JPH0791949A - 測定装置 - Google Patents
測定装置Info
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- JPH0791949A JPH0791949A JP5301920A JP30192093A JPH0791949A JP H0791949 A JPH0791949 A JP H0791949A JP 5301920 A JP5301920 A JP 5301920A JP 30192093 A JP30192093 A JP 30192093A JP H0791949 A JPH0791949 A JP H0791949A
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- sensor
- computer
- stylus
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B7/00—Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques
- G01B7/28—Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques for measuring contours or curvatures
- G01B7/282—Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques for measuring contours or curvatures for measuring roundness
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B7/00—Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques
- G01B7/004—Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques for measuring coordinates of points
- G01B7/008—Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques for measuring coordinates of points using coordinate measuring machines
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B7/00—Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques
- G01B7/34—Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques for measuring roughness or irregularity of surfaces
- G01B7/345—Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques for measuring roughness or irregularity of surfaces for measuring evenness
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- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】 (修正有)
【目的】 形状の測定を迅速かつ効率的に行なうことの
できる測定装置を提供する。 【較成】 測定装置は、ワークピースサポート4と、ワ
ークピースの表面を感知するセンサ12,14と、ワー
クピースとセンサ12,14との間に相対的移動をもた
らす駆動手段と、測定データを得るためのコンピュータ
手段とを含む。コンピュータ手段は、データ入力手段2
4を有するホストコンピュータ22と、マスタコンピュ
ータと、スレーブコンピュータとを含む。
できる測定装置を提供する。 【較成】 測定装置は、ワークピースサポート4と、ワ
ークピースの表面を感知するセンサ12,14と、ワー
クピースとセンサ12,14との間に相対的移動をもた
らす駆動手段と、測定データを得るためのコンピュータ
手段とを含む。コンピュータ手段は、データ入力手段2
4を有するホストコンピュータ22と、マスタコンピュ
ータと、スレーブコンピュータとを含む。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は測定装置に関し、かつ
特に真円度および直線度のような形状、またはその誤差
を測定する装置に関するものである。
特に真円度および直線度のような形状、またはその誤差
を測定する装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術および発明が解決しようとする課題】既知
の測定装置は、ワークピースを受けるための回転可能部
材と、前記部材を回転させるための第1の駆動手段と、
その回転の間回転可能部材上でワークピースの表面を感
知するためのセンサと、前記ワークピース受け部材に関
する移動のために前記センサを支持する手段と、前記セ
ンサの前記移動をもたらすための第2の駆動手段と、測
定データを与えるために前記センサから得られた信号を
受取るように配置されたディジルコンピュータ手段とを
含む。
の測定装置は、ワークピースを受けるための回転可能部
材と、前記部材を回転させるための第1の駆動手段と、
その回転の間回転可能部材上でワークピースの表面を感
知するためのセンサと、前記ワークピース受け部材に関
する移動のために前記センサを支持する手段と、前記セ
ンサの前記移動をもたらすための第2の駆動手段と、測
定データを与えるために前記センサから得られた信号を
受取るように配置されたディジルコンピュータ手段とを
含む。
【0003】既知の装置の利用では、ワークピースが回
転可能支持上で位置決めされ、もし必要であるならばセ
ンタリングおよびレベリング動作が行なわれ、かつセン
サがその表面を横切るようにワークピースの回転により
形態測定がなされる。センサはワークピース表面を横切
るとき、それはワークピースの形態の関数として変化す
る信号を出力する。形態測定の間、センサは、それが形
態の最も微小の変化を検出するのを可能にする高い分解
能、たとえば20ナノメータより優れた分解能、および
形態の比較的大きい特徴が調節されるのを可能にする広
範囲の動作という相反する条件を受ける。このように、
理想的センサはスタイラスおよび変換器を含み、そのた
め変換器は少なくとも数ミリメータの距離にわたりかつ
好ましくは非常に実質的にそれよりも大きい距離にわた
りしかもその動作の範囲を通じて上記の高い分解能でス
タイラスの移動に線形的に関連する信号を出力する。現
在までこれらの必要条件を十分に満たす変換器を製造す
ることは不可能であった。その結果、形態の測定は形態
の大きな特徴を調節するためにオペレータが繰返しセン
サを再位置決めする必要がある比較的遅くかつ厄介な手
順であった。
転可能支持上で位置決めされ、もし必要であるならばセ
ンタリングおよびレベリング動作が行なわれ、かつセン
サがその表面を横切るようにワークピースの回転により
形態測定がなされる。センサはワークピース表面を横切
るとき、それはワークピースの形態の関数として変化す
る信号を出力する。形態測定の間、センサは、それが形
態の最も微小の変化を検出するのを可能にする高い分解
能、たとえば20ナノメータより優れた分解能、および
形態の比較的大きい特徴が調節されるのを可能にする広
範囲の動作という相反する条件を受ける。このように、
理想的センサはスタイラスおよび変換器を含み、そのた
め変換器は少なくとも数ミリメータの距離にわたりかつ
好ましくは非常に実質的にそれよりも大きい距離にわた
りしかもその動作の範囲を通じて上記の高い分解能でス
タイラスの移動に線形的に関連する信号を出力する。現
在までこれらの必要条件を十分に満たす変換器を製造す
ることは不可能であった。その結果、形態の測定は形態
の大きな特徴を調節するためにオペレータが繰返しセン
サを再位置決めする必要がある比較的遅くかつ厄介な手
順であった。
【0004】先行技術の装置に関するさらなる問題は、
センタリングおよびレベリング動作が変換器の動作の制
限された範囲により必然的に困難なことである。特に、
センタリングおよびレベリングが完了され得るまで、任
意のセンタリング誤差が変換器の範囲内にあるようにワ
ークピースがワークピース受け部材上に位置決めされる
ことを確実にすることが必要である。この位置決めは、
目分量でなされなければならない。これらのセンタリン
グ誤差が変換器の動作の範囲内にはなくかつセンタリン
グ動作が開始される場合、センタリング動作および表面
センサの再位置決めまたはワークピースの再位置決めの
いずれかを阻止することが必要である。このように、こ
の動作はまた時間を浪費しかつ厄介である。
センタリングおよびレベリング動作が変換器の動作の制
限された範囲により必然的に困難なことである。特に、
センタリングおよびレベリングが完了され得るまで、任
意のセンタリング誤差が変換器の範囲内にあるようにワ
ークピースがワークピース受け部材上に位置決めされる
ことを確実にすることが必要である。この位置決めは、
目分量でなされなければならない。これらのセンタリン
グ誤差が変換器の動作の範囲内にはなくかつセンタリン
グ動作が開始される場合、センタリング動作および表面
センサの再位置決めまたはワークピースの再位置決めの
いずれかを阻止することが必要である。このように、こ
の動作はまた時間を浪費しかつ厄介である。
【0005】この発明の目的の1つは、上記の問題を解
決することである。
決することである。
【0006】
【課題を解決するための手段】1つの局面では、この発
明は上記の問題を解決する。なぜならコンピュータ手段
がセンサから得られた信号に応答してワークピースとセ
ンサとの間の相対的移動を制御し、そのため前記センサ
が前記ワークピース表面に追従し、かつ前記信号および
前記センサの前記移動の両方に依存して前記測定データ
を与えるように動作可能であるからである。
明は上記の問題を解決する。なぜならコンピュータ手段
がセンサから得られた信号に応答してワークピースとセ
ンサとの間の相対的移動を制御し、そのため前記センサ
が前記ワークピース表面に追従し、かつ前記信号および
前記センサの前記移動の両方に依存して前記測定データ
を与えるように動作可能であるからである。
【0007】こうして、このように20ナノメータより
優れた、好ましくは12ナノメータの分解能のような、
極めて高い分解能、しかし0.4mm未満のような狭い
動作の範囲を有するセンサは形態の最も微小の変化の感
知を可能にするように採用され得て、形態の大きい特徴
はディジタルコンピュータの制御の下で駆動手段の駆動
により調節され得て、かつ測定データの誘導は変換器出
力およびセンサの移動の両方に依存する。センサの位置
はそれゆえに、実際この分解能がセンサ自体により与え
られるものと同じ高さである必要はないが、高い分解能
でも決定可能であるべきである。このように、たとえば
上記のようにセンサは好ましくは20ナノメータより優
れた分解能を有するべきであるが、第2の駆動手段によ
り移動されるときセンサの位置が決定され得る分解能は
たとえば500ナノメータより優れて、好ましくはたと
えば200ナノメータにすぎないが、これは少なくと
も、先行技術の装置と比較した大きさのオーダの改良で
さえある。
優れた、好ましくは12ナノメータの分解能のような、
極めて高い分解能、しかし0.4mm未満のような狭い
動作の範囲を有するセンサは形態の最も微小の変化の感
知を可能にするように採用され得て、形態の大きい特徴
はディジタルコンピュータの制御の下で駆動手段の駆動
により調節され得て、かつ測定データの誘導は変換器出
力およびセンサの移動の両方に依存する。センサの位置
はそれゆえに、実際この分解能がセンサ自体により与え
られるものと同じ高さである必要はないが、高い分解能
でも決定可能であるべきである。このように、たとえば
上記のようにセンサは好ましくは20ナノメータより優
れた分解能を有するべきであるが、第2の駆動手段によ
り移動されるときセンサの位置が決定され得る分解能は
たとえば500ナノメータより優れて、好ましくはたと
えば200ナノメータにすぎないが、これは少なくと
も、先行技術の装置と比較した大きさのオーダの改良で
さえある。
【0008】センサの移動により調節され得る特徴の大
きさは、センサの移動範囲に依存する。実際、センサは
半径方向に少なくとも100mmおよび軸方向に少なく
とも100mm移動可能であり得る。好ましい特定の例
では、センサは200mmの距離を介して半径方向に、
かつ500mmの距離を介して軸方向に移動可能であ
る。
きさは、センサの移動範囲に依存する。実際、センサは
半径方向に少なくとも100mmおよび軸方向に少なく
とも100mm移動可能であり得る。好ましい特定の例
では、センサは200mmの距離を介して半径方向に、
かつ500mmの距離を介して軸方向に移動可能であ
る。
【0009】
【実施例】この発明は、添付の図面を参照して例として
さらに述べられる。
さらに述べられる。
【0010】図1を参照すると、測定装置はワークピー
ス(図示せず)を支持するためのターンテーブル4が設
けられたベンチ2を含む。キャリッジ6は柱8上の垂直
移動のために支持され、かつ水平に移動可能なアーム1
0を保持する。ワークピースの表面を係合させるスタイ
ラス12は線形変換器14に含まれ、それはたとえば誘
導性または容量性であってもよく、アーム16の一方の
端部で保持され、その他方端部は、水平位置から45゜
の軸20のまわりを矢印18で示された方向に枢軸的に
移動するためにアーム10の自由端に装着される。
ス(図示せず)を支持するためのターンテーブル4が設
けられたベンチ2を含む。キャリッジ6は柱8上の垂直
移動のために支持され、かつ水平に移動可能なアーム1
0を保持する。ワークピースの表面を係合させるスタイ
ラス12は線形変換器14に含まれ、それはたとえば誘
導性または容量性であってもよく、アーム16の一方の
端部で保持され、その他方端部は、水平位置から45゜
の軸20のまわりを矢印18で示された方向に枢軸的に
移動するためにアーム10の自由端に装着される。
【0011】図2で最良にわかるように、図2にそれぞ
れ実線および一点鎖線で示される端部位置間でアーム1
6は軸20のまわりを180゜旋回可能である。実線位
置では、スタイラス12は垂直であり、かつ破線位置で
はスタイラス12は水平である。この配置によりスタイ
ラスの先端12aは、アーム16が図2で示される2つ
の位置のいずれかにあるときターンテーブル4の半径方
向の平面において実質的に同じ位置に置かれる。アーム
10に装着された電気モータ3は、その2つの端部位置
間でアーム16を駆動するためにウォームおよび車輪伝
動を介してアーム16に結合される。スタイラス12お
よび変換器14は、スタイラス12が一方向にのみ変換
器14に関して偏向され得るように配置される。しかし
ながら、変換器14は好ましくは30゜単位で270゜
にわたり軸7のまわりを回転するためにアーム16に装
着される。このようにたとえば、もし変換器14が90
゜にわたり軸7のまわりを回転されるならば、これはス
タイラス12が偏向可能である平面を90゜だけ変化さ
せる。モータ9は、変換器14の回転をもたらすために
アームに装着される。アーム16は図2で示される実線
位置にあり、スタイラス12がたとえばターンテーブル
4上に置かれたワークピースの内部表面を感知するため
に垂直であるとき、変換器14は一般にスタイラス12
がターンテーブル4に関して半径方向の平面において偏
向可能である位置に維持される。しかしながら、アーム
16は図2で示される破線位置にあり、スタイラス12
が水平であるとき、変換器14はスタイラス12が水平
平面において偏向可能である位置またはスタイラス12
が垂直平面において偏向可能である位置のいずれかまで
回転され得る。前者の位置では、ワークピースの側面の
表面は都合良く感知され得て、かつ後者の位置では上部
に面する表面が都合良く感知され得る。他の方向に面す
る表面は、スタイラス12が感知されるべき表面に対し
て一般に垂直である平面において偏向可能である位置ま
で変換器14を軸7のまわりで回転させることにより感
知され得る。
れ実線および一点鎖線で示される端部位置間でアーム1
6は軸20のまわりを180゜旋回可能である。実線位
置では、スタイラス12は垂直であり、かつ破線位置で
はスタイラス12は水平である。この配置によりスタイ
ラスの先端12aは、アーム16が図2で示される2つ
の位置のいずれかにあるときターンテーブル4の半径方
向の平面において実質的に同じ位置に置かれる。アーム
10に装着された電気モータ3は、その2つの端部位置
間でアーム16を駆動するためにウォームおよび車輪伝
動を介してアーム16に結合される。スタイラス12お
よび変換器14は、スタイラス12が一方向にのみ変換
器14に関して偏向され得るように配置される。しかし
ながら、変換器14は好ましくは30゜単位で270゜
にわたり軸7のまわりを回転するためにアーム16に装
着される。このようにたとえば、もし変換器14が90
゜にわたり軸7のまわりを回転されるならば、これはス
タイラス12が偏向可能である平面を90゜だけ変化さ
せる。モータ9は、変換器14の回転をもたらすために
アームに装着される。アーム16は図2で示される実線
位置にあり、スタイラス12がたとえばターンテーブル
4上に置かれたワークピースの内部表面を感知するため
に垂直であるとき、変換器14は一般にスタイラス12
がターンテーブル4に関して半径方向の平面において偏
向可能である位置に維持される。しかしながら、アーム
16は図2で示される破線位置にあり、スタイラス12
が水平であるとき、変換器14はスタイラス12が水平
平面において偏向可能である位置またはスタイラス12
が垂直平面において偏向可能である位置のいずれかまで
回転され得る。前者の位置では、ワークピースの側面の
表面は都合良く感知され得て、かつ後者の位置では上部
に面する表面が都合良く感知され得る。他の方向に面す
る表面は、スタイラス12が感知されるべき表面に対し
て一般に垂直である平面において偏向可能である位置ま
で変換器14を軸7のまわりで回転させることにより感
知され得る。
【0012】図3でわかるように、モータ35は矢印1
1で示される水平方向にアーム10を駆動するためにキ
ャリッジ6内に設けられ、駆動はラックとピニオン配置
13またはボールねじのような他の適当な手段を介して
モータ35からアーム11に伝動される。矢印11の方
向のアーム10の移動により、スタイラス12の先端1
2aがターンテーブル4の軸に関して半径方向に内部に
または外部に移動され、先端12aがこの移動を通じて
半径方向の平面に残るように変換器14は水平方向に移
動される。キャリッジ6に装着された光源15からの光
は、アーム11により保持された線形光学格子19に向
けられ、かつそこから、アーム11の位置および速度が
得られる出力信号、好ましくは直角信号を与えるフォト
変換器21に反射される。図3でもわかるように、さら
なるフォト変換器23は信号を与え、そこからモータ3
3により駆動されるターンテーブル4の位置および回転
速度がターンテーブル4とともに移動可能な光源25お
よび光学格子27の援助で得られる。
1で示される水平方向にアーム10を駆動するためにキ
ャリッジ6内に設けられ、駆動はラックとピニオン配置
13またはボールねじのような他の適当な手段を介して
モータ35からアーム11に伝動される。矢印11の方
向のアーム10の移動により、スタイラス12の先端1
2aがターンテーブル4の軸に関して半径方向に内部に
または外部に移動され、先端12aがこの移動を通じて
半径方向の平面に残るように変換器14は水平方向に移
動される。キャリッジ6に装着された光源15からの光
は、アーム11により保持された線形光学格子19に向
けられ、かつそこから、アーム11の位置および速度が
得られる出力信号、好ましくは直角信号を与えるフォト
変換器21に反射される。図3でもわかるように、さら
なるフォト変換器23は信号を与え、そこからモータ3
3により駆動されるターンテーブル4の位置および回転
速度がターンテーブル4とともに移動可能な光源25お
よび光学格子27の援助で得られる。
【0013】図4でわかるように、キャリッジ6により
保持されたモータ37は矢印41の方向に垂直にキャリ
ッジ6を駆動するためにラックとピニオン配置39(ま
たはスプロケット車輪およびチェーンのような他の適当
な手段)とともに協働する。一定の力ばね(図示せず)
が、この移動と平衡させるために与えられる。柱8に装
着されたさらなる光学格子43は、キャリッジ6により
保持された光源27からまたキャリッジ6により保持さ
れたフォト変換器31まで光を反射し、そのため変換器
31は信号、好ましくは直角信号を与え、そこからキャ
リッジ6の移動の位置および速度が得られる。
保持されたモータ37は矢印41の方向に垂直にキャリ
ッジ6を駆動するためにラックとピニオン配置39(ま
たはスプロケット車輪およびチェーンのような他の適当
な手段)とともに協働する。一定の力ばね(図示せず)
が、この移動と平衡させるために与えられる。柱8に装
着されたさらなる光学格子43は、キャリッジ6により
保持された光源27からまたキャリッジ6により保持さ
れたフォト変換器31まで光を反射し、そのため変換器
31は信号、好ましくは直角信号を与え、そこからキャ
リッジ6の移動の位置および速度が得られる。
【0014】図1および図5でわかるように、キーボー
ド24が設けられたホストコンピュータ22、ディスク
ドライブ26およびプリンタ28はベンチ2上に置か
れ、かつ測定装置を制御し、得られた測定値を処理しか
つ所要の測定データを出力するために用いられる。ホス
トコンピュータはたとえば、IBMコンパティブルPC
であってもよい。
ド24が設けられたホストコンピュータ22、ディスク
ドライブ26およびプリンタ28はベンチ2上に置か
れ、かつ測定装置を制御し、得られた測定値を処理しか
つ所要の測定データを出力するために用いられる。ホス
トコンピュータはたとえば、IBMコンパティブルPC
であってもよい。
【0015】図5で示されるように、装置は多くのマイ
クロプロセッサ30、32、34、36、38および4
0を含む。マイクロプロセッサ30はマスタコントロー
ラとして用いられ、かつ装置により行なわれるべきであ
る動作に関してホスト22から命令を受取る。このよう
な命令はマスタコントローラ30によりストアされ、そ
れはマスタコントローラに相関のメモリにストアされた
プログラムに従って、ホスト22により与えられる命令
を実行するためにとられるべきである作用に関してスレ
ーブドライバプロセッサ30aを介して残余のマイクロ
プロセッサを命令しかつ制御する。残余のマイクロプロ
セッサの各々はまた、それに相関のメモリを有し、マス
タコントローラ30から受取られた命令の性能に必要な
ルーチンをストアする。こうして、マイクロプロセッサ
32、34、36および38はスレーブとして示され
る。
クロプロセッサ30、32、34、36、38および4
0を含む。マイクロプロセッサ30はマスタコントロー
ラとして用いられ、かつ装置により行なわれるべきであ
る動作に関してホスト22から命令を受取る。このよう
な命令はマスタコントローラ30によりストアされ、そ
れはマスタコントローラに相関のメモリにストアされた
プログラムに従って、ホスト22により与えられる命令
を実行するためにとられるべきである作用に関してスレ
ーブドライバプロセッサ30aを介して残余のマイクロ
プロセッサを命令しかつ制御する。残余のマイクロプロ
セッサの各々はまた、それに相関のメモリを有し、マス
タコントローラ30から受取られた命令の性能に必要な
ルーチンをストアする。こうして、マイクロプロセッサ
32、34、36および38はスレーブとして示され
る。
【0016】スレーブ32は、ターンテーブル4の回転
の速度を制御する。スレーブ34はアーム10の半径方
向の移動を制御する。スレーブ36は、キャリッジ6の
垂直方向の移動を制御する。スレーブ32、34および
36はすべて、好ましくは以下の同時係属中の特許出願
の教示に従ってそれぞれのモータ33、35および37
の速度を制御する。
の速度を制御する。スレーブ34はアーム10の半径方
向の移動を制御する。スレーブ36は、キャリッジ6の
垂直方向の移動を制御する。スレーブ32、34および
36はすべて、好ましくは以下の同時係属中の特許出願
の教示に従ってそれぞれのモータ33、35および37
の速度を制御する。
【0017】国 出願番号 英国 8530577 中国 86107433 デンマーク 5531/86 ヨーロッパ 86309681.4 東ドイツ P/297 385/4 インド 892/MAS/86 日本 未定 米国 940506 ソ連 4028602.24 スレーブ38は通信回路網45からの命令を受取り、か
つセンタリングおよびレベリングモータ38aを制御
し、そこでターンテーブル4は測定を行なう前にワーク
ピースのセンタリングおよびレベリングのために水平方
向にかつ/または枢軸方向に変位される。センタリング
およびレベリングのための配置は、好ましくは、発明者
がアンソニー・ブルース・バーナビー(Anthony Bruce
Barnaby)およびマイケル・ワルター・ミルズ(Micha
el Walter Mills)である英国特許出願番号第8605
325号および第8624396号の、これと同時に出
願されかつ優先権を主張する特許出願の開示に従う。
つセンタリングおよびレベリングモータ38aを制御
し、そこでターンテーブル4は測定を行なう前にワーク
ピースのセンタリングおよびレベリングのために水平方
向にかつ/または枢軸方向に変位される。センタリング
およびレベリングのための配置は、好ましくは、発明者
がアンソニー・ブルース・バーナビー(Anthony Bruce
Barnaby)およびマイケル・ワルター・ミルズ(Micha
el Walter Mills)である英国特許出願番号第8605
325号および第8624396号の、これと同時に出
願されかつ優先権を主張する特許出願の開示に従う。
【0018】マイクロプロセッサ40はゲージ回路41
からデータを受取り、それは変換器14により、かつタ
ーンテーブル4の回転移動、アーム10の半径方向(水
平)移動およびキャリッジ6の垂直移動をそれぞれ検出
する光電変換器23、21および31からの信号をそれ
ぞれ受取る3個の補間器42、44および46の各々か
ら信号出力を受取りかつそれをディジタル化する。補間
器は分解能に対するターンテーブル4、アーム10およ
びキャリッジ6の正確な位置を表わすデータを光学格子
27、19および43のピッチの小さい破面に与えるよ
うに作用する。好ましい実施例では、補間器は半径方向
(水平方向)において約200ナノメータの、かつ軸方
向(垂直方向)において約500ナノメータの、変換器
14の位置の分解能を与え、かつワークピースの回転位
置が約3アークセカンドに分解され得る。この発明は任
意の特定の分解能に制限されないが、半径方向および垂
直方向の分解能が1ミクロンより優れ、かつ回転分解能
が100アークセカンドより優れ、好ましくは10アー
クセカンドより優れているべきであることが好ましい。
上記のように、変換器14は、好ましくは、20ナノメ
ータより優れた、好ましくは12ナノメータまで、スタ
イラス12の先端12aの位置を分解する出力信号を与
える。このように、スタイラス12の偏向と、半径方向
(R)および垂直方向(Z)における変換器14の配置
と、ターンテーブル4の正確な回転位置(O)に関する
高い分解能データは、測定動作の間マイクロプロセッサ
40に連続して与えられる。このデータはマイクロプロ
セッサ40により記録されかつストアされ、かつホスト
22に相関のメモリにストアされたプログラムに従って
このデータの所要の計算を行なうためにホスト22に与
えられる。
からデータを受取り、それは変換器14により、かつタ
ーンテーブル4の回転移動、アーム10の半径方向(水
平)移動およびキャリッジ6の垂直移動をそれぞれ検出
する光電変換器23、21および31からの信号をそれ
ぞれ受取る3個の補間器42、44および46の各々か
ら信号出力を受取りかつそれをディジタル化する。補間
器は分解能に対するターンテーブル4、アーム10およ
びキャリッジ6の正確な位置を表わすデータを光学格子
27、19および43のピッチの小さい破面に与えるよ
うに作用する。好ましい実施例では、補間器は半径方向
(水平方向)において約200ナノメータの、かつ軸方
向(垂直方向)において約500ナノメータの、変換器
14の位置の分解能を与え、かつワークピースの回転位
置が約3アークセカンドに分解され得る。この発明は任
意の特定の分解能に制限されないが、半径方向および垂
直方向の分解能が1ミクロンより優れ、かつ回転分解能
が100アークセカンドより優れ、好ましくは10アー
クセカンドより優れているべきであることが好ましい。
上記のように、変換器14は、好ましくは、20ナノメ
ータより優れた、好ましくは12ナノメータまで、スタ
イラス12の先端12aの位置を分解する出力信号を与
える。このように、スタイラス12の偏向と、半径方向
(R)および垂直方向(Z)における変換器14の配置
と、ターンテーブル4の正確な回転位置(O)に関する
高い分解能データは、測定動作の間マイクロプロセッサ
40に連続して与えられる。このデータはマイクロプロ
セッサ40により記録されかつストアされ、かつホスト
22に相関のメモリにストアされたプログラムに従って
このデータの所要の計算を行なうためにホスト22に与
えられる。
【0019】したがって、要約すると図5で示されたア
ーキテクチャによりコンピュータは3つのレベルに配置
される。ホスト22は第1のレベルを表わし、かつオペ
レータからの命令の入力、マスタコントローラへの適当
な命令の伝送、およびデータロガー40からのデータの
受取りを可能にする。ホスト22は、所要の情報を与え
るためにそのデータについて計算を行なう。第2のレベ
ルはマスタコントローラ30により表わされ、それはホ
スト22からの命令を受けてマスタコントローラ30に
相関のメモリ内にストアされたプログラムに従って、ホ
ストにより命令された動作を行なうように必要に応じて
スレーブドライバ30aを介して種々のスレーブに適当
な命令を送信する。スレーブ32、34、36および3
8、ならびにデータロガー40は第3のレベルを表わ
し、かつそれぞれそれらに相関のメモリ内にストアされ
たプログラムに従ってホスト22の命令についてマスタ
コントローラにより命令された動作を行なうのに必要な
詳細な機能を行なう。好ましくはマスタコントローラ
は、ホスト22から受取られた連続する命令が相関のメ
モリの異なる部分に同時にストアされるように配置さ
れ、そのためこれらの命令はマスタコントローラ30に
より順に作用され得る。
ーキテクチャによりコンピュータは3つのレベルに配置
される。ホスト22は第1のレベルを表わし、かつオペ
レータからの命令の入力、マスタコントローラへの適当
な命令の伝送、およびデータロガー40からのデータの
受取りを可能にする。ホスト22は、所要の情報を与え
るためにそのデータについて計算を行なう。第2のレベ
ルはマスタコントローラ30により表わされ、それはホ
スト22からの命令を受けてマスタコントローラ30に
相関のメモリ内にストアされたプログラムに従って、ホ
ストにより命令された動作を行なうように必要に応じて
スレーブドライバ30aを介して種々のスレーブに適当
な命令を送信する。スレーブ32、34、36および3
8、ならびにデータロガー40は第3のレベルを表わ
し、かつそれぞれそれらに相関のメモリ内にストアされ
たプログラムに従ってホスト22の命令についてマスタ
コントローラにより命令された動作を行なうのに必要な
詳細な機能を行なう。好ましくはマスタコントローラ
は、ホスト22から受取られた連続する命令が相関のメ
モリの異なる部分に同時にストアされるように配置さ
れ、そのためこれらの命令はマスタコントローラ30に
より順に作用され得る。
【0020】変換器14は線形変換器であることが既に
述べられた。このように、それが出力する信号はスタイ
ラス12の偏向の度合を表わす。しかしながら、上記の
ように所要の高度の分解能、たとえば20ナノメータよ
り優れた分解能を与える変換器には、その動作範囲、す
なわち所要の分解能を有する線形出力信号が与えられる
スタイラス12の先端12aの移動範囲がかなり限定さ
れるという問題がある。特に、適当な分解能を有する変
換器はわずか0.4mmの範囲しか有さない可能性があ
る。この発明の重要な好ましい局面に従ってこの問題を
克服するために、マスタコントローラ30はゲージ回路
41からの信号が予め定められたしきい値を越えるとい
う情報を受けてモータ35を駆動するようにスレーブ3
4に命令を送信し、それによってゲージ回路14による
信号出力が0の値(たとえば0であってもよい)として
規定された予め定められた値に戻されるまでアーム11
が変位される。スタイラス12が図2で示された位置の
いずれかでアーム16とともに半径方向の平面で偏向可
能である位置に変換器14があるとき、このような命令
が送られる。もしアーム16が図2で示された破線位置
にありスタイラス12が水平であるならば、かつもしス
タイラスが垂直平面において偏向可能である(すなわち
ターンテーブル4の軸に対して平行である)位置まで変
換器14が回転されるならば、マスタコントローラ30
はゲージ回路14からの出力が予め定められたしきい値
を越えるときモータ37を駆動するようにスレーブ36
に命令を送る。さらに、適当な環境では、ターンテーブ
ルを回転させるためのモータ33の駆動が変換器14か
らの信号の制御の下でもたらされ、そのためそこからの
信号が予め定められたしきい値を越えるとき、水平方向
および/または垂直方向に移動するように変換器14が
ワークピースの表面に追従するのを可能にするように必
要に応じてワークピースが移動されるようにモータ33
が駆動されるようにマスタコントローラ30が配置され
る。こうしてこれらのすべての場合、スタイラス12は
ターンテーブル4上のワークピースの回転の間ワークピ
ースの表面に追従するようにされる。その結果、形態の
大きな特徴を調節するにもかかわらず高い分解能測定値
が得られる、なぜならこのような大きな特徴にスタイラ
スが遭遇するとき、スタイラスの先端がワークピース表
面に追従し、スタイラスがその動作範囲を越えて偏向さ
れることがないように適当にアーム10またはキャリッ
ジ6が移動されるからである。ホストコンピュータ22
は、たとえば形態または形態の誤差に関して変換器14
から得られる信号およびフォト変換器23、21、31
および相関の補間器42、44および46から得られる
信号の両方から必要とされる測定情報を得る。
述べられた。このように、それが出力する信号はスタイ
ラス12の偏向の度合を表わす。しかしながら、上記の
ように所要の高度の分解能、たとえば20ナノメータよ
り優れた分解能を与える変換器には、その動作範囲、す
なわち所要の分解能を有する線形出力信号が与えられる
スタイラス12の先端12aの移動範囲がかなり限定さ
れるという問題がある。特に、適当な分解能を有する変
換器はわずか0.4mmの範囲しか有さない可能性があ
る。この発明の重要な好ましい局面に従ってこの問題を
克服するために、マスタコントローラ30はゲージ回路
41からの信号が予め定められたしきい値を越えるとい
う情報を受けてモータ35を駆動するようにスレーブ3
4に命令を送信し、それによってゲージ回路14による
信号出力が0の値(たとえば0であってもよい)として
規定された予め定められた値に戻されるまでアーム11
が変位される。スタイラス12が図2で示された位置の
いずれかでアーム16とともに半径方向の平面で偏向可
能である位置に変換器14があるとき、このような命令
が送られる。もしアーム16が図2で示された破線位置
にありスタイラス12が水平であるならば、かつもしス
タイラスが垂直平面において偏向可能である(すなわち
ターンテーブル4の軸に対して平行である)位置まで変
換器14が回転されるならば、マスタコントローラ30
はゲージ回路14からの出力が予め定められたしきい値
を越えるときモータ37を駆動するようにスレーブ36
に命令を送る。さらに、適当な環境では、ターンテーブ
ルを回転させるためのモータ33の駆動が変換器14か
らの信号の制御の下でもたらされ、そのためそこからの
信号が予め定められたしきい値を越えるとき、水平方向
および/または垂直方向に移動するように変換器14が
ワークピースの表面に追従するのを可能にするように必
要に応じてワークピースが移動されるようにモータ33
が駆動されるようにマスタコントローラ30が配置され
る。こうしてこれらのすべての場合、スタイラス12は
ターンテーブル4上のワークピースの回転の間ワークピ
ースの表面に追従するようにされる。その結果、形態の
大きな特徴を調節するにもかかわらず高い分解能測定値
が得られる、なぜならこのような大きな特徴にスタイラ
スが遭遇するとき、スタイラスの先端がワークピース表
面に追従し、スタイラスがその動作範囲を越えて偏向さ
れることがないように適当にアーム10またはキャリッ
ジ6が移動されるからである。ホストコンピュータ22
は、たとえば形態または形態の誤差に関して変換器14
から得られる信号およびフォト変換器23、21、31
および相関の補間器42、44および46から得られる
信号の両方から必要とされる測定情報を得る。
【0021】代わりにまたはさらに、たとえば一定の表
面帯域幅を与えるように好ましい態様でデータを集める
ことが可能であり、それによって異なる半径での同一の
表面特徴を測定する結果がまた同一でありかつ選択され
た表面速度のみに依存するように、スタイラスがワーク
ピース表面を横切る速度はターンテーブル4および/ま
たはアーム10および/またはキャリッジ6を駆動する
モータの速度を変化させることにより変化され得る。特
に、固定距離離れたワークピースの表面上の点でデータ
がとられるのが好ましく、かつしたがって上記の配置で
たとえば曲率の差を補償するために上記の1つまたはそ
れ以上の速度を変化させることによりデータ収集率を変
化させることなく、たとえば表面の異なる部分の異なる
曲率にかかわらずこれが達成されてもよい。これを達成
するために、マスタコントローラ30は補間器42、4
4および46ならびにゲージ回路41からの位置上のデ
ータを読み出し、適当なモータの速度はこの受取られた
データに従って、かつマスタコントローラ30に相関の
メモリにストアされたプログラムを用いて変化される。
面帯域幅を与えるように好ましい態様でデータを集める
ことが可能であり、それによって異なる半径での同一の
表面特徴を測定する結果がまた同一でありかつ選択され
た表面速度のみに依存するように、スタイラスがワーク
ピース表面を横切る速度はターンテーブル4および/ま
たはアーム10および/またはキャリッジ6を駆動する
モータの速度を変化させることにより変化され得る。特
に、固定距離離れたワークピースの表面上の点でデータ
がとられるのが好ましく、かつしたがって上記の配置で
たとえば曲率の差を補償するために上記の1つまたはそ
れ以上の速度を変化させることによりデータ収集率を変
化させることなく、たとえば表面の異なる部分の異なる
曲率にかかわらずこれが達成されてもよい。これを達成
するために、マスタコントローラ30は補間器42、4
4および46ならびにゲージ回路41からの位置上のデ
ータを読み出し、適当なモータの速度はこの受取られた
データに従って、かつマスタコントローラ30に相関の
メモリにストアされたプログラムを用いて変化される。
【0022】上記の例として、図6はカム50を例示
し、そのプロファイルは距離dsだけ離れて間隔をおか
れた位置での測定値をとることにより測定されるべきで
ある。距離dsが回転の中心54から半径rlにありか
つ角度aに対するカムの部分52では、ターンテーブル
4の回転速度は一定の率でのデータの収集を可能にする
ために、カムの部分53を測定するとき利用されるもの
とは異ならなければならず、そこではdsは半径r2で
ありかつ角度bに対する。このように、マスタコントロ
ーラは測定される表面上のスタイラスの一定した増分位
置で一定速度でデータが収集されるようにこれらのパラ
メータを考慮してターンテーブル4の回転速度を変化さ
せるためにプログラムをそれに関連づける。これを達成
するために、ターンテーブルの回転速度は以下の方程式
に従って制御され得る、すなわち
し、そのプロファイルは距離dsだけ離れて間隔をおか
れた位置での測定値をとることにより測定されるべきで
ある。距離dsが回転の中心54から半径rlにありか
つ角度aに対するカムの部分52では、ターンテーブル
4の回転速度は一定の率でのデータの収集を可能にする
ために、カムの部分53を測定するとき利用されるもの
とは異ならなければならず、そこではdsは半径r2で
ありかつ角度bに対する。このように、マスタコントロ
ーラは測定される表面上のスタイラスの一定した増分位
置で一定速度でデータが収集されるようにこれらのパラ
メータを考慮してターンテーブル4の回転速度を変化さ
せるためにプログラムをそれに関連づける。これを達成
するために、ターンテーブルの回転速度は以下の方程式
に従って制御され得る、すなわち
【0023】
【数1】
【0024】となり、ここではVはワークピース表面に
わたる変換器の横方向の所要の一定速度であり、Sは線
形出力変換器14からの信号であり、かつRは変換器1
4の半径方向の位置を示す変換器21からの補間器44
により得られる信号である。
わたる変換器の横方向の所要の一定速度であり、Sは線
形出力変換器14からの信号であり、かつRは変換器1
4の半径方向の位置を示す変換器21からの補間器44
により得られる信号である。
【0025】図7を参照すると、平坦度を測定するため
の好ましい動作が例示される。図7では、ターンテーブ
ル4上に置かれたワークピース(図示せず)の表面60
はうず巻状の形経路62においてスタイラス12により
横切られる。これは、ターンテーブル4を回転させなが
ら、測定が表面60の中心近くで開始されるかまたはそ
の周囲近くで開始されるかによってアーム10が半径方
向に内部にまたは外部に移動されることにより達成され
る。動作の1つの好ましいモードでは、ターンテーブル
の回転速度は、表面にわたるスタイラスの横方向の線形
速度が一定のままであるように回転の中心からのスタイ
ラスの距離の線形関数として変化される。スタイラス1
2からのデータは、固定された時間または距離間隔で記
録される。たとえば回転速度が一定のままである、動作
の他のモードが可能である。
の好ましい動作が例示される。図7では、ターンテーブ
ル4上に置かれたワークピース(図示せず)の表面60
はうず巻状の形経路62においてスタイラス12により
横切られる。これは、ターンテーブル4を回転させなが
ら、測定が表面60の中心近くで開始されるかまたはそ
の周囲近くで開始されるかによってアーム10が半径方
向に内部にまたは外部に移動されることにより達成され
る。動作の1つの好ましいモードでは、ターンテーブル
の回転速度は、表面にわたるスタイラスの横方向の線形
速度が一定のままであるように回転の中心からのスタイ
ラスの距離の線形関数として変化される。スタイラス1
2からのデータは、固定された時間または距離間隔で記
録される。たとえば回転速度が一定のままである、動作
の他のモードが可能である。
【0026】図8を参照すると、表面64の円筒度はス
タイラス12が渦巻状の(螺旋形の)経路66を横切る
ことにより測定される。これは、センタリングおよびレ
ベリングの後キャリッジ6を垂直方向に移動させながら
ターンテーブル4を回転させることにより達成される。
この測定では、移動速度は一定のままでありかつ固定時
間間隔で再度データが記録され、この固定間隔は表面に
わたるスタイラスの移動の経路に沿って固定した増分距
離で再度データを記録する。表面64のまわりを数回回
転することにより測定がなされる、すなわち渦巻または
螺旋は多数の回転を有する。スタイラスが円筒の軸を決
定する目的のために円筒形表面64にわたり渦巻または
螺旋形経路を横切るようにされ得ることが注目され得
る。
タイラス12が渦巻状の(螺旋形の)経路66を横切る
ことにより測定される。これは、センタリングおよびレ
ベリングの後キャリッジ6を垂直方向に移動させながら
ターンテーブル4を回転させることにより達成される。
この測定では、移動速度は一定のままでありかつ固定時
間間隔で再度データが記録され、この固定間隔は表面に
わたるスタイラスの移動の経路に沿って固定した増分距
離で再度データを記録する。表面64のまわりを数回回
転することにより測定がなされる、すなわち渦巻または
螺旋は多数の回転を有する。スタイラスが円筒の軸を決
定する目的のために円筒形表面64にわたり渦巻または
螺旋形経路を横切るようにされ得ることが注目され得
る。
【0027】図9の例では、表面70の円錐度はいくつ
かの回転を有する渦巻状の経路72をスタイラス12が
横切ることにより測定される。これは、センタリングお
よびレベリングの後キャリッジ6を垂直方向にかつアー
ム10を半径方向に(水平に)移動させながらターンテ
ーブル4を回転させることにより達成される。もしスタ
イラスが表面70の比較的広い部分から比較的狭い部分
に移動するならば半径方向の移動は内向きであり、かつ
逆もまた同様である。アーム10の半径方向の移動は変
換器14による信号出力の大きさに依存して制御され、
そのためスタイラス12は測定が進行するとき円錐表面
70と連続して接触したままである。さらに、ターンテ
ーブル4の角速度は変換器44により示されたアーム1
0の半径方向の位置の線形関数として制御され得て、そ
のためスタイラスが表面70を横切る線形速度は一定の
ままである。データは、一定の時間間隔で記録される。
かの回転を有する渦巻状の経路72をスタイラス12が
横切ることにより測定される。これは、センタリングお
よびレベリングの後キャリッジ6を垂直方向にかつアー
ム10を半径方向に(水平に)移動させながらターンテ
ーブル4を回転させることにより達成される。もしスタ
イラスが表面70の比較的広い部分から比較的狭い部分
に移動するならば半径方向の移動は内向きであり、かつ
逆もまた同様である。アーム10の半径方向の移動は変
換器14による信号出力の大きさに依存して制御され、
そのためスタイラス12は測定が進行するとき円錐表面
70と連続して接触したままである。さらに、ターンテ
ーブル4の角速度は変換器44により示されたアーム1
0の半径方向の位置の線形関数として制御され得て、そ
のためスタイラスが表面70を横切る線形速度は一定の
ままである。データは、一定の時間間隔で記録される。
【0028】或る好ましい測定方法が述べられたが、機
械は表面の粗さ、真円度、直線度、平坦度、直角度、テ
ーパ度、同軸度、平行度、規則的な形および不規則的な
形の大きさのような実に様々な測定を行なうためにプロ
グラムされ得ることが理解されるべきである。
械は表面の粗さ、真円度、直線度、平坦度、直角度、テ
ーパ度、同軸度、平行度、規則的な形および不規則的な
形の大きさのような実に様々な測定を行なうためにプロ
グラムされ得ることが理解されるべきである。
【0029】好ましい実施例では、変換器の位置および
/または1つまたはそれ以上のモータの速度がシーケン
スでまたは同時に変化され、そのため変換器が測定され
るプロファイルに追従しかつ/または測定値が一定の表
面間隔でとられ得る場合、測定は先行技術の装置よりも
迅速にかつ効率的に行なわれ得る。
/または1つまたはそれ以上のモータの速度がシーケン
スでまたは同時に変化され、そのため変換器が測定され
るプロファイルに追従しかつ/または測定値が一定の表
面間隔でとられ得る場合、測定は先行技術の装置よりも
迅速にかつ効率的に行なわれ得る。
【図1】この発明の実施例による測定装置の透視図であ
る。
る。
【図2】図1のの装置の部分をより詳細に示す透視図で
ある。
ある。
【図3】図2の矢印IIIの方向の立面図である。
【図4】図2の矢印IVの方向の立面図である。
【図5】図1の装置に組込まれたコンピュータシステム
を例示するブロック図である。
を例示するブロック図である。
【図6】この発明の好ましい局面に従って行なわれ得る
好ましい機能を例示するためのカムの図面である。
好ましい機能を例示するためのカムの図面である。
【図7】平坦度を測定する方法を例示する図面である。
【図8】円筒度を測定する方法を例示する図面である。
【図9】円錐度を測定する方法を例示する図面である。
4 ターンテーブル 10 アーム 12 スタイラス 14 変換器 22 ホストコンピュータ 30,40 マイクロプロセッサ 33,35,37 モータ
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 ピーター・ディーン・オンヨン イギリス、エル・イー・11 2・ビー・キ ュー、ラフバラ、ビーコン・ロード、20
Claims (3)
- 【請求項1】 ワークピースサポート(4)と、前記サ
ポート(4)上のワークピースの表面を感知するための
センサ(12,14)と、前記センサ(12,14)が
ワークピースの表面を横切るように前記サポート(4)
上のワークピースと前記センサ(12,14)との間に
相対的移動をもたらすための複数個の駆動手段(33,
35,37)と、前記測定動作中に測定データを得るた
めのコンピュータ手段(22,30,32,34,3
6)とを含む測定装置であって、前記コンピュータ手段
が、所要の測定動作を行なうための命令を入力するため
のデータ入力手段(24)を有しかつ前記センサ(1
2,14)の援助で得られたデータ上で計算を行なうよ
うに配置されたホストコンピュータ(22)と、行なわ
れるべき測定動作を規定する命令を前記ホストコンピュ
ータ(22)から受取るために配列されたマスターコン
ピュータ(30)と、異なった前記駆動手段(33,3
5,37)を制御するために配置された複数個のスレー
ブコンピュータ(32,34,36)とを含み、前記マ
スタコンピュータ(30)が行なわれるべき測定動作に
依存して前記動作を行なうための前記駆動手段を制御す
るように前記スレーブコンピュータ(32,34,3
6)に命令を送るために配置されることを特徴とする、
測定装置。 - 【請求項2】 前記測定動作の間、得られたデータを記
録しかつ前記記録されたデータを前記ホストコンピュー
タ(22)に送信するための付加的コンピュータ(4
0)によって特徴付けられる、請求項1に記載の装置。 - 【請求項3】 前記マスタコンピュータ(30)が、セ
ンサ(12,14)からセンサ(12,14)の位置に
関する情報を受取ることを特徴とする、請求項1または
2に記載の装置。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| GB8605324 | 1986-03-04 | ||
| GB868605324A GB8605324D0 (en) | 1986-03-04 | 1986-03-04 | Metrological apparatus |
Related Parent Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP62049892A Division JPH0648186B2 (ja) | 1986-03-04 | 1987-03-04 | 測定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0791949A true JPH0791949A (ja) | 1995-04-07 |
| JP2606787B2 JP2606787B2 (ja) | 1997-05-07 |
Family
ID=10594021
Family Applications (2)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP62049892A Expired - Fee Related JPH0648186B2 (ja) | 1986-03-04 | 1987-03-04 | 測定装置 |
| JP5301920A Expired - Lifetime JP2606787B2 (ja) | 1986-03-04 | 1993-12-01 | 測定装置 |
Family Applications Before (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP62049892A Expired - Fee Related JPH0648186B2 (ja) | 1986-03-04 | 1987-03-04 | 測定装置 |
Country Status (8)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4807152A (ja) |
| EP (1) | EP0240151B1 (ja) |
| JP (2) | JPH0648186B2 (ja) |
| CN (1) | CN87102434A (ja) |
| DE (3) | DE3789875T2 (ja) |
| DK (1) | DK108587A (ja) |
| GB (1) | GB8605324D0 (ja) |
| IN (1) | IN169315B (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7197835B2 (en) | 2004-11-18 | 2007-04-03 | Tokyo Seimitsu Co., Ltd. | Detector supporting mechanism |
| JP2009534636A (ja) * | 2006-04-24 | 2009-09-24 | カール ツァイス インドゥストリエレ メステヒニク ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツング | 座標測定器による表面のスキャニング |
| JP2009536332A (ja) * | 2006-05-08 | 2009-10-08 | テイラー・ホブソン・リミテッド | 表面特性を測定するための測定器 |
| JP2010256121A (ja) * | 2009-04-23 | 2010-11-11 | Mitsutoyo Corp | 三次元測定機 |
Families Citing this family (77)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0240150B1 (en) | 1986-03-04 | 1991-04-17 | Rank Taylor Hobson Limited | Workpiece position control |
| IT1211390B (it) * | 1987-10-06 | 1989-10-18 | Dea Spa | Sistema grafico interattivo per la matematizzazione di modelli fisici |
| JPH0833433B2 (ja) * | 1987-11-30 | 1996-03-29 | 東京エレクトロン株式会社 | プローブ装置 |
| FR2627582B3 (fr) * | 1988-02-23 | 1990-06-15 | Renault Automation | Machine a mesurer par coordonnees |
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