JPH0785409A - 磁気記録再生装置とデータ読出し方法 - Google Patents
磁気記録再生装置とデータ読出し方法Info
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- JPH0785409A JPH0785409A JP22745193A JP22745193A JPH0785409A JP H0785409 A JPH0785409 A JP H0785409A JP 22745193 A JP22745193 A JP 22745193A JP 22745193 A JP22745193 A JP 22745193A JP H0785409 A JPH0785409 A JP H0785409A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 本発明の目的は低温時にヘッドからの再生出
力レベルの減少を解消し、かつ波形の歪みの発生による
Ｓ／Ｎ比の悪化を招くことなく、リードエラーの発生を
防止することができる磁気記録再生装置を提供すること
にある。 【構成】ＨＤＣ３は、リード動作時にヘッド１からのリ
ード信号からのリードデータのエラー検出処理を実行す
る。ＣＰＵ４はリードエラー検出時に、ライト電流の電
流値を切換えるための制御信号ＨＵを出力する。ライト
電流切換回路５は、制御信号ＨＵに応じて、通常電流値
より増加したライト電流をヘッド１のコイルに供給す
る。これにより、ヘッド１のコア温度が上昇し、結果的
にヘッド１の再生出力レベルが増大する。
力レベルの減少を解消し、かつ波形の歪みの発生による
Ｓ／Ｎ比の悪化を招くことなく、リードエラーの発生を
防止することができる磁気記録再生装置を提供すること
にある。 【構成】ＨＤＣ３は、リード動作時にヘッド１からのリ
ード信号からのリードデータのエラー検出処理を実行す
る。ＣＰＵ４はリードエラー検出時に、ライト電流の電
流値を切換えるための制御信号ＨＵを出力する。ライト
電流切換回路５は、制御信号ＨＵに応じて、通常電流値
より増加したライト電流をヘッド１のコイルに供給す
る。これにより、ヘッド１のコア温度が上昇し、結果的
にヘッド１の再生出力レベルが増大する。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、例えばハードディスク
装置等の磁気記録再生装置に関する。
装置等の磁気記録再生装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来、ハードディスク装置（ＨＤＤ）
は、記録媒体（ディスク）に対してデータのリード／ラ
イトを行なうヘッドを備えている。ヘッド１は、図５
（同図（Ａ）は側面図、同図（Ｂ）は平面図）に示すよ
うに、アクチュエータ１０により支持されて、このアク
チュエータ１０の回転駆動に伴ってディスク上を半径方
向に移動する。アクチュエータ１０は、図示しないボイ
スコイルモータ（ＶＣＭ）により回転軸１０ａを中心と
して、矢印１１の半径方向に回転駆動するように構成さ
れている。さらに、アクチュエータ１０は、ヘッド１と
図示しないリード／ライト回路（Ｒ／Ｗ回路）とを接続
する信号線１０ｂを有する。Ｒ／Ｗ回路は、ヘッドＩＣ
と称する集積回路であり、ヘッド１からのリード信号の
処理またはヘッド１に対するライト信号（ライト電流）
の供給を行なう。
は、記録媒体（ディスク）に対してデータのリード／ラ
イトを行なうヘッドを備えている。ヘッド１は、図５
（同図（Ａ）は側面図、同図（Ｂ）は平面図）に示すよ
うに、アクチュエータ１０により支持されて、このアク
チュエータ１０の回転駆動に伴ってディスク上を半径方
向に移動する。アクチュエータ１０は、図示しないボイ
スコイルモータ（ＶＣＭ）により回転軸１０ａを中心と
して、矢印１１の半径方向に回転駆動するように構成さ
れている。さらに、アクチュエータ１０は、ヘッド１と
図示しないリード／ライト回路（Ｒ／Ｗ回路）とを接続
する信号線１０ｂを有する。Ｒ／Ｗ回路は、ヘッドＩＣ
と称する集積回路であり、ヘッド１からのリード信号の
処理またはヘッド１に対するライト信号（ライト電流）
の供給を行なう。
【０００３】ここで、ヘッド１は例えば薄膜ヘッドから
なる。薄膜ヘッドは、図６（同図（Ａ）は側面図、同図
（Ｂ）は平面図、同図（Ｃ）は正面図）に示すように、
スライダ１２とスライダ１２の側面部に形成された磁性
薄膜１３からなる。磁性薄膜１３は、図６（Ｃ）に示す
ように、磁気ギャップ１３ａが形成されたコア１３ｃと
コイル１３ｂからなる。スライダ１２は、図６（Ｂ）に
示すように、ディスク面に対向する平面１２ｂを有し、
ディスクの回転駆動に伴う空気流の圧力を受けて浮上す
るヘッド本体である。スライダ１２は、ディスク面に対
向する平面１２ｂがクラウン（ｃｒｏｗｎ）１２ａと称
する凸形状に加工されている。ここで、スライダ１２の
平面１２ｂにおいて、ディスク面に平行な基準面に対し
てクラウン１２ａの頂上部までの高さをクラウン量ＣＬ
と定義する。
なる。薄膜ヘッドは、図６（同図（Ａ）は側面図、同図
（Ｂ）は平面図、同図（Ｃ）は正面図）に示すように、
スライダ１２とスライダ１２の側面部に形成された磁性
薄膜１３からなる。磁性薄膜１３は、図６（Ｃ）に示す
ように、磁気ギャップ１３ａが形成されたコア１３ｃと
コイル１３ｂからなる。スライダ１２は、図６（Ｂ）に
示すように、ディスク面に対向する平面１２ｂを有し、
ディスクの回転駆動に伴う空気流の圧力を受けて浮上す
るヘッド本体である。スライダ１２は、ディスク面に対
向する平面１２ｂがクラウン（ｃｒｏｗｎ）１２ａと称
する凸形状に加工されている。ここで、スライダ１２の
平面１２ｂにおいて、ディスク面に平行な基準面に対し
てクラウン１２ａの頂上部までの高さをクラウン量ＣＬ
と定義する。
【０００４】このクラウン量ＣＬにより、ヘッド１がデ
ィスク上に位置するときの浮上量が変動する。浮上量
は、正確にはディスクの表面と磁気ギャップ１３ａとの
間隔である。したがって、クラウン量ＣＬが大きくなる
と浮上量が増大して、磁気ギャップ１３ａがディスク面
から相対的に離れることになる。また逆に、クラウン量
ＣＬが小さくなると浮上量が減少して、磁気ギャップ１
３ａが相対的にディスク面に接近する。
ィスク上に位置するときの浮上量が変動する。浮上量
は、正確にはディスクの表面と磁気ギャップ１３ａとの
間隔である。したがって、クラウン量ＣＬが大きくなる
と浮上量が増大して、磁気ギャップ１３ａがディスク面
から相対的に離れることになる。また逆に、クラウン量
ＣＬが小さくなると浮上量が減少して、磁気ギャップ１
３ａが相対的にディスク面に接近する。
【０００５】ところで、スライダ１２の材質による温度
膨脹係数やクラウンの加工歪により多少の変動幅はある
が、温度変化によりクラウンの形状とクラウン量が変動
することが周知である。通常では、図９（Ｂ）に示すよ
うに、温度の上昇に伴ってクラウン量ＣＬが減少し（し
たがって、浮上量は小さくなる）、逆に温度の低下に伴
ってクラウン量ＣＬが増大する（したがって、浮上量は
大きくなる）傾向にある。クラウン量ＣＬの変動に伴っ
て、ヘッド１の浮上量が変化した場合に、当然ながらヘ
ッド出力（リード信号レベル）は変動することになる。
膨脹係数やクラウンの加工歪により多少の変動幅はある
が、温度変化によりクラウンの形状とクラウン量が変動
することが周知である。通常では、図９（Ｂ）に示すよ
うに、温度の上昇に伴ってクラウン量ＣＬが減少し（し
たがって、浮上量は小さくなる）、逆に温度の低下に伴
ってクラウン量ＣＬが増大する（したがって、浮上量は
大きくなる）傾向にある。クラウン量ＣＬの変動に伴っ
て、ヘッド１の浮上量が変化した場合に、当然ながらヘ
ッド出力（リード信号レベル）は変動することになる。
【０００６】具体的には、図７に示すように、高温での
ヘッド出力と低温でのヘッド出力とを比較すると、分解
能の変化が非常に大きくなる。ここで、分解能とは、最
低周波数ＬＦでのヘッド出力と最高周波数ＨＦでのヘッ
ド出力との比である。分解能が低下すると、リード動作
時にリード信号のピークシフトが大きくなり、リードエ
ラーが発生する可能性が高くなる。即ち、低温では、分
解能が低下して、リードエラーが発生しやすくなる傾向
にある。
ヘッド出力と低温でのヘッド出力とを比較すると、分解
能の変化が非常に大きくなる。ここで、分解能とは、最
低周波数ＬＦでのヘッド出力と最高周波数ＨＦでのヘッ
ド出力との比である。分解能が低下すると、リード動作
時にリード信号のピークシフトが大きくなり、リードエ
ラーが発生する可能性が高くなる。即ち、低温では、分
解能が低下して、リードエラーが発生しやすくなる傾向
にある。
【０００７】
【発明が解決しようとする課題】従来のヘッドでは、浮
上量に影響を与えるスライダのクラウン量が温度変化に
より変動する。特に温度が低下すると、それに伴ってク
ラウン量が増大し、浮上量が大きくなる現象が発生す
る。このため、分解能の低下して、ヘッドからの再生出
力レベルが減少し、リードエラーが発生しやすくなる傾
向にある。このような欠点を解消するために、リード信
号の高域をフィルタにより増幅するブースト（ｂｏｏｓ
ｔ）回路や波形等化回路により、低温における分解能の
低下を補償する方式がある。しかし、そのような方式で
は、リード信号波形の全ての高域が増幅されて、波形の
歪みが発生して、再生出力のＳ／Ｎ比の悪化を招く問題
がある。
上量に影響を与えるスライダのクラウン量が温度変化に
より変動する。特に温度が低下すると、それに伴ってク
ラウン量が増大し、浮上量が大きくなる現象が発生す
る。このため、分解能の低下して、ヘッドからの再生出
力レベルが減少し、リードエラーが発生しやすくなる傾
向にある。このような欠点を解消するために、リード信
号の高域をフィルタにより増幅するブースト（ｂｏｏｓ
ｔ）回路や波形等化回路により、低温における分解能の
低下を補償する方式がある。しかし、そのような方式で
は、リード信号波形の全ての高域が増幅されて、波形の
歪みが発生して、再生出力のＳ／Ｎ比の悪化を招く問題
がある。
【０００８】本発明の目的は、低温時にヘッドからの再
生出力レベルの減少を解消し、かつ波形の歪みの発生に
よるＳ／Ｎ比の悪化を招くことなく、リードエラーの発
生を防止することができる磁気記録再生装置を提供する
ことにある。
生出力レベルの減少を解消し、かつ波形の歪みの発生に
よるＳ／Ｎ比の悪化を招くことなく、リードエラーの発
生を防止することができる磁気記録再生装置を提供する
ことにある。
【０００９】
【課題を解決するための手段】本発明の第１は、温度変
化によりクラウン量が変動するスライダを有するヘッド
手段、リードデータのエラー検出処理を実行するエラー
検出手段およびクラウン量が変動する程度にライト電流
を増加させるライト電流切換え手段を備えた磁気記録再
生装置である。
化によりクラウン量が変動するスライダを有するヘッド
手段、リードデータのエラー検出処理を実行するエラー
検出手段およびクラウン量が変動する程度にライト電流
を増加させるライト電流切換え手段を備えた磁気記録再
生装置である。
【００１０】本発明の第２は、温度変化によりクラウン
量が変動するスライダを有するヘッド手段、リードデー
タのエラー検出処理を実行するエラー検出手段、クラウ
ン量が変動する程度にライト電流を増加させるライト電
流切換え手段およびヘッド手段によるリード動作を再実
行させるリトライ手段を備えた磁気記録再生装置であ
る。
量が変動するスライダを有するヘッド手段、リードデー
タのエラー検出処理を実行するエラー検出手段、クラウ
ン量が変動する程度にライト電流を増加させるライト電
流切換え手段およびヘッド手段によるリード動作を再実
行させるリトライ手段を備えた磁気記録再生装置であ
る。
【００１１】
【作用】本発明の第１では、エラー検出手段は、リード
動作時にヘッド手段から出力されたリード信号から再生
したリードデータのエラー検出処理を実行する。ライト
電流切換え手段は、エラー検出手段によりリードデータ
のエラーが検出されたときに、ライト電流の電流値を通
常値と比較してクラウン量が変動する程度に増加し、こ
の増加したライト電流をヘッド手段のコイルに供給す
る。
動作時にヘッド手段から出力されたリード信号から再生
したリードデータのエラー検出処理を実行する。ライト
電流切換え手段は、エラー検出手段によりリードデータ
のエラーが検出されたときに、ライト電流の電流値を通
常値と比較してクラウン量が変動する程度に増加し、こ
の増加したライト電流をヘッド手段のコイルに供給す
る。
【００１２】本発明の第２では、エラー検出手段は、リ
ード動作時にヘッド手段から出力されたリード信号から
再生したリードデータのエラー検出処理を実行する。ラ
イト電流切換え手段は、エラー検出手段によりリードデ
ータのエラーが検出されたときに、ライト電流の電流値
を通常値と比較してクラウン量が変動する程度に増加
し、この増加したライト電流をヘッド手段のコイルに供
給する。リトライ手段は、ライト電流切換え手段により
コイルにライト電流が供給された後に、ヘッド手段によ
るリード動作を再実行させる。
ード動作時にヘッド手段から出力されたリード信号から
再生したリードデータのエラー検出処理を実行する。ラ
イト電流切換え手段は、エラー検出手段によりリードデ
ータのエラーが検出されたときに、ライト電流の電流値
を通常値と比較してクラウン量が変動する程度に増加
し、この増加したライト電流をヘッド手段のコイルに供
給する。リトライ手段は、ライト電流切換え手段により
コイルにライト電流が供給された後に、ヘッド手段によ
るリード動作を再実行させる。
【００１３】
【実施例】以下図面を参照して本発明の実施例を説明す
る。図１は同実施例に係わるＨＤＤのリード／ライト回
路とその周辺の要部を示すブロック図、図２は同実施例
に係わるライト電流切換回路５の構成を示すブロック
図、図３は同実施例に係わるＨＤＤの要部を示すブロッ
ク図、図４は同実施例の動作を説明するためのフローチ
ャートである。
る。図１は同実施例に係わるＨＤＤのリード／ライト回
路とその周辺の要部を示すブロック図、図２は同実施例
に係わるライト電流切換回路５の構成を示すブロック
図、図３は同実施例に係わるＨＤＤの要部を示すブロッ
ク図、図４は同実施例の動作を説明するためのフローチ
ャートである。
【００１４】ＨＤＤは、図３に示すように、単数又は複
数のディスク６を有し、このディスク６に対してデータ
のリード／ライトを行なうためのヘッド１を備えてい
る。ヘッド１は、前記図６に示すように、スライダ１２
の側面部に磁気ギャップ１３ａ、コア１３ｃ、コイル１
３ｂのそれぞれが形成された薄膜ヘッドである。スライ
ダ１２は、ディスク６に対向する平面１２ｂがクラウン
１２ａと称する凸形状に加工されている。クラウン量Ｃ
Ｌは、前記図９（Ｂ）に示すように、温度変化に対する
変動特性を有する。
数のディスク６を有し、このディスク６に対してデータ
のリード／ライトを行なうためのヘッド１を備えてい
る。ヘッド１は、前記図６に示すように、スライダ１２
の側面部に磁気ギャップ１３ａ、コア１３ｃ、コイル１
３ｂのそれぞれが形成された薄膜ヘッドである。スライ
ダ１２は、ディスク６に対向する平面１２ｂがクラウン
１２ａと称する凸形状に加工されている。クラウン量Ｃ
Ｌは、前記図９（Ｂ）に示すように、温度変化に対する
変動特性を有する。
【００１５】ディスク６はスピンドルモータ９により回
転運動する。スピンドルモータ９はモータドライバ１０
を介してＣＰＵ４により駆動制御される。ＣＰＵ４は、
モータドライバ１０およびＶＣＭドライバ８を制御する
制御用マイクロコンピュータである。ＶＣＭドライバ８
はボイスコイルモータ（ＶＣＭ）７を駆動する。ＶＣＭ
７は、前記図５に示すように、ヘッド１を支持するアク
チュエータ１０を回転駆動して、ヘッド１をディスク６
の半径方向に移動させる。
転運動する。スピンドルモータ９はモータドライバ１０
を介してＣＰＵ４により駆動制御される。ＣＰＵ４は、
モータドライバ１０およびＶＣＭドライバ８を制御する
制御用マイクロコンピュータである。ＶＣＭドライバ８
はボイスコイルモータ（ＶＣＭ）７を駆動する。ＶＣＭ
７は、前記図５に示すように、ヘッド１を支持するアク
チュエータ１０を回転駆動して、ヘッド１をディスク６
の半径方向に移動させる。
【００１６】リード／ライト（Ｒ／Ｗ）回路２は、本発
明の要旨に係わる構成要素であり、ヘッド１にライト電
流を供給し、またヘッド１からのリード信号を受信して
リード系回路に出力するヘッドＩＣ（集積回路）であ
る。リード系回路は、ヘッド１からのリード信号からリ
ードデータを再生するための回路であり、自動利得制御
アンプ（ＡＧＣ）１１、ローパスフィルタ（ＬＰＦ）１
２、パルス生成回路１３、ＰＬＬ回路１５、ディレー回
路１６、データセパレータ７およびエンデコーダ（ＥＮ
ＤＥＣ）１８からなる。ＥＮＤＥＣ１８は、データセパ
レータ７から出力されるデータパルスを例えばＮＲＺ記
録変調方式のＮＲＺ信号に復調し、ＨＤＣ３に出力す
る。
明の要旨に係わる構成要素であり、ヘッド１にライト電
流を供給し、またヘッド１からのリード信号を受信して
リード系回路に出力するヘッドＩＣ（集積回路）であ
る。リード系回路は、ヘッド１からのリード信号からリ
ードデータを再生するための回路であり、自動利得制御
アンプ（ＡＧＣ）１１、ローパスフィルタ（ＬＰＦ）１
２、パルス生成回路１３、ＰＬＬ回路１５、ディレー回
路１６、データセパレータ７およびエンデコーダ（ＥＮ
ＤＥＣ）１８からなる。ＥＮＤＥＣ１８は、データセパ
レータ７から出力されるデータパルスを例えばＮＲＺ記
録変調方式のＮＲＺ信号に復調し、ＨＤＣ３に出力す
る。
【００１７】ＬＰＦ１２はＡＧＣ１１からのリード信号
のノイズを除去するフィルタ系（例えばｂｏｏｓｔ回路
等を含む）を構成する要素である。サーボ回路１４は、
ＬＰＦ１２から出力されるサーボ信号（バースト信号）
を受信して、ヘッド１の位置決め制御用信号を生成して
ＣＰＵ４に出力する。ＨＤＣ３は、ホストコンピュータ
とＨＤＤとのインターフェースを構成するハードディス
クコントローラである。ＨＤＣ３はＥＮＤＥＣ１８から
のＮＲＺ信号を受信して、ＥＣＣチェック処理の後の再
生データをホストコンピュータに転送する。また、ＨＤ
Ｃ３は、ホストコンピュータから転送されたライトデー
タを受信して、ＥＮＤＥＣ１８に出力する。ＥＮＤＥＣ
１８は、ＨＤＣ３からのライトデータをＮＲＺ信号に変
調したライトデータＷＤを生成してＲ／Ｗ回路２に出力
する。ＨＤＣ３は、ライト動作時にライトゲート信号Ｗ
ＧをＲ／Ｗ回路２に出力する。バッファＲＡＭ１９は、
ＨＤＣ３がホストコンピュータとの間でリード／ライト
データの交換を行なうときに使用されるバッファメモリ
である。
のノイズを除去するフィルタ系（例えばｂｏｏｓｔ回路
等を含む）を構成する要素である。サーボ回路１４は、
ＬＰＦ１２から出力されるサーボ信号（バースト信号）
を受信して、ヘッド１の位置決め制御用信号を生成して
ＣＰＵ４に出力する。ＨＤＣ３は、ホストコンピュータ
とＨＤＤとのインターフェースを構成するハードディス
クコントローラである。ＨＤＣ３はＥＮＤＥＣ１８から
のＮＲＺ信号を受信して、ＥＣＣチェック処理の後の再
生データをホストコンピュータに転送する。また、ＨＤ
Ｃ３は、ホストコンピュータから転送されたライトデー
タを受信して、ＥＮＤＥＣ１８に出力する。ＥＮＤＥＣ
１８は、ＨＤＣ３からのライトデータをＮＲＺ信号に変
調したライトデータＷＤを生成してＲ／Ｗ回路２に出力
する。ＨＤＣ３は、ライト動作時にライトゲート信号Ｗ
ＧをＲ／Ｗ回路２に出力する。バッファＲＡＭ１９は、
ＨＤＣ３がホストコンピュータとの間でリード／ライト
データの交換を行なうときに使用されるバッファメモリ
である。
【００１８】本発明では、図１に示すように、Ｒ／Ｗ回
路２のライト電流ＷＣを切換えるためのライト電流切換
回路５が設けられている。ライト電流切換回路５は、Ｃ
ＰＵ４からの制御信号（ｈｅａｔ ｕｐ信号）ＨＵが有
意（論理レベル“Ｈ”）のときに、通常の電流値より大
きい電流値のライト電流ＷＣが、Ｒ／Ｗ回路２からヘッ
ド１のコイルに流れるように切換えるための回路であ
る。
路２のライト電流ＷＣを切換えるためのライト電流切換
回路５が設けられている。ライト電流切換回路５は、Ｃ
ＰＵ４からの制御信号（ｈｅａｔ ｕｐ信号）ＨＵが有
意（論理レベル“Ｈ”）のときに、通常の電流値より大
きい電流値のライト電流ＷＣが、Ｒ／Ｗ回路２からヘッ
ド１のコイルに流れるように切換えるための回路であ
る。
【００１９】ライト電流切換回路５は具体例として、図
２に示すように、Ｒ／Ｗ回路２のライトカレント端子Ｗ
Ｃと接地間に接続された抵抗Ｒ１，Ｒ２の並列回路とト
ランジスタ２０を有する回路からなる。トランジスタ２
０は、ＣＰＵ４からの制御信号ＨＵが有意ときにオン状
態となり、抵抗Ｒ１，Ｒ２の並列回路を構成する。即
ち、抵抗Ｒ１，Ｒ２からなる並列抵抗回路により回路の
抵抗値が減少し、ライト電流値が増加する。また、制御
信号ＨＵが無効（論理レベル“Ｌ”）のときには、トラ
ンジスタ２０はオフ状態となり、抵抗Ｒ２を遮断する。
したがって、回路の抵抗値（Ｒ１）が相対的に増大し、
ライト電流値が通常電流値まで減少する。
２に示すように、Ｒ／Ｗ回路２のライトカレント端子Ｗ
Ｃと接地間に接続された抵抗Ｒ１，Ｒ２の並列回路とト
ランジスタ２０を有する回路からなる。トランジスタ２
０は、ＣＰＵ４からの制御信号ＨＵが有意ときにオン状
態となり、抵抗Ｒ１，Ｒ２の並列回路を構成する。即
ち、抵抗Ｒ１，Ｒ２からなる並列抵抗回路により回路の
抵抗値が減少し、ライト電流値が増加する。また、制御
信号ＨＵが無効（論理レベル“Ｌ”）のときには、トラ
ンジスタ２０はオフ状態となり、抵抗Ｒ２を遮断する。
したがって、回路の抵抗値（Ｒ１）が相対的に増大し、
ライト電流値が通常電流値まで減少する。
【００２０】Ｒ／Ｗ回路２は、図１に示すように、ＨＤ
Ｃ３との間で各種インターフェース信号の交換を行な
う。インターフェース信号ＷＵＳはライトアンセーフ信
号であり、ＨＤＣ３がＥＣＣチェック処理によりリード
信号のエラー検出をしたときに出力される。インターフ
ェース信号ＷＧはライトゲート信号であり、ライト動作
時のタイミングを決定する。インターフェース信号ＲＤ
はヘッド１からのリード信号である。インターフェース
信号ＨＳはヘッドセレクト信号である。インターフェー
ス信号ＷＤはライトデータである。インターフェース信
号ＣＳはチップセレクト信号である。
Ｃ３との間で各種インターフェース信号の交換を行な
う。インターフェース信号ＷＵＳはライトアンセーフ信
号であり、ＨＤＣ３がＥＣＣチェック処理によりリード
信号のエラー検出をしたときに出力される。インターフ
ェース信号ＷＧはライトゲート信号であり、ライト動作
時のタイミングを決定する。インターフェース信号ＲＤ
はヘッド１からのリード信号である。インターフェース
信号ＨＳはヘッドセレクト信号である。インターフェー
ス信号ＷＤはライトデータである。インターフェース信
号ＣＳはチップセレクト信号である。
【００２１】次に、同実施例の動作を説明する。本発明
はリード動作時のみに関係するため、ライト動作につい
ては説明を省略する。まず、図４のステップＳ１に示す
ように、リード動作時には、ヘッド１によりディスク６
からデータが読出されて、図３に示すリード系回路によ
りリードデータが再生されることになる。即ち、図１に
示すように、Ｒ／Ｗ回路２から出力されたリード信号
は、リード系回路によりリードデータＲＤに再生されて
ＨＤＣ３に出力される。ここで、ヘッド１は、サーボ回
路１４とＣＰＵ４により、ＶＣＭ７が駆動制御されて、
ディスク６上の目標シリンダまで移動し、リード動作を
実行することになる。
はリード動作時のみに関係するため、ライト動作につい
ては説明を省略する。まず、図４のステップＳ１に示す
ように、リード動作時には、ヘッド１によりディスク６
からデータが読出されて、図３に示すリード系回路によ
りリードデータが再生されることになる。即ち、図１に
示すように、Ｒ／Ｗ回路２から出力されたリード信号
は、リード系回路によりリードデータＲＤに再生されて
ＨＤＣ３に出力される。ここで、ヘッド１は、サーボ回
路１４とＣＰＵ４により、ＶＣＭ７が駆動制御されて、
ディスク６上の目標シリンダまで移動し、リード動作を
実行することになる。
【００２２】ＨＤＣ３は、受信したリードデータＲＤに
対するＥＣＣチェック処理を実行し、リードエラーが発
生したか否かを判定する（ステップＳ２）。このＥＣＣ
チェック処理によりリードエラーが検出されると、ＣＰ
Ｕ４は予め決定されたシリンダまたはＣＳＳゾーンであ
る所定位置にヘッド１を移動させる制御を行なう（ステ
ップＳ３のＹＥＳ，Ｓ４）。さらに、ＣＰＵ４はライト
電流ＷＣを切換えるための制御信号ＨＵを出力する。
対するＥＣＣチェック処理を実行し、リードエラーが発
生したか否かを判定する（ステップＳ２）。このＥＣＣ
チェック処理によりリードエラーが検出されると、ＣＰ
Ｕ４は予め決定されたシリンダまたはＣＳＳゾーンであ
る所定位置にヘッド１を移動させる制御を行なう（ステ
ップＳ３のＹＥＳ，Ｓ４）。さらに、ＣＰＵ４はライト
電流ＷＣを切換えるための制御信号ＨＵを出力する。
【００２３】ライト電流切換回路５は、ＣＰＵ４からの
有意の制御信号ＨＵに応じて、通常の電流値より増加し
たライト電流ＷＣをＲ／Ｗ回路２からヘッド１のコイル
に供給させる（ステップＳ５）。このとき、ＨＤＣ３は
ライトゲート信号ＷＧを所定時間だけ出力する。このラ
イトゲート信号ＷＧの出力時間だけ、ヘッド１のコイル
にライト電流が流れることになる。ライトゲート信号Ｗ
Ｇの所定時間は、ヘッド１の熱容量やコアの温度上昇特
性により予め設定されている。
有意の制御信号ＨＵに応じて、通常の電流値より増加し
たライト電流ＷＣをＲ／Ｗ回路２からヘッド１のコイル
に供給させる（ステップＳ５）。このとき、ＨＤＣ３は
ライトゲート信号ＷＧを所定時間だけ出力する。このラ
イトゲート信号ＷＧの出力時間だけ、ヘッド１のコイル
にライト電流が流れることになる。ライトゲート信号Ｗ
Ｇの所定時間は、ヘッド１の熱容量やコアの温度上昇特
性により予め設定されている。
【００２４】ヘッド１のコイルにライト電流が流れたと
き、ヘッド１のコア温度はその電流値と通電時間により
上昇する。具体的には、図９（Ａ）に示すように、例え
ば通常のライト電流値が４０ｍＡで、そのライト電流値
を５０ｍＡに増加した場合に、ヘッド１のコア温度は同
一通電時間に対して、相対的に上昇することになる。こ
のヘッド１のコア温度が上昇すると、ヘッド１の周囲温
度が変化し、スライダ１２のクラウン量ＣＬが変動す
る。即ち、前記図９（Ｂ）に示すように、温度が上昇す
ると、クラウン量ＣＬが減少する。したがって、ヘッド
１の浮上量が小さくなり、ヘッド１の再生出力は相対的
に大きくなる。具体的には、図８（Ａ）に示すように、
ヘッド１の出力レベル（即ち、リード信号レベル）は、
コア温度の上昇に伴って大きくなる。
き、ヘッド１のコア温度はその電流値と通電時間により
上昇する。具体的には、図９（Ａ）に示すように、例え
ば通常のライト電流値が４０ｍＡで、そのライト電流値
を５０ｍＡに増加した場合に、ヘッド１のコア温度は同
一通電時間に対して、相対的に上昇することになる。こ
のヘッド１のコア温度が上昇すると、ヘッド１の周囲温
度が変化し、スライダ１２のクラウン量ＣＬが変動す
る。即ち、前記図９（Ｂ）に示すように、温度が上昇す
ると、クラウン量ＣＬが減少する。したがって、ヘッド
１の浮上量が小さくなり、ヘッド１の再生出力は相対的
に大きくなる。具体的には、図８（Ａ）に示すように、
ヘッド１の出力レベル（即ち、リード信号レベル）は、
コア温度の上昇に伴って大きくなる。
【００２５】ライトゲート信号ＷＧの所定時間、即ち増
加したライト電流の通電時間が設定時間だけ経過する
と、ＣＰＵ４は制御信号ＨＵを無効にして、ライト電流
切換回路５を通常の電流値に切換える（ステップＳ６の
ＹＥＳ，Ｓ７）。ＣＰＵ４は、ヘッド１をリードエラー
が発生した目標シリンダまで移動させる（ステップＳ
８）。そして、ヘッド１によるリード動作を再実行させ
るリトライ動作を実行する（ステップＳ９）。ＨＤＣ３
は、リトライ動作によるリードデータＲＤに対するＥＣ
Ｃチェック処理を実行し、リードエラーが発生したか否
かを判定する（ステップＳ１０）。このＥＣＣチェック
処理により、再度のリードエラーを検出すると、ＨＤＣ
３は予め用意したエラー処理を実行する（ステップＳ１
３）。また、リードエラーを検出しない場合には、次の
リード動作またはライト動作の実行に移行する（ステッ
プＳ１２）。
加したライト電流の通電時間が設定時間だけ経過する
と、ＣＰＵ４は制御信号ＨＵを無効にして、ライト電流
切換回路５を通常の電流値に切換える（ステップＳ６の
ＹＥＳ，Ｓ７）。ＣＰＵ４は、ヘッド１をリードエラー
が発生した目標シリンダまで移動させる（ステップＳ
８）。そして、ヘッド１によるリード動作を再実行させ
るリトライ動作を実行する（ステップＳ９）。ＨＤＣ３
は、リトライ動作によるリードデータＲＤに対するＥＣ
Ｃチェック処理を実行し、リードエラーが発生したか否
かを判定する（ステップＳ１０）。このＥＣＣチェック
処理により、再度のリードエラーを検出すると、ＨＤＣ
３は予め用意したエラー処理を実行する（ステップＳ１
３）。また、リードエラーを検出しない場合には、次の
リード動作またはライト動作の実行に移行する（ステッ
プＳ１２）。
【００２６】このようにして、本発明では、リード動作
時にリードエラーを検出したときに、リード動作を一時
停止して、ライト電流ＷＣの電流値を通常値より増加さ
せて、ヘッド１のコイル１３ｂに供給する。このコイル
電流の供給により、ヘッド１のコア温度を上昇させる。
したがって、スライダ１２のクラウン量ＣＬを減少させ
て、ヘッド１の浮上量を小さくして、ヘッド１の再生出
力レベルを高めることができる。
時にリードエラーを検出したときに、リード動作を一時
停止して、ライト電流ＷＣの電流値を通常値より増加さ
せて、ヘッド１のコイル１３ｂに供給する。このコイル
電流の供給により、ヘッド１のコア温度を上昇させる。
したがって、スライダ１２のクラウン量ＣＬを減少させ
て、ヘッド１の浮上量を小さくして、ヘッド１の再生出
力レベルを高めることができる。
【００２７】このような温度変化によるクラウン量の変
動特性を利用して、リードエラー検出時にヘッド１の再
生出力を高めて、リトライ動作を実行させる。このリト
ライ動作時には、ヘッド１の再生出力が高まり、分解能
が改善されているため、リード動作時のリードエラーの
発生を解消できる可能性が高くなる。言い換えれば、Ｈ
ＤＤの周囲温度の低温時に、ヘッドからの再生出力レベ
ルの減少が要因となるリードエラーの発生を解消するこ
とが可能となる。
動特性を利用して、リードエラー検出時にヘッド１の再
生出力を高めて、リトライ動作を実行させる。このリト
ライ動作時には、ヘッド１の再生出力が高まり、分解能
が改善されているため、リード動作時のリードエラーの
発生を解消できる可能性が高くなる。言い換えれば、Ｈ
ＤＤの周囲温度の低温時に、ヘッドからの再生出力レベ
ルの減少が要因となるリードエラーの発生を解消するこ
とが可能となる。
【００２８】ここで、ライト電流ＷＣの増加によりヘッ
ド１を加熱して、コア温度を上昇した場合に、ヘッド１
の再生出力の変化を示す実験結果を図８（Ｂ）に示す。
この図８（Ｂ）に示す実験結果から明白なように、ヘッ
ド１のコア温度の上昇により、ヘッド１の再生出力レベ
ルを高めることが可能である。
ド１を加熱して、コア温度を上昇した場合に、ヘッド１
の再生出力の変化を示す実験結果を図８（Ｂ）に示す。
この図８（Ｂ）に示す実験結果から明白なように、ヘッ
ド１のコア温度の上昇により、ヘッド１の再生出力レベ
ルを高めることが可能である。
【００２９】
【発明の効果】以上詳述したように本発明によれば、温
度変化に伴ってスライダのクラウン量の変動特性を利用
して、リードエラー検出時にヘッドからの再生出力レベ
ルの増大化を図ることができる。したがって、リード信
号の波形の歪みの発生によるＳ／Ｎ比の悪化を招くこと
なく、低温による再生出力レベルの減少に伴うリードエ
ラーの発生を確実に解消することができる。
度変化に伴ってスライダのクラウン量の変動特性を利用
して、リードエラー検出時にヘッドからの再生出力レベ
ルの増大化を図ることができる。したがって、リード信
号の波形の歪みの発生によるＳ／Ｎ比の悪化を招くこと
なく、低温による再生出力レベルの減少に伴うリードエ
ラーの発生を確実に解消することができる。
【図１】本発明の実施例に係わるＨＤＤのリード／ライ
ト回路とその周辺の要部を示すブロック図。
ト回路とその周辺の要部を示すブロック図。
【図２】同実施例に係わるライト電流切換回路５の構成
を示すブロック図。
を示すブロック図。
【図３】同実施例に係わるＨＤＤの要部を示すブロック
図。
図。
【図４】同実施例の動作を説明するためのフローチャー
ト。
ト。
【図５】同実施例に係わるヘッドの構造を示す図。
【図６】同実施例に係わるスライダの構造を示す図。
【図７】従来の温度とヘッドの再生出力との関係を示す
特性図。
特性図。
【図８】（Ａ）は同実施例に係わるヘッドのコア温度と
再生出力との関係を示す特性図、（Ｂ）は同実施例の実
験結果を示す図。
再生出力との関係を示す特性図、（Ｂ）は同実施例の実
験結果を示す図。
【図９】（Ａ）は同実施例に係わるコイルの電流通電時
間とコア温度との関係を示す特性図、（Ｂ）はヘッドの
温度とクラウン量との関係を示す特性図。
間とコア温度との関係を示す特性図、（Ｂ）はヘッドの
温度とクラウン量との関係を示す特性図。
１…ヘッド、２…Ｒ／Ｗ回路、３…ＨＤＣ、４…ＣＰ
Ｕ、５…ライト電流切換回路、６…ディスク。
Ｕ、５…ライト電流切換回路、６…ディスク。
Claims (4)
- 【請求項１】 記録媒体に対向する側にクラウンが形成
されて、温度変化によりクラウン量が変動するスライダ
を有し、記録媒体の記録磁界をリード信号に変換し、コ
イルに供給されるライト電流によりライトデータを前記
記録磁界に変換するヘッド手段と、 リード動作時に、前記ヘッド手段から出力された前記リ
ード信号から再生したリードデータのエラー検出処理を
実行するエラー検出手段と、 このエラー検出手段により前記リードデータのエラーが
検出されたときに、前記ライト電流の電流値を通常値と
比較して前記クラウン量が変動する程度に増加し、この
増加した前記ライト電流を前記ヘッド手段の前記コイル
に供給するライト電流切換え手段とを具備したことを特
徴とする磁気記録再生装置。 - 【請求項２】 記録媒体に対向する側にクラウンが形成
されて、温度変化によりクラウン量が変動するスライダ
を有し、記録媒体の記録磁界をリード信号に変換し、コ
イルに供給されるライト電流によりライトデータを前記
記録磁界に変換するヘッド手段と、 リード動作時に、前記ヘッド手段から出力された前記リ
ード信号から再生したリードデータのエラー検出処理を
実行するエラー検出手段と、 このエラー検出手段により前記リードデータのエラーが
検出されたときに、前記ライト電流の電流値を通常値と
比較して前記クラウン量が変動する程度に増加し、この
増加した前記ライト電流を前記ヘッド手段の前記コイル
に供給するライト電流切換え手段と、 このライト電流切換え手段により前記コイルに前記ライ
ト電流が供給された後に、前記ヘッド手段によるリード
動作を再実行させるリトライ手段とを具備したことを特
徴とする磁気記録再生装置。 - 【請求項３】 記録媒体に対向する側にクラウンが形成
されて、温度変化によりクラウン量が変動するスライダ
を有し、記録媒体の記録磁界をリード信号に変換し、コ
イルに供給されるライト電流によりライトデータを前記
記録磁界に変換するヘッド手段を備えた磁気記録再生装
置において、 リード動作時に、前記ヘッド手段により読出した前記リ
ード信号からリードデータを再生するステップと、 前記リード動作時に再生された前記リードデータのエラ
ー検出処理を実行するステップと、 前記エラー検出処理により前記リードデータのエラーが
検出されたときに、前記ライト電流の電流値を通常値と
比較して前記クラウン量が変動する程度に増加し、この
増加した前記ライト電流を前記ヘッド手段の前記コイル
に供給するステップと、 前記増加した前記ライト電流が前記コイルに供給された
後に、前記ヘッド手段によるリード動作を再実行させる
ステップとからなることを特徴とするデータ読出し方
法。 - 【請求項４】 記録媒体に対向する側にクラウンが形成
されて、温度変化によりクラウン量が変動するスライダ
を有し、記録媒体の記録磁界をリード信号に変換し、コ
イルに供給されるライト電流によりライトデータを前記
記録磁界に変換するヘッド手段を備えた磁気記録再生装
置において、 リード動作時に、前記ヘッド手段により読出した前記リ
ード信号からリードデータを再生するステップと、 前記リード動作時に再生された前記リードデータのエラ
ー検出処理を実行するステップと、 前記エラー検出処理により前記リードデータのエラーが
検出されたときに、前記ライト電流の電流値を通常値と
比較して前記クラウン量が変動する程度に増加し、この
増加した前記ライト電流を前記ヘッド手段の前記コイル
に供給するステップとからなることを特徴とするデータ
読出し方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP22745193A JPH0785409A (ja) | 1993-09-13 | 1993-09-13 | 磁気記録再生装置とデータ読出し方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP22745193A JPH0785409A (ja) | 1993-09-13 | 1993-09-13 | 磁気記録再生装置とデータ読出し方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0785409A true JPH0785409A (ja) | 1995-03-31 |
Family
ID=16861081
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP22745193A Pending JPH0785409A (ja) | 1993-09-13 | 1993-09-13 | 磁気記録再生装置とデータ読出し方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0785409A (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6075664A (en) * | 1997-05-13 | 2000-06-13 | Fujitsu Limited | Write current setting method, and recording and reproducing device |
| KR100532411B1 (ko) * | 2002-06-22 | 2005-12-02 | 삼성전자주식회사 | 온도에 따른 데이터 저장 시스템 제어 방법 및 장치 |
| JP2007280595A (ja) * | 2006-04-04 | 2007-10-25 | Samsung Electronics Co Ltd | リトライモードでの磁気ヘッドの飛行高さの制御装置、制御方法、記録媒体及びディスクドライブ |
| US7561368B2 (en) | 2007-04-03 | 2009-07-14 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Hard disk drive having improved head stability at low temperature and method of applying current to a head of the hard disk drive |
| US7661187B2 (en) | 2004-12-15 | 2010-02-16 | Hitachi Global Storage Technologies Netherlands B.V. | Manufacturing method for magnetic disk drive |
-
1993
- 1993-09-13 JP JP22745193A patent/JPH0785409A/ja active Pending
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6075664A (en) * | 1997-05-13 | 2000-06-13 | Fujitsu Limited | Write current setting method, and recording and reproducing device |
| KR100532411B1 (ko) * | 2002-06-22 | 2005-12-02 | 삼성전자주식회사 | 온도에 따른 데이터 저장 시스템 제어 방법 및 장치 |
| US7117399B2 (en) | 2002-06-22 | 2006-10-03 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Method of and apparatus for controlling data storage system according to temperature, and medium |
| US7661187B2 (en) | 2004-12-15 | 2010-02-16 | Hitachi Global Storage Technologies Netherlands B.V. | Manufacturing method for magnetic disk drive |
| JP2007280595A (ja) * | 2006-04-04 | 2007-10-25 | Samsung Electronics Co Ltd | リトライモードでの磁気ヘッドの飛行高さの制御装置、制御方法、記録媒体及びディスクドライブ |
| US7561368B2 (en) | 2007-04-03 | 2009-07-14 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Hard disk drive having improved head stability at low temperature and method of applying current to a head of the hard disk drive |
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