JPH0766281B2 - セルフチユ−ニング調節計 - Google Patents
セルフチユ−ニング調節計Info
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- JPH0766281B2 JPH0766281B2 JP62024238A JP2423887A JPH0766281B2 JP H0766281 B2 JPH0766281 B2 JP H0766281B2 JP 62024238 A JP62024238 A JP 62024238A JP 2423887 A JP2423887 A JP 2423887A JP H0766281 B2 JPH0766281 B2 JP H0766281B2
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- Japan
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- waveform
- constant
- vibration
- self
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Description
【発明の詳細な説明】 （産業上の利用分野） 本発明は、少なくとも比例（Ｐ）定数，積分（Ｉ）定数
を最適な値に自動的に調整するセルフチューニング調節
計に関し、更に詳しくは、プロセス量又はプロセス量と
設定値との偏差信号の波形を観測し、その波形観測結果
に基づいてP,I定数を演算するようにしたセルフチュー
ニング調節計に関するものである。
を最適な値に自動的に調整するセルフチューニング調節
計に関し、更に詳しくは、プロセス量又はプロセス量と
設定値との偏差信号の波形を観測し、その波形観測結果
に基づいてP,I定数を演算するようにしたセルフチュー
ニング調節計に関するものである。
（従来の技術） フィードバック制御に用いられるプロセス用PI調節計に
おいて、PI演算定数の設定は、プロセス運転者あるいは
計装エンジニアの長年の知識と経験に基づいて手動によ
って行なわれているのが現状である。しかしながら、手
動設定によるものは、プロセスのスタートアップ時、負
荷変動時、予期しない外乱混入時、あるいは非線形ゲイ
ン特性を持つ系等の状況の下では、一時的あるいは定常
的にプロセス運転の乱れを生じ、状況によっては経済的
損失を及ぼすことがあった。
おいて、PI演算定数の設定は、プロセス運転者あるいは
計装エンジニアの長年の知識と経験に基づいて手動によ
って行なわれているのが現状である。しかしながら、手
動設定によるものは、プロセスのスタートアップ時、負
荷変動時、予期しない外乱混入時、あるいは非線形ゲイ
ン特性を持つ系等の状況の下では、一時的あるいは定常
的にプロセス運転の乱れを生じ、状況によっては経済的
損失を及ぼすことがあった。
そこで、PI演算定数をセルフチューニングするようにし
た調節計が提案されている。これまで提案されているセ
ルフチューニング調節計は、補助コントローラを主コン
トローラに対して並列的に接続し、補助コントローラの
ゲインをあげ、振動を起させ、その振幅，周波数から、
Ziegler,Nicholsによる所謂Ｚ・Ｎ限界感度法に基づい
てPI定数を決定するもの（昭和45年計測自動制御学会論
文集Vol 6.No.6P55〜P60限界感度法を利用した適応制御
系の研究，北森俊行）、オン，オフ発生器を使用してリ
ミットサイクルを発生させ、その振幅等から最適なPI演
算定数を決定するようにしたもの（昭和48年計測自動制
御学会第12回学術講演会予稿集 P617〜P624 PID自動設
定形アダプティブ・コントローラ須見，福田）等があ
る。
た調節計が提案されている。これまで提案されているセ
ルフチューニング調節計は、補助コントローラを主コン
トローラに対して並列的に接続し、補助コントローラの
ゲインをあげ、振動を起させ、その振幅，周波数から、
Ziegler,Nicholsによる所謂Ｚ・Ｎ限界感度法に基づい
てPI定数を決定するもの（昭和45年計測自動制御学会論
文集Vol 6.No.6P55〜P60限界感度法を利用した適応制御
系の研究，北森俊行）、オン，オフ発生器を使用してリ
ミットサイクルを発生させ、その振幅等から最適なPI演
算定数を決定するようにしたもの（昭和48年計測自動制
御学会第12回学術講演会予稿集 P617〜P624 PID自動設
定形アダプティブ・コントローラ須見，福田）等があ
る。
また、最近、プロセスを振動状態にしたり、同定信号を
与えることなく、プロセス量又はプロセス量と設定値と
の偏差信号の波形を観測し、その観測結果に基づいてP,
I定数を演算するようにしたセルフチューニング調節計
も提案されている。
与えることなく、プロセス量又はプロセス量と設定値と
の偏差信号の波形を観測し、その観測結果に基づいてP,
I定数を演算するようにしたセルフチューニング調節計
も提案されている。
（発明が解決しようとする問題点） 第４図は、プロセス量又はプロセス量と設定値との偏差
信号の波形を観測し、P,I定数を演算する従来のセルフ
チューニング調節計の動作例を示す波形図である。
信号の波形を観測し、P,I定数を演算する従来のセルフ
チューニング調節計の動作例を示す波形図である。
いま、（イ）に示すようにプロセスへステップ状の外乱
NSが加わると、プロセス量PVは、（ロ）に示すように、
はじめは変動するが、やがてセルフチューニングの動作
によって定常値に落ち付く。
NSが加わると、プロセス量PVは、（ロ）に示すように、
はじめは変動するが、やがてセルフチューニングの動作
によって定常値に落ち付く。
ここで、外乱NSが（イ）のＡ部分に示すように時間とと
もに徐々に変化するような場合、プロセス量PVは変動を
続け、この変動を抑えるために例えばゲインを上げるよ
うにセルフチューニングが行なわれ、やがて定常値に落
ち付く。このようにセルフチューニングされた状態で、
外乱NSが（イ）のＢ部分に示すように再び変動すると、
ゲインが上げられた状態にあるので、このままではプロ
セス量は（ロ）のＣに示すように不安定に変動する（発
振状態となる）こととなって、危険な方向に制御され得
る可能性がある。このような状態は、プロセス特性が変
化するような場合にも生じる。
もに徐々に変化するような場合、プロセス量PVは変動を
続け、この変動を抑えるために例えばゲインを上げるよ
うにセルフチューニングが行なわれ、やがて定常値に落
ち付く。このようにセルフチューニングされた状態で、
外乱NSが（イ）のＢ部分に示すように再び変動すると、
ゲインが上げられた状態にあるので、このままではプロ
セス量は（ロ）のＣに示すように不安定に変動する（発
振状態となる）こととなって、危険な方向に制御され得
る可能性がある。このような状態は、プロセス特性が変
化するような場合にも生じる。
本発明は、セルフチューニング調節計におけるこのよう
な問題点に鑑みてなされたもので、その目的は、プロセ
スの特性あるいは外乱の変化がある場合でも、危険な方
向（例えば発振状態になる方向）にセルフチューニング
を行なうことのない調節計を実現しようとするものであ
る。
な問題点に鑑みてなされたもので、その目的は、プロセ
スの特性あるいは外乱の変化がある場合でも、危険な方
向（例えば発振状態になる方向）にセルフチューニング
を行なうことのない調節計を実現しようとするものであ
る。
（問題点を解決するための手段） 第１図は、本発明セルフチューニング調節計の基本的な
機能ブロック図である。図において、１はプロセス、２
はプロセス１よりのプロセス量PVと設定値ESとの偏差ε
を入力しこれに少なくとも比例，積分演算を行ない得ら
れた操作量MVをプロセス１に出力するPI制御手段、３は
プロセス量PV又はプロセス量と設定値との偏差信号εを
入力し、その波形を所定の周期で観測する波形観測手
段、４は波形観測手段３による波形観測結果を記憶する
記憶手段、５は波形観測結果に基づいて少なくとも比例
定数，積分定数を演算しこれらの比例定数，積分定数を
PI制御手段２に設定するパラメータ演算手段、６は波形
観測手段３及び記憶手段４からの信号を入力し、今回の
波形に振動が観測されず、前回の波形に振動が観測され
た場合、パラメータ演算手段５によるPI制御手段２への
比例定数，積分定数の設定動作を行なわないように指示
する演算指示手段である。
機能ブロック図である。図において、１はプロセス、２
はプロセス１よりのプロセス量PVと設定値ESとの偏差ε
を入力しこれに少なくとも比例，積分演算を行ない得ら
れた操作量MVをプロセス１に出力するPI制御手段、３は
プロセス量PV又はプロセス量と設定値との偏差信号εを
入力し、その波形を所定の周期で観測する波形観測手
段、４は波形観測手段３による波形観測結果を記憶する
記憶手段、５は波形観測結果に基づいて少なくとも比例
定数，積分定数を演算しこれらの比例定数，積分定数を
PI制御手段２に設定するパラメータ演算手段、６は波形
観測手段３及び記憶手段４からの信号を入力し、今回の
波形に振動が観測されず、前回の波形に振動が観測され
た場合、パラメータ演算手段５によるPI制御手段２への
比例定数，積分定数の設定動作を行なわないように指示
する演算指示手段である。
（作用） 演算指示手段６は、今回の波形観測結果と、前回の波形
観測結果からのプロセスの特性あるいは外乱に変化があ
るかどうかを判断する。すなわち、今回の波形に振動が
なく、前回の波形に振動が観測された場合、プロセスの
特性あるいは外乱に変化があるとして、パラメータ演算
手段５に対してチューニング動作を行なわないように指
示する。
観測結果からのプロセスの特性あるいは外乱に変化があ
るかどうかを判断する。すなわち、今回の波形に振動が
なく、前回の波形に振動が観測された場合、プロセスの
特性あるいは外乱に変化があるとして、パラメータ演算
手段５に対してチューニング動作を行なわないように指
示する。
（実施例） 第２図は、本発明に係る装置の一例を示す構成ブロック
図である。図において、第１図の各部分と同じものには
同一符号を付して示す。
図である。図において、第１図の各部分と同じものには
同一符号を付して示す。
PI制御手段２は、マルチプレクサ20、コンパレータ21、
マイクロプロセッサ22、プロセッサ22からのディジタル
信号をアナログ信号に変換するD/A変換器23及びD/A変換
器の出力を保持するサンプルホールド回路24で構成され
ている。７は各種データ等を格納するRAM、８はマイク
ロプロセッサ22が行なう動作のプログラムを格納したシ
ステムROM、９はユーザがプロセスに応じて作成したプ
ログラムを格納したユーザROM、10は表示部キーボード
で、これらはデータバスDBを介してマイクロプロセッサ
22に結合している。ここでシステムROM8には、マイクロ
プロセッサ22が、第１図に示す波形観測手段３、パラメ
ータ演算手段５、制御手段６としての機能を行なうため
のプログラムが格納されていて、CPU22がこれらのプロ
グラムを実行することによって各機能を実現するように
なっている。また、波形観測結果を示すデータの記憶手
段４は、RAM7の一部に設けられる。
マイクロプロセッサ22、プロセッサ22からのディジタル
信号をアナログ信号に変換するD/A変換器23及びD/A変換
器の出力を保持するサンプルホールド回路24で構成され
ている。７は各種データ等を格納するRAM、８はマイク
ロプロセッサ22が行なう動作のプログラムを格納したシ
ステムROM、９はユーザがプロセスに応じて作成したプ
ログラムを格納したユーザROM、10は表示部キーボード
で、これらはデータバスDBを介してマイクロプロセッサ
22に結合している。ここでシステムROM8には、マイクロ
プロセッサ22が、第１図に示す波形観測手段３、パラメ
ータ演算手段５、制御手段６としての機能を行なうため
のプログラムが格納されていて、CPU22がこれらのプロ
グラムを実行することによって各機能を実現するように
なっている。また、波形観測結果を示すデータの記憶手
段４は、RAM7の一部に設けられる。
第３図は、このように構成した調節計の動作の一例を示
すフローチャートである。
すフローチャートである。
ここに示すフローチャートは、概略フローチャートであ
って、そのサイクル周期（制御周期）は、例えば100mS
で起動されるようになっていて、次に説明するように、
A/D変換、波形観測、PI制御演算、その演算結果のプロ
セスへの出力などの動作がこの制御周期で行われる。
って、そのサイクル周期（制御周期）は、例えば100mS
で起動されるようになっていて、次に説明するように、
A/D変換、波形観測、PI制御演算、その演算結果のプロ
セスへの出力などの動作がこの制御周期で行われる。
この様な一連の動作を行っている中で、プロセス量また
は偏差信号の波形観測の分析が終了する（観測波形の分
析は、例えばA/D変換したプロセス量を一定の時間トレ
ンドし、その中でピークがいくつか検出されると分析が
完了するもので、プロセスの種類によって異なるもの
の、通常はプロセス量または偏差信号の波形観測には、
数分以上の長い時間がかかる）と、PI演算パラメータを
算出するためのステップ3,4,5が起動されることとな
る。
は偏差信号の波形観測の分析が終了する（観測波形の分
析は、例えばA/D変換したプロセス量を一定の時間トレ
ンドし、その中でピークがいくつか検出されると分析が
完了するもので、プロセスの種類によって異なるもの
の、通常はプロセス量または偏差信号の波形観測には、
数分以上の長い時間がかかる）と、PI演算パラメータを
算出するためのステップ3,4,5が起動されることとな
る。
マイクロプロセッサ22は、はじめに、システムROM8に格
納されているシステムプログラムに従って、マルチプレ
クサ20に印加されているプロセス量PV1や設定値esを選
択して取り出すとともに、これらの信号を、コンパレー
タ21,プロセッサ22,D/A変換器23で形成されるA/D変換ル
ープによってディジタル信号に変換する（ステップ
１）。
納されているシステムプログラムに従って、マルチプレ
クサ20に印加されているプロセス量PV1や設定値esを選
択して取り出すとともに、これらの信号を、コンパレー
タ21,プロセッサ22,D/A変換器23で形成されるA/D変換ル
ープによってディジタル信号に変換する（ステップ
１）。
次に、第１図における波形観測手段３として機能するシ
ステムプログラムに従って、プロセス量PV又はプロセス
量PVと設定値esとの偏差信号εの波形観測を行なう（ス
テップ２）。この波形観測によって、プロセス量PV又は
偏差信号εの例えばピーク値や、ピーク値になるまでの
時間から、波形を代表するような例えばオーバーシュー
ト量、偏差面積非減少率、振動周期に関する情報を得
る。これらの波形観測結果の情報は、RAM7（記憶手段
４）に格納される。次に上述した波形分析が完了したか
どうか判断し（ステップ20）、分析完了の場合、ステッ
プ３に移る。
ステムプログラムに従って、プロセス量PV又はプロセス
量PVと設定値esとの偏差信号εの波形観測を行なう（ス
テップ２）。この波形観測によって、プロセス量PV又は
偏差信号εの例えばピーク値や、ピーク値になるまでの
時間から、波形を代表するような例えばオーバーシュー
ト量、偏差面積非減少率、振動周期に関する情報を得
る。これらの波形観測結果の情報は、RAM7（記憶手段
４）に格納される。次に上述した波形分析が完了したか
どうか判断し（ステップ20）、分析完了の場合、ステッ
プ３に移る。
ここで、プロセッサ22は、演算指示手段６として機能す
るシステムプログラムに従って、今回の波形観測結果か
ら波形に振動があるかどうか判定する（ステップ３）。
ここで波形に振動が認められない場合、ROM7（記憶手段
４）に格納されている前回の波形観測結果から、前回の
波形に振動があったかどうか判定する（ステップ４）。
ここで、振動ありと判定された場合、パラメータ演算手
段５に対し、PI制御手段２への新たなP,I定数の設定動
作を行なわないように指示する。すなわち、次に説明す
るステップ５をスキップする。
るシステムプログラムに従って、今回の波形観測結果か
ら波形に振動があるかどうか判定する（ステップ３）。
ここで波形に振動が認められない場合、ROM7（記憶手段
４）に格納されている前回の波形観測結果から、前回の
波形に振動があったかどうか判定する（ステップ４）。
ここで、振動ありと判定された場合、パラメータ演算手
段５に対し、PI制御手段２への新たなP,I定数の設定動
作を行なわないように指示する。すなわち、次に説明す
るステップ５をスキップする。
ステップ３において、今回とは、ステップ20で分析が完
了したと判断される（YESの判断）場合の今回のプロセ
ス量または偏差信号の波形観測をいい、ステップ４にお
いて、前回とはステップ20で分析が完了したと判断され
た前回でのプロセス量または偏差信号の波形観測を指し
ている。
了したと判断される（YESの判断）場合の今回のプロセ
ス量または偏差信号の波形観測をいい、ステップ４にお
いて、前回とはステップ20で分析が完了したと判断され
た前回でのプロセス量または偏差信号の波形観測を指し
ている。
ステップ３において今回の波形に振動がある場合、ステ
ップ４において、前回の波形に振動がない場合、プロセ
ッサ22は、パラメータ演算手段５として機能するシステ
ムプログラムに従って、波形観測結果を用い、最適な応
答を示すP,I定数を演算し、得られたP,I定数をPI制御手
段２に設定するチューニング動作を行なう（ステップ
５）。
ップ４において、前回の波形に振動がない場合、プロセ
ッサ22は、パラメータ演算手段５として機能するシステ
ムプログラムに従って、波形観測結果を用い、最適な応
答を示すP,I定数を演算し、得られたP,I定数をPI制御手
段２に設定するチューニング動作を行なう（ステップ
５）。
次に、プロセッサ22は、PI制御手段２として機能するシ
ステムプログラムによって、PI制御演算を行ない（ステ
ップ６）、得られたPI演算結果（操作量:MV）をD/A変換
器23,サンプルホールド回路24を介してプロセス１に出
力する（ステップ７）。以後、ステップ１に戻り、ステ
ップ７までの動作を所定周期で繰返す。
ステムプログラムによって、PI制御演算を行ない（ステ
ップ６）、得られたPI演算結果（操作量:MV）をD/A変換
器23,サンプルホールド回路24を介してプロセス１に出
力する（ステップ７）。以後、ステップ１に戻り、ステ
ップ７までの動作を所定周期で繰返す。
ステップ2,ステップ20において行われる波形観測では、
例えば、観測波形のピーク値を検出して、その観測波形
の振動周期（TP）、オーバシュート量（OVS）、ダンピ
ング値（DMP）等が求められる。ステップ3,4で行われる
波形に振動があるか否かの判断は、観測波形の分析の結
果得られた、振動周期（TP）、オーバシュート量（OV
S）、ダンピング値（DMP）等の値により（例えばオーバ
シュート量が所定の値より大きいか否か、振動周期が一
定値より大きいかどうか等により）、観測波形に振動が
あるか否かを判断する。
例えば、観測波形のピーク値を検出して、その観測波形
の振動周期（TP）、オーバシュート量（OVS）、ダンピ
ング値（DMP）等が求められる。ステップ3,4で行われる
波形に振動があるか否かの判断は、観測波形の分析の結
果得られた、振動周期（TP）、オーバシュート量（OV
S）、ダンピング値（DMP）等の値により（例えばオーバ
シュート量が所定の値より大きいか否か、振動周期が一
定値より大きいかどうか等により）、観測波形に振動が
あるか否かを判断する。
ステップ５において行われるPI定数の算出は、例えば、
特開昭62−108306号公報に開示されているような手法が
適用される。
特開昭62−108306号公報に開示されているような手法が
適用される。
即ち、PI制御手段２に設定されている積分定数（TI）と
観測波形の分析の結果得られた振動周期（TP）との比Ｒ
（＝TI/TP）を求め、ダンピング値（DMP）と、比（Ｒ）
の大きさによって選択される所定の演算式を用いて比例
定数や積分定数を算出する。そして、得られた新しい比
例定数や積分定数をPI制御手段２に設定する。
観測波形の分析の結果得られた振動周期（TP）との比Ｒ
（＝TI/TP）を求め、ダンピング値（DMP）と、比（Ｒ）
の大きさによって選択される所定の演算式を用いて比例
定数や積分定数を算出する。そして、得られた新しい比
例定数や積分定数をPI制御手段２に設定する。
ここで、ステップ3,4で共に、「NO」の判断である場合
も、ステップ５では、PI定数を演算し、それらをPI制御
手段に設定するようにしているが、その理由は以下の通
りである。
も、ステップ５では、PI定数を演算し、それらをPI制御
手段に設定するようにしているが、その理由は以下の通
りである。
即ち、ステップ3,4では、今回および前回において観測
波形に振動があるか否かの判断だけしかしていない。プ
ロセス量または偏差信号の観測波形は、通常の応答のよ
うに、発振（振動）しない経路をとって次第に一定の値
に落ちつくような波形が多く存在し、この様な場合も、
波形観測が行われ、分析結果が得られている。この様な
場合でも、最適な応答結果が得られるまでは、分析結果
に基づいてPI定数を演算し、それらをPI制御手段２に設
定する動作を繰り返して行う必要があるからである。
波形に振動があるか否かの判断だけしかしていない。プ
ロセス量または偏差信号の観測波形は、通常の応答のよ
うに、発振（振動）しない経路をとって次第に一定の値
に落ちつくような波形が多く存在し、この様な場合も、
波形観測が行われ、分析結果が得られている。この様な
場合でも、最適な応答結果が得られるまでは、分析結果
に基づいてPI定数を演算し、それらをPI制御手段２に設
定する動作を繰り返して行う必要があるからである。
振動しないような通常の応答に対する波形の場合は、ス
テップ3,4はいずれも「NO」の判断となり、ステップ５
において、観測波形の分析結果に基づいて、新たにPI定
数が算出されそれらのPI定数がPI制御手段２に設定され
る。ステップ6,7では、今度は新たに設定されたPI定数
に基づくPI演算結果をプロセスに出力することとなる。
以後ステップ１に戻り、今度は新しいPI定数に基づくプ
ロセス量または偏差信号の反応（応答）を再び波形観察
し、同様な動作を何回か繰り返して行くことで、最終的
に最適なPI定数をPI制御手段２に設定することができる
のである。
テップ3,4はいずれも「NO」の判断となり、ステップ５
において、観測波形の分析結果に基づいて、新たにPI定
数が算出されそれらのPI定数がPI制御手段２に設定され
る。ステップ6,7では、今度は新たに設定されたPI定数
に基づくPI演算結果をプロセスに出力することとなる。
以後ステップ１に戻り、今度は新しいPI定数に基づくプ
ロセス量または偏差信号の反応（応答）を再び波形観察
し、同様な動作を何回か繰り返して行くことで、最終的
に最適なPI定数をPI制御手段２に設定することができる
のである。
なお、ステップ3,ステップ４においては、いずれも波形
に振動があるかどうか判断するようにしたが、振動の方
向も組合せて判断するようにすれば、より正確にプロセ
ス特性、あるいは外乱の変化特性をとらえることができ
る。
に振動があるかどうか判断するようにしたが、振動の方
向も組合せて判断するようにすれば、より正確にプロセ
ス特性、あるいは外乱の変化特性をとらえることができ
る。
以上のような動作によって、プロセス特性が変化した
り、外乱に変化がみられるような場合（すなわち、ステ
ップ３でNoと判断され、ステップ４でYesと判断された
場合）は、セルフチューニング動作をスキップし、前回
設定されているP.I定数に従って、PI制御演算を行な
い、安全な方向にとどまるような操作量MVを出力する。
り、外乱に変化がみられるような場合（すなわち、ステ
ップ３でNoと判断され、ステップ４でYesと判断された
場合）は、セルフチューニング動作をスキップし、前回
設定されているP.I定数に従って、PI制御演算を行な
い、安全な方向にとどまるような操作量MVを出力する。
（発明の効果） 以上説明したように、本発明においては、プロセス量ま
たは偏差信号の波形観測結果に基づいてPI定数を求め、
それをPI制御手段に設定しそれに基づくプロセス量また
は偏差信号の応答を再び観察する動作を何回か繰り返し
て、最終的に最適なPI定数を求めるようにした調節計に
おいて、パラメータ演算手段は５は、今回の波形分析で
振動が発生していない場合でも、前回の波形分析におい
て振動が発生しているときは、PI定数の演算およびPI定
数の設定動作を一回スキップするように構成したもので
ある。
たは偏差信号の波形観測結果に基づいてPI定数を求め、
それをPI制御手段に設定しそれに基づくプロセス量また
は偏差信号の応答を再び観察する動作を何回か繰り返し
て、最終的に最適なPI定数を求めるようにした調節計に
おいて、パラメータ演算手段は５は、今回の波形分析で
振動が発生していない場合でも、前回の波形分析におい
て振動が発生しているときは、PI定数の演算およびPI定
数の設定動作を一回スキップするように構成したもので
ある。
即ち、今回の波形分析で振動が発生していない場合であ
っても、前回の波形観測で振動がある場合は、発振が強
調されるようなPI定数が設定される可能性をなくするた
めに、PI定数を設定する動作を、観測波形の分析完了に
対して１回だけスキップする（次の波形観測の分析完了
まで待つ）という安全な方向で対処するもので、外乱あ
るいはプロセス特性が変化するようなプロセスにおい
て、常に安全にプロセスを制御することのできるセルフ
チューニング調節計が実現できる。
っても、前回の波形観測で振動がある場合は、発振が強
調されるようなPI定数が設定される可能性をなくするた
めに、PI定数を設定する動作を、観測波形の分析完了に
対して１回だけスキップする（次の波形観測の分析完了
まで待つ）という安全な方向で対処するもので、外乱あ
るいはプロセス特性が変化するようなプロセスにおい
て、常に安全にプロセスを制御することのできるセルフ
チューニング調節計が実現できる。
第１図は本発明セルフチューニング調節計の基本的な機
能ブロック図、第２図は本発明装置の一例を示す構成ブ
ロック図、第３図は動作の一例を示すフローチャート、
第４図は従来装置の動作例を示す波形図である。 １……プロセス、２……PI制御手段、３……波形観測手
段、４……記憶手段、５……パラメータ演算手段、６…
…演算指示手段。
能ブロック図、第２図は本発明装置の一例を示す構成ブ
ロック図、第３図は動作の一例を示すフローチャート、
第４図は従来装置の動作例を示す波形図である。 １……プロセス、２……PI制御手段、３……波形観測手
段、４……記憶手段、５……パラメータ演算手段、６…
…演算指示手段。
フロントページの続き (56)参考文献 特開 昭60−215208（ＪＰ，Ａ) 特開 昭62−236004（ＪＰ，Ａ) 特開 昭62−135902（ＪＰ，Ａ) 米国特許4602326（ＵＳ，Ａ)
Claims (1)
- 【請求項１】プロセスよりのプロセス量と設定値との偏
差信号に少なくとも比例，積分演算を行ない、得られた
操作量を前記プロセスに出力するPI制御手段と、 前記プロセス量又は偏差信号の波形を観測する波形観測
手段と、 この波形観測手段による波形観測結果を記憶する記憶手
段と、 前記波形観測結果に基づいて少なくとも比例定数，積分
定数を演算し当該比例定数，積分定数を前記PI制御手段
に設定するパラメータ演算手段と、 前記波形観測手段及び前記記憶手段からの信号を入力
し、前記波形観測手段による今回の波形分析結果には波
形振動が観測されず、波形観測手段による前回の波形分
析結果には波形振動が観測されている場合、前記パラメ
ータ演算手段によるPI制御手段への新たな比例定数，積
分定数の設定動作を行わないように指示する演算指示手
段とを備えたことを特徴とするセルフチューニング調節
計。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62024238A JPH0766281B2 (ja) | 1987-02-04 | 1987-02-04 | セルフチユ−ニング調節計 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62024238A JPH0766281B2 (ja) | 1987-02-04 | 1987-02-04 | セルフチユ−ニング調節計 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS63192103A JPS63192103A (ja) | 1988-08-09 |
| JPH0766281B2 true JPH0766281B2 (ja) | 1995-07-19 |
Family
ID=12132671
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP62024238A Expired - Lifetime JPH0766281B2 (ja) | 1987-02-04 | 1987-02-04 | セルフチユ−ニング調節計 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0766281B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2835061B2 (ja) * | 1989-02-23 | 1998-12-14 | 株式会社東芝 | 適応制御装置 |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4602326A (en) | 1983-12-12 | 1986-07-22 | The Foxboro Company | Pattern-recognizing self-tuning controller |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS62210503A (ja) * | 1986-03-11 | 1987-09-16 | Yamatake Honeywell Co Ltd | プロセス制御の不安定化判別およびチユ−ニング方式 |
-
1987
- 1987-02-04 JP JP62024238A patent/JPH0766281B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4602326A (en) | 1983-12-12 | 1986-07-22 | The Foxboro Company | Pattern-recognizing self-tuning controller |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS63192103A (ja) | 1988-08-09 |
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