JPH0195301A - セルフチューニング調節計 - Google Patents
セルフチューニング調節計Info
- Publication number
- JPH0195301A JPH0195301A JP25265887A JP25265887A JPH0195301A JP H0195301 A JPH0195301 A JP H0195301A JP 25265887 A JP25265887 A JP 25265887A JP 25265887 A JP25265887 A JP 25265887A JP H0195301 A JPH0195301 A JP H0195301A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- signal
- tuning
- waveform
- self
- parameter
- Prior art date
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- Feedback Control In General (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
（産業上の利用分野）
本発明は、少なくとも比例（Ｐ）、積分（Ｉ）演算パラ
メータを最適な１直に自動的に調整するセルフチューニ
ング調節計に関し、更に詳しくは、プロセスを同定する
のに特別な信号を用いることなく、ランダムに発生する
外乱などの乱れの波形を認識してＰ、Ｉ演算パラメータ
を決定するようにしたヒルフチューニング調節計に関す
るものである。
メータを最適な１直に自動的に調整するセルフチューニ
ング調節計に関し、更に詳しくは、プロセスを同定する
のに特別な信号を用いることなく、ランダムに発生する
外乱などの乱れの波形を認識してＰ、Ｉ演算パラメータ
を決定するようにしたヒルフチューニング調節計に関す
るものである。
（従来の技術）
フィードバック制御に用いられるブＯｔ？ス用調節計と
して、ＰＩ演鋒パラメータを自動的にチューニングする
ようにしたセルフチューニング調節計が実用化されてい
る。これらのものの中で、制御ｍの挙動を観測するパタ
ーン認識手段を設け、ここでプロセスに外乱を与えるこ
となく、ランダムに発生する外乱等の制御系の乱れを認
識し、この認識結果を最適な応答モデルと比較し、パタ
ーンの認識結果が応答モデルに近づく様にＩｎ ３ｍな
ＰＩＩ停パラメータを決定するようにしたものが脚光を
浴びている。
して、ＰＩ演鋒パラメータを自動的にチューニングする
ようにしたセルフチューニング調節計が実用化されてい
る。これらのものの中で、制御ｍの挙動を観測するパタ
ーン認識手段を設け、ここでプロセスに外乱を与えるこ
となく、ランダムに発生する外乱等の制御系の乱れを認
識し、この認識結果を最適な応答モデルと比較し、パタ
ーンの認識結果が応答モデルに近づく様にＩｎ ３ｍな
ＰＩＩ停パラメータを決定するようにしたものが脚光を
浴びている。
この様なセルフチューニング調節計としては、単行本
ＡＤＡ、、ＰＴＩＶＥ Ｃ０ＮＴＲ０Ｌ ＳＹＳＴ
ＥＭＳ、ＰＥＲＧＡＭＯＮ ＰＲＥＳＳ。
ＡＤＡ、、ＰＴＩＶＥ Ｃ０ＮＴＲ０Ｌ ＳＹＳＴ
ＥＭＳ、ＰＥＲＧＡＭＯＮ ＰＲＥＳＳ。
１９６３年Ｒ’ｆＴＰ１〜Ｐ１８や、ＵＳ ＰＡＴＥ
ＮＴ Ｎｏ、４．６０２．３２６が公知である。
ＮＴ Ｎｏ、４．６０２．３２６が公知である。
（発明が解決しようとづる問題点）
ところで、この様なセルフチューニング調節計は、ｖ４
ｗＪ系の乱れを利用してＰＩ演痒パラメータをチューニ
ングするように構成されているので、例えば、安定な性
質のプロセス（外乱が希にしか発生しないようなプロセ
ス）では、Ｐ■演算パラメータが多少いい加減な値であ
っても、制御が安定しているため、ＰＩ演算パラメータ
をチューニングする機会がない。
ｗＪ系の乱れを利用してＰＩ演痒パラメータをチューニ
ングするように構成されているので、例えば、安定な性
質のプロセス（外乱が希にしか発生しないようなプロセ
ス）では、Ｐ■演算パラメータが多少いい加減な値であ
っても、制御が安定しているため、ＰＩ演算パラメータ
をチューニングする機会がない。
この為に将来外乱、変動等が発生したときに備えて予め
最適なＰＩ演算パラメータをチューニングしておきたい
場合が生ずる。
最適なＰＩ演算パラメータをチューニングしておきたい
場合が生ずる。
本発明は、この様な要望に適ったセルフチューニング調
節計を実現することを目的とする。
節計を実現することを目的とする。
（問題点を解決するための手段）
第１図は、本発明装置の基本的な機能ブロック図である
。図において、１は制御対象〈プロセス）で、生産Ｉの
変化、制御目標値の変更、外乱等によってその動特性が
変化するものとする。２は制御対象からのプロセスｍＰ
■と、制御口ｇｍｓｖとの偏差信号ＤＶに少なくとも比
例（Ｐ）、積分（Ｉ）演算を行い得られた操作信号ＭＶ
を前記制御対象１に出力するＰＩ制御手段、３は前記プ
ロセス聞または偏差信号の波形を観測しその観測結果が
予め設定した応答目標になるように前記Ｐ【１！ＩＩ
ｍ手段のＰ、Ｉ演算パラメータをチューニングするパラ
メータチューニング手段である。４は外部よりチューニ
ング動作を指示する指示手段、５は指示手段４からの信
号を受けステップ状の信号を前記操゛作信号ＭＶに重畳
するステップ信号発生手段である。
。図において、１は制御対象〈プロセス）で、生産Ｉの
変化、制御目標値の変更、外乱等によってその動特性が
変化するものとする。２は制御対象からのプロセスｍＰ
■と、制御口ｇｍｓｖとの偏差信号ＤＶに少なくとも比
例（Ｐ）、積分（Ｉ）演算を行い得られた操作信号ＭＶ
を前記制御対象１に出力するＰＩ制御手段、３は前記プ
ロセス聞または偏差信号の波形を観測しその観測結果が
予め設定した応答目標になるように前記Ｐ【１！ＩＩ
ｍ手段のＰ、Ｉ演算パラメータをチューニングするパラ
メータチューニング手段である。４は外部よりチューニ
ング動作を指示する指示手段、５は指示手段４からの信
号を受けステップ状の信号を前記操゛作信号ＭＶに重畳
するステップ信号発生手段である。
（作用）
例えばオペレータが指示手段を操作すると、ステップ状
の信号が操作信号に重畳されて、制御対象に出力される
。パラメータチューニング手段はそのときに生ずるプロ
セス農または偏差信号の波形をＩ！測し、ＰＩ演算パラ
メータをチューニングする。
の信号が操作信号に重畳されて、制御対象に出力される
。パラメータチューニング手段はそのときに生ずるプロ
セス農または偏差信号の波形をＩ！測し、ＰＩ演算パラ
メータをチューニングする。
（実施例）
以下図面を用いて本発明の実施例を詳細に説明する。
第２図は、本発明の一実施例の構成ブロック図である。
図において、６はセルフチューニング調節計であり、１
１Ｊ１１１対象１からのプロセスＩＰＶ。
１Ｊ１１１対象１からのプロセスＩＰＶ。
制御目標ｍｓｖを入力し、操作信号ＭＶを制御対象１に
対して出力する。この調節計において、６１はプロセス
ｍｐｖ、各種アナログ信号ｅｉ、制御口ｍｍ５ｖを順次
選択して入力するマルチプレフナ、６２はマルチプレフ
ナ６１で選択した信号を一つの入力するコンパレータ、
６３はマイクロプロセッサで、コンパレータ６２からの
信号等をを入力している。６４はプロセッサからのデジ
タル信号をアナログ信号に変換するＤ／Ａ変換器、６５
はＤ／Ａ変換器の出力を所定のタイミングで保持するサ
ンプルホールド回路で、その出力が制御対京１への操作
信＠ＭＶとなる。６６はＩ１０ボート、６７は各種デー
タ等を格納したＲＡＭ。
対して出力する。この調節計において、６１はプロセス
ｍｐｖ、各種アナログ信号ｅｉ、制御口ｍｍ５ｖを順次
選択して入力するマルチプレフナ、６２はマルチプレフ
ナ６１で選択した信号を一つの入力するコンパレータ、
６３はマイクロプロセッサで、コンパレータ６２からの
信号等をを入力している。６４はプロセッサからのデジ
タル信号をアナログ信号に変換するＤ／Ａ変換器、６５
はＤ／Ａ変換器の出力を所定のタイミングで保持するサ
ンプルホールド回路で、その出力が制御対京１への操作
信＠ＭＶとなる。６６はＩ１０ボート、６７は各種デー
タ等を格納したＲＡＭ。
−６８はマイクロプロセッサ６３が行う主要動作のプロ
グラムを格納したＲＯＭ１６９は例えばユーザがプロセ
スに応じて作成したプログラムを格納したＲＯＭ、７０
は表示キーボードで、これらはデータバス８８を介して
マイクロプロセッサ６３に結合している。外部よりチュ
ーニング動作を指示する指示手段４は、この表示キーボ
ードの一部に設けられて、いる。
グラムを格納したＲＯＭ１６９は例えばユーザがプロセ
スに応じて作成したプログラムを格納したＲＯＭ、７０
は表示キーボードで、これらはデータバス８８を介して
マイクロプロセッサ６３に結合している。外部よりチュ
ーニング動作を指示する指示手段４は、この表示キーボ
ードの一部に設けられて、いる。
ここでシステムＲＯＭ６Ｂには、マイクロプロしツナ６
３が第１図に示すＰＩ制御手段２、パラメータチューニ
ング手段３、ステップ信号発生手段５としての機能を行
うためのプログラムや、制御対＠１の１＆適応答モデル
のデータ等が格納されている。なお、システムＲＯＭ６
８．ＲＯＭ６９は一つのＲＯＭで共用してもよい。
３が第１図に示すＰＩ制御手段２、パラメータチューニ
ング手段３、ステップ信号発生手段５としての機能を行
うためのプログラムや、制御対＠１の１＆適応答モデル
のデータ等が格納されている。なお、システムＲＯＭ６
８．ＲＯＭ６９は一つのＲＯＭで共用してもよい。
第３図は、このように構成した装置の動作の一例を示す
フローチャートである。
フローチャートである。
マイクロプロセラ＋Ｊ′６３は、初めにシステムＲＯＭ
６８に格納されているシステムブＯグラムに従ってマル
チプレクチ６１に印加されているプロセスｍｐｖ、制御
目標値Ｓ■、その他のアナログ信号ｅｉを順次選択して
取出し、これらの信号をコンパレータ６２、マイクロプ
ロセッサ６３、Ｄ／Ａ変換器６４で形成されるＡ／Ｄ変
換ループによって、それぞれデジタル信号に変換する（
ステップ１）。
６８に格納されているシステムブＯグラムに従ってマル
チプレクチ６１に印加されているプロセスｍｐｖ、制御
目標値Ｓ■、その他のアナログ信号ｅｉを順次選択して
取出し、これらの信号をコンパレータ６２、マイクロプ
ロセッサ６３、Ｄ／Ａ変換器６４で形成されるＡ／Ｄ変
換ループによって、それぞれデジタル信号に変換する（
ステップ１）。
次にプＯセ、１ｉＰＶと！ＩＪ ｉｌｌ 目標ｍｓｖと
の偏差Ｄ■が所定の設定値幅ＤＢ内にはいっているかど
うか判断する（ステップ２）。ここ’ｔ’ｏｖ＞ｏｓの
時、次のステップ３に移る。ステップ３では、第１図に
おけるパラメータチューニング手段３として機能するシ
ステムプログラムに従って、プロセスｆｆ１ＰＶまたは
偏差ＤＶの波形観測を行い、観測波形のパターン分析を
行う。また、パターン分析が完了すると、ｌ１ｉ１１波
形の評価指標の算出をし、それに基づいてＰＩ演棹パラ
メータを算出し、このＰＩ演算パラメータをＰＩ制御手
段に設定（チューニング）する（ステップ４．５．６）
。
の偏差Ｄ■が所定の設定値幅ＤＢ内にはいっているかど
うか判断する（ステップ２）。ここ’ｔ’ｏｖ＞ｏｓの
時、次のステップ３に移る。ステップ３では、第１図に
おけるパラメータチューニング手段３として機能するシ
ステムプログラムに従って、プロセスｆｆ１ＰＶまたは
偏差ＤＶの波形観測を行い、観測波形のパターン分析を
行う。また、パターン分析が完了すると、ｌ１ｉ１１波
形の評価指標の算出をし、それに基づいてＰＩ演棹パラ
メータを算出し、このＰＩ演算パラメータをＰＩ制御手
段に設定（チューニング）する（ステップ４．５．６）
。
次にＰ１ｔｌＪｔｌＡ手段２は、パラメータチューニン
グ手段３によって設定、変更されたＰ１１パラメータを
用いＰＩ演粋を行い（ステップ７）、演算結果を操作信
号ＭＶとして制御対象１に出力する（ステップ８）。
グ手段３によって設定、変更されたＰ１１パラメータを
用いＰＩ演粋を行い（ステップ７）、演算結果を操作信
号ＭＶとして制御対象１に出力する（ステップ８）。
ステップ２において、ＤＶ＜ＤＢのとき（偏差ＤＶが所
定の設定値幅内に入っているとき）は、制御良好である
としてステップ２１に移る。このステップ２１では、指
示手段４がオンかどうかく指示手段４が操作されたかど
うか）判断する。
定の設定値幅内に入っているとき）は、制御良好である
としてステップ２１に移る。このステップ２１では、指
示手段４がオンかどうかく指示手段４が操作されたかど
うか）判断する。
ここでＮｏど判断された場合は、ステップ８に移る。Ｙ
ＥＳと判断された場合、ステップ信号発生手段５は、ス
テップ状信号を操作信号ＭＶに重畳させる（ステップ２
２）。
ＥＳと判断された場合、ステップ信号発生手段５は、ス
テップ状信号を操作信号ＭＶに重畳させる（ステップ２
２）。
次にパラメータチューニング手段３は、プロセスｆｆ１
ＰＶまたは偏差ＤＢの波形観測を行い、そのパターンを
分析しくステップ２３）、この分析結果に基づいてＰＩ
演算パラメータを演算し、とのＰＩ演惇パラメータをＰ
Ｉ制御手段２に設定する（ステップ２４）。
ＰＶまたは偏差ＤＢの波形観測を行い、そのパターンを
分析しくステップ２３）、この分析結果に基づいてＰＩ
演算パラメータを演算し、とのＰＩ演惇パラメータをＰ
Ｉ制御手段２に設定する（ステップ２４）。
以上のステップ２２〜２４の動作によって、制御が良好
状態にあっても、指示手段４の操作により、将来の外乱
、変動等に備えて予め最適なＰＩ演詐パラメータをチュ
ーニングしておくことができる。
状態にあっても、指示手段４の操作により、将来の外乱
、変動等に備えて予め最適なＰＩ演詐パラメータをチュ
ーニングしておくことができる。
第４図は動作の一例を示すタイムチャートである。Ｔ１
のタイミングで指示手段４をオンに操作すると、（ａ）
に示すように操作信号ＭＶにステップ信号ＭＯが重畳さ
れる。ここでステップ信号ＭＯの大きさと方向く極性）
は、予め制御対象１の性質におおじで決めておくものと
する。
のタイミングで指示手段４をオンに操作すると、（ａ）
に示すように操作信号ＭＶにステップ信号ＭＯが重畳さ
れる。ここでステップ信号ＭＯの大きさと方向く極性）
は、予め制御対象１の性質におおじで決めておくものと
する。
また、このステップ信号の発生は、例えば、Ｔ１のタイ
ミングで、ＰＩ制御手段２が、ＭＣ＞Ｏのとき、積分項
←積分項計算値＋＋？１ｃ １ＭＯ＜Ｏのとき、積分項
←積分項計算値−ＩＭｃｌのような計算を行うことで出
力する事ができる。
ミングで、ＰＩ制御手段２が、ＭＣ＞Ｏのとき、積分項
←積分項計算値＋＋？１ｃ １ＭＯ＜Ｏのとき、積分項
←積分項計算値−ＩＭｃｌのような計算を行うことで出
力する事ができる。
操作信号ＭＶにスフフッ１３号福喝−仁￥・が重畳され
ると、プロセスｍｐｖには、（ｂ）に示すような変動波
形が観測される。パラメータチューニング手段３は、こ
の変動波形を観測し、波形分析を行い、Ｔ２のタイミン
グでこの波形分析を完了し、ＰＩ演算パラメータを算出
するとともに、これをＰＩ制御手ｆＲ２に設定する。
ると、プロセスｍｐｖには、（ｂ）に示すような変動波
形が観測される。パラメータチューニング手段３は、こ
の変動波形を観測し、波形分析を行い、Ｔ２のタイミン
グでこの波形分析を完了し、ＰＩ演算パラメータを算出
するとともに、これをＰＩ制御手ｆＲ２に設定する。
丁２のタイミングでの波形Ｔ２測の結果、更にチューニ
ングが必要なときは、引き続いて波形観測を偏差が小さ
く、安定するまで継続しチューニングを行う。以上のよ
うな動作が終了すると、チューニング要求前の状態に戻
る。
ングが必要なときは、引き続いて波形観測を偏差が小さ
く、安定するまで継続しチューニングを行う。以上のよ
うな動作が終了すると、チューニング要求前の状態に戻
る。
なお、上記ではチューニング要求があったときステップ
信号を１回だけ出力するようにしたものであるが、第５
図に示すように１回のチューニング要求で、数回ステッ
プ状の信号を発生□するようにしてもよい。
信号を１回だけ出力するようにしたものであるが、第５
図に示すように１回のチューニング要求で、数回ステッ
プ状の信号を発生□するようにしてもよい。
第６図は、パラメータチューニング手段３における波形
観測手法の一例を示す説明図である。
観測手法の一例を示す説明図である。
ここではステップ状の信号を印加してからの偏差信号の
応答波形を示しており、始めは大きく変動するが、ＰＩ
ＩＪｍ手段２の動作によって次第に変化が小さくなって
やがて零に収束する。
応答波形を示しており、始めは大きく変動するが、ＰＩ
ＩＪｍ手段２の動作によって次第に変化が小さくなって
やがて零に収束する。
パラメータチューニング手段３は、この偏差信号Ｄｖの
挙動を観測しており、この信号波形の第１のピーク（［
）Ｖｌ）が観測された時点（第１ピークの発生時点）ｔ
ｌから続く、第２のピーク（ＤＶ２＞が観測される時点
（第２ピークの発生時点）ｔ２までの偏差信号に係わる
面積Ａ１と、第２ピークの発生時点ｔ２から続く、ｔ２
＋（ｔ２−ｔｌ）の時点（ｔ２からｔ２−ｔｌだけ経過
゛した点）までの偏差信号Ｄｖに係わる面積Ａ２とを演
算する。そして、これらの面積Ａ１．Ａ２を用いて、Ａ
１．Ａ２のレシオ（ＡＲ）を算出する。
挙動を観測しており、この信号波形の第１のピーク（［
）Ｖｌ）が観測された時点（第１ピークの発生時点）ｔ
ｌから続く、第２のピーク（ＤＶ２＞が観測される時点
（第２ピークの発生時点）ｔ２までの偏差信号に係わる
面積Ａ１と、第２ピークの発生時点ｔ２から続く、ｔ２
＋（ｔ２−ｔｌ）の時点（ｔ２からｔ２−ｔｌだけ経過
゛した点）までの偏差信号Ｄｖに係わる面積Ａ２とを演
算する。そして、これらの面積Ａ１．Ａ２を用いて、Ａ
１．Ａ２のレシオ（ＡＲ）を算出する。
面積Ａ１．Ａ２及び面積レシオＡＲの算出式を（Ｉ）、
（２）、（３）式にそれぞれ示づ。
（２）、（３）式にそれぞれ示づ。
△１＝Ｊ″″ （ＤＶｌ−ＤＶ） ｄ ｔ
１舌Ｉ ここで、（Ｉ）式の演算式は、第６図において斜線を施
した面積Ａ１を求めるものであり、（２）式の演算式は
、第６図において斜線を施した面積Δ２を求めるもので
ある。
１舌Ｉ ここで、（Ｉ）式の演算式は、第６図において斜線を施
した面積Ａ１を求めるものであり、（２）式の演算式は
、第６図において斜線を施した面積Δ２を求めるもので
ある。
また、最大行き過ぎ層（オーバシュート）ＯＶＳを（４
）式の演算式によって求める。
）式の演算式によって求める。
０ＶＳ＝−ＤＶ２／ＤＶ１ ４また、振
動周期Ｔｐを（５）式の８Ｉｉｉ式によって求める。
動周期Ｔｐを（５）式の８Ｉｉｉ式によって求める。
Ｔｐ＝２・＜ｔ２−ｔｌ） ５このよ
・）にして求められた面積レシオＡＲ，オーバシュート
ｏｖｓ１ｔｉ勤周期Ｔｐの各情報を観測波形の評価指標
として、これらが所定の希望値となるようにＰＩ演算パ
ラメータをチューニングする。
・）にして求められた面積レシオＡＲ，オーバシュート
ｏｖｓ１ｔｉ勤周期Ｔｐの各情報を観測波形の評価指標
として、これらが所定の希望値となるようにＰＩ演算パ
ラメータをチューニングする。
なお、面積レシオＡＲを評価指標の一つとすると、観測
波形の中に含まれるノイズの影費を受けないと言う特徴
がある。
波形の中に含まれるノイズの影費を受けないと言う特徴
がある。
（発明の効果）
以上詳細に説明したように、本発明によれば、例えばユ
ーザがチューニングを必要と感じたとき、指示手段を操
作することで容易にチューニング動作をさせることがで
きるもので、外乱が希にしか生じないようなプロセスに
も、安心してセルフチューニング調節計を適用すること
ができる。
ーザがチューニングを必要と感じたとき、指示手段を操
作することで容易にチューニング動作をさせることがで
きるもので、外乱が希にしか生じないようなプロセスに
も、安心してセルフチューニング調節計を適用すること
ができる。
第１図は本発明装置の基本的な機能ブロック図、第２図
は本発明の一実施例の構成ブロック図、第３図は本発明
装置の動作の一例を示すフローチャート、第４図は動作
の一例を示すタイムチャート、第５図は他の動作の一例
を示すタイムチャート、第６図はパラメータチューニン
グ手段３における波形観測・手法の一例を示す説明図で
ある。 １・・・制御対象 ２・・・ＰＩ制御手段 ３・・・パラメータチューニング手段 ４・・・指示手段 ５・・・ステップ信号発生手段 第１図 第２図 第３図 二、’、 ６ Ｑ
は本発明の一実施例の構成ブロック図、第３図は本発明
装置の動作の一例を示すフローチャート、第４図は動作
の一例を示すタイムチャート、第５図は他の動作の一例
を示すタイムチャート、第６図はパラメータチューニン
グ手段３における波形観測・手法の一例を示す説明図で
ある。 １・・・制御対象 ２・・・ＰＩ制御手段 ３・・・パラメータチューニング手段 ４・・・指示手段 ５・・・ステップ信号発生手段 第１図 第２図 第３図 二、’、 ６ Ｑ
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 制御対象からのプロセス量と制御目標値との偏差信号に
少なくとも比例（Ｐ）、積分（Ｉ）演算を行い得られた
操作信号を前記制御対象に出力するＰＩ制御手段と、前
記プロセス量または偏差信号の波形を観測しその観測結
果が予め設定した応答目標になるように前記ＰＩ制御手
段のＰ、Ｉ演算パラメータをチューニングするパラメー
タチューニング手段とを備えた調節計であつて、 外部よりチューニング動作を指示する指示手段と、この
指示手段からの信号を受けステップ状の信号を前記操作
信号に重畳するステップ信号発生手段とを設けたことを
特徴とするセルフチューニング調節計。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP25265887A JPH0195301A (ja) | 1987-10-07 | 1987-10-07 | セルフチューニング調節計 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP25265887A JPH0195301A (ja) | 1987-10-07 | 1987-10-07 | セルフチューニング調節計 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0195301A true JPH0195301A (ja) | 1989-04-13 |
Family
ID=17240420
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP25265887A Pending JPH0195301A (ja) | 1987-10-07 | 1987-10-07 | セルフチューニング調節計 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0195301A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5691896A (en) * | 1995-08-15 | 1997-11-25 | Rosemount, Inc. | Field based process control system with auto-tuning |
| US5812428A (en) * | 1995-09-22 | 1998-09-22 | Rosemount Inc. | Process controller having non-integrating control function and adaptive bias |
| US5818714A (en) * | 1996-08-01 | 1998-10-06 | Rosemount, Inc. | Process control system with asymptotic auto-tuning |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS61226803A (ja) * | 1985-03-30 | 1986-10-08 | Toshiba Corp | プロセス制御装置 |
-
1987
- 1987-10-07 JP JP25265887A patent/JPH0195301A/ja active Pending
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS61226803A (ja) * | 1985-03-30 | 1986-10-08 | Toshiba Corp | プロセス制御装置 |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5691896A (en) * | 1995-08-15 | 1997-11-25 | Rosemount, Inc. | Field based process control system with auto-tuning |
| US5812428A (en) * | 1995-09-22 | 1998-09-22 | Rosemount Inc. | Process controller having non-integrating control function and adaptive bias |
| US5818714A (en) * | 1996-08-01 | 1998-10-06 | Rosemount, Inc. | Process control system with asymptotic auto-tuning |
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