JPH077659B2 - 質量分析装置 - Google Patents
質量分析装置Info
- Publication number
- JPH077659B2 JPH077659B2 JP60220094A JP22009485A JPH077659B2 JP H077659 B2 JPH077659 B2 JP H077659B2 JP 60220094 A JP60220094 A JP 60220094A JP 22009485 A JP22009485 A JP 22009485A JP H077659 B2 JPH077659 B2 JP H077659B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- sample component
- mass
- predetermined position
- index
- developing
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
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- Electron Tubes For Measurement (AREA)
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
- Other Investigation Or Analysis Of Materials By Electrical Means (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 〔発明の利用分野〕 本発明は質量分析装置に係り、特に薄層クロマトグラフ
プレートである展開媒体上に展開された試料成分を質量
分析するのに好適な質量分析装置に関する。
プレートである展開媒体上に展開された試料成分を質量
分析するのに好適な質量分析装置に関する。
近年薄層クロマトグラフ（TLC）プレートである展開媒
体上に展開された試料成分を質量分析法で分析すること
が行われるようになつた。この技術に関連する報告とし
て昭和60年度質量分析連合討論会講演要旨集第150〜151
頁がある。この方法は難揮発性混合物試料を手軽に分離
測定できる利点がある。しかし得られるスペクトルがTL
Cのどの位置にあるかは質量分析にかけようとするTLCプ
レートとは別にこれと実質的に同じTLCプレート上で発
色操作を行つて、各試料成分位置の展開開始位置からの
距離を計測しなければならないという欠点があつた。
体上に展開された試料成分を質量分析法で分析すること
が行われるようになつた。この技術に関連する報告とし
て昭和60年度質量分析連合討論会講演要旨集第150〜151
頁がある。この方法は難揮発性混合物試料を手軽に分離
測定できる利点がある。しかし得られるスペクトルがTL
Cのどの位置にあるかは質量分析にかけようとするTLCプ
レートとは別にこれと実質的に同じTLCプレート上で発
色操作を行つて、各試料成分位置の展開開始位置からの
距離を計測しなければならないという欠点があつた。
本発明の目的は展開媒体上に展開されている試料成分の
展開距離をその試料成分の質量分析結果から容易に知る
ことができる質量分析装置を提供することにある。
展開距離をその試料成分の質量分析結果から容易に知る
ことができる質量分析装置を提供することにある。
本発明の特徴は、粒子線を予め定められた位置に指向さ
せる手段と、試料成分が展開されている展開媒体を、前
記試料成分が前記粒子線の照射によりイオンを発すべく
前記試料成分が前記予め定るられた位置を通るように前
記試料成分の展開方向に移動させる手段と、前記発生し
たイオンを質量分析し、その対応電気信号を発生する手
段とを備え、前記試料成分の展開位置またはその位置か
ら予め定められた距離だけ隔てられた位置に指標を設け
て、該指標が前記予め定められた位置を通るとき前記質
量分析および電気信号発生手段が前記指標の、前記予め
定められた位置の通過を示す電気信号を発生するように
構成した質量分析装置にある。
せる手段と、試料成分が展開されている展開媒体を、前
記試料成分が前記粒子線の照射によりイオンを発すべく
前記試料成分が前記予め定るられた位置を通るように前
記試料成分の展開方向に移動させる手段と、前記発生し
たイオンを質量分析し、その対応電気信号を発生する手
段とを備え、前記試料成分の展開位置またはその位置か
ら予め定められた距離だけ隔てられた位置に指標を設け
て、該指標が前記予め定められた位置を通るとき前記質
量分析および電気信号発生手段が前記指標の、前記予め
定められた位置の通過を示す電気信号を発生するように
構成した質量分析装置にある。
第１図において、一次イオン源４生成したイオンビーム
は約8KeVに加速され、ターゲツト１に照射される。ター
ゲツト１上に塗布された試料は、スパツターされ、この
うち一部はイオンとなる。ターゲツトホルダ２はイオン
加速電圧Vaとして3KVが印加されている。このため、タ
ーゲツト１に衝突する一次イオンのエネルギは5KeV、二
次イオンが加速されるエネルギは3KeVとなる。試料から
発生した二次イオンはレンズ9,物点スリツト８を通つて
磁場５で質量電荷比によつて分離され、コレクタスリツ
ト６を通り、検出器７で検出される。すなわち、質量分
析が行われる。検出器７で検知した信号は制御データ処
理装置10で処理されたあと記録計11に記録される。この
とき磁場の強さを測定する質量電荷比の範囲で走査する
とこの範囲のイオンは全部記録される。この場合ターゲ
ツトホルダ２を移動機構３により移動すると、ターゲツ
ト上に分布した試料成分が次々とイオン化され記録され
ることになる。
は約8KeVに加速され、ターゲツト１に照射される。ター
ゲツト１上に塗布された試料は、スパツターされ、この
うち一部はイオンとなる。ターゲツトホルダ２はイオン
加速電圧Vaとして3KVが印加されている。このため、タ
ーゲツト１に衝突する一次イオンのエネルギは5KeV、二
次イオンが加速されるエネルギは3KeVとなる。試料から
発生した二次イオンはレンズ9,物点スリツト８を通つて
磁場５で質量電荷比によつて分離され、コレクタスリツ
ト６を通り、検出器７で検出される。すなわち、質量分
析が行われる。検出器７で検知した信号は制御データ処
理装置10で処理されたあと記録計11に記録される。この
とき磁場の強さを測定する質量電荷比の範囲で走査する
とこの範囲のイオンは全部記録される。この場合ターゲ
ツトホルダ２を移動機構３により移動すると、ターゲツ
ト上に分布した試料成分が次々とイオン化され記録され
ることになる。
次に第２図を用いて、ターゲツト１とターゲツトホルダ
２の部分の説明をする。
２の部分の説明をする。
ターゲツト１はアルミ板上に吸着層を固着した展開媒体
としてのTLCプレートで、最初に起点（展開基準位置）1
6上に混合物を塗布し展開分離したものである。展開さ
れた混合物のうち、一つの試料成分は距離1，次は
l2，l3の距離だけ分離している。ただし、この位置は通
常見えなく測定できないことが多い。起点のみは最初試
料を塗布した位置であり、何らかの目印（たとえば鉛筆
で書いた目印）を付けることは可能である。ここで、指
標としての細線12を起点の目印と合致させるように、タ
ーゲツトホルダ２上にストツパ14とねじ15によつて固定
する。
としてのTLCプレートで、最初に起点（展開基準位置）1
6上に混合物を塗布し展開分離したものである。展開さ
れた混合物のうち、一つの試料成分は距離1，次は
l2，l3の距離だけ分離している。ただし、この位置は通
常見えなく測定できないことが多い。起点のみは最初試
料を塗布した位置であり、何らかの目印（たとえば鉛筆
で書いた目印）を付けることは可能である。ここで、指
標としての細線12を起点の目印と合致させるように、タ
ーゲツトホルダ２上にストツパ14とねじ15によつて固定
する。
細線12は直径0.2mmの銀線をターゲツトホルダ２に固定
してある。したがつて、起点と細線を合致させるのはタ
ーゲツト１の位置を変えることによつて行う。細線12の
材質は銀に限らずニツケル，白金等の他の金属でもよい
し、あるいは非金属でも使用できる。形状もワイヤーで
なくても幅の狭い板でも可能である。ターゲツト１とタ
ーゲツトホルダ２の位置を固定して、細線12の位置を可
変するようにしてもよい。
してある。したがつて、起点と細線を合致させるのはタ
ーゲツト１の位置を変えることによつて行う。細線12の
材質は銀に限らずニツケル，白金等の他の金属でもよい
し、あるいは非金属でも使用できる。形状もワイヤーで
なくても幅の狭い板でも可能である。ターゲツト１とタ
ーゲツトホルダ２の位置を固定して、細線12の位置を可
変するようにしてもよい。
さて上記第２図のホルダを取付けて、測定した例を第３
図に示す。横軸は磁場走査回数（時間）であり縦軸はイ
オン強度である。ターゲツト１を細線12の左から全域移
動させながら、磁場の強さを全域繰り返し走査し、この
間の検出器の信号を全部データ処理装置10に取込み、こ
のうち全部の信号を読出して記録したものが全イオンク
ロマトグラム（TIC）、最も遠く分離した試料成分に特
有な質量に着目して記録したのがm3、２番目および３番
目に遠く分離した試料成分に特有な質量に着目して記録
したのがm2およびm1、細線12の質量（ここではm/zが10
7）に着目して記録したのがmsである。
図に示す。横軸は磁場走査回数（時間）であり縦軸はイ
オン強度である。ターゲツト１を細線12の左から全域移
動させながら、磁場の強さを全域繰り返し走査し、この
間の検出器の信号を全部データ処理装置10に取込み、こ
のうち全部の信号を読出して記録したものが全イオンク
ロマトグラム（TIC）、最も遠く分離した試料成分に特
有な質量に着目して記録したのがm3、２番目および３番
目に遠く分離した試料成分に特有な質量に着目して記録
したのがm2およびm1、細線12の質量（ここではm/zが10
7）に着目して記録したのがmsである。
第３図から、ｄの値は既知だから、1の距離は次式で
求められる。1 ＝（d/d′）×1′ 同様にしてl2，l3も求められる。なお、第３図から明ら
かなように、l1，l2，l3位置に分離展開された試料成分
の質量スペクトルは、これらのスペクトルピークが現れ
る部分のTICスペクトルを出力すれば得られる。
求められる。1 ＝（d/d′）×1′ 同様にしてl2，l3も求められる。なお、第３図から明ら
かなように、l1，l2，l3位置に分離展開された試料成分
の質量スペクトルは、これらのスペクトルピークが現れ
る部分のTICスペクトルを出力すれば得られる。
細線12としては前述したように必ずしも２本用いる必要
はなく、ターゲツト１の移動速度および記録計11の記録
紙移動速度（Ｘ−Ｙ記録計の場合はスペクトルの横軸方
向におけるペン移動速度）が既知であれば１本だけを用
いても同様に1，l2，l3を求めることができる。
はなく、ターゲツト１の移動速度および記録計11の記録
紙移動速度（Ｘ−Ｙ記録計の場合はスペクトルの横軸方
向におけるペン移動速度）が既知であれば１本だけを用
いても同様に1，l2，l3を求めることができる。
細線12は実施例では展開基準位置である起点16と一致す
るように設けられたが、細線12と起点16とを既知量だけ
間隔づけても同様に1，l2，l3を求めることができ
る。
るように設けられたが、細線12と起点16とを既知量だけ
間隔づけても同様に1，l2，l3を求めることができ
る。
ターゲツトであるTLCプレート１上には一般にグリセリ
ンなどのマトリツクスが塗布されている場合が多い。こ
のような場合には、マトリツクスイオンを検出するよう
にしておけば指標のところではマトリツクスイオンは検
出されなくなるのでピークが負方向に記録されることに
なる。したがつて、この点を展開基準位置として利用す
ることもできる。
ンなどのマトリツクスが塗布されている場合が多い。こ
のような場合には、マトリツクスイオンを検出するよう
にしておけば指標のところではマトリツクスイオンは検
出されなくなるのでピークが負方向に記録されることに
なる。したがつて、この点を展開基準位置として利用す
ることもできる。
以上説明したごとく、本発明によれば、展開媒体上に展
開されている試料成分の展開距離をその質量分析結果か
ら容易に知ることができる質量分析装置が提供される。
開されている試料成分の展開距離をその質量分析結果か
ら容易に知ることができる質量分析装置が提供される。
【図面の簡単な説明】 第１図は本発明の一実施例を示す質量分析装置の概念
図、第２図は第１図のターゲツトホルダ部の拡大上面
図、第３図は記録結果の一例を示す図である。 １…ターゲツト、２…ホルダ、３…移動機構、４…一次
イオン源、５…磁場、６…コレクタスリツト、７…検出
器、８…物点スリツト、９…レンズ、10…制御データ処
理装置、11…記録計、12…細線、13…展開された試料、
14…ストツパ、15…ねじ。
図、第２図は第１図のターゲツトホルダ部の拡大上面
図、第３図は記録結果の一例を示す図である。 １…ターゲツト、２…ホルダ、３…移動機構、４…一次
イオン源、５…磁場、６…コレクタスリツト、７…検出
器、８…物点スリツト、９…レンズ、10…制御データ処
理装置、11…記録計、12…細線、13…展開された試料、
14…ストツパ、15…ねじ。
Claims (2)
- 【請求項１】粒子線を予め定められた位置に指向させる
手段と、試料成分が展開されている展開媒体を、前記試
料成分が前記粒子線の照射によりイオンを発生すべく前
記試料成分が前記予め定められた位置を通るように前記
試料成分の展開方向に移動させる手段と、前記発生した
イオンを質量分析し、その対応電気信号を発生させる手
段とを備え、前記試料成分の展開基準位置またはその位
置から予め定められた距離だけ隔てられた位置に指標を
設けて、該指標が前記予め定められた位置を通るとき前
記質量分析および電気信号発生手段が前記指標の、前記
予め定められた位置の通過を示す電気信号を発生するよ
うに構成した質量分析装置。 - 【請求項２】粒子線を予め定められた位置に指向させる
手段と、試料成分が展開されている展開媒体を、前記試
料成分が前記粒子線の照射によりイオンを発生すべく前
記試料成分が前記予め定められた位置を通るように前記
試成分の展開方向に移動させる手段と、前記発生したイ
オンを質量分析し、その対応電気信号を発生させる手段
とを備え、前記試料成分の展開基準位置またはその位置
から予め定められた距離だけ隔てられた第１の位置に第
１の指標を設けると共に、前記第１の位置から予め定め
られた距離だけ隔られた第２の位置に第２の指標を設け
て、前記第１および第２の指標が前記予め定められた位
置を通るとき前記質量分析および電気信号発生手段が前
記第１および第２の指標の、前記予め定められた位置の
通過をそれぞれ示す電気信号を発生するように構成した
質量分析装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60220094A JPH077659B2 (ja) | 1985-10-04 | 1985-10-04 | 質量分析装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60220094A JPH077659B2 (ja) | 1985-10-04 | 1985-10-04 | 質量分析装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6280542A JPS6280542A (ja) | 1987-04-14 |
| JPH077659B2 true JPH077659B2 (ja) | 1995-01-30 |
Family
ID=16745829
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP60220094A Expired - Lifetime JPH077659B2 (ja) | 1985-10-04 | 1985-10-04 | 質量分析装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH077659B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP3024702U (ja) * | 1995-11-15 | 1996-05-31 | 文一 伊藤 | 消火用ホース等長物乾燥機 |
-
1985
- 1985-10-04 JP JP60220094A patent/JPH077659B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP3024702U (ja) * | 1995-11-15 | 1996-05-31 | 文一 伊藤 | 消火用ホース等長物乾燥機 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6280542A (ja) | 1987-04-14 |
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