JPH0786548A - イメ−ジセンサ - Google Patents

イメ−ジセンサ

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JPH0786548A
JPH0786548A JP5177501A JP17750193A JPH0786548A JP H0786548 A JPH0786548 A JP H0786548A JP 5177501 A JP5177501 A JP 5177501A JP 17750193 A JP17750193 A JP 17750193A JP H0786548 A JPH0786548 A JP H0786548A
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JP
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image sensor
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Application number
JP5177501A
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English (en)
Inventor
Hiroyuki Miyake
弘之 三宅
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Fujifilm Business Innovation Corp
Original Assignee
Fuji Xerox Co Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 出力信号に含まれるオフセット電圧のばらつ
きが小さく安定した出力信号を得ることのできるイメ−
ジセンサを提供する。 【構成】 フォトダイオ−ドPの近傍に配置された転送
用トランジスタTTのドレインとリセットトランジスタ
TRのゲ−トとの間には補正用容量CA が設けられ、フ
ォトダイオ−ドPから離れて配置された隣接する転送用
トランジスタTTのドレインとリセットトランジスタT
Rのゲ−トとの間における静電容量と比して不足する分
が補償される一方、フォトダイオ−ドPから離れて配置
された転送用トランジスタTTのソ−トとゲ−トとの間
には補正用容量CB が設けられ、フォトダイオ−ドPの
近傍に配置された隣接する転送用トランジスタTTのソ
−ス・ゲ−ト間の静電容量に比して不足する分が補償さ
れ、画素毎に出力信号が異なるようなことがなくなる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、例えば、ファクシミリ
や電子式複写機等の画像読取装置に用いられるイメ−ジ
センサに係り、特に、オフセットレベルの改善を図った
イメ−ジセンサに関する。
【0002】
【従来の技術】従来、この種のイメ−ジセンサとして
は、例えば、特開平2−265362号公報に示される
ように、複数の受光素子を直線状に配置していわゆる1
次元の受光素子アレイを構成する一方、数個の受光素子
を1ブロックとして、受光素子アレイを複数のブロック
からなるようにし、原稿からの反射光の受光量に対応し
て各受光素子に発生した電荷を、ブロック毎に読み出す
ように各受光素子に読み出し用のトランジスタを直列接
続すると共に、受光素子の残留電荷をリセットするため
のリセット用のトランジスタを受光素子の出力側に接続
してなるものが、既に公知・周知となっている。
【0003】図5には、上述のような従来のイメ−ジセ
ンサの一回路例が、図6にはこのイメ−ジセンサの動作
を説明するためのタイミングチャ−トが、それぞれ示さ
れており、以下、同図を参照しつつこのイメ−ジセンサ
について概括的に説明する。このイメ−ジセンサにおい
ては、イメ−ジセンサが原稿からの反射光を受光し、そ
の受光量に対応した信号を出力する状態のいわゆる明状
態にある場合、先ず、前回のリセットパルスΦGRの出
力後(図示せず)から今回の転送パルスΦGT(図6
(a)参照)が転送用トランジスタTTに印加されるま
での間、フォトダイオ−ドPには、受光量に応じた電荷
が発生している状態(電荷蓄積期間)にあり、転送用ト
ランジスタTTのドレイン電位は、後述する暗状態に比
して比較的急速に上昇してゆく(図6(c)参照)。そ
して、転送パルスΦGTが転送用トランジスタTTのゲ
−トに印加されると同時に、同トランジスタTTのドレ
イン電圧は、転送パルスΦGTの立ち上がりに同期して
電圧ΔV1 だけ急峻に立ち上がる。この電圧ΔV1 は、
フィ−ドスル−量(或いはフィ−ドスル−電圧)と称さ
れ、この種の回路において良く知れれているところのい
わゆるフィ−ドスル−現象によるものである。
【0004】この後、ドレインとソ−スとが同電位とな
るまで、ドレイン電位は指数関数的に減少してゆき、転
送パルスΦGTの立ち下がりに同期してドレイン電位も
フィ−ドスル−電圧分だけ急峻に降下し、フォトトラン
ジスタPの残留電荷量によって定まる一定の電圧に落ち
着く(図6(c)参照)。一方、転送用トランジスタT
Tのソ−ス電位は、転送パルスΦGTの立ち上がりと共
に除々に上昇し、転送パルスΦGTの立ち下がり時にフ
ィ−ドスル−電圧ΔV3 だけ急峻に降下する。この後、
読出用IC30の内部に設けられたリセット用トランジ
スタ(図示せず)が導通状態となることによりソ−ス電
位は一旦GND電位へ降下する(図6(d)参照)。そ
の後、転送用トランジスタTTのソ−ス電圧は、読出用
IC30のリセット用トランジスタが非導通状態となる
ことに起因して生じるフィ−ドスル−電圧ΔV5 だけ先
のGND電位から上昇し、この電圧ΔV5 が出力信号の
基準電圧となる。
【0005】すなわち、明状態におけるイメ−ジセンサ
の出力電圧は、イメ−ジセンサの暗状態における出力電
圧が完全に零であるとの前提の下で、もし先の電圧ΔV
5 が生ずることがないとすると、転送パルスΦGTが立
ち下がった後において、フィ−ドスル−電圧ΔV3 を考
慮した転送用トランジスタTTのソ−ス電位Vs1である
ところ、先の電圧ΔV5 が生じているので、イメ−ジセ
ンサの出力電圧はVs1−ΔV5 と、いわゆるオフセット
電圧を含むものとなる。しかし、実際には後述するよう
に暗状態においても、出力が完全に零となることがない
ので、この暗状態における出力電圧、すなわち、オフセ
ット電圧をVOFとすると、結局、明状態における出力値
は、Vs1−ΔV5 からオフセット電圧VOFを差し引いた
値となる。
【0006】続いて、リセットパルスΦGRがリセット
トランジスタTRのゲ−トに印加されて、リセットトラ
ンジスタTRの導通によりフォトダイオ−ドPの残留電
荷が一掃されると、転送用トランジスタTTのドレイン
電圧はGND電位となり、その後リセットパルスΦGR
の立ち下がりと共に、再びGND電位から負の電位へ下
降することとなる(図6(c)参照)。そして、この
後、フォトダイオ−ドPは、再び電荷蓄積状態となる
が、この電荷蓄積状態が暗状態(外部からの光の入射が
ない状態)であるとすると、転送用トランジスタTTの
ドレイン電位は、フォトダイオ−ドPの暗電流により上
述の負電位から除々(明状態における電荷蓄積状態に比
して緩慢な電圧変化)に上昇してゆき、適宜な時間経過
後に転送パルスΦGTが転送用トランジスタTTのゲ−
トに印加されることによって、転送パルスΦGTの立ち
上がりと共に、ドレイン電位はフィ−ドスル−電圧ΔV
2 だけ急峻に立ち上り(図6(c)参照)、以下、電圧
レベルの違いはあるが、先に説明した明状態におけると
同様なタイミングで電位変化が生じることとなる。転送
用トランジスタTTのソ−ス電位についても全く同様で
ある。ここで、暗状態におけるイメ−ジセンサの出力信
号は理想的には零であるが、実際には多少の電圧が発生
する。この電圧はオフセット電圧と称され、図6に示さ
れた例においてその大きさVOFは、VOF=Vs2−ΔV5
となる。
【0007】ところで、上述したフィ−ドスル−量を定
める最大の要因となるものとしては、転送用トランジス
タTT及びリセットトランジスタTRにおける、ゲ−ト
・ソ−ス間の容量CGS、ゲ−ト・ドレイン間の容量CGD
及びゲ−ト電圧の振幅が挙げられるが、特に、容量CG
S,CGDは、転送用トランジスタTT及びリセットトラ
ンジスタTRの配置構造に大きく影響を受けるものであ
る。一方、上述のいわゆるラインイメ−ジセンサにおい
て、比較的解像度が低いものにあっては、フォトダイオ
−ドP、リセットトランジスタTR及び転送用トランジ
スタTTの物理的配置は、図5の等価回路におけると同
様に、略同一の直線上に配設されるが、高解像度のイメ
−ジセンサを構成する場合には、隣接するフォトダイオ
−ドPの間隔を極力小さくしなければならない。そのた
め、比較的平面的拡がりのあるリセットトランジスタT
R及び転送用トランジスタTTは、低解像度のイメ−ジ
センサの配置構造と同様にしようとすると、隣接するリ
セットトランジスタTR及び転送用トランジスタTT同
士を一部重ね合わせなければならなくなる。このため、
実際には、各リセットトランジスタTRと転送用トラン
ジスタTRとを、いわゆる千鳥状に配置する構造が採ら
れる。
【0008】すなわち、図5で言えば、右端のフォトダ
イオ−ドPのリセットトランジスタTR及び転送用トラ
ンジスタTTの位置を図示された位置とすると、そのす
ぐ左隣のフォトダイオ−ドPのリセットトランジスタT
R及び転送用トランジスタTTは、同図において丁度こ
れら2つのトランジスタTR,TTの記載されている位
置の下側に配置し、さらにすぐ左隣のリセットトランジ
スタTR及び転送用トランジスタTTは、左右方向(図
5において紙面左右方向)において先に述べた右端の2
つのトランジスタTR,TTと略同一に配置するという
ように、一画素おきにリセットトランジスタTR及び転
送用トランジスタTTの上下方向(図5において紙面上
下方向)の位置を違えるように配置するものである。
【0009】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上述の
ようにリセットトランジスタTR及び転送用トランジス
タTTを千鳥状に配置すると、リセットトランジスタT
R及び転送用トランジスタTTとフォトダイオ−ドPと
を接続する信号線(フォトダイオ−ドPから出力される
電荷が伝送される配線)と、リセットトランジスタTR
及び転送用トランジスタTTのゲ−トに接続されるゲ−
ト線の長さが一画素毎に異なることとなる。ところで、
先に説明したゲ−ト・ドレイン間容量及びゲ−ト・ソ−
ス間容量は、上述の信号線とゲ−ト線とのいわゆるカッ
プリングによって殆ど定まるものであるので、一画素毎
に信号線及びゲ−ト線の長さが異なることは、ゲ−ト・
ドレイン間容量及びゲ−ト・ソ−ス間容量が一画素毎に
異なることを意味する。このため、先に説明したフィ−
ドスル−電圧が一画素毎に異なるので、結局、先のオフ
セット電圧ΔVOFが一画素毎に異なる、すなわち、イメ
−ジセンサの出力信号が一画素毎に異なることとなり、
出力信号に補正を施さなければ画像信号として用いるこ
とができないとう問題があった。
【0010】本発明は、上記実情に鑑みてなされたもの
で、オフセット電圧のばらつきが小さく、安定確実な出
力信号を得ることのできるイメ−ジセンサを提供するも
のである。
【0011】
【課題を解決するための手段】請求項1記載の発明に係
るイメ−ジセンサは、少なくとも、複数の受光素子から
なる受光素子アレイと、前記受光素子から転送された電
荷を蓄積する第1の蓄積容量と、前記複数の受光素子と
同数設けられ前記受光素子で生じた電荷を第1の蓄積容
量に転送する第1のスイッチング素子と、前記複数の受
光素子と同数設けられ前記受光素子の残留電荷を放電す
る第2のスイッチング素子と、を具備するイメ−ジセン
サにおいて、前記第1のスイッチング素子から延び前記
受光素子の電荷が伝送される信号用配線と、前記第2の
スイッチング素子から延びこの第2のスイッチング素子
の動作を制御する制御信号が伝送される制御用配線との
間に補正用容量を設けてなるものである。特に、補正容
量は、信号用配線と制御用配線とを平行に対向させて形
成されてなるものが好適である。
【0012】請求項3記載の発明に係るイメ−ジセンサ
は、少なくとも、複数の受光素子からなる受光素子アレ
イと、前記受光素子から転送された電荷を蓄積する第1
の蓄積容量と、前記複数の受光素子と同数設けられ前記
受光素子で生じた電荷を第1の蓄積容量に転送する第1
のスイッチング素子と、前記複数の受光素子と同数設け
られ前記受光素子の残留電荷を放電する第2のスイッチ
ング素子と、を具備するイメ−ジセンサにおいて、前記
第1のスイッチング素子から延び前記受光素子の電荷が
伝送される信号用配線と、前記第1のスイッチング素子
から延びこの第1のスイッチング素子の動作を制御する
制御信号が伝送される制御用配線との間に補正用容量を
設けてなるものである。特に、補正容量は、信号用配線
と制御用配線とを平行に対向させて形成されてなるもの
が好適である。
【0013】請求項5記載の発明に係るイメ−ジセンサ
は、少なくとも、複数の受光素子からなる受光素子アレ
イと、前記受光素子から転送された電荷を蓄積する第1
の蓄積容量と、前記複数の受光素子と同数設けられ前記
受光素子で生じた電荷を第1の蓄積容量に転送する第1
のスイッチング素子と、前記複数の受光素子と同数設け
られ前記受光素子の残留電荷を放電する第2のスイッチ
ング素子と、を具備し、前記受光素子、第1のスイッチ
ング素子及び第2のスイッチング素子の配置は、前記受
光素子に接続された第1及び第2のスイッチング素子が
受光素子の近傍に配置されたものと、前記受光素子に接
続された第1及び第2のスイッチング素子が受光素子と
の間に略一組の第1及び第2のスイッチング素子を配設
し得る程度の間隔を隔てて配置されたものとが交互に隣
接配置されてなるイメ−ジセンサにおいて、受光素子の
近傍に配置された第1のスイッチング素子から延び前記
受光素子の電荷が伝送される信号用配線と、第2のスイ
ッチング素子から延びこの第2のスイッチング素子の動
作を制御する制御信号が伝送される制御用配線との間に
補正用容量を設けてなるものである。特に、補正容量
は、信号用配線と制御用配線とを平行に対向させて形成
されてなるものが好適である。
【0014】請求項7記載の発明に係るイメ−ジセンサ
は、少なくとも、複数の受光素子からなる受光素子アレ
イと、前記受光素子から転送された電荷を蓄積する第1
の蓄積容量と、前記複数の受光素子と同数設けられ前記
受光素子で生じた電荷を第1の蓄積容量に転送する第1
のスイッチング素子と、前記複数の受光素子と同数設け
られ前記受光素子の残留電荷を放電する第2のスイッチ
ング素子と、を具備し、前記受光素子、第1のスイッチ
ング素子及び第2のスイッチング素子の配置は、前記受
光素子に接続された第1及び第2のスイッチング素子が
受光素子の近傍に配置されたものと、前記受光素子に接
続された第1及び第2のスイッチング素子が受光素子と
の間に略一組の第1及び第2のスイッチング素子を配設
し得る程度の間隔を隔てて配置されたものとが交互に隣
接配置されてなるイメ−ジセンサにおいて、前記第1の
スイッチング素子から延び前記受光素子の電荷が伝送さ
れる信号用配線と、前記第1のスイッチング素子から延
びこの第1のスイッチング素子の動作を制御する制御信
号が伝送される制御用配線との間に補正用容量を設けて
なるものである。特に、補正容量は、信号用配線と制御
用配線とを平行に対向させて形成されてなるものが好適
である。
【0015】
【作用】請求項1乃至4記載の発明に係るイメ−ジセン
サにおいては、信号用配線と制御用配線との間に補正用
容量を形成することにより、この信号用配線と制御用配
線との間においてもともと形成されている静電容量にこ
の補正用容量が付加されることとなるので、補正用容量
の付加前において不足した容量分が補われることとな
り、容量の不足に起因して出力信号が画素毎に不均一と
なるようなことがなくなる。
【0016】請求項5及び6記載の発明に係るイメ−ジ
センサにおいては、受光素子の近傍に配置された第1の
スイッチング素子から延びる信号用配線と第2のスイッ
チング素子から延びる制御用配線との間に設けられた補
正用容量は、この受光素子の近傍に配置された第1のス
イッチング素子から延びる信号用配線と第2のスイッチ
ング素子から延びる制御用配線との間で形成される静電
容量が、隣接する第1及び第2のスイッチング素子にお
ける同様な静電容量に比して受光素子に近いことに起因
して不足する分を補うこととなり、そのため、この静電
容量の不足による隣接する画素との出力信号の不均一が
解消される。
【0017】請求項7及び8記載の発明に係るイメ−ジ
センサにおいては、受光素子から隔てて配置された第1
のスイッチング素子から延びる信号用配線及び制御用配
線との間との間に設けられた補正用容量は、この受光素
子から隔てて配置された第1のスイッング素子から延び
る信号用配線及び制御用配線との間で形成される静電容
量が、隣接する第1のスイッチング素子における同様な
静電容量に比して不足する分を補うこととなり、そのた
め、この静電容量の不足による隣接する画素における出
力信号の不均一が解消される。
【0018】
【実施例】以下、図1乃至図4を参照しつつ、本発明に
係るイメ−ジセンサについて説明する。ここで、図1は
本発明に係るイメ−ジセンサの等価回路図、図2は本発
明に係るイメ−ジセンサの一画素当りの等価回路図、図
3は本発明に係るイメ−ジセンサの動作を説明するため
のタイミング図、図4は本発明に係るイメ−ジセンサの
主要部の配置構造の一実施例を示す平面図である。
【0019】先ず、図1を参照しつつ本発明に係るイメ
−ジセンサの回路構成について説明する。このイメ−ジ
センサは、受光素子アレイ1と、電荷転送部2と、電荷
リセット部3と、マトリックス配線部4と、共通信号線
5と、ゲ−トパルス発生回路6と、読出用IC7と、補
正用容量CA ,CB と、を主な構成要素としてなるもの
である。受光素子アレイ1は、例えばガラス等の絶縁性
部材からなる基板(図示せず)上に、受光素子としての
フォトダイオ−ドPをN個を直線状に配設して1ブロッ
クとし、このブロックをn個直線状に設けてなるもので
ある。
【0020】受光素子アレイ1には、電荷転送部2及び
電荷リセット部3が接続されている。この電荷転送部2
は、上述のフォトダイオ−ドPと同数設けられた転送用
トランジスタTTからなるもので、転送用トランジスタ
TTのドレインがフォトダイオ−ドPのアノ−ドに接続
され、転送用トランジスタTTのソ−スは後述するマト
リックス配線部4に接続されている。尚、転送用トラン
ジスタTTには、薄膜トランジスタが用いられている。
さらに、各フォトダイオ−ドPには、電荷リセット部3
が接続されている。すなわち、この電荷リセット部3
は、フォトダイオ−ドPの数と同数設けられたリセット
トランジスタTRからなるもので、リセットトランジス
タTRのドレインがフォトダイオ−ドPのアノ−ド側に
接続される一方、ソ−ス側は接地されている。尚、リセ
ットトランジスタTRには、薄膜トランジスタが用いら
れている。
【0021】本実施例において、転送用トランジスタT
T及びリセットトランジスタTRの薄膜トランジスタ
は、同一特性のもの用いており、そのW/Lは、8乃至
18程度が好適である。
【0022】マトリックス配線部4は、各ブロックで同
一の位置にある転送用薄膜トランジスタTTのソ−ス同
士を接続するもので、例えば、第1のブロックの一番目
のフォトダイオ−ドP(図1において「1st」と記さ
れたブロックの右端に位置するフォトダイオ−ド)に接
続されている転送用薄膜トランジスタTTのソ−スは、
他のブロックの一番目のフォトダイオ−ド(図1におい
て各ブロックの一番右端に位置するフォトダイオ−ド)
Pに接続されている。そして、このマトリックス配線部
4は、ブロックの数に等しいn本の共通信号線5に接続
され、この共通信号線5を介して読出用IC7に接続さ
れている。そして、各共通信号線5とア−スとの間に
は、配線容量CL がそれぞれ設けられており、転送用ト
ランジスタTTを介して転送されたフォトダイオ−ドP
からの電荷が蓄積されるようになっている。尚、本実施
例において配線容量CL としては、10乃至100pF
程度が好適な値となっている。
【0023】読出用IC7は、配線容量CL への電荷の
蓄積により生じた共通信号線5の電位を読み取って、こ
れを各フォトダイオ−ドPにより取得された画像信号と
して時系列的に選択出力するものである。ゲ−トパルス
発生回路6は、転送用トランジスタTT及びリセットト
ランジスタTRを導通状態とするためのゲ−トパルスΦ
GT,ΦGRを発生するもので、その出力段には各転送
用トランジスタTTのゲ−トが、同一のブロック内のも
の同士がまとめて接続されると共に、各リセットトラン
ジスタTRのゲ−トが転送用トランジスタTTと同様に
各ブロック毎にまとめられて接続されている。
【0024】このイメ−ジセンサにおいては、一画素お
きに転送用トランジスタTT及びリセットトランジスタ
TRが図1で言えば紙面左右方向にいわゆる千鳥状に配
置された構造となっている。すなわち、図1において右
端の転送用トランジスタTT及びリセットトランジスタ
TRの番号を1とし、以下、順に隣接する転送用トラン
ジスタTT及びリセットトランジスタTRに番号を付し
たとすると、奇数番の転送用トランジスタTT及びリセ
ットトランジスタTRがフォトダイオ−ドPの比較的近
傍に、偶数番の転送用トランジスタTT及びリセットト
ランジスタTRがフォトダイオ−ドPより離れて配置さ
れており、フォトダイオ−ドPとの間は、丁度フォトダ
イオ−ドPとの間に一組の転送用トランジスタTTとリ
セットトランジスタTRが配設できるような間隔を空け
てある(具体的配置例は後述)。
【0025】そして、補正用容量CA は、偶数番の転送
トランジスタTT及びリセットトランジスタTRのドレ
インとリセットトランジスタTRのゲ−ト間に接続され
ている。また、補正用容量CB は、奇数番の転送用トラ
ンジスタTTのソ−スとゲ−トとの間に接続されてい
る。
【0026】図2には上述したイメ−ジセンサにおける
一画素当りの等価回路が示されており、以下、同図を参
照しつつその内容について概略的に説明する。尚、既に
図2において説明された構成要素については、ここでの
説明を省略し、以下、図1には示されていない構成要素
を中心に説明することとする。フォトダイオ−ドPは、
それ自体の寄生容量Cpを有しており、フォトダイオ−
ドPのアノ−ドとカソ−ドとの間に接続された状態とし
て表されている。本実施例において寄生容量Cpは、約
1pFとなっている。また、読出用IC7は、増幅器8
を有しており、その入力側には転送用トランジスタTT
のソ−スが接続されると共に、リセット用MOSトラン
ジスタ9のドレインが接続されている。そして、リセッ
ト用MOSトランジスタ8は、ソ−ス側が接地されてお
り、図示されないパルス信号発生回路からのゲ−ト信号
が、ゲ−トに入力されることにより導通状態となって配
線容量CL の残留電荷を放電するようになっているもの
である。尚、同図において、ゲ−ト・ドレイン間容量C
GD及びゲ−ト・ソ−ス間容量CGSの後に括弧書きされた
TR或るいはTTの文字は、それぞれ、リセットトラン
ジスタTRにおける或るいは転送用トランジスタTTに
おける容量であることを表すためのものである。
【0027】次に、このイメ−ジセンサの具体的配置構
造の一例について図4を参照しつつ説明する。フォトダ
イオ−ドPは、上部透明電極10と、この上部透明電極
10に対向し且つ各フォトダイオ−ドPに共通の共通下
部電極11と、これら2つの電極10,11の間に挟持
された光電変換層(図示せず)とを有してなり、共通下
部電極11は基板に接合されている。図4において紙面
右側のフォトダイオ−ドPに接続されたリセットトラン
ジスタTR及び転送用トランジスタTTは、フォトダイ
オ−ドPの下側(図4において紙面下側)の位置に、リ
セットトランジスタTR及び転送用トランジスタTT
が、それぞれ1つづつ配置できる間隔を空けて配置され
ている。
【0028】図4において紙面右側のフォトダイオ−ド
Pのアノ−ドに接続されたアノ−ド電極12からは、リ
セットトランジスタTRへ向かって直線状に形成された
接続配線12aが延設されており、その先にはリセット
トランジスタTR及び転送用トランジスタTTの各ドレ
インに接続されたドレイン電極部13a,13bが形成
されている。一方、図4右側のリセットトランジスタT
Rのソ−ス領域14の上部にはソ−ス電極15が配され
ている。このソ−ス電極15は、チャンネル領域側(図
4においてソ−ス電極15の右側)へ延設されており、
この延設された部位はチャネル遮光部16として、チャ
ンネル領域への光の入射を遮断するようになっている。
さらに、このチャンネル遮光部16は下側(図4におい
て紙面下側)へも延設されており、転送用トランジスタ
TTのチャンネル遮光部としての機能をも果たしてい
る。そして、このチャンネル遮光部16は、転送用トラ
ンジスタTTの下側へ延設されて、グランド配線17に
接続されている。
【0029】また、図4右側のリセットトランジスタT
Rのゲ−トに接続されたゲ−ト電極18は上方(図4に
おいて紙面上方)へ延設されて、ゲ−ト電極接続線19
に接続されている。このゲ−ト電極接続線19は、図4
左側で隣接するリセットトランジスタTRと転送用トラ
ンジスタTTの間を通り左右方向(図4において紙面左
右方向)に配設されており、図4左側のリセットトラン
ジスタTRのゲ−トも接続されているものである。さら
に、図4右側の転送用トランジスタTTのソ−スに接続
されたソ−ス電極20は、この転送用トランジスタTT
の下側で左右方向(図4において紙面左右方向)に配置
されている共通信号線5に接続されている。また、ソ−
ス電極20は、転送用トランジスタTTの下側において
左右方向(図4において紙面左右方向)に配置されたゲ
−ト電極接続線21と、基板の表裏方向(図4の紙面表
裏方向)において一定の間隙を隔て略直角に交差した状
態となっている。
【0030】一方、図4において左側に位置するフォト
ダイオ−ドPの下側には、このフォトダイオ−ドPに接
続されたリセットトランジスタTR及び転送用トランジ
スタTTが配置されている。この左側に位置するフォト
ダイオ−ドPのアノ−ド電極12は下側に延び、リセッ
トトランジスタTRのドレイン電極22aに接続され、
さらに、このドレイン電極22aは下側へ延設されて転
送用トランジスタTTのドレイン電極22bに接続され
ている。尚、このリセットトランジスタTRのドレイン
電極22aから転送用トランジスタTTのドレイン電極
22bに延設された部位は、このリセットトランジスタ
TRの下側において左右方向(図4において紙面表裏方
向)に配置されたゲ−ト電極接続配線19と、基板の表
裏方向(図4において紙面表裏方向)において一定間隔
を隔てて略直角状態に交差している。
【0031】また、図4左側のリセットトランジスタT
Rのソ−ス電極23は、ゲ−ト側へ延設されると共に、
転送用トランジスタTTのゲ−ト側へ延設されて、チャ
ンネル遮光部24を形成しているのは、右側のリセット
トランジスタTRのソ−ス電極15と同様である。図4
左側の転送用トランジスタTTのソ−ス電極25は下側
(図4において紙面下側)へ延設され、図4の右側の転
送用トランジスタTTのソ−ス電極20と同様に共通信
号線5に接続されている。
【0032】上述の構成において、図4右側のフォトダ
イオ−ドPから延設され、リセットトランジスタTRの
ドレイン電極13aに接続されている接続配線12aの
一部イと、リセットトランジスタTRのゲ−トから延び
る配線部分ロとは平行(図4において二点鎖線で囲まれ
た部分参照)しているので、静電的ないわゆるカップリ
ングが生じ、この部分で静電容量が形成される。この結
果、図4右側のリセットトランジスタTRのゲ−ト・ド
レイン間容量CGDは、リセットトランジスタTRがフォ
トダイオ−ドPの直ぐ下側に配置される場合に比して上
述の静電容量の分だけ大きいものとなる。
【0033】一方、図4の紙面左側のリセットトランジ
スタTRのドレイン電極22aから転送用トランジスタ
TTのドレイン電極22bへ延びる部位ハと、この部位
ハと平行する部位を有して略直角に交差するゲ−ト電極
接続線19との間において補正用容量CA が形成され、
この補正用容量CA は、図4左側のリセットトランジス
タTRのゲ−ト・ドレイン間容量CGDに付加されること
となる。尚、補正用容量CA は、主として上述した部分
で形成されるが、図4において左側のリセットトランジ
スタTTのドレイン電極22bと、右側のリセットトラ
ンジスタTRのゲ−ト電極18から延びる配線部分ロと
の平行している部分(図4において二点鎖線で囲まれた
領域参照)とによっても静電容量を生じ、補正用容量C
A の一部となる。そして、この補正容量CA は、図4右
側のリセットトランジスタTRにおけるゲ−ト・ドレイ
ン間容量CGDが前述したように増加した分に略等しくな
るように設定することにより、両リセットトランジスタ
TRにおけるゲ−ト・ドレイン間容量CGDは略等しくな
る。
【0034】また、図4において紙面左側の転送用トラ
ンジスタTTのソ−ス電極25から共通信号線5へ延び
る配線の一部ニと、この転送用トランジスタTTのゲ−
トから延びる配線部分ホとの間(図4において二点鎖線
で囲まれた部分参照)にも静電的なカップリングによる
静電容量が形成され、この静電容量は図4左側の転送用
トランジスタTTのゲ−ト・ソ−ス間容量CGSの一部と
なる。一方、図4において紙面右側の転送用トランジス
タTTのソ−ス電極20から共通信号線5へ延びる配線
部分ヘは、その長さが図4左側の転送用トランジスタT
Tのそれに比して短い。したがって、この配線部分ヘと
図4右側の転送用トランジスタTTのゲ−ト電極26か
らゲ−ト電極接続線21へ延びる部分とが、上述した図
4左側の場合と異なり平行する部分は極めて短いので、
それによる静電容量の形成は左隣の転送用トランジスタ
TTの場合に比して少なく、その分ゲ−ト・ソ−ス間容
量CGSも小さい。しかし、本実施例においては、右側の
転送用トランジスタTTのソ−ス電極20から共通信号
線5へ延びた配線の一部ヘが、ゲ−ト電極接続線21と
直角に交差するようにして対向することで補正用容量C
Bを形成しており、上述した静電容量の減少分を補うこ
ととなる。したがって、右側の転送用トランジスタTT
のゲ−ト・ソ−ス間容量CGSと左側の転送用トランジス
タTTのゲ−ト・ソ−ス間容量CGSとは、殆ど等しくな
る。
【0035】また、図4右側の転送用トランジスタTT
のソ−ス電極20と、図4左側の転送用トランジスタT
Tのゲ−トから延びる配線ホの一部との間でも静電的カ
ップリングによる静電容量が生じ、補正用容量CB の一
部を形成している(図4において二点鎖線で囲まれた範
囲)。図3には補正用容量CA を設けた場合と、設けな
い場合とのそれぞれにおける転送用トランジスタTTの
ドレイン及びソ−ス電位の変化が示されており、以下、
同図を参照しつつその内容を説明する。先ず、この波形
図は、理解を容易にするために補正用容量CA だけに注
目して表されたものである。すなわち、この図3に示さ
れた波形図は、図4に示されたように千鳥状に配置され
た2つの転送用トランジスタTTの下側(図4において
紙面下側)における配線容量(図4で言えば配線イ、ロ
の間で形成される容量及び補正容量CB)がないと仮定し
た場合において、図3(c),(d)は補正用容量CA
を設けない場合の転送用トランジスタTTのドレイン及
びソ−ス電位の変化を、図3(e),(f)はフォトダ
イオ−ドPから離れて配置されたことによりゲ−ト・ド
レイン間容量CGDが増えた転送用トランジスタTT(図
4で言えば紙面右側の転送用トランジスタTT)のドレ
イン及びソ−ス電位の変化を、それぞれ表すものであ
る。
【0036】図3(c)に示されたドレイン電位と同図
(e)に示されたドレイン電位とを比較してみると、
(e)の全体の電圧レベルは、(c)の全体の電圧レベ
ルに比して負極側へシフトしていると共に、リセットパ
ルスΦGRの立ち上がり及び立ち下がりにおけるドレイ
ン電圧の変化量、すなわち、フィ−ドスル−電圧が
(c)に比して大きくなっている。これは、図4で言え
ば、配線部分イ,ロによるリセットトランジスタTRの
ゲ−ト・ドレイン間容量CGDが増加したことによってフ
ィ−ドスル−電圧が増加したことに起因するものであ
る。そして、本実施例においては、補正用容量CA を設
けることによって、この補正用容量CA が設けられた側
の転送用トランジスタTTのドレイン電位の変化は、図
3(e)に示された変化と同一となり、いわゆるオフセ
ット電圧VOF(図3(f)参照)が画素毎に異なること
なく、略等しいレベルとなる。尚、図3(d)は転送用
トラジスタTTのドレイン電位の変化が同図(c)に示
された変化である場合における、同トランジスタTTの
ソ−ス電位変化を示した波形図であり、図3(f)は転
送用トランジスタTTのドレイン電位変化が同図(e)
に示された変化である場合における、同トランジスタT
Tのソ−ス電位変化を示した波形図である。
【0037】本実施例において、補正用容量CA,CB
は、基板表裏方向で配線を対向させてなるいわゆる平行
平板型としたが、その構造はこれに限定されるものでは
なく、例えば、同一の平面上で2つの配線を平行させ、
この平行配線間で容量を形成するようにしても勿論よい
ものである。この場合、図7に示されたように、補正前
のドレイン電極イとゲ−ト電極ハとの間隔をSo 、ドレ
イン電極イとゲ−ト電極ハの平行部分の長さをLo とす
れば(図7(a)参照)、ドレイン電極イとゲ−ト電極
ハとの間隔をS1 へ変えたり(図7(b)参照)、ドレ
イン電極イとゲ−ト電極ハの平行部分の長さをL1へ変
える(図7(c)参照)ことにより容量値を調整するこ
とができる。尚、図7において符号ロはソ−ス電極であ
る。
【0038】
【発明の効果】以上、述べたように、請求項1記載の発
明によれば、第1のスイッチング素子から延びる信号用
配線と第2のスイッチング素子から延びる制御用配線と
の間で形成される静電容量の違いを、補正用容量によっ
て補償するような構成とすることにより、各画素におけ
る第1のスイッチング素子から延びる信号用配線と第2
のスイッチング素子から延びる制御用配線との間で形成
される静電容量が略等しくなるので、そのため、出力信
号のオフセット量が略均一となり、出力信号のばらつき
のない画像信号を得ることができるという効果を奏する
ものである。請求項3記載の発明によれば、第1のスイ
ッチング素子から延びる信号用配線及び制御用線との間
で形成される静電容量の違いを、補正用容量によって補
償するような構成とすることにより、各画素における第
1のスイッチング素子から延びる信号用配線及び制御用
線との間で形成される静電容量が略等しくなるので、そ
のため、出力信号のオフセット量が略均一となり、出力
信号のばらつきのない画像信号を得ることができるとい
う効果を奏するものである。請求項5記載の発明によれ
ば、受光素子の近傍に配置された第1のスイッチング素
子から延びる信号用配線と第2のスイッチング素子から
延びる制御用配線との間に形成される静電容量が、隣接
する第1及び第2のスイッチング素子における同様な静
電容量に比して不足する分を、補正用容量によって補う
ように構成することにより、各画素における第1のスイ
ッチング素子から延びる信号用配線と第2のスイッチン
グ素子から延びる制御用配線との間の静電容量が略等し
くなるので、そのため、出力信号のオフセット量が略均
一となり、出力信号のばらつきのない画像信号を得るこ
とができるという効果を奏するものである。請求項7記
載の発明によれば、受光素子から隔てて配置された第1
のスイッチング素子から延びる信号用配線と制御用配線
との間で形成される静電容量が、隣接する第1のスイッ
チング素子における同様な静電容量に比して不足する分
を、補正用容量により補うように構成することにより、
各画素における第1のスイッチグ素子から延びる信号用
配線と制御用配線との間で形成される静電容量が略等し
くなるので、そのため、出力信号のオフセット量が略均
一となり、出力信号のばらつきのない画像信号を得るこ
とができるという効果を奏するものである。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明に係るイメ−ジセンサの等価回路図で
ある。である。
【図2】 本発明に係るイメ−ジセンサの一画素当りの
等価回路図である。
【図3】 本発明に係るイメ−ジセンサの動作を説明す
るためのタイミング図である。
【図4】 本発明に係るイメ−ジセンサの主要部の配置
構造の一実施例を示す平面図である。
【図5】 従来のイメ−ジセンサの一例を示す等回路図
である。
【図6】 図5に示されたイメ−ジセンサの動作を説明
するためのタイミング図である。
【図7】 容量形成の他の方法を説明するための概略説
明図である。
【符号の説明】
2…電荷転送部、 3…電荷リセット部、 4…マトリ
ックス配線部、 5…共通信号線、 13a,13b,
22a,22b…ドレイン電極、 15,20,23,
25…ソ−ス電極、 19,21…ゲ−ト電極接続線

Claims (8)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 少なくとも、複数の受光素子からなる受
    光素子アレイと、前記受光素子から転送された電荷を蓄
    積する第1の蓄積容量と、前記複数の受光素子と同数設
    けられ前記受光素子で生じた電荷を第1の蓄積容量に転
    送する第1のスイッチング素子と、前記複数の受光素子
    と同数設けられ前記受光素子の残留電荷を放電する第2
    のスイッチング素子と、を具備するイメ−ジセンサにお
    いて、前記第1のスイッチング素子から延び前記受光素
    子の電荷が伝送される信号用配線と、前記第2のスイッ
    チング素子から延びこの第2のスイッチング素子の動作
    を制御する制御信号が伝送される制御用配線との間に補
    正用容量を設けたことを特徴とするイメ−ジセンサ。
  2. 【請求項2】 補正容量は、信号用配線と制御用配線と
    を平行に対向させて形成されてなることを特徴とする請
    求項1記載のイメ−ジセンサ。
  3. 【請求項3】 少なくとも、複数の受光素子からなる受
    光素子アレイと、前記受光素子から転送された電荷を蓄
    積する第1の蓄積容量と、前記複数の受光素子と同数設
    けられ前記受光素子で生じた電荷を第1の蓄積容量に転
    送する第1のスイッチング素子と、前記複数の受光素子
    と同数設けられ前記受光素子の残留電荷を放電する第2
    のスイッチング素子と、を具備するイメ−ジセンサにお
    いて、前記第1のスイッチング素子から延び前記受光素
    子の電荷が伝送される信号用配線と、前記第1のスイッ
    チング素子から延びこの第1のスイッチング素子の動作
    を制御する制御信号が伝送される制御用配線との間に補
    正用容量を設けたことを特徴とするイメ−ジセンサ。
  4. 【請求項4】 補正容量は、信号用配線と制御用配線と
    を平行に対向させて形成されてなることを特徴とする請
    求項3記載のイメ−ジセンサ。
  5. 【請求項5】 少なくとも、複数の受光素子からなる受
    光素子アレイと、前記受光素子から転送された電荷を蓄
    積する第1の蓄積容量と、前記複数の受光素子と同数設
    けられ前記受光素子で生じた電荷を第1の蓄積容量に転
    送する第1のスイッチング素子と、前記複数の受光素子
    と同数設けられ前記受光素子の残留電荷を放電する第2
    のスイッチング素子と、を具備し、前記受光素子、第1
    のスイッチング素子及び第2のスイッチング素子の配置
    は、前記受光素子に接続された第1及び第2のスイッチ
    ング素子が受光素子の近傍に配置されたものと、前記受
    光素子に接続された第1及び第2のスイッチング素子が
    受光素子との間に略一組の第1及び第2のスイッチング
    素子を配設し得る程度の間隔を隔てて配置されたものと
    が交互に隣接配置されてなるイメ−ジセンサにおいて、
    受光素子の近傍に配置された第1のスイッチング素子か
    ら延び前記受光素子の電荷が伝送される信号用配線と、
    第2のスイッチング素子から延びこの第2のスイッチン
    グ素子の動作を制御する制御信号が伝送される制御用配
    線との間に補正用容量を設けたとを特徴とするイメ−ジ
    センサ。
  6. 【請求項6】 補正容量は、信号用配線と制御用配線と
    を平行に対向させて形成されてなることを特徴とする請
    求項5記載のイメ−ジセンサ。
  7. 【請求項7】 少なくとも、複数の受光素子からなる受
    光素子アレイと、前記受光素子から転送された電荷を蓄
    積する第1の蓄積容量と、前記複数の受光素子と同数設
    けられ前記受光素子で生じた電荷を第1の蓄積容量に転
    送する第1のスイッチング素子と、前記複数の受光素子
    と同数設けられ前記受光素子の残留電荷を放電する第2
    のスイッチング素子と、を具備し、前記受光素子、第1
    のスイッチング素子及び第2のスイッチング素子の配置
    は、前記受光素子に接続された第1及び第2のスイッチ
    ング素子が受光素子の近傍に配置されたものと、前記受
    光素子に接続された第1及び第2のスイッチング素子が
    受光素子との間に略一組の第1及び第2のスイッチング
    素子を配設し得る程度の間隔を隔てて配置されたものと
    が交互に隣接配置されてなるイメ−ジセンサにおいて、
    前記受光素子から略一組の第1及び第2のスイッチング
    素子が配置され得る間隔を隔てて配置された前記第1の
    スイッチング素子から延び前記受光素子の電荷が伝送さ
    れる信号用配線と、前記第1のスイッチング素子から延
    びこの第1のスイッチング素子の動作を制御する制御信
    号が伝送される制御用配線との間に補正用容量を設けた
    ことを特徴とするイメ−ジセンサ。
  8. 【請求項8】 補正容量は、信号用配線と制御用配線と
    を平行に対向させて形成されてなることを特徴とする請
    求項7記載のイメ−ジセンサ。
JP5177501A 1993-06-25 1993-06-25 イメ−ジセンサ Pending JPH0786548A (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2026075084A1 (ja) * 2024-10-02 2026-04-09 ソニーセミコンダクタソリューションズ株式会社 固体撮像装置

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