JPH09124310A - CdTe結晶の製造方法 - Google Patents
CdTe結晶の製造方法Info
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- JPH09124310A JPH09124310A JP30350395A JP30350395A JPH09124310A JP H09124310 A JPH09124310 A JP H09124310A JP 30350395 A JP30350395 A JP 30350395A JP 30350395 A JP30350395 A JP 30350395A JP H09124310 A JPH09124310 A JP H09124310A
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- Japan
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- crystal
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- cdte
- cdte crystal
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 放射線検出器に適用された場合にそのエネル
ギー分解能を大幅に改善させるCdTe結晶の製造方法
を提供すること。 【解決手段】 塩素が添加されたCdTe結晶を熱処理
して高抵抗のCdTe結晶を製造する方法であって、塩
素が添加されたCdTe結晶を、真空中で、400℃以
上440℃以下の温度域で第1次熱処理を施した後、一
旦、以下の第2次熱処理温度未満に降温させ、次いで、
360℃以上400℃以下の温度域で第2次熱処理を施
すことを特徴とする。この熱処理によりCdTe結晶の
高抵抗化とキャリアのライフタイムの改善が図れ放射線
検出器に適用された場合にそのエネルギー分解能を大幅
に改善できる。
ギー分解能を大幅に改善させるCdTe結晶の製造方法
を提供すること。 【解決手段】 塩素が添加されたCdTe結晶を熱処理
して高抵抗のCdTe結晶を製造する方法であって、塩
素が添加されたCdTe結晶を、真空中で、400℃以
上440℃以下の温度域で第1次熱処理を施した後、一
旦、以下の第2次熱処理温度未満に降温させ、次いで、
360℃以上400℃以下の温度域で第2次熱処理を施
すことを特徴とする。この熱処理によりCdTe結晶の
高抵抗化とキャリアのライフタイムの改善が図れ放射線
検出器に適用された場合にそのエネルギー分解能を大幅
に改善できる。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、放射線線量計や医
療放射線診断装置等放射線検出器の素子材料に用いられ
る高抵抗CdTe結晶の製造方法に係り、特に、放射線
検出器のエネルギー分解能を大幅に改善させるCdTe
結晶の製造方法に関するものである。
療放射線診断装置等放射線検出器の素子材料に用いられ
る高抵抗CdTe結晶の製造方法に係り、特に、放射線
検出器のエネルギー分解能を大幅に改善させるCdTe
結晶の製造方法に関するものである。
【0002】
【従来の技術】一般に、II−VI族化合物半導体の一つで
あるテルル化カドミウム(以下、CdTe)結晶は、吸
収係数が大きくかつ室温動作が可能なため優れた放射線
検出器の素子材料として有望である。
あるテルル化カドミウム(以下、CdTe)結晶は、吸
収係数が大きくかつ室温動作が可能なため優れた放射線
検出器の素子材料として有望である。
【0003】この放射線検出器は、検出素子となるCd
Te結晶基板の対向する面に一対の電極を形成して作製
される。そして、この放射線検出器においては、各電極
間にバイアス電圧が印加され、CdTe結晶に放射線が
入射されると結晶内に電子−正孔対が形成され、生成さ
れたキャリア(すなわち電子及び正孔)が各電極に到達
し放射線検出の信号を得ることができるものである。
Te結晶基板の対向する面に一対の電極を形成して作製
される。そして、この放射線検出器においては、各電極
間にバイアス電圧が印加され、CdTe結晶に放射線が
入射されると結晶内に電子−正孔対が形成され、生成さ
れたキャリア(すなわち電子及び正孔)が各電極に到達
し放射線検出の信号を得ることができるものである。
【0004】ところで、放射線検出器の高エネルギー分
解能を得るためには、検出素子に用いられるCdTe結
晶は高抵抗で、かつ、結晶内に生成されるキャリアのラ
イフタイムが長いこと(すなわち、キャリアがトラップ
され難いこと)が要求される。結晶の比抵抗値が低い場
合、高バイアス電圧によるリークノイズが増大するた
め、高エネルギー分解能を得ることができなくなるから
である。
解能を得るためには、検出素子に用いられるCdTe結
晶は高抵抗で、かつ、結晶内に生成されるキャリアのラ
イフタイムが長いこと(すなわち、キャリアがトラップ
され難いこと)が要求される。結晶の比抵抗値が低い場
合、高バイアス電圧によるリークノイズが増大するた
め、高エネルギー分解能を得ることができなくなるから
である。
【0005】そして、高エネルギー分解能を得るために
は、1×109(Ω・cm)以上の比抵抗値が必要であ
る。
は、1×109(Ω・cm)以上の比抵抗値が必要であ
る。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】ここで、高抵抗を有す
るこの様なCdTe結晶は、従来、この結晶中に塩素を
添加することにより製造されている。このCdTe結晶
の高抵抗化の現象は、添加された塩素原子がTeの一部
と置換し、置換された塩素原子とCdの空孔とで構成さ
れる複合欠陥の作用により起こっているものと推察され
ている。
るこの様なCdTe結晶は、従来、この結晶中に塩素を
添加することにより製造されている。このCdTe結晶
の高抵抗化の現象は、添加された塩素原子がTeの一部
と置換し、置換された塩素原子とCdの空孔とで構成さ
れる複合欠陥の作用により起こっているものと推察され
ている。
【0007】そして、従来においては塩素が添加された
CdTe結晶について、これを真空中で熱処理して結晶
内の抵抗を均一化させ、もって放射線検出器の素子材料
として提供されている。
CdTe結晶について、これを真空中で熱処理して結晶
内の抵抗を均一化させ、もって放射線検出器の素子材料
として提供されている。
【0008】ところで、このCdTe結晶は、添加され
る塩素の量が増加するに伴い結晶の比抵抗値が減少しか
つ上記ライフタイムも減少する特性を有していた。
る塩素の量が増加するに伴い結晶の比抵抗値が減少しか
つ上記ライフタイムも減少する特性を有していた。
【0009】このため、CdTe結晶を素子材料とした
放射線検出器にはそのエネルギー分解能に一定の限界を
有する問題点があった。
放射線検出器にはそのエネルギー分解能に一定の限界を
有する問題点があった。
【0010】そこで、従来においては添加する塩素量を
適量に設定し、かつ、上記CdTe結晶の真空中での熱
処理について温度域を徐々に下げながら多段階でこれを
行う等の検討がなされているが、この方法による効果も
一定の限界を有していた。
適量に設定し、かつ、上記CdTe結晶の真空中での熱
処理について温度域を徐々に下げながら多段階でこれを
行う等の検討がなされているが、この方法による効果も
一定の限界を有していた。
【0011】本発明はこの様な問題点に着目してなされ
たもので、その課題とするところは、放射線検出器の素
子材料に適用された場合にそのエネルギー分解能を大幅
に改善させるCdTe結晶の製造方法を提供することに
ある。
たもので、その課題とするところは、放射線検出器の素
子材料に適用された場合にそのエネルギー分解能を大幅
に改善させるCdTe結晶の製造方法を提供することに
ある。
【0012】
【課題を解決するための手段】そこで、本発明者は上記
課題を解決するため鋭意実験を重ねたところ、以下のよ
うな技術的知見を得るに至った。すなわち、塩素が添加
されたCdTe結晶に対し2段階の熱処理を施す際、あ
る一定の温度条件で第1次熱処理を施し、一旦、第2次
熱処理温度未満、好ましくは室温近傍まで降温させた
後、第1次熱処理温度より低温の第2次熱処理を施した
場合、放射線検出器の高エネルギー分解能を可能とする
CdTe結晶が得られることを見出した。更に、降温処
理を間に介したこの熱処理について、2段階でなしに3
段階等多段に設定して同様の実験を試みたところ、2段
階加熱に較べて大きな改善は確認されなかった。本発明
はこの様な技術的知見に基づき完成されたものである。
課題を解決するため鋭意実験を重ねたところ、以下のよ
うな技術的知見を得るに至った。すなわち、塩素が添加
されたCdTe結晶に対し2段階の熱処理を施す際、あ
る一定の温度条件で第1次熱処理を施し、一旦、第2次
熱処理温度未満、好ましくは室温近傍まで降温させた
後、第1次熱処理温度より低温の第2次熱処理を施した
場合、放射線検出器の高エネルギー分解能を可能とする
CdTe結晶が得られることを見出した。更に、降温処
理を間に介したこの熱処理について、2段階でなしに3
段階等多段に設定して同様の実験を試みたところ、2段
階加熱に較べて大きな改善は確認されなかった。本発明
はこの様な技術的知見に基づき完成されたものである。
【0013】すなわち、請求項1に係る発明は、塩素が
添加されたCdTe結晶を熱処理して高抵抗のCdTe
結晶を製造する方法を前提とし、塩素が添加されたCd
Te結晶を、真空中で、400℃以上440℃以下の温
度域で第1次熱処理を施した後、一旦、以下の第2次熱
処理温度未満に降温させ、次いで、360℃以上400
℃以下の温度域で第2次熱処理を施すことを特徴とする
ものである。
添加されたCdTe結晶を熱処理して高抵抗のCdTe
結晶を製造する方法を前提とし、塩素が添加されたCd
Te結晶を、真空中で、400℃以上440℃以下の温
度域で第1次熱処理を施した後、一旦、以下の第2次熱
処理温度未満に降温させ、次いで、360℃以上400
℃以下の温度域で第2次熱処理を施すことを特徴とする
ものである。
【0014】この様な技術的手段において塩素が添加さ
れた上記CdTe結晶は単結晶でも多結晶でも任意であ
るが、放射線検出器のより高いエネルギー分解能を得る
ためには単結晶が好ましい。
れた上記CdTe結晶は単結晶でも多結晶でも任意であ
るが、放射線検出器のより高いエネルギー分解能を得る
ためには単結晶が好ましい。
【0015】また、第1次熱処理を施した後の降温処理
温度については第2次熱処理温度未満であれば任意であ
るが、室温近傍まで降温させることが好ましく、かつ、
この温度条件でCdTe結晶を1時間以上保持すること
が望ましい(請求項2)。
温度については第2次熱処理温度未満であれば任意であ
るが、室温近傍まで降温させることが好ましく、かつ、
この温度条件でCdTe結晶を1時間以上保持すること
が望ましい(請求項2)。
【0016】次に、上記第1次熱処理の温度域は400
℃以上440℃以下であることが必要である。440℃
を越えた場合や400℃未満の場合には、放射線検出素
子として適用された際のエネルギー分解能の改善効果が
得られなくなる。また、第1次熱処理の処理時間は1時
間以上行うことが好ましい。
℃以上440℃以下であることが必要である。440℃
を越えた場合や400℃未満の場合には、放射線検出素
子として適用された際のエネルギー分解能の改善効果が
得られなくなる。また、第1次熱処理の処理時間は1時
間以上行うことが好ましい。
【0017】他方、第2次熱処理の温度域は360℃以
上400℃以下であることが必要である。400℃を越
えた場合や360℃未満の場合には、第1次熱処理と同
様に放射線検出素子として適用された際のエネルギー分
解能の改善効果が得られなくなる。また、第2次熱処理
の処理時間は1時間以上行うことが好ましい。
上400℃以下であることが必要である。400℃を越
えた場合や360℃未満の場合には、第1次熱処理と同
様に放射線検出素子として適用された際のエネルギー分
解能の改善効果が得られなくなる。また、第2次熱処理
の処理時間は1時間以上行うことが好ましい。
【0018】また、CdTe結晶の合成に適用される各
原料の純度については、他の不純物によるキャリアの挙
動を避けるため、99.9999%以上であることが望
ましい。
原料の純度については、他の不純物によるキャリアの挙
動を避けるため、99.9999%以上であることが望
ましい。
【0019】ここで、塩素が添加されたCdTe結晶に
対して上述した熱処理方法を施した場合、放射線検出器
の高エネルギー分解能を可能とするCdTe結晶が得ら
れる理由について本発明者は以下のように推察してい
る。
対して上述した熱処理方法を施した場合、放射線検出器
の高エネルギー分解能を可能とするCdTe結晶が得ら
れる理由について本発明者は以下のように推察してい
る。
【0020】まず、塩素が添加されたCdTe結晶に対
し図1の熱処理温度プロファイルに示すように真空中で
400℃以上440℃以下の温度域で第1次熱処理を施
すと、従来の熱処理と同様の作用によりCdTe結晶内
の抵抗を均一化させることが可能となる。
し図1の熱処理温度プロファイルに示すように真空中で
400℃以上440℃以下の温度域で第1次熱処理を施
すと、従来の熱処理と同様の作用によりCdTe結晶内
の抵抗を均一化させることが可能となる。
【0021】次に、上記第1次熱処理を施した後、一
旦、第2次熱処理温度未満に降温させ、次いで、360
℃以上400℃以下の温度域で第2次熱処理を施すと、
原因は現在のところ不明であるが結晶内のトラップレベ
ルが低下し上述したキャリアのライフタイムの改善が図
れる。すなわち、以下に述べる実施例と比較例のデータ
から明らかなように各CdTe結晶の比抵抗値は略同一
である。しかし各結晶を素子材料として組込んだ放射線
検出器のエネルギー分解能(ピークスペクトルの半値
幅)は比較例に較べ実施例のそれが大幅に優れている。
この様に各CdTe結晶の比抵抗値が略同等であるにも
拘らず実施例に係る放射線検出器のエネルギー分解能が
大幅に改善されていることから、上記降温処理後の第2
次熱処理により結晶内のトラップレベルが低下し上述し
たライフタイムの改善が図られているものと推察してい
る。
旦、第2次熱処理温度未満に降温させ、次いで、360
℃以上400℃以下の温度域で第2次熱処理を施すと、
原因は現在のところ不明であるが結晶内のトラップレベ
ルが低下し上述したキャリアのライフタイムの改善が図
れる。すなわち、以下に述べる実施例と比較例のデータ
から明らかなように各CdTe結晶の比抵抗値は略同一
である。しかし各結晶を素子材料として組込んだ放射線
検出器のエネルギー分解能(ピークスペクトルの半値
幅)は比較例に較べ実施例のそれが大幅に優れている。
この様に各CdTe結晶の比抵抗値が略同等であるにも
拘らず実施例に係る放射線検出器のエネルギー分解能が
大幅に改善されていることから、上記降温処理後の第2
次熱処理により結晶内のトラップレベルが低下し上述し
たライフタイムの改善が図られているものと推察してい
る。
【0022】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態につい
て具体的実施例を挙げて詳細に説明する。
て具体的実施例を挙げて詳細に説明する。
【0023】[実施例1]いずれも純度99.9999
%のCdとTeをそのmol組成比(Te/Cd)が
0.999となるように内径100mmの石英容器に収
納し、更に、塩素濃度が300ppmとなるように塩化
カドミウムを添加した。次に、この石英容器を1.0×
10-6Torr以下の真空度にて封入し、電気炉に設置
した後、グラディエント・フリーズ法にて結晶育成を行
った。すなわち、1100℃で10時間程原料を溶融
し、0.3℃/時間の割合で1050℃まで冷却し結晶
化させた後、60℃/時間の割合で室温まで冷却し塩素
が添加されたCdTe結晶を得た。そして、この様にし
て作成されたCdTe結晶から20×20mmウエハを
切り出した。
%のCdとTeをそのmol組成比(Te/Cd)が
0.999となるように内径100mmの石英容器に収
納し、更に、塩素濃度が300ppmとなるように塩化
カドミウムを添加した。次に、この石英容器を1.0×
10-6Torr以下の真空度にて封入し、電気炉に設置
した後、グラディエント・フリーズ法にて結晶育成を行
った。すなわち、1100℃で10時間程原料を溶融
し、0.3℃/時間の割合で1050℃まで冷却し結晶
化させた後、60℃/時間の割合で室温まで冷却し塩素
が添加されたCdTe結晶を得た。そして、この様にし
て作成されたCdTe結晶から20×20mmウエハを
切り出した。
【0024】次に、切り出した上記ウエハを、真空中
で、420℃の温度で10時間の熱処理(第1次熱処
理)を施し、次いで、一旦室温まで冷却し、かつ、室温
で1時間保持した後、380℃の温度で10時間の熱処
理(すなわち第2次熱処理)を施した。熱処理後のCd
Te結晶ウエハの比抵抗値は1.4×109(Ω・c
m)であった。
で、420℃の温度で10時間の熱処理(第1次熱処
理)を施し、次いで、一旦室温まで冷却し、かつ、室温
で1時間保持した後、380℃の温度で10時間の熱処
理(すなわち第2次熱処理)を施した。熱処理後のCd
Te結晶ウエハの比抵抗値は1.4×109(Ω・c
m)であった。
【0025】そして、このCdTe結晶ウエハから放射
線検出器を作製し、その放射線検出特性評価を行った。
線検出器を作製し、その放射線検出特性評価を行った。
【0026】この放射線検出特性評価には、線源とし
て、241Am(アメリシウム)を用いた。この結果、バ
イアス電圧30Vに対し、ピークスペクトルの半値幅
が、目標とする12〜13%より良好な10.1%とい
う高エネルギー分解能を得ることができた。
て、241Am(アメリシウム)を用いた。この結果、バ
イアス電圧30Vに対し、ピークスペクトルの半値幅
が、目標とする12〜13%より良好な10.1%とい
う高エネルギー分解能を得ることができた。
【0027】[実施例2]実施例1で作製したCdTe
結晶ウエハを、真空中で、440℃の温度で5時間の熱
処理(第1次熱処理)を施し、次いで、一旦360℃ま
で冷却し、かつ、この温度で3時間保持した後、400
℃の温度で10時間の熱処理(すなわち第2次熱処理)
を施した。熱処理後のCdTe結晶ウエハの比抵抗値は
1.5×109(Ω・cm)であった。
結晶ウエハを、真空中で、440℃の温度で5時間の熱
処理(第1次熱処理)を施し、次いで、一旦360℃ま
で冷却し、かつ、この温度で3時間保持した後、400
℃の温度で10時間の熱処理(すなわち第2次熱処理)
を施した。熱処理後のCdTe結晶ウエハの比抵抗値は
1.5×109(Ω・cm)であった。
【0028】そして、このCdTe結晶ウエハから実施
例1と同様の放射線検出器を作製し、線源として241A
m(アメリシウム)を用いた放射線検出特性評価を行っ
た。
例1と同様の放射線検出器を作製し、線源として241A
m(アメリシウム)を用いた放射線検出特性評価を行っ
た。
【0029】この結果、バイアス電圧30Vに対し、ピ
ークスペクトルの半値幅が、目標とする12〜13%よ
り良好な11.2%という高エネルギー分解能を得るこ
とができた。
ークスペクトルの半値幅が、目標とする12〜13%よ
り良好な11.2%という高エネルギー分解能を得るこ
とができた。
【0030】[実施例3]実施例1で作製したCdTe
結晶ウエハを、真空中で、400℃の温度で10時間の
熱処理(第1次熱処理)を施し、次いで、一旦室温まで
冷却し、かつ、室温で1時間保持した後、360℃の温
度で10時間の熱処理(すなわち第2次熱処理)を施し
た。熱処理後のCdTe結晶ウエハの比抵抗値は1.5
×109(Ω・cm)であった。
結晶ウエハを、真空中で、400℃の温度で10時間の
熱処理(第1次熱処理)を施し、次いで、一旦室温まで
冷却し、かつ、室温で1時間保持した後、360℃の温
度で10時間の熱処理(すなわち第2次熱処理)を施し
た。熱処理後のCdTe結晶ウエハの比抵抗値は1.5
×109(Ω・cm)であった。
【0031】そして、このCdTe結晶ウエハから実施
例1と同様の放射線検出器を作製し、線源として241A
m(アメリシウム)を用いた放射線検出特性評価を行っ
た。
例1と同様の放射線検出器を作製し、線源として241A
m(アメリシウム)を用いた放射線検出特性評価を行っ
た。
【0032】この結果、バイアス電圧30Vに対し、ピ
ークスペクトルの半値幅が、目標とする12〜13%よ
り良好な10.3%という高エネルギー分解能を得るこ
とができた。
ークスペクトルの半値幅が、目標とする12〜13%よ
り良好な10.3%という高エネルギー分解能を得るこ
とができた。
【0033】[比較例1]実施例1で作製したCdTe
結晶ウエハを熱処理せずにこのCdTe結晶ウエハから
実施例1と同様の放射線検出器を作製した。このCdT
e結晶ウエハの比抵抗値は1.6×109(Ω・cm)
であった。
結晶ウエハを熱処理せずにこのCdTe結晶ウエハから
実施例1と同様の放射線検出器を作製した。このCdT
e結晶ウエハの比抵抗値は1.6×109(Ω・cm)
であった。
【0034】そして、線源として241Am(アメリシウ
ム)を用いた放射線検出特性評価を行ったところ、バイ
アス電圧30Vに対し、ピークスペクトルの半値幅が5
2.6%であり、放射線検出器として使用することは困
難であった。
ム)を用いた放射線検出特性評価を行ったところ、バイ
アス電圧30Vに対し、ピークスペクトルの半値幅が5
2.6%であり、放射線検出器として使用することは困
難であった。
【0035】[比較例2]実施例1で作製したCdTe
結晶ウエハを、真空中で、420℃の温度で10時間の
熱処理を施した。この熱処理後のCdTe結晶ウエハの
比抵抗値は1.4×109(Ω・cm)であった。
結晶ウエハを、真空中で、420℃の温度で10時間の
熱処理を施した。この熱処理後のCdTe結晶ウエハの
比抵抗値は1.4×109(Ω・cm)であった。
【0036】そして、このCdTe結晶ウエハから実施
例1と同様の放射線検出器を作製し、線源として241A
m(アメリシウム)を用いた放射線検出特性評価を行っ
た。
例1と同様の放射線検出器を作製し、線源として241A
m(アメリシウム)を用いた放射線検出特性評価を行っ
た。
【0037】この結果、バイアス電圧30Vに対し、ピ
ークスペクトルの半値幅が19.4%であり、目標とす
る高エネルギー分解能を得ることができなかった。
ークスペクトルの半値幅が19.4%であり、目標とす
る高エネルギー分解能を得ることができなかった。
【0038】
【発明の効果】請求項1〜2記載の発明に係るCdTe
結晶の製造方法によれば、塩素が添加されたCdTe結
晶を、真空中で、400℃以上440℃以下の温度域で
第1次熱処理を施した後、一旦、以下の第2次熱処理温
度未満に降温させ、次いで360℃以上400℃以下の
温度域で第2次熱処理を施しているため、放射線検出器
に適用された場合にそのエネルギー分解能を大幅に改善
させるCdTe結晶が得られる効果を有している。
結晶の製造方法によれば、塩素が添加されたCdTe結
晶を、真空中で、400℃以上440℃以下の温度域で
第1次熱処理を施した後、一旦、以下の第2次熱処理温
度未満に降温させ、次いで360℃以上400℃以下の
温度域で第2次熱処理を施しているため、放射線検出器
に適用された場合にそのエネルギー分解能を大幅に改善
させるCdTe結晶が得られる効果を有している。
【図1】本発明に係る熱処理温度プロファイルを示すグ
ラフ図。
ラフ図。
Claims (2)
- 【請求項1】塩素が添加されたCdTe結晶を熱処理し
て高抵抗のCdTe結晶を製造する方法において、 塩素が添加されたCdTe結晶を、真空中で、400℃
以上440℃以下の温度域で第1次熱処理を施した後、
一旦、以下の第2次熱処理温度未満に降温させ、次い
で、360℃以上400℃以下の温度域で第2次熱処理
を施すことを特徴とするCdTe結晶の製造方法。 - 【請求項2】上記第1次熱処理後、室温近傍まで降温さ
せ、かつ、この温度条件でCdTe結晶を1時間以上保
持することを特徴とする請求項1記載のCdTe結晶の
製造方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP30350395A JPH09124310A (ja) | 1995-10-27 | 1995-10-27 | CdTe結晶の製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP30350395A JPH09124310A (ja) | 1995-10-27 | 1995-10-27 | CdTe結晶の製造方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH09124310A true JPH09124310A (ja) | 1997-05-13 |
Family
ID=17921763
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP30350395A Pending JPH09124310A (ja) | 1995-10-27 | 1995-10-27 | CdTe結晶の製造方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
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- 1995-10-27 JP JP30350395A patent/JPH09124310A/ja active Pending
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