートに基
づいて自動的に判定するので機能検査に手間がかからな
い。 （い）Ｍバーナ８０２又はＨバーナ８０８の使用中（燃
焼中）において、温度検出前にトランジスタ５、６の機
能検査を毎回行う構成であるので、検出温度の信頼性は
常に確保される。 （う）サーミスタ４のレンジを切り替える為の抵抗１、
２やトランジスタ５、６を利用して、トランジスタ５、
６自体を検査しており、検査用に特別な部品を追加する
必要が無いので、ガステーブルＢの製造コストは殆ど上
昇しない。
【００２０】本発明は、上記実施例以外に、つぎの実施
態様を含む。 半導体素子は、トランジスタの他、ＦＥＴ等でも良
い。 メイン電源スイッチを投入した時（燃焼停止状態）
に、トランジスタ５、６の機能検査が行なわれる様にし
ても良い。 判定値ａ、各抵抗の抵抗値は、適宜、決めれば良い。 上記実施例では、抵抗を三個直列に接続し、トランジ
スタを二個使用して導通させているが、温度検出の範囲
具合により、抵抗、トランジスタの使用個数を適宜決め
れば良い。
態様を含む。 半導体素子は、トランジスタの他、ＦＥＴ等でも良
い。 メイン電源スイッチを投入した時（燃焼停止状態）
に、トランジスタ５、６の機能検査が行なわれる様にし
ても良い。 判定値ａ、各抵抗の抵抗値は、適宜、決めれば良い。 上記実施例では、抵抗を三個直列に接続し、トランジ
スタを二個使用して導通させているが、温度検出の範囲
具合により、抵抗、トランジスタの使用個数を適宜決め
れば良い。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の一実施に係るサーミスタ回路Ａを採用
したガステーブルＢの構造図である。
したガステーブルＢの構造図である。
【図２】そのサーミスタ回路Ａの原理説明図である。
【図３】そのサーミスタ回路Ａの作動を示すフローチャ
ートである。
ートである。
１、２、３ 抵抗（抵抗体） ４ サーミスタ ５、６ トランジスタ（半導体素子） ７ マイクロコンピュータ ８１ ＋極側（一方極側） ８２ −極側（他方極側） ７１ 端子（信号送出手段） ７２ 端子（信号送出手段） ７３、７４ 端子（サーミスタ電圧入力手段） ａ 判定値 Ａ サーミスタ回路 Ｂ ガステーブル（調理器） Ｅ 端子電圧（サーミスタ電圧） Ｅ0 、ＥM 、ＥH 電圧値（サーミスタ電圧） ＳM 中温域読込用信号（読込用信号） ＳH 高温域読込用信号（読込用信号） ８０１ 被調理物 ８０２ Ｍバーナ ８０３ 調理容器 ８０５ 感熱筒 ８０６ 制御ユニット（加熱制御器） ８０８ Ｈバーナ
Claims (2)
- 【請求項１】 電気抵抗値が段階的に低くなる様に複数
の抵抗体を直列接続し、高抵抗端を直流電源回路の一方
極側に接続した抵抗群と、 一方を前記抵抗群の低抵抗端に接続し、他方を前記直流
電源回路の他方極側に接続したサーミスタと、 読込用信号が入力されると導通する端子組を上記抵抗体
の両端に接続した複数の半導体素子と、 これら半導体素子に前記読込用信号を送出する信号送出
手段、及び前記サーミスタの端子電圧を入力するサーミ
スタ電圧入力手段を有するマイクロコンピュータとを備
え、 前記信号送出手段の非作動状態でのサーミスタ電圧値を
Ｅ0 、前記信号送出手段が前記半導体素子の何れか一つ
に前記読込用信号を送出した時のサーミスタ電圧値をＥ
n とし、全ての半導体素子の各々について同様にサーミ
スタ電圧値Ｅnを検出し、判定値をａとすると、 検査時に、｜Ｅ0 −Ｅn ｜＜ａが一つでも成立した場
合、前記マイクロコンピュータは、上記複数の半導体素
子の内、少なくとも一つが不良状態であると判定して、
前記サーミスタによる温度検出を中止するサーミスタ回
路。 - 【請求項２】 被調理物を入れた調理容器を加熱する加
熱手段と、 前記調理容器の温度を検出するサーミスタを内蔵した感
熱筒と、 検出温度に基づいて前記加熱手段を制御する加熱制御器
とを備え、 前記サーミスタは、請求項１記載のサーミスタ回路に組
み込まれている事を特徴とする調理器。
Priority Applications (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4102796A JPH0765742B2 (ja) | 1992-04-22 | 1992-04-22 | サーミスタ回路及び調理器 |
| KR1019930002625D KR950010632B1 (ko) | 1992-04-22 | 1992-04-22 | 서미스터회로 및 조리기 |
| KR1019930002625A KR930022918A (ko) | 1992-04-22 | 1993-02-24 | 서미스터회로 및 조리기 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4102796A JPH0765742B2 (ja) | 1992-04-22 | 1992-04-22 | サーミスタ回路及び調理器 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH05299169A JPH05299169A (ja) | 1993-11-12 |
| JPH0765742B2 true JPH0765742B2 (ja) | 1995-07-19 |
Family
ID=14337053
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4102796A Expired - Lifetime JPH0765742B2 (ja) | 1992-04-22 | 1992-04-22 | サーミスタ回路及び調理器 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0765742B2 (ja) |
| KR (2) | KR950010632B1 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP6067628B2 (ja) * | 2014-07-23 | 2017-01-25 | リンナイ株式会社 | 制御装置 |
-
1992
- 1992-04-22 JP JP4102796A patent/JPH0765742B2/ja not_active Expired - Lifetime
- 1992-04-22 KR KR1019930002625D patent/KR950010632B1/ko not_active Expired - Lifetime
-
1993
- 1993-02-24 KR KR1019930002625A patent/KR930022918A/ko active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| KR950010632B1 (ko) | 1995-09-20 |
| KR930022918A (ko) | 1993-11-24 |
| JPH05299169A (ja) | 1993-11-12 |
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