JPH0784646A - 熱を機械的力に変換する素子を用いたアクチュエーター - Google Patents
熱を機械的力に変換する素子を用いたアクチュエーターInfo
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- JPH0784646A JPH0784646A JP23111693A JP23111693A JPH0784646A JP H0784646 A JPH0784646 A JP H0784646A JP 23111693 A JP23111693 A JP 23111693A JP 23111693 A JP23111693 A JP 23111693A JP H0784646 A JPH0784646 A JP H0784646A
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Landscapes
- Micromachines (AREA)
- Control Of Position Or Direction (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】変位と応力による高精度なフィードバック制御
が可能な非常に小型のアクチュエーターを提供する。 【構成】平板状の形状記憶合金1は予め屈曲形状の二方
向形状記憶処理が施されている。形状記憶合金1は、全
面が絶縁膜であるポリイミド膜2で被覆されている。そ
の主面に、白金(Pt)薄膜パターン3とチタン(T
i)薄膜パターン4が設けられている。Pt薄膜パター
ン3とTi薄膜パターン4の接続部5にはリード線6
が、Pt薄膜パターン3の端部にはリード線7が、Ti
薄膜パターン4の端部にはリード線8が接続されてい
る。リード線7とリード線8は可変電圧電源(図示せ
ず)に接続される。各リード線6と7と8は、電位測定
装置(図示せず)に接続される。
が可能な非常に小型のアクチュエーターを提供する。 【構成】平板状の形状記憶合金1は予め屈曲形状の二方
向形状記憶処理が施されている。形状記憶合金1は、全
面が絶縁膜であるポリイミド膜2で被覆されている。そ
の主面に、白金(Pt)薄膜パターン3とチタン(T
i)薄膜パターン4が設けられている。Pt薄膜パター
ン3とTi薄膜パターン4の接続部5にはリード線6
が、Pt薄膜パターン3の端部にはリード線7が、Ti
薄膜パターン4の端部にはリード線8が接続されてい
る。リード線7とリード線8は可変電圧電源(図示せ
ず)に接続される。各リード線6と7と8は、電位測定
装置(図示せず)に接続される。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明はアクチュエーター、特に
マイクロアクチュエーターに関するものである。
マイクロアクチュエーターに関するものである。
【0002】
【従来の技術】近年、マイクロマシン技術に関心が集ま
っており、医療用マイクロロボットなどが期待されてい
る。これにはマイクロアクチュエーターの実現が必須で
ある。これに関連して、例えば形状記憶合金を利用した
多関節マニピュレーターが特開昭63−136014に
開示されている。形状記憶合金アクチュエーターは変位
量と単位体積当たりの発生力量が大きく、マイクロアク
チュエーターとして有望である。この中には、温度に依
存して変化する形状記憶合金の抵抗値特性に基づいて各
アクチュエーターを独立にフィードバック制御する方法
が示されている。
っており、医療用マイクロロボットなどが期待されてい
る。これにはマイクロアクチュエーターの実現が必須で
ある。これに関連して、例えば形状記憶合金を利用した
多関節マニピュレーターが特開昭63−136014に
開示されている。形状記憶合金アクチュエーターは変位
量と単位体積当たりの発生力量が大きく、マイクロアク
チュエーターとして有望である。この中には、温度に依
存して変化する形状記憶合金の抵抗値特性に基づいて各
アクチュエーターを独立にフィードバック制御する方法
が示されている。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】このような多関節マニ
ピュレーターにはアクチュエーターの高精度な制御が要
求される。このため、アクチュエーターとして機能する
形状記憶合金の他に、供給される電力を熱に変換する電
熱変換素子や、フィードバック用のセンサーが必要にな
る。これらの微小な構成要素を個別に作製して組み立て
ることは小型化の大きな障害である。
ピュレーターにはアクチュエーターの高精度な制御が要
求される。このため、アクチュエーターとして機能する
形状記憶合金の他に、供給される電力を熱に変換する電
熱変換素子や、フィードバック用のセンサーが必要にな
る。これらの微小な構成要素を個別に作製して組み立て
ることは小型化の大きな障害である。
【0004】マニピュレーターのように高精度の位置制
御が要求される場合、フィードバック用のセンサーには
位置と応力(負荷)を検知する機能が望まれる。この両
者を形状記憶合金の抵抗値のみから求めることはできな
い。このため、さらに別のセンサーが必要となるが、こ
れを駆動エネルギーの供給デバイスである電熱変換素子
や熱を機械的な力に変換する素子に実装することは小型
化にとっては大きな妨げとなる。
御が要求される場合、フィードバック用のセンサーには
位置と応力(負荷)を検知する機能が望まれる。この両
者を形状記憶合金の抵抗値のみから求めることはできな
い。このため、さらに別のセンサーが必要となるが、こ
れを駆動エネルギーの供給デバイスである電熱変換素子
や熱を機械的な力に変換する素子に実装することは小型
化にとっては大きな妨げとなる。
【0005】本発明は、非常に小型で、しかも変位と応
力による高精度なフィードバック制御が可能な、熱を機
械的な力に変換する素子を用いたアクチュエーターを提
供することを目的とする。
力による高精度なフィードバック制御が可能な、熱を機
械的な力に変換する素子を用いたアクチュエーターを提
供することを目的とする。
【0006】
【課題を解決するための手段】本発明のアクチュエータ
ーは、熱を機械的力に変換する素子と、これを駆動する
ための電熱変換素子を有し、電熱変換素子はゲージ率と
抵抗値の温度係数の少なくとも一方が異なる二種類の素
材で構成されている。
ーは、熱を機械的力に変換する素子と、これを駆動する
ための電熱変換素子を有し、電熱変換素子はゲージ率と
抵抗値の温度係数の少なくとも一方が異なる二種類の素
材で構成されている。
【0007】
【作用】電熱変換素子は、ゲージ率または抵抗値の温度
係数が異なっている二種類の素材からつくられている。
従って、各素材の抵抗値をモニタリングすることによ
り、温度と歪を検知することができる。この二つのパラ
メーターを知ることによって、熱を機械的力に変換する
素子の温度・変位関係の応力依存性から変位と応力を求
めることができる。電熱変換素子と二つのセンサーが一
体化しているので、非常に小型に構成することができ
る。
係数が異なっている二種類の素材からつくられている。
従って、各素材の抵抗値をモニタリングすることによ
り、温度と歪を検知することができる。この二つのパラ
メーターを知ることによって、熱を機械的力に変換する
素子の温度・変位関係の応力依存性から変位と応力を求
めることができる。電熱変換素子と二つのセンサーが一
体化しているので、非常に小型に構成することができ
る。
【0008】
【実施例】次に本発明の実施例について図面を参照しな
がら説明する。まず、第一実施例のアクチュエーターの
構成について、図1〜図3を参照しながら説明する。図
1は、本実施例のアクチュエーターの上面図、図2は、
図1のアクチュエーターのII−II断面図、図3は、
図1のアクチュエーターの側面図で、(A)は初期の状
態、(B)は湾曲した状態を示している。
がら説明する。まず、第一実施例のアクチュエーターの
構成について、図1〜図3を参照しながら説明する。図
1は、本実施例のアクチュエーターの上面図、図2は、
図1のアクチュエーターのII−II断面図、図3は、
図1のアクチュエーターの側面図で、(A)は初期の状
態、(B)は湾曲した状態を示している。
【0009】平板状の形状記憶合金1は予め屈曲形状の
二方向形状記憶処理が施されている。形状記憶合金1
は、全面が絶縁膜であるポリイミド膜2で被覆されてい
る。その主面に、白金(Pt)薄膜パターン3とチタン
(Ti)薄膜パターン4が設けられている。Pt薄膜パ
ターン3とTi薄膜パターン4の接続部5にはリード線
6が、Pt薄膜パターン3の端部にはリード線7が、T
i薄膜パターン4の端部にはリード線8が接続されてい
る。リード線7とリード線8は可変電圧電源(図示せ
ず)に接続される。各リード線6と7と8は、電位測定
装置(図示せず)に接続される。
二方向形状記憶処理が施されている。形状記憶合金1
は、全面が絶縁膜であるポリイミド膜2で被覆されてい
る。その主面に、白金(Pt)薄膜パターン3とチタン
(Ti)薄膜パターン4が設けられている。Pt薄膜パ
ターン3とTi薄膜パターン4の接続部5にはリード線
6が、Pt薄膜パターン3の端部にはリード線7が、T
i薄膜パターン4の端部にはリード線8が接続されてい
る。リード線7とリード線8は可変電圧電源(図示せ
ず)に接続される。各リード線6と7と8は、電位測定
装置(図示せず)に接続される。
【0010】二本のリード線7と8の間に電圧が印加さ
れると、薄膜パターン3と4に電流が流れ、ジュール熱
が発生する。ジュール熱は、ポリイミド膜2を介して形
状記憶合金1を加熱する。形状記憶合金1は、温度上昇
に伴ない、図3の(A)の状態から(B)の状態へと変
化する。このときの湾曲量の制御は、薄膜パターン3と
4に流す電流を加減して形状記憶合金1の温度を調整す
ることにより行なわれる。
れると、薄膜パターン3と4に電流が流れ、ジュール熱
が発生する。ジュール熱は、ポリイミド膜2を介して形
状記憶合金1を加熱する。形状記憶合金1は、温度上昇
に伴ない、図3の(A)の状態から(B)の状態へと変
化する。このときの湾曲量の制御は、薄膜パターン3と
4に流す電流を加減して形状記憶合金1の温度を調整す
ることにより行なわれる。
【0011】Pt薄膜パターン3とTi薄膜パターン4
の抵抗値は、リード線7(またはリード線8)に流れる
電流値と、リード線6とリード線7とリード線8の電位
を計測することによって求められる。
の抵抗値は、リード線7(またはリード線8)に流れる
電流値と、リード線6とリード線7とリード線8の電位
を計測することによって求められる。
【0012】一般に金属薄膜の抵抗値は温度と歪みによ
って変化し、例えば300Kで歪みが0の場合の抵抗値
をRとすると、歪みεで温度TにおけるRに対する抵抗
値の変化量ΔRは、ゲージ率Kと抵抗値の温度係数Aを
用いて ΔR=R+Kε+A(T−300) で与えられる。ここでゲージ率Kと抵抗値の温度係数A
は材質に依存した係数であり、その値は白金とチタンで
それぞれ異なっている。そこで、Pt薄膜パターン3と
Ti薄膜パターン4について、例えば300Kで歪みが
0の場合の抵抗値を予め測定しておき、これと実際に測
定した抵抗値を比較することで、歪みεと温度Tを計算
により求めることができる。ただし、ここで計算により
求めた歪みεと温度Tは薄膜パターン3と4の値である
から、予め求めておいた校正データに基づいて補正する
必要がある。
って変化し、例えば300Kで歪みが0の場合の抵抗値
をRとすると、歪みεで温度TにおけるRに対する抵抗
値の変化量ΔRは、ゲージ率Kと抵抗値の温度係数Aを
用いて ΔR=R+Kε+A(T−300) で与えられる。ここでゲージ率Kと抵抗値の温度係数A
は材質に依存した係数であり、その値は白金とチタンで
それぞれ異なっている。そこで、Pt薄膜パターン3と
Ti薄膜パターン4について、例えば300Kで歪みが
0の場合の抵抗値を予め測定しておき、これと実際に測
定した抵抗値を比較することで、歪みεと温度Tを計算
により求めることができる。ただし、ここで計算により
求めた歪みεと温度Tは薄膜パターン3と4の値である
から、予め求めておいた校正データに基づいて補正する
必要がある。
【0013】アクチュエーターの変位は計算で求めた歪
みから直ちに得られる。また応力は、変位と、予め求め
ておいた形状記憶合金の温度・変位関係の応力依存性か
ら求めるられる。このようにして求めた変位と応力に基
づいて薄膜パターン3と4に流れる電流値をフィードバ
ック制御することで、マニピュレーター等への応用にも
適合する高精度のアクチュエーターの制御が可能とな
る。また、形状記憶合金の加熱用の電熱変換素子と二種
類のセンサーが形状記憶合金に一体形成されるので、非
常に小さいアクチュエーターを得ることができる。
みから直ちに得られる。また応力は、変位と、予め求め
ておいた形状記憶合金の温度・変位関係の応力依存性か
ら求めるられる。このようにして求めた変位と応力に基
づいて薄膜パターン3と4に流れる電流値をフィードバ
ック制御することで、マニピュレーター等への応用にも
適合する高精度のアクチュエーターの制御が可能とな
る。また、形状記憶合金の加熱用の電熱変換素子と二種
類のセンサーが形状記憶合金に一体形成されるので、非
常に小さいアクチュエーターを得ることができる。
【0014】このようなアクチュエーターを、例えば湾
曲管に組み込むことにより、マニピュレーターとして機
能させることができる。このようなマニピュレーター
は、例えば内視鏡の湾曲部分に配置することによって先
端部の湾曲に利用することができる。
曲管に組み込むことにより、マニピュレーターとして機
能させることができる。このようなマニピュレーター
は、例えば内視鏡の湾曲部分に配置することによって先
端部の湾曲に利用することができる。
【0015】続いて、第一実施例のアクチュエーターの
製造方法について図4〜図11を参照して説明する。予
め形状記憶処理を施した形状記憶合金板101の全面に
ポリイミド膜102を形成する(図4)。その表面(主
面)にスパッタ法によりPt薄膜103を形成した後、
その上にスピンコーターによって半導体用のフォトレジ
スト104を形成する(図5)。コンタクトアライナー
などを用いて所定のパターンを露光した後で現像し、レ
ジストパターン104’を形成する(図6)。イオンミ
リング等の方法を用いてレジストパターン104’の形
成されていない領域のPt薄膜を除去してPtパターン
103’を形成した後、有機溶剤等を用いてレジストパ
ターン104’を除去する(図7)。スパッタ法によっ
てTi薄膜105を形成し、その上にスピンコーターに
よって半導体用のフォトレジスト106を形成する(図
8)。コンタクトアライナーなどを用いて所定のパター
ンを露光した後で現像し、レジストパターン106’を
形成する(図9)。希釈したフッ酸と硝酸の混合溶液を
用いてレジストパターン106’の形成されていない領
域のTi薄膜を除去してTi薄膜パターン105’を形
成した後、有機溶剤を用いてレジストパターン106’
を除去する(図10)。このエッチングの際、Pt薄膜
パターン103’はエッチングされない。この結果、接
続部107で電気的に接続されたPt薄膜パターン10
3’とTi薄膜パターン105’よりなる電気抵抗パタ
ーンが構成される。この電気抵抗パターンの発熱を均一
にするため、Ti薄膜パターン105’をPt薄膜パタ
ーン103’よりも厚く形成して、Ti薄膜パターン1
05’の抵抗値とPt薄膜パターン103’の抵抗値を
等しくする。これにより二つの薄膜パターンの単位面積
当たりの発熱量が等しくなり、形状記憶合金1が均一に
加熱されるようになる。接続部107にリード線108
を、Ti薄膜パターン103’の端部109にリード線
110を、Pt薄膜パターン105’の端部111にリ
ード線112を接続する(図11)。このようにして図
1〜図3に示したアクチュエーターが完成する。
製造方法について図4〜図11を参照して説明する。予
め形状記憶処理を施した形状記憶合金板101の全面に
ポリイミド膜102を形成する(図4)。その表面(主
面)にスパッタ法によりPt薄膜103を形成した後、
その上にスピンコーターによって半導体用のフォトレジ
スト104を形成する(図5)。コンタクトアライナー
などを用いて所定のパターンを露光した後で現像し、レ
ジストパターン104’を形成する(図6)。イオンミ
リング等の方法を用いてレジストパターン104’の形
成されていない領域のPt薄膜を除去してPtパターン
103’を形成した後、有機溶剤等を用いてレジストパ
ターン104’を除去する(図7)。スパッタ法によっ
てTi薄膜105を形成し、その上にスピンコーターに
よって半導体用のフォトレジスト106を形成する(図
8)。コンタクトアライナーなどを用いて所定のパター
ンを露光した後で現像し、レジストパターン106’を
形成する(図9)。希釈したフッ酸と硝酸の混合溶液を
用いてレジストパターン106’の形成されていない領
域のTi薄膜を除去してTi薄膜パターン105’を形
成した後、有機溶剤を用いてレジストパターン106’
を除去する(図10)。このエッチングの際、Pt薄膜
パターン103’はエッチングされない。この結果、接
続部107で電気的に接続されたPt薄膜パターン10
3’とTi薄膜パターン105’よりなる電気抵抗パタ
ーンが構成される。この電気抵抗パターンの発熱を均一
にするため、Ti薄膜パターン105’をPt薄膜パタ
ーン103’よりも厚く形成して、Ti薄膜パターン1
05’の抵抗値とPt薄膜パターン103’の抵抗値を
等しくする。これにより二つの薄膜パターンの単位面積
当たりの発熱量が等しくなり、形状記憶合金1が均一に
加熱されるようになる。接続部107にリード線108
を、Ti薄膜パターン103’の端部109にリード線
110を、Pt薄膜パターン105’の端部111にリ
ード線112を接続する(図11)。このようにして図
1〜図3に示したアクチュエーターが完成する。
【0016】上述の実施例では、均一な発熱を得るため
に二種類の薄膜パターンの抵抗値が等しくなるようにそ
の膜厚を調節したが、電気抵抗パターンのレイアウトを
図12に示すようにPt薄膜パターン114とTi薄膜
パターン115が入り組んだ形状にすることで対処する
こともできる。この場合、膜厚を調整する必要がないの
で、そのぶん製造が容易になる。
に二種類の薄膜パターンの抵抗値が等しくなるようにそ
の膜厚を調節したが、電気抵抗パターンのレイアウトを
図12に示すようにPt薄膜パターン114とTi薄膜
パターン115が入り組んだ形状にすることで対処する
こともできる。この場合、膜厚を調整する必要がないの
で、そのぶん製造が容易になる。
【0017】本発明の第二実施例のアクチュエーターの
構成について図13〜図15を参照して説明する。図1
3は第二実施例のアクチュエーターの上面図、図14
は、図13のアクチュエーターの電気抵抗パターンのレ
イアウトを示すため、形状記憶合金を設ける前の上面
図、図15は、図14の構造体のXV−XV断面図であ
る。
構成について図13〜図15を参照して説明する。図1
3は第二実施例のアクチュエーターの上面図、図14
は、図13のアクチュエーターの電気抵抗パターンのレ
イアウトを示すため、形状記憶合金を設ける前の上面
図、図15は、図14の構造体のXV−XV断面図であ
る。
【0018】ポリイミドのように柔軟な絶縁性の薄膜2
00の上にアルミよりなる配線204、206、20
8、210、212が設けられている。その上にはポリ
イミドよりなる層間絶縁膜214が設けられている。層
間絶縁膜214の上には二つの電気抵抗パターン218
と232が設けられている。電気抵抗パターン218は
Ti薄膜パターン220とPt薄膜パターン222から
なり、両者は接続部224において電気的に接続されて
いる。接続部224は、Pt薄膜パターン228によ
り、層間絶縁膜214に設けた開口部216を介して、
配線204に接続されている。Pt薄膜パターン222
の他方の端部は、Pt薄膜パターン226により開口部
216を介して配線202に接続されている。Ti薄膜
パターン220の他方の端部は、Ti薄膜パターン23
0により開口部216を介して配線206に接続されて
いる。
00の上にアルミよりなる配線204、206、20
8、210、212が設けられている。その上にはポリ
イミドよりなる層間絶縁膜214が設けられている。層
間絶縁膜214の上には二つの電気抵抗パターン218
と232が設けられている。電気抵抗パターン218は
Ti薄膜パターン220とPt薄膜パターン222から
なり、両者は接続部224において電気的に接続されて
いる。接続部224は、Pt薄膜パターン228によ
り、層間絶縁膜214に設けた開口部216を介して、
配線204に接続されている。Pt薄膜パターン222
の他方の端部は、Pt薄膜パターン226により開口部
216を介して配線202に接続されている。Ti薄膜
パターン220の他方の端部は、Ti薄膜パターン23
0により開口部216を介して配線206に接続されて
いる。
【0019】同様に、電気抵抗パターン232はTi薄
膜パターン234とPt薄膜パターン236からなり、
両者は接続部238において電気的に接続されている。
接続部238は、Pt薄膜パターン242により開口部
216を介して配線210に接続されている。Pt薄膜
パターン236の他方の端部は、Pt薄膜パターン24
0により開口部216を介して配線208に接続されて
いる。Ti薄膜パターン234の他方の端部は、Ti薄
膜パターン244により開口部216を介して配線21
2に接続されている。
膜パターン234とPt薄膜パターン236からなり、
両者は接続部238において電気的に接続されている。
接続部238は、Pt薄膜パターン242により開口部
216を介して配線210に接続されている。Pt薄膜
パターン236の他方の端部は、Pt薄膜パターン24
0により開口部216を介して配線208に接続されて
いる。Ti薄膜パターン234の他方の端部は、Ti薄
膜パターン244により開口部216を介して配線21
2に接続されている。
【0020】これらの薄膜パターンの上にはポリイミド
膜246が設けられている。ポリイミド膜246と層間
絶縁膜214にはこれを貫通して配線まで達する開口部
248が設けられており、各配線202、204、20
6、208、210、212には開口部248を介して
リード線250、252、254、256、258、2
60がそれぞれ接続されている。
膜246が設けられている。ポリイミド膜246と層間
絶縁膜214にはこれを貫通して配線まで達する開口部
248が設けられており、各配線202、204、20
6、208、210、212には開口部248を介して
リード線250、252、254、256、258、2
60がそれぞれ接続されている。
【0021】ポリイミド膜246の上には、電気抵抗パ
ターン218と232の上部に当たる位置にそれぞれ、
予め屈曲形状を二方向形状記憶処理された平板状の形状
記憶合金262と264が張り付けられている。
ターン218と232の上部に当たる位置にそれぞれ、
予め屈曲形状を二方向形状記憶処理された平板状の形状
記憶合金262と264が張り付けられている。
【0022】形状記憶合金262は、リード線250と
リード線254の間に電圧を印加し、電気抵抗パターン
218に電流を流してジュール熱を発生させることによ
り加熱される。冷却は、通電を止めることによる放熱に
よってなされる。同様に、形状記憶合金264は、リー
ド線256とリード線258の間に電圧を印加し、電気
抵抗パターン232に電流を流してジュール熱を発生さ
せることにより加熱される。冷却は、通電を止めること
による放熱によってなされる。
リード線254の間に電圧を印加し、電気抵抗パターン
218に電流を流してジュール熱を発生させることによ
り加熱される。冷却は、通電を止めることによる放熱に
よってなされる。同様に、形状記憶合金264は、リー
ド線256とリード線258の間に電圧を印加し、電気
抵抗パターン232に電流を流してジュール熱を発生さ
せることにより加熱される。冷却は、通電を止めること
による放熱によってなされる。
【0023】これら二つの形状記憶合金の加熱は別々の
リード線を用いて行なわれるので、二つのアクチュエー
ターを独立に駆動することができる。また、通電時に各
リード線の電位を計測することで、第一実施例と同様の
手法によって、変位と応力によるフィードバック制御を
二つのアクチュエーターについて独立に行なうことがで
きる。
リード線を用いて行なわれるので、二つのアクチュエー
ターを独立に駆動することができる。また、通電時に各
リード線の電位を計測することで、第一実施例と同様の
手法によって、変位と応力によるフィードバック制御を
二つのアクチュエーターについて独立に行なうことがで
きる。
【0024】このように形成したアクチュエーターは、
形状記憶合金の領域以外は薄いポリイミド膜と金属薄膜
によって構成されているので非常に柔軟であり、例えば
内視鏡の湾曲間に組み込むことによって、二関節のマニ
ピュレーターとして機能させることができる。本実施例
では二関節の例について示したが、三関節以上であって
も同様に実現できることは言うまでもない。
形状記憶合金の領域以外は薄いポリイミド膜と金属薄膜
によって構成されているので非常に柔軟であり、例えば
内視鏡の湾曲間に組み込むことによって、二関節のマニ
ピュレーターとして機能させることができる。本実施例
では二関節の例について示したが、三関節以上であって
も同様に実現できることは言うまでもない。
【0025】次に第二実施例のアクチュエーターの製造
方法について図16〜図20を用いて説明する。シリコ
ン基板301にシリコン窒化膜302と第一のポリイミ
ド膜303とスパッタによるAl薄膜304を順次形成
する(図16)。通常の半導体プロセスのフォトリソグ
ラフィー工程を用いてAlをパターニングし、配線とな
るAlパターン304’を形成し、更に感光性の第二の
ポリイミド膜305を形成し、これにフォトリソグラフ
ィー工程で形成したコンタクト孔306を所定領域に形
成する(図17)。スパッタによるPt薄膜306及び
フォトレジスト307を順次形成する(図18)。図6
から図10に示したのと同様の方法で、TiとPtより
なる複数の複合抵抗パターン308を形成する(図1
9)。これは図示されているように、コンタクト孔を介
してAl配線パターンと電気的に接続されている。絶縁
膜となる第三のポリイミド膜を形成した後で、予め所定
の形状記憶処理を施した形状記憶合金309を各複合抵
抗パターンの部位に張り付ける(図20)。この後で、
基板の全てをエッチングによって選択的に除去して、不
要な部分のポリイミドを切り取って、更に適当な関節部
を有する湾曲管に実装することによって、多関節のマニ
ピュレーターを構成する。この方法ではフォトリソグラ
フィー技術によって組立工程を経ることなく、複数のセ
ンサーが組み込まれた複数のアクチュエーターが一体形
成されているので、多関節マニピュレーターとして高精
度の制御を行なうことができる。これによって従来にな
い小型で高精度のアクチュエーターを得ることができ
る。
方法について図16〜図20を用いて説明する。シリコ
ン基板301にシリコン窒化膜302と第一のポリイミ
ド膜303とスパッタによるAl薄膜304を順次形成
する(図16)。通常の半導体プロセスのフォトリソグ
ラフィー工程を用いてAlをパターニングし、配線とな
るAlパターン304’を形成し、更に感光性の第二の
ポリイミド膜305を形成し、これにフォトリソグラフ
ィー工程で形成したコンタクト孔306を所定領域に形
成する(図17)。スパッタによるPt薄膜306及び
フォトレジスト307を順次形成する(図18)。図6
から図10に示したのと同様の方法で、TiとPtより
なる複数の複合抵抗パターン308を形成する(図1
9)。これは図示されているように、コンタクト孔を介
してAl配線パターンと電気的に接続されている。絶縁
膜となる第三のポリイミド膜を形成した後で、予め所定
の形状記憶処理を施した形状記憶合金309を各複合抵
抗パターンの部位に張り付ける(図20)。この後で、
基板の全てをエッチングによって選択的に除去して、不
要な部分のポリイミドを切り取って、更に適当な関節部
を有する湾曲管に実装することによって、多関節のマニ
ピュレーターを構成する。この方法ではフォトリソグラ
フィー技術によって組立工程を経ることなく、複数のセ
ンサーが組み込まれた複数のアクチュエーターが一体形
成されているので、多関節マニピュレーターとして高精
度の制御を行なうことができる。これによって従来にな
い小型で高精度のアクチュエーターを得ることができ
る。
【0026】ところで、第二実施例においては、二関節
の例について示したが、これを三関節以上に拡張するこ
とは当然可能である。しかしながら第二実施例の方法で
は、関節数が多くなると必要な配線の数が多くなるとい
う不都合がある。これを回避するため、アクチュエータ
ーが半導体基板上に形成されることを利用して、各関節
に制御用電子回路を組み込む方法が考えられる。この手
法について図21を用いて説明する。ここでは、ポリイ
ミドのような柔軟な材料で覆われた配線材401によっ
て相互に接続された半導体電子回路領域402と、図1
3に示したのと同様なTi薄膜とPt薄膜よりなる電熱
ヒーターをそれに張り付けられた形状記憶合金403で
多関節マニピュレーターが構成されている。ここで配線
は、電源線、接地線、制御信号線、同期信号線、ヒータ
ー用電位計測線などよりなり、制御用電子回路は所定開
口部で各配線と接続されており、制御信号に基づき各関
節の加熱やセンシングを所定のタイミングで行なう機能
を有する。センシングされた信号は外部のコントローラ
ーに送られ、必要な作業を行なうために各アクチュエー
ターをフィードバック制御する。この方法では関節数が
増えた場合であっても配線数が増えることはない。制御
用電子回路は、第二実施例の製造方法の説明における半
導体基板の所定領域に通常の集積回路製造技術を用いて
予め形成しておき、この半導体基板を除去する工程にお
いて、回路を形成した領域を選択的に残存させることに
よって得られる。
の例について示したが、これを三関節以上に拡張するこ
とは当然可能である。しかしながら第二実施例の方法で
は、関節数が多くなると必要な配線の数が多くなるとい
う不都合がある。これを回避するため、アクチュエータ
ーが半導体基板上に形成されることを利用して、各関節
に制御用電子回路を組み込む方法が考えられる。この手
法について図21を用いて説明する。ここでは、ポリイ
ミドのような柔軟な材料で覆われた配線材401によっ
て相互に接続された半導体電子回路領域402と、図1
3に示したのと同様なTi薄膜とPt薄膜よりなる電熱
ヒーターをそれに張り付けられた形状記憶合金403で
多関節マニピュレーターが構成されている。ここで配線
は、電源線、接地線、制御信号線、同期信号線、ヒータ
ー用電位計測線などよりなり、制御用電子回路は所定開
口部で各配線と接続されており、制御信号に基づき各関
節の加熱やセンシングを所定のタイミングで行なう機能
を有する。センシングされた信号は外部のコントローラ
ーに送られ、必要な作業を行なうために各アクチュエー
ターをフィードバック制御する。この方法では関節数が
増えた場合であっても配線数が増えることはない。制御
用電子回路は、第二実施例の製造方法の説明における半
導体基板の所定領域に通常の集積回路製造技術を用いて
予め形成しておき、この半導体基板を除去する工程にお
いて、回路を形成した領域を選択的に残存させることに
よって得られる。
【0027】
【発明の効果】本発明によれば微小で高精度の制御が可
能なアクチュエーターを得ることができる。
能なアクチュエーターを得ることができる。
【図1】本発明の第一実施例のアクチュエーターの上面
図である。
図である。
【図2】図1のアクチュエーターをII−II線で破断
した断面図である。
した断面図である。
【図3】図1のアクチュエーターの側面図であり、
(A)は加熱前の初期状態、(B)は加熱後の湾曲状態
を示す。
(A)は加熱前の初期状態、(B)は加熱後の湾曲状態
を示す。
【図4】図1〜図3に示した第一実施例のアクチュエー
ターの製造における最初の工程を示す図である。
ターの製造における最初の工程を示す図である。
【図5】第一実施例のアクチュエーターの製造における
第二の工程を示す図である。
第二の工程を示す図である。
【図6】第一実施例のアクチュエーターの製造における
第三の工程を示す図である。
第三の工程を示す図である。
【図7】第一実施例のアクチュエーターの製造における
第四の工程を示す図である。
第四の工程を示す図である。
【図8】第一実施例のアクチュエーターの製造における
第五の工程を示す図である。
第五の工程を示す図である。
【図9】第一実施例のアクチュエーターの製造における
第六の工程を示す図である。
第六の工程を示す図である。
【図10】第一実施例のアクチュエーターの製造におけ
る第七の工程を示す図である。
る第七の工程を示す図である。
【図11】第一実施例のアクチュエーターの製造におけ
る最後の工程を示す図である。
る最後の工程を示す図である。
【図12】図1の電気抵抗パターンに代わる別の電気抵
抗パターンを示す図である。
抗パターンを示す図である。
【図13】本発明の第二実施例のアクチュエーターの上
面図である。
面図である。
【図14】形状記憶合金を設ける以前の図13のアクチ
ュエーターの上面図で、電気抵抗パターンのレイアウト
を示している。
ュエーターの上面図で、電気抵抗パターンのレイアウト
を示している。
【図15】図14の構造体をXV−XV線で破断した断
面図である。
面図である。
【図16】図13に示した第二実施例のアクチュエータ
ーの製造における最初の工程を示す図である。
ーの製造における最初の工程を示す図である。
【図17】第二実施例のアクチュエーターの製造におけ
る第二の工程を示す図である。
る第二の工程を示す図である。
【図18】第二実施例のアクチュエーターの製造におけ
る第三の工程を示す図である。
る第三の工程を示す図である。
【図19】第二実施例のアクチュエーターの製造におけ
る第四の工程を示す図である。
る第四の工程を示す図である。
【図20】第二実施例のアクチュエーターの製造におけ
る最後の工程を示す図である。
る最後の工程を示す図である。
【図21】各関節毎に制御用電子回路を併せて設けたア
クチュエーターを示す図である。
クチュエーターを示す図である。
1…形状記憶合金、2…ポリイミド膜、3…Pt薄膜パ
ターン、4…Ti薄膜パターン。
ターン、4…Ti薄膜パターン。
Claims (1)
- 【請求項1】 熱を機械的力に変換する素子と、これを
駆動するための電熱変換素子とを有し、電熱変換素子は
ゲージ率と抵抗値の温度係数の少なくとも一方が異なる
二種類の素材で構成されている、熱を機械的力に変換す
る素子を用いたアクチュエーター。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP23111693A JP3359710B2 (ja) | 1993-09-17 | 1993-09-17 | 熱を機械的力に変換する素子を用いたアクチュエーター |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP23111693A JP3359710B2 (ja) | 1993-09-17 | 1993-09-17 | 熱を機械的力に変換する素子を用いたアクチュエーター |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0784646A true JPH0784646A (ja) | 1995-03-31 |
| JP3359710B2 JP3359710B2 (ja) | 2002-12-24 |
Family
ID=16918548
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP23111693A Expired - Fee Related JP3359710B2 (ja) | 1993-09-17 | 1993-09-17 | 熱を機械的力に変換する素子を用いたアクチュエーター |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3359710B2 (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO1998013895A1 (en) * | 1996-09-27 | 1998-04-02 | Ericsson Inc. | Retractable antenna |
| JP2006150495A (ja) * | 2004-11-29 | 2006-06-15 | Konica Minolta Holdings Inc | 製造ユニット、および位置制御装置の製造方法 |
| WO2009103159A1 (en) * | 2008-02-21 | 2009-08-27 | Canadian Space Agency | Feedback control for shape memory alloy actuators |
| CN107574567A (zh) * | 2016-07-04 | 2018-01-12 | 长春上缘科技发展有限公司 | 一种多功能材料复合贾卡导纱针 |
-
1993
- 1993-09-17 JP JP23111693A patent/JP3359710B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO1998013895A1 (en) * | 1996-09-27 | 1998-04-02 | Ericsson Inc. | Retractable antenna |
| US5835070A (en) * | 1996-09-27 | 1998-11-10 | Ericsson Inc. | Retractable antenna |
| JP2006150495A (ja) * | 2004-11-29 | 2006-06-15 | Konica Minolta Holdings Inc | 製造ユニット、および位置制御装置の製造方法 |
| WO2009103159A1 (en) * | 2008-02-21 | 2009-08-27 | Canadian Space Agency | Feedback control for shape memory alloy actuators |
| US8706305B2 (en) | 2008-02-21 | 2014-04-22 | Canadian Space Agency | Feedback control for shape memory alloy actuators |
| EP2255260A4 (en) * | 2008-02-21 | 2016-01-20 | Canadian Space Agency | CONTROL FOR ACTUATORS FROM A FORM MEMORY ALLOY |
| CN107574567A (zh) * | 2016-07-04 | 2018-01-12 | 长春上缘科技发展有限公司 | 一种多功能材料复合贾卡导纱针 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP3359710B2 (ja) | 2002-12-24 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20020924 |
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