JPH0797075B2 - 粒度分布測定装置 - Google Patents
粒度分布測定装置Info
- Publication number
- JPH0797075B2 JPH0797075B2 JP60017458A JP1745885A JPH0797075B2 JP H0797075 B2 JPH0797075 B2 JP H0797075B2 JP 60017458 A JP60017458 A JP 60017458A JP 1745885 A JP1745885 A JP 1745885A JP H0797075 B2 JPH0797075 B2 JP H0797075B2
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- temperature
- particle size
- size distribution
- distribution measuring
- density
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N15/00—Investigating characteristics of particles; Investigating permeability, pore-volume or surface-area of porous materials
- G01N15/04—Investigating sedimentation of particle suspensions
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Dispersion Chemistry (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
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- Pathology (AREA)
- Sampling And Sample Adjustment (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials Using Thermal Means (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 〈産業上の利用分野〉 本発明はストークスの沈降法を応用した粒度分布測定装
置に関する。
置に関する。
〈従来の技術〉 沈降法により粒度分布を測定する場合には、データ処理
の過程において測定に使用した媒液の測定時の温度にお
ける粘性係数と密度が必要になる。従来は試料作成時に
測定者が媒液の温度を測定し、定数表からその時の粘性
係数と密度を調べてデータ処理装置にインプットしてい
た。
の過程において測定に使用した媒液の測定時の温度にお
ける粘性係数と密度が必要になる。従来は試料作成時に
測定者が媒液の温度を測定し、定数表からその時の粘性
係数と密度を調べてデータ処理装置にインプットしてい
た。
〈発明が解決しようとする問題点〉 ところがこの従来技術では、測定者が測定の都度、温度
を測定し、その媒液についての定数表からその温度での
粘性係数と密度を検索してから、これを測定者がデータ
処理装置にインプットするという手間が必要となり、面
倒で間違いも起こりやすい。
を測定し、その媒液についての定数表からその温度での
粘性係数と密度を検索してから、これを測定者がデータ
処理装置にインプットするという手間が必要となり、面
倒で間違いも起こりやすい。
本発明はかかる欠点を解消する粒度分布測定装置の提供
を目的とする。
を目的とする。
〈問題点を解決するための手段〉 本発明は、沈降法を利用した粒度分布測定装置であっ
て、予め何種類かの使用される媒液についての各温度に
対応する粘性係数と密度を記憶させた記憶部と、入力さ
れる媒液の種類と試料懸濁液の温度とから該当する媒液
の粘性係数又は密度或いは粘性係数と密度の両方を自動
検索する演算部とを設けることを特徴としている。
て、予め何種類かの使用される媒液についての各温度に
対応する粘性係数と密度を記憶させた記憶部と、入力さ
れる媒液の種類と試料懸濁液の温度とから該当する媒液
の粘性係数又は密度或いは粘性係数と密度の両方を自動
検索する演算部とを設けることを特徴としている。
〈作用〉 手操作による媒液の種類の入力がなされ、測定装置から
自動若しくは手作業による試料懸濁液の温度情報が入力
されることにより、その媒液の種類及び温度に対応する
粘性係数、密度が自動検索され、粒度分布測定に必要な
粒子径の演算処理に用いられる。
自動若しくは手作業による試料懸濁液の温度情報が入力
されることにより、その媒液の種類及び温度に対応する
粘性係数、密度が自動検索され、粒度分布測定に必要な
粒子径の演算処理に用いられる。
〈実施例〉 図面は本発明の実施例を示すブロック図である。
試料懸濁液２は別のビーカ13に試料粉体と媒液を入れ、
マグネチックスターラ17で撹拌して作成し、これを循環
ポンプ11により試料セル１へ送るようにしている。測定
時の粒子沈降による試料懸濁液２の濃度変化はＸ線管球
３とシンチレーションカウンタ４の組合せによりＸ線の
透過量の変化として検出し、吸光度測定回路５で処理し
てＸ−Ｙレコーダ６のＹ軸に記録する。一方、前記ビー
カ13内部に懸濁液２の温度を測定するための測温体14を
設置し、該測温体14で得られた温度信号を測温回路15と
A/D変換器16を経て制御部30に入力するようにしてい
る。制御部30は主としてマイクロコンピュータにより構
成され，各種演算やプログラムの実行、および各周辺機
器の制御を行なうCPU18、装置の動作手順やその他演算
式のプログラムが書き込まれたROM19、各種データや演
算結果等を記憶するRAM20、外部機器との接続の為のi/o
ポート８等を有する。21は操作スイッチで、該操作スイ
ッチ21により媒液の種類や温度を手動入力し或いは測定
開始命令を入力することができる。
マグネチックスターラ17で撹拌して作成し、これを循環
ポンプ11により試料セル１へ送るようにしている。測定
時の粒子沈降による試料懸濁液２の濃度変化はＸ線管球
３とシンチレーションカウンタ４の組合せによりＸ線の
透過量の変化として検出し、吸光度測定回路５で処理し
てＸ−Ｙレコーダ６のＹ軸に記録する。一方、前記ビー
カ13内部に懸濁液２の温度を測定するための測温体14を
設置し、該測温体14で得られた温度信号を測温回路15と
A/D変換器16を経て制御部30に入力するようにしてい
る。制御部30は主としてマイクロコンピュータにより構
成され，各種演算やプログラムの実行、および各周辺機
器の制御を行なうCPU18、装置の動作手順やその他演算
式のプログラムが書き込まれたROM19、各種データや演
算結果等を記憶するRAM20、外部機器との接続の為のi/o
ポート８等を有する。21は操作スイッチで、該操作スイ
ッチ21により媒液の種類や温度を手動入力し或いは測定
開始命令を入力することができる。
本発明では、前記ROM19に、予めいくつかの媒液につい
て、各温度に対する粘性係数または密度の関係、あるい
は粘性係数と密度の両方を記憶させておく。そして測定
開始に先だつ前準備として、媒液の温度は試料懸濁液の
温度と同等であるとみなすことができるので、媒液の種
類と試料懸濁液の温度をCPU18に入力し、その種類と温
度に対応する媒液の粘性係数又は密度或いは粘性係数と
密度の両方を自動検索し、粒子径演算のための条件設定
を行なう。なお前記媒液の種類は操作スイッチ21で入力
し、媒液の温度は測温体14、測温回路15、A/D変換器16
により自動入力するが、温度については測定者が媒液の
温度を測定し、その数値を操作スイッチ21から手入力し
てもよい。
て、各温度に対する粘性係数または密度の関係、あるい
は粘性係数と密度の両方を記憶させておく。そして測定
開始に先だつ前準備として、媒液の温度は試料懸濁液の
温度と同等であるとみなすことができるので、媒液の種
類と試料懸濁液の温度をCPU18に入力し、その種類と温
度に対応する媒液の粘性係数又は密度或いは粘性係数と
密度の両方を自動検索し、粒子径演算のための条件設定
を行なう。なお前記媒液の種類は操作スイッチ21で入力
し、媒液の温度は測温体14、測温回路15、A/D変換器16
により自動入力するが、温度については測定者が媒液の
温度を測定し、その数値を操作スイッチ21から手入力し
てもよい。
測定条件が定まったところで操作スイッチ21により測定
開始命令を入力すると、CPU18からの命令でi/oポート８
からドライバ12へ信号が送られ、されまで働いていた循
環ポンプ11が停止せられ、試料セル１内の懸濁液２中の
粒子が沈降を開始する。時間の経過にともなう濃度変化
は前記したようにＸ線管球３、シンチレーションカウン
タ４、及び、吸光度測定回路５を経てＸ−Ｙレコーダ６
のＹ軸に記録される。一方前記自動検索された粘性係
数、密度によりCPU18で粒子径が演算され、その信号がC
PU18からi/oポート８を経由してドライバ７に送られ、
Ｘ−Ｙレコーダ６のＸ軸を駆動する。これによりＸ軸に
粒子径、Ｙ軸に粒子径に対応する濃度すなわちその粒子
径を有する粒子の割合が表示される。
開始命令を入力すると、CPU18からの命令でi/oポート８
からドライバ12へ信号が送られ、されまで働いていた循
環ポンプ11が停止せられ、試料セル１内の懸濁液２中の
粒子が沈降を開始する。時間の経過にともなう濃度変化
は前記したようにＸ線管球３、シンチレーションカウン
タ４、及び、吸光度測定回路５を経てＸ−Ｙレコーダ６
のＹ軸に記録される。一方前記自動検索された粘性係
数、密度によりCPU18で粒子径が演算され、その信号がC
PU18からi/oポート８を経由してドライバ７に送られ、
Ｘ−Ｙレコーダ６のＸ軸を駆動する。これによりＸ軸に
粒子径、Ｙ軸に粒子径に対応する濃度すなわちその粒子
径を有する粒子の割合が表示される。
なお、測定時間を短縮するために、制御部30からドライ
バ９を介してモータ10を駆動し、定められた一定の速度
でセル１を降下させてＸ線管球３による測定位置をセル
１の上方へ移動させる。これにより沈降の遅い小さい粒
子も短時間で測定できる。
バ９を介してモータ10を駆動し、定められた一定の速度
でセル１を降下させてＸ線管球３による測定位置をセル
１の上方へ移動させる。これにより沈降の遅い小さい粒
子も短時間で測定できる。
また測定条件を定めるにあたって、試料セル１、ビーカ
13、及びその配管が収納された測定室を温度調節してお
くことにより懸濁液の温度を一定に保ち、その都度測定
することをやめ、一定温度における粘性係数と密度とを
何種類かの媒液について記憶させておくようにしてもよ
い。
13、及びその配管が収納された測定室を温度調節してお
くことにより懸濁液の温度を一定に保ち、その都度測定
することをやめ、一定温度における粘性係数と密度とを
何種類かの媒液について記憶させておくようにしてもよ
い。
〈効果〉 本発明は以上の構成よりなり、何種類かの媒液について
の各温度に対応する粘性係数と密度を予め記憶部に記憶
させておき、入力される媒液の種類と試料懸濁液の温度
とから該当する媒液の粘性係数、密度を自動的に検索さ
せるようにしているので、測定者が媒液についての定数
表から粘性係数や密度を検索する必要がなくなり、測定
開始までに要する時間を大巾に短縮することができる。
また測定者による測定開始前の検索作業はあわただし
く、検索ミスやインプットミスを起こしやすいが、本発
明ではこれらの検索ミスやインプットミスを防ぐことが
できる。また測温体を用いて試料懸濁液の温度を自動的
に入力するようにすれば、測定者が温度を測ってこれを
手入力する必要がなくなり、迅速で入力ミスのない測定
が可能となる。その他、サンプラを追加することにより
オンライン測定に対応したシステムに発展させることが
できる。
の各温度に対応する粘性係数と密度を予め記憶部に記憶
させておき、入力される媒液の種類と試料懸濁液の温度
とから該当する媒液の粘性係数、密度を自動的に検索さ
せるようにしているので、測定者が媒液についての定数
表から粘性係数や密度を検索する必要がなくなり、測定
開始までに要する時間を大巾に短縮することができる。
また測定者による測定開始前の検索作業はあわただし
く、検索ミスやインプットミスを起こしやすいが、本発
明ではこれらの検索ミスやインプットミスを防ぐことが
できる。また測温体を用いて試料懸濁液の温度を自動的
に入力するようにすれば、測定者が温度を測ってこれを
手入力する必要がなくなり、迅速で入力ミスのない測定
が可能となる。その他、サンプラを追加することにより
オンライン測定に対応したシステムに発展させることが
できる。
図面は本発明の実施例を示すブロック図である。 １……試料セル、２……試料懸濁液 14……測温体、18……CPU 19……ROM、21……操作スイッチ
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 石田 昇平 京都府京都市中京区西ノ京桑原町１番地 株式会社島津製作所三条工場内 (72)発明者 酒井 潤 京都府京都市中京区西ノ京桑原町１番地 株式会社島津製作所三条工場内
Claims (3)
- 【請求項１】沈降法を利用した粒度分布測定装置であっ
て、予め何種類かの媒液についての各温度に対応する粘
性係数と密度を記憶させた記憶部と、入力される媒液の
種類と試料懸濁液の温度とから該当する媒液の粘性係数
又は密度或いは粘性係数と密度の両方を自動検索する演
算部とを有することを特徴とする粒度分布測定装置。 - 【請求項２】試料懸濁液の温度は該懸濁液に浸漬された
測温体を検出素子として自動的に演算部に入力される特
許請求の範囲第１項記載の粒度分布測定装置。 - 【請求項３】試料懸濁液の温度を一定に保持するように
した特許請求の範囲第１項記載の粒度分布測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60017458A JPH0797075B2 (ja) | 1985-01-30 | 1985-01-30 | 粒度分布測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60017458A JPH0797075B2 (ja) | 1985-01-30 | 1985-01-30 | 粒度分布測定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61175546A JPS61175546A (ja) | 1986-08-07 |
| JPH0797075B2 true JPH0797075B2 (ja) | 1995-10-18 |
Family
ID=11944574
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP60017458A Expired - Lifetime JPH0797075B2 (ja) | 1985-01-30 | 1985-01-30 | 粒度分布測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0797075B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0725676Y2 (ja) * | 1989-08-23 | 1995-06-07 | 株式会社島津製作所 | 磁性粉末粒度分布測定用サンプリング装置 |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS58160843A (ja) * | 1982-03-18 | 1983-09-24 | Horiba Ltd | 遠心式粒度分布測定方法および装置 |
-
1985
- 1985-01-30 JP JP60017458A patent/JPH0797075B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS61175546A (ja) | 1986-08-07 |
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