JPH0792127A - 絶縁被覆の亀裂測定方法および装置 - Google Patents
絶縁被覆の亀裂測定方法および装置Info
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- JPH0792127A JPH0792127A JP23485893A JP23485893A JPH0792127A JP H0792127 A JPH0792127 A JP H0792127A JP 23485893 A JP23485893 A JP 23485893A JP 23485893 A JP23485893 A JP 23485893A JP H0792127 A JPH0792127 A JP H0792127A
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- Japan
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- measuring
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- wire
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 絶縁電線被覆を非破壊で測定し、その絶縁被
覆の亀裂を現用線でも簡易に把握する方法と装置を提供
することを目的とする。 【構成】 被測定線材11の絶縁抵抗を測定する測定手段
（１，２，３，４，８）と、測定手段（１，２，３，
４，８）の出力を記憶装置５に記憶し、それを微分処理
した結果と所定の絶縁抵抗変化値を比較する演算部６お
よび出力装置７とから構成され、測定手段（１，２，
３，４，８）の探触電極１，２を被測定線材11の長手方
向に所定長移動し、演算部６において所定の絶縁抵抗変
化値以上となる回数から前記亀裂を測定することを特徴
とする。
覆の亀裂を現用線でも簡易に把握する方法と装置を提供
することを目的とする。 【構成】 被測定線材11の絶縁抵抗を測定する測定手段
（１，２，３，４，８）と、測定手段（１，２，３，
４，８）の出力を記憶装置５に記憶し、それを微分処理
した結果と所定の絶縁抵抗変化値を比較する演算部６お
よび出力装置７とから構成され、測定手段（１，２，
３，４，８）の探触電極１，２を被測定線材11の長手方
向に所定長移動し、演算部６において所定の絶縁抵抗変
化値以上となる回数から前記亀裂を測定することを特徴
とする。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、絶縁電線の絶縁被覆の
亀裂を非破壊で検出する方法および装置に関する。
亀裂を非破壊で検出する方法および装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来、絶縁電線の絶縁被覆の亀裂を検出
する方法あるいは装置として、絶縁電線の表面に複数本
の線状電極を接触させた状態で、芯線と絶縁被覆の間に
電圧を印加し、芯線が露出している箇所に電極が入り込
むと通電することを利用する装置がある（実開昭６１−
１３１６７４）。図１に前記の通電を利用する方法（こ
こでは通電法と名付ける）による検査例を示す。図１に
おいて、３１は絶縁電線の芯線、３２は絶縁被覆、３３
は線状電極、３４は検出器、３５は電源、１２は絶縁被
覆の亀裂部分を示している。線状電極３３が亀裂１２に
入り込んで芯線３１に接触すると、検出器３５に電流が
流れ、亀裂の発生を知ることができる。
する方法あるいは装置として、絶縁電線の表面に複数本
の線状電極を接触させた状態で、芯線と絶縁被覆の間に
電圧を印加し、芯線が露出している箇所に電極が入り込
むと通電することを利用する装置がある（実開昭６１−
１３１６７４）。図１に前記の通電を利用する方法（こ
こでは通電法と名付ける）による検査例を示す。図１に
おいて、３１は絶縁電線の芯線、３２は絶縁被覆、３３
は線状電極、３４は検出器、３５は電源、１２は絶縁被
覆の亀裂部分を示している。線状電極３３が亀裂１２に
入り込んで芯線３１に接触すると、検出器３５に電流が
流れ、亀裂の発生を知ることができる。
【０００３】この方法は、芯線と電極との機械的な接触
を利用するため、亀裂が閉じている状態の割れや微細な
クラックを検出できない。また、芯線をアースに落とす
必要があること、および通電時、芯線に検出電流が流れ
ることから、現用線への適用が困難である等の問題があ
った。
を利用するため、亀裂が閉じている状態の割れや微細な
クラックを検出できない。また、芯線をアースに落とす
必要があること、および通電時、芯線に検出電流が流れ
ることから、現用線への適用が困難である等の問題があ
った。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】本発明は上記の欠点を
改善するために提案されたものであって、その目的は絶
縁電線を非破壊で測定し、その絶縁被覆の亀裂を、簡易
に把握できる方法および装置を提供することである。
改善するために提案されたものであって、その目的は絶
縁電線を非破壊で測定し、その絶縁被覆の亀裂を、簡易
に把握できる方法および装置を提供することである。
【０００５】
【課題を解決するための手段】前記課題の解決は、本発
明が次に列挙する新規な特徴的構成手法および手段を採
用することにより達成される。すなわち、本発明の方法
の特徴は、一定の距離を隔てた２つの探触電極、直流電
源、電流検出素子からなる測定回路を用い、絶縁電線被
覆表面の２点間に探触電極を接触させ、絶縁電線の長手
方向に所定の距離だけ移動させながら、時系列に前記測
定回路に流れる電流を測定し（以後、時系列に測定した
電流値を電流波形と呼ぶ）、電流波形が急激に変化する
点の数、すなわち絶縁被覆の絶縁抵抗が変化する点の数
から絶縁被覆の亀裂検出を行う絶縁電線被覆の亀裂検出
方法である。
明が次に列挙する新規な特徴的構成手法および手段を採
用することにより達成される。すなわち、本発明の方法
の特徴は、一定の距離を隔てた２つの探触電極、直流電
源、電流検出素子からなる測定回路を用い、絶縁電線被
覆表面の２点間に探触電極を接触させ、絶縁電線の長手
方向に所定の距離だけ移動させながら、時系列に前記測
定回路に流れる電流を測定し（以後、時系列に測定した
電流値を電流波形と呼ぶ）、電流波形が急激に変化する
点の数、すなわち絶縁被覆の絶縁抵抗が変化する点の数
から絶縁被覆の亀裂検出を行う絶縁電線被覆の亀裂検出
方法である。
【０００６】本発明装置の特徴は、一定の距離を隔てて
２つの探触電極、直流電源、電流検出素子からなる測定
回路を絶縁電線の長手方向に所定の距離だけスライドさ
せることによって、絶縁電線被覆表面の２点間の絶縁抵
抗を時系列に測定する手段と、時系列に測定した絶縁抵
抗を波形（抵抗値波形）として記憶する記憶回路と、抵
抗値波形が急激に変化する点の数を測定することで、絶
縁電線の亀裂を検出する検出回路を備える絶縁電線被覆
の亀裂検出装置である。
２つの探触電極、直流電源、電流検出素子からなる測定
回路を絶縁電線の長手方向に所定の距離だけスライドさ
せることによって、絶縁電線被覆表面の２点間の絶縁抵
抗を時系列に測定する手段と、時系列に測定した絶縁抵
抗を波形（抵抗値波形）として記憶する記憶回路と、抵
抗値波形が急激に変化する点の数を測定することで、絶
縁電線の亀裂を検出する検出回路を備える絶縁電線被覆
の亀裂検出装置である。
【０００７】
【作用】測定回路を絶縁電線の表面に接触、移動させる
だけで測定てきるので、迅速かつ容易に非破壊検査が実
施できる。また、測定は絶縁被覆の直流抵抗を求めてい
るので、電線に対する電磁的誘導やノイズがなく、現用
線への適用が可能である。さらに、亀裂の検出は、時系
列に測定した絶縁抵抗の相対的な変化から求めているの
で、絶縁被覆の固有抵抗に依存することがない。
だけで測定てきるので、迅速かつ容易に非破壊検査が実
施できる。また、測定は絶縁被覆の直流抵抗を求めてい
るので、電線に対する電磁的誘導やノイズがなく、現用
線への適用が可能である。さらに、亀裂の検出は、時系
列に測定した絶縁抵抗の相対的な変化から求めているの
で、絶縁被覆の固有抵抗に依存することがない。
【０００８】
【実施例】添付図面を参照して本発明の実施例を詳細に
説明する。図２は本発明の基本的な考え方を示す図であ
り、図２（ａ）は絶縁電線被覆の亀裂を検出する基本回
路の構成図であり、図２（ｂ）は上記の回路で得られ
る、測定位置と電流との関係を示す波形図である。２つ
の探触電極２１、直流電源３、検流計２２からなる測定
回路を、絶縁電線１１の長手方向に沿って移動させ、各
位置における絶縁被覆を流れる直流電流を測定する。電
極間に亀裂が存在しない場合には、絶縁被覆の抵抗に応
じた固有の電流（Ｉ 0 ）が流れる。電極間に亀裂が存在
する（電極位置がａからａ＋Ｌの範囲）場合には、２つ
の電極を結んでいる絶縁被覆が亀裂位置で分断されるこ
とになるので、電流は図２（ｂ）に示すようにＩ0 から
Ｉn に減少する。
説明する。図２は本発明の基本的な考え方を示す図であ
り、図２（ａ）は絶縁電線被覆の亀裂を検出する基本回
路の構成図であり、図２（ｂ）は上記の回路で得られ
る、測定位置と電流との関係を示す波形図である。２つ
の探触電極２１、直流電源３、検流計２２からなる測定
回路を、絶縁電線１１の長手方向に沿って移動させ、各
位置における絶縁被覆を流れる直流電流を測定する。電
極間に亀裂が存在しない場合には、絶縁被覆の抵抗に応
じた固有の電流（Ｉ 0 ）が流れる。電極間に亀裂が存在
する（電極位置がａからａ＋Ｌの範囲）場合には、２つ
の電極を結んでいる絶縁被覆が亀裂位置で分断されるこ
とになるので、電流は図２（ｂ）に示すようにＩ0 から
Ｉn に減少する。
【０００９】図３は亀裂がない場合（ａ）と、亀裂があ
る場合（ｂ）の電流の違いを説明するための図であり、
図３（ａ−１）は亀裂がない場合の模式図、図３（ａ−
２）はその等価回路図、図３（ｂ−１）は亀裂がある場
合の模式図、図３（ｂ−２）はその等価回路図である。
直流電源３の起電力をＶ、絶縁電線被覆の抵抗値をＲ
ins とすれば、測定回路を流れる電流Ｉ0 は、
る場合（ｂ）の電流の違いを説明するための図であり、
図３（ａ−１）は亀裂がない場合の模式図、図３（ａ−
２）はその等価回路図、図３（ｂ−１）は亀裂がある場
合の模式図、図３（ｂ−２）はその等価回路図である。
直流電源３の起電力をＶ、絶縁電線被覆の抵抗値をＲ
ins とすれば、測定回路を流れる電流Ｉ0 は、
【数１】Ｉ0 ＝Ｖ／Ｒins であり、一方、絶縁電線被覆が亀裂の発生により２つに
分断された場合、それら２つの領域の抵抗値をそれぞれ
Ｒins1、Ｒins2、亀裂による抵抗分をＲcrk とすれば、
このとき測定回路に流れる電流Ｉn は、
分断された場合、それら２つの領域の抵抗値をそれぞれ
Ｒins1、Ｒins2、亀裂による抵抗分をＲcrk とすれば、
このとき測定回路に流れる電流Ｉn は、
【数２】Ｉn ＝Ｖ／（Ｒins1＋Ｒcrk ＋Ｒins2） となり、ここで、Ｒins1＋Ｒins2＝Ｒins 、また、Ｒ
crk ≫Ｒins であるから、結局、
crk ≫Ｒins であるから、結局、
【数３】Ｉn ＝Ｖ／（Ｒins ＋Ｒcrk ）≒Ｖ／Ｒcrk となり、従って、Ｉ0 ≫Ｉn となるため。図２（ｂ）に
示すとおり、電流の急激な減少から亀裂の存在を検知で
きる。
示すとおり、電流の急激な減少から亀裂の存在を検知で
きる。
【００１０】図４は本発明による絶縁電線被覆の亀裂検
出方法を実現する亀裂検出装置の構成図である。亀裂検
出装置は、陽探触電極１、陰探触電極２、直流電源３、
電流検出用抵抗４、記憶装置５、演算装置６、出力装置
７から構成される。被測定電線１１は、陽探触電極１お
よび保持用スプリング８と、陰探触電極２および保持用
スプリング８により、それぞれ３方から挟み込まれて測
定に供される。
出方法を実現する亀裂検出装置の構成図である。亀裂検
出装置は、陽探触電極１、陰探触電極２、直流電源３、
電流検出用抵抗４、記憶装置５、演算装置６、出力装置
７から構成される。被測定電線１１は、陽探触電極１お
よび保持用スプリング８と、陰探触電極２および保持用
スプリング８により、それぞれ３方から挟み込まれて測
定に供される。
【００１１】図５に示す亀裂検出装置の動作フローを、
図４の亀裂検出装置の構成図を用いながら順次説明す
る。測定工程では、直流電源３、探触電極１および２、
保持用スプリング８、電流検出用抵抗４からなる測定回
路を、絶縁電線１１の長手方向に沿って移動させ、回路
を流れる電流を時系列に測定する。なお、本例では、
陽，陰探触電極それぞれが、絶縁電線の外周を３分割す
る位置に配置されているのは、絶縁電線の円周方向に対
する絶縁抵抗のばらつきを平均化するためである。
図４の亀裂検出装置の構成図を用いながら順次説明す
る。測定工程では、直流電源３、探触電極１および２、
保持用スプリング８、電流検出用抵抗４からなる測定回
路を、絶縁電線１１の長手方向に沿って移動させ、回路
を流れる電流を時系列に測定する。なお、本例では、
陽，陰探触電極それぞれが、絶縁電線の外周を３分割す
る位置に配置されているのは、絶縁電線の円周方向に対
する絶縁抵抗のばらつきを平均化するためである。
【００１２】信号記憶工程では、時系列に測定した電流
は波形信号として記憶装置５に記憶される。亀裂検出工
程では、演算装置６により波形信号は微分演算される。
図６は、図２（ａ）の波形信号を微分演算した結果であ
る。演算装置６はさらに、微分波形の中から所定のレベ
ル（図６の点線で示す振幅レベル：以後、しきい値と呼
ぶ）を越える箇所を亀裂と見なし、その数をカウントす
る。出力工程は、亀裂の検出結果を出力し表示する。
は波形信号として記憶装置５に記憶される。亀裂検出工
程では、演算装置６により波形信号は微分演算される。
図６は、図２（ａ）の波形信号を微分演算した結果であ
る。演算装置６はさらに、微分波形の中から所定のレベ
ル（図６の点線で示す振幅レベル：以後、しきい値と呼
ぶ）を越える箇所を亀裂と見なし、その数をカウントす
る。出力工程は、亀裂の検出結果を出力し表示する。
【００１３】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
これまで目視点検に頼っていた亀裂検出を、機械により
簡易かつ迅速に実施できる。また、測定は絶縁被覆の直
流抵抗を求めているので、電線に対する電磁的誘導やノ
イズがなく、現用線への適用が可能である。
これまで目視点検に頼っていた亀裂検出を、機械により
簡易かつ迅速に実施できる。また、測定は絶縁被覆の直
流抵抗を求めているので、電線に対する電磁的誘導やノ
イズがなく、現用線への適用が可能である。
【図１】図１は通電法による亀裂検出方法を示す説明図
である。
である。
【図２】図２は本発明の基本的な考え方を示す説明図で
ある。
ある。
【図３】図３は絶縁被覆の亀裂検出を電気的モデルで表
現した模式図ならびに等価回路図であり、（ａ−１，ａ
−２）は亀裂がない場合、（ｂ−１，ｂ−２）は亀裂が
ある場合をそれぞれ示している。
現した模式図ならびに等価回路図であり、（ａ−１，ａ
−２）は亀裂がない場合、（ｂ−１，ｂ−２）は亀裂が
ある場合をそれぞれ示している。
【図４】図４は本発明の亀裂検出装置の構成図である。
【図５】図５は本発明の処理の流れを示すフローチャー
トである。
トである。
【図６】図６は図２の絶縁電線を測定した場合に得られ
る微分波形図である。
る微分波形図である。
１ 陽探触電極 ２ 陰探触電極 ３ 直流電源 ４ 電流検出用抵抗 ５ 記憶装置 ６ 演算装置 ７ 出力装置 ８ 保持用スプリング １１ 絶縁電線あるいは被測定電線あるいは被測定線材 １２ 亀裂部分 ２１ 探触電極 ２２ 検流計 ３１ 芯線 ３２ 絶縁被覆 ３３ 線状電極 ３４ 検出器 ３５ 電源
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 進藤 博昭 東京都千代田区内幸町１丁目１番６号 日 本電信電話株式会社内 (72)発明者 増田 順一 東京都千代田区内幸町１丁目１番６号 日 本電信電話株式会社内
Claims (2)
- 【請求項１】 被測定線材の絶縁被覆の亀裂を検出する
測定方法であって、 前記被測定線材の絶縁抵抗を測定する測定手段と、 前記測定手段の出力を微分処理した結果と所定の絶縁抵
抗変化値を比較する演算部とから構成され、 前記測定手段を前記被測定線材の長手方向に所定長移動
し、前記演算部において所定の絶縁抵抗変化値以上とな
る回数から前記亀裂を測定することを特徴とする絶縁被
覆の亀裂測定方法。 - 【請求項２】 被測定線材の絶縁被覆に所定間隔で接触
する第１および第２の探触電極と、前記第１および第２
の探触電極を介して前記絶縁被覆に絶縁抵抗測定用電圧
を印加する測定用電源と、 前記第１の探触電極に一端が接続され、他端が前記測定
用電源に接続される電流検出素子から構成される測定部
と、 前記測定部の出力の微分処理部と、前記微分処理部の出
力と所定の絶縁抵抗変化値を比較する比較部から構成さ
れる演算部と、 前記演算部の出力を表示する表示部とからなることを特
徴とする絶縁被覆の亀裂測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP23485893A JPH0792127A (ja) | 1993-09-21 | 1993-09-21 | 絶縁被覆の亀裂測定方法および装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP23485893A JPH0792127A (ja) | 1993-09-21 | 1993-09-21 | 絶縁被覆の亀裂測定方法および装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0792127A true JPH0792127A (ja) | 1995-04-07 |
Family
ID=16977457
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP23485893A Pending JPH0792127A (ja) | 1993-09-21 | 1993-09-21 | 絶縁被覆の亀裂測定方法および装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0792127A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP1455181A1 (de) * | 2003-02-14 | 2004-09-08 | Alcan Technology & Management Ltd. | Verfahren zum zerstörungsfreien Prüfen von Verbundstromschienen |
| CN109142454A (zh) * | 2018-09-27 | 2019-01-04 | 中国科学院合肥物质科学研究院 | 一种基于管道电阻连续检测的管道检漏方法 |
| CN109208009A (zh) * | 2018-09-26 | 2019-01-15 | 江苏清源管道技术有限公司 | 一种地铁区域的管道防腐系统 |
-
1993
- 1993-09-21 JP JP23485893A patent/JPH0792127A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP1455181A1 (de) * | 2003-02-14 | 2004-09-08 | Alcan Technology & Management Ltd. | Verfahren zum zerstörungsfreien Prüfen von Verbundstromschienen |
| CN109208009A (zh) * | 2018-09-26 | 2019-01-15 | 江苏清源管道技术有限公司 | 一种地铁区域的管道防腐系统 |
| CN109142454A (zh) * | 2018-09-27 | 2019-01-04 | 中国科学院合肥物质科学研究院 | 一种基于管道电阻连续检测的管道检漏方法 |
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