JPH0792923B2

JPH0792923B2 - 光デイスク装置

Info

Publication number: JPH0792923B2
Application number: JP62107102A
Authority: JP
Inventors: 範明坂本; 敏弘山中; 茂己前田; 邦男小嶋; 敏久出口; 毅山口
Original assignee: Sharp Corp
Current assignee: Sharp Corp
Priority date: 1987-04-28
Filing date: 1987-04-28
Publication date: 1995-10-09
Anticipated expiration: 2010-10-09
Also published as: JPS63271735A

Description

【発明の詳細な説明】〈産業上の利用分野〉本発明は、回転駆動される光ディスクに往復駆動される
ピックアップからレーザー光束を照射して、情報の記録
／再生を行なう光ディスク装置に関する。

〈従来の技術〉従来、例えば光磁気ディスクを記録媒体に用いる光ディ
スク装値では、光磁気ディスクの垂直磁化膜に磁化反転
方向に弱い磁界を与えておき、レーザースポットを照射
して垂直磁化膜を部分的にキュリー点以上に加熱し、そ
の部分の磁場を反転してピットの記録を行なう一方、こ
のピットにレーザー光束を照射し、反射光または透過光
の偏光面の回転を検出して再生を行なっている。そし
て、情報の記録は、第７図に示すように、“1",“0"の
デジタル情報をレーザー駆動パルスに変調してレーザー
をオン・オフさせ、記録に必要な一定値Po以上の記録時
設定パワーをもつレーザー光を、等速回転するディスク
上に照射して行なわれ、パルス長twの記録パルスが記録
される。しかし、記録方法が前述の如くディスクの加熱
によるため、同一の記録状態を得るには、レーザーのオ
ン時間とパワーを正確に制御する必要がある。そのた
め、従来の光ディスク装置には、記録品質に影響を及ぼ
す周囲温度に応じて上記記録レーザー光のパワーや記録
パルス長を初期設定するための調整つまみが設けられて
いる。

〈発明が解決しようとする問題点〉ところが、上記従来の光ディスク装置の記録品質に影響
を及ぼすパラメータには、上記周囲温度のほか、電源オ
ン後の装置内の温度上昇による光ディスクの記録感度の
変化、レーザー光学系の経時変化、光ディスク相互間の
記録感度のバラツキ、ディスク定速回転方式の場合のデ
ィスク内外周の周速差など様々なものがあるため、前述
の記録条件の初期調整だけでは、光ディスク上に所望の
信頼性を有する同一の記録データを安定的に記録するこ
とが難しいというのが実情である。そのため、装置の調
整が複雑になったり、装置の光ディスク相互のデータ互
換性が損なわれたり、装置の信頼性が低下するなどの問
題がある。

そこで、本発明の目的は、光ディスクの記録品質に影響
を及ぼす種々のパラメータの変動に応じて、記録レーザ
ー光のパワーや記録パルス長を適宜最適値に制御できる
自己診断機能を有し、光ディスク上に高い信頼性をもつ
高品質のデータを安定して記録することができる光ディ
スク装置を提供することである。

〈問題点を解決するための手段〉上記目的を達成するため、本発明の光ディスク装置は、
レーザー光によって光ディスクに記録，再生を行なうピ
ックアップを上記光ディスクの半径方向に駆動するピッ
クアップ駆動部と、周囲温度とその周囲温度で最適な記
録が行なえるレーザー光の出力値とを対応づけて格納す
る記録パワー基準テーブルと、ディスク半径方向におけ
るピックアップ位置とそのピックアップ位置で最適な記
録が行なえるレーザー光のパルス長とを対応づけて格納
する記録パルス長基準テーブルと、テスト消去時に温度
センサが検出する周囲温度と上記記録パワー基準テーブ
ルによって記録レーザー光出力の最適値を求め、この最
適値と上記テスト消去時に自らが測定する記録レーザー
光の出力値との偏差を検出して保持する記録パワー偏差
検出保持回路と、光ディスクに対する記録パルス長とそ
の再生パルス長を対応づけた対照テーブルを有し、テス
ト記録時に同時に再生される再生パルスのパルス長の記
録パルス長に対するズレを求め、このズレを相殺する記
録パルス長の増分を表わす補正値を上記対照テーブルか
ら求めて保持する記録パルス長補正値設定回路と、通常
記録時に記録レーザー光の出力を、上記テスト消去時に
測定された記録レーザー光の出力値と上記記録パワー偏
差検出保持回路に保持された偏差との和になるように制
御するとともに、上記記録パルス長基準テーブルによっ
て表わされる曲線を、上記テスト記録時のピックアップ
のディスク半径位置で上記補正値だけ記録パルス長が長
くなるように平行移動した曲線を表わす新基準テーブル
に基づいてピックアップのディスク半径位置に応じて記
録レーザー光のパルス長を制御するレーザー駆動回路を
備えたことを特徴とする。

〈作用〉通常の記録／再生に先立って、まずテスト消去の処理が
始まると、ピックアップ駆動部が、回転するディスクの
所定の半径位置にピックアップを駆動し、レーザー駆動
回路が、ピックアップをして所定出力の記録レーザー光
をディスクに向けて発せしめる。すると、記録パワー偏
差検出保持回路は、周囲温度とその周囲温度で最適な記
録が行なえるレーザー光の出力値とを対応づけて格納し
た記録パワー基準テーブルを参照して、このとき温度セ
ンサが検出する周囲温度に対応する記録レーザー光出力
の最適値を求め、この最適値とこのとき自らが測定する
上記記録レーザー光の出力値との偏差を検出して、この
偏差を上記測定した記録レーザー光の出力値と共に保持
する。

次いで、テスト記録の処理が始まると、レーザー駆動回
路は、例えばテスト消去時と同じ半径位置において、上
記保持された偏差と測定した記録レーザー光の出力値と
の和に等しい出力で、かつディスク半径方向のピックア
ップ位置とそのピックアップ位置で最適な記録が行なえ
るレーザー光のパルス長とを対応づけて格納した記録パ
ルス長基準テーブルに基づいて上記半径位置に対して求
めた記録パルス長でもってピックアップをしてレーザー
光を発せしめる。すると、記録パルス長補正値設定回路
は、このとき同時に再生される再生パルスのパルス長の
上記記録パルス長に対するズレを求め、このズレを相殺
する記録パルス長の増分を表わす補正値を、光ディスク
に対する記録パルス長とその再生パルス長を対応づけた
対照テーブルから求めてこの補正値を保持する。

その後、通常の記録が始まると、レーザー駆動回路は、
記録レーザー光の出力を、上記テスト消去時に測定され
た記録レーザー光の出力値と上記保持された偏差との和
になるように制御するとともに、記録レーザー光のパル
ス長を、上記記録パルス長基準テーブルによって表わさ
れる曲線を、上記テスト記録時のピックアップのディス
ク半径位置で上記補正値だけ記録パルス長が長くなるよ
うに平行移動した曲線を表わす新基準テーブルに基づい
てピックアップのディスク半径位置に応じて制御する。
こうして、事前のテスト消去とテスト記録処理によっ
て、通常の記録／再生処理が最適条件下で行なわれるの
である。

なお、上記テスト消去およびテスト記録を、周囲温度の
変動の大きい装置の電源オン時、記録感度の変わるディ
スク交換時、通常の記録においても一定時間ごとに行な
うようにすれば、記録条件をその都度最適値に修正する
ことができる。

さらに、上記テスト消去およびテスト記録を、光ディス
ク上のユーザーエリア以外のトラックで行なうようにす
れば、ユーザーエリアに記録された情報を破壊すること
なく、最適条件で記録／再生をすることができる。

〈実施例〉以下、本発明を図示の実施例により詳細に説明する。

第１図は本発明の光ディスク装置の一実施例を示すブロ
ック図であり、１はスピンドルモータ２に保持され、回
転駆動される光磁気ディスク、３は集光光学系を内蔵
し、記録，消去，再生のためのレーザー光４を発するピ
ックアップ、５はこのピックアップをディスク径方向に
駆動するリニアモータ、６はこの装置の各ブロックの動
作を制御する制御回路、７はこの制御回路６から出力さ
れる記録データ列をレーザーのオン・オフ信号に変調す
る変調回路、８はディスク半径位置と最適記録パルス長
の対照表（第６図参照）を格納し、上記制御回路６から
の指令に基づき変調回路７からのオン・オフ信号をその
ディスク半径位置に対応する最適パルス長に調整する記
録パルス長基準テーブル、９はこの記録パルス長基準テ
ーブル８からの出力信号を所定のパワーに増幅し、上記
ピックアップを介してレーザー光４を照射させるレーザ
ードライブ回路である。

また、10は周囲温度と最適記録レーザー光パワーの対照
表（第３図参照）を格納するとともに温度センサを備え
て、この温度センサで測定された周囲温度から上記対照
表によって定まる最適記録レーザー光パワーと、上記ピ
ックアップ３から入力される記録レーザー光の反射光量
信号から求まる記録レーザー光のパワーとの偏差を検出
し、この偏差をなくすように上記対照表に基づいて記録
レーザー光のパワーを補正する記録パワー偏差検出回
路、11はこの記録パワー偏差検出回路10で補正された記
録レーザー光のパワー値を保持するとともに、上記レー
ザードライブ回路９に増幅すべきパワー値として設定す
る記録パワー設定保持回路、12は上記ピックアップ３を
介して読み出された信号を再生する再生回路、13はこの
再生回路から出力される再生パルスのパルス長を検出し
て制御回路６に入力する再生パルス長検出回路である。
なお、上記記録パワー偏差検出回路10と記録パワー設定
保持回路11で記録パワー偏差検出保持回路を構成してい
る。

さらに、14は上記制御回路６が記録時に予め記憶してお
いた記録パルスのパルス長と上記再生パルスのパルス長
との偏差をなくすように定める記録パルス長補正値を保
持し、この補正値で記録パルス長基準テーブル８を補正
する記録パルス長補正値設定回路、15は上記再生回路12
からの信号を復調する復調回路、16は記録レーザー光パ
ワーと記録パルス長を最適値に自動調整する処理に入る
ための条件である電源オンおよび光ディスク交換を検知
する検知回路、17は通常使用時に一定時間ごとに上記自
動調整処理に入るための時間を計時するタイマ、18は上
記検知回路16およびタイマ17からの信号を受けて上記制
御回路６が出力する自動調整処理開始指令信号によっ
て、上記レーザードライブ回路9,記録パワー偏差検出回
路10,記録パワー設定保持回路11を動作させるテストイ
レーズ指示回路である。

第１図中の各ブロックを結ぶ線のうち、破線は自動調整
処理における最適記録レーザー光パワー設定のための信
号の流れを、実線は上記自動調整処理における最適記録
パルス長設定のための信号の流れを、実線と２重実線は
通常処理における信号の流れを夫々示している。

即ち、破線で示すように制御回路６から自動調整処理の
開始が指令されると、ピックアップ３は、制御回路６で
制御されるリニアモータ５によって光磁気ディスク１の
所定の自動調整処理用トラック1a（第５図参照）に移動
せしめられ、まずテストイレーズ（テスト消去）モード
に入り、記録パワー設定保持回路11に予め保持されてい
た記録レーザー光パワーでピックアップ３からレーザー
光４が発せられ、記録パワー偏差検出回路10は、上記レ
ーザー光のパワーと周囲温度での最適記録レーザー光パ
ワーとの偏差を検出し、この偏差をなくすように記録レ
ーザー光のパワーを補正して、補正されたパワー値を記
録パワー設定保持回路11に保持させ、記録パワー設定保
持回路11は、上記パワー値をレーザードライブ回路９に
設定し直し、その後テストイレーズ指示回路18がオフと
なって最適記録レーザー光パワーの設定が終わるように
なっている。次に、実線で示すテストライト（テスト記
録）モードに入り、制御回路６から変調回路7,記録パル
ス長基準テーブル8,レーザードライブ回路９を経て出力
され、上記トラック1aのディスク半径位置に対応する最
適記録パルス長をもつ駆動電流でレーザー光４が発せら
れ、光磁気ディスク１上に記録が行なわれる。その後、
再生回路12はピックアップ３で読み出したこの記録デー
タを再生し、再生パルス長検出回路13は再生パルスのパ
ルス長を検出して制御回路６に入力し、制御回路６は、
上記最適記録パルス長と再生パルスのパルス長との偏差
をなくすように記録パルス長補正値を求め、これを記録
パルス長補正値設定回路14へ出力する。そして、記録パ
ルス長補正値設定回路14は上記補正値で記録パルス長基
準テーブル８を補正し、最適記録パルス長の設定が終わ
って、通常モードに戻るようになっている。通常モード
では、こうして設定された最適記録レーザー光パワーと
最適記録パルス長で記録／再生が行なわれる。

上記構成の光ディスク装置の自動調整処理について、第
２のフローチャートを参照しつつ次に述べる。

ステップS1,S2,S3 光ディスク装置の通常処理のフロー
F0において、検知回路16によって電源オンまたは光ディ
スク交換が検知され、あるいはタイマ17によって一定時
間が計時されると、制御回路６は、テストイレーズによ
る最適記録レーザー光パワー設定のフローF1とテストラ
イトによる最適記録パルス長設定のフローF2からなる自
動調整処理を開始する。

ステップS4 制御回路６は、リニアモータ５を駆動し
て、ピックアップ３を、光磁気ディスク１上の第５図に
示すユーザー領域1b外のトラック1aに移動させ、このト
ラック1aを所定の消去パワーをもつレーザー光４で消去
する。上記消去パワーは、記録パワー偏差検出回路10に
よって第３図に示すように制定される。即ち、記録パワ
ー偏差検出回路10は、内蔵の温度センサで計測した周囲
温度がTo℃のとき、格納した対照表によってこの温度に
対応する最適記録レーザー光パワーPoを求め、このパワ
ー値Poを与えるような駆動電流を出力するようにレーザ
ードライブ回路９を調整する。

ステップS5 消去パワーPoで出射されたレーザー光４
は、ピックアップ３を介して上記パワー偏差検出回路10
でモニターされ、そのときの実測パワーが第３図に示す
ように最適値Poよりも低いＰ′なら、パワー偏差検出回
路10は、PoとＰ′の偏差ΔPoをなくすようにレーザーの
駆動電流を補正する。そして、補正された駆動電流値は
記録パワー設定保持回路11に保持されるとともに、レー
ザードライブ回路９に設定されて、レーザー光のパワー
は最適値Poとなる。また、第３図に示すように周囲温度
がＴ℃のとき、実測パワーが最適値Ｐ（Ｔ℃）よりも高
いＰ″なら、偏差ΔP_Tをなくすように同様の補正が行な
われる。こうして、ステップS6で最適記録レーザー光の
パワーPwの設定が終わる。

ステップS7 次に、制御回路６は、設定された最適記録
レーザー光パワーをもつレーザー光４で上記トラック1a
に記録を行なう。この記録は、制御回路６から出力され
る第４図（ａ）の如きデジタル情報を、変調回路7,記録
パルス長基準テーブル８を経て、トラック1aのディスク
半径位置に対応する最適パルス長twのパルス列に変調
し、このパルス列をレーザードライブ回路９で上記パワ
ーPwに増幅して行なわれる。

ステップS8 こうしてトラック1aに記録されたデータ
は、次いで再生回路12によって再生され、再生パルス長
t_Rは、ディスクの記録感度のずれ等によって第４図
（ａ）の破線で示すように再生パルス長の基準値よりも
Δt_Rだけ短くなる。

ステップS9 上記偏差Δt_Rは再生パルス長検出回路13で
検出されて、制御回路６に入力され、制御回路６は、上
記偏差Δt_Rをなくすように上記記録パルス長twの値を補
正する。即ち、再生パルス長t_RをΔt_Rだけ長くするた
め、第４図（ｃ）に示すように記録パルス長をtwよりも
Δtwだけ長くしてtw₀とし、このΔtwを記録パルス長補
正値設定回路14に出力して保持させる。

ステップS10 第６図の破線で示すようなディスク半径
位置と最適記録パルス長の対照曲線を格納する記録パル
ス長基準テーブル８は、上記記録パルス長補正値設定回
路14から出力されるトラック1aにおける補正量Δtwに基
づいて、上記対照曲線を実線で示すようにΔtwだけ上方
へ平行移動させ、最適記録パルス長の設定を終える。こ
うして、記録パルス基準テーブル８を経る記録パルスの
パルス長は、第４図（ｂ）の如くtw₀に補正され、再生
パルスのパルス長は基準値t_R0に補正される。以上のよ
うにして設定された最適記録レーザー光パワーPwと最適
記録パルス長tw₀は、次回の記録条件の自動調整処理が
行なわれるまで保持され、続く通常処理のフローF0にお
いて光磁気ディスク１のユーザー領域1bへの情報の記録
時に用いられる。

上記実施例では、光ディスクの記録品質に影響を及ぼす
種々のパラメータから、最も影響の大きい最適記録レー
ザー光パワーに対する周囲温度と最適記録パルス長に対
するディスク半径位置を選び、格納されたこれら２つの
対照曲線に基づきレーザーの経時変化や光ディスクの感
度のバラツキ等他のパラメータの影響も含めて最適値に
対する偏差の補正を行なうようにしているので、補正が
容易かつ正確にできるという利点がある。また、この補
正即ち自動調整処理を、周囲温度の変動の大きい装置の
電源オン時、記録感度の変わるディスク交換時のみなら
ず、通常使用時においてもタイマ17によって所定時間間
隔で行なうので、記録条件をその都度最適値に修正する
ことができる。さらに、上記自動調整処理を光ディスク
１の専用のトラック1aで行なうので、ユーザー領域1bに
記録された情報を破壊する虞れがない。従って、このよ
うに最適条件で記録された情報は、再生の際、情報の判
別を正確かつ容易にし、装置の初期調整を簡易化し、デ
ータ信頼性を大幅に向上させる。

なお、上記実施例のタイマ17による通常使用時の記録条
件補正は必ずしも一定時間ごとでなくてもよく、電源オ
ン時，ディスク交換時の他に記録条件補正を行なわせて
もよい。

〈発明の効果〉以上の説明で明らかなように、本発明の光ディスク装置
は、記録品質に影響を及ぼす周囲温度に関する記録レー
ザー光の最適出力値を格納した記録パワー基準テーブル
と、トラック位置に関する記録パルス長の最適値を曲線
として格納した記録パルス長基準テーブルを備え、テス
ト消去時に記録レーザー光の出力を周囲温度に対応した
最適値に補正して記録パワー偏差検出保持回路に保持
し、テスト記録時に同時再生される再生パルスの記録パ
ルスに対するパルス長のズレを求め、このズレを相殺す
る記録パルス長の増分を対照テーブルから求めて補正値
として記録パルス長補正値設定回路に保持し、通常記録
時に、レーザー駆動回路によって、記録レーザー光の出
力値を上記保持された最適値に制御するとともに、上記
曲線を上記テスト記録時のトラック位置で上記保持され
た補正値だけ平行移動して、平行移動した曲線に基づい
てトラック位置に応じて記録レーザー光のパルス長を制
御するようにしているので、周囲温度の変動およびピッ
クアップのディスク半径位置の変動に応じて、記録レー
ザー光の出力および記録パルス長を最適値に適宜設定し
て、光ディスク上に高信頼性，高品質のデータを安定し
て記録することができ、再生時に情報判別を正確化，容
易化するとともに初期調整を簡易化でき、装置のデータ
互換性や信頼性の向上に大きく貢献する

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の光ディスク装置の一実施例を示すブロ
ック図、第２図は上記光ディスク装置の自動調整処理を
示すフローチャート、第３図は周囲温度と最適記録レー
ザー光パワーの対照曲線を示す図、第４図は記録パルス
長と再生パルス長の関係を示す図、第５図は光ディスク
の平面図、第６図はディスク半径位置と最適記録パルス
長の対照曲線を示す図、第７図は従来のレーザー光によ
る記録方式を示す図である。１……光磁気ディスク、３……ピックアップ、４……レ
ーザー光、５……リニアモータ、６……制御回路、７……変調回路、８……記録パルス長
基準テーブル、９……レーザードライブ回路、10……記録パワー偏差検
出回路、 11……記録パワー設定保持回路、12……再生回路、13…
…再生パルス長検出回路、 14……記録パルス長補正値設定回路、16……検知回路、
17……タイマ、 18……テストイレーズ指示回路。

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者小嶋邦男大阪府大阪市阿倍野区長池町22番22号シヤープ株式会社内 (72)発明者出口敏久大阪府大阪市阿倍野区長池町22番22号シヤープ株式会社内 (72)発明者山口毅大阪府大阪市阿倍野区長池町22番22号シヤープ株式会社内 (56)参考文献特開昭58−80138（ＪＰ，Ａ) 特開昭59−24452（ＪＰ，Ａ)

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】レーザー光によって光ディスクに記録，再
生を行なうピックアップを上記光ディスクの半径方向に
駆動するピックアップ駆動部と、周囲温度とその周囲温度で最適な記録が行なえるレーザ
ー光の出力値とを対応づけて格納する記録パワー基準テ
ーブルと、ディスク半径方向におけるピックアップ位置とそのピッ
クアップ位置で最適な記録が行なえるレーザー光のパル
ス長とを対応づけて格納する記録パルス長基準テーブル
と、テスト消去時に温度センサが検出する周囲温度と上記記
録パワー基準テーブルによって記録レーザー光出力の最
適値を求め、この最適値と上記テスト消去時に自らが測
定する記録レーザー光の出力値との偏差を検出して保持
する記録パワー偏差検出保持回路と、光ディスクに対する記録パルス長とその再生パルス長を
対応づけた対照テーブルを有し、テスト記録時に同時に
再生される再生パルスのパルス長の記録パルス長に対す
るズレを求め、このズレを相殺する記録パルス長の増分
を表わす補正値を上記対照テーブルから求めて保持する
記録パルス長補正値設定回路と、通常記録時に記録レーザー光の出力を、上記テスト消去
時に測定された記録レーザー光の出力値と上記記録パワ
ー偏差検出保持回路に保持された偏差との和になるよう
に制御するとともに、上記記録パルス長基準テーブルに
よって表わされる曲線を、上記テスト記録時のピックア
ップのディスク半径位置で上記補正値だけ記録パルス長
が長くなるように平行移動した曲線を表わす新基準テー
ブルに基づいてピックアップのディスク半径位置に応じ
て記録レーザー光のパルス長を制御するレーザー駆動回
路を備えたことを特徴とする光ディスク装置。
【請求項２】特許請求の範囲第１項に記載の光ディスク
装置において、上記テスト消去およびテスト記録は、装
置の電源オン時、光ディスクの交換時および通常記録の
際の一定時間ごとに行なわれるようになっていることを
特徴とする光ディスク装置。
【請求項３】特許請求の範囲第１項または第２項に記載
の光ディスク装置において、上記テスト消去およびテス
ト記録が行なわれるときに、レーザー光が、上記ピック
アップ駆動部によって光ディスクのユーザーエリア以外
のトラックを照射するようになっていることを特徴とす
る光ディスク装置。