JPH0723865B2 - クロマトスキヤナ - Google Patents

クロマトスキヤナ

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JPH0723865B2
JPH0723865B2 JP13793486A JP13793486A JPH0723865B2 JP H0723865 B2 JPH0723865 B2 JP H0723865B2 JP 13793486 A JP13793486 A JP 13793486A JP 13793486 A JP13793486 A JP 13793486A JP H0723865 B2 JPH0723865 B2 JP H0723865B2
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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/59Transmissivity
    • G01N21/5907Densitometers
    • G01N21/5911Densitometers of the scanning type

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  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明は電気泳動ゲルや薄層クロマトグラフィ(TLC)
薄層プレートなどのサンプルプレート上で分離されたサ
ンプルスポット(試料分画)を光学的に定量するために
使用されるクロマトスキャナに関し、特にジグザグ走査
法を用いたクロマトスキャナに関するものである。
(従来の技術) サンプルプレートに泳動や展開を行なうと、サンプルス
ポットが一直線にならず傾いてくることがある。例えば
第2図はそのように傾きをもって展開されたサンプルス
ポット2の配列の一例を示すものである。このサンプル
スポット2の配列(レーン3)の傾きはサンプルプレー
ト上の位置や展開条件によって異なる。
第2図で測定光束をX方向にに−lから+lの範囲で走
査し、そのX方向と直交するY方向にサンプルプレート
を移動させることにより、測定光束でサンプルスポット
2上をジグザグ走査することができる。なおΔYはジグ
ザグ走査の際のY方向の1ステップの進む距離である。
(発明が解決しようとする問題点) 従来のクロマトスキャナでは、ジグザグ走査はY方向の
直線方向又は予め定めた傾きの直線方向に対してしかで
きなかった。例えば第2図のように傾きをもって展開さ
れたサンプルスポット2に対して、従来のようにA−B
の方向に沿ってジグザグ走査を行なった場合、サンプル
スポット2を完全に走査することができない。その結
果、第3図の(2)で示されるようにクロマトグラムの
濃度(スポット面積)が正しく反映されなくなる。
第2図のような場合、例えばA−B′の方向に走査を行
なうと、第3図(1)で示されるようにクロマトグラム
の濃度が正しく反映されるようになる。
第4図は第2図でA−B方向の直線走査によるX方向の
測光信号を例示したものであるが、このようにレーン3
の曲りにより測光値の最大値を与えるX位置が変化して
いる。
本発明はサンプルプレート上で展開方向に従い変化する
レーンの傾きを測定しながら検出することにより、展開
方向を自動的に追跡し、サンプルスポットの面積すなわ
ち濃度を正しく反映させることのできるクロマトスキャ
ナを提供することを目的とするものである。
(問題点を解決するための手段) 第1図に本発明の構成を示す。
ジグザグ走査のX方向の光束移動を複数ステップに分割
する。メモリ6はX方向の各ステップの測光値(ジグザ
グ位置データ)を記憶する。積算手段8はメモリ6から
サンプルスポット内の測光値を積算する。曲り算出・保
持手段10は積算手段8の値が一定値以上の場合はメモリ
6の記憶内容から測光値が最高となるX位置を求め、積
算手段8の値が一定値未満の場合にはサンプルスポット
内で求めたレーンの曲りの平均値を保持する。曲り算出
・保持手段10の出力をもとにしてXモータを駆動し、X
方向の光束移動範囲の中心を定める。14はXモータ駆動
回路のインタフェースである。
(実施例) 第5図は本発明の一実施例を表わす。
16はサンプルプレートであり、その表面にサンプルスポ
ット2が展開されている。サンプルプレート16は試料台
に載せられ、XモータによりX方向に移動させられ、Y
モータ20によりY方向に移動させられる。Xモータ18は
試料スポット2のレーンの曲りを追跡するために駆動さ
れ、Yモータ20はY方向の走査を行なうために駆動され
るモータである。
22はビームモータであり、その回転軸にはミラー24が取
りつけられている。入射光26はミラー24に入射し、ミラ
ー24が回転することによりサンプルプレート16上の照射
点がX方向に走査される。Xモータ18、Yモータ20、及
びビームモータ22はインタフェースによりCPU28に接続
されたモータ駆動回路30により動作が制御される。
32は検出器であり、ミラー24を振って光束を走査させて
得られた測光信号(この場合反射光)は検出器32によっ
て検出され、その検出信号はA/D変換器34によってデジ
タル信号に変換されてCPU28に取り込まれる。CPU28に取
り込まれた測光信号は、X方向のジグザグ走査範囲で複
数ステップに分割され、各ステップの測光値がメモリ6
のX位置に対応した番地に記憶される。
36はCPU28で必要とされるプログラムを記憶しているROM
及びCPU28の演算結果を記憶するRAMを含んだメモリであ
る。CPU28はメモリ6の測光値データから測光値の最大
値を与えるX位置(ΔX)及びサンプルスポットのX方
向の積算値(S)を求め、第2図に示されるサンプルス
ポット2のレーン3を正しく追跡するプログラムを実行
する。
第6図にCPU28がサンプルスポットのレーン3を追跡す
るプログラムを示す。
Y方向に対しては1回にΔYだけ走査を行なう(ステッ
プS1)。
X方向には−l〜+lの範囲で走査を行ない、測光値デ
ータから最大値を与えるX位置(ΔX)と積算値Sとを
求める(ステップS2)。
次に、求めた積算値Sが一定値より大きいか否かを判定
する(ステップS3)。積算値Sが一定値より大きい場合
はそのX方向の走査がサンプルスポットのない位置すな
わちブランク位置ではないということを意味するので、
サンプルスポットのレーンを追跡するためにXモータを
ΔXだけ動かす(ステップS4)。そしてずれの総量Pを
求めるためにP=P+ΔXとしてメモリ36のRAMに記憶
し、また、Y方向の距離を知るためにy=y+ΔYとし
てこれもメモリ36のRAMに記憶する(ステップS5,S6)。
一方、ステップS3において積算値Sが一定値以下である
場合には、そのX方向の走査はブランク位置で行なわれ
たことを意味するので、ステップS7へ進む。ステップS7
ではY方向の距離yが0であるか否かを判定し、もし0
でなければY方向の開始点ではないので、サンプルスポ
ットで求められたずれの総量PとY方向の距離yとから
ΔXを算出し、これをブランク区間のΔXとして保持す
る(ステップS8)。そしてそのΔXに従ってXモータ18
を動かす(ステップS9)。一方、ステップS7においてY
方向の距離yが0である場合は走査の開始点であるの
で、そのときに求められたΔXに従ってXモータ18を動
かす。
その後、次のサンプルスポットのためにPを0とし、y
も0とする(ステップS10,S11)。
第5図の実施例ではビームをX方向に振るためにビーム
モータ22の回転軸にミラー24を取りつけているが、ビー
ムモータ22やミラー24を用いず、Xモータ18によりサン
プルプレート16をX方向に往復動させることにより、X
方向の走査を行なうこともできる。
また、検出器32は反射光を測定する位置に配置されてい
るが、透過光を検出するためにサンプルプレート16の裏
側の位置に配置するようにしてもよい。
(発明の効果) 本発明によればX方向の測光値からそれが最大となるX
位置を算出し、それをもとにサンプルスポットのレーン
を追跡するようにしたので、レーンの曲りを自動的に追
跡することができ、サンプルスポット面積を正しく反映
したクロマトグラムを得ることができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の構成を示すブロック図、第2図はサン
プルスポットの展開を模式的に示す図、第3図(1)及
び同図(2)は走査方向によるサンプルスポット面積の
違いを表わす図、第4図は直線走査によるX方向のサン
プルスポット内の測光値を表わす図、第5図は本発明の
一実施例を示すブロック図、第6図は一実施例の動作を
示すフローチャートである。 6……メモリ、 8……積算手段、 10……曲り算出・保持手段。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】ジグザグ走査法を用いたクロマトスキャナ
    において、ジグザグ走査のX方向の光束移動を複数ステ
    ップに分割し、各ステップの測光値を記憶するメモリ
    と、このメモリからサンプルスポット内の測光値を積算
    する積算手段と、この積算手段の値が一定値以上の場合
    には前記メモリの記憶内容から測光値が最高となるX位
    置を求め、この積算手段の値が一定値未満の場合にはサ
    ンプルスポット内で求めたレーンの曲りの平均値を保持
    する曲り算出・保持手段とを備え、この曲り算出・保持
    手段の出力をもとにしてX方向の光束移動の中心を定め
    るクロマトスキャナ。
JP13793486A 1986-06-13 1986-06-13 クロマトスキヤナ Expired - Fee Related JPH0723865B2 (ja)

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