JPH0779108B2 - Microwave integrated circuit module - Google Patents
Microwave integrated circuit moduleInfo
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- JPH0779108B2 JPH0779108B2 JP62212022A JP21202287A JPH0779108B2 JP H0779108 B2 JPH0779108 B2 JP H0779108B2 JP 62212022 A JP62212022 A JP 62212022A JP 21202287 A JP21202287 A JP 21202287A JP H0779108 B2 JPH0779108 B2 JP H0779108B2
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- jig
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- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10D—INORGANIC ELECTRIC SEMICONDUCTOR DEVICES
- H10D30/00—Field-effect transistors [FET]
- H10D30/80—FETs having rectifying junction gate electrodes
- H10D30/87—FETs having Schottky gate electrodes, e.g. metal-semiconductor FETs [MESFET]
Landscapes
- Wire Bonding (AREA)
- Die Bonding (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は、高周波で用いられるマイクロ波集積回路モジ
ュールに関するものである。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a microwave integrated circuit module used at high frequencies.
従来の技術 近年、半導体及びその関連技術の発展,衛星放送などに
代表される通信技術の発達により、利用される周波数は
ますます高くなる傾向にある。その中でも特に数GHzか
ら数十GHzにかけての周波数帯で、優れた半導体集積回
路装置の開発が切望されている。2. Description of the Related Art In recent years, the frequencies used have tended to become higher and higher due to the development of semiconductors and related technologies and the development of communication technologies typified by satellite broadcasting. Among them, particularly in the frequency band from several GHz to several tens GHz, development of an excellent semiconductor integrated circuit device has been earnestly desired.
以下図面を参照しながら従来の半導体集積回路装置の一
例ついて説明する。第2図は従来のマイクロ波半導体集
積回路装置、その中でも能動素子として電解効果トラン
ジスタ(以下、FETと略す)を、伝送線路としてマイク
ロストリップラインを用いたものについて示すものであ
る。ここで、1は真空蒸着法あるいはメッキ法により形
成された金属膜から成るマイクロストリップライン、2
はアルミナなどのセラミック基板、3は金属キャリヤ5
上にソース接地して装着されたFET、8はゲート(左
側)及びドレイン(右側)のボンディングパッド、9は
ボンディングワイヤ、10はインピーダンス変換用の並列
スタブ、11は前記FETにDCバイアスを付加するためのゲ
ート電源端子、12は同様にドレイン電源端子をそれぞれ
示す。An example of a conventional semiconductor integrated circuit device will be described below with reference to the drawings. FIG. 2 shows a conventional microwave semiconductor integrated circuit device, in which a field effect transistor (hereinafter abbreviated as FET) is used as an active element and a microstrip line is used as a transmission line. Here, 1 is a microstrip line made of a metal film formed by a vacuum deposition method or a plating method, 2
Is a ceramic substrate such as alumina, 3 is a metal carrier 5
FET mounted with the source grounded above, 8 bonding pads for the gate (left side) and drain (right side), 9 bonding wires, 10 parallel stubs for impedance conversion, 11 applies DC bias to the FETs , And 12 similarly represent drain power supply terminals, respectively.
従来のマイクロ波半導体集積回路装置は上記のように構
成され、ゲート及びドレインからDCバイアスを付加する
ことによりFETを動作させ、マイクロストリップライン
を用いた回路により、外部回路との整合をとっていた。
すなわち、線路の幅を太くしたり細くしたり、あるいは
スタブを設けたりすることによってインピーダンス整合
を行っていた。The conventional microwave semiconductor integrated circuit device is configured as described above, the FET is operated by applying the DC bias from the gate and the drain, and the circuit using the microstrip line is used to match the external circuit. .
That is, impedance matching is performed by making the line width thicker or thinner, or by providing a stub.
発明が解決しようとする問題点 しかしながら上記のような構成では、FET3とマイクロス
トリップライン1の接続はボンディングワイヤ9によっ
て行われるため、高周波になるに従いワイヤの長さが無
視できなくなり、上記の整合のための条件にボンディン
グワイヤも考慮に入れる必要が生じる。しかし前記ワイ
ヤの長さや形状を正確に制御することは非常に困難であ
る。また、ボンディングワイヤを設けるためには多くの
作業時間を要し歩留りの低下にもなっていた。さらに
は、信頼性においても問題があった。Problems to be Solved by the Invention However, in the above configuration, since the connection between the FET 3 and the microstrip line 1 is performed by the bonding wire 9, the wire length cannot be ignored as the frequency becomes higher, and the above matching Therefore, it becomes necessary to take the bonding wire into consideration. However, it is very difficult to accurately control the length and shape of the wire. In addition, it takes a lot of work time to provide the bonding wire, resulting in a decrease in yield. Furthermore, there was a problem in reliability.
本発明は上記問題点に鑑み、上記能動素子(FET)のボ
ンディングパッド面を上記伝送線路(マイクロストリッ
プライン)上に対面して接続し、しかも前記能動素子の
裏に形成した接地面と前記基板の裏に形成した接地面と
を低抵抗の金属を用いて作った治具により接続する際に
前記治具としてコ字型の低抵抗の金属を用い、しかも前
記治具と前記能動素子及び前記基板の接地面と接触する
部分に導電性のゴムを用いて挟み込むことにより接地す
ることによって、整合条件を容易にして高周波特性を改
善し、歩留りを向上させ、しかも信頼性をも向上させる
ことができるマイクロ波半導体集積回路装置を提供する
ものである。In view of the above problems, the present invention has the bonding pad surface of the active element (FET) connected on the transmission line (microstrip line) so as to face each other, and the ground plane formed on the back of the active element and the substrate. When connecting the ground plane formed on the back of the jig with a jig made of a low resistance metal, a U-shaped low resistance metal is used as the jig, and the jig, the active element and the By sandwiching the part that comes into contact with the ground plane of the substrate with a conductive rubber, and grounding it, matching conditions can be facilitated, high-frequency characteristics can be improved, yield can be improved, and reliability can also be improved. A microwave semiconductor integrated circuit device that can be used.
問題点を解決するための手段 上記問題点を解決するために本発明は、能動素子のボン
ディングパッド面を伝送線路上に対面して接続し、しか
も前記能動素子の裏に形成した接地面と前記基板の裏に
形成した接地面とを導電性ゴムのスプリング機構を利用
したコ字型の低抵抗の金属治具により接続するという構
成を備えたものである。Means for Solving the Problems In order to solve the above-mentioned problems, the present invention is directed to connecting the bonding pad surface of an active element to a transmission line so as to face each other, and further to a ground plane formed on the back side of the active element and The configuration is such that the ground plane formed on the back of the substrate is connected by a U-shaped low-resistance metal jig using a conductive rubber spring mechanism.
作用 本発明は上記した構成によって従来のボンディングワイ
ヤを用いた構成と異なり、能動素子のボンディングパッ
ド面を伝送線路上に直接的に接続できる構造のため、従
来の問題点を解決できるものである。The present invention can solve the conventional problems because it has a structure in which the bonding pad surface of the active element can be directly connected to the transmission line, unlike the structure using the conventional bonding wire by the above structure.
実施例 以下、本発明の一実施例のマイクロ波集積回路モジュー
ルについて、図面を参照しながら説明する。第1図
(a)は本発明の一実施例を示す平面図である。この図
において1は真空蒸着法あるいはメッキ法により形成さ
れた金属膜(たとえばCr−Auなど)から成るマイクロス
トリップライン、2はアルミナなどのセラミック基板、
3はボンディングパッド面をマイクロストリップライン
1上に対面して接続したFET、4はFET3の裏にスルー・
ホールを用いて形成した接地面に接続し接地するという
構成を備えた低抵抗の金属を用いて作ったコ字型治具、
5は上記の基板2や、FET3を実装するために用いる金属
キャリヤである。第1図(b)は第1図(a)のA−
A′で示す破線で切った部分の断面図である。1〜5に
示した部分は上記のものと同一であり、6はマイクロス
トリップラインとFETのボンディングパッドとを接続す
るために用いた金属系材料で作ったバンプ、7はマイク
ロストリップラインにおける接地面に形成した接地導体
で、通常マイクロストリップラインと同じ材料を用い
る。8はFETの裏に形成した接地面とコ字型の低抵抗金
属治具及びセラミック基板の裏面に形成した接地導体と
治具を接続する導電性ゴムである。Embodiment A microwave integrated circuit module according to an embodiment of the present invention will be described below with reference to the drawings. FIG. 1 (a) is a plan view showing an embodiment of the present invention. In this figure, 1 is a microstrip line formed of a metal film (eg, Cr-Au) formed by a vacuum deposition method or a plating method, 2 is a ceramic substrate such as alumina,
3 is a FET with the bonding pad surface facing the microstrip line 1 and is connected, and 4 is a through on the back of FET 3.
A U-shaped jig made of low-resistance metal with a structure of connecting to a ground plane formed by using a hole and grounding it.
Reference numeral 5 is a metal carrier used for mounting the substrate 2 and the FET 3 described above. 1 (b) is A- of FIG. 1 (a).
It is sectional drawing of the part cut | disconnected by the broken line shown by A '. The parts shown in 1 to 5 are the same as the above, 6 is a bump made of a metal material used for connecting the microstrip line and the bonding pad of the FET, and 7 is a ground plane in the microstrip line. The grounding conductor formed in the above, and usually the same material as the microstrip line is used. Reference numeral 8 is a conductive rubber for connecting the grounding surface formed on the back side of the FET and the U-shaped low resistance metal jig and the grounding conductor formed on the back surface of the ceramic substrate to the jig.
以上のように構成されたマイクロ波集積回路モジュール
は従来例として示した第2図と同様にゲート及びドレイ
ンからDCバイアスを付加することによりFETを動作させ
ている。また、線路の幅を太くしたり細くしたり、ある
いはスタブを設けたりすることによってインピーダンス
整合を行う点も従来通り適用できる。しかし、本発明で
は上記FET3のボンディングパッド面を上記マイクロスト
リップライン1上に対面して接続し、しかも前記FET表
面のソースパッドに穴開けした表と裏の接地面を導通さ
せるためのスルー・ホールを用いて前記FET3の裏に形成
した接地面に導電性ゴムのスプリング機構を利用した低
抵抗の金属を用いて作ったコ字型治具4を接続し接地す
ることによって、FET3のボンディングパッド面をマイク
ロストリップライン1に直接的に接続することが可能で
あり、回路部での整合条件を容易にして高周波特性を改
善し、ワイヤボンディングを行う作業が省かれるために
歩留りを向上させ、しかも信頼性をも向上させるマイク
ロ波半導体集積回路装置を提供することができる。In the microwave integrated circuit module configured as described above, the FET is operated by applying a DC bias from the gate and the drain, as in the conventional example shown in FIG. Further, the point that impedance matching is performed by widening or narrowing the width of the line or providing a stub can be applied as usual. However, according to the present invention, the bonding pad surface of the FET 3 is connected to the microstrip line 1 so as to face each other, and the through hole for conducting the front and back ground planes formed in the source pad on the FET surface is electrically connected. The bonding pad surface of the FET3 is connected to the grounding surface formed on the backside of the FET3 by connecting a U-shaped jig 4 made of a low resistance metal using a conductive rubber spring mechanism to the grounding surface. Can be directly connected to the microstrip line 1, which improves the high-frequency characteristics by facilitating the matching conditions in the circuit section, and improves the yield because the work of wire bonding is omitted, and the reliability is improved. It is possible to provide a microwave semiconductor integrated circuit device that also improves performance.
実施例の他の構成例として、FETのソース接地の取り方
をスルー・ホール以外にも素子の側面を導体で覆うこと
により導通させたラップメッキの手法なども考えられ
る。さらには、ここでは能動素子としてFETを用いてい
るが、他にもHBT(ヘテロ・バイポーラ・トランジス
タ)やHEMT(高電子移動度トランジスタ)などの能動素
子が考えられる。As another configuration example of the embodiment, the method of grounding the source of the FET may be a method other than the through hole, such as a lap plating method in which the side surface of the element is covered with a conductor for conduction. Furthermore, although the FET is used as the active element here, other active elements such as HBT (hetero bipolar transistor) and HEMT (high electron mobility transistor) can be considered.
発明の効果 以上のように本発明は、能動素子のボンディングパッド
面を伝送線路上に対面して接続し、しかも前記能動素子
の裏に形成した接地面と前記基板の裏に形成した接地面
とを導電性ゴムのスプリング機構を利用した低抵抗の金
属を用いて作ったコ字型治具により接続するという構成
を備え、能動素子のボンディングパッド面を伝送線路上
に直接的に接続できる構造のため、回路部での整合条件
を容易にして高周波特性を改善し、ワイヤボンディング
を行う作業が省かれるために歩留りを向上させ、しかも
信頼性をも向上させるマイクロ波半導体集積回路装置を
提供することができる。EFFECTS OF THE INVENTION As described above, according to the present invention, the bonding pad surface of the active element is connected so as to face the transmission line, and the ground surface formed on the back surface of the active element and the ground surface formed on the back surface of the substrate. Is connected by a U-shaped jig made of low-resistance metal using a conductive rubber spring mechanism, and the bonding pad surface of the active element can be directly connected on the transmission line. Therefore, it is possible to provide a microwave semiconductor integrated circuit device in which a matching condition in a circuit portion is facilitated, high-frequency characteristics are improved, and a wire bonding work is omitted so that yield is improved and reliability is also improved. You can
第1図は本発明のマイクロ波集積回路モジュールの一実
施例を示す図、第1図(a)はその平面図、第1図
(b)はコ字型の低抵抗金属治具と各々の接地面との接
続を導電性ゴムを用いて行った第1図(a)のA−A′
で示す破線で切った部分の断面図、第2図は従来のマイ
クロ波半導体集積回路装置の構成を示す平面図である。 1……マイクロストリップライン、2……基板、3……
FET、4……治具、5……金属キャリヤ、6……金属バ
ンプ、7……接地導体、8……導電性ゴム。FIG. 1 is a diagram showing an embodiment of a microwave integrated circuit module of the present invention, FIG. 1 (a) is a plan view thereof, and FIG. 1 (b) is a U-shaped low resistance metal jig and each of them. AA 'of FIG. 1 (a) in which connection with the ground plane was made using conductive rubber.
FIG. 2 is a cross-sectional view taken along the broken line shown in FIG. 2, and FIG. 2 is a plan view showing the configuration of a conventional microwave semiconductor integrated circuit device. 1 ... Microstrip line, 2 ... Substrate, 3 ...
FET, 4 ... Jig, 5 ... Metal carrier, 6 ... Metal bump, 7 ... Ground conductor, 8 ... Conductive rubber.
Claims (1)
と、能動素子とを含むマイクロ波集積回路モジュールに
おいて、前記能動素子のボンディングパッド面を前記伝
送線路上に対面して接続し、しかも前記能動素子の裏に
形成した接地面と前記基板の裏に形成した接地面とを低
抵抗の金属を用いて作った治具により接続する際に前記
治具としてコ字型の低抵抗の金属を用い、しかも前記治
具と前記能動素子及び前記基板の接地面と接触する部分
に導電性のゴムを用いて挟み込むことにより接地するこ
とを特徴とするマイクロ波集積回路モジュール。1. In a microwave integrated circuit module including a transmission line formed on a microwave circuit board and an active element, a bonding pad surface of the active element is connected so as to face the transmission line, and When connecting the ground plane formed on the back of the active element and the ground plane formed on the back of the substrate with a jig made of a low resistance metal, a U-shaped low resistance metal is used as the jig. A microwave integrated circuit module used for grounding by sandwiching a conductive rubber between the jig, the active element, and a portion of the substrate that contacts the grounding surface.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62212022A JPH0779108B2 (en) | 1987-08-26 | 1987-08-26 | Microwave integrated circuit module |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62212022A JPH0779108B2 (en) | 1987-08-26 | 1987-08-26 | Microwave integrated circuit module |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6454735A JPS6454735A (en) | 1989-03-02 |
| JPH0779108B2 true JPH0779108B2 (en) | 1995-08-23 |
Family
ID=16615576
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP62212022A Expired - Fee Related JPH0779108B2 (en) | 1987-08-26 | 1987-08-26 | Microwave integrated circuit module |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0779108B2 (en) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2807004B2 (en) * | 1989-12-15 | 1998-09-30 | 松下電工株式会社 | Resistor with parallel MOSFET |
| JPH04322502A (en) * | 1991-04-22 | 1992-11-12 | Fukushima Nippon Denki Kk | Distributed constant type matching circuit |
-
1987
- 1987-08-26 JP JP62212022A patent/JPH0779108B2/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6454735A (en) | 1989-03-02 |
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