JPH077177A - 半導体装置 - Google Patents
半導体装置Info
- Publication number
- JPH077177A JPH077177A JP17115093A JP17115093A JPH077177A JP H077177 A JPH077177 A JP H077177A JP 17115093 A JP17115093 A JP 17115093A JP 17115093 A JP17115093 A JP 17115093A JP H077177 A JPH077177 A JP H077177A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- semiconductor device
- insulating substrate
- transparent insulating
- wiring
- light emitting
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B6/00—Light guides; Structural details of arrangements comprising light guides and other optical elements, e.g. couplings
- G02B6/24—Coupling light guides
- G02B6/42—Coupling light guides with opto-electronic elements
- G02B6/43—Arrangements comprising a plurality of opto-electronic elements and associated optical interconnections
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10F—INORGANIC SEMICONDUCTOR DEVICES SENSITIVE TO INFRARED RADIATION, LIGHT, ELECTROMAGNETIC RADIATION OF SHORTER WAVELENGTH OR CORPUSCULAR RADIATION
- H10F77/00—Constructional details of devices covered by this subclass
- H10F77/40—Optical elements or arrangements
- H10F77/407—Optical elements or arrangements indirectly associated with the devices
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Photo Coupler, Interrupter, Optical-To-Optical Conversion Devices (AREA)
- Optical Couplings Of Light Guides (AREA)
- Led Device Packages (AREA)
- Led Devices (AREA)
- Optical Integrated Circuits (AREA)
- Semiconductor Lasers (AREA)
Abstract
の影響を減じることができる半導体装置を提供する。 【構成】 半導体装置30を、光導波路37が形成され
た透明絶縁基板31と、透明絶縁基板31上に貼り付け
られた半導体薄膜32と、半導体薄膜32に形成された
集積回路33と、集積回路33の配線と接続された発光
素子34と、発光素子34と光導波路37を介して光学
的に接続された受光素子36とで構成し、集積回路33
の配線の一部の区間を光導波路37に置き換えて光信号
の伝送を行う。
Description
に詳しくは配線の一部区間を光導波路に置き換えて光に
よる信号伝送を行う半導体装置に関する。
年々高集積化が進み、回路の要素素子同士を電気的に接
続する配線(メタリゼーション)も高密度化している。
しかし、高集積化が進むに伴い、各配線を交差せずに二
次元的に配置するのが困難となり、配線が高集積化の障
害の一つとなりつつある。そこで、三次元的に配線を行
う多層配線が行われるようになった。
線間のコンタクト抵抗の問題、配線材料の問題、上
下配線間を絶縁する絶縁材料の問題及び平坦化(プラ
ナリゼーション)等の形状制御の問題等があり、全て困
難な課題である。
設けられた光学基板(Optical Plate)の
光導波路に置き換え、光学的な信号の伝送を行う技術が
提案されている(Jpn.J.Appl.Phys.V
ol.32(1993),270頁)。この方法では、
図6に示すように、半導体単結晶基板11上に集積回路
12が形成されてなる2枚の集積回路基板10、10の
間に光導波路が形成された石英ガラス等からなる光学基
板20を挟み、各集積回路基板10に設けたレーザ(L
D)13とフォトダイオード(PD)14との間で前記
光学基板20を介して光信号を伝送する。
属配線のみに頼っていた配線の一部を光学的な信号の伝
送に置き換えるという画期的な方法であり、その実用化
が注目されている。
Iの高集積化に伴う問題は、配線の困難性の問題の他に
集積回路基板の構造に起因する問題もあった。すなわ
ち、従来のバルク結晶である半導体単結晶基板に集積回
路を形成してなる集積回路基板の構成では、バルク結晶
上に素子が形成されるので、寄生容量やサイリスタ構造
の生成によるラッチアップ等の寄生効果が現れ、素子の
特性に悪影響を与えていた。高集積化が進むと益々この
ような問題が顕在化し、前述した配線の問題とともに両
者を同時に解決する手段の開発が望まれていた。
に伴う種々の問題に鑑みてなされ、配線の困難性の問題
及び寄生効果等の問題を同時に解決し、効率的で高密度
の配線が可能であり、且つ寄生効果の影響を減じること
ができる半導体装置を提供するものである。
光導波路が形成された透明絶縁基板と、該透明絶縁基板
上に貼り付けられた半導体薄膜と、該半導体薄膜に形成
された集積回路と、該集積回路の配線と接続された発光
素子と、該発光素子と前記光導波路を介して光学的に接
続された受光素子とを有し、前記集積回路の配線の一部
の区間を前記光導波路に置き換えて光による信号伝送を
行う。
ァイア又は窒化アルミニウムからなる。また、前記透明
絶縁基板の前記光導波路上には前記発光素子からの光の
方向を変更する光路変更手段が設けられている。光路変
更手段としては、前記透明絶縁基板中に所定方向を向く
ように形成された斜面を反射性被膜で被覆したものが挙
げられ、反射性被膜は例えば銀等の金属蒸着膜が採用で
きる。
ーラスSiあるいは化合物半導体を用いて作製できる。
また、受光素子としてはフォトダイオードが好適であ
る。なお、発光素子の発光面及び/又は受光素子の受光
面に対応する透明絶縁基板表面にレンズを設けてもよ
く、そのレンズの構成としては例えば透明絶縁基板の表
面領域に高屈折率領域を形成したものが挙げられる。
求の範囲の請求項1ないし請求項9に記載の上記半導体
装置を複数枚積層し、一の半導体装置と他の一の半導体
装置との配線を光信号の伝送により行うようにした。
構造である。すなわち、従来より採用されているバルク
結晶基板上に集積回路部を形成する構成の代りに、絶縁
基板上に半導体単薄膜を形成してその半導体薄膜上に集
積回路を形成した構造(SOI構造:Silicon
on Insulator)を採用したものである。こ
の構造は、バルク結晶上に集積回路部を形成する場合に
問題となる寄生容量の生成やラッチアップ等の寄生効果
の問題が起こらず、デバイスの特性上極めて優れた効果
をもたらす。
基板として透明絶縁基板を用い、光導波路を構成する該
透明絶縁基板を介して光信号を伝送することが可能とな
るので、前述のような従来の配線に伴う問題をも同時に
解決することができる。また、本発明の半導体装置は基
板に電荷を持たないため、高周波の信号に遅れが発生し
ない点でも重要な効果がある。
ラス、サファイア或いは窒化アルミ等の透明絶縁基板
(低温プロセスの場合はコーニンググラスでもよい。)
の表面、内部及び裏面に光導波路を形成した後、この透
明絶縁基板とシリコンウエーハとを貼り合わせた後、シ
リコンウエーハを薄膜化処理してシリコン薄膜層を形成
する。透明絶縁基板とシリコンウエーハとの貼り付け方
法は、結合熱処理を行う方法や、熱処理せずにシリコン
樹脂等の接着剤を用いる方法がある。このシリコン薄膜
層に集積回路部を形成し、同時に光導波路に合致するよ
うにレーザやフォトダイオードを組み合せて作ることに
よって本発明の半導体装置が得られる。
しい光技術の応用である。しかも、絶縁基板にシリコン
ウエーハを貼り合わせる技術を採用することにより、前
述した提案のような集積回路基板と光学基板(オプティ
カルプレート)を別個に設けるのではなく、これらを一
体化して製作するものであり、製作が極めて容易にな
る。また、本発明の半導体装置は、従来の多層配線に見
られるようなコンタクトが存在しないので、コンタクト
抵抗の問題も生じない。しかも、高速動作且つ低消費電
力を実現できる。
マイクロプロセッサを積層する場合には、前述した構成
の半導体装置を複数枚積層し、水平面内と垂直方向を光
導波路で結合するようにする。この場合、特別な光のバ
スラインが必要ないので、配線効率はさらに向上する。
る。図1は本発明の半導体装置の一実施例を示す部分概
略断面図である。本実施例の半導体装置30は、合成石
英ガラス等からなる透明絶縁基板31上にシリコンウエ
ーハを貼り付け、該シリコンウエーハを薄膜化処理して
シリコン薄膜32とし、該シリコン薄膜32に集積回路
33を形成した構成を有する。透明絶縁基板31とシリ
コンウエーハとの貼り付け方法は、前述したように結合
熱処理してもよいし、シリコン樹脂等の接着剤を用いて
貼り付けてもよい。
の電気信号を光信号に変換するレーザ34と、光信号を
電気信号に変換するフォトダイオード36が設けられ、
透明絶縁基板31内の光導波路37にはリフレクター3
5が設けられている。このリフレクター35を適宜設け
ることにより光信号の方向を変え、これによってレーザ
34から所望位置のフォトダイオード36への光信号の
伝送が可能となる。
透明絶縁基板31の裏面を部分的に削って斜面35aを
形成し、この斜面35aに例えば銀蒸着膜35bを形成
した構造となっている。また、図3に示すように、透明
絶縁基板31の裏面にリフレクター35を形成した後、
該透明絶縁基板31の裏面上にさらにSiO2膜38を
スパッタにより形成してリフレクター35を形成するこ
とにより、水平位置の異なるリフレクター35、35を
形成することができる。
めに、レーザ34及びフォトダイオード36の発光面及
び受光面直下の透明絶縁基板31表面にマイクロレンズ
39を設けてもよい。その構造は、図4に示すように、
例えばTl+を導入して高屈折率部を形成してマイクロ
レンズ39を構成する。この場合、透明絶縁基板31は
Na又はKを含む多成分石英ガラスが好ましい。このマ
イクロレンズ39により高い集光効果が得られ、伝送効
率がさらに向上する。
ミニウム等による金属配線と透明絶縁基板31の光導波
路37を用いた光による配線を組み合わせた配線構造を
有するので、従来の多層配線における問題を解決した理
想的な構造である。特に、複数の異なる波長の光を用い
る等により光の多重通信が可能となるので、同一光導波
路を用いて複数の異なる信号を伝送することができる。
従って、極めて高い配線密度を達成できる。
重ねた構成を有する積層半導体装置40を示す。この積
層半導体装置40の構成は、ニューロンシステムのよう
な多数のマイクロプロセッサを積層する場合に応用でき
る。この構成例においても従来のように層間のコンタク
ト抵抗が問題となることなく、極めて効率的な配線が可
能となる。
構成を示したが、本発明は上記実施例に限定されること
なく、本発明の趣旨を逸脱しない範囲で上記実施例の条
件や構成を変更することが可能であることは言うまでも
ない。例えば上記実施例では光路の変更手段として斜面
に金属蒸着したリフレクターを用いたが、その他の適当
な手段に置き換えることができる。また、発光素子や受
光素子についても光信号の伝送が行える限りあらゆるも
のが使用できる。
SIの高集積化に伴う配線の困難性の問題及び寄生効果
等の問題を同時に解決し、効率的で高密度の配線が可能
となり、且つデバイスに悪影響を与える寄生効果を減じ
ることができる。
断面図である。
ある。
ある。
である。
である。
である。
Claims (10)
- 【請求項1】 光導波路が形成された透明絶縁基板と、
該透明絶縁基板上に貼り付けられた半導体薄膜と、該半
導体薄膜に形成された集積回路と、該集積回路の配線と
接続された発光素子と、該発光素子と前記光導波路を介
して光学的に接続された受光素子とを有し、前記集積回
路の配線の一部の区間を前記光導波路に置き換えて光に
よる信号伝送を行うことを特徴とする半導体装置。 - 【請求項2】 前記透明絶縁基板は石英ガラス、サファ
イア又は窒化アルミニウムのいずれかからなる請求項1
に記載の半導体装置。 - 【請求項3】 前記透明絶縁基板の前記光導波路上に前
記発光素子からの光の方向を変更する光路変更手段が設
けられている、請求項1又は請求項2に記載の半導体装
置。 - 【請求項4】 前記光路変更手段は、前記透明絶縁基板
中に所定方向を向くように形成された斜面を反射性被膜
で被覆してなるものである、請求項3に記載の半導体装
置。 - 【請求項5】 前記反射性被膜は金属蒸着膜である請求
項4に記載の半導体装置。 - 【請求項6】 前記発光素子はレーザである請求項1な
いし請求項5のいずれか1項に記載の半導体装置。 - 【請求項7】 前記受光素子はフォトダイオードである
請求項1ないし請求項6のいずれか1項に記載の半導体
装置。 - 【請求項8】 前記発光素子の発光面及び/又は前記受
光素子の受光面に対応する前記透明絶縁基板の表面にレ
ンズが設けられている請求項1ないし請求項7のいずれ
か1項に記載の半導体装置。 - 【請求項9】 前記レンズは前記透明絶縁基板の表面領
域に形成された高屈折率領域からなる請求項8に記載の
半導体装置。 - 【請求項10】 請求項1ないし請求項9に記載の半導
体装置を複数枚積層し、前記複数枚の半導体装置の一の
半導体装置と他の一の半導体装置との配線を光信号の伝
送による行うことを特徴とする積層半導体装置。
Priority Applications (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP17115093A JP3244205B2 (ja) | 1993-06-17 | 1993-06-17 | 半導体装置 |
| US08/258,637 US5485021A (en) | 1993-06-17 | 1994-06-10 | Semiconductor device with optical waveguides to achieve signal transmission using optical means |
| EP94109118A EP0630057A3 (en) | 1993-06-17 | 1994-06-14 | A semiconductor device with optical waveguides to achieve signal transmission using optical means |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP17115093A JP3244205B2 (ja) | 1993-06-17 | 1993-06-17 | 半導体装置 |
Related Child Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2001206997A Division JP2002124661A (ja) | 2001-07-06 | 2001-07-06 | 半導体装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH077177A true JPH077177A (ja) | 1995-01-10 |
| JP3244205B2 JP3244205B2 (ja) | 2002-01-07 |
Family
ID=15917922
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP17115093A Expired - Lifetime JP3244205B2 (ja) | 1993-06-17 | 1993-06-17 | 半導体装置 |
Country Status (3)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5485021A (ja) |
| EP (1) | EP0630057A3 (ja) |
| JP (1) | JP3244205B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6449432B1 (en) | 1999-06-30 | 2002-09-10 | Asahi Kogaku Kogyo Kabushiki Kaisha | Device for correcting a tremble of a focused image and a camera which is provided with the same |
Families Citing this family (82)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| GB2315595B (en) * | 1997-02-07 | 1998-06-10 | Bookham Technology Ltd | Device for re-directing light fromoptical waveguide |
| US5987196A (en) * | 1997-11-06 | 1999-11-16 | Micron Technology, Inc. | Semiconductor structure having an optical signal path in a substrate and method for forming the same |
| US6330376B1 (en) | 1997-12-19 | 2001-12-11 | Intel Corporation | Higher order rejection method and apparatus for optical modulator |
| US6075908A (en) * | 1997-12-19 | 2000-06-13 | Intel Corporation | Method and apparatus for optically modulating light through the back side of an integrated circuit die |
| US6374003B1 (en) | 1997-12-19 | 2002-04-16 | Intel Corporation | Method and apparatus for optically modulating light through the back side of an integrated circuit die using a plurality of optical beams |
| US6052498A (en) * | 1997-12-19 | 2000-04-18 | Intel Corporation | Method and apparatus providing an optical input/output bus through the back side of an integrated circuit die |
| US6393169B1 (en) | 1997-12-19 | 2002-05-21 | Intel Corporation | Method and apparatus for providing optical interconnection |
| US6049639A (en) * | 1997-12-19 | 2000-04-11 | Intel Corporation | Method and apparatus providing optical input/output through the back side of an integrated circuit die |
| JPH11274546A (ja) * | 1998-03-20 | 1999-10-08 | Oki Electric Ind Co Ltd | 半導体受光素子 |
| US6587605B2 (en) | 1999-01-06 | 2003-07-01 | Intel Corporation | Method and apparatus for providing optical interconnection |
| US6301401B1 (en) | 1999-04-02 | 2001-10-09 | Convergence Technologies, Ltd. | Electro-optical package for reducing parasitic effects |
| DE19917950A1 (de) * | 1999-04-21 | 2000-10-26 | Heidenhain Gmbh Dr Johannes | Integrierter optoelektronischer Dünnschichtsensor und Verfahren zu dessen Herstellung |
| US6243508B1 (en) | 1999-06-01 | 2001-06-05 | Picolight Incorporated | Electro-opto-mechanical assembly for coupling a light source or receiver to an optical waveguide |
| US6215577B1 (en) | 1999-10-25 | 2001-04-10 | Intel Corporation | Method and apparatus for optically modulating an optical beam with a multi-pass wave-guided optical modulator |
| US6501092B1 (en) | 1999-10-25 | 2002-12-31 | Intel Corporation | Integrated semiconductor superlattice optical modulator |
| US6268953B1 (en) | 1999-12-02 | 2001-07-31 | Intel Corporation | Method and apparatus for optically modulating an optical beam with long interaction length optical modulator |
| US6351326B1 (en) | 1999-12-14 | 2002-02-26 | Intel Corporation | Method and apparatus for optically modulating light utilizing a resonant cavity structure |
| US6392257B1 (en) | 2000-02-10 | 2002-05-21 | Motorola Inc. | Semiconductor structure, semiconductor device, communicating device, integrated circuit, and process for fabricating the same |
| US6693033B2 (en) | 2000-02-10 | 2004-02-17 | Motorola, Inc. | Method of removing an amorphous oxide from a monocrystalline surface |
| KR20030011083A (ko) | 2000-05-31 | 2003-02-06 | 모토로라 인코포레이티드 | 반도체 디바이스 및 이를 제조하기 위한 방법 |
| JP2002033503A (ja) | 2000-07-13 | 2002-01-31 | Oki Electric Ind Co Ltd | 半導体受光素子 |
| AU2001277001A1 (en) | 2000-07-24 | 2002-02-05 | Motorola, Inc. | Heterojunction tunneling diodes and process for fabricating same |
| US6638838B1 (en) | 2000-10-02 | 2003-10-28 | Motorola, Inc. | Semiconductor structure including a partially annealed layer and method of forming the same |
| US20020096683A1 (en) | 2001-01-19 | 2002-07-25 | Motorola, Inc. | Structure and method for fabricating GaN devices utilizing the formation of a compliant substrate |
| US6673646B2 (en) | 2001-02-28 | 2004-01-06 | Motorola, Inc. | Growth of compound semiconductor structures on patterned oxide films and process for fabricating same |
| WO2002082551A1 (en) | 2001-04-02 | 2002-10-17 | Motorola, Inc. | A semiconductor structure exhibiting reduced leakage current |
| US6603889B2 (en) | 2001-05-17 | 2003-08-05 | Optronx, Inc. | Optical deflector apparatus and associated method |
| US6690844B2 (en) | 2001-05-17 | 2004-02-10 | Optronx, Inc. | Optical fiber apparatus and associated method |
| US6608945B2 (en) | 2001-05-17 | 2003-08-19 | Optronx, Inc. | Self-aligning modulator method and associated apparatus |
| US6654511B2 (en) | 2001-05-17 | 2003-11-25 | Sioptical, Inc. | Optical modulator apparatus and associated method |
| US6646747B2 (en) | 2001-05-17 | 2003-11-11 | Sioptical, Inc. | Interferometer apparatus and associated method |
| US6947615B2 (en) | 2001-05-17 | 2005-09-20 | Sioptical, Inc. | Optical lens apparatus and associated method |
| US6912330B2 (en) | 2001-05-17 | 2005-06-28 | Sioptical Inc. | Integrated optical/electronic circuits and associated methods of simultaneous generation thereof |
| US6625348B2 (en) | 2001-05-17 | 2003-09-23 | Optron X, Inc. | Programmable delay generator apparatus and associated method |
| US6891685B2 (en) * | 2001-05-17 | 2005-05-10 | Sioptical, Inc. | Anisotropic etching of optical components |
| US6748125B2 (en) | 2001-05-17 | 2004-06-08 | Sioptical, Inc. | Electronic semiconductor control of light in optical waveguide |
| US6493502B1 (en) | 2001-05-17 | 2002-12-10 | Optronx, Inc. | Dynamic gain equalizer method and associated apparatus |
| US6526187B1 (en) | 2001-05-17 | 2003-02-25 | Optronx, Inc. | Polarization control apparatus and associated method |
| US20020181827A1 (en) * | 2001-06-01 | 2002-12-05 | Motorola, Inc. | Optically-communicating integrated circuits |
| US6709989B2 (en) | 2001-06-21 | 2004-03-23 | Motorola, Inc. | Method for fabricating a semiconductor structure including a metal oxide interface with silicon |
| US6992321B2 (en) | 2001-07-13 | 2006-01-31 | Motorola, Inc. | Structure and method for fabricating semiconductor structures and devices utilizing piezoelectric materials |
| US20030015716A1 (en) * | 2001-07-17 | 2003-01-23 | Motorola, Inc. | Structure and method for fabricating an optical bus |
| US6646293B2 (en) | 2001-07-18 | 2003-11-11 | Motorola, Inc. | Structure for fabricating high electron mobility transistors utilizing the formation of complaint substrates |
| US7019332B2 (en) | 2001-07-20 | 2006-03-28 | Freescale Semiconductor, Inc. | Fabrication of a wavelength locker within a semiconductor structure |
| US6693298B2 (en) | 2001-07-20 | 2004-02-17 | Motorola, Inc. | Structure and method for fabricating epitaxial semiconductor on insulator (SOI) structures and devices utilizing the formation of a compliant substrate for materials used to form same |
| US6855992B2 (en) | 2001-07-24 | 2005-02-15 | Motorola Inc. | Structure and method for fabricating configurable transistor devices utilizing the formation of a compliant substrate for materials used to form the same |
| US6667196B2 (en) | 2001-07-25 | 2003-12-23 | Motorola, Inc. | Method for real-time monitoring and controlling perovskite oxide film growth and semiconductor structure formed using the method |
| US6639249B2 (en) | 2001-08-06 | 2003-10-28 | Motorola, Inc. | Structure and method for fabrication for a solid-state lighting device |
| US6589856B2 (en) | 2001-08-06 | 2003-07-08 | Motorola, Inc. | Method and apparatus for controlling anti-phase domains in semiconductor structures and devices |
| US20030034491A1 (en) | 2001-08-14 | 2003-02-20 | Motorola, Inc. | Structure and method for fabricating semiconductor structures and devices for detecting an object |
| US6673667B2 (en) | 2001-08-15 | 2004-01-06 | Motorola, Inc. | Method for manufacturing a substantially integral monolithic apparatus including a plurality of semiconductor materials |
| US20030071327A1 (en) | 2001-10-17 | 2003-04-17 | Motorola, Inc. | Method and apparatus utilizing monocrystalline insulator |
| US7343535B2 (en) * | 2002-02-06 | 2008-03-11 | Avago Technologies General Ip Dte Ltd | Embedded testing capability for integrated serializer/deserializers |
| JP3833131B2 (ja) * | 2002-03-25 | 2006-10-11 | キヤノン株式会社 | 光伝送装置 |
| US6916717B2 (en) | 2002-05-03 | 2005-07-12 | Motorola, Inc. | Method for growing a monocrystalline oxide layer and for fabricating a semiconductor device on a monocrystalline substrate |
| US20040012978A1 (en) * | 2002-07-18 | 2004-01-22 | Yutaka Doi | Direct deposition waveguide mirror |
| US7072534B2 (en) * | 2002-07-22 | 2006-07-04 | Applied Materials, Inc. | Optical ready substrates |
| US20050072979A1 (en) * | 2002-07-22 | 2005-04-07 | Applied Materials, Inc. | Optical-ready wafers |
| US7110629B2 (en) * | 2002-07-22 | 2006-09-19 | Applied Materials, Inc. | Optical ready substrates |
| US7043106B2 (en) * | 2002-07-22 | 2006-05-09 | Applied Materials, Inc. | Optical ready wafers |
| US6963061B2 (en) * | 2002-08-15 | 2005-11-08 | Motorola, Inc. | Orthogonal coupled transceiver |
| US7239337B2 (en) * | 2002-11-13 | 2007-07-03 | Oki Data Corporation | Combined semiconductor apparatus with thin semiconductor films |
| US7169619B2 (en) | 2002-11-19 | 2007-01-30 | Freescale Semiconductor, Inc. | Method for fabricating semiconductor structures on vicinal substrates using a low temperature, low pressure, alkaline earth metal-rich process |
| US6885065B2 (en) | 2002-11-20 | 2005-04-26 | Freescale Semiconductor, Inc. | Ferromagnetic semiconductor structure and method for forming the same |
| US7020374B2 (en) | 2003-02-03 | 2006-03-28 | Freescale Semiconductor, Inc. | Optical waveguide structure and method for fabricating the same |
| US6965128B2 (en) | 2003-02-03 | 2005-11-15 | Freescale Semiconductor, Inc. | Structure and method for fabricating semiconductor microresonator devices |
| US20040245538A1 (en) * | 2003-06-06 | 2004-12-09 | Xiaolin Wang | Double sided optoelectronic integrated circuit |
| US20050016446A1 (en) | 2003-07-23 | 2005-01-27 | Abbott John S. | CaF2 lenses with reduced birefringence |
| US6953990B2 (en) * | 2003-09-19 | 2005-10-11 | Agilent Technologies, Inc. | Wafer-level packaging of optoelectronic devices |
| US7520679B2 (en) * | 2003-09-19 | 2009-04-21 | Avago Technologies Fiber Ip (Singapore) Pte. Ltd. | Optical device package with turning mirror and alignment post |
| US20050063648A1 (en) * | 2003-09-19 | 2005-03-24 | Wilson Robert Edward | Alignment post for optical subassemblies made with cylindrical rods, tubes, spheres, or similar features |
| US20050063431A1 (en) * | 2003-09-19 | 2005-03-24 | Gallup Kendra J. | Integrated optics and electronics |
| US6982437B2 (en) * | 2003-09-19 | 2006-01-03 | Agilent Technologies, Inc. | Surface emitting laser package having integrated optical element and alignment post |
| US20050213995A1 (en) * | 2004-03-26 | 2005-09-29 | Myunghee Lee | Low power and low jitter optical receiver for fiber optic communication link |
| WO2007027615A1 (en) * | 2005-09-01 | 2007-03-08 | Applied Materials, Inc. | Ridge technique for fabricating an optical detector and an optical waveguide |
| CN101535859B (zh) * | 2006-09-13 | 2012-05-02 | 埃迪斯科文大学 | 光学连接组件 |
| EP2138882A3 (en) * | 2008-06-24 | 2012-02-22 | CSEM Centre Suisse d'Electronique et de Microtechnique SA - Recherche et Développement | Optical device generating light by luminescence coupled to an optical waveguide |
| KR20130008299A (ko) * | 2011-07-12 | 2013-01-22 | 삼성전자주식회사 | 반도체 장치 |
| US8988770B2 (en) * | 2013-03-14 | 2015-03-24 | Oracle International Corporation | Hybrid optical source with semiconductor reflector |
| US10439720B2 (en) | 2017-05-19 | 2019-10-08 | Adolite Inc. | FPC-based optical interconnect module on glass interposer |
| KR102059968B1 (ko) * | 2018-04-05 | 2019-12-27 | 한국과학기술연구원 | 중적외선을 이용한 반도체 칩간 광통신 기술 |
| US20200035862A1 (en) * | 2018-07-26 | 2020-01-30 | Bolb Inc. | Light-emitting device with optical power readout |
Family Cites Families (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5159700A (en) * | 1984-01-16 | 1992-10-27 | Texas Instruments Incorporated | Substrate with optical communication systems between chips mounted thereon and monolithic integration of optical I/O on silicon substrates |
| JPS61121014A (ja) * | 1984-11-16 | 1986-06-09 | Nec Corp | 光・電気混成集積回路 |
| DE3834335A1 (de) * | 1988-10-08 | 1990-04-12 | Telefunken Systemtechnik | Halbleiterschaltung |
| US5200631A (en) * | 1991-08-06 | 1993-04-06 | International Business Machines Corporation | High speed optical interconnect |
-
1993
- 1993-06-17 JP JP17115093A patent/JP3244205B2/ja not_active Expired - Lifetime
-
1994
- 1994-06-10 US US08/258,637 patent/US5485021A/en not_active Expired - Lifetime
- 1994-06-14 EP EP94109118A patent/EP0630057A3/en not_active Withdrawn
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6449432B1 (en) | 1999-06-30 | 2002-09-10 | Asahi Kogaku Kogyo Kabushiki Kaisha | Device for correcting a tremble of a focused image and a camera which is provided with the same |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| EP0630057A3 (en) | 1998-05-13 |
| US5485021A (en) | 1996-01-16 |
| EP0630057A2 (en) | 1994-12-21 |
| JP3244205B2 (ja) | 2002-01-07 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JP3244205B2 (ja) | 半導体装置 | |
| US12085769B2 (en) | Integrated circuit device and method | |
| US11728894B2 (en) | Optically-enhanced multichip packaging | |
| US6785447B2 (en) | Single and multilayer waveguides and fabrication process | |
| US20190189603A1 (en) | Direct-bonded optoelectronic interconnect for high-density integrated photonics | |
| US8796811B2 (en) | Hybrid substrateless device with enhanced tuning efficiency | |
| TWI585477B (zh) | 倒轉、無基板式晶片上之光學裝置 | |
| CN106299084A (zh) | Led倒装芯片封装基板和led封装结构 | |
| WO2006084237A9 (en) | Vertical stacking of multiple integrated circuits including soi-based optical components | |
| US12189262B2 (en) | Integrated plasmonic modulator | |
| TW561288B (en) | Passively aligned fiber optical engine for parallel optics interconnect devices | |
| US12210197B2 (en) | High efficiency vertical grating coupler for flip-chip application | |
| JPH053748B2 (ja) | ||
| US20250199256A1 (en) | Optical chip and preparation method for optical chip | |
| TWI549259B (zh) | 全集成主被動積體光學於矽基積體電路及其製作方法 | |
| JP2002124661A (ja) | 半導体装置 | |
| JP2002258080A (ja) | 光・電気複合回路 | |
| US10605985B2 (en) | Integration of bonded optoelectronics, photonics waveguide and VLSI SOI | |
| US20250347878A1 (en) | Optical devices and methods of manufacture | |
| JPH04302176A (ja) | 半導体装置 | |
| CN120178411A (zh) | 光芯片和光芯片的制备方法 | |
| JPH1114832A (ja) | 透明光学基板、光相互接続集積回路装置およびその作製方法 | |
| JPH05243545A (ja) | 半導体装置及びその製造方法 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20071026 Year of fee payment: 6 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20081026 Year of fee payment: 7 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20081026 Year of fee payment: 7 |
|
| S531 | Written request for registration of change of domicile |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313531 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20081026 Year of fee payment: 7 |
|
| R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20091026 Year of fee payment: 8 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20101026 Year of fee payment: 9 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20111026 Year of fee payment: 10 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20121026 Year of fee payment: 11 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20131026 Year of fee payment: 12 |
|
| EXPY | Cancellation because of completion of term |