JPH0778909B2 - 光デイスクのテストデイスク - Google Patents
光デイスクのテストデイスクInfo
- Publication number
- JPH0778909B2 JPH0778909B2 JP61139564A JP13956486A JPH0778909B2 JP H0778909 B2 JPH0778909 B2 JP H0778909B2 JP 61139564 A JP61139564 A JP 61139564A JP 13956486 A JP13956486 A JP 13956486A JP H0778909 B2 JPH0778909 B2 JP H0778909B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- disc
- optical disc
- test
- scratch
- optical
- Prior art date
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- Expired - Lifetime
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- Manufacturing Optical Record Carriers (AREA)
- Optical Record Carriers And Manufacture Thereof (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は、ビデオディスク，ディジタルオーディオディ
スク（例えばコンパクトディスク），静止画・文書ファ
イルなどのディジタル信号を記録，再生または消去可能
な光ディスクのテストディスクに関するものである。
スク（例えばコンパクトディスク），静止画・文書ファ
イルなどのディジタル信号を記録，再生または消去可能
な光ディスクのテストディスクに関するものである。
従来の技術 一般に光ディスクはその情報密度が極めて大きいこと
や,S/N比が大きく，ノイズが少ないことなどから情報媒
体として有望視され、ビデオディスクやディジタルオー
ディオディスクとして商品化され、ディジタル信号を記
録，再生する光ディスクとしても近年研究開発が行われ
ている。
や,S/N比が大きく，ノイズが少ないことなどから情報媒
体として有望視され、ビデオディスクやディジタルオー
ディオディスクとして商品化され、ディジタル信号を記
録，再生する光ディスクとしても近年研究開発が行われ
ている。
第５図に従来の一般的なディジタルオーディオディスク
であるコンパクトディスクの概要を示す。これは、PCM
変換されたディジタル信号が樹脂基板にピット列状に記
録され半導体レーザ光により再生されるものである。
であるコンパクトディスクの概要を示す。これは、PCM
変換されたディジタル信号が樹脂基板にピット列状に記
録され半導体レーザ光により再生されるものである。
第５図において、１はディスク、２は樹脂基板、３は樹
脂基板２に設けられたピット列状のディジタル信号部、
４はその表面に形成された反射膜、５は反射膜４にコー
ティングされた保護膜、６は保護膜５に設けられたレー
ベル印刷膜、７は再生用の半導体レーザ光である。反射
膜４はディジタル信号を再生するため、保護膜５は反射
膜を保護するため、レーベル印刷膜はディスク識別のた
め各々必要なものである。
脂基板２に設けられたピット列状のディジタル信号部、
４はその表面に形成された反射膜、５は反射膜４にコー
ティングされた保護膜、６は保護膜５に設けられたレー
ベル印刷膜、７は再生用の半導体レーザ光である。反射
膜４はディジタル信号を再生するため、保護膜５は反射
膜を保護するため、レーベル印刷膜はディスク識別のた
め各々必要なものである。
従来の光ディスクに関して、ディスク読取面上に傷によ
る欠陥がある場合には、光ディスクプレイヤーが正常に
ディジタル信号を再生することができずにトラックジャ
ンプやノイズの発生などの再生上の異常を生じることが
ある。これらの傷をシミュレーションすることは極めて
困難であり、良好は光ディスクのテストディスクは存在
しなかった。しかし、従来例としてトラックと直交する
方向に傷を付着させ、ある幅だけ傷を付着させたものが
あった。第３図に従来の光ディスクのテストディスクの
平面図を示す。１はディスクであり、８はトラック方向
に直交した方向に付けられた傷を示す。
る欠陥がある場合には、光ディスクプレイヤーが正常に
ディジタル信号を再生することができずにトラックジャ
ンプやノイズの発生などの再生上の異常を生じることが
ある。これらの傷をシミュレーションすることは極めて
困難であり、良好は光ディスクのテストディスクは存在
しなかった。しかし、従来例としてトラックと直交する
方向に傷を付着させ、ある幅だけ傷を付着させたものが
あった。第３図に従来の光ディスクのテストディスクの
平面図を示す。１はディスクであり、８はトラック方向
に直交した方向に付けられた傷を示す。
発明が解決しようとする問題点 しかしながら上記のような構成では、ディスクのトラッ
ク方向に直交した方向に傷を付着させ、あるトラック長
の間が完全に傷がつくためレーザ光の欠落部面積が大き
すぎることや、実際の傷のシミュレーションになってい
ないなどの問題点を有していた。
ク方向に直交した方向に傷を付着させ、あるトラック長
の間が完全に傷がつくためレーザ光の欠落部面積が大き
すぎることや、実際の傷のシミュレーションになってい
ないなどの問題点を有していた。
本発明は上記問題点に鑑み、実際の取扱い上に付着する
傷にシミュレーションした光ディスクのテストディスク
を提供するものである。
傷にシミュレーションした光ディスクのテストディスク
を提供するものである。
問題点を解決するための手段 上記問題点を解決するために本発明の光ディスクのテス
トディスクは、ディスク読取面上に、半径方向と直交す
る方向でありトラック方向にほぼ平行な各印刷膜の線
幅，長さ，深さが同じである複数本の印刷膜を設けるこ
とにより、傷ディスクにシミュレーションを図るもので
ある。
トディスクは、ディスク読取面上に、半径方向と直交す
る方向でありトラック方向にほぼ平行な各印刷膜の線
幅，長さ，深さが同じである複数本の印刷膜を設けるこ
とにより、傷ディスクにシミュレーションを図るもので
ある。
作用 本発明は上記した構成により、ディスク読取面上に、半
径方向と直交する方向で、トラック方向にほぼ平行な各
々の線幅，長さ，深さが同じである複数本の印刷膜を設
け、実際の傷にシミュレーションさせることにより光デ
ィスクプレヤーのプレヤビリティ測定用の光ディスクの
テストディスクを信頼性良く得ることができる。
径方向と直交する方向で、トラック方向にほぼ平行な各
々の線幅，長さ，深さが同じである複数本の印刷膜を設
け、実際の傷にシミュレーションさせることにより光デ
ィスクプレヤーのプレヤビリティ測定用の光ディスクの
テストディスクを信頼性良く得ることができる。
実施例 以下本発明の一実施例の光ディスクのテストディスクに
ついて、図面を参照しながら説明する。第１図は本発明
の第１の実施例における光ディスクのテストディスクの
平面図を示すものである。第１図において、半径方向と
直交する方向でトラック方向にほぼ平行に線幅50μm,長
さ2mm,深さ100μｍの印刷膜９を３本付着して第１の傷
シミュレーション10を形成する。このようにトラック方
向にほぼ平行な印刷膜９が３本設けられていることは、
ディジタル信号を再生する場合に、その傷の長さに概略
比例した欠落情報を得ることが可能であり、しかも数十
秒間の時間に対しては、欠落部分と正常部分とが交互に
存在するために、第１の傷シミュレーション10は実際の
傷に極めて近似される。
ついて、図面を参照しながら説明する。第１図は本発明
の第１の実施例における光ディスクのテストディスクの
平面図を示すものである。第１図において、半径方向と
直交する方向でトラック方向にほぼ平行に線幅50μm,長
さ2mm,深さ100μｍの印刷膜９を３本付着して第１の傷
シミュレーション10を形成する。このようにトラック方
向にほぼ平行な印刷膜９が３本設けられていることは、
ディジタル信号を再生する場合に、その傷の長さに概略
比例した欠落情報を得ることが可能であり、しかも数十
秒間の時間に対しては、欠落部分と正常部分とが交互に
存在するために、第１の傷シミュレーション10は実際の
傷に極めて近似される。
このような第１の傷シミュレーション10の再生プレヤー
から見た電気特性であるRF波形を第４図に示す。ここ
で、第４図ａが実際の傷ディスクを再生した場合のRF波
形、第４図ｂが本発明の一実施例である第１の印刷膜シ
ミュレーション10を再生した場合のRF波形を示す。参考
までに、従来の例である第３図に示す傷ディスクを再生
した場合のRF波形を第４図ｃに示す。このように、第１
の傷シミュレーション10は実際の傷に極めて近似されて
いることが電気特性より明らかである。
から見た電気特性であるRF波形を第４図に示す。ここ
で、第４図ａが実際の傷ディスクを再生した場合のRF波
形、第４図ｂが本発明の一実施例である第１の印刷膜シ
ミュレーション10を再生した場合のRF波形を示す。参考
までに、従来の例である第３図に示す傷ディスクを再生
した場合のRF波形を第４図ｃに示す。このように、第１
の傷シミュレーション10は実際の傷に極めて近似されて
いることが電気特性より明らかである。
以下本発明の第２の実施例について図面を参照しながら
説明する。第２図は本発明の第２の実施例を示す光ディ
スクのテストディスクの平面図を示すものである。第２
図において、光ディスクの半径方向と直交する方向で、
トラック方向にほぼ平行に各々の線幅50μm,深さ100μ
m,ピッチ300μｍの印刷膜を３本づつ３組設け、その長
さを各々5mm,3mm,2mmと変化させて第１の傷シミュレー
ション10,第２の傷シミュレーション11,第３の傷シミュ
レーション12とする。これによれば、１枚の光ディスク
内に複数の傷シミュレーションを設けることにより、再
生用光ディスクプレヤーのプレヤビリティを測定するテ
ストディスクとしては最適なものとすることができる。
説明する。第２図は本発明の第２の実施例を示す光ディ
スクのテストディスクの平面図を示すものである。第２
図において、光ディスクの半径方向と直交する方向で、
トラック方向にほぼ平行に各々の線幅50μm,深さ100μ
m,ピッチ300μｍの印刷膜を３本づつ３組設け、その長
さを各々5mm,3mm,2mmと変化させて第１の傷シミュレー
ション10,第２の傷シミュレーション11,第３の傷シミュ
レーション12とする。これによれば、１枚の光ディスク
内に複数の傷シミュレーションを設けることにより、再
生用光ディスクプレヤーのプレヤビリティを測定するテ
ストディスクとしては最適なものとすることができる。
なお、線幅と深さと長さとを同一とし、印刷膜のピッチ
だけを変化させることにより、これと同等の効果を有す
るテストディスクを得ることも可能である。
だけを変化させることにより、これと同等の効果を有す
るテストディスクを得ることも可能である。
発明の効果 以上のように本発明は、ディスク読取面上に、半径方向
と直交する方向でトラック方向にほぼ平行な各々の線
幅，長さ，深さが同じである複数本の印刷膜を設けるこ
とにより、実際の傷に近似した傷シミュレーションが可
能であり、再生光ディスクプレヤーのプレヤビリティを
測定することができる。また、その印刷膜のピッチや長
さを自由に変化させ１枚のディスク内に複数の傷シミュ
レーションを形成することにより、信頼性の高い再生光
ディスクプレヤーのプレヤビリティ測定用の光ディスク
のテストディスクを提供することができる。
と直交する方向でトラック方向にほぼ平行な各々の線
幅，長さ，深さが同じである複数本の印刷膜を設けるこ
とにより、実際の傷に近似した傷シミュレーションが可
能であり、再生光ディスクプレヤーのプレヤビリティを
測定することができる。また、その印刷膜のピッチや長
さを自由に変化させ１枚のディスク内に複数の傷シミュ
レーションを形成することにより、信頼性の高い再生光
ディスクプレヤーのプレヤビリティ測定用の光ディスク
のテストディスクを提供することができる。
第１図は本発明の第１の実施例における光ディスクのテ
ストディスクの平面図、第２図は本発明の第２の実施例
における光ディスクのテストディスクの平面図、第３図
は従来の光ディスクのテストディスクの平面図、第４図
は再生光ディスクプレヤーにおける電気特性のRF波形を
示し、第４図ａは実際の傷ディスクのRF波形図、第４図
ｂは本発明の第１の実施例における光ディスクのテスト
ディスクのRF波形図、第４図ｃは従来のテストディスク
のRF波形図であり、第５図a,b,cは光ディスクの一種で
あるコンパクトディスクの平面図、断面図および要部拡
大図である。 １……ディスク、９……印刷膜、10……第１の傷シミュ
レーション、11……第２の傷シミュレーション、12……
第３の傷シミュレーション。
ストディスクの平面図、第２図は本発明の第２の実施例
における光ディスクのテストディスクの平面図、第３図
は従来の光ディスクのテストディスクの平面図、第４図
は再生光ディスクプレヤーにおける電気特性のRF波形を
示し、第４図ａは実際の傷ディスクのRF波形図、第４図
ｂは本発明の第１の実施例における光ディスクのテスト
ディスクのRF波形図、第４図ｃは従来のテストディスク
のRF波形図であり、第５図a,b,cは光ディスクの一種で
あるコンパクトディスクの平面図、断面図および要部拡
大図である。 １……ディスク、９……印刷膜、10……第１の傷シミュ
レーション、11……第２の傷シミュレーション、12……
第３の傷シミュレーション。
Claims (3)
- 【請求項１】ディスク読取面上に、半径方向と直交する
方向で、トラック方向にほぼ平行な各々の線幅，長さ，
深さが同じである複数本の印刷膜を設けたことを特徴と
する光ディスクのテストディスク。 - 【請求項２】各印刷膜の線幅が20〜100μm,長さが１〜1
0mm,深さが20〜500μm,ピッチが50〜500μｍであること
を特徴とする特許請求の範囲第１項記載の光ディスクの
テストディスク。 - 【請求項３】１枚のディスク読取面上に、半径方向と直
交する方向で、トラック方向にほぼ平行な各印刷膜の線
幅，深さは同じであり、ピッチまたは長さだけを順次変
化させた複数の印刷膜による傷シミュレーション形状を
設けたことを特徴とする光ディスクのテストディスク。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61139564A JPH0778909B2 (ja) | 1986-06-16 | 1986-06-16 | 光デイスクのテストデイスク |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61139564A JPH0778909B2 (ja) | 1986-06-16 | 1986-06-16 | 光デイスクのテストデイスク |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS62295234A JPS62295234A (ja) | 1987-12-22 |
| JPH0778909B2 true JPH0778909B2 (ja) | 1995-08-23 |
Family
ID=15248200
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP61139564A Expired - Lifetime JPH0778909B2 (ja) | 1986-06-16 | 1986-06-16 | 光デイスクのテストデイスク |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0778909B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| AU640928B2 (en) * | 1989-06-05 | 1993-09-09 | Sony Corporation | Check disc |
-
1986
- 1986-06-16 JP JP61139564A patent/JPH0778909B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS62295234A (ja) | 1987-12-22 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| EXPY | Cancellation because of completion of term |