JPH0778832B2 - エッジ検出方法 - Google Patents
エッジ検出方法Info
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- JPH0778832B2 JPH0778832B2 JP3050019A JP5001991A JPH0778832B2 JP H0778832 B2 JPH0778832 B2 JP H0778832B2 JP 3050019 A JP3050019 A JP 3050019A JP 5001991 A JP5001991 A JP 5001991A JP H0778832 B2 JPH0778832 B2 JP H0778832B2
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- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 18
- 238000003708 edge detection Methods 0.000 title claims description 12
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 2
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 description 2
- 241000283080 Proboscidea <mammal> Species 0.000 description 1
- 230000004069 differentiation Effects 0.000 description 1
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Description
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、対象物と背景との濃度
差を利用し、所定の閾値を用いて２値化した２値画像に
基づいて対象物と背景との境界線であるエッジを検出す
るエッジ検出方法に関するものである。
差を利用し、所定の閾値を用いて２値化した２値画像に
基づいて対象物と背景との境界線であるエッジを検出す
るエッジ検出方法に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】従来より、対象物と背景との境界線であ
るエッジを検出するエッジ検出方法としては、濃淡画像
の各画素についての微分値を求め、求めた微分値に基づ
いて２値化を行う閾値を補正する方法が特開昭６４−７
９８８２号公報に開示されている。
るエッジを検出するエッジ検出方法としては、濃淡画像
の各画素についての微分値を求め、求めた微分値に基づ
いて２値化を行う閾値を補正する方法が特開昭６４−７
９８８２号公報に開示されている。
【０００３】この方法は、対象物と背景との濃度差が小
さいときには微分値の最大値が小さくなり、濃度差が大
きいときには微分値の最大値も大きくなるという知見に
基づいている。すなわち、微分値の最大値が大きくなる
ほど２値化のための閾値を高く設定することによって、
対象物と背景との識別が容易になるような適正な２値画
像を得るようにしているのである。
さいときには微分値の最大値が小さくなり、濃度差が大
きいときには微分値の最大値も大きくなるという知見に
基づいている。すなわち、微分値の最大値が大きくなる
ほど２値化のための閾値を高く設定することによって、
対象物と背景との識別が容易になるような適正な２値画
像を得るようにしているのである。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】上記方法では、対象物
と背景とのコントラストの大きさに応じて適正な閾値を
設定できるという利点がある。しかしながら、少なくと
もエッジを含む領域については、すべての画素について
微分値を求める必要があるから、各画素が多値である濃
淡画像に対して多量の演算を行う必要があり、演算量が
非常に多くなるという問題があった。
と背景とのコントラストの大きさに応じて適正な閾値を
設定できるという利点がある。しかしながら、少なくと
もエッジを含む領域については、すべての画素について
微分値を求める必要があるから、各画素が多値である濃
淡画像に対して多量の演算を行う必要があり、演算量が
非常に多くなるという問題があった。
【０００５】本発明は上記問題点の解決を目的とするも
のであり、２値画像に対する比較的少ない量の演算で２
値化のための適正な閾値が設定できるようにしたエッジ
検出方法を提供しようとするものである。
のであり、２値画像に対する比較的少ない量の演算で２
値化のための適正な閾値が設定できるようにしたエッジ
検出方法を提供しようとするものである。
【０００６】
【課題を解決するための手段】請求項１の発明では、上
記目的を達成するために、２値画像に基づいて対象物と
背景との境界線であるエッジを検出するエッジ検出方法
において、検出すべきエッジに直交する方向に並べたエ
ッジに沿う方向の複数本のライン上で白画素と黒画素と
のうちの着目した一方の画素について連接する個数を求
め、連接する個数が規定個数よりも少ない第１のライン
に隣接して規定個数以上になる第２のラインが存在し、
かつ第２のラインに対して第１のラインの反対側に規定
個数以上になる第３のラインが存在するときに第２のラ
インをエッジを含む候補になる直線として検出し、この
直線を挟んで一対のウインドウを設定し、各ウインドウ
に含まれる白画素または黒画素の画素数に基づいて上記
直線がエッジを含むかどうかを判定し、エッジを含まな
いと判定した場合には２値化を行う閾値を変化させて２
値画像を再度作成し、新たに作成された２値画像に対し
て上記処理を施すのである。また、請求項２の発明で
は、上記目的を達成するために、２値画像に基づいて対
象物と背景との境界線であるエッジを検出するエッジ検
出方法において、エッジを含む候補になる直線を検出し
た後、この直線を挟んで同個数の画素を含む同形状の一
対のウインドウを設定し、各ウインドウに含まれる白画
素または黒画素の画素数に基づいて対象物への照射光量
および対象物と背景とのコントラストを判定して照射光
量およびコントラストが十分であるときに上記直線がエ
ッジを含むと判定し、エッジを含まないと判定した場合
には２値化を行う閾値を変化させて２値画像を再度作成
し、新たに作成された２値画像に対して上記処理を施す
のである。
記目的を達成するために、２値画像に基づいて対象物と
背景との境界線であるエッジを検出するエッジ検出方法
において、検出すべきエッジに直交する方向に並べたエ
ッジに沿う方向の複数本のライン上で白画素と黒画素と
のうちの着目した一方の画素について連接する個数を求
め、連接する個数が規定個数よりも少ない第１のライン
に隣接して規定個数以上になる第２のラインが存在し、
かつ第２のラインに対して第１のラインの反対側に規定
個数以上になる第３のラインが存在するときに第２のラ
インをエッジを含む候補になる直線として検出し、この
直線を挟んで一対のウインドウを設定し、各ウインドウ
に含まれる白画素または黒画素の画素数に基づいて上記
直線がエッジを含むかどうかを判定し、エッジを含まな
いと判定した場合には２値化を行う閾値を変化させて２
値画像を再度作成し、新たに作成された２値画像に対し
て上記処理を施すのである。また、請求項２の発明で
は、上記目的を達成するために、２値画像に基づいて対
象物と背景との境界線であるエッジを検出するエッジ検
出方法において、エッジを含む候補になる直線を検出し
た後、この直線を挟んで同個数の画素を含む同形状の一
対のウインドウを設定し、各ウインドウに含まれる白画
素または黒画素の画素数に基づいて対象物への照射光量
および対象物と背景とのコントラストを判定して照射光
量およびコントラストが十分であるときに上記直線がエ
ッジを含むと判定し、エッジを含まないと判定した場合
には２値化を行う閾値を変化させて２値画像を再度作成
し、新たに作成された２値画像に対して上記処理を施す
のである。
【０００７】
【作用】請求項１の発明の方法によれば、検出すべきエ
ッジに直交する方向に並べたエッジに沿う方向の複数本
のライン上で白画素と黒画素とのうちの着目した一方の
画素について連接する個数を求め、連接する個数が規定
個数よりも少ない第１のラインに隣接して規定個数以上
になる第２のラインが存在し、かつ第２のラインに対し
て第１のラインの反対側に規定個数以上になる第３のラ
インが存在するときに第２のラインをエッジを含む候補
になる直線として検出することによって、微分演算を行
なうことなく白画素または黒画素の連接する個数を求め
るだけで、エッジの候補となる直線を求めることができ
るのである。すなわち、多値の濃淡画像のすべての画素
について微分演算を行なう場合に比較すると、エッジの
候補となる直線を求める処理に要する計算量が大幅に少
なくなるのである。しかも、２値画像においてエッジを
含む候補になる直線を検出した後、この直線の両側での
白画素または黒画素の分布を検出することによって、上
記直線がエッジを含むかどうかを判定しているのであっ
て、閾値が適正に設定されていて上記直線がエッジを含
む直線であれば、上記直線を挟んで白画素あるいは黒画
素の画素数に大きな差が生じることによって、上記直線
がエッジを含むかどうかが正確に判定できるのである。
また、エッジを含まないと判定された場合に、閾値を変
化させて２値画像を再度作成し、その後、上記処理を繰
り返すようにしているので、閾値が適正な値になるまで
閾値を変化させて適正な閾値に収束させることができる
のであり、２値画像に対する演算のみの比較的少ない演
算量で適正な閾値を求めることができることになる。請
求項２の発明の方法によれば、エッジの候補になる直線
を挟んで同個数の画素を含む同形状の一対のウインドウ
を設定し、各ウインドウに含まれる白画素または黒画素
の画素数に基づいて対象物への照射光量および対象物と
背景とのコントラストを判定して照射光量およびコント
ラストが十分であるときに上記直線がエッジを含むと判
定することによって、エッジの候補となる直線を挟む同
形状のウインドウ内の同個数の画素のうちの着目する画
素（白画素または黒画素）の個数により、対象物への照
射光量および対象物と背景とのコントラストを判定する
ことができ、微分演算によらずに少ない演算量でエッジ
を含む直線を確定することができるのである。しかも、
エッジを含まないと判定した場合には２値化を行う閾値
を変化させて２値画像を再度作成し、新たに作成された
２値画像に対して上記処理を施すから、請求項１の発明
と同様に、適正な２値化を行なうことができる。
ッジに直交する方向に並べたエッジに沿う方向の複数本
のライン上で白画素と黒画素とのうちの着目した一方の
画素について連接する個数を求め、連接する個数が規定
個数よりも少ない第１のラインに隣接して規定個数以上
になる第２のラインが存在し、かつ第２のラインに対し
て第１のラインの反対側に規定個数以上になる第３のラ
インが存在するときに第２のラインをエッジを含む候補
になる直線として検出することによって、微分演算を行
なうことなく白画素または黒画素の連接する個数を求め
るだけで、エッジの候補となる直線を求めることができ
るのである。すなわち、多値の濃淡画像のすべての画素
について微分演算を行なう場合に比較すると、エッジの
候補となる直線を求める処理に要する計算量が大幅に少
なくなるのである。しかも、２値画像においてエッジを
含む候補になる直線を検出した後、この直線の両側での
白画素または黒画素の分布を検出することによって、上
記直線がエッジを含むかどうかを判定しているのであっ
て、閾値が適正に設定されていて上記直線がエッジを含
む直線であれば、上記直線を挟んで白画素あるいは黒画
素の画素数に大きな差が生じることによって、上記直線
がエッジを含むかどうかが正確に判定できるのである。
また、エッジを含まないと判定された場合に、閾値を変
化させて２値画像を再度作成し、その後、上記処理を繰
り返すようにしているので、閾値が適正な値になるまで
閾値を変化させて適正な閾値に収束させることができる
のであり、２値画像に対する演算のみの比較的少ない演
算量で適正な閾値を求めることができることになる。請
求項２の発明の方法によれば、エッジの候補になる直線
を挟んで同個数の画素を含む同形状の一対のウインドウ
を設定し、各ウインドウに含まれる白画素または黒画素
の画素数に基づいて対象物への照射光量および対象物と
背景とのコントラストを判定して照射光量およびコント
ラストが十分であるときに上記直線がエッジを含むと判
定することによって、エッジの候補となる直線を挟む同
形状のウインドウ内の同個数の画素のうちの着目する画
素（白画素または黒画素）の個数により、対象物への照
射光量および対象物と背景とのコントラストを判定する
ことができ、微分演算によらずに少ない演算量でエッジ
を含む直線を確定することができるのである。しかも、
エッジを含まないと判定した場合には２値化を行う閾値
を変化させて２値画像を再度作成し、新たに作成された
２値画像に対して上記処理を施すから、請求項１の発明
と同様に、適正な２値化を行なうことができる。
【０００８】
【実施例】図２に示すように、対象物を含む画像は、Ｃ
ＣＤカメラ等の画像入力装置１により撮像される。画像
入力装置１より出力されるアナログ信号である画像信号
は、Ａ／Ｄ変換回路２を通してディジタル信号に変換さ
れた後、２値化処理部３において２値化されて２値画像
メモリ４に格納される。２値化処理部３における閾値は
閾値設定部５で設定される。
ＣＤカメラ等の画像入力装置１により撮像される。画像
入力装置１より出力されるアナログ信号である画像信号
は、Ａ／Ｄ変換回路２を通してディジタル信号に変換さ
れた後、２値化処理部３において２値化されて２値画像
メモリ４に格納される。２値化処理部３における閾値は
閾値設定部５で設定される。
【０００９】本発明では、２値画像メモリ４に格納され
た２値画像に基づいて、２値化処理部３における適正な
閾値を設定するのであって、図１に示すように、まず対
象物と背景との境界線であるエッジを含む候補になる直
線（以下、エッジ候補と略称する）を検出する（ステッ
プ１００、１０１）。すなわち、エッジ検出部６では、
２値画像メモリ４に格納された２値画像について、図３
に示すように、エッジを検出すべき領域としてあらかじ
めマスクＭを設定しておき、マスクＭの中の画素Ｐにつ
いてエッジ候補を検出する。たとえば、垂直方向のエッ
ジ候補を検出するには、水平方向に順次探索を行うので
あって、まず、マスクＭの中の左端の垂直方向のライン
Ｌ1 について上端から下向きに画素の値を順次判定す
る。ここに、白画素（白抜きの丸）の値を０、黒画素
（斜線付きの丸）の値を１とし、黒画素が３個以上連接
しているラインＬ1 〜Ｌ5 が２本以上連接しているとき
に（ここでは、ラインＬ3 、Ｌ4 が条件を満たす）、連
接しているラインＬ3 、Ｌ4の左端のラインＬ3 をエッ
ジ候補とする。水平方向のエッジ候補を検出するには、
垂直方向に順次探索を行えばよい。また、ここでは、対
象物の内側が黒画素になると考えているが、対象物の内
側が白画素になる場合には、白画素の連接によってエッ
ジ候補を検出すればよい。なお、マスクＭの大きさ、画
素Ｐの連接個数、ラインＬ1 〜Ｌ5 の連接個数などは実
施例に限定されるものではない。
た２値画像に基づいて、２値化処理部３における適正な
閾値を設定するのであって、図１に示すように、まず対
象物と背景との境界線であるエッジを含む候補になる直
線（以下、エッジ候補と略称する）を検出する（ステッ
プ１００、１０１）。すなわち、エッジ検出部６では、
２値画像メモリ４に格納された２値画像について、図３
に示すように、エッジを検出すべき領域としてあらかじ
めマスクＭを設定しておき、マスクＭの中の画素Ｐにつ
いてエッジ候補を検出する。たとえば、垂直方向のエッ
ジ候補を検出するには、水平方向に順次探索を行うので
あって、まず、マスクＭの中の左端の垂直方向のライン
Ｌ1 について上端から下向きに画素の値を順次判定す
る。ここに、白画素（白抜きの丸）の値を０、黒画素
（斜線付きの丸）の値を１とし、黒画素が３個以上連接
しているラインＬ1 〜Ｌ5 が２本以上連接しているとき
に（ここでは、ラインＬ3 、Ｌ4 が条件を満たす）、連
接しているラインＬ3 、Ｌ4の左端のラインＬ3 をエッ
ジ候補とする。水平方向のエッジ候補を検出するには、
垂直方向に順次探索を行えばよい。また、ここでは、対
象物の内側が黒画素になると考えているが、対象物の内
側が白画素になる場合には、白画素の連接によってエッ
ジ候補を検出すればよい。なお、マスクＭの大きさ、画
素Ｐの連接個数、ラインＬ1 〜Ｌ5 の連接個数などは実
施例に限定されるものではない。
【００１０】以上のようにしてエッジ候補Ｅを検出した
後、計数部７では、図４に示すように、マスクＭの中に
エッジ候補Ｅを挟んで一対のウインドウＷ1、Ｗ2 を設
定する。両ウインドウＷ1 、Ｗ2 は同形状であって同数
の画素Ｐを含むように設定され、各ウインドウＷ1、Ｗ
2 の中の白画素または黒画素の数がそれぞれ計数される
（図１のステップ１０２）。たとえば、対象物の内側が
黒画素になる場合に、各ウインドウＷ1 、Ｗ2 の中の黒
画素の個数を計数すれば、エッジ候補Ｅに対して対象物
側の黒画素の数は背景側の黒画素の数よりも大幅に多く
なるから、両ウインドウＷ1 、Ｗ2 の中の黒画素の個数
の差や比を求めれば、エッジ候補Ｅが真のエッジである
かどうかの判定が行えることになる。
後、計数部７では、図４に示すように、マスクＭの中に
エッジ候補Ｅを挟んで一対のウインドウＷ1、Ｗ2 を設
定する。両ウインドウＷ1 、Ｗ2 は同形状であって同数
の画素Ｐを含むように設定され、各ウインドウＷ1、Ｗ
2 の中の白画素または黒画素の数がそれぞれ計数される
（図１のステップ１０２）。たとえば、対象物の内側が
黒画素になる場合に、各ウインドウＷ1 、Ｗ2 の中の黒
画素の個数を計数すれば、エッジ候補Ｅに対して対象物
側の黒画素の数は背景側の黒画素の数よりも大幅に多く
なるから、両ウインドウＷ1 、Ｗ2 の中の黒画素の個数
の差や比を求めれば、エッジ候補Ｅが真のエッジである
かどうかの判定が行えることになる。
【００１１】すなわち、判定部８は、計数部７において
計数された各ウインドウＷ1 、Ｗ2 の中の黒画素または
白画素の個数の差または比を所定の基準値と比較し、基
準値との大小関係に基づいてエッジ候補Ｅが真のエッジ
であるかどうかの判定を行うのである。ここに、ウイン
ドウＷ1 、Ｗ2 の中の各黒画素の個数をｗ１、ｗ２と
し、２種類の基準値α、βを設定する。図１のステップ
１０３、１０４に示すように、ｗ２≧αであれば光量は
十分であるものと判断し、ｗ２−ｗ１≧βであれば、コ
ントラストも大きいから検出したエッジ候補Ｅは真のエ
ッジであると判定する（ステップ１０５）。一方、ｗ２
＜αであれば、光量が不足しているものと判断して２値
化のための閾値を下げるように閾値設定部５を制御する
ことによって（ステップ１０６）、２値化処理部３の閾
値を変更し、撮像を再度行って上記処理を繰り返す。ま
た、ｗ２≧αが成立しても、ｗ２−ｗ１＜βであれば、
光量が多すぎるものと判断して閾値を上げるように閾値
設定部５を制御し（ステップ１０７）、撮像を再度行っ
て上記処理を繰り返す。ここに、２値化処理部３の閾値
は所定幅で多段階に設定され、閾値の上下は１段階ずつ
行われる。
計数された各ウインドウＷ1 、Ｗ2 の中の黒画素または
白画素の個数の差または比を所定の基準値と比較し、基
準値との大小関係に基づいてエッジ候補Ｅが真のエッジ
であるかどうかの判定を行うのである。ここに、ウイン
ドウＷ1 、Ｗ2 の中の各黒画素の個数をｗ１、ｗ２と
し、２種類の基準値α、βを設定する。図１のステップ
１０３、１０４に示すように、ｗ２≧αであれば光量は
十分であるものと判断し、ｗ２−ｗ１≧βであれば、コ
ントラストも大きいから検出したエッジ候補Ｅは真のエ
ッジであると判定する（ステップ１０５）。一方、ｗ２
＜αであれば、光量が不足しているものと判断して２値
化のための閾値を下げるように閾値設定部５を制御する
ことによって（ステップ１０６）、２値化処理部３の閾
値を変更し、撮像を再度行って上記処理を繰り返す。ま
た、ｗ２≧αが成立しても、ｗ２−ｗ１＜βであれば、
光量が多すぎるものと判断して閾値を上げるように閾値
設定部５を制御し（ステップ１０７）、撮像を再度行っ
て上記処理を繰り返す。ここに、２値化処理部３の閾値
は所定幅で多段階に設定され、閾値の上下は１段階ずつ
行われる。
【００１２】なお、上記実施例では閾値を変更したとき
に、画像入力装置１による撮像を再度行っているが、撮
像した画像を濃淡画像メモリに格納しておき、閾値を変
更したときに、濃淡画像メモリに格納した濃淡画像に対
して２値化を施すようにしてもよい。また、２値化処理
部３、閾値設定部５、エッジ検出部６、計数部７、判定
部８はマイクロコンピュータを用いれば容易に実現でき
るものである。
に、画像入力装置１による撮像を再度行っているが、撮
像した画像を濃淡画像メモリに格納しておき、閾値を変
更したときに、濃淡画像メモリに格納した濃淡画像に対
して２値化を施すようにしてもよい。また、２値化処理
部３、閾値設定部５、エッジ検出部６、計数部７、判定
部８はマイクロコンピュータを用いれば容易に実現でき
るものである。
【００１３】
【発明の効果】請求項１の発明は、検出すべきエッジに
直交する方向に並べたエッジに沿う方向の複数本のライ
ン上で白画素と黒画素とのうちの着目した一方の画素に
ついて連接する個数を求め、連接する個数が規定個数よ
りも少ない第１のラインに隣接して規定個数以上になる
第２のラインが存在し、かつ第２のラインに対して第１
のラインの反対側に規定個数以上になる第３のラインが
存在するときに第２のラインをエッジを含む候補になる
直線として検出するので、微分演算を行なうことなく白
画素または黒画素の連接する個数を求めるだけで、エッ
ジの候補となる直線を求めることができ、結果的に、多
値の濃淡画像のすべての画素について微分演算を行なう
場合に比較すると、エッジの候補となる直線を求める処
理に要する計算量が大幅に少なくなるという利点を有す
る。しかも、２値画像においてエッジを含む候補になる
直線を検出した後、この直線の両側での白画素または黒
画素の分布を検出することによって、上記直線がエッジ
を含むかどうかを判定しているのであって、閾値が適正
に設定されていて上記直線がエッジを含む直線であれ
ば、上記直線を挟んで白画素あるいは黒画素の画素数に
大きな差が生じることによって、上記直線がエッジを含
むかどうかが正確に判定できるのである。また、エッジ
を含まないと判定された場合に、閾値を変化させて２値
画像を再度作成し、その後、上記処理を繰り返すように
しているので、閾値が適正な値になるまで閾値を変化さ
せて適正な閾値に収束させることができるのであり、２
値画像に対する演算のみの比較的少ない演算量で適正な
閾値を求めることができるという利点を有するのであ
る。すなわち、エッジの周辺の光量を判定して、環境の
変化によるコントラストの変動に対する閾値の補正を行
うことができるのであって、適正な閾値で２値化された
２値画像に基づいてエッジを正確に検出できるという利
点がある。 請求項２の発明は、エッジの候補になる直線
を挟んで同個数の画素を含む同形状の一対のウインドウ
を設定し、各ウインドウに含まれる白画素または黒画素
の画素数に基づいて対象物への照射光量および対象物と
背景とのコントラストを判定して照射光量およびコント
ラストが十分であるときに上記直線がエッジを含む と判
定するので、エッジの候補となる直線を挟む同形状のウ
インドウ内の同個数の画素のうちの着目する画素の個数
により、対象物への照射光量および対象物と背景とのコ
ントラストを判定することができ、微分演算によらずに
少ない演算量でエッジを含む直線を確定することができ
るという利点を有する。しかも、エッジを含まないと判
定した場合には２値化を行う閾値を変化させて２値画像
を再度作成し、新たに作成された２値画像に対して上記
処理を施すから、請求項１の発明と同様に、適正な２値
化を行なうことができるのである。
直交する方向に並べたエッジに沿う方向の複数本のライ
ン上で白画素と黒画素とのうちの着目した一方の画素に
ついて連接する個数を求め、連接する個数が規定個数よ
りも少ない第１のラインに隣接して規定個数以上になる
第２のラインが存在し、かつ第２のラインに対して第１
のラインの反対側に規定個数以上になる第３のラインが
存在するときに第２のラインをエッジを含む候補になる
直線として検出するので、微分演算を行なうことなく白
画素または黒画素の連接する個数を求めるだけで、エッ
ジの候補となる直線を求めることができ、結果的に、多
値の濃淡画像のすべての画素について微分演算を行なう
場合に比較すると、エッジの候補となる直線を求める処
理に要する計算量が大幅に少なくなるという利点を有す
る。しかも、２値画像においてエッジを含む候補になる
直線を検出した後、この直線の両側での白画素または黒
画素の分布を検出することによって、上記直線がエッジ
を含むかどうかを判定しているのであって、閾値が適正
に設定されていて上記直線がエッジを含む直線であれ
ば、上記直線を挟んで白画素あるいは黒画素の画素数に
大きな差が生じることによって、上記直線がエッジを含
むかどうかが正確に判定できるのである。また、エッジ
を含まないと判定された場合に、閾値を変化させて２値
画像を再度作成し、その後、上記処理を繰り返すように
しているので、閾値が適正な値になるまで閾値を変化さ
せて適正な閾値に収束させることができるのであり、２
値画像に対する演算のみの比較的少ない演算量で適正な
閾値を求めることができるという利点を有するのであ
る。すなわち、エッジの周辺の光量を判定して、環境の
変化によるコントラストの変動に対する閾値の補正を行
うことができるのであって、適正な閾値で２値化された
２値画像に基づいてエッジを正確に検出できるという利
点がある。 請求項２の発明は、エッジの候補になる直線
を挟んで同個数の画素を含む同形状の一対のウインドウ
を設定し、各ウインドウに含まれる白画素または黒画素
の画素数に基づいて対象物への照射光量および対象物と
背景とのコントラストを判定して照射光量およびコント
ラストが十分であるときに上記直線がエッジを含む と判
定するので、エッジの候補となる直線を挟む同形状のウ
インドウ内の同個数の画素のうちの着目する画素の個数
により、対象物への照射光量および対象物と背景とのコ
ントラストを判定することができ、微分演算によらずに
少ない演算量でエッジを含む直線を確定することができ
るという利点を有する。しかも、エッジを含まないと判
定した場合には２値化を行う閾値を変化させて２値画像
を再度作成し、新たに作成された２値画像に対して上記
処理を施すから、請求項１の発明と同様に、適正な２値
化を行なうことができるのである。
【図１】実施例の動作説明図である。
【図２】実施例のブロック図である。
【図３】実施例のエッジ検出部に関する動作説明図であ
る。
る。
【図４】実施例の計数部に関する動作説明図である。
１ 画像入力装置 ２ Ａ／Ｄ変換回路 ３ ２値化処理部 ４ ２値画像メモリ ５ 閾値設定部 ６ エッジ検出部 ７ 計数部 ８ 判定部
Claims (2)
- 【請求項１】 ２値画像に基づいて対象物と背景との境
界線であるエッジを検出するエッジ検出方法において、
検出すべきエッジに直交する方向に並べたエッジに沿う
方向の複数本のライン上で白画素と黒画素とのうちの着
目した一方の画素について連接する個数を求め、連接す
る個数が規定個数よりも少ない第１のラインに隣接して
規定個数以上になる第２のラインが存在し、かつ第２の
ラインに対して第１のラインの反対側に規定個数以上に
なる第３のラインが存在するときに第２のラインをエッ
ジを含む候補になる直線として検出し、この直線を挟ん
で一対のウインドウを設定し、各ウインドウに含まれる
白画素または黒画素の画素数に基づいて上記直線がエッ
ジを含むかどうかを判定し、エッジを含まないと判定し
た場合には２値化を行う閾値を変化させて２値画像を再
度作成し、新たに作成された２値画像に対して上記処理
を施すことを特徴とするエッジ検出方法。 - 【請求項２】 ２値画像に基づいて対象物と背景との境
界線であるエッジを検出するエッジ検出方法において、
エッジを含む候補になる直線を検出した後、この直線を
挟んで同個数の画素を含む同形状の一対のウインドウを
設定し、各ウインドウに含まれる白画素または黒画素の
画素数に基づいて対象物への照射光量および対象物と背
景とのコントラストを判定して照射光量およびコントラ
ストが十分であるときに上記直線がエッジを含むと判定
し、エッジを含まないと判定した場合には２値化を行う
閾値を変化させて２値画像を再度作成し、新たに作成さ
れた２値画像に対して上記処理を施すことを特徴とする
エッジ検出方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3050019A JPH0778832B2 (ja) | 1991-03-15 | 1991-03-15 | エッジ検出方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3050019A JPH0778832B2 (ja) | 1991-03-15 | 1991-03-15 | エッジ検出方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04340177A JPH04340177A (ja) | 1992-11-26 |
| JPH0778832B2 true JPH0778832B2 (ja) | 1995-08-23 |
Family
ID=12847287
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3050019A Expired - Lifetime JPH0778832B2 (ja) | 1991-03-15 | 1991-03-15 | エッジ検出方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0778832B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN113538600A (zh) * | 2020-04-15 | 2021-10-22 | 毫末智行科技有限公司 | 用于确定目标的底线的方法及装置、测距方法及装置 |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS619769A (ja) * | 1984-06-25 | 1986-01-17 | Matsushita Electric Works Ltd | 画像処理装置 |
| JPH07120418B2 (ja) * | 1986-08-14 | 1995-12-20 | 東芝精機株式会社 | パタ−ン認識方法 |
-
1991
- 1991-03-15 JP JP3050019A patent/JPH0778832B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH04340177A (ja) | 1992-11-26 |
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Legal Events
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|---|---|---|---|
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