JPH0766596A - Onboard machine - Google Patents

Onboard machine

Info

Publication number
JPH0766596A
JPH0766596A JP5216426A JP21642693A JPH0766596A JP H0766596 A JPH0766596 A JP H0766596A JP 5216426 A JP5216426 A JP 5216426A JP 21642693 A JP21642693 A JP 21642693A JP H0766596 A JPH0766596 A JP H0766596A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
substrate
electronic component
mounting
mounting nozzle
distance
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP5216426A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Hiroki Yamada
祐基 山田
Hiroshi Okada
浩志 岡田
Tadayuki Saito
忠之 斉藤
Kohei Yabuno
光平 薮野
Haruo Sankai
春夫 三階
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Techno Engineering Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Techno Engineering Co Ltd filed Critical Hitachi Techno Engineering Co Ltd
Priority to JP5216426A priority Critical patent/JPH0766596A/en
Publication of JPH0766596A publication Critical patent/JPH0766596A/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Supply And Installment Of Electrical Components (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】 プリント基板のはんだパタ−ン上に電子部品
を高精度に搭載する搭載機を提供することを目的とす
る。 【構成】 本発明搭載機は、電子部品1を搭載すべき基
板6の所望箇所と搭載ノズル2に吸着された該電子部品
1との間隙を計測する手段20と、該計測手段の計測結
果に基づいて電子部品を吸着した搭載ノズルの基板への
駆動を該基板から任意の位置までは高速に、該任意位置
から前記電子部品を搭載すべき基板の所望箇所までは低
速で移動させる手段11を有している。
(57) [Abstract] [Purpose] It is an object of the present invention to provide a mounting machine for mounting electronic parts on a solder pattern of a printed circuit board with high accuracy. According to the mounting machine of the present invention, a means 20 for measuring a gap between a desired portion of a substrate 6 on which an electronic component 1 is to be mounted and the electronic component 1 sucked by a mounting nozzle 2 and a measurement result of the measuring means are used. Based on the above, means 11 is provided for moving the mounting nozzle that has sucked the electronic component to the substrate at high speed from the substrate to an arbitrary position and at low speed from the arbitrary position to a desired position on the substrate on which the electronic component is to be mounted. Have

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は搭載機に係り、特に、電
子部品を保持した搭載ノズルをプリント基板上に駆動
し、保持を解除することによってプリント基板上の所望
箇所に電子部品を搭載する搭載機に関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a mounting machine, and more particularly, to mount an electronic component at a desired position on the printed circuit board by driving a mounting nozzle holding the electronic component onto the printed circuit board and releasing the holding. It is about the onboard machine.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来の搭載機における部品搭載部及び該
部品搭載部を制御する制御部を、図10及び図11に示
す一例に基づいて説明する。
2. Description of the Related Art A component mounting section and a control section for controlling the component mounting section in a conventional mounting machine will be described based on an example shown in FIGS.

【0003】部品搭載部は、電子部品1を真空吸着(保
持)する搭載ノズル2,該搭載ノズル2を駆動する駆動
機構3,該駆動機構3を動作させるモ−タ4,該モ−タ
4に装着されるエンコ−ダ5等により構成されている。
制御部は、上位コンピュ−タシステム10と該上位コン
ピュ−タシステム10により管理されている制御システ
ム11とからなり、上位コンピュ−タシステム10から
出される命令は、搭載ノズル2の基板6上からの高さを
制御する位置制御器12,該位置制御器12からの信号
に基づいて搭載ノズル2の上下動速度を制御する速度制
御器13,更に該速度制御器13からの信号に基づいて
モ−タ4を駆動する信号を出す駆動回路14とからなる
制御システム11を介して上記部品搭載部に伝達され
る。
The component mounting portion includes a mounting nozzle 2 for vacuum-sucking (holding) the electronic component 1, a driving mechanism 3 for driving the mounting nozzle 2, a motor 4 for operating the driving mechanism 3, and a motor 4. It is composed of an encoder 5 and the like mounted on the.
The control unit is composed of a host computer system 10 and a control system 11 managed by the host computer system 10. The command issued from the host computer system 10 is the height of the mounting nozzle 2 above the substrate 6. Position controller 12, a speed controller 13 for controlling the vertical movement speed of the mounting nozzle 2 based on a signal from the position controller 12, and a motor 4 based on a signal from the speed controller 13. Is transmitted to the component mounting portion via a control system 11 including a drive circuit 14 that outputs a signal for driving the component.

【0004】そして、図11に示すようにガイド7が部
品搭載位置に保持する基板6の下面、すなわち、ガイド
7の上部と、電子部品1を吸着した搭載ノズル2の先端
との距離を距離L1として、上位コンピュ−タシステム
10に記憶させる。同様に電子部品1の高さH1、基板
6の厚さH2についても、あらかじめ計測され、上位コ
ンピュ−タシステム10にそれぞれ記憶させる。前記距
離L1,高さH1,厚さH2を記憶した上位コンピュ−
タシステム10は、基板6の上面と搭載ノズル2に吸着
した電子部品1の先端との距離を以下の式にて算出し、
距離L2として記憶する。
Then, as shown in FIG. 11, the distance between the lower surface of the substrate 6 held by the guide 7 at the component mounting position, that is, the upper portion of the guide 7 and the tip of the mounting nozzle 2 that has picked up the electronic component 1 is the distance L1. As a result, it is stored in the host computer system 10. Similarly, the height H1 of the electronic component 1 and the thickness H2 of the substrate 6 are also measured in advance and stored in the host computer system 10, respectively. An upper-level computer that stores the distance L1, height H1, and thickness H2
The system 10 calculates the distance between the upper surface of the substrate 6 and the tip of the electronic component 1 sucked by the mounting nozzle 2 by the following formula,
It is stored as the distance L2.

【0005】L2=L1−(H1+H2) 距離L2は搭載ノズル2の基板6への最大接近値、言い
替えると降下可能な最大値を示している。
L2 = L1- (H1 + H2) The distance L2 indicates the maximum approach value of the mounting nozzle 2 to the substrate 6, that is, the maximum value that can be lowered.

【0006】従って、上位コンピュ−タシステム10に
は、搭載ノズル2に吸着した電子部品1の先端と該基板
6との距離を示す距離L2を初期値として記憶させ、該
搭載ノズル2は該距離L2に基づいて降下動作を行う。
具体的には、搭載ノズル2の位置制御は、前記基板6上
からの高さにおいては、モ−タ4に装着したエンコ−ダ
5の信号を位置制御器12の入力点にフィ−ドバックす
ることで制御する。速度制御は、エンコ−ダ5の信号を
速度制御器13の入力点にフィ−ドバックして行い、モ
−タ4を駆動するための電流信号を変流器15により駆
動回路14の入力点にフィ−ドバックして電流制御を行
う。なお、特開平1−120897号公報には、電子部
品の衝撃耐性度に応じて搭載ノズルの降下速度を段階的
又は無段階に変化させる制御装置を設けて速度制御を行
い、搭載時に電子部品の破損を防ぐことが提案されてい
る。
Therefore, the host computer system 10 stores a distance L2 indicating the distance between the tip of the electronic component 1 sucked by the mounting nozzle 2 and the substrate 6 as an initial value, and the mounting nozzle 2 stores the distance L2. The descent operation is performed based on.
Specifically, the position control of the mounting nozzle 2 feeds back the signal of the encoder 5 mounted on the motor 4 to the input point of the position controller 12 at the height above the substrate 6. Control by that. The speed control is performed by feeding back the signal of the encoder 5 to the input point of the speed controller 13, and the current signal for driving the motor 4 is applied to the input point of the drive circuit 14 by the current transformer 15. The current is controlled by feedback. In Japanese Patent Laid-Open No. 120897/1989, a control device for changing the descending speed of the mounting nozzle stepwise or steplessly according to the impact resistance of the electronic component is provided to control the speed. It is proposed to prevent damage.

【0007】[0007]

【発明が解決しようとする課題】電子部品1を吸着した
搭載ノズル2は、基板6上の所望箇所に該電子部品1を
搭載するために下降するが、下降の際に該搭載ノズル2
先端が振動し、吸着した該電子部品1がリ−ドピッチ幅
方向に動く現象が生じる。しかし、電子部品1のリ−ド
ピッチ幅方向への動きによってはんだペ−ストが崩れて
も、従来ははんだペ−ストの幅が大きいためパタ−ン同
士は接触せず、いわゆるブリッジは生じないため問題と
はならなかった。しかし、電子部品1のリ−ドピッチが
30μm程度まで狭小化し、それに伴いはんだペ−スト
のパタ−ン間もより微細に形成されてきたため、搭載ノ
ズル2に吸着した電子部品1のリ−ド9がはんだペ−ス
ト上に接触する際にリ−ドピッチ幅方向に動くためブリ
ッジが発生する不具合が生じ、搭載精度の低下による不
良基板の発生が顕著となってきた。
The mounting nozzle 2 which has sucked the electronic component 1 descends to mount the electronic component 1 at a desired position on the substrate 6, and when the mounting nozzle 2 descends.
A phenomenon occurs in which the tip vibrates and the sucked electronic component 1 moves in the lead pitch width direction. However, even if the solder paste collapses due to the movement of the electronic component 1 in the lead pitch width direction, the patterns are not in contact with each other because the width of the solder paste is large, and so-called bridges do not occur. It didn't matter. However, since the lead pitch of the electronic component 1 has been narrowed to about 30 μm and the pattern of the solder paste has been formed finer accordingly, the lead 9 of the electronic component 1 adsorbed by the mounting nozzle 2 has become smaller. When the solder contacts the solder paste, it moves in the lead pitch width direction, which causes a problem that a bridge occurs, and the occurrence of a defective substrate due to a decrease in mounting accuracy has become remarkable.

【0008】従って、基板上に電子部品を高精度に搭載
するためには、搭載ノズルの下降時に発生するリ−ドピ
ッチ幅方向の振動を減少させる必要が生じる。すなわ
ち、電子部品のリ−ドがはんだペ−スト上に接触する際
の搭載ノズルの下降速度をリ−ドピッチが大きい電子部
品の搭載時に比べて低速にすればよい。該搭載ノズルの
下降速度を制御して電子部品の搭載を行うためには、対
象基板の状況を正確に把握し、把握した情報をフィ−ド
バックしながら制御を行う必要がある。
Therefore, in order to mount electronic components on a substrate with high accuracy, it is necessary to reduce vibration in the lead pitch width direction which occurs when the mounting nozzle descends. That is, the descending speed of the mounting nozzle when the lead of the electronic component comes into contact with the solder paste may be set to be slower than when the electronic component having a large lead pitch is mounted. In order to mount the electronic component by controlling the descending speed of the mounting nozzle, it is necessary to accurately grasp the situation of the target substrate and perform the control while feeding back the grasped information.

【0009】基板の状況を示す因子としては、基板の反
り量,該基板上に設けられたはんだペ−ストの幅及び厚
さなどが挙げられる。
Factors indicating the condition of the substrate include the amount of warp of the substrate, the width and thickness of the solder paste provided on the substrate, and the like.

【0010】例えば基板の反り量について見てみると、
上述した従来の搭載機において、搭載ノズル2の先端に
吸着した電子部品1の先端と基板6上面との距離をあら
かじめ測定して距離L2としているが、該距離L2は基
板6表面を平坦なものと仮定した場合の理論上の距離で
あり、実際の製造ラインで使用される基板には若干の反
りが生じており、この反りも個々の基板によっては一定
ではなく、しかも、同一基板上においても搭載位置によ
って変化していることが多い。また、上記特許公開公報
に述べられるように、部品の衝撃耐性度、すなわち、部
品の種類に応じて、例えば電子部品1の高さH1をあら
かじめ計測して上位コンピュ−タシステム10に記憶さ
せておき、搭載ノズル2の動作速度の切り替えを行う判
別値とした場合、位置制御器12から出された搭載ノズ
ル2の上下動作を指示する指令値は、前記高さH1に対
して1対1対応で変化するだけであり、基板の反りによ
り生じる基板上面の変化を把握し、それに追従して搭載
ノズル2の上下動作を指示することはできない。
Looking at the amount of warp of the substrate, for example,
In the above-described conventional mounting machine, the distance between the tip of the electronic component 1 adsorbed on the tip of the mounting nozzle 2 and the upper surface of the substrate 6 is measured in advance and set as the distance L2. The distance L2 is a flat surface of the substrate 6. This is the theoretical distance when assuming that the board used in the actual manufacturing line has a slight warp, and this warp is not constant depending on the individual board, and even on the same board. It often changes depending on the mounting position. Further, as described in the above-mentioned patent publication, for example, the height H1 of the electronic component 1 is measured in advance according to the impact resistance degree of the component, that is, the type of the component, and is stored in the host computer system 10. When the determination value for switching the operation speed of the mounting nozzle 2 is used, the command value issued from the position controller 12 for instructing the vertical movement of the mounting nozzle 2 has a one-to-one correspondence with the height H1. However, it is not possible to grasp the change in the upper surface of the substrate caused by the warp of the substrate and follow the change to instruct the vertical movement of the mounting nozzle 2.

【0011】本発明の目的は、上記課題を解決し、基板
上に電子部品を高精度に搭載する搭載機を提供するもの
である。
An object of the present invention is to solve the above problems and to provide a mounting machine for mounting electronic components on a substrate with high accuracy.

【0012】[0012]

【課題を解決するための手段】本発明搭載機の特徴とす
るところは、電子部品を搭載すべき基板の所定箇所と搭
載ノズルに保持された電子部品との距離を計測する手段
と、該計測手段の計測結果に基づいて電子部品を吸着し
た搭載ノズルの基板上面への駆動を、該基板から任意の
位置までは高速に、該任意の位置から前記電子部品を搭
載すべき基板の所望箇所までは低速で移動させる手段を
設けたことにある。
A feature of the mounting machine of the present invention is that it measures the distance between a predetermined position of a substrate on which an electronic component is to be mounted and the electronic component held by a mounting nozzle, and the measuring means. Based on the measurement result of the means, the mounting nozzle that has sucked the electronic component is driven to the upper surface of the substrate at high speed from the substrate to an arbitrary position, and from the arbitrary position to a desired position on the substrate on which the electronic component is to be mounted. Is to provide a means to move at low speed.

【0013】[0013]

【作用】本発明によれば、電子部品を搭載すべき基板の
所望箇所と搭載ノズルに保持された電子部品との距離を
計測する手段によって該基板の状況を把握でき、該計測
手段の計測結果すなわち該基板の状況に基づいて、電子
部品を吸着した搭載ノズルの基板上面への駆動を、該基
板から任意の位置までは高速に、該任意の位置から前記
電子部品を搭載すべき基板の所定箇所までは低速で移動
させる手段により、該搭載ノズルの下降時に発生する振
動が該電子部品の搭載時に減少するため、該基板上に設
けたはんだペ−ストを崩してブリッジを発生させること
がなく高精度に搭載することができる。
According to the present invention, the condition of the board can be grasped by the means for measuring the distance between the desired part of the board on which the electronic component is to be mounted and the electronic part held by the mounting nozzle, and the measurement result of the measuring means can be obtained. That is, based on the condition of the board, the mounting nozzle that picks up the electronic component is driven to the upper surface of the board at a high speed from the board to an arbitrary position, and the predetermined position of the board on which the electronic component is mounted from the arbitrary position. Since the vibration that occurs when the mounting nozzle descends is reduced when the electronic component is mounted by the means that moves to a location at low speed, the solder paste provided on the substrate is not destroyed and a bridge is not generated. It can be mounted with high precision.

【0014】[0014]

【実施例】図1,図2及び図3に本発明の一実施例を示
す。
FIG. 1, FIG. 2 and FIG. 3 show an embodiment of the present invention.

【0015】図1に示す本実施例は、基板表面の状態を
計測する手段として基板の下方に例えば超音波センサを
設け、電子部品を吸着した搭載ノズルを該基板から任意
の位置までは高速に、該任意の位置から電子部品を搭載
すべき基板の所望箇所までは低速で移動させるものであ
る。図10に示す従来例と同一部分には同一符号を付け
説明を省略する。
In this embodiment shown in FIG. 1, for example, an ultrasonic sensor is provided below the substrate as a means for measuring the state of the surface of the substrate, and a mounting nozzle on which an electronic component is sucked is rapidly moved from the substrate to an arbitrary position. The low-speed movement is performed from the arbitrary position to a desired position on the board on which the electronic component is to be mounted. The same parts as those of the conventional example shown in FIG.

【0016】図10に示す従来例と同様に、あらかじめ
ガイド7が部品搭載位置に保持する基板6の下面、すな
わち、ガイド7の上部と、電子部品1を吸着した搭載ノ
ズル2の先端との距離を距離L1とし、上位コンピュ−
タシステム10に記憶させる。同様に、搭載部品6の高
さH1,基板6の厚さH2についてもあらかじめ計測
し、上位コンピュ−タシステム10にそれぞれ記憶させ
る。
Similar to the conventional example shown in FIG. 10, the distance between the lower surface of the substrate 6, which the guide 7 holds in advance at the component mounting position, that is, the upper portion of the guide 7, and the tip of the mounting nozzle 2 that has picked up the electronic component 1. Is the distance L1 and the upper computer
It is stored in the computer system 10. Similarly, the height H1 of the mounted component 6 and the thickness H2 of the substrate 6 are also measured in advance and stored in the host computer system 10.

【0017】なお、基板6の下方に超音波センサ20を
設け、前記基板6に対する位置をあらかじめ設定し、該
超音波センサ20のアンプ21の信号は、ル−プ22を
通って位置制御器12と駆動回路14にフィ−ドバック
する。
An ultrasonic sensor 20 is provided below the substrate 6 and a position with respect to the substrate 6 is preset. The signal of the amplifier 21 of the ultrasonic sensor 20 passes through the loop 22 and the position controller 12 is provided. And feed back to the drive circuit 14.

【0018】図2は、搭載ノズル2と基板6及び超音波
センサ20の位置関係において反りが生じた基板6を対
象とした場合を示しており、基板6下部の一点鎖線は、
表面が平坦と仮定した場合の基板下面の位置を示してい
る。
FIG. 2 shows a case where the mounting nozzle 2 and the substrate 6 and the ultrasonic sensor 20 are warped in the positional relationship, and the dashed-dotted line below the substrate 6 is
The position of the lower surface of the substrate when the surface is assumed to be flat is shown.

【0019】基板6の下方に設けた超音波センサ20の
先端と、部品搭載位置にガイド7により保持した基板6
の下面との距離を、表面が平坦と仮定した理想的基板の
場合に距離L3とし、実測値を実測距離K3とすると、
基板6の反り量Jは、 J=L3−K3 として算出することができる。この時基板6は、J>0
のとき搭載ノズル2に対して下方に反っており、J=0
のときは反りが無く、J<0のとき搭載ノズル2に対し
て上方に反っていると判断できる。
The tip of the ultrasonic sensor 20 provided below the substrate 6 and the substrate 6 held by the guide 7 at the component mounting position.
Let the distance from the lower surface of the substrate be the distance L3 in the case of an ideal substrate whose surface is assumed to be flat, and let the actually measured value be the actually measured distance K3.
The warpage amount J of the substrate 6 can be calculated as J = L3-K3. At this time, the substrate 6 has J> 0.
At this time, the warp is downward with respect to the mounting nozzle 2, and J = 0.
When J <0, it can be determined that there is no warp, and when J <0, the mount nozzle 2 is warped upward.

【0020】また、搭載ノズル2に吸着した電子部品1
のリ−ド9先端と基板6上の搭載位置面との距離を実測
距離K2とすると、該距離K2は上位コンピュ−タシス
テム10によって、部品搭載位置にガイド7により保持
した基板6の下面、すなわち、ガイド7の上部と搭載ノ
ズル2の先端との距離である距離L1、基板の反り量
J,電子部品1の高さH1,基板厚さH2から、 K2=L1−(H1+H2+J) として求められる。
Further, the electronic component 1 sucked by the mounting nozzle 2
Assuming that the distance between the tip of the lead 9 and the mounting position surface on the substrate 6 is a measured distance K2, the distance K2 is the lower surface of the substrate 6 held by the upper computer system 10 by the guide 7 at the component mounting position, that is, From the distance L1 which is the distance between the upper part of the guide 7 and the tip of the mounting nozzle 2, the warp amount J of the substrate, the height H1 of the electronic component 1 and the substrate thickness H2, K2 = L1- (H1 + H2 + J) is obtained.

【0021】前記実測距離K2は従来例に示す距離L2
と同様に搭載ノズル2の基板6への最大接近値、言い替
えると降下可能な最大値を示し、該搭載ノズル2は該実
測距離K2に基づいて降下動作を行う。従って、上位コ
ンピュ−タシステム10は該実測距離K2を初期値とし
て記憶し、搭載ノズル2の駆動距離、すなわち、残りの
降下距離を把握することができる。
The measured distance K2 is the distance L2 shown in the conventional example.
Similarly, the maximum value of the mounting nozzle 2 approaching the substrate 6, that is, the maximum value that can be lowered is shown, and the mounting nozzle 2 performs the lowering operation based on the measured distance K2. Therefore, the host computer system 10 can store the measured distance K2 as an initial value and grasp the drive distance of the mounting nozzle 2, that is, the remaining descent distance.

【0022】さて、基板6上面から任意の位置までは高
速に、該任意の位置から搭載位置までは低速に移動する
搭載時間及び搭載距離の関係を図3に示す。
Now, FIG. 3 shows the relationship between the mounting time and the mounting distance in which the substrate 6 moves from the upper surface to an arbitrary position at a high speed and from the arbitrary position to a mounting position at a low speed.

【0023】図3は、縦軸に基板6上面からの距離、横
軸に搭載ノズル2の下降時間を取り、部品搭載時の搭載
ノズル2の下降ストロ−クを表したものである。
In FIG. 3, the vertical axis represents the distance from the upper surface of the substrate 6 and the horizontal axis represents the descending time of the mounting nozzle 2, showing the descending stroke of the mounting nozzle 2 during component mounting.

【0024】上述した搭載ノズル2に吸着した電子部品
1のリ−ド9先端と基板6の上面との間隙を示す実測距
離K2が、基板6上面の部品搭載箇所上から任意の高さ
である距離ΔLとなる時点(時刻t1)までを搭載ノズ
ル2の駆動速度が高速なモ−ド1と設定し、該距離ΔL
から基板6上のはんだペ−スト8上に電子部品1が搭載
される時点(時刻t2)までを搭載ノズル2の駆動速度
が低速なモ−ド2と設定する。上記時刻t2は、搭載ノ
ズル2の降下距離が上述した実測距離K2と等しくなる
時点であり、搭載ノズル2の下降が停止する時点であ
る。従って、電子部品1を吸着した搭載ノズル2の降下
速度を上記モ−ド1と上記モ−ド2とで切り替えること
により、基板6上部での該搭載ノズル2の急停止を防止
することができ、該搭載ノズル2先端に発生するリ−ド
ピッチ幅方向の振動を減少させることができるため、該
基板6上に設けたはんだパタ−ン8を該電子部品1が搭
載時にくずし、いわゆるブリッジが発生する不具合を防
ぐことができる。
The actually measured distance K2, which indicates the gap between the tip of the lead 9 of the electronic component 1 sucked by the mounting nozzle 2 and the upper surface of the substrate 6, is an arbitrary height from the component mounting position on the upper surface of the substrate 6. By the time when the distance ΔL is reached (time t1), the driving speed of the mounting nozzle 2 is set to the high speed mode 1, and the distance ΔL is set.
From the time until the electronic component 1 is mounted on the solder paste 8 on the substrate 6 (time t2), the mode 2 in which the driving speed of the mounting nozzle 2 is low is set. The time t2 is the time when the descending distance of the mounting nozzle 2 becomes equal to the above-described measured distance K2, and is the time when the descending of the mounting nozzle 2 is stopped. Therefore, by switching the descending speed of the mounting nozzle 2 that has sucked the electronic component 1 between the mode 1 and the mode 2, it is possible to prevent the mounting nozzle 2 from suddenly stopping at the upper portion of the substrate 6. Since the vibration in the lead pitch width direction generated at the tip of the mounting nozzle 2 can be reduced, the solder pattern 8 provided on the substrate 6 is destroyed when the electronic component 1 is mounted, and a so-called bridge is generated. It is possible to prevent the malfunction.

【0025】また、上記時刻t2を、該電子部品1の先
端が基板6上のはんだペ−スト8に接触し該基板6上面
が該電子部品1により上方から押されることにより上記
実測距離K3が変化する時点としてとらえ、ル−プ22
を通って駆動回路14にフィ−ドバックする該実測距離
K3の変化によりモ−タ4を停止し、低速モ−ドで降下
している搭載ノズル2を即座に停止させてもよい。
At time t2, the tip of the electronic component 1 comes into contact with the solder paste 8 on the substrate 6 and the upper surface of the substrate 6 is pushed from above by the electronic component 1, so that the actually measured distance K3 is obtained. Considered as the time of change, loop 22
The motor 4 may be stopped by the change of the actually measured distance K3 fed back to the drive circuit 14 through the motor 4 and the mounting nozzle 2 descending in the low speed mode may be stopped immediately.

【0026】本実施例によれば、基板の下方に設けた超
音波センサによって、電子部品を搭載すべき基板の所定
箇所と搭載ノズルに吸着された該電子部品との距離を計
測し、該超音波センサの計測結果に基づいて電子部品を
吸着した搭載ノズルの基板への駆動を該基板から任意の
位置までは高速に、該任意位置から前記電子部品を搭載
すべき基板の所望箇所までは低速で移動させる手段を設
けたため、搭載ノズルの下降時に発生する該搭載ノズル
先端のリ−ドピッチ幅方向の振動を減少することがで
き、反りの生じている基板に対しても精度良く電子部品
の搭載を行うことができる。
According to the present embodiment, the ultrasonic sensor provided below the substrate measures the distance between a predetermined portion of the substrate on which the electronic component is to be mounted and the electronic component sucked by the mounting nozzle, Based on the measurement result of the sound wave sensor, the driving of the mounting nozzle that adsorbs the electronic component to the substrate is performed at high speed from the substrate to an arbitrary position, and at a low speed from the arbitrary position to a desired position of the substrate on which the electronic component is to be mounted. By virtue of the provision of the means for moving the mounting nozzle, it is possible to reduce the vibration in the lead pitch width direction at the tip of the mounting nozzle that occurs when the mounting nozzle descends, and it is possible to accurately mount electronic components even on a warped substrate. It can be performed.

【0027】なお、電子部品1を吸着した搭載ノズル2
が基板6に対して斜め方向に下降する場合には、上位コ
ンピュ−タシステム10によって該搭載ノズル2の移動
距離を水平及び垂直方向に分解して演算させることも可
能である。
The mounting nozzle 2 that has sucked the electronic component 1
In the case where C is lowered in an oblique direction with respect to the substrate 6, the upper computer system 10 can decompose the moving distance of the mounting nozzle 2 in the horizontal and vertical directions for calculation.

【0028】図4,図5,図6及び図7に本発明の他の
実施例を示す。
FIG. 4, FIG. 5, FIG. 6 and FIG. 7 show another embodiment of the present invention.

【0029】本実施例は、基板表面の状態を計測する手
段として基板上方にセンサを設け、該基板から任意の位
置までは高速に、該任意の位置から電子部品を搭載すべ
き基板の所望箇所までは低速で移動させるものである。
なお、図10に示す従来例と同一部分には同一符号を付
け説明を省略する。
In this embodiment, a sensor is provided above the substrate as a means for measuring the condition of the surface of the substrate, and at a high speed from the substrate to an arbitrary position, a desired portion of the substrate on which an electronic component is to be mounted is mounted from the arbitrary position. Is to move at low speed.
Incidentally, the same parts as those of the conventional example shown in FIG.

【0030】図10に示す従来例と同様に、あらかじめ
上位コンピュ−タシステム10には、ガイド7の上部
と、電子部品1を吸着し基板6の該電子部品1を搭載す
べき所望箇所上部に達した下降直前の搭載ノズル2の先
端との距離L1,搭載電子部品1の高さH1,基板6の
厚さH2をそれぞれ記憶する。
Similar to the conventional example shown in FIG. 10, the upper computer system 10 previously reaches the upper portion of the guide 7 and the upper portion of the desired portion of the substrate 6 where the electronic component 1 is to be mounted and the electronic component 1 is to be mounted. The distance L from the tip of the mounting nozzle 2 immediately before the descending, the height H1 of the mounting electronic component 1, and the thickness H2 of the substrate 6 are stored.

【0031】本実施例においては図4に示すように、搭
載ノズル2をθ軸方向に回転するモ−タ30と、該搭載
ノズル2とともに回転するセンサ31,32を設けてい
る。該センサ31,32は搭載ノズル2の先端から任意
の位置に設けるが、該任意の位置とは搭載ノズル2に吸
着した電子部品1には接触せず該電子部品1を検知しな
い位置であれば良い。この時の電子部品1,搭載ノズル
2とセンサ31,32との位置関係を図5及び図6に示
すA−A断面図を用いて説明する。
In this embodiment, as shown in FIG. 4, a motor 30 for rotating the mounting nozzle 2 in the θ-axis direction and sensors 31, 32 for rotating together with the mounting nozzle 2 are provided. The sensors 31 and 32 are provided at arbitrary positions from the tip of the mounting nozzle 2, but the arbitrary position is a position where the electronic component 1 attracted to the mounting nozzle 2 is not contacted and the electronic component 1 is not detected. good. The positional relationship between the electronic component 1, the mounting nozzle 2 and the sensors 31 and 32 at this time will be described with reference to sectional views taken along line AA shown in FIGS. 5 and 6.

【0032】図5に示すように上記搭載ノズル2は、吸
着した電子部品1を上記センサ31,32が検知しない
位置V0,W0に位置している。モ−タ30により該位
置V0,W0から搭載ノズル2が図6に示すようにθ軸
方向に45°回転する。このとき搭載ノズル2は吸着し
た電子部品1及びセンサ31,32と共に回転するた
め、該センサ31,32は、搭載ノズル2が吸着した電
子部品1を検知せずに基板6上面の位置V1,W1まで
の距離を計測し、計測値を上位コンピュ−タシステム1
0に記憶する。次に、搭載ノズル2が更にθ軸方向に9
0°回転すると、該センサ31,32は図6に示す場合
と同様に電子部品1は検知せず基板6上面の位置V2,
W2までの距離を計測し、計測値を上位コンピュ−タシ
ステム10に記憶する。
As shown in FIG. 5, the mounting nozzle 2 is located at the positions V0 and W0 where the sensors 31 and 32 do not detect the sucked electronic component 1. The motor 30 rotates the mounting nozzle 2 from the positions V0 and W0 by 45 ° in the θ-axis direction as shown in FIG. At this time, since the mounting nozzle 2 rotates together with the sucked electronic component 1 and the sensors 31 and 32, the sensors 31 and 32 do not detect the sucked electronic component 1 by the mounting nozzle 2 and the positions V1 and W1 on the upper surface of the substrate 6 are detected. Measures the distance to and the measured value is the upper computer system 1
Store at 0. Next, the mounting nozzle 2 is further moved in the θ-axis direction by 9
When rotated by 0 °, the sensors 31 and 32 do not detect the electronic component 1 as in the case shown in FIG.
The distance to W2 is measured, and the measured value is stored in the host computer system 10.

【0033】該センサ31,32が、電子部品1が搭載
される基板6上の所望箇所におけるはんだペ−スト8上
の4点を計測した後、搭載ノズル2がモ−タ30によっ
てθ軸方向に−135°回転する。つまり、図5に示す
ように位置V0,W0に該センサ31,32が位置した
時点で搭載ノズル2は降下する。
After the sensors 31 and 32 measure four points on the solder paste 8 at desired positions on the substrate 6 on which the electronic component 1 is mounted, the mounting nozzle 2 is moved by the motor 30 in the θ axis direction. Rotate -135 °. That is, as shown in FIG. 5, the mounting nozzle 2 descends when the sensors 31 and 32 are located at the positions V0 and W0.

【0034】上位コンピュ−タシステム10は、上記4
点(位置V1,W1,V2,W2)において該センサ3
1,32が計測した距離の最小値を判別して距離K4と
し、搭載ノズル2の降下距離として記憶する。該基板6
上に設けたはんだペ−スト8の高さは数10μm程度で
あり、電子部品1を搭載するために搭載ノズル2が下降
する厳密な距離は、吸着した電子部品1のリ−ド9下端
からはんだペ−スト8の上部までとなる。従って、前記
搭載ノズル2が吸着した電子部品1がはんだペ−スト8
をつぶしてブリッジを形成すること無く降下できる距離
は、上位コンピュ−タシステム10により判別された上
記4点における上記センサ31,32が計測した距離の
最小値として示すことができる。
The host computer system 10 has the above-mentioned 4
At the point (positions V1, W1, V2, W2), the sensor 3
The minimum value of the distances measured by 1 and 32 is determined and set as the distance K4, which is stored as the descending distance of the mounting nozzle 2. The substrate 6
The height of the solder paste 8 provided above is about several tens of μm, and the exact distance that the mounting nozzle 2 descends to mount the electronic component 1 is from the lower end of the lead 9 of the sucked electronic component 1. Up to the top of the solder paste 8. Therefore, the electronic component 1 adsorbed by the mounting nozzle 2 is solder paste 8
The distance that can be descended without crushing and forming a bridge can be shown as the minimum value of the distances measured by the sensors 31 and 32 at the above four points determined by the host computer system 10.

【0035】該距離K4に基づいて、基板6上面から任
意の位置までは高速に、該任意の位置から搭載位置まで
は低速に移動する搭載時間及び搭載距離の関係を図7に
示す。 図7において、センサ31,32による位置V
0,W0の計測時点を時刻T0、位置V1,W1の計測
時点を時刻T1,位置V2,W2の計測時点を時刻T2
とすると、時刻T0−時刻T2間は計測期間のため搭載
ノズル2の下降は行わない。上位コンピュ−タシステム
10は、記憶している搭載ノズル2の降下速度(高速モ
−ド及び低速モ−ド)と既に算出された距離K4とか
ら、基板上面の部品搭載箇所上から任意の高さである距
離ΔLに搭載ノズル2の先端に吸着した電子部品1の先
端が達する時点を時刻T3とし、該距離ΔLから基板6
上のはんだペ−スト8上に電子部品1が搭載される時点
を時刻T4として求め、時刻T3において降下速度を高
速モ−ドから低速モ−ドに切り替え、時刻T4において
電子部品1の吸着を解除し基板6上のはんだペ−スト8
上に搭載する。
Based on the distance K4, the relationship between the mounting time and the mounting distance, in which the substrate 6 moves from the upper surface to an arbitrary position at a high speed and from the arbitrary position to a mounting position at a low speed, is shown in FIG. In FIG. 7, the position V by the sensors 31 and 32
The measurement time points of 0 and W0 are time T0, the measurement time points of positions V1 and W1 are time T1, the measurement time points of positions V2 and W2 are time T2.
Then, since the measurement period is between time T0 and time T2, the mounted nozzle 2 is not lowered. The upper-level computer system 10 determines an arbitrary height from the component mounting position on the upper surface of the board based on the stored descent speed (high-speed mode and low-speed mode) of the mounting nozzle 2 and the distance K4 already calculated. The time when the tip of the electronic component 1 attracted to the tip of the mounting nozzle 2 reaches the distance ΔL is time T3, and the substrate 6 is moved from the distance ΔL.
The time when the electronic component 1 is mounted on the upper solder paste 8 is obtained as time T4, and the descending speed is switched from the high speed mode to the low speed mode at time T3, and the electronic component 1 is attracted at time T4. Release and solder paste 8 on board 6
Mount on top.

【0036】なお本実施例においては、説明を簡略化す
るため搭載ノズル2に設けたセンサ31,32が垂直方
向にはんだペ−スト8の高さ検出を行うものとして説明
したが、該センサ31,32の検出方向は垂直方向に限
定されるものではない。
In this embodiment, the sensors 31 and 32 provided in the mounting nozzle 2 detect the height of the solder paste 8 in the vertical direction for simplification of description, but the sensor 31 is described. , 32 is not limited to the vertical direction.

【0037】本実施例によれば、基板の上部に設けたセ
ンサにより、電子部品を搭載すべき基板の所望箇所と搭
載ノズルに吸着された該電子部品との間隙を精密に計測
し、該センサの計測結果に基づいて該電子部品を吸着し
た該搭載ノズルの基板への駆動を該基板から任意の位置
までは高速に、該任意位置から該電子部品を搭載すべき
基板の所望箇所までは低速で移動するため、搭載ノズル
の下降時に発生する搭載ノズル先端のリ−ドピッチ幅方
向の振動を減少することができ、搭載した電子部品によ
ってブリッジが発生することを防ぐことができるため、
精度の良い搭載を行うことができる。
According to this embodiment, the sensor provided on the upper portion of the substrate precisely measures the gap between the desired portion of the substrate on which the electronic component is to be mounted and the electronic component adsorbed by the mounting nozzle, and the sensor is used. Based on the measurement result, the driving of the mounting nozzle that has sucked the electronic component to the substrate is performed at high speed from the substrate to an arbitrary position, and at low speed from the arbitrary position to a desired position on the substrate on which the electronic component is to be mounted. Since the movement of the mounting nozzle, it is possible to reduce the vibration in the lead pitch width direction of the mounting nozzle tip when the mounting nozzle descends, it is possible to prevent the occurrence of a bridge by the mounted electronic components,
It can be mounted with high accuracy.

【0038】なお、図1から図7に示す2つの実施例に
おいては、あらかじめ高速モ−ド及び低速モ−ドを設定
しているため、搭載ノズルの基板上面からの距離によっ
て搭載時間が異なるが、搭載時間を一定として制御した
場合にはばらつきの無い精度の良いタクトタイムを確保
することができる。
In the two embodiments shown in FIGS. 1 to 7, since the high speed mode and the low speed mode are set in advance, the mounting time differs depending on the distance from the upper surface of the substrate of the mounting nozzle. When the mounting time is controlled to be constant, it is possible to secure a highly accurate and accurate tact time.

【0039】図8に、搭載時間を一定とした場合及び搭
載時速度を一定とした場合の搭載ノズルの下降ストロ−
クを比較して示す。
FIG. 8 shows the downward stroke of the mounting nozzle when the mounting time is constant and the mounting speed is constant.
Shown by comparing.

【0040】降下速度をあらかじめ設定し距離Xだけ降
下する場合に、基板6上から搭載ノズル2が所定の距離
ΔLに達する時点を時刻t1a,基板6上に電子部品1
を搭載する時点を時刻t1bとする(ケ−スA)。ま
た、降下速度はケ−スAと同様だが降下距離が距離αだ
けケ−スAよりも短い場合に、基板6上から搭載ノズル
2が所定の距離ΔLに達する時点を時刻t2a,基板6
上に電子部品1を搭載する時点を時刻t2bとする(ケ
−スB)。図8では、ケ−スAにおける搭載ノズル2の
下降ストロ−クを点線及び実線Aで示し、ケ−スBにお
ける搭載ノズル2の下降ストロ−クを実線Bで示す。
When the descending speed is set in advance and is descended by the distance X, the time when the mounting nozzle 2 reaches the predetermined distance ΔL from the substrate 6 is time t1a, and the electronic component 1 is mounted on the substrate 6.
The time when the device is mounted is time t1b (case A). Further, when the descending speed is the same as the case A but the descending distance is shorter than the case A by the distance α, the time when the mounting nozzle 2 reaches the predetermined distance ΔL from the substrate 6 is time t2a, the substrate 6 is.
The time when the electronic component 1 is mounted on the top is time t2b (case B). In FIG. 8, the descending stroke of the mounting nozzle 2 in the case A is shown by a dotted line and a solid line A, and the descending stroke of the mounting nozzle 2 in the case B is shown by a solid line B.

【0041】前記ケ−スA及びケ−スBを比較すると、
図8に示すように電子部品1が基板6上のはんだペ−ス
ト8上に搭載される搭載時間の差は時刻t1b−時刻t
2bとなる。従って、搭載速度をあらかじめ設定した場
合には、基板の状況すなわち、基板6の反り量や電子部
品1が載るはんだパタ−ンの幅及び厚さなどにより発生
する距離α分の降下距離が変化し、該降下距離に対応し
て搭載時間も変化することがわかる。
Comparing the case A and the case B,
As shown in FIG. 8, the difference in mounting time when the electronic component 1 is mounted on the solder paste 8 on the substrate 6 is time t1b-time t.
2b. Therefore, when the mounting speed is set in advance, the descending distance corresponding to the distance α changes depending on the condition of the board, that is, the warp amount of the board 6 and the width and thickness of the solder pattern on which the electronic component 1 is mounted. It can be seen that the mounting time also changes according to the descent distance.

【0042】さて、搭載ノズル2が基板6上から所定の
距離ΔLに達するまでの時間をケ−スAと同様の時刻t
1aとし、降下距離をケ−スBと同様の距離X−αとし
た場合(ケ−スC)、上位コンピュ−タシステム10
は、基板6上から所定の距離ΔLに達するまでの時刻t
1aと搭載ノズル2の下降距離を示す距離X−αとか
ら、高速モ−ド1aにおける降下速度を演算し搭載ノズ
ル2の降下を行う。図8において実線Cの傾きは搭載ノ
ズル2の降下速度を示しており、実線Bに比べてゆるや
かであり、低速度となっている。なおケ−スCにおいて
は、基板上の所定の距離ΔLに達する時間をケ−スAと
同様にしたため、モ−ド1bにおいてはケ−スAと同様
の実線Aで示す下降ストロ−クとなる。
The time required for the mounting nozzle 2 to reach the predetermined distance .DELTA.L from the substrate 6 is the time t similar to the case A.
1a and the descending distance is the same distance X-α as case B (case C), the host computer system 10
Is the time t until the predetermined distance ΔL from the substrate 6 is reached.
The descending speed in the high speed mode 1a is calculated from 1a and the distance X-α indicating the descending distance of the mounting nozzle 2 to descend the mounting nozzle 2. In FIG. 8, the inclination of the solid line C indicates the descending speed of the mounting nozzle 2, which is slower than the solid line B and is low. In case C, the time required to reach the predetermined distance .DELTA.L on the substrate is the same as in case A. Therefore, in mode 1b, the descending stroke indicated by the solid line A is the same as in case A. Become.

【0043】搭載時間を一定としたケ−スCにおいて
は、基板6の反り量やはんだパタ−ンの幅及び厚さ等に
よって変化する基板の状況を考慮して、常に一定の時間
で電子部品を搭載することができるため、ばらつきの無
いタクトタイムを確保することができる。
In the case C in which the mounting time is constant, the electronic parts are always kept constant for a fixed time in consideration of the condition of the board which varies depending on the warp amount of the board 6 and the width and thickness of the solder pattern. It is possible to secure the tact time with no variation because it can be equipped with.

【0044】図9に本発明の更に他の実施例を示す。本
実施例は、搭載ノズルに吸着した電子部品に対する基板
上の搭載箇所の高さ位置を計測する手段として、搭載ノ
ズルとともに下降し基板上面に接触する接触子と、該接
触子に設けた圧力センサと該圧力センサから出力する電
気信号を制御手段にフィ−ドバックするアンプを備えて
いる。図9に示す実施例において、図10に示す従来例
と同一部分には同一符号を付け、説明を省略する。
FIG. 9 shows still another embodiment of the present invention. In this embodiment, as a means for measuring the height position of the mounting position on the substrate with respect to the electronic component sucked by the mounting nozzle, a contactor that descends together with the mounting nozzle and contacts the upper surface of the substrate, and a pressure sensor provided on the contactor And an amplifier for feeding back the electric signal output from the pressure sensor to the control means. In the embodiment shown in FIG. 9, the same parts as those in the conventional example shown in FIG.

【0045】図10に示す従来例と同様に、あらかじめ
上位コンピュ−タシステム10には、ガイド7の上部
と、電子部品1を吸着し基板6の該電子部品1を搭載す
べき所望箇所上部に達した下降直前の搭載ノズル2の先
端との距離L1,搭載部品6の高さH1,基板6の厚さ
H2をそれぞれ記憶させる。
Similar to the conventional example shown in FIG. 10, the upper computer system 10 previously reaches the upper portion of the guide 7 and the desired portion of the substrate 6 where the electronic component 1 is to be mounted and where the electronic component 1 is to be mounted. The distance L from the tip of the mounting nozzle 2 immediately before descending, the height H1 of the mounting component 6, and the thickness H2 of the substrate 6 are stored.

【0046】本実施例においては、搭載ノズル2先端か
ら所定の高さにストッパ40を設け、該ストッパ40に
より接触子41を支持する。このとき、該接触子41は
搭載ノズル2に対して上部には自由に移動できるが、搭
載ノズル2の先端方向に対しては、前記ストッパ40に
より、前記接触子41の下端が搭載ノズル2の吸着した
電子部品1の先端から距離ΔLだけ下方に位置するのが
限度である。また、搭載ノズル2はバネ42を有してお
り、前記バネ42が保持する圧力センサ43に、該接触
子41の上部が接触している。
In this embodiment, a stopper 40 is provided at a predetermined height from the tip of the mounting nozzle 2, and the stopper 40 supports the contactor 41. At this time, the contactor 41 can freely move to the upper part with respect to the mounting nozzle 2, but with respect to the tip direction of the mounting nozzle 2, the lower end of the contactor 41 is moved to the mounting nozzle 2 by the stopper 40. The limit is that it is located a distance ΔL below the tip of the sucked electronic component 1. Further, the mounting nozzle 2 has a spring 42, and the pressure sensor 43 held by the spring 42 is in contact with the upper portion of the contactor 41.

【0047】すなわち、前記搭載ノズル2において、前
記ストッパ40により支持された前記接触子41は、上
部がバネ42により保持された圧力センサ43の押圧値
を0として接触している。
That is, in the mounting nozzle 2, the contactor 41 supported by the stopper 40 is in contact with the pressure sensor 43, whose upper portion is held by the spring 42, when the pressing value is zero.

【0048】搭載ノズル2が下降して該接触子41の先
端が基板6上に接触する(時間t1とする。)と該圧力
センサ43が押圧力を検出し、アンプ44を介して下降
速度を制御する速度制御器11及びモ−タ4を駆動する
駆動回路14にル−プ45を介して信号がフィ−ドバッ
クされる。この時点では電子部品1は基板6上から距離
ΔL上部に位置している。上位コンピュ−タシステム1
0により搭載速度を低速に切り替えて、さらに搭載ノズ
ル2は距離ΔLだけ降下する。この時、該搭載ノズル2
が更に降下してもバネ42によって上方に接触子41の
みが押し上げられるため基板6を該接触子41が更に押
すことはなく、搭載ノズル2のみ下降でき、降下が停止
した時点で吸着を解除して電子部品1を基板6上に搭載
する。
When the mounting nozzle 2 descends and the tip of the contactor 41 comes into contact with the substrate 6 (time t1), the pressure sensor 43 detects the pressing force, and the descending speed is increased via the amplifier 44. The signal is fed back to the speed controller 11 for controlling and the driving circuit 14 for driving the motor 4 via the loop 45. At this point, the electronic component 1 is located above the substrate 6 by a distance ΔL. Upper computer system 1
The mounting speed is switched to a low speed by 0, and the mounting nozzle 2 further descends by a distance ΔL. At this time, the mounting nozzle 2
Even if is further lowered, only the contactor 41 is pushed upward by the spring 42, so that the contactor 41 does not push the substrate 6 further and only the mounting nozzle 2 can be lowered, and the suction is released when the lowering is stopped. The electronic component 1 is mounted on the board 6.

【0049】本実施例によれば、搭載ノズルに吸着した
電子部品が基板上から任意の高さに位置した時点を搭載
ノズルに設けた接触子により検知でき、該任意位置まで
は高速に、該任意位置から前記電子部品を搭載すべき基
板の所望箇所までは低速で移動するため、搭載ノズルの
下降時に発生する該搭載ノズル先端のリ−ドピッチ幅方
向の振動を減少することができ、搭載した電子部品によ
ってはんだペ−ストがつぶれてブリッジが発生すること
を防ぐことができるため、精度良く部品搭載を行うこと
ができる。
According to the present embodiment, the time when the electronic component sucked by the mounting nozzle is located at an arbitrary height from the substrate can be detected by the contactor provided on the mounting nozzle, and the electronic component can be quickly moved to the arbitrary position. Since it moves at a low speed from an arbitrary position to a desired position on the substrate on which the electronic component is to be mounted, vibration in the lead pitch width direction at the tip of the mounting nozzle, which occurs when the mounting nozzle descends, can be reduced, and the mounting is performed. Since it is possible to prevent the solder paste from being crushed by the electronic component to generate a bridge, the component can be mounted with high accuracy.

【0050】[0050]

【発明の効果】本発明によれば、搭載ノズルの下降時に
発生する該搭載ノズル先端のリ−ドピッチ幅方向の振動
を減少することができるため、該基板上に設けたはんだ
ペ−ストに電子部品を搭載する際にブリッジが発生する
ことを防ぐことができ、精度良く部品搭載を行う搭載機
を得ることができる。
According to the present invention, since the vibration of the tip of the mounting nozzle in the lead pitch width direction, which occurs when the mounting nozzle descends, can be reduced, the solder paste provided on the substrate can be electrically charged. It is possible to prevent a bridge from occurring when mounting components, and it is possible to obtain a mounting machine that mounts components with high accuracy.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明の一実施例を示す図である。FIG. 1 is a diagram showing an embodiment of the present invention.

【図2】図1に示す実施例における搭載ノズル先端付近
の拡大図である。
FIG. 2 is an enlarged view of the vicinity of the tip of the mounting nozzle in the embodiment shown in FIG.

【図3】図1に示す実施例における搭載ノズルの下降ス
トロ−クを示す図である。
FIG. 3 is a diagram showing a descending stroke of the mounting nozzle in the embodiment shown in FIG.

【図4】本発明の他の実施例を示す図である。FIG. 4 is a diagram showing another embodiment of the present invention.

【図5】図4に示す実施例のA−A断面図である。5 is a sectional view taken along the line AA of the embodiment shown in FIG.

【図6】図4に示す実施例において、搭載ノズルがθ軸
方向に45°回転した時のA−A断面図である。
6 is a cross-sectional view taken along the line AA when the mounting nozzle is rotated by 45 ° in the θ-axis direction in the embodiment shown in FIG.

【図7】図4に示す実施例における搭載ノズルの下降ス
トロ−クを示す図である。
7 is a diagram showing a descending stroke of the mounting nozzle in the embodiment shown in FIG.

【図8】搭載時間を一定とした場合における搭載ノズル
の下降ストロ−クを示す図である。
FIG. 8 is a diagram showing a descending stroke of the mounting nozzle when the mounting time is constant.

【図9】本発明の更に他の実施例を示す図である。FIG. 9 is a diagram showing still another embodiment of the present invention.

【図10】従来の搭載機を示す図である。FIG. 10 is a diagram showing a conventional mounting machine.

【図11】図10に示す搭載機における搭載ノズル先端
付近の拡大図である。
11 is an enlarged view of the vicinity of the tip of the mounting nozzle in the mounting machine shown in FIG.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1…電子部品、 2…搭載ノズル、 3…駆動機構、
4…モ−タ、 5…エンコ−ダ、 6…基板、 7…ガ
イド、 8…はんだペ−スト、 9…リ−ド、10…上
位コンピュ−タシステム、11…制御システム、12…
位置制御器、13…速度制御器、14…駆動回路、15
…変流器、20…超音波センサ、21…アンプ、22…
ル−プ、30…モ−タ、31,32…センサ、40…ス
トッパ、41…接触子、42…バネ、43…圧力セン
サ、44…アンプ、45…ル−プ
1 ... Electronic component, 2 ... Mounting nozzle, 3 ... Driving mechanism,
4 ... Motor, 5 ... Encoder, 6 ... Board, 7 ... Guide, 8 ... Solder paste, 9 ... Lead, 10 ... High-end computer system, 11 ... Control system, 12 ...
Position controller, 13 ... Speed controller, 14 ... Driving circuit, 15
... current transformer, 20 ... ultrasonic sensor, 21 ... amplifier, 22 ...
Loop, 30 ... Motor, 31, 32 ... Sensor, 40 ... Stopper, 41 ... Contact, 42 ... Spring, 43 ... Pressure sensor, 44 ... Amplifier, 45 ... Loop

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 斉藤 忠之 茨城県竜ヶ崎市向陽台5丁目2番 日立テ クノエンジニアリング株式会社開発研究所 内 (72)発明者 薮野 光平 茨城県竜ヶ崎市向陽台5丁目2番 日立テ クノエンジニアリング株式会社開発研究所 内 (72)発明者 三階 春夫 茨城県竜ヶ崎市向陽台5丁目2番 日立テ クノエンジニアリング株式会社開発研究所 内 ─────────────────────────────────────────────────── ─── Continuation of the front page (72) Inventor Tadayuki Saito 5-2 Koyodai, Ryugasaki, Ibaraki Hitachi Techno Engineering Co., Ltd. R & D Laboratory (72) Kohei Yabino 5-2 Koyodai, Ryugasaki, Ibaraki Hitachi (72) Inventor Haruo Mikai 5-2, Koyodai, Ryugasaki-shi, Ibaraki Hitachi Techno-Engineering Co., Ltd.

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】電子部品を保持した搭載ノズルを基板上面
に駆動し、保持を解除することによって基板上に電子部
品を搭載するものにおいて、電子部品を搭載すべき基板
の所定箇所と搭載ノズルに保持された電子部品との距離
を計測する手段と、該計測手段の計測結果に基づいて電
子部品を保持した搭載ノズルの基板への駆動を該基板か
ら任意の位置までは高速に、該任意位置から前記電子部
品を搭載すべき基板の所定箇所までは低速で移動させる
手段を設けたことを特徴とする搭載機。
Claim: What is claimed is: 1. A mounting nozzle holding an electronic component is driven on the upper surface of the substrate and the holding is released to mount the electronic component on the substrate. Means for measuring the distance to the held electronic component and driving of the mounting nozzle holding the electronic component to the substrate based on the measurement result of the measuring unit are performed at high speed from the substrate to an arbitrary position and at the arbitrary position. A mounting machine provided with means for moving the electronic parts from a predetermined position of the board on which the electronic parts are mounted at a low speed.
JP5216426A 1993-08-31 1993-08-31 Onboard machine Pending JPH0766596A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP5216426A JPH0766596A (en) 1993-08-31 1993-08-31 Onboard machine

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP5216426A JPH0766596A (en) 1993-08-31 1993-08-31 Onboard machine

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH0766596A true JPH0766596A (en) 1995-03-10

Family

ID=16688382

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP5216426A Pending JPH0766596A (en) 1993-08-31 1993-08-31 Onboard machine

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH0766596A (en)

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009302329A (en) * 2008-06-13 2009-12-24 Yamaha Motor Co Ltd Tape feeder monitoring device, tape feeder, surface mounting machine, and control method of tape feeder monitoring device
JP2012174822A (en) * 2011-02-21 2012-09-10 Juki Corp Compression control head of mounter device
WO2014076809A1 (en) * 2012-11-16 2014-05-22 富士機械製造株式会社 Work device and component mounting device
JP2019061989A (en) * 2017-09-25 2019-04-18 パナソニックIpマネジメント株式会社 Component mounting equipment and component mounting method
JP2019061990A (en) * 2017-09-25 2019-04-18 パナソニックIpマネジメント株式会社 Component mounting equipment and component mounting method
CN110408978A (en) * 2019-08-06 2019-11-05 哈尔滨理工大学 A metal micro-component interconnection method based on electrochemical deposition
CN114785941A (en) * 2022-03-29 2022-07-22 上海谦视智能科技有限公司 A real-time focusing device and method for wafer detection

Cited By (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009302329A (en) * 2008-06-13 2009-12-24 Yamaha Motor Co Ltd Tape feeder monitoring device, tape feeder, surface mounting machine, and control method of tape feeder monitoring device
JP2012174822A (en) * 2011-02-21 2012-09-10 Juki Corp Compression control head of mounter device
WO2014076809A1 (en) * 2012-11-16 2014-05-22 富士機械製造株式会社 Work device and component mounting device
JPWO2014076809A1 (en) * 2012-11-16 2016-09-08 富士機械製造株式会社 Work equipment and component mounting machines
JP2019061989A (en) * 2017-09-25 2019-04-18 パナソニックIpマネジメント株式会社 Component mounting equipment and component mounting method
JP2019061990A (en) * 2017-09-25 2019-04-18 パナソニックIpマネジメント株式会社 Component mounting equipment and component mounting method
CN110408978A (en) * 2019-08-06 2019-11-05 哈尔滨理工大学 A metal micro-component interconnection method based on electrochemical deposition
CN110408978B (en) * 2019-08-06 2021-03-30 哈尔滨理工大学 Metal micro-component interconnection method based on electrochemical deposition
CN114785941A (en) * 2022-03-29 2022-07-22 上海谦视智能科技有限公司 A real-time focusing device and method for wafer detection
CN114785941B (en) * 2022-03-29 2025-06-17 南京谦视智能科技有限公司 A wafer detection real-time focusing device and method

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5638978B2 (en) Pressure control head of mounter
JP5014151B2 (en) Chip mounting apparatus and chip mounting method
CN102647897A (en) Pressurization control head of mounting device
WO2018038113A1 (en) Wire bonding method and wire bonding device
JP3066383B1 (en) Cream solder printing apparatus and printing method thereof
EP3764763A1 (en) Component mounting system
JPH0766596A (en) Onboard machine
KR20030001338A (en) Paste coating apparatus
JP3011010B2 (en) Parts holding head
JPWO2017126043A1 (en) Printing apparatus and substrate position adjusting method
US6871772B2 (en) Wire bonding apparatus
JP4725173B2 (en) Coating method
JP3108524B2 (en) Cream solder printing machine
US20060178763A1 (en) Positioning apparatus and method of controlling positioning apparatus
JP2680773B2 (en) Pressurizing force control device in component mounting device
JPH05304395A (en) Automatic mounting device for electronic component
JPH05343833A (en) Cutting apparatus of wiring pattern
JP2002340544A (en) Prevention mechanism of fine stylus breakage
JPH06132698A (en) Electronic parts mounting device
JP2006156443A (en) Electronic component mounting method
JPH10224088A (en) Nozzle height measuring device and height measuring method of transfer head in electronic component mounting device
JPH08292814A (en) Positioning device
JP3024491B2 (en) Wire bonding equipment
JP2025174179A (en) Component mounting device and component mounting system.
JP7029609B2 (en) Component mounting device and component mounting method