JPH0773754A - Manufacturing method of conductive member and manufacturing method of electronic circuit board - Google Patents
Manufacturing method of conductive member and manufacturing method of electronic circuit boardInfo
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 本発明は導電部材の製造方法及び電子回路基
板の製造方法の改善に関し、補修用の部材と基板との接
着の際に、流動性の接着剤に依存することなく、絶縁性
及び導電性良くそれを移植することを目的とする。
【構成】 導電部材の製造方法は、フィルム状基板の一
方の面に接着層を形成する工程と、フィルム状基板の他
の面に導電パターンを形成する工程と、接着層,フィル
ム状基板及び導電パターンが形成された積層部材を切断
する工程とを有し、接着層及びフィルム状基板が耐熱ポ
リイミド樹脂系材料から成ることを含む。電子回路基板
の製造方法は既存の導電部材を取り除く工程と、導電部
材が除かれた領域を掘削して溝部を形成する工程と、溝
部に他の導電部材を熱接着する工程とを有し、他の導電
部材には、予め、接着層,フィルム状基板及び導電パタ
ーンが積層された接着性部材を用いることを含む。
(57) [Abstract] [Object] The present invention relates to an improvement in a method for manufacturing a conductive member and a method for manufacturing an electronic circuit board, which depends on a fluid adhesive when bonding a repair member and a board. Instead, it aims to implant it with good insulation and conductivity. A method of manufacturing a conductive member includes a step of forming an adhesive layer on one surface of a film substrate, a step of forming a conductive pattern on the other surface of the film substrate, an adhesive layer, a film substrate and a conductive material. And a step of cutting the laminated member on which the pattern is formed, wherein the adhesive layer and the film-shaped substrate are made of a heat-resistant polyimide resin material. The method for manufacturing an electronic circuit board includes a step of removing an existing conductive member, a step of forming a groove by excavating a region where the conductive member is removed, and a step of thermally bonding another conductive member to the groove, The other conductive member includes using an adhesive member in which an adhesive layer, a film substrate and a conductive pattern are laminated in advance.
Description
【0001】〔目次〕 産業上の利用分野 従来の技術(図7) 発明が解決しようとする課題 課題を解決するための手段 作用 実施例 (1)第1の実施例の説明(図1〜3) (2)第2の実施例の説明(図4,5) (3)第3の実施例の説明(図6) 発明の効果[Table of Contents] Industrial Application Field of the Prior Art (FIG. 7) Problem to be Solved by the Invention Means for Solving the Problem Action Example (1) Description of First Example (FIGS. 1 to 3) ) (2) Description of the second embodiment (FIGS. 4 and 5) (3) Description of the third embodiment (FIG. 6)
【0002】[0002]
【産業上の利用分野】本発明は、導電部材の製造方法及
び電子回路基板の製造方法に関するものであり、更に詳
しく言えば、薄膜多層配線基板に欠損や設計変更が生じ
た際に、そこに補修用の配線やパッドを移植する方法の
改善に関するものである。近年,コンピュータ,映像処
理装置等の電子機器の高速化及び多機能化に伴い、電子
部品を回路基板に高密度に実装する要求がある。そこ
で、半導体素子の多層配線技術と同様に回路基板におい
ても、その多層化と配線の微細化が進んでいる。例え
ば、ベアチップ実装に対応可能なマルチチップモジュー
ル(MCM)の開発が盛んに行われ、大型のコンピュー
タなどでは、低誘電率の樹脂材料を積層する薄膜多層配
線基板が開発されている。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a method of manufacturing a conductive member and a method of manufacturing an electronic circuit board, and more specifically, to a thin film multilayer wiring board when a defect or a design change occurs. The present invention relates to improvement of a method for transplanting repair wiring and pads. In recent years, as electronic devices such as computers and image processing devices have become faster and more multifunctional, there has been a demand for mounting electronic components on a circuit board at a high density. Therefore, similar to the multi-layer wiring technology of semiconductor elements, in the circuit board, the multi-layering and wiring miniaturization are progressing. For example, a multi-chip module (MCM) compatible with bare chip mounting has been actively developed, and in a large computer or the like, a thin film multilayer wiring board in which a resin material having a low dielectric constant is laminated has been developed.
【0003】この薄膜法による基板開発によれば、絶縁
膜として用いられる樹脂の低誘電率化にあわせて配線密
度が増加をする。特に、小型集積化するチップやI/O
ピンを高密度に実装する場合に、インターフェース的な
役割をもつ回路基板の配線パッドが基板自身の軽薄短小
化に相まって高密度化をしている。一方、電子部品を確
実に薄膜多層配線基板に実装するためには、基板表面配
線の欠損は決して許されるものではない。高密度微細に
配線を施す技術の支えとして、万が一配線や電極等が欠
損した場合に備えて、信頼性のおける簡便な配線修復技
術が求められている。また、設計変更に伴う配線接続変
更等にも適用できる修復技術が要求される。According to the development of the substrate by the thin film method, the wiring density increases as the resin used as the insulating film has a lower dielectric constant. In particular, miniaturized chips and I / O
When the pins are mounted at high density, the wiring pads of the circuit board, which plays a role as an interface, are densified due to the miniaturization of the board itself. On the other hand, in order to surely mount the electronic component on the thin-film multilayer wiring board, the loss of the wiring on the surface of the board is never allowed. As a support for the technique of providing high-density and fine wiring, a reliable and simple wiring restoration technique is required in case of loss of wiring or electrodes. In addition, a repair technique that can be applied to a wiring connection change accompanying a design change is required.
【0004】そこで、欠損あるいは設計変更箇所の表面
配線を除去し、予め用意してある交換移植用配線を移植
接着することができる製造方法が望まれている。Therefore, there is a demand for a manufacturing method capable of removing the surface wiring at a defective portion or a design-changed portion and transplanting and bonding a replacement transplantation wiring prepared in advance.
【0005】[0005]
【従来の技術】図7は、従来例に係る説明図である。図
7(A)は、従来例に係るバッドの補修工程図であり、
図7(B)は、従来例に係る配線の補修工程図をそれぞ
れ示している。例えば、大型のコンピュータに使用され
る薄膜多層配線基板のパッドを補修する場合、図7
(A)に示すように、まず、欠損パッド2を基板1Aか
ら取り外す。ここで、欠損パッド2はエキシマレーザ等
により除去し、良品パッド3はそのまま基板1Aに残し
て置く。欠損パッド2を取り外した部分には溝部を形成
する。この際の溝部は深さ数μm,開口幅数百μm程度
の微細なものである。2. Description of the Related Art FIG. 7 is an explanatory diagram according to a conventional example. FIG. 7A is a repair process diagram of a pad according to a conventional example,
FIG. 7B shows a wiring repair process diagram according to the conventional example. For example, in the case of repairing a pad of a thin film multilayer wiring board used for a large computer, FIG.
As shown in (A), first, the defective pad 2 is removed from the substrate 1A. Here, the defective pad 2 is removed by an excimer laser or the like, and the good pad 3 is left as it is on the substrate 1A. A groove is formed in the portion where the defective pad 2 is removed. At this time, the groove portion is a fine one having a depth of several μm and an opening width of several hundred μm.
【0006】その後、エポキシ系の接着剤4を溝部に充
填する。この際のエポキシ系の接着剤4は絶縁材料であ
り、マイクロディスペンサ等により当該溝部に滴下され
る。そして、補修用パッド5を基板1Aに接着する。こ
れにより、薄膜多層配線基板のパッドが補修される。ま
た、薄膜多層配線基板の配線を補修する場合には、図7
(B)に示すように、まず、欠損部分Xの配線7を基板
6から取り除く。ここで、良品部分の配線7はそのまま
基板1Aに残して置き、それを取り除いた部分に溝部を
形成する。Thereafter, the epoxy adhesive 4 is filled in the groove. At this time, the epoxy adhesive 4 is an insulating material and is dropped in the groove by a micro dispenser or the like. Then, the repair pad 5 is bonded to the substrate 1A. As a result, the pad of the thin film multilayer wiring board is repaired. In addition, when repairing the wiring of the thin-film multilayer wiring board,
As shown in (B), first, the wiring 7 in the defective portion X is removed from the substrate 6. Here, the wiring 7 of the non-defective portion is left as it is on the substrate 1A, and a groove portion is formed in the portion where the wiring 7 is removed.
【0007】その後、エポキシ系の接着剤8を溝部に充
填して、補修用の配線9を基板1Aに接着する。次に、
既存の配線7と補修用の配線9との隙間をハンダ付け等
をする。これにより、薄膜多層配線基板の配線7が補修
される。After that, an epoxy adhesive 8 is filled in the groove to bond the repair wiring 9 to the substrate 1A. next,
The gap between the existing wiring 7 and the repair wiring 9 is soldered or the like. As a result, the wiring 7 of the thin-film multilayer wiring board is repaired.
【0008】[0008]
【発明が解決しようとする課題】ところで、従来例によ
れば、欠損パッド2が取り外された溝部や、欠損部分X
の配線7が取り除かれた溝部に、エポキシ系の接着剤4
や8が充填される。このため、次のような問題がある。 エポキシ系の接着剤4や8は耐熱性接着剤である
が、加熱雰囲気200 °C以上で使用できるものが少な
く、300 °C以上で使用できるものは無いといっても過
言ではない(工業材料1991,7月別冊 39巻9号)。By the way, according to the conventional example, the groove portion from which the defective pad 2 is removed and the defective portion X are removed.
Epoxy adhesive 4 in the groove from which the wiring 7 of
And 8 are filled. Therefore, there are the following problems. Epoxy adhesives 4 and 8 are heat resistant adhesives, but few can be used in a heating atmosphere of 200 ° C or higher, and it is no exaggeration to say that there is no one that can be used in 300 ° C or higher (industrial materials 1991, July separate volume 39, No. 9).
【0009】このため、接着工程後のチップ表面実装時
の半田工程に耐えられず、補修部分が熱破壊を起こす恐
れがある。これは、半田工程において長い時間300 °C
以上の加熱雰囲気に基板1A,6が曝されるためであ
る。これにより、エポキシ系の接着剤4や8が不安定な
状態となる。その熱分解が進むと、配線9と基板1Aと
の間の接着力が低下をしたり、当該接着剤4や8の絶縁
抵抗が劣化をする等の危険をともなう。For this reason, the soldering process cannot be endured during the chip surface mounting after the bonding process, and the repaired part may be thermally destroyed. This is a long time of 300 ° C in the soldering process.
This is because the substrates 1A and 6 are exposed to the above heating atmosphere. As a result, the epoxy adhesives 4 and 8 become unstable. When the thermal decomposition progresses, there is a risk that the adhesive force between the wiring 9 and the substrate 1A will be reduced, or the insulation resistance of the adhesive 4 or 8 will be deteriorated.
【0010】 図7,(A),(B)において、エポ
キシ系の接着剤4や8を溝部に充填する際に、マイクロ
ディスペンサ等を使用している。これは、当該接着剤4
や8を微小面積の溝部に微小量を塗布するためである。
しかし、補修用のパッド5や配線9を移植した際に、過
剰な接着剤4や8が溝部から外部に流れ出すことがあ
る。これにより、それが隣接配線を被服してしまう恐れ
があった。これは、高密度,微細化する中で欠損部分X
の配線と隣接配線との距離が非常に短いためである。In FIGS. 7, (A) and (B), a micro dispenser or the like is used when the epoxy adhesive 4 or 8 is filled in the groove. This is the adhesive 4
This is to apply a small amount of No. 8 to the groove portion having a very small area.
However, when the repairing pad 5 or wiring 9 is transplanted, excess adhesive 4 or 8 may flow out from the groove. This could cause it to coat adjacent wiring. This is due to the high density and miniaturization of the defective portion X.
This is because the distance between the wiring and the adjacent wiring is very short.
【0011】また、エポキシ系の接着剤はある程度,粘
度が高いほうが接着性の点で良い。しかし、その粘度が
あまり高いとインジェクタの針が詰まってしまい、接着
剤の供給が不可能となる。 図7(B)において、配線7と補修用の配線9との
隙間の導通を採るために、ハンダ付け等を行わなければ
ならない。しかし、エポキシ系の接着剤(以下流動性の
接着剤という)4や8が溝部から這い上がって、両配線
間に7,9に介在して接触抵抗が大きくなったり、そこ
が後に断線の原因となる恐れがある。In addition, it is preferable that the epoxy adhesive has a high viscosity to some extent in terms of adhesiveness. However, if the viscosity is too high, the needle of the injector will be clogged, making it impossible to supply the adhesive. In FIG. 7B, soldering or the like must be performed in order to establish conduction in the gap between the wiring 7 and the repair wiring 9. However, epoxy-based adhesives (hereinafter referred to as fluid adhesives) 4 and 8 crawl up from the groove, and intervene between both wirings 7 and 9 to increase the contact resistance, which may cause disconnection later. There is a risk that
【0012】本発明は、かかる従来例の問題点に鑑み創
作されたものであり、補修用の部材と基板との接着の際
に、流動性の接着剤に依存することなく、絶縁性及び導
電性良く当該部材を移植することが可能となる導電材料
の製造方法及び電子回路基板の製造方法の提供を目的と
する。The present invention was created in view of the problems of the conventional example, and when the repair member and the substrate are adhered to each other, the insulating property and the conductive property do not depend on the fluid adhesive. It is an object of the present invention to provide a method for manufacturing a conductive material and a method for manufacturing an electronic circuit board, which enables good transplantation of the member.
【0013】[0013]
【課題を解決するための手段】本発明の導電部材の製造
方法は図2及び図4に、その実施例をそれぞれ示すよう
に、フィルム状基板の一方の面に接着層を形成する工程
と、前記フィルム状基板の他の面に導電パターンを形成
する工程と、前記接着層,フィルム状基板及び導電パタ
ーンが形成された積層部材を切断する工程とを有し、前
記接着層及びフィルム状基板が耐熱ポリイミド樹脂系材
料から成ることを特徴とする。A method of manufacturing a conductive member according to the present invention comprises a step of forming an adhesive layer on one surface of a film substrate as shown in FIGS. The method has a step of forming a conductive pattern on the other surface of the film-like substrate, and a step of cutting the laminated member on which the adhesive layer, the film-like substrate and the conductive pattern are formed, wherein the adhesive layer and the film-like substrate are It is characterized by being made of a heat-resistant polyimide resin material.
【0014】また、本発明の電子回路基板の第1の製造
方法は図1,3及び図5に、その実施例をそれぞれ示す
ように、既存の導電部材を取り除く工程と、前記導電部
材が除かれた領域を掘削して溝部を形成する工程と、前
記溝部に他の導電部材を熱接着する工程とを有し、前記
他の導電部材には、本発明の導電部材の製造方法により
形成された接着性部材が用いられることを特徴とする。The first method of manufacturing an electronic circuit board according to the present invention, as shown in FIGS. 1, 3 and 5, respectively, shows a step of removing an existing conductive member and a step of removing the conductive member. The method has a step of forming a groove by excavating the formed region and a step of thermally adhering another conductive member to the groove, and the other conductive member is formed by the method for manufacturing a conductive member of the present invention. The adhesive member is used.
【0015】さらに、本発明の電子回路基板の第2の製
造方法は図6に、その実施例を示すように、既存の導電
部材を取り除く工程と、前記導電部材が除かれた領域を
掘削して溝部を形成する工程と、前記溝部に両面接着フ
ィルムを形成する工程と、前記両面接着フィルム上に他
の導電部材を熱接着する工程とを有することを特徴とす
る。Furthermore, the second method of manufacturing an electronic circuit board of the present invention, as shown in FIG. 6, shows a step of removing an existing conductive member and excavating a region where the conductive member is removed. And a step of forming a double-sided adhesive film in the groove, and a step of thermally adhering another conductive member onto the double-sided adhesive film.
【0016】なお、本発明の電子回路基板の第1,第2
の製造方法において、前記熱接着の工程の後に、前記既
存の導電部材と他の導電部材とを接合する工程を有する
ことを特徴とし、上記目的を達成する。The first and second electronic circuit boards of the present invention are provided.
In the manufacturing method described above, there is a step of joining the existing conductive member and another conductive member after the step of thermal bonding, and the above object is achieved.
【0017】[0017]
【作用】本発明の導電部材の製造方法は図2(A)に示
すように、耐熱ポリイミド樹脂系材料から成るフィルム
状基板の一方の面に、同様な材料から成る接着層を形成
している。このため、接着層,フィルム状基板及び導電
パターンが形成された積層部材を切断すると、補修用の
配線やパッド等の接着性部材を製造することが可能とな
る。なお、当該補修用の配線やパッドは、従来例と異な
り、その導電パターンの下部に接着層が予め設けられた
形態を有している。In the method of manufacturing a conductive member of the present invention, as shown in FIG. 2A, an adhesive layer made of a similar material is formed on one surface of a film substrate made of a heat-resistant polyimide resin material. . Therefore, by cutting the laminated member on which the adhesive layer, the film-shaped substrate, and the conductive pattern are formed, it is possible to manufacture an adhesive member such as a repair wiring or pad. Unlike the conventional example, the repair wiring or pad has a form in which an adhesive layer is previously provided under the conductive pattern.
【0018】本発明の電子回路基板の第1の製造方法は
図3(B)に示すように、補修用の導電部材を溝部に熱
接着する際に、本発明の導電部材から成る接着性部材が
用いられる。このため、微小面積の溝部に流動性の接着
剤を塗布する工程が省略される。また、従来例のような
マイクロディスペンサ等を使用する必要がない。これに
より、回路基板が高密度化,微細化に伴い、例えば、欠
損部分の配線と隣接配線との距離が非常に短くなった場
合であっても、従来例のような過剰な接着剤が溝部から
外部に流れ出すという状態も起きず、隣接配線を被服し
てしまうという恐れもない。As shown in FIG. 3 (B), the first method of manufacturing an electronic circuit board of the present invention is an adhesive member made of the conductive member of the present invention when the repair conductive member is thermally bonded to the groove. Is used. Therefore, the step of applying the fluid adhesive to the groove portion having a minute area is omitted. Further, it is not necessary to use a micro dispenser or the like as in the conventional example. As a result, as the circuit board becomes denser and finer, for example, even when the distance between the wiring in the defective portion and the adjacent wiring becomes extremely short, excessive adhesive as in the conventional example causes the groove portion There is no possibility that it will flow out from the outside, and there is no fear of covering adjacent wiring.
【0019】なお、ポリイミド樹脂系材料から形成され
た接着性部材では、後工程の300 °C以上の加熱雰囲気
に十分耐えられる。例えば、チップ表面実装時の半田工
程において、300 °C以上の加熱雰囲気に基板が比較的
長い間,曝されても、ポリイミド樹脂系の接着層が安定
な状態を維持する。このため、その接着力が維持され、
絶縁抵抗も良好な状態を維持する。An adhesive member formed of a polyimide resin material can sufficiently withstand a heating atmosphere of 300 ° C. or higher in a subsequent step. For example, in the soldering process when mounting the surface of a chip, even if the substrate is exposed to a heating atmosphere of 300 ° C. or higher for a relatively long time, the polyimide resin adhesive layer maintains a stable state. Therefore, its adhesive strength is maintained,
The insulation resistance also remains in good condition.
【0020】さらに、本発明の電子回路基板の第2の製
造方法は図6の実施例に示すように、例えば、不良な導
電部材を除いた領域が掘削され、その溝部に両面接着フ
ィルムが形成される。このため、第1の製造方法と同様
に、周辺の配線や電極に悪影響を与えずに両面接着フィ
ルム上に補修用のパッドや配線等の他の導電部材を接着
することが可能となる。その後に、既存の導電部材と他
の導電部材とが,例えば、レーザ加工法により、両部材
間が直接,局部加熱され、それが溶融接合される。Further, in the second method of manufacturing an electronic circuit board of the present invention, as shown in the embodiment of FIG. 6, for example, a region excluding a defective conductive member is excavated, and a double-sided adhesive film is formed in the groove. To be done. Therefore, similar to the first manufacturing method, it is possible to bond other conductive members such as repair pads and wires on the double-sided adhesive film without adversely affecting the surrounding wires and electrodes. After that, the existing conductive member and the other conductive member are locally heated directly between the two members by, for example, a laser processing method, and are melt-bonded.
【0021】これにより、再現性良く、かつ、絶縁性及
び導電性良く他の導電部材を移植することが可能とな
る。また、両部材の導通を確実かつ堅固に採ることが可
能となる。As a result, it becomes possible to implant another conductive member with good reproducibility and good insulation and conductivity. In addition, it is possible to reliably and firmly establish conduction between both members.
【0022】[0022]
【実施例】次に、図を参照しながら本発明の実施例につ
いて説明をする。図1〜6は、本発明の各実施例に係る
導電部材の製造方法及び電子回路基板の製造方法を説明
する図である。 (1)第1の実施例の説明 図1(A)〜(C)は、本発明の各実施例に係る薄膜多
層回路基板の説明図であり、図1(A)は、その平面図
であり、図1(B)は、その良品パッドの平面図であ
り、図1(C)は、その不良品パッドの平面図をそれぞ
れ示している。Embodiments of the present invention will now be described with reference to the drawings. 1 to 6 are diagrams illustrating a method of manufacturing a conductive member and a method of manufacturing an electronic circuit board according to each example of the present invention. (1) Description of First Embodiment FIGS. 1A to 1C are explanatory views of a thin film multilayer circuit board according to each embodiment of the present invention, and FIG. 1A is a plan view thereof. Yes, FIG. 1B is a plan view of the non-defective pad, and FIG. 1C is a plan view of the defective pad.
【0023】例えば、大型のコンピュータに使用可能な
薄膜多層配線基板は、図1(A)において、回路基板10
0 に数百〜数千のパッド101 や数μm間隔の表層配線10
2 が設けられて成る。回路基板100 はセラミックスや樹
脂系基板から成る。パッド101 は、実装部品103 ,例え
ば、半導体集積回路(以下LSIという)装置を接続す
る電極である。表層配線102 は、回路基板100 の多層配
線層に接続される。For example, a thin film multilayer wiring board that can be used in a large computer is shown in FIG.
Hundreds to thousands of pads 101 and surface wirings at intervals of several μm 10
2 are provided. The circuit board 100 is made of a ceramic or resin substrate. The pad 101 is an electrode for connecting the mounting component 103, for example, a semiconductor integrated circuit (hereinafter referred to as LSI) device. The surface wiring 102 is connected to the multilayer wiring layer of the circuit board 100.
【0024】図1(B)において、良品パッド101 は、
数字の「8」のパターンを部分的に分割した形状から成
る。分割パターン部には、実装部品103 の入出力電極が
接合される。八角形のパターン部は、外部配線や、回路
基板内の多層配線層に接続される。なお、図1(C)
は、不良品パッド104 であり、実装変更や、実装不具合
により誤って生じ、八角形のパターン部が欠損した状態
を示している。In FIG. 1B, the non-defective pad 101 is
It consists of a shape obtained by partially dividing the pattern of the numeral "8". The input / output electrodes of the mounting component 103 are joined to the division pattern portion. The octagonal pattern portion is connected to external wiring or a multilayer wiring layer in the circuit board. Note that FIG. 1 (C)
The defective pad 104 indicates a state in which the octagonal pattern portion is missing due to a change in mounting or a mounting defect.
【0025】次に、このような設計変更や、欠損部分を
補修する場合の移植方法について説明をする。図2
(A)〜(C)は、本発明の第1の実施例に係る補修用
パッドの形成工程図であり、図3(A)〜(C)は、本
発明の第1の実施例に係る補修用パッドの移植工程図を
それぞれ示している。例えば、図3(B)に示すような
接着性補修パッド14Aを形成する場合、図2(A)にお
いて、まず、ガラス基板11上にポリイミド接着剤12
を塗布する。次いで、当該接着層上にベースフィルム
(フィルム状基板)13を形成する。その後、130°
C,30分関程度で基板11を加熱し、ポリイミド接着
剤12を仮硬化させる。Next, an explanation will be given of such a design change and a transplanting method for repairing a defective portion. Figure 2
3A to 3C are process diagrams of forming a repair pad according to the first embodiment of the present invention, and FIGS. 3A to 3C are related to the first embodiment of the present invention. The transplanting process drawing of the repair pad is shown, respectively. For example, in the case of forming the adhesive repair pad 14A as shown in FIG. 3 (B), in FIG. 2 (A), first, the polyimide adhesive 12 is formed on the glass substrate 11.
Apply. Then, a base film (film-like substrate) 13 is formed on the adhesive layer. Then 130 °
The substrate 11 is heated for about 30 minutes at C, and the polyimide adhesive 12 is temporarily cured.
【0026】ここで、べースフィルム13には、厚さ
7.5μm程度のポリイミドフィルム(東レ,デュポ
ン,カプトン製)を使用する。接着剤12には、末端付
加型のポリイミド24%のジクライム溶液(カネボウN
SC製,商品名サーミッドIP−600)を用いる。両
材料は共に、300°C以上で良好な耐熱性を有し、ま
た、電気的な絶縁性を有する。Here, a polyimide film (made by Toray, DuPont, Kapton) having a thickness of about 7.5 μm is used as the base film 13. For the adhesive 12, a dicryme solution containing 24% of end-added type polyimide (Kanebo N
SC product, trade name IPM-600) is used. Both materials have good heat resistance at 300 ° C. or higher and also have electrical insulation.
【0027】次に、図2(B)において、べースフィル
ム13上に銅やアルミニウム等の金属薄膜14を形成
し、その後、補修パッドパターン(導電パターン)14A
を形成する。次いで、図2(C)において、ポリイミド
接着剤12,べースフィルム13及び補修パッドパター
ン14Aが形成された積層部材を切断する。この積層部材
の厚さは5μm程度である。例えば、切断方法は、補修
パッドパターンが形成されているマスクを介してレーザ
加工をする。このパターンの形状は一辺が240μmの
正八角形と一辺が310μmの正八角形とが複合した
「8」の字状である。この際のパターン加工及び素子分
離は、KrFエキシマレーザにより行う。Next, referring to FIG. 2B, a metal thin film 14 such as copper or aluminum is formed on the base film 13, and then a repair pad pattern (conductive pattern) 14A is formed.
To form. Next, in FIG. 2C, the laminated member on which the polyimide adhesive 12, the base film 13 and the repair pad pattern 14A are formed is cut. The thickness of this laminated member is about 5 μm. For example, as a cutting method, laser processing is performed through a mask on which a repair pad pattern is formed. The shape of this pattern is a "8" shape in which a regular octagon having a side of 240 μm and a regular octagon having a side of 310 μm are combined. The pattern processing and element separation at this time are performed by a KrF excimer laser.
【0028】これにより、ポリイミド接着剤12,べー
スフィルム13及び補修パッドパターン14Aから成る接
着性補修パッド14Aを形成することができる。なお、配
線入りの接着性補修パッド14Aを形成する場合には、マ
スクを用いたエキシマレーザにより加工方法の他に、フ
ォトリソグラフィによる加工方法等が考えられる。次
に、図1(C)に示すような不良パッド104 を良品パッ
ド101 に置き換える場合、図3(A)において、回路基
板100 から不図示の不良パッドを取り除く。その後、不
良パッドが除かれた領域を掘削して溝部15を形成す
る。ここで、溝部15は開口幅400×400μm□程
度である。不良パッドの除去方法は、被加工部が開口さ
れた誘電体ミラーマスクを用い、エキシマレーザ等によ
りエッチングする。As a result, the adhesive repair pad 14A composed of the polyimide adhesive 12, the base film 13 and the repair pad pattern 14A can be formed. In addition, when forming the adhesive repair pad 14A with wiring, a processing method by photolithography or the like can be considered in addition to the processing method by the excimer laser using a mask. Next, when replacing the defective pad 104 shown in FIG. 1C with the non-defective pad 101, the defective pad (not shown) is removed from the circuit board 100 in FIG. 3A. After that, the region where the defective pad is removed is excavated to form the groove portion 15. Here, the groove portion 15 has an opening width of about 400 × 400 μm □. As a method of removing the defective pad, etching is performed by an excimer laser or the like using a dielectric mirror mask having an opening to be processed.
【0029】さらに、図3(B)において、溝部15に
接着性補修パッド14Aを熱接着する。ここで、接着性補
修パッド14Aには、本発明の第1の実施例により形成さ
れた接着性部材を用いる。ここで、回路基板100 の溝部
15に接着性補修パッド14Aを載置し、このパッド14A
上から加熱装置により、局部的に加圧熱着する。温度は
315°C程度である。これにより、当該補修パッド14
Aが仮りに押さえられる。その後、当該基板100 を熱処
理装置に導入する。この際の加熱条件は、170°C,
15分の初期加熱と、250°C,60分の継続加熱で
ある。Further, in FIG. 3B, the adhesive repair pad 14A is thermally bonded to the groove portion 15. Here, the adhesive repair pad 14A uses the adhesive member formed according to the first embodiment of the present invention. Here, the adhesive repair pad 14A is placed in the groove portion 15 of the circuit board 100, and the pad 14A
From above, a heating device is used to locally apply heat under pressure. The temperature is about 315 ° C. As a result, the repair pad 14
A is temporarily pressed. Then, the substrate 100 is introduced into the heat treatment apparatus. The heating conditions at this time are 170 ° C,
Initial heating for 15 minutes and continuous heating at 250 ° C. for 60 minutes.
【0030】次いで、図3(C)において、補修パッド
14Aと他のパッド等との間をワイヤボンディングする。
これにより、図1(C)に示すような不良パッド104 が
良品パッド101 に置き換えられる。このようにして、本
発明の第1の実施例に係る導電部材の製造方法によれ
ば、図2(A)に示すように、べースフィルム13の一
方の面に、ポリイミド接着剤12を形成している。Next, referring to FIG. 3C, the repair pad
Wire-bond between 14A and other pads.
As a result, the defective pad 104 shown in FIG. 1C is replaced with the non-defective pad 101. Thus, according to the method for manufacturing a conductive member according to the first embodiment of the present invention, as shown in FIG. 2A, the polyimide adhesive 12 is formed on one surface of the base film 13. ing.
【0031】このため、ポリイミド接着剤12,べース
フィルム13及び補修パッドパターンが形成された積層
部材を切断すると、接着性補修パッド14Aを製造するこ
とが可能となる。なお、当該補修パッド14Aは従来例と
異なり、その下部に接着層12が予め設けられた形態を
有している。これにより、従来例のようなエポキシ系の
接着剤に依存しない接着処理を行うことが可能となる。Therefore, when the laminated member on which the polyimide adhesive 12, the base film 13 and the repair pad pattern are formed is cut, the adhesive repair pad 14A can be manufactured. Unlike the conventional example, the repair pad 14A has a form in which the adhesive layer 12 is previously provided under the repair pad 14A. As a result, it becomes possible to perform the adhesive treatment that does not depend on the epoxy adhesive as in the conventional example.
【0032】また、本発明の第1の実施例に係る薄膜多
層回路基板の製造方法によれば、図3(B)に示すよう
に、不良パッド104 を取り除いて、良品パッド101 を移
植する際に、本発明の第1の実施例に係る接着性補修パ
ッド14Aが用いられる。このため、微小面積の溝部15
にエポキシ系の接着剤を塗布する工程が省略される。ま
た、従来例のようなマイクロディスペンサ等を使用する
必要がない。これにより、回路基板100 の高密度化,微
細化に伴い、例えば、欠損部分のパッドと隣接パッドと
の距離が非常に短くなった場合であっても、従来例のよ
うな過剰な接着剤が溝部から外部に流れ出すという状態
も起きず、隣接パッドを被服してしまうという恐れもな
い。According to the method of manufacturing a thin film multilayer circuit board according to the first embodiment of the present invention, when the defective pad 104 is removed and the non-defective pad 101 is transplanted, as shown in FIG. 3B. Further, the adhesive repair pad 14A according to the first embodiment of the present invention is used. Therefore, the groove 15 having a small area
The step of applying an epoxy-based adhesive to is omitted. Further, it is not necessary to use a micro dispenser or the like as in the conventional example. As a result, as the circuit board 100 becomes higher in density and finer, for example, even if the distance between the pad at the defective portion and the adjacent pad becomes extremely short, an excessive adhesive as in the conventional example will not be applied. There is no possibility of flowing out of the groove to the outside, and there is no fear of covering the adjacent pad.
【0033】なお、ポリイミド樹脂系材料から形成され
た接着性補修パッド14Aでは、後工程の300 °C以上の
加熱雰囲気に十分耐えられる。例えば、チップ表面実装
時の半田工程において、300 °C以上の加熱雰囲気に基
板100 が比較的長い間,曝されても、ポリイミド接着剤
12が安定な状態を維持する。このため、その接着力
(100kgf/cm2 以上)が維持され、絶縁抵抗も
良好な状態が維持される。The adhesive repair pad 14A made of a polyimide resin material can sufficiently withstand a heating atmosphere of 300 ° C. or higher in the subsequent step. For example, in the soldering process at the time of chip surface mounting, the polyimide adhesive 12 maintains a stable state even if the substrate 100 is exposed to a heating atmosphere of 300 ° C. or higher for a relatively long time. Therefore, the adhesive force (100 kgf / cm 2 or more) is maintained and the insulation resistance is maintained in a good state.
【0034】これにより、万が一パッド101 が欠損した
場合や、その他の設計変更に伴い配線接続を変更する場
合にも、信頼性良くかつ簡便に接着性補修パッド14Aに
よりその修復を行うことが可能となる。 (2)第2の実施例の説明 図4(A)〜(C)は、本発明の第2の実施例に係る補
修用配線の形成工程図であり、図5(A)〜(C)は、
本発明の第2の実施例に係る補修用配線の移植工程図を
それぞれ示している。As a result, even if the pad 101 is lost or if the wiring connection is changed due to other design changes, the adhesive repair pad 14A can be repaired reliably and easily. Become. (2) Description of Second Embodiment FIGS. 4A to 4C are process diagrams of forming a repair wiring according to a second embodiment of the present invention, and FIGS. Is
The transplanting process drawing of the repair wiring which concerns on the 2nd Example of this invention is each shown.
【0035】例えば、図5(B)に示すような接着性補
修配線(以下微細配線ユニットという)24Aを形成する
場合、図4(A)において、まず、第1の実施例と同様
にガラス基板21上にポリイミド接着剤22を塗布す
る。次に、当該接着層上にベースフィルム23を形成す
る。その後、130°C,30分間程度で基板21を加
熱し、ポリイミド接着剤22を仮硬化させる。For example, in the case of forming adhesive repair wiring (hereinafter referred to as a fine wiring unit) 24A as shown in FIG. 5 (B), in FIG. 4 (A), first, as in the first embodiment, the glass substrate is used. Polyimide adhesive 22 is applied onto 21. Next, the base film 23 is formed on the adhesive layer. Then, the substrate 21 is heated at 130 ° C. for about 30 minutes to temporarily cure the polyimide adhesive 22.
【0036】ここで、べースフィルム23には、厚さ1
2.5μm程度のポリイミドフィルムを使用する。接着剤
22には、末端付加型のポリイミド24%のジクライム
溶液を用いる。接着剤22の厚さは10μm程度であ
る。商品名等は第1の実施例と同様である。次に、図4
(B)において、べースフィルム23上に銅やアルミニ
ウム等の金属薄膜を形成し、その後、補修配線パターン
(導電パターン)24Aを形成する。Here, the base film 23 has a thickness of 1
Use a polyimide film of about 2.5 μm. As the adhesive 22, a dicryme solution containing 24% of end-added type polyimide is used. The thickness of the adhesive 22 is about 10 μm. Product names and the like are the same as those in the first embodiment. Next, FIG.
In (B), a metal thin film such as copper or aluminum is formed on the base film 23, and then a repair wiring pattern (conductive pattern) 24A is formed.
【0037】次いで、図4(C)において、ポリイミド
接着剤22,べースフィルム23及び補修配線パターン
24Aが形成された積層部材を切断する。この積層部材の
厚さは42.5μm程度である。切断方法はマスクを介して
KrFエキシマレーザにより行う。これにより、ポリイ
ミド接着剤22,べースフィルム23及び補修配線パタ
ーン24から成る微細配線ユニット24Aを形成すること
ができる。Next, referring to FIG. 4C, the polyimide adhesive 22, the base film 23 and the repair wiring pattern are formed.
The laminated member on which 24A is formed is cut. The thickness of this laminated member is about 42.5 μm. The cutting method is performed by a KrF excimer laser through a mask. Thereby, the fine wiring unit 24A including the polyimide adhesive 22, the base film 23 and the repair wiring pattern 24 can be formed.
【0038】次に、図7(B)に示したような欠損部分
Xの配線7を良品の配線に置き換える場合、図5(A)
において、回路基板100 から不図示の不良配線を取り除
く。その後、不良配線が除かれた領域を掘削して溝部2
5を形成する。ここで、不良配線の除去方法は、第1の
実施例と同様に、被加工部が開口されたマスクを用い、
エキシマレーザ等によりエッチングする。Next, in the case where the wiring 7 of the defective portion X as shown in FIG. 7B is replaced with a non-defective wiring, FIG.
At, the defective wiring (not shown) is removed from the circuit board 100. After that, excavating the area where the defective wiring is removed, the groove 2
5 is formed. Here, as in the first embodiment, the method for removing the defective wiring uses a mask in which the processed portion is opened,
Etching is performed with an excimer laser or the like.
【0039】さらに、図5(B)において、溝部25に
微細配線ユニット24Aを熱接着する。ここで、当該ユニ
ット24Aには、本発明の第2の実施例により形成された
接着性補修配線を用いる。例えば、図5(C)におい
て、回路基板100 の溝部25に微細配線ユニット24Aを
載置し、この配線24A上から加熱装置により、局部的に
加圧熱着する。温度は315°C程度である。これによ
り、当該補修配線24Aが仮りに押さえられる。その後、
当該基板100 を熱処理装置に導入する。この際の加熱条
件は、第1の実施例と同様である。Further, in FIG. 5B, the fine wiring unit 24A is thermally bonded to the groove portion 25. Here, the unit 24A uses the adhesive repair wiring formed according to the second embodiment of the present invention. For example, in FIG. 5C, the fine wiring unit 24A is placed in the groove 25 of the circuit board 100, and the wiring 24A is locally pressurized and heat-bonded by a heating device. The temperature is about 315 ° C. As a result, the repair wiring 24A is temporarily pressed. afterwards,
The substrate 100 is introduced into a heat treatment device. The heating conditions at this time are the same as those in the first embodiment.
【0040】次いで、図5(D)において、補修配線24
Aと他の配線102 等との間を熱融合する。この際に、配
線金属の接合部位にYAGレーザを収束させ、配線金属
自体を溶解させ、その間の回路結線を行う。これによ
り、図7(B)に示したような欠損部分Xの配線7が良
品配線102 となる。このようにして、本発明の第2の実
施例に係る導電部材の製造方法によれば、図4(A)に
示すように、べースフィルム23の一方の面に、ポリイ
ミド接着剤22を形成している。Next, referring to FIG. 5D, the repair wiring 24
Thermal fusion is performed between A and the other wiring 102 and the like. At this time, the YAG laser is focused on the joint portion of the wiring metal, the wiring metal itself is melted, and the circuit connection between them is performed. As a result, the wiring 7 in the defective portion X as shown in FIG. 7B becomes the non-defective wiring 102. In this way, according to the method for manufacturing a conductive member according to the second embodiment of the present invention, the polyimide adhesive 22 is formed on one surface of the base film 23 as shown in FIG. 4 (A). ing.
【0041】このため、ポリイミド接着剤22,べース
フィルム23及び補修配線パターンが形成された積層部
材を切断すると、微細配線ユニット24Aを製造すること
が可能となる。これにより、従来例のようなエポキシ系
の接着剤に依存しない配線移植処理を行うことが可能と
なる。また、本発明の第2の実施例に係る薄膜多層回路
基板の製造方法によれば、図5(B)に示すように、微
細配線ユニット24Aが用いられる。Therefore, by cutting the polyimide adhesive 22, the base film 23, and the laminated member on which the repair wiring pattern is formed, the fine wiring unit 24A can be manufactured. As a result, it becomes possible to perform a wiring transplantation process that does not depend on the epoxy adhesive as in the conventional example. Further, according to the method of manufacturing a thin film multilayer circuit board according to the second embodiment of the present invention, the fine wiring unit 24A is used as shown in FIG. 5 (B).
【0042】このため、従来例のような微小面積の溝部
25にエポキシ系の接着剤を塗布する工程が省略され
る。また、回路基板100 の高密度化,微細化に伴い、例
えば、欠損部分の配線と隣接配線との距離が非常に短く
なった場合であっても、従来例のような過剰な接着剤が
溝部から外部に流れ出すという状態も起きず、隣接配線
を被服してしまうという恐れもない。なお、本発明の実
施例により100 μm以下の微細配線等の移植が可能にな
った。Therefore, the step of applying the epoxy adhesive to the groove 25 having a small area as in the conventional example is omitted. In addition, as the circuit board 100 becomes higher in density and finer, for example, even if the distance between the wiring in the defective portion and the adjacent wiring becomes very short, excessive adhesive as in the conventional example may cause the groove portion to be damaged. There is no possibility that it will flow out from the outside, and there is no fear of covering adjacent wiring. In addition, according to the embodiment of the present invention, it is possible to transplant a fine wiring of 100 μm or less.
【0043】また、ポリイミド樹脂系材料から形成され
た微細配線ユニット24Aでは、第1の実施例と同様に、
チップ表面実装時の半田工程において、300 °C以上の
加熱雰囲気に十分耐えられ、その接着力(100kgf
/cm2 以上)が維持され、移植された部位の導通性も
良好であった。これにより、万が一配線102 が欠損した
場合や、その他の設計変更に伴い配線接続を変更する場
合にも、信頼性良くかつ簡便に微細配線ユニット24Aに
よりその修復を行うことが可能となる。Further, in the fine wiring unit 24A formed of a polyimide resin material, as in the first embodiment,
In the soldering process when mounting the surface of a chip, it can withstand a heating atmosphere of 300 ° C or higher and its adhesive strength (100 kgf
/ Cm 2 or more) was maintained, and the conductivity at the transplanted site was also good. As a result, even if the wiring 102 is lost or the wiring connection is changed due to other design changes, the fine wiring unit 24A can repair the wiring reliably and easily.
【0044】(3)第3の実施例の説明 図6は、本発明の第3の実施例に係る補修用パッドの移
植工程図である。なお、第1,第2の実施例と異なるは
第3の実施例では補修用パッドと接着層とが溝部で一体
形成されるものである。例えば、図1(C)に示すよう
な不良パッド104 を良品パッド37に置き換える場合、
図6(A)において、回路基板100 から不図示の不良パ
ッドを取り除く。その後、不良パッドが除かれた領域を
掘削して溝部35を形成する。ここで、溝部35は開口
幅400×400μm□程度である。不良パッドの除去
方法は、被加工部が開口された誘電体ミラーマスクを用
い、エキシマレーザ等によりエッチングする。(3) Description of the Third Embodiment FIG. 6 is a process drawing of the repair pad implantation according to the third embodiment of the present invention. The third embodiment is different from the first and second embodiments in that the repair pad and the adhesive layer are integrally formed in the groove. For example, when replacing the defective pad 104 as shown in FIG.
In FIG. 6A, a defective pad (not shown) is removed from the circuit board 100. After that, the region where the defective pad is removed is excavated to form the groove 35. Here, the groove portion 35 has an opening width of about 400 × 400 μm □. As a method of removing the defective pad, etching is performed by an excimer laser or the like using a dielectric mirror mask having an opening to be processed.
【0045】さらに、図6(B)において、溝部35に
両面接着フィルム36を載置する。ここで、当該フィル
ム36はべースポリイミドフィルム36Bの両面にポリイ
ミド系の接着層36Aが形成されたものである。大きさ
は、溝部35の開口幅より小さくなるように切断をす
る。その後、両面接着フィルム36上に補修用パッド3
7を載置する。Further, in FIG. 6B, a double-sided adhesive film 36 is placed in the groove 35. Here, the film 36 is a base polyimide film 36B on which polyimide adhesive layers 36A are formed on both sides. The size is cut so that it is smaller than the opening width of the groove 35. After that, the repair pad 3 is placed on the double-sided adhesive film 36.
Place 7.
【0046】次いで、図6(C)において、補修用パッ
ド37と基板100 とを両面接着フィルム36を介して熱
接着する。ここで、補修用パッド37上から加熱装置に
より、局部的に加圧熱着する。温度は315°C程度で
ある。これにより、当該補修パッド37が仮りに押さえ
られる。その後、当該基板100 を熱処理装置に導入す
る。この際の加熱条件は、第1の実施例と同様である。Next, as shown in FIG. 6C, the repair pad 37 and the substrate 100 are thermally bonded together via the double-sided adhesive film 36. At this point, pressure is locally applied to the repair pad 37 by a heating device. The temperature is about 315 ° C. As a result, the repair pad 37 is temporarily pressed. Then, the substrate 100 is introduced into the heat treatment apparatus. The heating conditions at this time are the same as those in the first embodiment.
【0047】その後、補修パッド37と他のパッド等と
の間を金線38等により接合する。金線38はワイヤー
ボンディング法等により行う。これにより、図1(C)
に示すような不良パッド104 が良品パッド37に置き換
えられる。このようにして、本発明の第3の実施例に係
る薄膜多層回路基板の製造方法によれば、図6(A)に
おいて、不良パッドを除いた領域が掘削され、その溝部
35に両面接着フィルム36が形成される。After that, the repair pad 37 and other pads or the like are joined by a gold wire 38 or the like. The gold wire 38 is formed by a wire bonding method or the like. As a result, FIG. 1 (C)
The defective pad 104 as shown in FIG. Thus, according to the method for manufacturing a thin-film multilayer circuit board according to the third embodiment of the present invention, the area excluding the defective pad is excavated in FIG. 36 is formed.
【0048】このため、第1の実施例と同様に、周辺の
配線や電極に悪影響を与えずに両面接着フィルム36上
に補修用パッド37を接着することが可能となる。その
後に、既存のパッドと補修用パッド37とが,例えば、
ワイヤボンディング法によりそれが半田付けされる。こ
れにより、再現性良く、かつ、絶縁性及び導電性良く補
修用パッドを移植することが可能となる。また、両部材
の導通を確実かつ堅固に採ることが可能となる。なお、
従来例のような、溝部35から外部に接着剤等の這い上
がりが生じない。このことで、信頼性の良い薄膜多層配
線基板を製造すること、及び、生産歩留りの向上を図る
ことが可能となる。Therefore, as in the first embodiment, the repair pad 37 can be adhered onto the double-sided adhesive film 36 without adversely affecting the peripheral wiring and electrodes. After that, the existing pad and the repair pad 37 are, for example,
It is soldered by the wire bonding method. This makes it possible to implant the repair pad with good reproducibility and good insulation and conductivity. In addition, it is possible to reliably and firmly establish conduction between both members. In addition,
Unlike the conventional example, the creeping-up of the adhesive or the like does not occur from the groove portion 35 to the outside. This makes it possible to manufacture a reliable thin-film multilayer wiring board and to improve the production yield.
【0049】[0049]
【発明の効果】以上説明したように、本発明の導電部材
の製造方法によれば、耐熱ポリイミド樹脂系のフィルム
状基板の一方の面に、同様な樹脂系の接着層を形成して
いる。このため、微細化する補修用の配線やパッド等の
接着性部材を製造することができ、その接着の際の流動
性の接着剤が不要となる。As described above, according to the method for manufacturing a conductive member of the present invention, a similar resin adhesive layer is formed on one surface of a heat-resistant polyimide resin film substrate. For this reason, it is possible to manufacture adhesive members such as repair wiring and pads that are miniaturized, and a fluid adhesive is not required at the time of bonding.
【0050】また、本発明の電子回路基板の製造方法に
よれば、補修用の導電部材を熱接着する際に、本発明の
製造方法による接着性部材が用いられる。このため、万
が一配線や電極等が欠損した場合や、設計変更をする場
合に、簡易に部材修復を行うことが可能となる。また、
回路基板の高密度化,微細化に伴い部材ピッチが非常に
短くなった場合であっても、接着性部材を再現性良く移
植することができる。Further, according to the method of manufacturing the electronic circuit board of the present invention, the adhesive member produced by the method of the present invention is used when the conductive member for repair is thermally bonded. Therefore, in the unlikely event that the wiring, the electrode, or the like is lost, or the design is changed, it becomes possible to easily repair the member. Also,
Even if the member pitch becomes extremely short due to the high density and miniaturization of the circuit board, the adhesive member can be transplanted with good reproducibility.
【0051】さらに、本発明の電子回路基板の他の製造
方法によれば、不良部分の導電部材を除いた領域が掘削
され、その溝部に両面接着フィルムが形成される。この
ため、周辺の配線や電極に悪影響を与えずに、配線や電
極等の導電部材を移植することが可能となる。なお、ポ
リイミド樹脂系の接着性部材では、300 °C以上の加熱
雰囲気に十分耐えられ、しかも、接着性,絶縁性に富
み、接合部の良好な導電性を確保することが可能とな
る。Furthermore, according to another method of manufacturing an electronic circuit board of the present invention, the area of the defective portion excluding the conductive member is excavated, and the double-sided adhesive film is formed in the groove. For this reason, it becomes possible to transplant a conductive member such as wiring or electrodes without adversely affecting the wiring or electrodes in the periphery. It should be noted that the polyimide resin adhesive member can sufficiently withstand a heating atmosphere of 300 ° C. or higher, is excellent in adhesiveness and insulation, and can secure good conductivity of the joint portion.
【0052】これにより、信頼性の良い薄膜多層配線基
板を製造すること、及び、生産歩留りの向上に寄与する
ところが大きい。This greatly contributes to the production of a reliable thin film multilayer wiring board and the improvement of the production yield.
【図1】本発明の各実施例に係る薄膜多層回路基板の説
明図である。FIG. 1 is an explanatory diagram of a thin film multilayer circuit board according to each embodiment of the present invention.
【図2】本発明の第1の実施例に係る補修用パッドの形
成工程図である。FIG. 2 is a process drawing of forming a repair pad according to the first embodiment of the present invention.
【図3】本発明の第1の実施例に係る補修用パッドの移
植工程図である。FIG. 3 is a process diagram of implanting the repair pad according to the first embodiment of the present invention.
【図4】本発明の第2の実施例に係る補修用配線の形成
工程図である。FIG. 4 is a process drawing of the repair wiring according to the second embodiment of the present invention.
【図5】本発明の第2の実施例に係る補修用配線の移植
工程図である。FIG. 5 is a process drawing of the repair wiring according to the second embodiment of the present invention.
【図6】本発明の第3の実施例に係る補修用パッドの移
植工程図である。FIG. 6 is a transplant process drawing of a repair pad according to a third embodiment of the present invention.
【図7】従来例に係る微細回路基板の補修方法の説明図
である。FIG. 7 is an explanatory diagram of a method of repairing a fine circuit board according to a conventional example.
11,21…ガラス基板、 12,22…ポリイミド系接着剤、 13,23…ベースフィルム、 14,24…金属薄膜、 14A…接着性補修用パッド、 37…補修用パッド 24A…接着性補修用配線(微細配線ユニット)、 15,25,35…溝部、 36…両面接着フィルム。 11, 21 ... Glass substrate, 12, 22 ... Polyimide adhesive, 13, 23 ... Base film, 14, 24 ... Metal thin film, 14A ... Adhesive repair pad, 37 ... Repair pad 24A ... Adhesive repair wiring (Fine wiring unit), 15, 25, 35 ... Groove portion, 36 ... Double-sided adhesive film.
Claims (4)
成する工程と、前記フィルム状基板の他の面に導電パタ
ーンを形成する工程と、前記接着層,フィルム状基板及
び導電パターンが形成された積層部材を切断する工程と
を有し、 前記接着層及びフィルム状基板が耐熱ポリイミド樹脂系
材料から成ることを特徴とする導電部材の製造方法。1. A step of forming an adhesive layer on one surface of a film substrate, a step of forming a conductive pattern on the other surface of the film substrate, and forming the adhesive layer, the film substrate and a conductive pattern. And a step of cutting the formed laminated member, wherein the adhesive layer and the film-shaped substrate are made of a heat-resistant polyimide resin-based material.
導電部材が除かれた領域を掘削して溝部を形成する工程
と、前記溝部に他の導電部材を熱接着する工程とを有
し、 前記他の導電部材には、請求項1の導電部材の製造方法
により形成された接着性部材が用いられることを特徴と
する電子回路基板の製造方法。2. A step of removing an existing conductive member, a step of excavating a region where the conductive member is removed to form a groove portion, and a step of thermally adhering another conductive member to the groove portion, The method for manufacturing an electronic circuit board, wherein the adhesive member formed by the method for manufacturing a conductive member according to claim 1 is used as the other conductive member.
導電部材が除かれた領域を掘削して溝部を形成する工程
と、前記溝部に両面接着フィルムを形成する工程と、前
記両面接着フィルム上に他の導電部材を熱接着する工程
とを有することを特徴とする電子回路基板の製造方法。3. A step of removing an existing conductive member, a step of excavating a region where the conductive member is removed to form a groove, a step of forming a double-sided adhesive film in the groove, and a step of forming the double-sided adhesive film on the double-sided adhesive film. And a step of thermally adhering another conductive member to the electronic circuit board.
方法において、前記熱接着の工程の後に、前記既存の導
電部材と他の導電部材とを接合する工程を有することを
特徴とする電子回路基板の製造方法。4. The method of manufacturing an electronic circuit board according to claim 2, further comprising a step of joining the existing conductive member and another conductive member after the step of thermally bonding. Electronic circuit board manufacturing method.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP21780793A JPH0773754A (en) | 1993-09-01 | 1993-09-01 | Manufacturing method of conductive member and manufacturing method of electronic circuit board |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP21780793A JPH0773754A (en) | 1993-09-01 | 1993-09-01 | Manufacturing method of conductive member and manufacturing method of electronic circuit board |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0773754A true JPH0773754A (en) | 1995-03-17 |
Family
ID=16710048
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP21780793A Withdrawn JPH0773754A (en) | 1993-09-01 | 1993-09-01 | Manufacturing method of conductive member and manufacturing method of electronic circuit board |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0773754A (en) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2010219364A (en) * | 2009-03-18 | 2010-09-30 | Nec Corp | Method of modifying printed wiring board, and modified printed wiring board |
-
1993
- 1993-09-01 JP JP21780793A patent/JPH0773754A/en not_active Withdrawn
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2010219364A (en) * | 2009-03-18 | 2010-09-30 | Nec Corp | Method of modifying printed wiring board, and modified printed wiring board |
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