JPH0791155B2 - CdTe単結晶の製造方法 - Google Patents
CdTe単結晶の製造方法Info
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- JPH0791155B2 JPH0791155B2 JP2210276A JP21027690A JPH0791155B2 JP H0791155 B2 JPH0791155 B2 JP H0791155B2 JP 2210276 A JP2210276 A JP 2210276A JP 21027690 A JP21027690 A JP 21027690A JP H0791155 B2 JPH0791155 B2 JP H0791155B2
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Description
単結晶の製造方法に関する。
向上、特に高エネルギー分解能化をめざして従来からCd
Te単結晶の製造方法が検討されている。
は、主に次の2点が重要である。
射線検出器の信号ノイズが増大し好ましくなく、1×10
8Ωcm以上の値が必要である。第2点はキャリアライフ
タイムが大きいことである。キャリアライフタイムが小
さいと、キャリア収集効率が低下し、エネルギー分解能
が低下する。
検討は、高抵抗率化、キャリアライフタイムの増大の2
点に注目して行なわれてきた。
ドープして抵抗率を向上する事が報告されている。
晶の純度の向上によって達成される事が報告されてい
る。
加する塩素濃度を増加することが効果あることが知られ
ている。しかし、塩素濃度が高くなるほどキャリアライ
フタイムは低下する傾向があるために、放射線検出素子
に適した充分抵抗率が高く、しかもキャリアライフタイ
ムも大きい結晶を得ることが出来ないという問題点があ
った。すなわち、放射線検出素子として使用可能な抵抗
率を得るためには、塩素の添加量をある程度大きな量に
せざるを得ず、そのため、キャリアライフタイムが小さ
くなり、結果的に、この結晶を使用して作製した放射線
検出素子のエネルギー分解能は満足できる値が得られて
いないという問題があった。
線検出素子用のCdTe単結晶の製造方法において、塩素を
0.8重量ppm以上5重量ppm以下の濃度で添加したCdTe単
結晶を、真空中、あるいは不活性ガス中で350℃以上450
℃以下の温度で熱処理することを特徴とするCdTe単結晶
の製造方法に関するものである。
率の高い結晶を得る方法が必要であり、本発明者等は、
結晶を熱処理することで抵抗率が増加することを新たに
見い出し、本発明に至ったものである。
不活性ガス雰囲気下で行う。これは、酸化防止のために
行なわれる。
必要がある。熱処理温度が350℃未満であっても、450℃
を越えても、抵抗率は1×108Ωcm以下となるため好ま
しくないからである。特に結晶中の塩素濃度が小さい場
合、この熱処理温度範囲はより一層狭く限定される。例
えば、第1図に示すように塩素濃度が1重量ppmの結晶
の場合、370℃以上400℃以下で熱処理する必要がある。
しかし、塩素濃度が5重量ppmの結晶の場合、熱処理温
度範囲は350℃以上450℃以下で熱処理することで抵抗率
は1×108Ωcm以上となる。
0.8重量ppm以上、5重量ppm以下の濃度で添加された結
晶に対して行われる。0.8重量ppm未満では本発明の熱処
理を行っても、結晶の抵抗率は1×108Ωcm以上に向上
しないため、放射線検出素子用の結晶として使用するこ
とが出来ない。5重量ppmを越える場合は、例えば第3
図に示すごとく、本発明の熱処理を行っても、キャリア
ライフタイムが低くなるため、高性能の放射線検出素子
が得られないため効果が少ない。
時間以上である。尚、該熱処理はインゴットの状態で
も、ウエハーの状態で行なっても良い。
℃で15時間熱処理した後、約50℃/hrで室温まで炉冷し
た結晶を用いて、放射線検出素子を作製した。
イムは電子が1μs,ホールが0.5μsであった。このよ
うに本発明の処理品は、高抵抗、高キャリアライフタイ
ムを同時に満足するものであった。
(59.5keVのエネルギーをもっている)を測定したとき
のピーク強度半値幅が、印加電圧15Vにおいて5keVの良
好な分解能が得られた。
出素子を作製した。この結晶の抵抗率は、1×104Ωcm
と低く、そのためキャリアライフタイムも測定出来なか
った。放射線検出素子としての特性は、抵抗率が低すぎ
たために、リーク電流が大きく、241Amの放射線を測定
したところ、なんらスペクトルが得られなかった。
ppm以下という低塩素濃度でも、放射線検出素子を作製
するのに充分な抵抗率の高い結晶を得ることが出来るよ
うになった。このため、この結晶を用いて、従来よりも
エネルギー分解能の良好な放射線検出素子を作製するこ
とができるようになる。
ある。 第2図は結晶中の塩素濃度と熱処理によって得られた抵
抗率の関係を示したものである。 第3図は結晶中の塩素濃度とキャリアライフタイムの関
係を示したものである。
Claims (1)
- 【請求項1】放射線検出素子用のCdTe単結晶の製造方法
において、塩素を0.8重量ppm以上5重量ppm以下の濃度
で添加したCdTe単結晶を、真空中、あるいは不活性ガス
中で350℃以上450℃以下の温度で熱処理することを特徴
とするCdTe単結晶の製造方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2210276A JPH0791155B2 (ja) | 1990-08-10 | 1990-08-10 | CdTe単結晶の製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2210276A JPH0791155B2 (ja) | 1990-08-10 | 1990-08-10 | CdTe単結晶の製造方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0497990A JPH0497990A (ja) | 1992-03-30 |
| JPH0791155B2 true JPH0791155B2 (ja) | 1995-10-04 |
Family
ID=16586712
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2210276A Expired - Lifetime JPH0791155B2 (ja) | 1990-08-10 | 1990-08-10 | CdTe単結晶の製造方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0791155B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH06345598A (ja) * | 1993-06-04 | 1994-12-20 | Japan Energy Corp | 放射線検出素子用CdTe結晶およびその製造方法 |
-
1990
- 1990-08-10 JP JP2210276A patent/JPH0791155B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0497990A (ja) | 1992-03-30 |
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Legal Events
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