JPH0768619B2 - 真空蒸着装置 - Google Patents
真空蒸着装置Info
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- JPH0768619B2 JPH0768619B2 JP22575491A JP22575491A JPH0768619B2 JP H0768619 B2 JPH0768619 B2 JP H0768619B2 JP 22575491 A JP22575491 A JP 22575491A JP 22575491 A JP22575491 A JP 22575491A JP H0768619 B2 JPH0768619 B2 JP H0768619B2
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Landscapes
- Physical Vapour Deposition (AREA)
- Chemical Vapour Deposition (AREA)
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、プラズマガンからのプ
ラズマ流を磁場によって蒸発原料るつぼ上に導いて蒸発
原料を蒸発させ、該蒸発原料の上方に置かれた基体表面
に薄膜を形成する真空蒸着装置に関するものである。
ラズマ流を磁場によって蒸発原料るつぼ上に導いて蒸発
原料を蒸発させ、該蒸発原料の上方に置かれた基体表面
に薄膜を形成する真空蒸着装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】従来、イオンプレーティング処理あるい
はプラズマCVD処理を行う真空蒸着装置として、図7
に示すように、真空室1の側部に、たとえば圧力勾配型
プラズマガン2を取り付け、該プラズマガン2から発生
したプラズマ流3を空芯コイル9の発生する磁場によっ
て、10-2〜10-4Torrの圧力状態とされた真空室
1に引き出し、このプラズマ流3を蒸発原料るつぼ5の
下方に設置された固定永久磁石6の作る磁場によって蒸
発原料るつぼ5に集束させて蒸発原料4を蒸発させ、該
蒸発原料4の上方に置かれた基体Wの表面に薄膜を形成
するものがある。なお、反応ガス導入口12より窒素ガ
ス、酸素ガス等の反応ガスを導入してもよい。また、図
9に示すように、プラズマガン2からのプラズマ流3を
一対の永久磁石15によってシート状に変形し、該シー
ト状プラズマ流3を、その幅方向に設けた細長いるつぼ
5の下方に設置された細長い固定永久磁石6によって蒸
発原料4上に導いて蒸発原料4を蒸発させ、該蒸発原料
4の上方に置かれた基体Wの表面に薄膜を形成するもの
がある。
はプラズマCVD処理を行う真空蒸着装置として、図7
に示すように、真空室1の側部に、たとえば圧力勾配型
プラズマガン2を取り付け、該プラズマガン2から発生
したプラズマ流3を空芯コイル9の発生する磁場によっ
て、10-2〜10-4Torrの圧力状態とされた真空室
1に引き出し、このプラズマ流3を蒸発原料るつぼ5の
下方に設置された固定永久磁石6の作る磁場によって蒸
発原料るつぼ5に集束させて蒸発原料4を蒸発させ、該
蒸発原料4の上方に置かれた基体Wの表面に薄膜を形成
するものがある。なお、反応ガス導入口12より窒素ガ
ス、酸素ガス等の反応ガスを導入してもよい。また、図
9に示すように、プラズマガン2からのプラズマ流3を
一対の永久磁石15によってシート状に変形し、該シー
ト状プラズマ流3を、その幅方向に設けた細長いるつぼ
5の下方に設置された細長い固定永久磁石6によって蒸
発原料4上に導いて蒸発原料4を蒸発させ、該蒸発原料
4の上方に置かれた基体Wの表面に薄膜を形成するもの
がある。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、前記構
成では、蒸発原料るつぼ5に集束するプラズマ流3の形
状や集束範囲は、空芯コイル9の発生する磁場、蒸発原
料るつぼ5の下方に設置された固定永久磁石6の作る磁
場、および一対の永久磁石15の作る磁場によって決定
されるが、これらの磁場は常に一定状態になっているの
で、プラズマ流3の形状や集束範囲も常に一定である。
したがって、蒸発原料4の溶融状態もプラズマガン2の
出力が一定である限り常に一定であるため、基体Wの表
面に形成される薄膜の膜厚の均一性を向上させるために
は、基体Wを回転させる以外に手段が無く、特に基体W
が連続的に移動するストリップである場合、これを回転
させることは不可能であり、ストリップの幅方向におけ
る膜厚の均一性を確保することができないという課題を
有する。また、蒸着面積を容易に変更することができな
いという課題も有する。したがって、本発明は前記従来
技術の課題を、簡単な手段で解決することのできる真空
蒸着装置を提供することを目的とする。
成では、蒸発原料るつぼ5に集束するプラズマ流3の形
状や集束範囲は、空芯コイル9の発生する磁場、蒸発原
料るつぼ5の下方に設置された固定永久磁石6の作る磁
場、および一対の永久磁石15の作る磁場によって決定
されるが、これらの磁場は常に一定状態になっているの
で、プラズマ流3の形状や集束範囲も常に一定である。
したがって、蒸発原料4の溶融状態もプラズマガン2の
出力が一定である限り常に一定であるため、基体Wの表
面に形成される薄膜の膜厚の均一性を向上させるために
は、基体Wを回転させる以外に手段が無く、特に基体W
が連続的に移動するストリップである場合、これを回転
させることは不可能であり、ストリップの幅方向におけ
る膜厚の均一性を確保することができないという課題を
有する。また、蒸着面積を容易に変更することができな
いという課題も有する。したがって、本発明は前記従来
技術の課題を、簡単な手段で解決することのできる真空
蒸着装置を提供することを目的とする。
【0004】
【課題を解決するための手段】本発明は、前記目的を達
成するために、プラズマガンからのプラズマ流を空芯コ
イルの発生する磁場によって真空室内に引き出した後、
該プラズマ流を蒸発原料るつぼ上に導いて蒸発原料を蒸
発させ、該蒸発原料の上方におかれた基体表面に薄膜を
形成する真空蒸着装置において、前記空芯コイルの両側
に補助空芯コイルを配設し、該補助空芯コイルあるいは
補助空芯コイルと前記空芯コイルに対して任意値の電流
を供給可能な電源装置と、該電源装置に対して前記補助
空芯コイルあるいは補助空芯コイルと空芯コイルに供給
する電流値を指令する電流値指令装置とを設けたもので
ある。
成するために、プラズマガンからのプラズマ流を空芯コ
イルの発生する磁場によって真空室内に引き出した後、
該プラズマ流を蒸発原料るつぼ上に導いて蒸発原料を蒸
発させ、該蒸発原料の上方におかれた基体表面に薄膜を
形成する真空蒸着装置において、前記空芯コイルの両側
に補助空芯コイルを配設し、該補助空芯コイルあるいは
補助空芯コイルと前記空芯コイルに対して任意値の電流
を供給可能な電源装置と、該電源装置に対して前記補助
空芯コイルあるいは補助空芯コイルと空芯コイルに供給
する電流値を指令する電流値指令装置とを設けたもので
ある。
【0005】
【作用】前記のように、本発明においては、プラズマガ
ンからのプラズマ流を真空室内に引き出すための空芯コ
イルの両側に補助空芯コイルを配設し、該補助空芯コイ
ルに対して任意値の電流を供給可能な電源装置と、該電
源装置に対して前記補助空芯コイルに供給する電流値を
指令する電流値指令装置とを備えたため、この電流値指
令装置の指令に一致する電流が電源装置より補助空芯コ
イルに供給されると、この供給された電流に基づく磁場
が補助空芯コイルにより形成され、この磁場の成分によ
って真空室内に引き出されたプラズマ流を、その引き出
し方向を含む鉛直面に直交する線上(Z方向)で移動さ
せることができる。
ンからのプラズマ流を真空室内に引き出すための空芯コ
イルの両側に補助空芯コイルを配設し、該補助空芯コイ
ルに対して任意値の電流を供給可能な電源装置と、該電
源装置に対して前記補助空芯コイルに供給する電流値を
指令する電流値指令装置とを備えたため、この電流値指
令装置の指令に一致する電流が電源装置より補助空芯コ
イルに供給されると、この供給された電流に基づく磁場
が補助空芯コイルにより形成され、この磁場の成分によ
って真空室内に引き出されたプラズマ流を、その引き出
し方向を含む鉛直面に直交する線上(Z方向)で移動さ
せることができる。
【0006】この場合、プラズマ流のZ方向への移動量
は補助空芯コイルが作る磁場の強さに依存し、またこの
磁場の強さは供給された電流値に依存するため、補助空
芯コイルに供給する電流値でその移動量を制御できる。
また、プラズマ流を、その引き出し方向(X方向)に移
動させるには、空芯コイルが発生する磁場を変更すれば
よいことが知られており、したがって、空芯コイルに供
給する電流値指令装置の指令に一致する電流を変化させ
ることにより、プラズマ流をX方向に移動させることが
できる。この場合、プラズマ流のX方向への移動量は空
芯コイルが作る磁場の強さに依存し、またこの磁場の強
さは供給された電流値に依存するため、空芯コイルに供
給する電流値でその移動量を制御できる。
は補助空芯コイルが作る磁場の強さに依存し、またこの
磁場の強さは供給された電流値に依存するため、補助空
芯コイルに供給する電流値でその移動量を制御できる。
また、プラズマ流を、その引き出し方向(X方向)に移
動させるには、空芯コイルが発生する磁場を変更すれば
よいことが知られており、したがって、空芯コイルに供
給する電流値指令装置の指令に一致する電流を変化させ
ることにより、プラズマ流をX方向に移動させることが
できる。この場合、プラズマ流のX方向への移動量は空
芯コイルが作る磁場の強さに依存し、またこの磁場の強
さは供給された電流値に依存するため、空芯コイルに供
給する電流値でその移動量を制御できる。
【0007】すなわち、補助空芯コイルあるいは補助空
芯コイルと空芯コイルに供給する電流値を制御すれば、
プラズマ流をるつぼ上で2次元的に走査することができ
る。そして、走査する範囲、走査速度、任意位置でのプ
ラズマ流の滞留時間等は補助空芯コイルおよび空芯コイ
ルに供給される電流値の時間的変化により決定されるた
め、あらかじめ電流値指令装置に入力された所望の走査
パターンにてそれらを制御することができる。したがっ
て、最適な走査パターンを選択することにより、基体の
表面に形成される薄膜の膜厚の均一性を向上させること
が可能となり、また同時に蒸着面積も変更することがで
きる。
芯コイルと空芯コイルに供給する電流値を制御すれば、
プラズマ流をるつぼ上で2次元的に走査することができ
る。そして、走査する範囲、走査速度、任意位置でのプ
ラズマ流の滞留時間等は補助空芯コイルおよび空芯コイ
ルに供給される電流値の時間的変化により決定されるた
め、あらかじめ電流値指令装置に入力された所望の走査
パターンにてそれらを制御することができる。したがっ
て、最適な走査パターンを選択することにより、基体の
表面に形成される薄膜の膜厚の均一性を向上させること
が可能となり、また同時に蒸着面積も変更することがで
きる。
【0008】
【実施例】以下に、本発明の実施例を図面に基づき説明
する。図1は第1発明を示し、前記従来の真空蒸着装置
におけるプラズマガン2からのプラズマ流3を真空室1
内に引き出すための空芯コイル9の中心軸を含む鉛直面
の両横に補助空芯コイル14a,14bを配設し、該補
助空芯コイル14a,14bに対して任意量の電流を供
給可能な電源装置16a,16bと、空芯コイル9に対
して所定量の電流を供給する電源装置7と、前記電源装
置16a,16bに対して前記補助空芯コイル14a,
14bに供給する電流値を指令する電流値指令装置8と
を備えたものである。その他は従来と同様であるため同
一部分に同一符号を付して説明を省略する。
する。図1は第1発明を示し、前記従来の真空蒸着装置
におけるプラズマガン2からのプラズマ流3を真空室1
内に引き出すための空芯コイル9の中心軸を含む鉛直面
の両横に補助空芯コイル14a,14bを配設し、該補
助空芯コイル14a,14bに対して任意量の電流を供
給可能な電源装置16a,16bと、空芯コイル9に対
して所定量の電流を供給する電源装置7と、前記電源装
置16a,16bに対して前記補助空芯コイル14a,
14bに供給する電流値を指令する電流値指令装置8と
を備えたものである。その他は従来と同様であるため同
一部分に同一符号を付して説明を省略する。
【0009】図1は、本発明にかかる真空蒸着装置の第
1実施例を示す。プラズマガン2からのプラズマ流3を
真空室1内に引き出すための空芯コイル9の中心軸を含
む鉛直面の両横に補助空芯コイル14a,14bがそれ
ぞれ配設されており、該補助空芯コイル14a,14b
には、電源装置16a,16bからそれぞれ電流10
a,10bが供給される。また、該電源装置16a,1
6bには、電流値指令装置8から設定電流信号11a,
11bがそれぞれ入力される。
1実施例を示す。プラズマガン2からのプラズマ流3を
真空室1内に引き出すための空芯コイル9の中心軸を含
む鉛直面の両横に補助空芯コイル14a,14bがそれ
ぞれ配設されており、該補助空芯コイル14a,14b
には、電源装置16a,16bからそれぞれ電流10
a,10bが供給される。また、該電源装置16a,1
6bには、電流値指令装置8から設定電流信号11a,
11bがそれぞれ入力される。
【0010】前記構成からなるため、いま、いずれの補
助空芯コイル14a,14bにも電流が供給されていな
い場合、補助空芯コイル14a,14bによる磁場は発
生しないため、プラズマ流3は図1における記号3の状
態にある。
助空芯コイル14a,14bにも電流が供給されていな
い場合、補助空芯コイル14a,14bによる磁場は発
生しないため、プラズマ流3は図1における記号3の状
態にある。
【0011】そして、前記補助空芯コイル14aに電流
を供給すると、これによる磁場が発生し、その磁場のプ
ラズマ流引き出し方向に直交する線方向(Z方向)成分
BZaがプラズマ流3を記号3aの方向に移動させる。こ
の時のプラズマ流3のZ方向への移動量は、補助空芯コ
イル14aによる磁場のZ方向成分BZaの強さに依存
し、また、このZ方向成分BZaの強さは供給された電流
値に依存するため、プラズマ流3のZ方向への移動量は
補助空芯コイル14aに供給する電流値で制御できる。
を供給すると、これによる磁場が発生し、その磁場のプ
ラズマ流引き出し方向に直交する線方向(Z方向)成分
BZaがプラズマ流3を記号3aの方向に移動させる。こ
の時のプラズマ流3のZ方向への移動量は、補助空芯コ
イル14aによる磁場のZ方向成分BZaの強さに依存
し、また、このZ方向成分BZaの強さは供給された電流
値に依存するため、プラズマ流3のZ方向への移動量は
補助空芯コイル14aに供給する電流値で制御できる。
【0012】また逆に、補助空芯コイル14bに電流を
供給すると、これによる磁場が発生し、その磁場の−Z
方向成分BZbがプラズマ流3を記号3bの方向に移動さ
せる。なお、前記同様、プラズマ流3の−Z方向への移
動量は補助空芯コイル14bに供給する電流値で制御で
きる。
供給すると、これによる磁場が発生し、その磁場の−Z
方向成分BZbがプラズマ流3を記号3bの方向に移動さ
せる。なお、前記同様、プラズマ流3の−Z方向への移
動量は補助空芯コイル14bに供給する電流値で制御で
きる。
【0013】したがって、補助空芯コイル14a,14
bに供給する電流値を制御すれば、プラズマ流3を蒸発
原料るつぼ5上で±Z方向へ走査することができ、ま
た、走査する範囲、走査速度、任意位置でのプラズマ流
3の滞留時間等も電流値の時間的変化により制御可能で
ある。
bに供給する電流値を制御すれば、プラズマ流3を蒸発
原料るつぼ5上で±Z方向へ走査することができ、ま
た、走査する範囲、走査速度、任意位置でのプラズマ流
3の滞留時間等も電流値の時間的変化により制御可能で
ある。
【0014】以下に、本発明に基づくプラズマ流3の走
査例を示す。電流値指令装置8に走査パターン選択信号
13を入力すると、電流値指令装置8は、あらかじめ記
憶されている走査パターンの中から対応するプラズマの
走査パターン、すなわち補助空芯コイル14a,14b
に供給する電流値の時間的変化パターンを選択し、その
パターンに基づいて設定電流信号11a,11bを電源
装置16a,16bにそれぞれ出力する。そして、該電
源装置16a,16bは、この設定電流信号11a,1
1bに基づいて、これに対応する電流10a,10bを
補助空芯コイル14a,14bに供給する。
査例を示す。電流値指令装置8に走査パターン選択信号
13を入力すると、電流値指令装置8は、あらかじめ記
憶されている走査パターンの中から対応するプラズマの
走査パターン、すなわち補助空芯コイル14a,14b
に供給する電流値の時間的変化パターンを選択し、その
パターンに基づいて設定電流信号11a,11bを電源
装置16a,16bにそれぞれ出力する。そして、該電
源装置16a,16bは、この設定電流信号11a,1
1bに基づいて、これに対応する電流10a,10bを
補助空芯コイル14a,14bに供給する。
【0015】図2は、空芯コイル9、補助空芯コイル1
4a,14bに供給する電流値の時間的変化パターンの
実施例を示す。空芯コイル9には、時間とは無関係に定
電流ICが電源装置7より供給されている。そして、補
助空芯コイル14aには期間t0〜t1,およびt2〜t3
の間に、また、補助空芯コイル14bには期間t1〜
t2,およびt3〜t4の間に、それぞれ正弦波の位相0
°〜180°の部分の形状をした電流が供給され、その
他の期間には電流は供給されない。そして、この期間t
0〜t2を1サイクルとして、この動作を以後周期的に繰
り返す。
4a,14bに供給する電流値の時間的変化パターンの
実施例を示す。空芯コイル9には、時間とは無関係に定
電流ICが電源装置7より供給されている。そして、補
助空芯コイル14aには期間t0〜t1,およびt2〜t3
の間に、また、補助空芯コイル14bには期間t1〜
t2,およびt3〜t4の間に、それぞれ正弦波の位相0
°〜180°の部分の形状をした電流が供給され、その
他の期間には電流は供給されない。そして、この期間t
0〜t2を1サイクルとして、この動作を以後周期的に繰
り返す。
【0016】まず、時刻t0においては、いずれの補助
空芯コイル14a,14bにも電流は供給されていない
ため、補助空芯コイルによる磁場は発生せず、プラズマ
流3は図1における記号3の状態にある。そして、時刻
t0から補助空芯コイル14aに電流が徐々に供給され
るにつれて、磁場のZ方向成分BZaが発生し、これが時
間の経過とともに強くなっていく。これに伴いプラズマ
流3は、図1における記号3aの方向(Z方向)に移動
して行き、補助空芯コイル14aに供給される電流が最
大値Iaに達した時、最大の偏向を受ける。そして、こ
こから電流が減少するに伴って徐々に元の位置方向に戻
って行き、時刻t1において完全に元の位置に復帰す
る。なお、この期間t0〜t1においては、補助空芯コイ
ル14bには電流は供給されないため、これによる磁場
は発生しない。
空芯コイル14a,14bにも電流は供給されていない
ため、補助空芯コイルによる磁場は発生せず、プラズマ
流3は図1における記号3の状態にある。そして、時刻
t0から補助空芯コイル14aに電流が徐々に供給され
るにつれて、磁場のZ方向成分BZaが発生し、これが時
間の経過とともに強くなっていく。これに伴いプラズマ
流3は、図1における記号3aの方向(Z方向)に移動
して行き、補助空芯コイル14aに供給される電流が最
大値Iaに達した時、最大の偏向を受ける。そして、こ
こから電流が減少するに伴って徐々に元の位置方向に戻
って行き、時刻t1において完全に元の位置に復帰す
る。なお、この期間t0〜t1においては、補助空芯コイ
ル14bには電流は供給されないため、これによる磁場
は発生しない。
【0017】つぎに、時刻t1からは、補助空芯コイル
14bに電流が徐々に供給されはじめてこれによる磁場
の−Z方向成分BZbが発生し、これが時間の経過ととも
に強くなっていく。これに伴いプラズマ流3は図1にお
ける記号3bの方向に移動していき、補助空芯コイル1
4bに供給される電流が最大値Ibに達した時、最大の
偏向を受ける。そして、ここから電流が減少するに伴っ
て徐々に元の位置方向に戻って行き、時刻t2において
完全に元の位置に復帰する。なお、この期間t1〜t2に
おいては補助空芯コイル14aには電流は供給されない
ため、これによる磁場は発生しない。以後、以上説明し
た動作を周期的に繰り返すことにより、プラズマ流3は
蒸発原料るつぼ5上で±Z方向に走査される。
14bに電流が徐々に供給されはじめてこれによる磁場
の−Z方向成分BZbが発生し、これが時間の経過ととも
に強くなっていく。これに伴いプラズマ流3は図1にお
ける記号3bの方向に移動していき、補助空芯コイル1
4bに供給される電流が最大値Ibに達した時、最大の
偏向を受ける。そして、ここから電流が減少するに伴っ
て徐々に元の位置方向に戻って行き、時刻t2において
完全に元の位置に復帰する。なお、この期間t1〜t2に
おいては補助空芯コイル14aには電流は供給されない
ため、これによる磁場は発生しない。以後、以上説明し
た動作を周期的に繰り返すことにより、プラズマ流3は
蒸発原料るつぼ5上で±Z方向に走査される。
【0018】なお、本実施例では、補助空芯コイル14
a,14bに供給する電流値の時間的変化パターンとし
て、半周期が正弦波の位相0°〜180°の部分、残り
半周期が電流値0の形状をした例を示したが、これに限
るものではなく、目的に応じて最適なパターンとすれば
よい。また、補助空芯コイル14a,14bは真空室1
の外部に配設される必要はなく、真空室1の内部に配設
されてもよい。
a,14bに供給する電流値の時間的変化パターンとし
て、半周期が正弦波の位相0°〜180°の部分、残り
半周期が電流値0の形状をした例を示したが、これに限
るものではなく、目的に応じて最適なパターンとすれば
よい。また、補助空芯コイル14a,14bは真空室1
の外部に配設される必要はなく、真空室1の内部に配設
されてもよい。
【0019】以上のように、プラズマをZ方向に走査し
て、その範囲、速度、任意位置でのプラズマ流の滞留時
間等を制御することにより、基体Wの表面に形成される
薄膜の膜厚の均一性を向上させることが可能となり、ま
た同時に蒸着面積も変更することができる。
て、その範囲、速度、任意位置でのプラズマ流の滞留時
間等を制御することにより、基体Wの表面に形成される
薄膜の膜厚の均一性を向上させることが可能となり、ま
た同時に蒸着面積も変更することができる。
【0020】図3は、第1発明の他の実施例を示し、図
9、図10に示す従来のシートプラズマ式真空蒸着装置
に適用したものである。
9、図10に示す従来のシートプラズマ式真空蒸着装置
に適用したものである。
【0021】図4は、第2発明を示し、前記第1発明の
第1実施例に加えて、電流値指令装置8から空芯コイル
用電源装置7に対しても設定電流信号11cを出力する
構成としたものである。電流値指令装置8に走査パター
ン選択信号13が入力されると、電流値指令装置8は、
あらかじめ記憶されている走査パターンの中から対応す
るプラズマの走査パターン、すなわち補助空芯コイル1
4a,14b、空芯コイル9に供給する電流値の時間的
変化パターンを選択し、そのパターンに基づいて設定電
流信号11a,11b、11cを電源装置16a,16
b、7にそれぞれ出力する。そして、該電源装置16
a,16b、7は、この設定電流信号11a,11b、
11cに基づいて、これに対応する電流10a,10
b、10cを補助空芯コイル14a,14b、空芯コイ
ル9にそれぞれ供給する。
第1実施例に加えて、電流値指令装置8から空芯コイル
用電源装置7に対しても設定電流信号11cを出力する
構成としたものである。電流値指令装置8に走査パター
ン選択信号13が入力されると、電流値指令装置8は、
あらかじめ記憶されている走査パターンの中から対応す
るプラズマの走査パターン、すなわち補助空芯コイル1
4a,14b、空芯コイル9に供給する電流値の時間的
変化パターンを選択し、そのパターンに基づいて設定電
流信号11a,11b、11cを電源装置16a,16
b、7にそれぞれ出力する。そして、該電源装置16
a,16b、7は、この設定電流信号11a,11b、
11cに基づいて、これに対応する電流10a,10
b、10cを補助空芯コイル14a,14b、空芯コイ
ル9にそれぞれ供給する。
【0022】空芯コイル9に供給される電流値8が変化
すると、これが作る磁場の強さが変化し、これに伴いプ
ラズマ流がその引き出し方向(X方向)に移動すること
が知られている。したがって、空芯コイル9に供給する
電流値指令装置8の指令に一致する電流を変化させるこ
とにより、プラズマ流をX方向に移動させることができ
る。この時、プラズマ流のX方向への移動量は空芯コイ
ル9が作る磁場の強さに依存し、またこの磁場の強さは
供給された電流値に依存するため、プラズマ流のX方向
への移動量は空芯コイル9に供給する電流値で制御でき
る。
すると、これが作る磁場の強さが変化し、これに伴いプ
ラズマ流がその引き出し方向(X方向)に移動すること
が知られている。したがって、空芯コイル9に供給する
電流値指令装置8の指令に一致する電流を変化させるこ
とにより、プラズマ流をX方向に移動させることができ
る。この時、プラズマ流のX方向への移動量は空芯コイ
ル9が作る磁場の強さに依存し、またこの磁場の強さは
供給された電流値に依存するため、プラズマ流のX方向
への移動量は空芯コイル9に供給する電流値で制御でき
る。
【0023】図5は、空芯コイル9、補助空芯コイル1
4a,14bに供給する電流値の時間的変化パターンの
実施例を示す。本実施例では、先に図2に示した実施例
と比較して、空芯コイル9へ供給される電流値10cの
時間的変化のみが異なる。すなわち、期間ta〜tbにお
いては、空芯コイル9へ供給される電流値10cが前記
電流値の時間的変化パターンの図2と同じであるため、
プラズマ流3も全く同様の動きをする。しかし、期間t
b〜tcにおいては、空芯コイル9へ供給される電流値1
0cが減少しているため、プラズマ流3のZ軸方向の動
きは同様であるが、X軸方向の位置が異なり、図4にお
ける記号3dのように、X軸方向の位置が空芯コイル9
側に寄る。以上のように、空芯コイル9へ供給する電流
値10cを、補助空芯コイル14a,14bに供給する
電流値と同時に変化させることにより、プラズマ流3を
2次元的に走査することが可能となる。
4a,14bに供給する電流値の時間的変化パターンの
実施例を示す。本実施例では、先に図2に示した実施例
と比較して、空芯コイル9へ供給される電流値10cの
時間的変化のみが異なる。すなわち、期間ta〜tbにお
いては、空芯コイル9へ供給される電流値10cが前記
電流値の時間的変化パターンの図2と同じであるため、
プラズマ流3も全く同様の動きをする。しかし、期間t
b〜tcにおいては、空芯コイル9へ供給される電流値1
0cが減少しているため、プラズマ流3のZ軸方向の動
きは同様であるが、X軸方向の位置が異なり、図4にお
ける記号3dのように、X軸方向の位置が空芯コイル9
側に寄る。以上のように、空芯コイル9へ供給する電流
値10cを、補助空芯コイル14a,14bに供給する
電流値と同時に変化させることにより、プラズマ流3を
2次元的に走査することが可能となる。
【0024】図6は、第2発明の他の実施例を示し、補
助空芯コイル14a,14bの各中心軸を含む鉛直面同
志が一致し、かつ、その鉛直面が空芯コイル9の中心軸
を含む鉛直面と直交するように補助空芯コイル14a,
14bが配設されていることを除いて、図4の実施例と
同様である。本実施例の場合も同様に、補助空芯コイル
14a,14bの発生する磁場のZ方向成分BZa、BZb
がプラズマ流3をZ軸方向に移動させ、また空芯コイル
9の発生する磁場がプラズマ流3をX軸方向に移動させ
る。
助空芯コイル14a,14bの各中心軸を含む鉛直面同
志が一致し、かつ、その鉛直面が空芯コイル9の中心軸
を含む鉛直面と直交するように補助空芯コイル14a,
14bが配設されていることを除いて、図4の実施例と
同様である。本実施例の場合も同様に、補助空芯コイル
14a,14bの発生する磁場のZ方向成分BZa、BZb
がプラズマ流3をZ軸方向に移動させ、また空芯コイル
9の発生する磁場がプラズマ流3をX軸方向に移動させ
る。
【0025】
【発明の効果】以上の説明で明らかなように、本発明に
よれば、プラズマガンからのプラズマ流を真空室内に引
き出すための空芯コイルの両側に補助空芯コイルを配設
し、該補助空芯コイルあるいは空芯コイルと補助空芯コ
イルに対して任意値の電流を供給可能な電源装置と、該
電源装置に対して前記補助空芯コイルあるいは空芯コイ
ルと補助空芯コイルに供給する電流値を指令する電流値
指令装置とを備えたため、従来静止していたプラズマ流
を2次元的に走査することが可能となり、また、その走
査範囲、走査速度、任意位置でのプラズマ流の滞留時間
等を制御することにより、基体の表面に形成される薄膜
の膜厚の均一性を向上させることが可能となるととも
に、同時に蒸着面積も容易に変更することができる。
よれば、プラズマガンからのプラズマ流を真空室内に引
き出すための空芯コイルの両側に補助空芯コイルを配設
し、該補助空芯コイルあるいは空芯コイルと補助空芯コ
イルに対して任意値の電流を供給可能な電源装置と、該
電源装置に対して前記補助空芯コイルあるいは空芯コイ
ルと補助空芯コイルに供給する電流値を指令する電流値
指令装置とを備えたため、従来静止していたプラズマ流
を2次元的に走査することが可能となり、また、その走
査範囲、走査速度、任意位置でのプラズマ流の滞留時間
等を制御することにより、基体の表面に形成される薄膜
の膜厚の均一性を向上させることが可能となるととも
に、同時に蒸着面積も容易に変更することができる。
【図1】 第1発明の第1実施例を示す真空蒸着装置の
概略図。
概略図。
【図2】 図1における空芯コイル、補助空芯コイルに
供給する電流値の時間的変化パターンの一実施例を示す
グラフ。
供給する電流値の時間的変化パターンの一実施例を示す
グラフ。
【図3】 第1発明の第2実施例を示す真空蒸着装置の
概略図。
概略図。
【図4】 第2発明の第1実施例を示す真空蒸着装置の
概略図。
概略図。
【図5】 図4における空芯コイル、補助空芯コイルに
供給する電流値の時間的変化パターンの一実施例を示す
グラフ。
供給する電流値の時間的変化パターンの一実施例を示す
グラフ。
【図6】 第2発明の第2実施例を示す真空蒸着装置の
概略図。
概略図。
【図7】 従来の真空蒸着装置の概略図。
【図8】 図7のA−A線の断面図。
【図9】 従来の他の真空蒸着装置の概略図。
【図10】 図9のB−B線の断面図。
1…プラズマガン、2…真空室、3、3a〜3d…プラ
ズマ流、4…蒸発原料、5…るつぼ、6…永久磁石、7
…空芯コイル用電源装置、8…電流値指令装置、9…空
芯コイル、10a〜10c…補助空芯コイル電流、11
a〜11c…設定電流信号、13…走査パターン選択信
号、14a〜14b…補助空芯コイル、15…永久磁
石、16a〜16b…補助空芯コイル用電源装置、W…
基体。
ズマ流、4…蒸発原料、5…るつぼ、6…永久磁石、7
…空芯コイル用電源装置、8…電流値指令装置、9…空
芯コイル、10a〜10c…補助空芯コイル電流、11
a〜11c…設定電流信号、13…走査パターン選択信
号、14a〜14b…補助空芯コイル、15…永久磁
石、16a〜16b…補助空芯コイル用電源装置、W…
基体。
Claims (2)
- 【請求項1】 プラズマガンからのプラズマ流を空芯コ
イルの発生する磁場によって真空室内に引き出した後、
該プラズマ流を蒸発原料るつぼ上に導いて蒸発原料を蒸
発させ、該蒸発原料の上方に置かれた基体表面に薄膜を
形成する真空蒸着装置において、前記空芯コイルの両側
に補助空芯コイルを配設し、該補助空芯コイルに対して
任意値の電流を供給可能な電源装置と、該電源装置に対
して前記補助空芯コイルに供給する電流値を指令する電
流値指令装置とを備えたことを特徴とする真空蒸着装
置。 - 【請求項2】 プラズマガンからのプラズマ流を空芯コ
イルの発生する磁場によって真空室内に引き出した後、
該プラズマ流を蒸発原料るつぼ上に導いて蒸発原料を蒸
発させ、該蒸発原料の上方に置かれた基体表面に薄膜を
形成する真空蒸着装置において、前記空芯コイルの両側
に補助空芯コイルを配設し、前記空芯コイルと補助空芯
コイルに対して任意値の電流を供給可能な電源装置と、
該電源装置に対して前記空芯コイルと補助空芯コイルに
供給する電流値を指令する電流値指令装置とを備えたこ
とを特徴とする真空蒸着装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP22575491A JPH0768619B2 (ja) | 1991-09-05 | 1991-09-05 | 真空蒸着装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP22575491A JPH0768619B2 (ja) | 1991-09-05 | 1991-09-05 | 真空蒸着装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0565641A JPH0565641A (ja) | 1993-03-19 |
| JPH0768619B2 true JPH0768619B2 (ja) | 1995-07-26 |
Family
ID=16834304
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP22575491A Expired - Lifetime JPH0768619B2 (ja) | 1991-09-05 | 1991-09-05 | 真空蒸着装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0768619B2 (ja) |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP4139186B2 (ja) * | 2002-10-21 | 2008-08-27 | 東北パイオニア株式会社 | 真空蒸着装置 |
| JP5261179B2 (ja) * | 2007-03-28 | 2013-08-14 | 新明和工業株式会社 | シートプラズマ装置及びシート状プラズマ調整方法 |
| KR102375601B1 (ko) | 2017-11-13 | 2022-03-16 | 캐논 아네르바 가부시키가이샤 | 플라스마 처리 장치 및 플라스마 처리 방법 |
-
1991
- 1991-09-05 JP JP22575491A patent/JPH0768619B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0565641A (ja) | 1993-03-19 |
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