JPH0778768A - Thin film forming device and method - Google Patents

Thin film forming device and method

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JPH0778768A
JPH0778768A JP17997793A JP17997793A JPH0778768A JP H0778768 A JPH0778768 A JP H0778768A JP 17997793 A JP17997793 A JP 17997793A JP 17997793 A JP17997793 A JP 17997793A JP H0778768 A JPH0778768 A JP H0778768A
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JP
Japan
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film forming
thin film
raw material
forming chamber
substrate
Prior art date
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Withdrawn
Application number
JP17997793A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Atsushi Nakajima
淳 中島
Kenichi Ota
謙一 太田
Yukio Ono
幸夫 大野
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Taiyo Yuden Co Ltd
Original Assignee
Taiyo Yuden Co Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Taiyo Yuden Co Ltd filed Critical Taiyo Yuden Co Ltd
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Abstract

PURPOSE:Not only to form a thin film uniform and stable in thickness throughout the surface of a substrate but also to easily form a functional thin film. CONSTITUTION:Tunnel-like material guide paths 16a and 16b are provided so as to intersect each other at right angles, and the intersection is made to serve as a film forming chamber 14 wherein a substrate a on which a thin film is formed is housed. A suscepter 17 on which the substrate a is placed and a heater 13 which heats the substrate a are provided to the lower part of the film forming chamber 14. Material is fed to the film forming chamber 14 using alternately the material guide paths 16a and 16 but not fed through the guide guides 16a and 16b at the same time for the formation of a thin film on the substrate a.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、加熱した基体の表面に
気化或は霧化した原料を当てて、基体上に薄膜を形成す
る装置とその装置を用いた薄膜の形成方法に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an apparatus for forming a thin film on a substrate by applying a vaporized or atomized raw material to the surface of a heated substrate, and a method for forming a thin film using the apparatus.

【0002】[0002]

【従来の技術】太陽電池、液晶表示装置、プラズマ表示
装置等に用いられる透明導電膜や回路の抵抗体として使
用される抵抗薄膜は、金属酸化物膜により形成される。
この金属酸化物膜は、例えば、霧化装置によって生じた
原料溶液の霧を、成膜用ノズルから加熱された基体に向
けて放出し、加熱された基体上で反応、成膜させる。こ
の方法で金属酸化物膜を形成する場合に用いられている
霧化薄膜形成装置の例を、図5に示す。
2. Description of the Related Art A transparent conductive film used in a solar cell, a liquid crystal display device, a plasma display device or the like and a resistive thin film used as a resistor of a circuit are formed of a metal oxide film.
This metal oxide film, for example, emits a mist of a raw material solution generated by an atomizer toward a heated substrate through a film-forming nozzle, and reacts and forms a film on the heated substrate. An example of an atomized thin film forming apparatus used when forming a metal oxide film by this method is shown in FIG.

【0003】この装置では、トンネル状の原料の誘導路
6が設けられており、この誘導路6の中央部が薄膜を形
成する基体aを収納する成膜室4となっている。この成
膜室4の下部に基体aを載せて保持するサセプタ7が配
置され、サセプタ7の下には、そこに載せられた基体a
を加熱するヒータ3が設けられている。原料の誘導路6
の一端側の上面側には、原料を霧化或は気化して供給す
る原料供給器1がダクト2を介して接続されている。さ
らに、誘導路6の他端には、成膜室4を通過し、そこで
基体aの表面への薄膜の形成に消費されなかった原料を
排出する排出口5が設けられている。
In this apparatus, a tunnel-shaped raw material guiding path 6 is provided, and the central portion of the guiding path 6 is a film forming chamber 4 for accommodating a substrate a for forming a thin film. A susceptor 7 for mounting and holding the base body a is arranged below the film forming chamber 4, and under the susceptor 7, the base body a mounted thereon is placed.
Is provided with a heater 3 for heating. Raw material taxiway 6
A raw material supply device 1 for atomizing or vaporizing the raw material and supplying the same is connected to an upper surface side of one end side of the through a duct 2. Further, the other end of the guide path 6 is provided with a discharge port 5 for discharging the raw material which has passed through the film formation chamber 4 and was not consumed there for forming a thin film on the surface of the substrate a.

【0004】この薄膜形成装置では、成膜室4内に収納
された基体aがその下に設けられたヒータ3で成膜に必
要な所定の温度に加熱される。そして、原料供給器1側
からダクト2及び誘導路6を経て送られて来る霧状また
はガス状の原料が成膜室4で基体aの成膜面に接触し、
例えば、基体aの保有する熱により原料が分解し、さら
に分解した原料が空気中や溶液中の酸素等と反応し、基
体aの成膜面上に酸化物等の薄膜が形成される。基体a
の表面に薄膜を形成するのに寄与しなかった原料は、排
気口5から排気される。なお、図5の装置では、原料溶
液の霧を上側から誘導路6に供給するものであるが、霧
状或はガス状の原料を下側から誘導路6の供給する装置
も知られている。
In this thin film forming apparatus, the substrate a housed in the film forming chamber 4 is heated to a predetermined temperature necessary for film formation by the heater 3 provided therebelow. Then, the atomized or gaseous raw material sent from the raw material feeder 1 side through the duct 2 and the guide path 6 comes into contact with the film forming surface of the substrate a in the film forming chamber 4,
For example, the raw material is decomposed by the heat possessed by the base a, and the decomposed raw material reacts with oxygen or the like in the air or solution to form a thin film such as an oxide on the film formation surface of the base a. Substrate a
The raw material that has not contributed to the formation of the thin film on the surface of is exhausted from the exhaust port 5. In the apparatus shown in FIG. 5, the mist of the raw material solution is supplied to the guide path 6 from the upper side, but an apparatus for supplying the mist or gaseous raw material to the guide path 6 from the lower side is also known. .

【0005】[0005]

【発明が解決しようとしている課題】前記従来の装置で
ガラス板等の基体6の表面に金属酸化物膜を形成した場
合、原料の供給方向に沿った方向の基体a上の薄膜の膜
厚分布が概ね一定であるのに対し、原料の供給方向と直
交する方向の薄膜の膜厚分布が一定でなく、金属酸化物
膜の膜厚が不均一になるという欠点があった。これは、
ダクト2から誘導路6の中に導入された霧状或はガス状
の原料が誘導路6の壁面での流路抵抗を受けて、誘導路
6の中央付近の流量が多く、誘導路6の両側部分では原
料の流量が少なくなるためである。
When a metal oxide film is formed on the surface of a substrate 6 such as a glass plate in the above-mentioned conventional apparatus, the film thickness distribution of the thin film on the substrate a in the direction along the raw material supply direction. However, the film thickness distribution of the thin film in the direction orthogonal to the supply direction of the raw material is not constant, and the film thickness of the metal oxide film becomes non-uniform. this is,
The mist-like or gaseous raw material introduced from the duct 2 into the guideway 6 receives the flow path resistance on the wall surface of the guideway 6, and the flow rate near the center of the guideway 6 is large. This is because the flow rate of the raw material decreases on both sides.

【0006】このような金属酸化物膜の膜厚の不均一状
態が生じると、基体aの両側に干渉縞が現れ、外観上好
ましくないばかりでなく、特に膜厚の薄い基体aの両側
部では、金属酸化物膜として必要な特性が得られない。
このため、使用に際しては、膜厚の薄い基体aの両側部
分を除去しなければならない。
When such a non-uniform state of the film thickness of the metal oxide film occurs, interference fringes appear on both sides of the substrate a, which is not preferable in appearance, and especially on both sides of the thin substrate a. However, the characteristics required for the metal oxide film cannot be obtained.
Therefore, at the time of use, it is necessary to remove both side portions of the base body a having a small film thickness.

【0007】例えば、基体aの中央部の膜厚に対して±
5%の膜厚の違いが生じる両側の部分を除去して使用し
た場合、従来の装置でガラス基体上に酸化錫膜を形成し
たときに、この基準で除去されるのは、基体a上の有効
成膜幅の約30%にも及ぶ。従って、実際に使用できる
のは、基体aの有効成膜幅の約70%に過ぎず、製品の
歩留りが悪いという欠点があった。本発明は、前記従来
の薄膜形成装置の課題に鑑み、基体の全幅にわたって均
一で安定した膜厚の薄膜を形成することができる薄膜形
成装置を提供することを目的とする。
For example, with respect to the film thickness of the central portion of the substrate a ±
When the parts on both sides where a difference in film thickness of 5% occurs are removed and used, when the tin oxide film is formed on the glass substrate by the conventional apparatus, the removal on this basis is based on the substrate a. It reaches about 30% of the effective film formation width. Therefore, only about 70% of the effective film-forming width of the substrate a can be actually used, and there is a drawback that the yield of products is poor. In view of the problems of the conventional thin film forming apparatus, an object of the present invention is to provide a thin film forming apparatus capable of forming a thin film having a uniform and stable film thickness over the entire width of a substrate.

【0008】[0008]

【課題を解決するための手段】すなわち、本発明では、
前記の目的を達成するため、薄膜を形成する基体aを収
納する成膜室14と、成膜室14に収納された基体aを
加熱するヒータ13と、原料溶液の霧または気体を発生
し、前記成膜室14に霧化または気化された原料を供給
する原料供給器11a、11bと、薄膜形成に消費され
なかった原料を成膜室14から排出する排出口15a、
15bとを有する薄膜形成装置において、成膜室14に
供給される霧化または気化された原料の進行方向が互い
に異なるように、原料供給器11a、11bと排出口1
5a、15bとが複数設けられたことを特徴とする薄膜
形成装置を提供する。
That is, according to the present invention,
In order to achieve the above-mentioned object, a film forming chamber 14 for accommodating a substrate a for forming a thin film, a heater 13 for heating the substrate a accommodated in the film forming chamber 14, a fog or a gas of a raw material solution, Raw material feeders 11a and 11b for supplying the atomized or vaporized raw material to the film forming chamber 14, and a discharge port 15a for discharging the raw material not consumed for thin film formation from the film forming chamber 14.
15b, the raw material supply devices 11a and 11b and the discharge port 1 are arranged so that the atomized or vaporized raw materials supplied to the film forming chamber 14 have different traveling directions.
There is provided a thin film forming apparatus characterized in that a plurality of 5a and 15b are provided.

【0009】なおこの場合において、原料供給器11
a、11b側から前記成膜室14を経て排出口15a、
15bに至る原料の誘導路16a、16bを複数設け、
これらを交差させてその交差部分に前記成膜室14を設
けるのがよい。そして、各々の誘導路16a、16bを
成膜室14と遮断するシャッタ17a、17bを備える
のがよい。
In this case, the raw material feeder 11
From the a and 11b sides, through the film forming chamber 14, discharge ports 15a,
A plurality of material guide paths 16a, 16b leading to 15b are provided,
It is preferable that these are intersected and the film forming chamber 14 is provided at the intersection. Further, it is preferable to provide shutters 17a and 17b for blocking each of the guide paths 16a and 16b from the film forming chamber 14.

【0010】さらに本発明では、薄膜を形成する基体a
を収納する成膜室14と、成膜室14に収納された基体
aを加熱するヒータ13と、原料溶液の霧または気体を
発生し、前記成膜室14に霧化または気化された原料を
供給する原料供給器11a、11bと、薄膜形成に消費
されなかった原料を成膜室から排出する排出口15a、
15bとを有する薄膜形成装置を用いて基体a上に薄膜
を形成する方法において、原料供給器11a、11b側
から前記成膜室14を経て排出口15a、15bに至る
原料の誘導路16a、16bを複数設けて、これらを前
記成膜室14において交差させ、これら各誘導路16
a、16bから、その交点にある成膜室14に交互に原
料を供給して基体aに薄膜を形成することを特徴とする
薄膜形成方法を提供する。
Further, according to the present invention, a base a for forming a thin film is formed.
, A heater 13 for heating the substrate a housed in the film forming chamber 14, a mist or gas of the raw material solution, and the atomized or vaporized raw material in the film forming chamber 14. Raw material feeders 11a and 11b for supplying, and a discharge port 15a for discharging raw material not consumed for thin film formation from the film forming chamber,
In the method of forming a thin film on a substrate a using a thin film forming apparatus having a raw material supply device 15b, raw material guiding paths 16a, 16b from the raw material supply devices 11a, 11b side to the discharge ports 15a, 15b through the film forming chamber 14. A plurality of them, and these are crossed in the film forming chamber 14, and each of these guide paths 16
The thin film forming method is characterized in that the thin film is formed on the substrate a by alternately supplying the raw materials from a and 16b to the film forming chamber 14 at the intersection.

【0011】[0011]

【作用】前記本発明の薄膜形成装置では、成膜室14に
供給される霧化または気化された原料の進行方向が互い
に異なるように、原料供給器11a、11bと排出口1
5a、15bとが複数設けられているため、成膜室14
には、一方向からだけでなく、複数の方向から原料が流
れてくる。このため、一方向から原料を流して薄膜を形
成した場合とは異なり、基体aの対向する縁の部分に薄
膜の膜厚の偏りが生じることなく、薄膜の膜厚が平準化
され、均一な膜厚の薄膜が形成できる。また、各々の誘
導路16a、16bから異なる成分の原料を供給するこ
とができるので、薄膜の成分の組成比の制御が容易にな
り、抵抗膜等の機能性薄膜の形成が可能となる。
In the thin film forming apparatus of the present invention, the raw material feeders 11a and 11b and the discharge port 1 are arranged so that the atomized or vaporized raw materials supplied to the film forming chamber 14 have different traveling directions.
Since a plurality of 5a and 15b are provided, the film forming chamber 14
, The raw materials flow not only from one direction but from multiple directions. Therefore, unlike the case where the raw material is flowed from one direction to form the thin film, the thin film thickness is leveled and uniformed without unevenness in the thin film thickness at the opposite edge portions of the substrate a. A thin film having a film thickness can be formed. Further, since the raw materials having different components can be supplied from the respective induction paths 16a and 16b, the composition ratio of the components of the thin film can be easily controlled, and the functional thin film such as the resistance film can be formed.

【0012】料供給器11a、11b側から前記成膜室
14を経て排出口15a、15bに至る原料の誘導路1
6a、16bを複数設け、これらを交差させてその交差
部分に前記成膜室14を設け、各々の誘導路16a、1
6bを成膜室14と遮断するシャッタ17a、17bを
備えたものでは、各誘導路16a、16bから成膜室1
4に供給される原料を適時遮断し、原料の流れの方向を
切り替えることができる。このため、複数の誘導路16
a、16bから同時に原料が成膜室14に供給されるこ
とを防止することができると共に、原料の流れの方向の
制御が容易となり、前述のように機能性薄膜の形成に有
効である。
A raw material guide path 1 from the material supply units 11a and 11b to the discharge ports 15a and 15b through the film forming chamber 14.
A plurality of 6a and 16b are provided, these are intersected, and the film forming chamber 14 is provided at the intersecting portion.
In the case where the shutters 17a and 17b for shutting off 6b from the film forming chamber 14 are provided, the film forming chamber 1 is connected to the guide paths 16a and 16b.
It is possible to cut off the raw material supplied to No. 4 at appropriate times and switch the flow direction of the raw material. Therefore, a plurality of taxiways 16
It is possible to prevent the raw materials from being simultaneously supplied to the film forming chamber 14 from a and 16b, and it becomes easy to control the flow direction of the raw materials, which is effective for forming the functional thin film as described above.

【0013】さらに、本発明の薄膜形成方法では、成膜
室14において交差した各誘導路16a、16bから交
互に原料を成膜室14に供給して基体aに薄膜を形成す
るため、複数の誘導路16a、16bから同時に原料が
成膜室14に供給されない。これにより、成膜室14の
原料の流れが乱れることなく、基体a上に良好な状態で
薄膜が形成できる。
Further, in the thin film forming method of the present invention, the raw materials are alternately supplied to the film forming chamber 14 from the respective guiding paths 16a and 16b intersecting in the film forming chamber 14 to form a thin film on the substrate a. The raw materials are not simultaneously supplied to the film forming chamber 14 from the induction paths 16a and 16b. Thereby, the thin film can be formed in good condition on the substrate a without disturbing the flow of the raw material in the film forming chamber 14.

【0014】[0014]

【実施例】次に、図面を参照しながら、本発明の実施例
について具体的に説明する。本発明の第一の実施例によ
る薄膜形成装置を図1と図2に示す。この実施例による
装置では、トンネル状の原料の誘導路16a、16bが
2本設けられており、これらの誘導路16a、16b
は、その中央部で直交状に交差し、その交差した部分が
薄膜を形成する基体aを収納する成膜室14となってい
る。
Embodiments of the present invention will now be specifically described with reference to the drawings. The thin film forming apparatus according to the first embodiment of the present invention is shown in FIGS. In the apparatus according to this embodiment, two tunnel-shaped raw material guide paths 16a and 16b are provided, and these guide paths 16a and 16b are provided.
At the central portion thereof intersect at right angles, and the intersecting portion is a film forming chamber 14 for accommodating a base a for forming a thin film.

【0015】この成膜室4の下部に基体aを載せて保持
するサセプタ17が配置され、このサセプタ17の下に
は、そこに載せられた基体aを加熱するヒータ3が設け
られている。原料の誘導路6a、16aの一端側の上面
側には、各々原料を霧化或は気化して供給する原料供給
器11a、11bがダクト12a、12bを介して接続
されている。さらに、誘導路16a、16bの他端に
は、成膜室14を通過し、そこで基体aの表面への薄膜
の形成に消費されなかった原料を排出する排出口15
a、15bが設けられている。
A susceptor 17 for mounting and holding a substrate a is arranged under the film forming chamber 4, and a heater 3 for heating the substrate a mounted thereon is provided under the susceptor 17. Raw material feeders 11a and 11b for supplying the raw material after atomizing or vaporizing the raw materials are connected to the upper surfaces of the raw material guide paths 6a and 16a through ducts 12a and 12b, respectively. Further, at the other ends of the guide paths 16a and 16b, a discharge port 15 for discharging the raw material that has passed through the film forming chamber 14 and was not consumed there to form a thin film on the surface of the substrate a.
a and 15b are provided.

【0016】この薄膜形成装置では、成膜室14内に収
納された基体aがその下に設けられたヒーター3で成膜
に必要な所定の温度に加熱される。そして、原料供給器
11a、11b側からダクト12a、12b及び誘導路
16a、16bを経て送られて来る霧状またはガス状の
原料が成膜室14で基体aの成膜面に接触し、例えば、
基体aの保有する熱により原料が分解し、さらに分解し
た原料が空気中の酸素等と反応し、基体aの成膜面上に
酸化物等の薄膜が形成される。基体aの表面に薄膜を形
成するのに寄与しなかった原料は、排気口15a、15
bから排気される。
In this thin film forming apparatus, the substrate a housed in the film forming chamber 14 is heated to a predetermined temperature required for film formation by the heater 3 provided therebelow. Then, the atomized or gaseous raw material sent from the raw material feeders 11a, 11b through the ducts 12a, 12b and the guide paths 16a, 16b comes into contact with the film-forming surface of the substrate a in the film-forming chamber 14, ,
The raw material is decomposed by the heat held by the base a, and the decomposed raw material reacts with oxygen in the air or the like to form a thin film of oxide or the like on the film forming surface of the base a. The raw materials that did not contribute to the formation of the thin film on the surface of the substrate a were exhaust ports 15a, 15
Exhausted from b.

【0017】ここで、本発明による薄膜形成方法では、
2つの誘導路16a、16bから成膜室14に同時に原
料を送らず、交互に原料を送る。すなわち、原料供給器
11aと11bとを交互に動作させて、各々の誘導路1
6a、16bから成膜室14に交互に原料を送る。これ
により、2つの誘導路16a、16bから送られて来る
原料が互いに干渉して乱れず、原料が成膜室14を整然
と流れる。
Here, in the thin film forming method according to the present invention,
The raw materials are not sent to the film formation chamber 14 from the two guide paths 16a and 16b at the same time, but the raw materials are alternately sent. That is, the raw material feeders 11a and 11b are alternately operated so that each of the guideways 1
Raw materials are alternately sent to the film forming chamber 14 from 6a and 16b. As a result, the raw materials sent from the two guide paths 16a and 16b do not interfere with each other and are disturbed, and the raw materials flow in an orderly manner in the film forming chamber 14.

【0018】図6のグラフは、図1及び図2に示す装置
を用い、本発明による薄膜形成方法により、ガラス板か
らなる基体aの表面に薄膜として酸化錫膜を形成した場
合の基体aの幅方向の位置の平均膜厚を示すものであ
る。原料としては、SnCl4の10重量%水溶液を用
い、これらを超音波霧化器により霧化させて、直交する
2つの誘導路16a、16bから各々交互に成膜室14
に供給し、400℃に加熱したガラス基体上に酸化錫薄
膜を形成した。この例では、基体aの中央部の膜厚に対
して±5%の膜厚が得られたのは、基体aの有効成膜幅
の約90%である。一方、図5で示す従来の薄膜形成装
置を用い、1方向からのみ成膜室14に原料を供給し、
同様にして酸化錫薄膜を形成した場合、図6に示すよう
に、基体aの中央部の膜厚に対して±5%の膜厚が得ら
れたのは、基体aの有効成膜幅の約70%であった。
The graph of FIG. 6 shows a substrate a when a tin oxide film is formed as a thin film on the surface of a substrate a made of a glass plate by the thin film forming method according to the present invention using the apparatus shown in FIGS. 1 and 2. It shows the average film thickness at the position in the width direction. As a raw material, a 10 wt% aqueous solution of SnCl 4 was used, and these were atomized by an ultrasonic atomizer to alternately form the film formation chambers 14 from two orthogonal guide paths 16a and 16b.
And a tin oxide thin film was formed on the glass substrate heated to 400 ° C. In this example, the film thickness of ± 5% with respect to the film thickness of the central portion of the substrate a was obtained in about 90% of the effective film formation width of the substrate a. On the other hand, using the conventional thin film forming apparatus shown in FIG. 5, the raw material is supplied to the film forming chamber 14 from only one direction,
When a tin oxide thin film was formed in the same manner, as shown in FIG. 6, a film thickness of ± 5% with respect to the film thickness of the central portion of the substrate a was obtained because of the effective film formation width of the substrate a. It was about 70%.

【0019】次に、図3と図4の実施例について説明す
ると、この実施例では、各々の誘導路16a、16bを
成膜室14と遮断するシャッタ17a、17bが備えら
れている。すなわち、これらのシャッター17a、17
bは、各誘導路16aの成膜室14の前後の部分に設け
られており、それを閉じることにより、誘導路16a、
16bが成膜室14の部分で遮断される。図3はシャッ
タ17a、17aを閉じて、誘導路16aを遮断し、誘
導路16b側からのみ成膜室14に原料を送る場合であ
る。他方、図4はシャッタ17b、17bを閉じて、誘
導路16bを遮断し、誘導路16a側からのみ成膜室1
4に原料を送る場合である。
Next, the embodiment shown in FIGS. 3 and 4 will be described. In this embodiment, shutters 17a and 17b are provided to shut off the respective guiding paths 16a and 16b from the film forming chamber 14. That is, these shutters 17a, 17
b is provided in the front and rear portions of the film forming chamber 14 of each guide path 16a, and by closing it, the guide path 16a,
16b is shut off in the film forming chamber 14. FIG. 3 shows a case where the shutters 17a, 17a are closed, the guide path 16a is blocked, and the raw material is sent to the film forming chamber 14 only from the guide path 16b side. On the other hand, in FIG. 4, the shutters 17b and 17b are closed to shut off the guide path 16b, and the film forming chamber 1 is provided only from the guide path 16a side.
This is the case where the raw material is sent to No. 4.

【0020】この装置によれば、前記本発明による薄膜
形成方法が原料供給器11a、11aの動作制御による
ことなく、シャッタ17a、17bの操作により行うこ
とができる。しかも、迅速な流れの切り替えが可能であ
る。なお、以上の実施例では、2つの誘導路16a、1
6bを成膜室14の部分で直交させた例であるが、3つ
以上の誘導路16a、16bを交差させることも可能で
あり、その成膜室14での交差角度も直角に限るもので
はない。
According to this apparatus, the thin film forming method according to the present invention can be performed by operating the shutters 17a and 17b without depending on the operation control of the raw material feeders 11a and 11a. Moreover, it is possible to switch the flow quickly. In the above embodiment, the two guideways 16a, 1
6b is an example in which the film forming chamber 14 is made orthogonal to each other, but it is also possible to intersect three or more guide paths 16a and 16b, and the intersecting angle in the film forming chamber 14 is not limited to a right angle. Absent.

【0021】なお、前記した薄膜形成装置及び薄膜形成
方法の他に、基体aの搬送路に沿って設けられた成膜室
内に原料の進行方向が互いに異なるように、原料供給器
と排出口を複数設けることで、前記実施例と同様に均一
な膜厚の薄膜を得ることができる。
In addition to the thin film forming apparatus and the thin film forming method described above, a raw material supply unit and a discharge port are provided in the film forming chamber provided along the transfer path of the substrate a so that the advancing directions of the raw materials are different from each other. By providing a plurality of thin films, a thin film having a uniform film thickness can be obtained as in the above-described embodiment.

【0022】また、前述の図1及び図2に示された薄膜
形成装置において、各誘導路16a、16bに各々異な
る成分の原料を流すことで、基体a上に従来とは異なる
性質の薄膜を形成することができる。例えば、一方の誘
導路16aにSnCl4 の10重量%の水溶液の霧を流
し、他方の誘導路16bにFnCl4 の10重量%の水
溶液の霧を流すことにより、薄膜の電気抵抗値が増加
し、薄膜抵抗体として用いることができる薄膜を形成す
ることができる。このようにして形成した薄膜でも、前
述のように、膜厚の均一化が同時に図られることは言う
までもない。
Further, in the thin film forming apparatus shown in FIGS. 1 and 2 described above, by flowing raw materials of different components through the respective induction paths 16a and 16b, a thin film having a property different from the conventional one can be formed on the substrate a. Can be formed. For example, by flowing a mist of a 10 wt% aqueous solution of SnCl 4 through one induction path 16a and a mist of a 10% by weight aqueous solution of FnCl 4 through the other induction path 16b, the electrical resistance value of the thin film is increased. A thin film that can be used as a thin film resistor can be formed. Needless to say, even with the thin film thus formed, the film thickness can be made uniform as described above.

【0023】[0023]

【発明の効果】以上説明した通り、本発明によれば、基
体の中央部と両側部との膜厚の差を小さくし、基体の全
幅にわたって均一で安定した膜厚の薄膜を形成すること
ができるため、基体の有効成膜幅に対して利用可能な膜
厚の薄膜を得られる幅に割合を大きくすることができ
る。これにより、薄膜形成の歩留りを向上させることが
可能となる。また、各々の誘導路16a、16bから異
なる成分の原料を供給することにより、抵抗膜等の機能
性薄膜の形成が可能となる。
As described above, according to the present invention, it is possible to form a thin film having a uniform and stable film thickness over the entire width of the substrate by reducing the difference in film thickness between the central portion and both side portions of the substrate. Therefore, it is possible to increase the ratio to the width capable of obtaining a thin film having a usable film thickness with respect to the effective film forming width of the substrate. This makes it possible to improve the yield of thin film formation. Further, by supplying raw materials having different components from the respective induction paths 16a and 16b, it becomes possible to form a functional thin film such as a resistance film.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明の第一の実施例による薄膜形成装置の概
略縦断側面図である。
FIG. 1 is a schematic vertical sectional side view of a thin film forming apparatus according to a first embodiment of the present invention.

【図2】同実施例による薄膜形成装置の概略斜視図であ
る。
FIG. 2 is a schematic perspective view of a thin film forming apparatus according to the same embodiment.

【図3】本発明の第二の実施例による薄膜形成装置の一
方のシャッタを閉じた状態の概略斜視図である。
FIG. 3 is a schematic perspective view of the thin film forming apparatus according to the second embodiment of the present invention with one shutter closed.

【図4】同実施例による薄膜形成装置の他方のシャッタ
を閉じた状態の概略斜視図である。
FIG. 4 is a schematic perspective view of the thin film forming apparatus according to the embodiment with the other shutter closed.

【図5】従来例による薄膜形成装置の概略縦断側面図で
ある。
FIG. 5 is a schematic vertical sectional side view of a thin film forming apparatus according to a conventional example.

【図6】本発明の実施例による薄膜形成方法より形成さ
れた薄膜と比較例により形成された薄膜との基体の幅方
向の平均膜厚を示すグラフである。
FIG. 6 is a graph showing the average film thickness in the width direction of a substrate for a thin film formed by a thin film forming method according to an example of the present invention and a thin film formed for a comparative example.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

11a 原料供給器 11b 原料供給器 13 ヒータ 14 成膜室 15a 排出口 15b 排出口 16a 誘導路 16b 誘導路 17a シャッタ 17b シャッタ a 基体 11a raw material supply device 11b raw material supply device 13 heater 14 film forming chamber 15a discharge port 15b discharge port 16a guide path 16b guide path 17a shutter 17b shutter a substrate

Claims (4)

【整理番号】 0050178−01 【特許請求の範囲】[Reference number] 0050178-01 [Claims] 【請求項1】 薄膜を形成する基体(a)を収納する成
膜室(14)と、成膜室(14)に収納された基体
(a)を加熱するヒータ(13)と、原料溶液の霧また
は気体を発生し、前記成膜室(14)に霧化または気化
された原料を供給する原料供給器(11a)、(11
b)と、薄膜形成に消費されなかった原料を成膜室(1
4)から排出する排出口(15a)、(15b)とを有
する薄膜形成装置において、成膜室(14)に供給され
る霧化または気化された原料の進行方向が互いに異なる
ように、原料供給器(11a)、(11b)と排出口
(15a)、(15b)とが複数設けられたことを特徴
とする薄膜形成装置。
1. A film forming chamber (14) for accommodating a substrate (a) for forming a thin film, a heater (13) for heating the substrate (a) accommodated in the film forming chamber (14), and a raw material solution. Raw material feeders (11a), (11) for generating mist or gas and supplying the atomized or vaporized raw material to the film forming chamber (14).
b) and the raw material not consumed for thin film formation in the film forming chamber (1
In a thin film forming apparatus having discharge ports (15a) and (15b) for discharging from 4), raw material supply is performed so that the atomized or vaporized raw materials supplied to the film forming chamber (14) have different traveling directions. A thin film forming apparatus comprising a plurality of vessels (11a) and (11b) and a plurality of discharge ports (15a) and (15b).
【請求項2】 前記請求項1において、原料供給器(1
1a)、(11b)側から前記成膜室(14)を経て排
出口(15a)、(15b)に至る原料の誘導路(16
a)、(16b)を複数設け、これらを交差させてその
交差部分に前記成膜室(14)を設けたことを特徴とす
る薄膜形成装置。
2. The raw material feeder (1) according to claim 1,
1a), (11b) side through the film forming chamber (14) to the discharge ports (15a), (15b) of the raw material guide path (16)
A thin film forming apparatus characterized in that a) and a plurality of (16b) are provided, and these are intersected and the film forming chamber (14) is provided at the intersection.
【請求項3】 前記請求項2において、各々の誘導路
(16a)、(16bを成膜室(14)と遮断するシャ
ッタ(17a)、(17b)を備えることを特徴とする
薄膜形成装置。
3. The thin film forming apparatus according to claim 2, further comprising shutters (17a) and (17b) for blocking each of the guide paths (16a) and (16b) from the film forming chamber (14).
【請求項4】 薄膜を形成する基体(a)を収納する成
膜室(14)と、成膜室(14)に収納された基体
(a)を加熱するヒータ(13)と、原料溶液の霧また
は気体を発生し、前記成膜室(14)に霧化または気化
された原料を供給する原料供給器(11a)、(11
b)と、薄膜形成に消費されなかった原料を成膜室(1
4)から排出する排出口(15a)、(15b)とを有
する薄膜形成装置を用いて基体(a)上に薄膜を形成す
る方法において、原料供給器(11a)、(11b)側
から前記成膜室(14)を経て排出口(15a)、(1
5b)に至る原料の誘導路(16a)、(16b)を複
数設け、これら各誘導路(16a)、(16b)から、
その交点にある成膜室(14)に交互に原料を供給して
基体(a)に薄膜を形成することを特徴とする薄膜形成
方法。
4. A film forming chamber (14) for accommodating a substrate (a) for forming a thin film, a heater (13) for heating the substrate (a) accommodated in the film forming chamber (14), and a raw material solution. Raw material feeders (11a), (11) for generating mist or gas and supplying the atomized or vaporized raw material to the film forming chamber (14).
b) and the raw material not consumed for thin film formation in the film forming chamber (1
4) A method for forming a thin film on a substrate (a) using a thin film forming apparatus having discharge ports (15a) and (15b) for discharging from the raw material supply devices (11a) and (11b). Outlet (15a), (1
5b) is provided with a plurality of raw material guideways (16a) and (16b), and from these respective guideways (16a) and (16b),
A method for forming a thin film, characterized in that a raw material is alternately supplied to a film forming chamber (14) at the intersection to form a thin film on a substrate (a).
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002151489A (en) * 2000-08-11 2002-05-24 Tokyo Electron Ltd Substrate processing apparatus and processing method
JP2016039174A (en) * 2014-08-05 2016-03-22 住友化学株式会社 Reaction vessel sealing structure and substrate processing apparatus

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