JPH0778564A - 蛍光ランプ検査方法 - Google Patents
蛍光ランプ検査方法Info
- Publication number
- JPH0778564A JPH0778564A JP5224888A JP22488893A JPH0778564A JP H0778564 A JPH0778564 A JP H0778564A JP 5224888 A JP5224888 A JP 5224888A JP 22488893 A JP22488893 A JP 22488893A JP H0778564 A JPH0778564 A JP H0778564A
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- Japan
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- fluorescent lamp
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- emission
- phosphor
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- Pending
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- Manufacture Of Electron Tubes, Discharge Lamp Vessels, Lead-In Wires, And The Like (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 三波長型蛍光ランプや超小型蛍光ランプに対
しても、高い精度で良否判定ができるようにする。 【構成】 蛍光ランプ１に高周波発生装置２から高周波
電場を与え、グロー放電を生じさせる。蛍光ランプ１外
に放射された光のうち、波長４３６ｎｍまたは波長５４
６ｎｍにおける水銀輝線の発光強度と、当該波長の近傍
での波長における蛍光体発光強度とを１台の瞬時分光測
定装置５で測定する。比較演算判定装置６は、前記水銀
輝線の発光強度と前記蛍光体発光強度との比を標準値と
比較して蛍光ランプ１の良否を判定し、判定結果信号を
出力する。
しても、高い精度で良否判定ができるようにする。 【構成】 蛍光ランプ１に高周波発生装置２から高周波
電場を与え、グロー放電を生じさせる。蛍光ランプ１外
に放射された光のうち、波長４３６ｎｍまたは波長５４
６ｎｍにおける水銀輝線の発光強度と、当該波長の近傍
での波長における蛍光体発光強度とを１台の瞬時分光測
定装置５で測定する。比較演算判定装置６は、前記水銀
輝線の発光強度と前記蛍光体発光強度との比を標準値と
比較して蛍光ランプ１の良否を判定し、判定結果信号を
出力する。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、蛍光ランプの良否を非
破壊で判定する蛍光ランプ検査方法に関するものであ
る。
破壊で判定する蛍光ランプ検査方法に関するものであ
る。
【０００２】
【従来の技術】蛍光ランプの製造工程において、ガラス
バルブの脱ガス処理、電極の活性化処理、排気処理等が
不十分であったり、封止処理が不完全であったりする
と、ガラスバルブ内に空気等の不純ガスが残留または混
入して、正常なランプ機能を備えた蛍光ランプを得るこ
とができなくなる。
バルブの脱ガス処理、電極の活性化処理、排気処理等が
不十分であったり、封止処理が不完全であったりする
と、ガラスバルブ内に空気等の不純ガスが残留または混
入して、正常なランプ機能を備えた蛍光ランプを得るこ
とができなくなる。
【０００３】このような不良ランプを発見するために、
蛍光ランプに高周波電場を与えてグロー放電を生じさせ
る一方、蛍光ランプ外に放射された光の強度や色をそれ
ぞれの標準と比較して良否を判定する検査方法が知られ
ている。しかし、良否の判定が目視によって行われるの
で、検査担当者の個人差が大きく影響するなど、高い精
度での検査が望めない。また、蛍光ランプの始動電圧を
測定して良否を判定する検査方法も知られているが、測
定に少なからぬ時間を要するので、オンラインでの検査
には適しない。
蛍光ランプに高周波電場を与えてグロー放電を生じさせ
る一方、蛍光ランプ外に放射された光の強度や色をそれ
ぞれの標準と比較して良否を判定する検査方法が知られ
ている。しかし、良否の判定が目視によって行われるの
で、検査担当者の個人差が大きく影響するなど、高い精
度での検査が望めない。また、蛍光ランプの始動電圧を
測定して良否を判定する検査方法も知られているが、測
定に少なからぬ時間を要するので、オンラインでの検査
には適しない。
【０００４】その他の検査方法として、波長３００ｎｍ
〜４００ｎｍの領域および波長５５０ｎｍ以上の可視領
域の少なくとも一方における蛍光体発光強度と、波長４
０５ｎｍ、波長４３６ｎｍおよび波長５４６ｎｍの少な
くとも一つの水銀輝線の発光強度との比を求めて標準値
と比較し、良否を判定する方法（特公昭６３−３２２１
３号公報）や、波長４６０〜５１０ｎｍにおける蛍光体
発光強度と、波長４０５ｎｍまたは波長４３６ｎｍの水
銀輝線の発光強度との比を求めて標準値と比較し、良否
を判定する方法（特公平３−２３０４５３号公報）も知
られている。
〜４００ｎｍの領域および波長５５０ｎｍ以上の可視領
域の少なくとも一方における蛍光体発光強度と、波長４
０５ｎｍ、波長４３６ｎｍおよび波長５４６ｎｍの少な
くとも一つの水銀輝線の発光強度との比を求めて標準値
と比較し、良否を判定する方法（特公昭６３−３２２１
３号公報）や、波長４６０〜５１０ｎｍにおける蛍光体
発光強度と、波長４０５ｎｍまたは波長４３６ｎｍの水
銀輝線の発光強度との比を求めて標準値と比較し、良否
を判定する方法（特公平３−２３０４５３号公報）も知
られている。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】上述した公報に開示さ
れている検査方法はいずれも合理的なものではあるが、
かかる検査方法を適用して三波長型蛍光ランプの良否を
判定しようとすると、波長４３６ｎｍおよび波長５４６
ｎｍでの水銀輝線が三波長発光型蛍光体の発光スペクト
ルのピーク領域に重なるので、水銀輝線の発光強度を正
確に分離検出することが困難になる。
れている検査方法はいずれも合理的なものではあるが、
かかる検査方法を適用して三波長型蛍光ランプの良否を
判定しようとすると、波長４３６ｎｍおよび波長５４６
ｎｍでの水銀輝線が三波長発光型蛍光体の発光スペクト
ルのピーク領域に重なるので、水銀輝線の発光強度を正
確に分離検出することが困難になる。
【０００６】また、ビデオムービにおけるバックライト
等に用いられる超小型蛍光ランプ（管径２. ５ｍｍ、長
さ２５ｍｍ）に対する良否の判定では、相異なる２つの
波長域の光強度を測定すべく準備した２個の検出器が超
小型蛍光ランプに対して大きすぎるために、蛍光ランプ
の端部、とくに蛍光体が十分に塗布されていない部分か
らの光を検出することになりかねず、やはり、高い精度
での検査は望めない。そのうえ、検出器に前置する半値
幅の狭いバンドパスフィルタ（干渉フィルタ）には入射
角依存性があるので、このフィルタの光軸に位置ずれを
生じることによって測定波長にずれを生じるという危険
がある。また、２個のアンプの特性を常に一定に維持し
なければ正確な検査は望めないが、これは至難の業であ
る。
等に用いられる超小型蛍光ランプ（管径２. ５ｍｍ、長
さ２５ｍｍ）に対する良否の判定では、相異なる２つの
波長域の光強度を測定すべく準備した２個の検出器が超
小型蛍光ランプに対して大きすぎるために、蛍光ランプ
の端部、とくに蛍光体が十分に塗布されていない部分か
らの光を検出することになりかねず、やはり、高い精度
での検査は望めない。そのうえ、検出器に前置する半値
幅の狭いバンドパスフィルタ（干渉フィルタ）には入射
角依存性があるので、このフィルタの光軸に位置ずれを
生じることによって測定波長にずれを生じるという危険
がある。また、２個のアンプの特性を常に一定に維持し
なければ正確な検査は望めないが、これは至難の業であ
る。
【０００７】したがって本発明の目的は、三波長型蛍光
ランプや超小型蛍光ランプに対しても高い精度での良否
判定ができる蛍光ランプ検査方法を提供することにあ
る。
ランプや超小型蛍光ランプに対しても高い精度での良否
判定ができる蛍光ランプ検査方法を提供することにあ
る。
【０００８】
【課題を解決するための手段】本発明によると、上述し
た目的を達成するために、蛍光ランプに高周波電場を与
えてグロー放電を生じさせ、このグロー放電によって蛍
光ランプ外に放射された光のうち、波長４３６ｎｍまた
は波長５４６ｎｍにおける水銀輝線の発光強度と、当該
波長の近傍での波長における蛍光体発光強度とを１台の
瞬時分光測定装置で測定し、前記水銀輝線の発光強度と
前記蛍光体発光強度との比を標準値と比較して当該蛍光
ランプの良否を判定することを特徴とする蛍光ランプ検
査方法が提供される。
た目的を達成するために、蛍光ランプに高周波電場を与
えてグロー放電を生じさせ、このグロー放電によって蛍
光ランプ外に放射された光のうち、波長４３６ｎｍまた
は波長５４６ｎｍにおける水銀輝線の発光強度と、当該
波長の近傍での波長における蛍光体発光強度とを１台の
瞬時分光測定装置で測定し、前記水銀輝線の発光強度と
前記蛍光体発光強度との比を標準値と比較して当該蛍光
ランプの良否を判定することを特徴とする蛍光ランプ検
査方法が提供される。
【０００９】
【作用】本発明においては、波長４３６ｎｍまたは波長
５４６ｎｍにおける水銀輝線の発光強度と、当該波長の
近傍での波長における蛍光体発光強度とを測定し、前記
水銀輝線の発光強度と前記蛍光体発光強度との比を求め
るのであるから、三波長型蛍光ランプのように蛍光体発
光スペクトルのピーク領域が水銀輝線に重なることがあ
っても、水銀輝線の発光強度を、その近辺波長域のグロ
ー発光スペクトル分光分布から正確に分離検出すること
ができる。
５４６ｎｍにおける水銀輝線の発光強度と、当該波長の
近傍での波長における蛍光体発光強度とを測定し、前記
水銀輝線の発光強度と前記蛍光体発光強度との比を求め
るのであるから、三波長型蛍光ランプのように蛍光体発
光スペクトルのピーク領域が水銀輝線に重なることがあ
っても、水銀輝線の発光強度を、その近辺波長域のグロ
ー発光スペクトル分光分布から正確に分離検出すること
ができる。
【００１０】また、水銀輝線の発光強度および蛍光体発
光強度を１台の瞬時分光測定装置で瞬時的に測定でき、
かつ、測光部は単一にして小さいので、２台の光強度検
出器を駆使して測定していた従来の検査方法に比べて測
定誤差を大幅に減らすことができ、超小型蛍光ランプに
対してもその端部を避けた位置で精度よく測定すること
ができる。
光強度を１台の瞬時分光測定装置で瞬時的に測定でき、
かつ、測光部は単一にして小さいので、２台の光強度検
出器を駆使して測定していた従来の検査方法に比べて測
定誤差を大幅に減らすことができ、超小型蛍光ランプに
対してもその端部を避けた位置で精度よく測定すること
ができる。
【００１１】
【実施例】つぎに、本発明の一実施例を図面を参照して
説明する。
説明する。
【００１２】図１に示す検査装置では、被検査ランプと
しての蛍光ランプ１が、高周波発生装置２から与えられ
た高周波電場によってグロー放電を起こし、蛍光ランプ
１外に放射されたグロー放電光が、受光部３および光フ
ァイバ４を通じて瞬時分光測定装置５に入力される。
しての蛍光ランプ１が、高周波発生装置２から与えられ
た高周波電場によってグロー放電を起こし、蛍光ランプ
１外に放射されたグロー放電光が、受光部３および光フ
ァイバ４を通じて瞬時分光測定装置５に入力される。
【００１３】瞬時分光測定装置５は、水銀輝線が現れる
波長４３６ｎｍでの発光強度と、この波長の近傍の波長
での発光強度とを検出して光電変換する。その後、水銀
輝線の発光強度を蛍光体発光スペクトルから分離するの
に必要な、波長域４００ｎｍ〜４６０ｎｍでの発光を波
長単位で光電変換する。
波長４３６ｎｍでの発光強度と、この波長の近傍の波長
での発光強度とを検出して光電変換する。その後、水銀
輝線の発光強度を蛍光体発光スペクトルから分離するの
に必要な、波長域４００ｎｍ〜４６０ｎｍでの発光を波
長単位で光電変換する。
【００１４】瞬時分光測定装置５の出力信号は比較演算
判定装置６に供給される。比較演算判定装置６は、波長
域４００ｎｍ〜４６０ｎｍでの分光分布から、蛍光体発
光スペクトルに重なっている波長４３６ｎｍの水銀輝線
成分を演算処理によって分離する機能を有している。ま
た、蛍光体のピーク発光波長４５０ｎｍでの発光強度を
特性値として検出し、波長４３６ｎｍでの水銀輝線の発
光強度を波長４５０ｎｍでの発光強度で除算し、得られ
た比率を記憶する機能を有している。さらに、前記比率
と前記設定値とを比較して当該蛍光ランプの良否を判定
し、判定結果信号を出力する機能を有している。
判定装置６に供給される。比較演算判定装置６は、波長
域４００ｎｍ〜４６０ｎｍでの分光分布から、蛍光体発
光スペクトルに重なっている波長４３６ｎｍの水銀輝線
成分を演算処理によって分離する機能を有している。ま
た、蛍光体のピーク発光波長４５０ｎｍでの発光強度を
特性値として検出し、波長４３６ｎｍでの水銀輝線の発
光強度を波長４５０ｎｍでの発光強度で除算し、得られ
た比率を記憶する機能を有している。さらに、前記比率
と前記設定値とを比較して当該蛍光ランプの良否を判定
し、判定結果信号を出力する機能を有している。
【００１５】一方、比較演算判定装置６の出力信号を受
けた不良ランプ排出装置７は、前記判定結果を表示する
機能と、前記判定によって不良と認められた蛍光ランプ
を選択的に排除する機能とを有している。
けた不良ランプ排出装置７は、前記判定結果を表示する
機能と、前記判定によって不良と認められた蛍光ランプ
を選択的に排除する機能とを有している。
【００１６】良品の蛍光ランプは、図２の特性曲線Ａの
ような分光分布特性を示す。これに対して不良の蛍光ラ
ンプは図２の特性曲線Ｂに示すような分光分布特性を示
す。ただし、ここで示した蛍光ランプはビデオムービの
バックライトなどに使用される三波長型の超小型のもの
である。両特性曲線Ａ、Ｂはピーク発光波長４５０ｎｍ
での発光強度を一定に揃えてあるが、不良品の発光強度
は良品の発光強度に比べて、波長４０５ｎｍおよび波長
４３６ｎｍにおいて格段に低いことがわかる。
ような分光分布特性を示す。これに対して不良の蛍光ラ
ンプは図２の特性曲線Ｂに示すような分光分布特性を示
す。ただし、ここで示した蛍光ランプはビデオムービの
バックライトなどに使用される三波長型の超小型のもの
である。両特性曲線Ａ、Ｂはピーク発光波長４５０ｎｍ
での発光強度を一定に揃えてあるが、不良品の発光強度
は良品の発光強度に比べて、波長４０５ｎｍおよび波長
４３６ｎｍにおいて格段に低いことがわかる。
【００１７】図３に示す特性図は、同一特性の多数の蛍
光ランプを上述した検査装置等を用いて測定した測定結
果である。この場合、波長４３６ｎｍでの水銀輝線の発
光強度を、波長４５０ｎｍでの蛍光体発光強度で除算し
た値（比率）Ｒを縦軸にとり、蛍光ランプの始動電圧を
横軸にとっている。この特性図からわかるように、比率
Ｒが２. ０以下の領域では始動電圧が急激に上昇してい
る。したがって、比率Ｒを求める本発明の検査方法で
は、比較的高い精度での良否判定をなし得る。
光ランプを上述した検査装置等を用いて測定した測定結
果である。この場合、波長４３６ｎｍでの水銀輝線の発
光強度を、波長４５０ｎｍでの蛍光体発光強度で除算し
た値（比率）Ｒを縦軸にとり、蛍光ランプの始動電圧を
横軸にとっている。この特性図からわかるように、比率
Ｒが２. ０以下の領域では始動電圧が急激に上昇してい
る。したがって、比率Ｒを求める本発明の検査方法で
は、比較的高い精度での良否判定をなし得る。
【００１８】この点をさらに具体的に説明すると、１０
００本の蛍光ランプを対象にして、比率Ｒが２. ０以下
のものを不良品と認める判断基準で良否判定を行ったの
ち、これと同一の蛍光ランプを対象にして、始動電圧に
基づく良否判定を行ったところ、判定結果は完全に合致
したのであるから、本発明方法による蛍光ランプの良否
判定は正確を期しうることがわかる。また、本発明によ
る検査方法は従来の検査方法に比べて簡便であり、検査
時間を大幅に短縮できる。
００本の蛍光ランプを対象にして、比率Ｒが２. ０以下
のものを不良品と認める判断基準で良否判定を行ったの
ち、これと同一の蛍光ランプを対象にして、始動電圧に
基づく良否判定を行ったところ、判定結果は完全に合致
したのであるから、本発明方法による蛍光ランプの良否
判定は正確を期しうることがわかる。また、本発明によ
る検査方法は従来の検査方法に比べて簡便であり、検査
時間を大幅に短縮できる。
【００１９】上述した実施例では、波長４３６ｎｍでの
水銀輝線の発光強度とピーク発光波長４５０ｎｍでの発
光強度とを測定してその比率を求めたが、波長５４６ｎ
ｍでの水銀輝線の近傍における波長域（５１０ｎｍ〜５
５０ｎｍ）での蛍光体発光スペクトル分光分布を求め、
波長５４６ｎｍでの水銀輝線の発光強度と波長５４２ｎ
ｍでのピーク発光強度との比率を求めてもよく、また、
これらを併用してもよい。
水銀輝線の発光強度とピーク発光波長４５０ｎｍでの発
光強度とを測定してその比率を求めたが、波長５４６ｎ
ｍでの水銀輝線の近傍における波長域（５１０ｎｍ〜５
５０ｎｍ）での蛍光体発光スペクトル分光分布を求め、
波長５４６ｎｍでの水銀輝線の発光強度と波長５４２ｎ
ｍでのピーク発光強度との比率を求めてもよく、また、
これらを併用してもよい。
【００２０】上述した実施例では超小型蛍光ランプを検
査対象にしたが、本発明の検査方法は、その他の三波長
型を含むあらゆる蛍光ランプの良否判定に適用できるの
は勿論である。
査対象にしたが、本発明の検査方法は、その他の三波長
型を含むあらゆる蛍光ランプの良否判定に適用できるの
は勿論である。
【００２１】
【発明の効果】以上のように本発明によると、三波長型
蛍光ランプのように蛍光体のピーク発光波長領域が水銀
輝線の波長に重なる蛍光ランプに対しても、また、ビデ
オムービのバックライト等に使用される超小型蛍光ラン
プに対しても、その良否を正確に判定できるのみなら
ず、検査の作業効率を高めることができる。
蛍光ランプのように蛍光体のピーク発光波長領域が水銀
輝線の波長に重なる蛍光ランプに対しても、また、ビデ
オムービのバックライト等に使用される超小型蛍光ラン
プに対しても、その良否を正確に判定できるのみなら
ず、検査の作業効率を高めることができる。
【図１】本発明の一実施例において用いられる検査装置
のブロック図
のブロック図
【図２】良・不良蛍光ランプの発光強度の分光分布特性
図
図
【図３】蛍光ランプの特定波長の水銀輝線発光強度を蛍
光体の特定波長発光強度で除した比率Ｒと始動電圧との
相関を示す特性図
光体の特定波長発光強度で除した比率Ｒと始動電圧との
相関を示す特性図
１ 蛍光ランプ ２ 高周波発生装置 ５ 瞬時分光測定装置 ６ 比較演算判定装置
Claims (1)
- 【請求項１】蛍光ランプに高周波電場を与えてグロー放
電を生じさせ、このグロー放電によって蛍光ランプ外に
放射された光のうち、波長４３６ｎｍまたは波長５４６
ｎｍにおける水銀輝線の発光強度と、当該波長の近傍で
の波長における蛍光体発光強度とを１台の瞬時分光測定
装置で測定し、前記水銀輝線の発光強度と前記蛍光体発
光強度との比を標準値と比較して当該蛍光ランプの良否
を判定することを特徴とする蛍光ランプ検査方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5224888A JPH0778564A (ja) | 1993-09-10 | 1993-09-10 | 蛍光ランプ検査方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5224888A JPH0778564A (ja) | 1993-09-10 | 1993-09-10 | 蛍光ランプ検査方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0778564A true JPH0778564A (ja) | 1995-03-20 |
Family
ID=16820739
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5224888A Pending JPH0778564A (ja) | 1993-09-10 | 1993-09-10 | 蛍光ランプ検査方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0778564A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6519401B1 (en) | 1998-10-28 | 2003-02-11 | 3M Innovative Properties Company | Light fibers and methods for producing the same |
| KR100530979B1 (ko) * | 1998-05-20 | 2006-02-28 | 삼성전자주식회사 | 액정표시장치의 백라이트용 램프 불량 선별방법 |
-
1993
- 1993-09-10 JP JP5224888A patent/JPH0778564A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100530979B1 (ko) * | 1998-05-20 | 2006-02-28 | 삼성전자주식회사 | 액정표시장치의 백라이트용 램프 불량 선별방법 |
| US6519401B1 (en) | 1998-10-28 | 2003-02-11 | 3M Innovative Properties Company | Light fibers and methods for producing the same |
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