JPH0769261B2 - クロマトスキヤナ - Google Patents
クロマトスキヤナInfo
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- JPH0769261B2 JPH0769261B2 JP62051699A JP5169987A JPH0769261B2 JP H0769261 B2 JPH0769261 B2 JP H0769261B2 JP 62051699 A JP62051699 A JP 62051699A JP 5169987 A JP5169987 A JP 5169987A JP H0769261 B2 JPH0769261 B2 JP H0769261B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- sample
- sample spot
- threshold value
- scanning
- memory
- Prior art date
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- Expired - Fee Related
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/59—Transmissivity
- G01N21/5907—Densitometers
- G01N21/5911—Densitometers of the scanning type
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 （産業上の利用分野） 本発明は電気泳動ゲルや薄層クロマトグラフィ（TLC）
薄層プレートなどのサンプルプレート上で分離されたサ
ンプルスポット（試料分画）を光学的に定量するために
使用されるクロマトスキャナに関し、特にジグザグ走査
法を用いたクロマトスキャナに関するものである。
薄層プレートなどのサンプルプレート上で分離されたサ
ンプルスポット（試料分画）を光学的に定量するために
使用されるクロマトスキャナに関し、特にジグザグ走査
法を用いたクロマトスキャナに関するものである。
（従来の技術） サンプルプレートに泳動や展開を行なうと、サンプルス
ポットが一直線にならず、傾いてくることがある。例え
ば第２図はそのように傾きをもって展開されたサンプル
スポット２の配列の一例を示すものである。このサンプ
ルスポット２の配列（レーン３）の傾きはサンプルプレ
ート上の位置や展開条件によって異なる。
ポットが一直線にならず、傾いてくることがある。例え
ば第２図はそのように傾きをもって展開されたサンプル
スポット２の配列の一例を示すものである。このサンプ
ルスポット２の配列（レーン３）の傾きはサンプルプレ
ート上の位置や展開条件によって異なる。
第２図で測定光束をＸ方向に−ｌから＋ｌの範囲で走査
し、そのＸ方向と直交するＹ方向にサンプルプレートを
移動させることにより、測定光束でサンプルスポット２
上をジグザグ走査することができる。なおΔＹはジグザ
グ走査の際のＹ方向の１回の走査距離である。
し、そのＸ方向と直交するＹ方向にサンプルプレートを
移動させることにより、測定光束でサンプルスポット２
上をジグザグ走査することができる。なおΔＹはジグザ
グ走査の際のＹ方向の１回の走査距離である。
（発明が解決しようとする問題点） 従来のクロマトスキャナでは、ジグザグ走査はＹ方向の
直線方向又は予め定めた傾きの直線方向に対してしかで
きなかった。例えば第２図のように傾きをもって展開さ
れたサンプルスポット２に対して、従来のようにＡ−Ｂ
方向に沿ってジグザグ走査を行なった場合、サンプルス
ポット２を完全に走査することができない。その結果、
第３図に示されるようにクロマトグラムの濃度（スポッ
ト面積）が正しく反映されなくなる。
直線方向又は予め定めた傾きの直線方向に対してしかで
きなかった。例えば第２図のように傾きをもって展開さ
れたサンプルスポット２に対して、従来のようにＡ−Ｂ
方向に沿ってジグザグ走査を行なった場合、サンプルス
ポット２を完全に走査することができない。その結果、
第３図に示されるようにクロマトグラムの濃度（スポッ
ト面積）が正しく反映されなくなる。
第２図のような場合、例えばＡ−Ｂ′の方向に走査を行
なうと、第４図で示されるようにクロマトグラムの濃度
が正しく反映されるようになる。
なうと、第４図で示されるようにクロマトグラムの濃度
が正しく反映されるようになる。
本発明はサンプルプレート上で展開方向に従い変化する
レーンの傾きを測定しながらサンプルスポットを検出す
ることにより、展開方向を自動的に追跡してサンプルス
ポットの面積すなわち濃度を正しく反映させることので
きるクロマトスキャナを提供することを目的とするもの
である。
レーンの傾きを測定しながらサンプルスポットを検出す
ることにより、展開方向を自動的に追跡してサンプルス
ポットの面積すなわち濃度を正しく反映させることので
きるクロマトスキャナを提供することを目的とするもの
である。
（問題点を解決するための手段） 第１図に本発明の構成を示す。
ジグザグ走査のＸ方向の光束移動を複数ステップに分割
する。４はＸ方向走査の各ステップの測光値データを記
憶するＸ方向走査データメモリ、５は第１のしきい値を
記憶する第１しきい値メモリであり、６はＸ方向走査デ
ータメモリ４のデータのうち最初に第１しきい値を越え
たＸ位置と最後に第１しきい値を下まわったＸ位置から
サンプルスポットの偏りを算出するＸ方向偏り算出手段
である。８はＸ方向走査データメモリ４のデータを積算
する積算手段、10は積算値の基準となる第２のしきい値
を記憶する第２しきい値メモリであり、12は積算手段８
の積算値と第２しきい値メモリ10のしき値をと比較して
測定位置がサンプルスポット内か否かを判定するサンプ
ルスポット判定手段である。14はサンプルスポット判定
手段12とＸ方向偏り算出手段６の出力から算出した最新
の２個のサンプルスポットの位置（O,N）を記憶するサ
ンプルスポット位置メモリである。15は駆動手段であ
り、サンプルスポット内ではサンプルスポットの偏りを
消失させるようにＸ方向走査範囲を修正し、サンプルス
ポット外ではサンプルスポット位置メモリ14の最新の２
個のサンプルスポットのなす勾配で斜め走査を行なう。
する。４はＸ方向走査の各ステップの測光値データを記
憶するＸ方向走査データメモリ、５は第１のしきい値を
記憶する第１しきい値メモリであり、６はＸ方向走査デ
ータメモリ４のデータのうち最初に第１しきい値を越え
たＸ位置と最後に第１しきい値を下まわったＸ位置から
サンプルスポットの偏りを算出するＸ方向偏り算出手段
である。８はＸ方向走査データメモリ４のデータを積算
する積算手段、10は積算値の基準となる第２のしきい値
を記憶する第２しきい値メモリであり、12は積算手段８
の積算値と第２しきい値メモリ10のしき値をと比較して
測定位置がサンプルスポット内か否かを判定するサンプ
ルスポット判定手段である。14はサンプルスポット判定
手段12とＸ方向偏り算出手段６の出力から算出した最新
の２個のサンプルスポットの位置（O,N）を記憶するサ
ンプルスポット位置メモリである。15は駆動手段であ
り、サンプルスポット内ではサンプルスポットの偏りを
消失させるようにＸ方向走査範囲を修正し、サンプルス
ポット外ではサンプルスポット位置メモリ14の最新の２
個のサンプルスポットのなす勾配で斜め走査を行なう。
（実施例） 第５図は本発明の一実施例を表わす。
16はサンプルプレートであり、その表面にサンプルスポ
ット２が展開されている。サンプルプレート16は試料台
に載せられ、Ｘモータ18によりＸ方向に移動させられ、
Ｙモータ20によりＹ方向に移動させられる。Ｘモータ18
は試料スポット２のレーンの曲りを追跡するために駆動
され、Ｙモータ20はＹ方向の走査を行なうために駆動さ
れるモータである。
ット２が展開されている。サンプルプレート16は試料台
に載せられ、Ｘモータ18によりＸ方向に移動させられ、
Ｙモータ20によりＹ方向に移動させられる。Ｘモータ18
は試料スポット２のレーンの曲りを追跡するために駆動
され、Ｙモータ20はＹ方向の走査を行なうために駆動さ
れるモータである。
22はビームモータであり、その回転軸にはミラー24が取
りつけられている。入射光26はミラー24に入射し、ミラ
ー24が回転することによりサンプルプレート16上の照射
点がＸ方向に走査される。Ｘモータ18、Ｙモータ20、及
びビームモータ22はインタフェースによりCPU28に接続
されたモータ駆動回路30により動作が制御される。
りつけられている。入射光26はミラー24に入射し、ミラ
ー24が回転することによりサンプルプレート16上の照射
点がＸ方向に走査される。Ｘモータ18、Ｙモータ20、及
びビームモータ22はインタフェースによりCPU28に接続
されたモータ駆動回路30により動作が制御される。
32は検出器であり、ミラー24を振って光束を走査させて
得られた測光信号（この場合反射光）は検出器32によっ
て検出され、その検出信号はA/D変換器34によってデジ
タル信号に変換されてCPU28に取り込まれる。
得られた測光信号（この場合反射光）は検出器32によっ
て検出され、その検出信号はA/D変換器34によってデジ
タル信号に変換されてCPU28に取り込まれる。
36はCPU28で必要とされるプログラムを記憶しているROM
及びCPU28の演算結果などを記憶するRAMを含んだメモリ
である。
及びCPU28の演算結果などを記憶するRAMを含んだメモリ
である。
第１図におけるＸ方向走査データメモリ４、第１しきい
値メモリ５、第２しきい値メモリ10及びサンプルスポッ
ト位置メモリ14はRAMにより実現される。Ｘ方向偏り算
出手段６、積算手段８及びサンプルスポット判定手段12
はCPU28とRAM・ROM36により実現される。また、駆動手
段15はCPU28、RAM・ROM36及びモータ駆動回路30により
実現される。
値メモリ５、第２しきい値メモリ10及びサンプルスポッ
ト位置メモリ14はRAMにより実現される。Ｘ方向偏り算
出手段６、積算手段８及びサンプルスポット判定手段12
はCPU28とRAM・ROM36により実現される。また、駆動手
段15はCPU28、RAM・ROM36及びモータ駆動回路30により
実現される。
ビームモータ22を振って得られた信号は、A/D変換器34
を経てCPU28に読み込まれ、RAMのＸ位置に対応した番地
に記憶される。
を経てCPU28に読み込まれ、RAMのＸ位置に対応した番地
に記憶される。
CPU28は第１のしきい値を使い、RAMの測光値データから
サンプルスポットの中心位置（ΔＸ）とＸ方向の積算値
（Ｓ）を求め、第２図に示されるサンプルスポット２の
レーン３を正しく追跡するプログラムを実行する。
サンプルスポットの中心位置（ΔＸ）とＸ方向の積算値
（Ｓ）を求め、第２図に示されるサンプルスポット２の
レーン３を正しく追跡するプログラムを実行する。
第６図にＸ方向の走査による測光値データを示す。Ｘ＝
０を中心としてＸ＝−ｌからＸ＝＋１の範囲で測定した
ときの強度分布を表わしている。第１しきい値メモリ５
に記憶されている予め設定されたしきい値TH1を使っ
て、測光値データが最初にTH1以上になるＸ位置をM1、
最後にTH1以下になるＸ位置をM2とすると、Ｘ方向の偏
りΔＸはΔＸ＝（M1＋M2）/2 となる。ΔＸはＸ方向の走査での中心を表わすものであ
る。
０を中心としてＸ＝−ｌからＸ＝＋１の範囲で測定した
ときの強度分布を表わしている。第１しきい値メモリ５
に記憶されている予め設定されたしきい値TH1を使っ
て、測光値データが最初にTH1以上になるＸ位置をM1、
最後にTH1以下になるＸ位置をM2とすると、Ｘ方向の偏
りΔＸはΔＸ＝（M1＋M2）/2 となる。ΔＸはＸ方向の走査での中心を表わすものであ
る。
中心ΔＸの突発的な変動を避けるために、過去ｎ回のΔ
Ｘを平均化してその平均値▲▼をＸ方向走査の中心
とする。
Ｘを平均化してその平均値▲▼をＸ方向走査の中心
とする。
▲▼＝（ΣΔＸ）/n である。
次に、Ｙ方向の走査に関しては、Ｘ方向の積算値Ｓが予
め設定された第２のしきい値TH2以上になったときにそ
のＹ方向の位置がサンプルスポット内にあると判定し、
積算値ＳがTH1未満のときにはそのＹ方向の位置がサン
プルスポット外にあると判定する。サンプルスポット内
にあると判定されたときは、第７図に示されるようにＹ
方向の１回の送り量ΔＹの範囲で▲▼に対応する距
離だけＸモータ18を動かす。ΔＹはＹ方向の複数のステ
ップからなるのが普通であり、ΔＹの範囲でＸ方向の移
動ができえるだけ均等に行なわれるようにＹ方向のステ
ップ移動量とＸ方向の移動の関係を決める（後述の間引
き操作）。
め設定された第２のしきい値TH2以上になったときにそ
のＹ方向の位置がサンプルスポット内にあると判定し、
積算値ＳがTH1未満のときにはそのＹ方向の位置がサン
プルスポット外にあると判定する。サンプルスポット内
にあると判定されたときは、第７図に示されるようにＹ
方向の１回の送り量ΔＹの範囲で▲▼に対応する距
離だけＸモータ18を動かす。ΔＹはＹ方向の複数のステ
ップからなるのが普通であり、ΔＹの範囲でＸ方向の移
動ができえるだけ均等に行なわれるようにＹ方向のステ
ップ移動量とＸ方向の移動の関係を決める（後述の間引
き操作）。
Ｙ方向の位置がサンプルスポット外であると判定された
ときは、最初の２個のサンプルスポットまでは直線方向
に動かす。サンプルスポットを２個以上通過した後は最
新の２個のサンプルスポットによって決定される傾き
（第８図にΘとして示されるもの）でＸモータ18とＹモ
ータ20を駆動する。
ときは、最初の２個のサンプルスポットまでは直線方向
に動かす。サンプルスポットを２個以上通過した後は最
新の２個のサンプルスポットによって決定される傾き
（第８図にΘとして示されるもの）でＸモータ18とＹモ
ータ20を駆動する。
以下、本実施例の動作を第９図、第10図及び第11図のフ
ローチャートにより説明する。
ローチャートにより説明する。
第９図は全体の流れを示したものであり、初期化（ステ
ップS1）の後、Ｘ方向の走査による測光値データを取得
し（ステップS2）、トレースの条件を設定する（ステッ
プS3）。そしてその設定された条件にしたがってＸモー
タ18とＹモータ20を駆動する（ステップS4）。この走査
を所定のＹ方向の範囲に渡って終了するまで繰り返えす
（ステップS5）。
ップS1）の後、Ｘ方向の走査による測光値データを取得
し（ステップS2）、トレースの条件を設定する（ステッ
プS3）。そしてその設定された条件にしたがってＸモー
タ18とＹモータ20を駆動する（ステップS4）。この走査
を所定のＹ方向の範囲に渡って終了するまで繰り返えす
（ステップS5）。
第10図はトレースの条件を設定する手順（ステップS3）
を具体的に示したものである。
を具体的に示したものである。
Ｘ方向の測光値データの積算値Ｓが第２のしきい値TH2
以上であれば、そのＹ位置はサンプルスポット内である
と判定して、方向フラッグ「Direction」を０と設定す
る（ステップS11,S12）。その後、Ｙ方向の位置を示す
積算値SUMYを SUMY＝SUMY＋ΔＹ とし（ステップS13）、第９図のステップS4へ進む。
以上であれば、そのＹ位置はサンプルスポット内である
と判定して、方向フラッグ「Direction」を０と設定す
る（ステップS11,S12）。その後、Ｙ方向の位置を示す
積算値SUMYを SUMY＝SUMY＋ΔＹ とし（ステップS13）、第９図のステップS4へ進む。
ステップS11において積算値Ｓがしきい値TH2未満である
ときは、そのＹ位置がサンプルスポット外であると判定
される（ステップS11→S14）。このときサンプルスポッ
トを出た最初の位置である場合、すなわちSUMYが０でな
いときは、サンプルスポット位置メモリ（第１図の14）
の座標の入れ換えを行ない（ステップS15）、サンプル
スポット位置メモリには最新の２個のサンプルスポット
の位置が記憶されるようにする。
ときは、そのＹ位置がサンプルスポット外であると判定
される（ステップS11→S14）。このときサンプルスポッ
トを出た最初の位置である場合、すなわちSUMYが０でな
いときは、サンプルスポット位置メモリ（第１図の14）
の座標の入れ換えを行ない（ステップS15）、サンプル
スポット位置メモリには最新の２個のサンプルスポット
の位置が記憶されるようにする。
サンプルスポットを１個だけ通過したものであるとき
は、サンプルスポットの数を表わすカウンタNoに１を加
算する（ステップS17）。
は、サンプルスポットの数を表わすカウンタNoに１を加
算する（ステップS17）。
サンプルスポットを２以上通過した場合にはサンプルス
ポット外領域での勾配を決めるために間引き率を計算す
る（ステップS18）。間引き率は、例えばΔＹを10ステ
ップとし、▲▼が３ステップであったとすると、間
引き率は３であり、Ｙ方向の３ステップごとにＸ方向を
１ステップ動かすようにＹモータ20とＸモータ18を駆動
するための条件を設定することができる。計算された間
引き率によって間引きカウンタの初期値をセットして方
向を示すフラグ「Direction」を1,0又は−１にセットす
る（ステップS19）。そしてSUMYを０に設定した後（ス
テップS20）、第９図のステップS4へ進む。
ポット外領域での勾配を決めるために間引き率を計算す
る（ステップS18）。間引き率は、例えばΔＹを10ステ
ップとし、▲▼が３ステップであったとすると、間
引き率は３であり、Ｙ方向の３ステップごとにＸ方向を
１ステップ動かすようにＹモータ20とＸモータ18を駆動
するための条件を設定することができる。計算された間
引き率によって間引きカウンタの初期値をセットして方
向を示すフラグ「Direction」を1,0又は−１にセットす
る（ステップS19）。そしてSUMYを０に設定した後（ス
テップS20）、第９図のステップS4へ進む。
ステップS14においてそのＹ位置がサンプルスポット外
であるが、スタート点以外である場合には、ステップS4
へ進み、サンプルスポット外のスタート時点で決められ
た勾配に従ってＸモータ18とＹモータ20が駆動される。
であるが、スタート点以外である場合には、ステップS4
へ進み、サンプルスポット外のスタート時点で決められ
た勾配に従ってＸモータ18とＹモータ20が駆動される。
第11図はＸモータ18とＹモータ20を駆動する手順を示し
ている。
ている。
ジグザグ走査のＹ方向のΔＹのステップ数を設定する
（ステップS21）。そしてＹ方向に１ステップだけ駆動
するとともに（ステップS22、S23）、フラグ「Directio
n」が０の場合（ステップS24→S25）、すなわちサンプ
ルスポット内のモードか又はスポット外モードで▲
▼が０の場合、測光値データから算出された偏り▲
▼に応じてＸモータ18を１ステップだけ＋方向（ステッ
プS26,S27）もしくは一方向（ステップS28,S29）に駆動
し、又はＸモータ18を駆動しないで次のＹモータ20の１
ステップの駆動に移る。
（ステップS21）。そしてＹ方向に１ステップだけ駆動
するとともに（ステップS22、S23）、フラグ「Directio
n」が０の場合（ステップS24→S25）、すなわちサンプ
ルスポット内のモードか又はスポット外モードで▲
▼が０の場合、測光値データから算出された偏り▲
▼に応じてＸモータ18を１ステップだけ＋方向（ステッ
プS26,S27）もしくは一方向（ステップS28,S29）に駆動
し、又はＸモータ18を駆動しないで次のＹモータ20の１
ステップの駆動に移る。
ステップS24においてフラグ「Direction」が＋１又は−
１に設定されているときは、サンプルスポット外のモー
ドであって斜め方向に駆動することを意味する。そこ
で、サンプルスポット数が２に満たないときはＸモータ
18を駆動しないでＹモータ20だけを駆動するが、サンプ
ルスポット数が２以上になっているときは間引きカウン
タの値を１だけ減算し（ステップS30→S31）、間引きカ
ウンタが０になれば間引きカウンタを初期値にセットす
るとともに（ステップS32→S33）、フラグ「Directio
n」の値にしたがってＸモータ18を１ステップだけ＋方
向もしくは−方向に駆動し、又はＸモータ18を駆動しな
いで次のＹ方向の駆動に移行する（ステップS34,S35,S3
6）。
１に設定されているときは、サンプルスポット外のモー
ドであって斜め方向に駆動することを意味する。そこ
で、サンプルスポット数が２に満たないときはＸモータ
18を駆動しないでＹモータ20だけを駆動するが、サンプ
ルスポット数が２以上になっているときは間引きカウン
タの値を１だけ減算し（ステップS30→S31）、間引きカ
ウンタが０になれば間引きカウンタを初期値にセットす
るとともに（ステップS32→S33）、フラグ「Directio
n」の値にしたがってＸモータ18を１ステップだけ＋方
向もしくは−方向に駆動し、又はＸモータ18を駆動しな
いで次のＹ方向の駆動に移行する（ステップS34,S35,S3
6）。
実施例ではビームモータ22を用いて光束をＸ方向に走査
しているが、ビームモータ22を用いないでＸモータ18に
よって光束をサンプルスポット16上で移動させることも
できる。
しているが、ビームモータ22を用いないでＸモータ18に
よって光束をサンプルスポット16上で移動させることも
できる。
また、検出器32はサンプルプレート16からの反射光を検
出しているが、透過光を検出する位置に配置してもよ
い。
出しているが、透過光を検出する位置に配置してもよ
い。
サンプルプレート16からの測光値データのベースライン
が第12図に示されるように変動している場合、しきい値
（TH1）を固定してしまってはピークによってしきい値
にかからないものが出てくる。例えば第12図のピークa,
b,cのそれぞれの位置Y1,Y2,Y3におけるＸ方向のデータ
分布が第13図に示されるようなものであるとすると、位
置Y1のデータ例のピークａに合わせてしきい値TH1を設
定すると、位置Y2,Y3のデータ列に対してはしきい値TH1
は不適切なしきい値となる。そこで、このような場合、
Ｘ＝−ｌとＸ＝＋ｌおける測光値データを０データとし
て、（測光値データ）−（０データ）に対してしきい値
TH1を設定すると、第14図に示されるようにベースライ
ンの変動に関係なくしきい値TH1が効果的に動くように
なる。
が第12図に示されるように変動している場合、しきい値
（TH1）を固定してしまってはピークによってしきい値
にかからないものが出てくる。例えば第12図のピークa,
b,cのそれぞれの位置Y1,Y2,Y3におけるＸ方向のデータ
分布が第13図に示されるようなものであるとすると、位
置Y1のデータ例のピークａに合わせてしきい値TH1を設
定すると、位置Y2,Y3のデータ列に対してはしきい値TH1
は不適切なしきい値となる。そこで、このような場合、
Ｘ＝−ｌとＸ＝＋ｌおける測光値データを０データとし
て、（測光値データ）−（０データ）に対してしきい値
TH1を設定すると、第14図に示されるようにベースライ
ンの変動に関係なくしきい値TH1が効果的に動くように
なる。
（発明の効果） 本発明では、サンプルスポット内の測定においては測光
値が予め定められた値以上となる両端のＸ位置の中心を
追跡するように走査し、サンプルスポットが存在しない
区間では最新の２個のサンプルスポットのなす勾配で斜
め走査を行なうので、レーンの曲ったサンプルでも正確
な測定を行なうことができる。
値が予め定められた値以上となる両端のＸ位置の中心を
追跡するように走査し、サンプルスポットが存在しない
区間では最新の２個のサンプルスポットのなす勾配で斜
め走査を行なうので、レーンの曲ったサンプルでも正確
な測定を行なうことができる。
第１図は本発明を示すブロック図、第２図はサンプルス
ポットの展開を模式的に示す図、第３図及び第４図はそ
れぞれ走査方向によるサンプルスポット面積の違いを示
す図、第５図は一実施例を示すブロック図、第６図はＸ
方向の走査による測光値を示す波形図、第７図は斜走査
を示す図、第８図は斜走査の勾配を示す図、第９図、第
10図及び第11図は一実施例の動作を示すフローチャー
ト、第12図はベースラインが変動している測光値を示す
波形図、第13図は第12図の各ピークと固定のしきい値と
の関係を示す図、第14図は第12図の各ピークと修正され
たしきい値との関係を示す図である。 ４……Ｘ方向走査メモリ、５……第１しきい値メモリ、
６……Ｘ方向偏り算出手段、８……積算手段、10……第
２しきい値メモリ、12……サンプルスポット判定手段、
14……サンプルスポット位置メモリ、15……駆動手段。
ポットの展開を模式的に示す図、第３図及び第４図はそ
れぞれ走査方向によるサンプルスポット面積の違いを示
す図、第５図は一実施例を示すブロック図、第６図はＸ
方向の走査による測光値を示す波形図、第７図は斜走査
を示す図、第８図は斜走査の勾配を示す図、第９図、第
10図及び第11図は一実施例の動作を示すフローチャー
ト、第12図はベースラインが変動している測光値を示す
波形図、第13図は第12図の各ピークと固定のしきい値と
の関係を示す図、第14図は第12図の各ピークと修正され
たしきい値との関係を示す図である。 ４……Ｘ方向走査メモリ、５……第１しきい値メモリ、
６……Ｘ方向偏り算出手段、８……積算手段、10……第
２しきい値メモリ、12……サンプルスポット判定手段、
14……サンプルスポット位置メモリ、15……駆動手段。
Claims (1)
- 【請求項１】サンプルプレート上の光束をＸ方向に走査
しつつＹ方向に走査し、Ｘ方向の光束移動を複数ステッ
プに分割して各ステップで測光を行なうジグザグ走査法
を用いたクロマトスキャナにおいて、Ｘ方向走査の各ス
テップの測光値データを記憶するＸ方向走査データメモ
リと、第１のしきい値を記憶する第１しきい値メモリ
と、Ｘ方向走査データメモリのデータのうち最初に第１
しきい値を越えたＸ位置と最後に第１しきい値を下まわ
ったＸ位置からサンプルスポットの偏りを算出するＸ方
向偏り算出手段と、Ｘ方向走査データメモリのデータを
積算する積算手段と、積算値の基準となる第２のしきい
値を記憶する第２しきい値メモリと、積算手段の積算値
と第２しきい値メモリのしきい値とを比較して測定位置
がサンプルスポット内か否かを判定するサンプルスポッ
ト判定手段と、サンプルスポット判定手段とＸ方向偏り
算出手段の出力から算出した最新の２個のサンプルスポ
ットの位置を記憶するサンプルスポット位置メモリと、
サンプルスポット内ではサンプルスポットの偏りを消失
させるようにＸ方向走査範囲を修正し、サンプルスポッ
ト外ではサンプルスポット位置メモリの最新の２個のサ
ンプルスポットのなす勾配で斜め走査を行なわせる駆動
手段とを備えたことを特徴とするクロマトスキャナ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62051699A JPH0769261B2 (ja) | 1987-03-05 | 1987-03-05 | クロマトスキヤナ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62051699A JPH0769261B2 (ja) | 1987-03-05 | 1987-03-05 | クロマトスキヤナ |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS63217253A JPS63217253A (ja) | 1988-09-09 |
| JPH0769261B2 true JPH0769261B2 (ja) | 1995-07-26 |
Family
ID=12894146
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP62051699A Expired - Fee Related JPH0769261B2 (ja) | 1987-03-05 | 1987-03-05 | クロマトスキヤナ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0769261B2 (ja) |
-
1987
- 1987-03-05 JP JP62051699A patent/JPH0769261B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS63217253A (ja) | 1988-09-09 |
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