JPH0769763B2 - タブレット - Google Patents
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- JPH0769763B2 JPH0769763B2 JP32673888A JP32673888A JPH0769763B2 JP H0769763 B2 JPH0769763 B2 JP H0769763B2 JP 32673888 A JP32673888 A JP 32673888A JP 32673888 A JP32673888 A JP 32673888A JP H0769763 B2 JPH0769763 B2 JP H0769763B2
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Description
【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] この発明は、座標入力を行なうタブレットをディスプレ
イと一体としたディスプレイ一体型タブレットに適用し
て好適なタブレットに関する。
イと一体としたディスプレイ一体型タブレットに適用し
て好適なタブレットに関する。
[従来の技術] 従来、ディスプレイ一体型タブレットは、第9図に示す
ように、ディスプレイ51とタブレット52とがそれぞれ別
個独立に形成され、そして、これらを互いに密着させる
ことにより一体に構成される。ここで、例えばディスプ
レイ51としてEL(エレクトロ・ルミネッセンス)表示素
子が用いられ、タブレット52として静電容量結合型のも
のが用いられる。なお、第9図において、53は走査パル
ス検出用のペンである。
ように、ディスプレイ51とタブレット52とがそれぞれ別
個独立に形成され、そして、これらを互いに密着させる
ことにより一体に構成される。ここで、例えばディスプ
レイ51としてEL(エレクトロ・ルミネッセンス)表示素
子が用いられ、タブレット52として静電容量結合型のも
のが用いられる。なお、第9図において、53は走査パル
ス検出用のペンである。
[発明が解決しようとする課題] ところで、このように構成されるものによれば、タブレ
ット52のマトリックス状に配置された電極の一本ずつ順
次走査パルスが供給され、そして、この走査パルスがペ
ン53で検出されることで座標検出が行なわれるが、ペン
53の検出信号のレベルが小さく、そのため走査パルスの
検出が容易でなく、良好な座標検出が困難であった。
ット52のマトリックス状に配置された電極の一本ずつ順
次走査パルスが供給され、そして、この走査パルスがペ
ン53で検出されることで座標検出が行なわれるが、ペン
53の検出信号のレベルが小さく、そのため走査パルスの
検出が容易でなく、良好な座標検出が困難であった。
そこで、この発明では、走査パルスの検出を容易とし、
良好な座標検出が可能となるようにしたタブレットを提
供することを目的とするものである。
良好な座標検出が可能となるようにしたタブレットを提
供することを目的とするものである。
[課題を解決するための手段] この発明は、マトリックスパネルと、行電極ドライバ
と、列電極ドライバと、行座標検出部と、列座標検出部
と、検出用導体とを備え、行電極ドライバよりパネルの
行電極に順次供給される走査パルスが検出用導体で検出
されて行座標検出部に供給されることにより行座標が検
出されると共に、列電極ドライバよりパネルの列電極に
順次供給される走査パルスが検出用導体で検出されて列
座標検出部に供給されることにより列座標が検出される
タブレットであって、上記検出用導体の出力信号のピー
ク時点を検出するピーク時点検出回路を設け、上記パル
スの行電極および列電極の少なくとも一方は、対応する
電極ドライバより、同一パルス幅の走査パルスが、パル
ス幅よりも短い位相だけ順次遅れて供給され、上記検出
用導体の出力信号がピーク時点に達したとき上記座標検
出動作が開始されるのである。
と、列電極ドライバと、行座標検出部と、列座標検出部
と、検出用導体とを備え、行電極ドライバよりパネルの
行電極に順次供給される走査パルスが検出用導体で検出
されて行座標検出部に供給されることにより行座標が検
出されると共に、列電極ドライバよりパネルの列電極に
順次供給される走査パルスが検出用導体で検出されて列
座標検出部に供給されることにより列座標が検出される
タブレットであって、上記検出用導体の出力信号のピー
ク時点を検出するピーク時点検出回路を設け、上記パル
スの行電極および列電極の少なくとも一方は、対応する
電極ドライバより、同一パルス幅の走査パルスが、パル
ス幅よりも短い位相だけ順次遅れて供給され、上記検出
用導体の出力信号がピーク時点に達したとき上記座標検
出動作が開始されるのである。
[作用] 上述構成においては、パネルの行電極y1,y2,・・・,yn
および列電極x1,x2,・・・,xmは、それぞれ行電極ドラ
イバ2および列電極ドライバ3より、隣り合った複数の
電極に同時に走査パルスPy′,Px′が供給された状態で
順次走査されるので、検出用導体5の検出信号のレベル
が大きくなり、走査パルスPy′,Px′の検出が容易とな
り、座標検出を良好に行ない得る。
および列電極x1,x2,・・・,xmは、それぞれ行電極ドラ
イバ2および列電極ドライバ3より、隣り合った複数の
電極に同時に走査パルスPy′,Px′が供給された状態で
順次走査されるので、検出用導体5の検出信号のレベル
が大きくなり、走査パルスPy′,Px′の検出が容易とな
り、座標検出を良好に行ない得る。
[実施例] 以下、第1図を参照しながら、この発明の一実施例につ
いて説明する。
いて説明する。
同図において、1は薄膜ELマトリックスパネルであり、
y1,y2,・・・・,ynは行電極、x1,x2,・・・・,xmは列電
極である。
y1,y2,・・・・,ynは行電極、x1,x2,・・・・,xmは列電
極である。
また、2は行電極ドライバであり、その複数の出力端子
はそれぞれパネル1の行電極y1,y2,・・・・,ynに接続
される。また、3は列電極ドライバであり、その複数の
出力端子はそれぞれパネル1の列電極x1,x2,・・・・,x
mに接続される。
はそれぞれパネル1の行電極y1,y2,・・・・,ynに接続
される。また、3は列電極ドライバであり、その複数の
出力端子はそれぞれパネル1の列電極x1,x2,・・・・,x
mに接続される。
これら行電極ドライバ2および列電極ドライバ3の動作
はタイミング発生回路4によって制御される。
はタイミング発生回路4によって制御される。
第2図に示すように、表示モードでは、行電極ドライバ
2より行電極y1,y2,・・・・,ynに1電極単位で順次走
査パルスPyが供給されると共に、列電極ドライバ3より
列電極x1,x2,・・・・,xmに表示データSDに対応した電
圧VSDが1走査線ごとに同時に供給される。
2より行電極y1,y2,・・・・,ynに1電極単位で順次走
査パルスPyが供給されると共に、列電極ドライバ3より
列電極x1,x2,・・・・,xmに表示データSDに対応した電
圧VSDが1走査線ごとに同時に供給される。
また、行座標(y座標)の検出モードでは、行電極ドラ
イバ2より行電極y1,y2,・・・・,ynに順次走査パルスP
y′が供給される。この場合、走査パルスPy′のパルス
幅は広くされ、行電極y1,y2,・・・・,ynのうち隣り合
った複数の電極、例えば20本の電極に、同時に走査パル
スPy′が供給された状態で順次走査される。
イバ2より行電極y1,y2,・・・・,ynに順次走査パルスP
y′が供給される。この場合、走査パルスPy′のパルス
幅は広くされ、行電極y1,y2,・・・・,ynのうち隣り合
った複数の電極、例えば20本の電極に、同時に走査パル
スPy′が供給された状態で順次走査される。
また、列座標(x座標)の検出モードでは、列電極ドラ
イバ3より列電極x1,x2,・・・・,xmに順次走査パルスP
x′が供給される。この場合、走査パルスPx′のパルス
幅も広くされ、列電極x1,x2,・・・・,xmのうち隣り合
った複数の電極、例えば20本の電極に、同時に走査パル
スPx′が供給された状態で順次走査される。
イバ3より列電極x1,x2,・・・・,xmに順次走査パルスP
x′が供給される。この場合、走査パルスPx′のパルス
幅も広くされ、列電極x1,x2,・・・・,xmのうち隣り合
った複数の電極、例えば20本の電極に、同時に走査パル
スPx′が供給された状態で順次走査される。
そして、表示モードの期間、行座標の検出モードの期間
および列座標の検出モードの期間は各フレームに時分割
的に設けられる。なお、その順次は図示の例に限られる
ものでなく、任意である。
および列座標の検出モードの期間は各フレームに時分割
的に設けられる。なお、その順次は図示の例に限られる
ものでなく、任意である。
ここで、表示モードのときの走査パルスPyの極性は、1
フレームごとに反転するようにされる。また、座標検出
モードのときの走査パルスPy′,Px′の極性も、それぞ
れ1フレームごとに反転するようにすることが望ましい
が、回路の簡単化のため片極性のパルスとしてもよい。
この場合は、電圧は低い方がよいが、あまり低くすると
S/Nよく走査パルスPy′,Px′を検出することができなく
なる。
フレームごとに反転するようにされる。また、座標検出
モードのときの走査パルスPy′,Px′の極性も、それぞ
れ1フレームごとに反転するようにすることが望ましい
が、回路の簡単化のため片極性のパルスとしてもよい。
この場合は、電圧は低い方がよいが、あまり低くすると
S/Nよく走査パルスPy′,Px′を検出することができなく
なる。
例えば、表示モードにおいては、発光閾値電圧が±200V
に対し、行電極y1,y2,・・・・,ynに走査パルスPyとし
て+215Vあるいは−165V、列電極x1,x2,・・・・,xmに
電圧VSDとして+50Vあるいは0Vが選択的に供給され、発
光画素部には±215V、非発光画素部には±165Vが1フレ
ームごとに交互に極性が反転されて供給される。また、
行座標の検出モードにおいては、行電極y1,y2,・・・
・,ynに走査パルスPy′として+25Vが供給され、列座標
の検出モードにおいては、列電極x1,x2,・・・・,xmに
走査パルスPx′として+25Vが供給される。
に対し、行電極y1,y2,・・・・,ynに走査パルスPyとし
て+215Vあるいは−165V、列電極x1,x2,・・・・,xmに
電圧VSDとして+50Vあるいは0Vが選択的に供給され、発
光画素部には±215V、非発光画素部には±165Vが1フレ
ームごとに交互に極性が反転されて供給される。また、
行座標の検出モードにおいては、行電極y1,y2,・・・
・,ynに走査パルスPy′として+25Vが供給され、列座標
の検出モードにおいては、列電極x1,x2,・・・・,xmに
走査パルスPx′として+25Vが供給される。
以上の構成において、表示モードでは、行電極y1,y2,・
・・・,ynに1電極単位で順次走査パルスPyが供給され
ると共に、列電極x1,x2,・・・・,xmに表示データSDに
対応した電圧VSDが1走査線ごとに同時に供給されるた
め、線順次走査による表示駆動となり、表示データSDに
対応した画像が表示される。
・・・,ynに1電極単位で順次走査パルスPyが供給され
ると共に、列電極x1,x2,・・・・,xmに表示データSDに
対応した電圧VSDが1走査線ごとに同時に供給されるた
め、線順次走査による表示駆動となり、表示データSDに
対応した画像が表示される。
また、5はペンシル状導体(以下「ペン」という)であ
り、このペン5をパネル1の任意位置に接触させること
で静電容量結合により走査パルスが検出される。
り、このペン5をパネル1の任意位置に接触させること
で静電容量結合により走査パルスが検出される。
この場合、上述したように座標検出モードにおいては、
隣り合った複数の電極に同時に走査パルスPy′,Px′が
供給された状態で順次走査されるので、ひとつの電極の
みに走査パルスPy′,Px′が供給されるものに比べて、
ペン5の検出信号のレベルは増大する。第3図を参照し
て、このことについて詳細に説明する。
隣り合った複数の電極に同時に走査パルスPy′,Px′が
供給された状態で順次走査されるので、ひとつの電極の
みに走査パルスPy′,Px′が供給されるものに比べて、
ペン5の検出信号のレベルは増大する。第3図を参照し
て、このことについて詳細に説明する。
同図において、41はペンシル状導体(以下「ペン」とい
う)、42は薄膜ELマトリックスパネルのガラス板であ
る。43はマトリックス電極であり、本来行電極と列電極
の2層からなるが、説明の簡単化のため、1層のみを示
している。44は走査用の切換スイッチ、45は走査パルス
用の電源、46は走査パルス検出用のアンプ(第1図にお
いてはアンプ6)の入力インピーダンスである。
う)、42は薄膜ELマトリックスパネルのガラス板であ
る。43はマトリックス電極であり、本来行電極と列電極
の2層からなるが、説明の簡単化のため、1層のみを示
している。44は走査用の切換スイッチ、45は走査パルス
用の電源、46は走査パルス検出用のアンプ(第1図にお
いてはアンプ6)の入力インピーダンスである。
ペン41と電極43との間には、図示のようにコンデンサが
存在し、電極番号iに対応してその容量をCiとする。ま
た、電極43は、j≦i−1またはj≧i+4では接地さ
れ、i≦j≦i+3では電源45に接続されているものと
する。なお、電極43の数はnで、1≦j≦nとする。
存在し、電極番号iに対応してその容量をCiとする。ま
た、電極43は、j≦i−1またはj≧i+4では接地さ
れ、i≦j≦i+3では電源45に接続されているものと
する。なお、電極43の数はnで、1≦j≦nとする。
第4図は、この場合の等価回路を示したものである。こ
こで、 CVS=Ci+Ci+1+Ci+2+Ci+3 CGND=C1+C2+…+Ci−1+Ci+4+…+Cn であり、ペン41による検出信号vsは、 |Zin|≫1/ωCGND に選べば次式のようになる。|Zin|は入力インピーダン
ス46の大きさである。
こで、 CVS=Ci+Ci+1+Ci+2+Ci+3 CGND=C1+C2+…+Ci−1+Ci+4+…+Cn であり、ペン41による検出信号vsは、 |Zin|≫1/ωCGND に選べば次式のようになる。|Zin|は入力インピーダン
ス46の大きさである。
ここで、VSは電源45の電圧値、Coはペン41と電極43間で
形成される全容量であり、CVS+CGNDである。
形成される全容量であり、CVS+CGNDである。
この(1)式から明らかなように、電極43に1電極ずつ
電源45を供給する方式では、nが数百の場合には、CVS
《Coとなるため、検出信号vsが小さく、走査パルスの検
出が困難となる。しかし、本例のように同時に電源45が
供給される電極43の数を多くすると、それに応じてCVS
が大きくなって検出信号vsが大きくなり、走査パルスの
検出が容易となる。
電源45を供給する方式では、nが数百の場合には、CVS
《Coとなるため、検出信号vsが小さく、走査パルスの検
出が困難となる。しかし、本例のように同時に電源45が
供給される電極43の数を多くすると、それに応じてCVS
が大きくなって検出信号vsが大きくなり、走査パルスの
検出が容易となる。
この場合、電極43によって形成されるコンデンサの容量
Ciは、第5図に示すようにペン41から遠くなる程小さく
なり、例えば電極ピッチ0.3mm、ガラス厚2.4mmの場合
で、左右10電極付近より遠方ではその影響は無視でき
る。したがって、同時に電源45が供給される電極43の数
は20もあればよく、それ以上増やしても検出信号のレベ
ル増大効果は期待できない。
Ciは、第5図に示すようにペン41から遠くなる程小さく
なり、例えば電極ピッチ0.3mm、ガラス厚2.4mmの場合
で、左右10電極付近より遠方ではその影響は無視でき
る。したがって、同時に電源45が供給される電極43の数
は20もあればよく、それ以上増やしても検出信号のレベ
ル増大効果は期待できない。
第1図において、このペン5の検出信号はアンプ6に供
給されて増幅され、このアンプ6からの検出信号vsはコ
ンパレータ7に供給されて基準電圧Vrと比較される。ペ
ン5の検出信号のアンプ6の出力電圧vsは、第6図に示
すようにペン5とガラス板との距離dに略反比例して減
少する。基準電圧Vrは、距離dをdoとしたときの検出信
号vsのレベルと等しく設定される。後述するように距離
doは座標検出動作に入る位置であり、予め操作性を考慮
して決定され、例えば1mmとされる。ペン5がガラス上
(ガラス厚=2.4mm)、即ちd=2.4mmのとき検出信号vs
が3V、d=4mmのとき検出信号vsは1Vとなる。したがっ
て、この場合には、Vr=2Vとすれば、do=3.4mmとな
り、ガラス板表面から1mmの距離になる。
給されて増幅され、このアンプ6からの検出信号vsはコ
ンパレータ7に供給されて基準電圧Vrと比較される。ペ
ン5の検出信号のアンプ6の出力電圧vsは、第6図に示
すようにペン5とガラス板との距離dに略反比例して減
少する。基準電圧Vrは、距離dをdoとしたときの検出信
号vsのレベルと等しく設定される。後述するように距離
doは座標検出動作に入る位置であり、予め操作性を考慮
して決定され、例えば1mmとされる。ペン5がガラス上
(ガラス厚=2.4mm)、即ちd=2.4mmのとき検出信号vs
が3V、d=4mmのとき検出信号vsは1Vとなる。したがっ
て、この場合には、Vr=2Vとすれば、do=3.4mmとな
り、ガラス板表面から1mmの距離になる。
このコンパレータ7からは、検出信号vsが基準電圧Vrよ
り大きいときには高レベル“1"の信号が出力され、一方
検出信号vsが基準電圧Vrより小さいときには低レベル
“0"の信号が出力される。そして、このコンパレータ7
の出力信号はアンド回路8に供給される。
り大きいときには高レベル“1"の信号が出力され、一方
検出信号vsが基準電圧Vrより小さいときには低レベル
“0"の信号が出力される。そして、このコンパレータ7
の出力信号はアンド回路8に供給される。
また、アンプ6からの検出信号vsは、ピーク時点検出回
路9に供給され、このピーク時点検出回路9からは、検
出信号vsのピーク時点で高レベル“1"の信号が出力され
ると共に、その他のときには低レベル“0"の信号が出力
される。そして、このピーク時点検出回路9の出力信号
はアンド回路8に供給される。
路9に供給され、このピーク時点検出回路9からは、検
出信号vsのピーク時点で高レベル“1"の信号が出力され
ると共に、その他のときには低レベル“0"の信号が出力
される。そして、このピーク時点検出回路9の出力信号
はアンド回路8に供給される。
アンド回路8からは、検出信号vsが基準電圧Vrより大き
く、かつ検出信号vsのピーク時点で高レベル“1"の信号
が出力されると共に、その他のときには低レベル“0"の
信号が出力される。このアンド回路8の出力信号は、行
座標検出部10および列座標検出部11に供給される。この
場合、行座標検出部10は、例えばカウンタで構成され、
タイミング発生回路4より、行座標の検出モードとなる
前にリセット信号が供給されてリセットされると共に、
パネル1の行電極y1,y2,・・・・,ynに順次走査パルスP
y′が供給されるタイミングでクロックが供給されてカ
ウントされ、そして、アンド回路8の出力信号が高レベ
ル“1"となるタイミングでカウントで動作がストップさ
れる。したがって、行座標検出部10からは、ペン5が接
触されるパネル1の任意位置に対応したカウント値が行
座標出力として得られる。
く、かつ検出信号vsのピーク時点で高レベル“1"の信号
が出力されると共に、その他のときには低レベル“0"の
信号が出力される。このアンド回路8の出力信号は、行
座標検出部10および列座標検出部11に供給される。この
場合、行座標検出部10は、例えばカウンタで構成され、
タイミング発生回路4より、行座標の検出モードとなる
前にリセット信号が供給されてリセットされると共に、
パネル1の行電極y1,y2,・・・・,ynに順次走査パルスP
y′が供給されるタイミングでクロックが供給されてカ
ウントされ、そして、アンド回路8の出力信号が高レベ
ル“1"となるタイミングでカウントで動作がストップさ
れる。したがって、行座標検出部10からは、ペン5が接
触されるパネル1の任意位置に対応したカウント値が行
座標出力として得られる。
また、列座標検出部11も、例えばカウンタで構成され、
タイミング発生回路4より、列座標の検出モードとなる
前にリセット信号が供給されてリセットされると共に、
パネル1の列電極x1,x2,・・・・,xmに順次走査パルスP
x′が供給されるタイミングでクロックが供給されてカ
ウントされ、そして、アンド回路8の出力信号が高レベ
ル“1"となるタイミングでカウント動作がストップされ
る。したがって、列座標検出部11からは、ペン5が接触
されるパネル1の任意位置に対応したカウント値が列座
標出力として得られる。
タイミング発生回路4より、列座標の検出モードとなる
前にリセット信号が供給されてリセットされると共に、
パネル1の列電極x1,x2,・・・・,xmに順次走査パルスP
x′が供給されるタイミングでクロックが供給されてカ
ウントされ、そして、アンド回路8の出力信号が高レベ
ル“1"となるタイミングでカウント動作がストップされ
る。したがって、列座標検出部11からは、ペン5が接触
されるパネル1の任意位置に対応したカウント値が列座
標出力として得られる。
第7図は、実施例の具体構成を示す図である。第7図に
おいて、第1図と対応する部分には同一符号を付して示
している。
おいて、第1図と対応する部分には同一符号を付して示
している。
同図において、21はパネル1の行電極y1,y2,・・・・,y
nの電極数に対応した段数を有するシフトレジスタ、22
はその電極数に対応したアンド回路2A1〜2An、エクスク
ルーシブノア回路2E1〜2En、NチャネルFET2N1〜2Nnお
よびPチャネルFET2P1〜2Pn等を有するドライバ、23は
電源VW+(+215V)、接地(0V)および電源1/2VD(+25
V)を切換えるための切換スイッチ、24は電源VW-(−16
5V)および接地(0V)を切換えるための切換スイッチで
あり、これらシフトレジスタ21、ドライバ22、切換スイ
ッチ23,24によって行電極ドライバ2が構成される。
nの電極数に対応した段数を有するシフトレジスタ、22
はその電極数に対応したアンド回路2A1〜2An、エクスク
ルーシブノア回路2E1〜2En、NチャネルFET2N1〜2Nnお
よびPチャネルFET2P1〜2Pn等を有するドライバ、23は
電源VW+(+215V)、接地(0V)および電源1/2VD(+25
V)を切換えるための切換スイッチ、24は電源VW-(−16
5V)および接地(0V)を切換えるための切換スイッチで
あり、これらシフトレジスタ21、ドライバ22、切換スイ
ッチ23,24によって行電極ドライバ2が構成される。
すなわち、シフトレジスタ21のn段の出力端子は、それ
ぞれドライバ22のアンド回路2A1〜2Anの入力側に接続さ
れ、このアンド回路2A1〜2Anの出力側はそれぞれエクス
クルーシブノア回路2E1〜2Enの入力側に接続され、この
エクスクルーシブノア回路2E1〜2Enの出力側はそれぞれ
NチャネルFET2N1〜2Nnのゲートに接続されると共に、
PチャネルFET2P1〜2Pnのゲートに接続される。
ぞれドライバ22のアンド回路2A1〜2Anの入力側に接続さ
れ、このアンド回路2A1〜2Anの出力側はそれぞれエクス
クルーシブノア回路2E1〜2Enの入力側に接続され、この
エクスクルーシブノア回路2E1〜2Enの出力側はそれぞれ
NチャネルFET2N1〜2Nnのゲートに接続されると共に、
PチャネルFET2P1〜2Pnのゲートに接続される。
また、PチャネルFET2P1〜2Pnのソースはそれぞれ切換
スイッチ23の可動端子に接続され、この切換スイッチ23
のa側の固定端子は電源VW+に接続され、そのb側の固
定端子は接地され、そのc側の固定端子は電源1/2VDに
接続される。この切換スイッチ23の切換えはタイミング
発生回路4によって制御される。
スイッチ23の可動端子に接続され、この切換スイッチ23
のa側の固定端子は電源VW+に接続され、そのb側の固
定端子は接地され、そのc側の固定端子は電源1/2VDに
接続される。この切換スイッチ23の切換えはタイミング
発生回路4によって制御される。
また、NチャネルFET2N1〜2Nnのソースはそれぞれ切換
スイッチ24の可動端子に接続される。この切換スイッチ
24のa側の固定端子は電源VW-に接続され、そのb側の
固定端子は接地される。この切換スイッチ24の切換えは
タイミング発生回路4によって制御される。
スイッチ24の可動端子に接続される。この切換スイッチ
24のa側の固定端子は電源VW-に接続され、そのb側の
固定端子は接地される。この切換スイッチ24の切換えは
タイミング発生回路4によって制御される。
そして、NチャネルFET2N1〜2Nnのドレインは、それぞ
れPチャネルFET2P1〜2Pnのドレインに接続され、それ
ぞれの接続点はパネル1の行電極y1,y2,・・・・,ynに
接続される。なお、NチャネルFET2N1〜2Nn,PチャネルF
ET2P1〜2Pnのそれぞれのドレインおよびソース間にはダ
イオードが接続される。
れPチャネルFET2P1〜2Pnのドレインに接続され、それ
ぞれの接続点はパネル1の行電極y1,y2,・・・・,ynに
接続される。なお、NチャネルFET2N1〜2Nn,PチャネルF
ET2P1〜2Pnのそれぞれのドレインおよびソース間にはダ
イオードが接続される。
この場合、表示モードでは、タイミング発生回路4より
アンド回路2A1〜2Anにイネーブル信号(第8図C,Qにy
イネーブルとして図示)が供給される。そして、あるフ
レームでは、切換スイッチ23はa側に接続されてPチャ
ネルFET2P1〜2Pnのソースに電源VW+が供給され(第8図
Eに図示)、切換スイッチ24はb側に接続されてNチャ
ネルFET2N1〜2Nnのソースは接地され(第8図Fに図
示)、エクスクルーシブノア回路2E1〜2Enに供給される
反転/非反転制御信号(第8図Dにy反転/非反転とし
て図示)は低レベル“0"とされる。一方、次のフレーム
では、切換スイッチ23はb側に接続されてPチャネルFE
T2P1〜2Pnのソースは接地され(第8図Eに図示)、切
換スイッチ24はa側に接続されてNチャネルFET2N1〜2N
nのソースには、電源VW-が接続され(第8図Fに図
示)、反転/非反転制御信号は高レベル“1"とされる。
アンド回路2A1〜2Anにイネーブル信号(第8図C,Qにy
イネーブルとして図示)が供給される。そして、あるフ
レームでは、切換スイッチ23はa側に接続されてPチャ
ネルFET2P1〜2Pnのソースに電源VW+が供給され(第8図
Eに図示)、切換スイッチ24はb側に接続されてNチャ
ネルFET2N1〜2Nnのソースは接地され(第8図Fに図
示)、エクスクルーシブノア回路2E1〜2Enに供給される
反転/非反転制御信号(第8図Dにy反転/非反転とし
て図示)は低レベル“0"とされる。一方、次のフレーム
では、切換スイッチ23はb側に接続されてPチャネルFE
T2P1〜2Pnのソースは接地され(第8図Eに図示)、切
換スイッチ24はa側に接続されてNチャネルFET2N1〜2N
nのソースには、電源VW-が接続され(第8図Fに図
示)、反転/非反転制御信号は高レベル“1"とされる。
また、タイミング発生回路4よりシフトレジスタ21に走
査パルスPy用のデータ(第8図Aにyデータとして図
示)が供給されると共に、クロック(第8図B,Nにyク
ロックとして図示)が供給される。この走査パルスPy用
のデータとしては、行電極y1,y2,・・・,ynを1本ずつ
順次走査するため、1クロック分だけ高レベル“1"が続
くようにされる。
査パルスPy用のデータ(第8図Aにyデータとして図
示)が供給されると共に、クロック(第8図B,Nにyク
ロックとして図示)が供給される。この走査パルスPy用
のデータとしては、行電極y1,y2,・・・,ynを1本ずつ
順次走査するため、1クロック分だけ高レベル“1"が続
くようにされる。
したがって、あるフレームでは、PチャネルFET2P1〜2P
nのゲートに順次低レベル“0"の信号が供給されてオン
となり、パネル1の行電極y1,y2,・・・・,ynに、走査
パルスPyとして1電極単位で順次電源VW+が供給され
る。次のフレームでは、NチャネルFET2N1〜2Nnのゲー
トに順次高レベル“1"の信号が供給されてオンとなり、
パネル1の行電極y1,y2,・・・・,ynに、走査パルスPy
として1電極単位で順次電源VW-が供給される。
nのゲートに順次低レベル“0"の信号が供給されてオン
となり、パネル1の行電極y1,y2,・・・・,ynに、走査
パルスPyとして1電極単位で順次電源VW+が供給され
る。次のフレームでは、NチャネルFET2N1〜2Nnのゲー
トに順次高レベル“1"の信号が供給されてオンとなり、
パネル1の行電極y1,y2,・・・・,ynに、走査パルスPy
として1電極単位で順次電源VW-が供給される。
また、行座標の検出モードでは、タイミング発生回路4
よりアンド回路2A1〜2Anにイネーブル信号(第8図Cに
yイネーブルとして図示)が供給される。そして、切換
スイッチ23はc側に接続されてPチャネルFET2P1〜2Pn
のソースに電源1/2VDが供給され(第8図Eに図示)、
切換スイッチ24はb側に接続されてNチャネルFET2N1〜
2Nnのソースは接地され(第8図Fに図示)、エクスク
ルーシブノア回路2E1〜2Enに供給される反転/非反転制
御信号(第8図Dに反転/非反転として図示)は低レベ
ル“0"とされる。
よりアンド回路2A1〜2Anにイネーブル信号(第8図Cに
yイネーブルとして図示)が供給される。そして、切換
スイッチ23はc側に接続されてPチャネルFET2P1〜2Pn
のソースに電源1/2VDが供給され(第8図Eに図示)、
切換スイッチ24はb側に接続されてNチャネルFET2N1〜
2Nnのソースは接地され(第8図Fに図示)、エクスク
ルーシブノア回路2E1〜2Enに供給される反転/非反転制
御信号(第8図Dに反転/非反転として図示)は低レベ
ル“0"とされる。
また、タイミング発生回路4よりシフトレジスタ21に走
査パルスPy′用のデータ(第8図Aにyデータとして図
示)が供給されると共に、クロック(第8図Bにyクロ
ックとして図示)が供給される。この走査パルスPy′用
のデータは、行電極y1,y2,・・・,ynのうち隣り合った
複数本、例えば20本の電極を同時に走査するため、20ク
ロック分だけ高レベル“1"が続くようにされる。
査パルスPy′用のデータ(第8図Aにyデータとして図
示)が供給されると共に、クロック(第8図Bにyクロ
ックとして図示)が供給される。この走査パルスPy′用
のデータは、行電極y1,y2,・・・,ynのうち隣り合った
複数本、例えば20本の電極を同時に走査するため、20ク
ロック分だけ高レベル“1"が続くようにされる。
したがって、PチャネルFET2P1〜2Pnのうち隣り合った2
0個のゲートに同時に低レベル“0"の信号が供給されて
オンとなり、パネル1の行電極y1,y2,・・・・,ynのう
ち隣り合った20本の電極に同時に走査パルスPy′として
電源1/2VDが供給され、この状態で順次走査される。
0個のゲートに同時に低レベル“0"の信号が供給されて
オンとなり、パネル1の行電極y1,y2,・・・・,ynのう
ち隣り合った20本の電極に同時に走査パルスPy′として
電源1/2VDが供給され、この状態で順次走査される。
また、列座標の検出モードでは、タイミング発生回路4
よりアンド回路2A1〜2Anに供給されるイネーブル信号
(第8図Cにyイネーブルとして図示)は低レベル“0"
とされる。そして、切換スイッチ23はb側に接続されて
PチャネルFET2P1〜2Pnのソースは接地され(第8図E
に図示)、切換スイッチ24はb側に接続されてNチャネ
ルFET2N1〜2Nnのソースは接地され(第8図Fに図
示)、反転/非反転制御信号は低レベル“0"とされる。
したがって、NチャネルFET2N1〜2Nnのゲートには高レ
ベル“1"の信号が供給されてオンとなり、パネル1の行
電極y1,y2,・・・・,ynは全て接地される。
よりアンド回路2A1〜2Anに供給されるイネーブル信号
(第8図Cにyイネーブルとして図示)は低レベル“0"
とされる。そして、切換スイッチ23はb側に接続されて
PチャネルFET2P1〜2Pnのソースは接地され(第8図E
に図示)、切換スイッチ24はb側に接続されてNチャネ
ルFET2N1〜2Nnのソースは接地され(第8図Fに図
示)、反転/非反転制御信号は低レベル“0"とされる。
したがって、NチャネルFET2N1〜2Nnのゲートには高レ
ベル“1"の信号が供給されてオンとなり、パネル1の行
電極y1,y2,・・・・,ynは全て接地される。
また、31はパネル1の列電極x1,x2,・・・・,xmの電極
数に対応した段数を有するシフトレジスタ、32はその電
極数に対応した段数を有するラッチ回路、33はその電極
数に対応したナンド回路3A1〜3Am、NチャネルFET3N1〜
3NmおよびPチャネルFET3P1〜3Pm等を有するドライバ、
34は可変電源回路であり、これらシフトレジスタ31、ラ
ッチ回路32、ドライバ33、可変電源回路34によって列電
極ドライバ3が構成される。
数に対応した段数を有するシフトレジスタ、32はその電
極数に対応した段数を有するラッチ回路、33はその電極
数に対応したナンド回路3A1〜3Am、NチャネルFET3N1〜
3NmおよびPチャネルFET3P1〜3Pm等を有するドライバ、
34は可変電源回路であり、これらシフトレジスタ31、ラ
ッチ回路32、ドライバ33、可変電源回路34によって列電
極ドライバ3が構成される。
すなわち、シフトレジスタ31のm段の出力端子は、それ
ぞれラッチ回路32を介してドライバ33のナンド回路3A1
〜3Amの入力側に接続され、このナンド回路3A1〜3Amの
出力側はそれぞれNチャネルFET3N1〜3Nmのゲートに接
続されると共に、PチャネルFET3P1〜3Pmのゲートに接
続される。
ぞれラッチ回路32を介してドライバ33のナンド回路3A1
〜3Amの入力側に接続され、このナンド回路3A1〜3Amの
出力側はそれぞれNチャネルFET3N1〜3Nmのゲートに接
続されると共に、PチャネルFET3P1〜3Pmのゲートに接
続される。
また、PチャネルFET3P1〜3Pmのソースは可変電源回路3
4の出力側に接続され、この可変電源回路34の入力側に
は電源1/2VDが接続される。この可変電源回路34はタイ
ミング発生回路4によって制御され、表示モードにはVD
が出力され、座標検出モードには1/2VDが出力される
(第8図Kに図示)。また、NチャネルFET3N1〜3Nmの
ソースはそれぞれ接地される。
4の出力側に接続され、この可変電源回路34の入力側に
は電源1/2VDが接続される。この可変電源回路34はタイ
ミング発生回路4によって制御され、表示モードにはVD
が出力され、座標検出モードには1/2VDが出力される
(第8図Kに図示)。また、NチャネルFET3N1〜3Nmの
ソースはそれぞれ接地される。
そして、PチャネルFET3P1〜3Pmのドレインは、それぞ
れNチャネルFET3N1〜3Nmのドレインに接続され、それ
ぞれの接続点はパネル1の列電極x1,x2,・・・・,xmに
接続される。なお、NチャネルFET3N1〜3Nm,PチャネルF
ET3P1〜3Pmのそれぞれのドレインおよびソース間にはダ
イオードが接続される。この場合、表示モードでは、タ
イミング発生回路4よりナンド回路3A1〜3Amにイネーブ
ル信号(第8図J,Qにxイネーブルとして図示)が供給
される。
れNチャネルFET3N1〜3Nmのドレインに接続され、それ
ぞれの接続点はパネル1の列電極x1,x2,・・・・,xmに
接続される。なお、NチャネルFET3N1〜3Nm,PチャネルF
ET3P1〜3Pmのそれぞれのドレインおよびソース間にはダ
イオードが接続される。この場合、表示モードでは、タ
イミング発生回路4よりナンド回路3A1〜3Amにイネーブ
ル信号(第8図J,Qにxイネーブルとして図示)が供給
される。
また、タイミング発生回路4よりシフトレジスタ31にデ
ータ(第8図H,Oにxデータとして図示)が供給される
と共に、シフトレジスタ31にクロック(第8図I,Pにx
クロックとして図示)が供給される。この場合、行電極
y1,y2,・・・,ynに走査パルスPyとして電源VW+が供給さ
れるあるフレームでは、表示データSDの反転されたデー
タが供給され、一方走査パルスPyとして電源VW-が供給
される次のフレームでは、表示データSDがそのまま供給
される。
ータ(第8図H,Oにxデータとして図示)が供給される
と共に、シフトレジスタ31にクロック(第8図I,Pにx
クロックとして図示)が供給される。この場合、行電極
y1,y2,・・・,ynに走査パルスPyとして電源VW+が供給さ
れるあるフレームでは、表示データSDの反転されたデー
タが供給され、一方走査パルスPyとして電源VW-が供給
される次のフレームでは、表示データSDがそのまま供給
される。
そして、シフトレジスタ31にデータが順次供給されて1
走査線分のm個のデータがセットされるごとに、タイミ
ング発生回路4よりラッチ回路32にロード信号(第8図
L,Nにxロードとして図示)が供給されて1走査線分の
m個のデータはラッチ回路32でラッチされ、そして、シ
フトレジスタ31にm個のデータが順次供給される次の1
走査線期間の間保持される。これによりELの発光に充分
な期間、例えば40μsec程度が確保される。
走査線分のm個のデータがセットされるごとに、タイミ
ング発生回路4よりラッチ回路32にロード信号(第8図
L,Nにxロードとして図示)が供給されて1走査線分の
m個のデータはラッチ回路32でラッチされ、そして、シ
フトレジスタ31にm個のデータが順次供給される次の1
走査線期間の間保持される。これによりELの発光に充分
な期間、例えば40μsec程度が確保される。
したがって、行電極y1,y2,・・・,ynに走査パルスPyと
して電源VW+が供給されるあるフレームでは、1走査線
ごとにNチャネルFET3N1〜3Nmのうち表示画素部に対応
したもののゲートに高レベル“1"の信号が供給されてオ
ンとされると共に、PチャネルFET3P1〜3Pmのうち非表
示画素部に対応したもののゲートに低レベル“0"の信号
が供給されてオンとされ、パネル1の列電極x1,x2,・・
・,xmのうち表示画素部に対応した電極は接地されると
共に、非表示画素部に対応した電極には電圧VDが供給さ
れる。
して電源VW+が供給されるあるフレームでは、1走査線
ごとにNチャネルFET3N1〜3Nmのうち表示画素部に対応
したもののゲートに高レベル“1"の信号が供給されてオ
ンとされると共に、PチャネルFET3P1〜3Pmのうち非表
示画素部に対応したもののゲートに低レベル“0"の信号
が供給されてオンとされ、パネル1の列電極x1,x2,・・
・,xmのうち表示画素部に対応した電極は接地されると
共に、非表示画素部に対応した電極には電圧VDが供給さ
れる。
一方、走査パルスPyとして電源VW-供給される次のフレ
ームでは、1走査線ごとにPチャネルFET3P1〜3Pmのう
ち表示画素部に対応したもののゲートに低レベル“0"の
信号が供給されてオンとされると共に、NチャネルFET3
N1〜3Nmのうち非表示画素部に対応したもののゲートに
高レベル“1"の信号が供給されてオンとされ、パネル1
の列電極x1,x2,・・・,xmのうち表示画素部に対応した
電極には電圧VDが供給されると共に、非表示画素部に対
応した電極は接地される。
ームでは、1走査線ごとにPチャネルFET3P1〜3Pmのう
ち表示画素部に対応したもののゲートに低レベル“0"の
信号が供給されてオンとされると共に、NチャネルFET3
N1〜3Nmのうち非表示画素部に対応したもののゲートに
高レベル“1"の信号が供給されてオンとされ、パネル1
の列電極x1,x2,・・・,xmのうち表示画素部に対応した
電極には電圧VDが供給されると共に、非表示画素部に対
応した電極は接地される。
また、行座標の検出モードでは、タイミング発生回路4
よりナンド回路3A1〜3Amに供給されるイネーブル信号
(第8図Jにxイネーブルとして図示)は低レベル“0"
とされる。したがって、NチャネルFET3N1〜3Nmのゲー
トには高レベル“1"の信号が供給されてオンとなり、パ
ネル1の列電極は全て接地される。
よりナンド回路3A1〜3Amに供給されるイネーブル信号
(第8図Jにxイネーブルとして図示)は低レベル“0"
とされる。したがって、NチャネルFET3N1〜3Nmのゲー
トには高レベル“1"の信号が供給されてオンとなり、パ
ネル1の列電極は全て接地される。
また、列座標の検出モードでは、タイミング発生回路4
よりナンド回路3A1〜3Amにイネーブル信号(第8図Jに
xイネーブルとして図示)が供給される。そして、タイ
ミング発生回路4よりシフトレジスタ31に走査パルスP
x′用のデータ(第8図Hにxデータとして図示)が供
給されると共に、クロック(第8図Iにxクロックとし
て図示)が供給される。この走査パルスPx′用のデータ
は、列電極x1,x2,・・・,xmのうち隣り合った複数本、
例えば20本の電極を同時に走査するため、20クロック分
だけ高レベル“1"が続くようにされる。なお、タイミン
グ発生回路4よりラッチ回路32にはロード信号(第8図
Lにxロードとして図示)が供給され続け、このラッチ
回路32はスルーモードとされる。
よりナンド回路3A1〜3Amにイネーブル信号(第8図Jに
xイネーブルとして図示)が供給される。そして、タイ
ミング発生回路4よりシフトレジスタ31に走査パルスP
x′用のデータ(第8図Hにxデータとして図示)が供
給されると共に、クロック(第8図Iにxクロックとし
て図示)が供給される。この走査パルスPx′用のデータ
は、列電極x1,x2,・・・,xmのうち隣り合った複数本、
例えば20本の電極を同時に走査するため、20クロック分
だけ高レベル“1"が続くようにされる。なお、タイミン
グ発生回路4よりラッチ回路32にはロード信号(第8図
Lにxロードとして図示)が供給され続け、このラッチ
回路32はスルーモードとされる。
したがって、PチャネルFET3P1〜3Pmのうち隣り合った2
0個のゲートに同時に低レベル“0"の信号が供給されて
オンとなり、パネル1の列電極x1,x2,・・・,xmのうち
隣り合った20本の電極に同時に走査パルスPx′として電
圧1/2VDが供給され、この状態で順次走査される。
0個のゲートに同時に低レベル“0"の信号が供給されて
オンとなり、パネル1の列電極x1,x2,・・・,xmのうち
隣り合った20本の電極に同時に走査パルスPx′として電
圧1/2VDが供給され、この状態で順次走査される。
このように、表示モードでは、行電極y1,y2,・・・,yn
に1電極単位で順次走査パルスPyが供給されると共に、
列電極x1,x2,・・・,xmに表示データSDに対応した電圧
が1走査線ごとに同時に供給され、線順次走査で表示駆
動され、表示データSDに対応した画像が表示される。
に1電極単位で順次走査パルスPyが供給されると共に、
列電極x1,x2,・・・,xmに表示データSDに対応した電圧
が1走査線ごとに同時に供給され、線順次走査で表示駆
動され、表示データSDに対応した画像が表示される。
また、ペン5の検出信号はアンプ6に供給され、このア
ンプ6からの検出信号vsはコンパレータ7およびピーク
時点検出回路9に供給され、それぞれの出力信号はアン
ド回路8に供給される。そして、このアンド回路8から
は、検出信号vsが基準電圧Vrより大きく、かつ検出信号
vsのピーク時点で高レベル“1"の信号が出力されると共
に、その他のときには低レベル“0"の信号が出力され
る。
ンプ6からの検出信号vsはコンパレータ7およびピーク
時点検出回路9に供給され、それぞれの出力信号はアン
ド回路8に供給される。そして、このアンド回路8から
は、検出信号vsが基準電圧Vrより大きく、かつ検出信号
vsのピーク時点で高レベル“1"の信号が出力されると共
に、その他のときには低レベル“0"の信号が出力され
る。
このアンド回路8の出力信号は、カウンタで構成される
行座標検出部10および列座標検出部11にカウントストッ
プ信号として供給される。
行座標検出部10および列座標検出部11にカウントストッ
プ信号として供給される。
そして、行座標検出部10には、シフトレジスタ21に供給
されるクロックと同じクロック(第8図Bにyクロック
として図示)がタイミング発生回路4より供給されると
共に、リセット信号(第8図Gにyカウンタリセットと
して図示)が供給されて行座標の検出モードとなる前に
リセットされる。したがって、行座標の検出モードとな
るとクロックのカウント動作が始まると共に、検出信号
vsが基準電圧Vrより大きく、かつ検出信号vsのピーク時
点でカウント動作が終わり、行座標検出部10からは、ペ
ン5が接触されるパネル1の任意位置に対応したカウン
ト値が行座標出力として得られる。
されるクロックと同じクロック(第8図Bにyクロック
として図示)がタイミング発生回路4より供給されると
共に、リセット信号(第8図Gにyカウンタリセットと
して図示)が供給されて行座標の検出モードとなる前に
リセットされる。したがって、行座標の検出モードとな
るとクロックのカウント動作が始まると共に、検出信号
vsが基準電圧Vrより大きく、かつ検出信号vsのピーク時
点でカウント動作が終わり、行座標検出部10からは、ペ
ン5が接触されるパネル1の任意位置に対応したカウン
ト値が行座標出力として得られる。
また、列座標検出部11には、シフトレジスタ31に供給さ
れるクロックと同じクロック(第8図Iにxクロックと
して図示)がタイミング発生回路4より供給されると共
に、リセット信号(第8図Mにxカウンタリセットとし
て図示)が供給されて列座標の検出モードとなる前にリ
セットされる。したがって、列座標の検出モードとなる
とクロックのカウント動作が始まると共に、検出信号vs
が基準電圧Vrより大きく、かつ検出信号vsのピーク時点
でカウント動作が終わり、列座標検出部8からは、ペン
5が接触されるパネル1の任意位置に対応したカウント
値が列座標出力として得られる。
れるクロックと同じクロック(第8図Iにxクロックと
して図示)がタイミング発生回路4より供給されると共
に、リセット信号(第8図Mにxカウンタリセットとし
て図示)が供給されて列座標の検出モードとなる前にリ
セットされる。したがって、列座標の検出モードとなる
とクロックのカウント動作が始まると共に、検出信号vs
が基準電圧Vrより大きく、かつ検出信号vsのピーク時点
でカウント動作が終わり、列座標検出部8からは、ペン
5が接触されるパネル1の任意位置に対応したカウント
値が列座標出力として得られる。
なお、第7図において、4aは表示データSDが書き込まれ
ているRAMである。
ているRAMである。
このように本例によれば、座標検出モードでは、隣り合
った複数本、例えば20本の電極に同時に走査パルスP
y′,Px′が供給された状態で順次走査されるので、ペン
5の検出信号のレベルが大きくなり、走査パルスPy′,P
x′の検出が容易となり、座標検出を良好に行なうこと
ができる。
った複数本、例えば20本の電極に同時に走査パルスP
y′,Px′が供給された状態で順次走査されるので、ペン
5の検出信号のレベルが大きくなり、走査パルスPy′,P
x′の検出が容易となり、座標検出を良好に行なうこと
ができる。
また、パネル1が表示および座標検出の双方に使用され
るので、ディスプレイの表示面とタブレットの入力面と
が1表示画素の精度で全面に亘って確実に一致するた
め、容易に製造することができる。
るので、ディスプレイの表示面とタブレットの入力面と
が1表示画素の精度で全面に亘って確実に一致するた
め、容易に製造することができる。
また、パネル1が表示モードおよび座標検出モードの双
方に使用され、行電極ドライバ2、列電極ドライバ3が
共通に使用されるので、無駄な回路を省くことができ、
安価に構成できると共に、スペース的にも有利とでき
る。
方に使用され、行電極ドライバ2、列電極ドライバ3が
共通に使用されるので、無駄な回路を省くことができ、
安価に構成できると共に、スペース的にも有利とでき
る。
また、表示モードの期間と座標検出モードの期間とが時
分割的に交互に設けられるので、座標検出モードの期間
には、表示駆動に必要な種々の信号による妨害信号の影
響なく走査パルスPy′,Px′を検出できるようになり、
座標検出を良好に行なうことができる。
分割的に交互に設けられるので、座標検出モードの期間
には、表示駆動に必要な種々の信号による妨害信号の影
響なく走査パルスPy′,Px′を検出できるようになり、
座標検出を良好に行なうことができる。
また、ペン(ペンシル状導体)5をパネル1のガラス面
に近づけるとき、コンパレータ7の出力信号が高レベル
“1"となってアンド回路8より行座標検出部10、列座標
検出部11にカウントストップ信号が供給されて自動的に
座標検出動作に入るので、従来のようにペン先をディス
プレイに押し付けることでペンに内蔵した機械的スイッ
チをオンとして座標検出動作に入るものに比べて、操作
の煩わしさがなく、また部品数を少なく安価に構成で
き、さらに可動部分がなくなるのでペン5の故障の心配
もなくなる。
に近づけるとき、コンパレータ7の出力信号が高レベル
“1"となってアンド回路8より行座標検出部10、列座標
検出部11にカウントストップ信号が供給されて自動的に
座標検出動作に入るので、従来のようにペン先をディス
プレイに押し付けることでペンに内蔵した機械的スイッ
チをオンとして座標検出動作に入るものに比べて、操作
の煩わしさがなく、また部品数を少なく安価に構成で
き、さらに可動部分がなくなるのでペン5の故障の心配
もなくなる。
なお、上述実施例とは異なり、第9図に示すように、デ
ィスプレイ51とタブレット52とがそれぞれ個別独立に形
成され、これらを互いに密着させることにより一体に構
成されるもののタブレット52にも、この発明を同様に適
用できることは勿論である。
ィスプレイ51とタブレット52とがそれぞれ個別独立に形
成され、これらを互いに密着させることにより一体に構
成されるもののタブレット52にも、この発明を同様に適
用できることは勿論である。
[発明の効果] 以上説明したように、この発明によれば、パネルの行電
極および列電極は、それぞれ行電極ドライバおよび列電
極ドライバより、隣り合った複数の電極に同時に走査パ
ルスが供給された状態で順次走査されるので、検出用導
体の検出信号のレベルが大きくなり、走査パルスの検出
が容易となり、座標検出を良好に行なうことができる。
極および列電極は、それぞれ行電極ドライバおよび列電
極ドライバより、隣り合った複数の電極に同時に走査パ
ルスが供給された状態で順次走査されるので、検出用導
体の検出信号のレベルが大きくなり、走査パルスの検出
が容易となり、座標検出を良好に行なうことができる。
第1図はこの発明の一実施例を示す構成図、第2図〜第
6図はその動作説明のための図、第7図は第1図例の具
体構成図、第8図はその動作説明のための図、第9図は
従来例の構成図である。 1……薄膜ELマトリックスパネル 2……行電極ドライバ 3……列電極ドライバ 4……タイミング発生回路 5……ペンシル状導体 7……コンパレータ 8……アンド回路 9……ピーク時点検出回路 10……行座標検出部 11……列座標検出部
6図はその動作説明のための図、第7図は第1図例の具
体構成図、第8図はその動作説明のための図、第9図は
従来例の構成図である。 1……薄膜ELマトリックスパネル 2……行電極ドライバ 3……列電極ドライバ 4……タイミング発生回路 5……ペンシル状導体 7……コンパレータ 8……アンド回路 9……ピーク時点検出回路 10……行座標検出部 11……列座標検出部
Claims (1)
- 【請求項1】マトリックスパネルと、行電極ドライバ
と、列電極ドライバと、行座標検出部と、列座標検出部
と、検出用導体とを備え、 上記行電極ドライバより上記パネルの行電極に順次供給
される走査パルスが上記検出用導体で検出されて上記行
座標検出部に供給されることにより行座標が検出される
と共に、上記列電極ドライバより上記パネルの列電極に
順次供給される走査パルスが上記検出用導体で検出され
て上記列座標検出部に供給されることにより列座標が検
出されるタブレットにおいて、 上記検出用導体の出力信号のピーク時点を検出するピー
ク時点検出回路を設け、上記パネルの行電極および列電
極の少なくとも一方は、対応する電極ドライバより、同
一パルス幅の走査パルスが、パルス幅よりも短い位相だ
け順次遅れて供給され、上記検出用導体の出力信号がピ
ーク時点に達したとき上記座標検出動作が開始されるこ
とを特徴とするタブレット。
Priority Applications (7)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP32673888A JPH0769763B2 (ja) | 1988-12-24 | 1988-12-24 | タブレット |
| EP89313216A EP0375328B1 (en) | 1988-12-19 | 1989-12-18 | Tablet integrated with display |
| US07/452,243 US5283556A (en) | 1988-12-19 | 1989-12-18 | Tablet integrated with display |
| DE68927877T DE68927877T2 (de) | 1988-12-19 | 1989-12-18 | Tafel mit integrierter Anzeige |
| CA002006038A CA2006038C (en) | 1988-12-19 | 1989-12-19 | Tablet integrated with display |
| US08/089,776 US5418551A (en) | 1988-12-19 | 1993-07-12 | Tablet integrated with display |
| US08/265,015 US5528267A (en) | 1988-12-19 | 1994-06-24 | Tablet integrated with display |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP32673888A JPH0769763B2 (ja) | 1988-12-24 | 1988-12-24 | タブレット |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02171818A JPH02171818A (ja) | 1990-07-03 |
| JPH0769763B2 true JPH0769763B2 (ja) | 1995-07-31 |
Family
ID=18191129
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP32673888A Expired - Fee Related JPH0769763B2 (ja) | 1988-12-19 | 1988-12-24 | タブレット |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0769763B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP5937557B2 (ja) | 2013-09-30 | 2016-06-22 | 株式会社ジャパンディスプレイ | タッチ検出装置、タッチ検出機能付き表示装置、及び電子機器 |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5319380B2 (ja) * | 1972-11-20 | 1978-06-20 |
-
1988
- 1988-12-24 JP JP32673888A patent/JPH0769763B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH02171818A (ja) | 1990-07-03 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |