JPH0793381A - 故障診断装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】 不定値の発生箇所の特定を高速かつ自動的に
行なう。 【構成】 設定された論理回路の各信号線におけるイベ
ントに信号値の変化情報や信号線名をイベント情報とし
て付加するイベント情報付加手段と、不定値によるイベ
ントが発生していたときその不定値に関する情報を、上
記論理素子で発生したイベントのイベント情報に付加す
る履歴イベント情報付加手段と、上記論理回路の信号線
の上記イベント情報や上記不定値に関する情報から上記
不定値の発生の原因箇所を検索する故障発生箇所検索手
段と、上記不定値の発生の原因箇所を上記設定された論
理回路上に表示する表示手段とを備えた。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】この発明は、設定された論理回路
に対し論理シミュレーションを行ない、期待値が得られ
ない原因となっている不定値発生箇所を自動的に特定す
ることのできる故障診断装置に関するものである。

【０００２】

【従来の技術】図６は、従来の故障診断装置による不定
値の発生原因箇所の検索方法を示すフローチャートであ
る。

【０００３】この検索方法によれば、まず論理シミュレ
ーションを行なおうとする論理回路の素子と、その素子
間の配線情報と、論理シミュレーションを行なおうとす
る論理回路に入力するためのテストパターンを設定する
（ステップＳＴ１０）。

【０００４】そして、前記設定したテストパターンに基
づいて前記論理回路素子および配線情報などによる論理
回路に対し論理シミュレーションを実行する（ステップ
ＳＴ１１）。

【０００５】この論理シミュレーション実行中に信号に
不定値が存在しているか否かを判定し（ステップＳＴ１
２）、不定値が見つかったときにはその不定値が存在し
ている信号を出力している素子を検索し（ステップＳＴ
１３）、さらに検索した素子の入力信号に不定値が存在
していないか否かを判定し、不定値が存在していないな
らばその素子が不定値の発生原因であると判断する。

【０００６】また、検索した素子の入力信号に不定値が
見つかったときには、不定値の存在している入力信号が
送られてくる入力信号線をさかのぼり、さらに上流側の
不定値を出力している素子を検索し、不定値の原因とな
っている素子が発見されるまで繰り返す。

【０００７】この場合ステップＳＴ１２とステップＳＴ
１３の処理は、論理シミュレーションの実行結果に基づ
いて人手により行なわれている。

【０００８】

【発明が解決しようとする課題】従来の故障診断装置は
以上のように構成されているので、不定値の発生原因と
なる素子の検索は人手に頼る他はなく、不定値の発生原
因となる素子の特定に時間を要してしまう問題点があっ
た。

【０００９】この発明は上記のような問題点を解消する
ためになされたもので、不定値の発生原因となる箇所の
特定を高速かつ自動的に行なうことの出来る故障診断装
置を得ることを目的とする。

【００１０】

【課題を解決するための手段】この発明に係る故障診断
装置は、設定した論理回路の各信号線におけるイベント
に信号値の変化情報や信号線名をそのイベント情報とし
てイベント情報付加手段により付加し、イベントの発生
した論理素子の入力信号線の信号に不定値によるイベン
トが発生していたときそのイベントの持つイベント情報
を上記論理素子で発生したイベントのイベント情報に上
記不定値に関する情報と共に履歴イベント情報付加手段
により新たに付加し、上記論理回路の信号線の上記イベ
ント情報や上記不定値に関する情報から上記不定値の発
生の原因箇所を故障発生箇所検索手段により検索し、上
記設定された論理回路上に表示手段により表示するよう
にしたものである。

【００１１】

【作用】この発明における故障診断装置は、設定された
論理回路のシミュレーションにおいて不定値が発生する
と、この不定値に関する情報が履歴的にそれ以降の論理
素子の信号線のイベントに付加されて伝えられるため、
このイベントに付加されて伝えられた不定値に関する情
報に着目し不定値の履歴を出力側から逆に入力側に辿
り、不定値が発生した原因箇所を自動的に特定する。

【００１２】

【実施例】

実施例１．以下、この発明の一実施例を図について説明
する。図１は、本実施例の故障診断装置の構成を示すブ
ロックである。

【００１３】図において、２はシミュレーションを実行
したり故障診断装置全体を制御する制御部、３はシミュ
レーションを行なおうとする論理回路を設定したり、そ
の論理回路に入力するテストパターンを設定したりする
論理回路設定手段、４はディスプレイに各種情報の表示
を行う表示手段、５はシミュレーションを行なうための
プログラムが格納されたＲＯＭ、６はＲＡＭ、７は前記
設定した論理回路の各信号線にイベントがあるか否かを
判定するイベント判定手段、８はイベントが発生した信
号線に接続される素子を、前記論理回路設定手段により
設定された論理回路から取り出す素子情報取出し手段、
９は信号線に不定値がある場合にその不定値に関する情
報を、上記信号線におけるイベントに付加するための不
定値情報付加部（イベント情報付加手段，履歴イベント
情報付加手段）、１０は信号線の名称や信号値の変化な
どのイベント情報のリストを作成するリスト作成手段、
１１はリスト作成手段１０により作成したリストから自
動的に不定値の発生箇所を検索する故障発生箇所検索手
段である。

【００１４】これらイベント判定手段７，素子情報取出
し手段８，不定値情報付加部９，リスト作成手段１０，
故障発生箇所検索手段１１は、夫々プログラム化されて
メモリに記憶されている。

【００１５】次に、動作について説明する。図２は、本
実施例の故障診断装置の動作を説明するためのフローチ
ャートである。

【００１６】まず、図３に示すような論理素子や論理素
子間の配線情報からなる論理シミュレーション対象回路
およびその論理シミュレーション対象回路に入力する図
４の（イ）〜（ホ）に示すようなテストパターンを論理
回路設定手段３により設定する（ステップＳＴ１）。

【００１７】制御部２は、この論理シミュレーション対
象回路に対し前記テストパターンに基づいてシミュレー
ションを実行する。

【００１８】そして、このシミュレーションの実行と共
にイベント判定手段により論理シミュレーション対象回
路の各信号線２１〜３０にイベントがあるか否かを判定
する（ステップＳＴ２）。

【００１９】信号線にイベントが存在する場合には、そ
の信号線に接続されている素子の情報を素子情報取出し
手段８により取り出し（ステップＳＴ３）、その素子の
出力値を計算する（ステップＳＴ４）。

【００２０】次に、その素子の出力値に変化があるか否
かを判定する（ステップＳＴ５）。前記不定値による変
化があるときには、素子３２の入力信号に不定値がある
か否かを判定し（ステップＳＴ６）、入力信号に不定値
があった場合にはイベントを発生し、発生したイベント
に前記入力信号の不定値情報を不定値情報付加部９によ
り付加し、伝播させる（ステップＳＴ７）。また、入力
信号に不定値がないときには単にイベントを発生する
（ステップＳＴ８）。

【００２１】例えば、図４の（ホ）に示すように、時刻
２００において信号線２５に論理値“０”から“１”に
変化するイベントが存在し、また時刻２１０において信
号線２５に論理値“１”から“０”に変化するイベント
が存在し、この実施例では、一例として素子３２が同図
（ヘ）に示すような不定値を出力するものとする。

【００２２】すなわち時刻２００において、素子３２の
出力値を計算したときに出力値の信号変化はあるが入力
信号に不定値はないため、ステップＳＴ８では単に信号
線２６のイベントを発生する。

【００２３】次に時刻２１０において、信号線２６の論
理値が“１”から不定値に変化するイベントがあるとき
に、ステップＳＴ３おいて前記イベントが発生した信号
線２６に接続される素子３３の情報を取り出し、さらに
ステップＳＴ４において素子３３の出力値を計算する。

【００２４】この場合、信号線２４への入力信号は図４
の（ハ），（ニ）から明らかなように時刻２１０では論
理値“０”であり、また信号線２７の論理値は同図
（イ）に示すように“１”であり、信号線２６の論理値
は「不定」であるから、素子３３の出力端子Ｑに接続さ
れた出力信号線２８の信号値も「不定」となる。

【００２５】次に、ステップＳＴ５で素子３３について
出力値の変化があるか否かを判断し、さらにまたステッ
プＳＴ６で素子３３の入力信号に不定値があるか否かを
判定すると、素子３３の信号線２８の出力値は論理値
“１”から期待値とは異なる不定値に変化し（変化あ
り）、信号線２６には不定値が存在する。

【００２６】この結果、ステップＳＴ７において、出力
信号線２８にイベントを発生し、さらに信号線２６の信
号の不定値に関する情報を、出力信号線２８に出力する
イベントに付加する。

【００２７】その後、ステップＳＴ２に戻り、イベント
がなくなるまでステップＳＴ３からステップＳＴ７また
はステップＳＴ８の処理を繰り返し、ステップＳＴ２に
おいてイベントがなくなったことを判断した時点で論理
シミュレーションを終了する。

【００２８】この論理シミュレーションが終了したとき
には、信号線の名称や信号値の変化などのイベント情報
および不定値に関する情報などについてのリストがリス
ト作成手段１０により自動的に作成され、表示される。

【００２９】ステップＳＴ９では、外部出力端子まで伝
わった信号のイベントに付された信号線の名称や信号値
の変化を示すイベント情報や不定値に関する情報の前記
リストから、不定値の発生箇所を故障発生箇所検索手段
１１により求め、図５に示すようにハイライト表示１５
を行なう。

【００３０】

【発明の効果】この発明によれば、論理回路のシミュレ
ーションにおいて不定値が発生すると、この不定値に関
する情報が履歴的にそれ以降の関係するイベントにイベ
ント情報として付され順次出力側に伝わり、さらにこの
不定値に関する情報を基に入力側に辿ることで、不定値
が発生した箇所を自動的に特定するように構成したの
で、不定値の発生原因となった箇所の特定を高速かつ自
動的に行なうことの出来る故障診断装置が得られる効果
がある。

【図面の簡単な説明】

【図１】この発明の一実施例による故障診断装置を示す
ブロック図である。

【図２】この発明の一実施例による故障診断装置の動作
を示すフローチャートである。

【図３】この発明の一実施例による故障診断装置におい
て設定された論理回路を示す回路図である。

【図４】この発明の一実施例による故障診断装置におい
て設定された論理回路に入力されるテストパターンを示
す波形図である。

【図５】この発明の一実施例による故障診断装置におい
て設定された論理回路図上に表示されたハイライト表示
を示す説明図である。

【図６】従来の故障診断装置の動作を示すフローチャー
トである。

【符号の説明】

４ 表示手段 ９ 不定値情報付加部（イベント情報付加手段，履歴イ
ベント情報付加手段） １１ 故障発生箇所検索手段 ２１〜３０ 信号線 ３１〜３４ 素子

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 論理素子やその論理素子間の配線情報か
   らなる論理回路、およびその論理回路に入力するテスト
   パターンなどを設定し、上記論理回路の信号線のイベン
   トの有無を判定し、上記論理回路に対するシミュレーシ
   ョン中の不定値発生箇所を探索する故障診断装置におい
   て、上記論理回路の各信号線におけるイベントに信号値
   の変化情報や信号線名をそのイベント情報として付加す
   るイベント情報付加手段と、イベントの発生した論理素
   子の入力信号線の信号に不定値によるイベントが発生し
   ていたときそのイベントの持つイベント情報を、上記論
   理素子で発生したイベントのイベント情報に上記不定値
   に関する情報と共に新たに付加する履歴イベント情報付
   加手段と、上記論理回路の信号線の上記イベント情報や
   上記不定値に関する情報から期待される信号値を出力し
   ていない上記不定値の発生の原因箇所を検索する故障発
   生箇所検索手段と、その故障発生箇所検索手段により検
   索した上記不定値の発生の原因箇所を上記設定された論
   理回路上に表示する表示手段とを備えたことを特徴とす
   る故障診断装置。