JPS6140070B2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPS6140070B2 JPS6140070B2 JP53101893A JP10189378A JPS6140070B2 JP S6140070 B2 JPS6140070 B2 JP S6140070B2 JP 53101893 A JP53101893 A JP 53101893A JP 10189378 A JP10189378 A JP 10189378A JP S6140070 B2 JPS6140070 B2 JP S6140070B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- discharge
- intensity
- infrared
- lamp
- nitrogen
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
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- Investigating, Analyzing Materials By Fluorescence Or Luminescence (AREA)
- Manufacture Of Electron Tubes, Discharge Lamp Vessels, Lead-In Wires, And The Like (AREA)
Description
本発明は低圧水銀蒸気放電灯の検査方法に関す
る。 けい光ランプにおいて、排気の際におけるラン
プの加熱または熱電子放射性物質の分解活性化が
不充分であつたり、あるいは排気不良などによつ
てランプ内に微量の不純ガスが残留することがあ
る。また、各部の封止不良により、外気が徐々に
ランプ内に侵入することもある。このような不純
ガス不良が発生すると、本来のランプの正常な動
作が損われ、始動不良、放電不安定、発光不良、
早期黒化、短寿命などの悪影響を来たす。そし
て、不純ガスの混入量が多ければ点灯不能にな
る。 したがつて、けい光ランプにおいては不純ガス
混入不良を発見して除去することは極めて重要で
ある。しかして、従来の検査方法は高周波発振装
置やテスラコイルなどを用いてランプ内にグロー
放電を生起させ、肉眼検査によつて、その放電に
よる発光の強さや色を不純ガス混入のないランプ
の放電と比較して、不良品を発見して除去するも
のである。この方法はほとんどの場合、作業者の
勘と熱練に依存し、したがつて検査に個人差が多
く、また同一作業者でも日によつて判定が異る場
合がある。そこで、本検査方法と併用してたとえ
ば始動電圧などのランプ特性を検査しているが、
これは完成品の形になつたものでなければ行なえ
ないので、即時性に欠ける欠点がある。 本発明はこのような従来技術の欠点を除くため
になされたもので、低圧水銀蒸気放電灯内にグロ
ー放電を生起させこの放電による発光中の赤外線
強度を測定して、この赤外線強度の高いものを不
純ガス混入不良としたことである。 本発明者はけい光ランプの発光について種々研
究し、不純ガスを含まないけい光ランプに高周波
発振装置やテスラコイルによつてグロー放電を生
起させ、この放電による発光のスペクトルを調査
したところ、第１図示のスペクトログラムを得
た。これは横軸に波長をμの単位でとり、縦軸に
光強度を相対値でとつたもので、曲線Ａは使用し
たハロりん酸カルシウムけい光体の発光スペクト
ル、棒線Ｂ，Ｂ……は水銀の輝線スペクトルであ
る。このスペクトログラムによつて、けい光ラン
プは赤外線発光が極めて弱く、図示波長域ではわ
ずかに波長1.014μに弱い水銀輝線があるにすぎ
ないことが判明した。 これに対し管内に窒素あるいは酸素が存在する
と水銀の輝線と窒素あるいは酸素のスペクトルと
が重畳して現れる。 第２図に窒素のスペクトログラム、第３図に酸
素のスペクトログラムをそれぞれ示す。これらの
図はいずれも横軸に波長をμの単位でとり、縦軸
に光強度を相対値でとつたもので、曲線Ｃは窒素
のスペクトル、曲線Ｄは酸素のスペクトルを示
す。これらのグラフから、窒素及び酸素はいずれ
も波長0.75〜1.1μの間に強い輝線を有すること
が解るそして、上述の三成分放電では窒素および
酸素のスペクトルの強さはこれら元素の混入割合
いによる。 本発明者は、これらの結果から、けい光ランプ
に窒素、酸素あるいはこれらの元素の化合物であ
る不純ガスが混入した場合、赤外線強度たとえば
波長0.75〜1.1μの範囲の赤外線強度を測定すれ
ば容易に不良品を判別できることに想到した。 つぎに、この測定に用いた赤外線強度測定装置
の一例を第４図に示す。図中、１は受光器本体、
２はこの本体の前面に設けた集光レンズ、３はこ
のレンズ２の後方に同軸配設した赤外線透過フイ
ルタ、４はこのフイルタ３の後方において、上記
レンズ２の焦点位置に設けた赤外線検知素子、５
はこの検知素子４の電気出力を増幅する増幅器、
６はこの増幅器５の出力を赤外線強度で表示する
表示器である。前記赤外線透過フイルタ３はたと
えば東芝化成株式会社製色ガラスフイルタIR−
70（同社規格）であり、また前記検知素子４はた
とえばシリコン光電素子である。そしてこれらの
素子を組合わせてなる赤外線強度測定装置の感度
スペクトルは第５図に示すとおりである。図は横
軸に波長をμの単位でとり、縦軸に感度を相対値
でとつてある。この図から本例装置は波長0.75〜
1.1μの近赤外線を選択的に測定できることが理
解できる。 つぎに、始動ガスとしてアルゴンを2.5Torrの
圧力で封有し、かつ適量の水銀を封入してなり、
しかも窒素を種々の分圧で封有するけい光ランプ
を試作し、これを良品とともに特性値を比較し
た。試験はグロー放電光中の波長0.75〜1.1μの
近赤外線の放射強度、放電光の肉眼検査、始動電
圧、寿命などである。この結果を次表に示す。
る。 けい光ランプにおいて、排気の際におけるラン
プの加熱または熱電子放射性物質の分解活性化が
不充分であつたり、あるいは排気不良などによつ
てランプ内に微量の不純ガスが残留することがあ
る。また、各部の封止不良により、外気が徐々に
ランプ内に侵入することもある。このような不純
ガス不良が発生すると、本来のランプの正常な動
作が損われ、始動不良、放電不安定、発光不良、
早期黒化、短寿命などの悪影響を来たす。そし
て、不純ガスの混入量が多ければ点灯不能にな
る。 したがつて、けい光ランプにおいては不純ガス
混入不良を発見して除去することは極めて重要で
ある。しかして、従来の検査方法は高周波発振装
置やテスラコイルなどを用いてランプ内にグロー
放電を生起させ、肉眼検査によつて、その放電に
よる発光の強さや色を不純ガス混入のないランプ
の放電と比較して、不良品を発見して除去するも
のである。この方法はほとんどの場合、作業者の
勘と熱練に依存し、したがつて検査に個人差が多
く、また同一作業者でも日によつて判定が異る場
合がある。そこで、本検査方法と併用してたとえ
ば始動電圧などのランプ特性を検査しているが、
これは完成品の形になつたものでなければ行なえ
ないので、即時性に欠ける欠点がある。 本発明はこのような従来技術の欠点を除くため
になされたもので、低圧水銀蒸気放電灯内にグロ
ー放電を生起させこの放電による発光中の赤外線
強度を測定して、この赤外線強度の高いものを不
純ガス混入不良としたことである。 本発明者はけい光ランプの発光について種々研
究し、不純ガスを含まないけい光ランプに高周波
発振装置やテスラコイルによつてグロー放電を生
起させ、この放電による発光のスペクトルを調査
したところ、第１図示のスペクトログラムを得
た。これは横軸に波長をμの単位でとり、縦軸に
光強度を相対値でとつたもので、曲線Ａは使用し
たハロりん酸カルシウムけい光体の発光スペクト
ル、棒線Ｂ，Ｂ……は水銀の輝線スペクトルであ
る。このスペクトログラムによつて、けい光ラン
プは赤外線発光が極めて弱く、図示波長域ではわ
ずかに波長1.014μに弱い水銀輝線があるにすぎ
ないことが判明した。 これに対し管内に窒素あるいは酸素が存在する
と水銀の輝線と窒素あるいは酸素のスペクトルと
が重畳して現れる。 第２図に窒素のスペクトログラム、第３図に酸
素のスペクトログラムをそれぞれ示す。これらの
図はいずれも横軸に波長をμの単位でとり、縦軸
に光強度を相対値でとつたもので、曲線Ｃは窒素
のスペクトル、曲線Ｄは酸素のスペクトルを示
す。これらのグラフから、窒素及び酸素はいずれ
も波長0.75〜1.1μの間に強い輝線を有すること
が解るそして、上述の三成分放電では窒素および
酸素のスペクトルの強さはこれら元素の混入割合
いによる。 本発明者は、これらの結果から、けい光ランプ
に窒素、酸素あるいはこれらの元素の化合物であ
る不純ガスが混入した場合、赤外線強度たとえば
波長0.75〜1.1μの範囲の赤外線強度を測定すれ
ば容易に不良品を判別できることに想到した。 つぎに、この測定に用いた赤外線強度測定装置
の一例を第４図に示す。図中、１は受光器本体、
２はこの本体の前面に設けた集光レンズ、３はこ
のレンズ２の後方に同軸配設した赤外線透過フイ
ルタ、４はこのフイルタ３の後方において、上記
レンズ２の焦点位置に設けた赤外線検知素子、５
はこの検知素子４の電気出力を増幅する増幅器、
６はこの増幅器５の出力を赤外線強度で表示する
表示器である。前記赤外線透過フイルタ３はたと
えば東芝化成株式会社製色ガラスフイルタIR−
70（同社規格）であり、また前記検知素子４はた
とえばシリコン光電素子である。そしてこれらの
素子を組合わせてなる赤外線強度測定装置の感度
スペクトルは第５図に示すとおりである。図は横
軸に波長をμの単位でとり、縦軸に感度を相対値
でとつてある。この図から本例装置は波長0.75〜
1.1μの近赤外線を選択的に測定できることが理
解できる。 つぎに、始動ガスとしてアルゴンを2.5Torrの
圧力で封有し、かつ適量の水銀を封入してなり、
しかも窒素を種々の分圧で封有するけい光ランプ
を試作し、これを良品とともに特性値を比較し
た。試験はグロー放電光中の波長0.75〜1.1μの
近赤外線の放射強度、放電光の肉眼検査、始動電
圧、寿命などである。この結果を次表に示す。
【表】
この表から明らかなとおり、赤外線強度は窒素
分圧に敏感かつ正確に対応し、これは始動電圧よ
りも鋭敏であり、寿命と正確に対応している。こ
れに比較すれば、従来の放電光を肉眼判定する方
法は〔〕のように窒素分圧の高いものにおいて
はかなり正確で実用可能であるが、〔〕の場合
には検査が不確実で、個人差も大きく、この検査
だけで良否を決定することは危険である。まして
〔〕のやや不良は寿命試験以外には判定のしよ
うがなく、〔〕の大部分は良品と判定され、一
部は不良と判定されていた。 しかして、酸素が混入した不良品についても同
様な検査を行つたところ、上述の表にかなり近似
した結果を得た。さらに、炭酸ガス、一酸化炭
素、水蒸気などの不純ガス混入の場合も同様に近
赤外線強度が高いので、上述と同様にして正確に
検知できる。 したがつて、グロー放電発光中の近赤外線強度
を測定すれば、排気不良、熱電子放射性物質の活
性化不充分、スローリークなどを早期にしかも正
確に検出して除去できるので、不良品が良品中に
混入するおそれがなくなり信頼性が向上する。ま
た、本方法によれば良品が不良品中に混入するお
それもないので、歩留りが向上し、減価低減に役
立つ。さらに、本検査方法は測定および判別が即
時的であるので測定装置を製造設備に付設するこ
とによりオンライン処理も可能になる。 なお、本発明はけい光ランプのほか殺菌灯の検
査にも適用できる。 このように、本発明の低圧水銀蒸気放電灯の検
査方法は、放電灯内でグロー放電を生起させ、こ
の放電による発光中の赤外線強度を測定して、こ
の赤外線強度が所定値よりも高いものを不純ガス
混入不良とするので、判定が客観的で、個人差が
なく、測定精度が高く、したがつて検査が正確で
迅速で、オンラインシステムに組込むことも可能
である。
分圧に敏感かつ正確に対応し、これは始動電圧よ
りも鋭敏であり、寿命と正確に対応している。こ
れに比較すれば、従来の放電光を肉眼判定する方
法は〔〕のように窒素分圧の高いものにおいて
はかなり正確で実用可能であるが、〔〕の場合
には検査が不確実で、個人差も大きく、この検査
だけで良否を決定することは危険である。まして
〔〕のやや不良は寿命試験以外には判定のしよ
うがなく、〔〕の大部分は良品と判定され、一
部は不良と判定されていた。 しかして、酸素が混入した不良品についても同
様な検査を行つたところ、上述の表にかなり近似
した結果を得た。さらに、炭酸ガス、一酸化炭
素、水蒸気などの不純ガス混入の場合も同様に近
赤外線強度が高いので、上述と同様にして正確に
検知できる。 したがつて、グロー放電発光中の近赤外線強度
を測定すれば、排気不良、熱電子放射性物質の活
性化不充分、スローリークなどを早期にしかも正
確に検出して除去できるので、不良品が良品中に
混入するおそれがなくなり信頼性が向上する。ま
た、本方法によれば良品が不良品中に混入するお
それもないので、歩留りが向上し、減価低減に役
立つ。さらに、本検査方法は測定および判別が即
時的であるので測定装置を製造設備に付設するこ
とによりオンライン処理も可能になる。 なお、本発明はけい光ランプのほか殺菌灯の検
査にも適用できる。 このように、本発明の低圧水銀蒸気放電灯の検
査方法は、放電灯内でグロー放電を生起させ、こ
の放電による発光中の赤外線強度を測定して、こ
の赤外線強度が所定値よりも高いものを不純ガス
混入不良とするので、判定が客観的で、個人差が
なく、測定精度が高く、したがつて検査が正確で
迅速で、オンラインシステムに組込むことも可能
である。
第１図は不純ガスを含まないけい光ランプ内に
グロー放電を生起したときの発光スペクトル図、
第２図は窒素のグロー放電による発光スペクトル
図、第３図は酸素のグロー放電による発光スペク
トル図、第４図は本発明方法に用いる赤外線強度
測定装置の一例の説明図、第５図は同じく感度ス
ペクトル図である。
グロー放電を生起したときの発光スペクトル図、
第２図は窒素のグロー放電による発光スペクトル
図、第３図は酸素のグロー放電による発光スペク
トル図、第４図は本発明方法に用いる赤外線強度
測定装置の一例の説明図、第５図は同じく感度ス
ペクトル図である。
Claims (1)
- １ 低圧水銀蒸気放電灯内にグロー放電を生起さ
せ、この放電による発光中の赤外線強度を測定し
て、この強度が所定値よりも高いものを不純ガス
混入不良とすることを特徴とする低圧水銀蒸気放
電灯の検査方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10189378A JPS5529720A (en) | 1978-08-23 | 1978-08-23 | Inspection method of low-voltage mercury vapour discharge lamp |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10189378A JPS5529720A (en) | 1978-08-23 | 1978-08-23 | Inspection method of low-voltage mercury vapour discharge lamp |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5529720A JPS5529720A (en) | 1980-03-03 |
| JPS6140070B2 true JPS6140070B2 (ja) | 1986-09-06 |
Family
ID=14312596
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP10189378A Granted JPS5529720A (en) | 1978-08-23 | 1978-08-23 | Inspection method of low-voltage mercury vapour discharge lamp |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5529720A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63115470A (ja) * | 1986-10-17 | 1988-05-20 | フィリップス エレクトロニクス ネムローゼ フェンノートシャップ | フィールド偏向回路 |
| WO2008041709A1 (en) * | 2006-10-03 | 2008-04-10 | Panasonic Corporation | Evaluation system, lighting device, and image display device |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5118594A (ja) * | 1974-08-06 | 1976-02-14 | Asahi Glass Co Ltd | Harogennodosokuteisochi |
-
1978
- 1978-08-23 JP JP10189378A patent/JPS5529720A/ja active Granted
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63115470A (ja) * | 1986-10-17 | 1988-05-20 | フィリップス エレクトロニクス ネムローゼ フェンノートシャップ | フィールド偏向回路 |
| WO2008041709A1 (en) * | 2006-10-03 | 2008-04-10 | Panasonic Corporation | Evaluation system, lighting device, and image display device |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5529720A (en) | 1980-03-03 |
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