JPS58160843A - 遠心式粒度分布測定方法および装置 - Google Patents
遠心式粒度分布測定方法および装置Info
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- JPS58160843A JPS58160843A JP4486782A JP4486782A JPS58160843A JP S58160843 A JPS58160843 A JP S58160843A JP 4486782 A JP4486782 A JP 4486782A JP 4486782 A JP4486782 A JP 4486782A JP S58160843 A JPS58160843 A JP S58160843A
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N15/00—Investigating characteristics of particles; Investigating permeability, pore-volume or surface-area of porous materials
- G01N15/04—Investigating sedimentation of particle suspensions
- G01N15/042—Investigating sedimentation of particle suspensions by centrifuging and investigating centrifugates
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は遠心式粒度分布測定方法に関する、。
一般に密度ｐｏ （１／ｄ ） 、粘性係数η０をもつ
溶媒中に存在する直径Ｄ （Ｃ１ｌ） 、密度Ｐ（＃／
ｃｊ）の粒子は重力の影響によって沈降するが、一定距
離沈降するのに要する時間はストークスの沈降式Ｋｍう
ことが知られている。ここにストークスの沈降式は、自
然重力沈降のときは、 で表わされ、また遠心重力沈降のときはで表わされる０
但し、ｔは沈降時間（ｓｅｃ） 、 Ｈは沈降Ｗｅｌｌ
ｌｉ （ｃｍ） 、 Ｉハ自ｇｌ力加４Ｆｌ （ａｖ’
８” ） 、 Ｘｌは１転中心より沈降＃壜での距離（
ｃｍ） 、 Ｘ２ は回転中心より＃ｌ定向までの距離
（１）、−は回転角速度（ｒａｄ／減）である。
溶媒中に存在する直径Ｄ （Ｃ１ｌ） 、密度Ｐ（＃／
ｃｊ）の粒子は重力の影響によって沈降するが、一定距
離沈降するのに要する時間はストークスの沈降式Ｋｍう
ことが知られている。ここにストークスの沈降式は、自
然重力沈降のときは、 で表わされ、また遠心重力沈降のときはで表わされる０
但し、ｔは沈降時間（ｓｅｃ） 、 Ｈは沈降Ｗｅｌｌ
ｌｉ （ｃｍ） 、 Ｉハ自ｇｌ力加４Ｆｌ （ａｖ’
８” ） 、 Ｘｌは１転中心より沈降＃壜での距離（
ｃｍ） 、 Ｘ２ は回転中心より＃ｌ定向までの距離
（１）、−は回転角速度（ｒａｄ／減）である。
試料の粒度分布調定方法は、このような粒子径りと沈降
時間ｔの相間々係を利用したもので、測定ＫＪ！Ｉして
は、先ず試料をセル内で均一に＠濁した後自然重力或い
は遠心重力が作用する状態におき、沈Ｐｌ＃面から一定
距離はなれた位置の粒子濃度の時間的変化を光透過法等
にて観処し、それによって得られた粒子濃度の時間的変
化特性曲線と−Ｆ１第（１）式若しくは第（２）式とを
演算処理することによって行なう。つまり試料を均−Ｋ
ｌ！ｉ’ｍＬ、た時点からの経過時間がわかれば、その
時間内にいくらの径以上の粒子が測定位置を完全に通過
したかが上記第（１）式若しくは第１２１式によって定
性的に求められるから、この（１）式若しくは（２）式
と前記粒子幽度の時間的変化特性曲線とから粒度分布を
求めることができるのである。
時間ｔの相間々係を利用したもので、測定ＫＪ！Ｉして
は、先ず試料をセル内で均一に＠濁した後自然重力或い
は遠心重力が作用する状態におき、沈Ｐｌ＃面から一定
距離はなれた位置の粒子濃度の時間的変化を光透過法等
にて観処し、それによって得られた粒子濃度の時間的変
化特性曲線と−Ｆ１第（１）式若しくは第（２）式とを
演算処理することによって行なう。つまり試料を均−Ｋ
ｌ！ｉ’ｍＬ、た時点からの経過時間がわかれば、その
時間内にいくらの径以上の粒子が測定位置を完全に通過
したかが上記第（１）式若しくは第１２１式によって定
性的に求められるから、この（１）式若しくは（２）式
と前記粒子幽度の時間的変化特性曲線とから粒度分布を
求めることができるのである。
丸だこの場合、自然重力によって沈降させる方式ではｇ
が一定であるが、遠心重力によって沈降させる方式では
回転数を為く保つことによつ−（ｔ。
が一定であるが、遠心重力によって沈降させる方式では
回転数を為く保つことによつ−（ｔ。
をいくらで４萬めることができ、従って微小な粒子の粒
度分布でも短時間に測定できるという利点がある。この
ため現行の粒度分布測定方法ｔｉ、遠心式のものが多く
採用されている。
度分布でも短時間に測定できるという利点がある。この
ため現行の粒度分布測定方法ｔｉ、遠心式のものが多く
採用されている。
しかしながら現行の遠心式粒度分布＃Ｉ定方法は回転数
を一定に保った状態で行なうものであるために次のよう
な欠点がある。
を一定に保った状態で行なうものであるために次のよう
な欠点がある。
即ち、回転ディスクの回転数を比較的低速（例えばｔｏ
ｏｏ ｒｐｍ ＞にすると粒度分布の広い試料を測定す
る場合、遠心式であるにも拘らず非常に長時間を要する
っ一方、これを改善するために回転数を＾く（例えばｓ
ｏｏｏｒｐｍ）すると粒子径の大きい粒子の沈吟速度が
速くて＠短時間が短か過ぎ、そのため大粒子については
大きな誤差を含んだものとなる。
ｏｏ ｒｐｍ ＞にすると粒度分布の広い試料を測定す
る場合、遠心式であるにも拘らず非常に長時間を要する
っ一方、これを改善するために回転数を＾く（例えばｓ
ｏｏｏｒｐｍ）すると粒子径の大きい粒子の沈吟速度が
速くて＠短時間が短か過ぎ、そのため大粒子については
大きな誤差を含んだものとなる。
従つ王１粒度分布の広い試料を測定するに際してｌよ、
＃１足目的とする粒子の大きさ−に１転数を段階的に変
えて行なう必要がある。
＃１足目的とする粒子の大きさ−に１転数を段階的に変
えて行なう必要がある。
ところがこのように回転数を段階的に変えると、Ｉｌ！
１足の自動化がＩＡ４雌であるし、測定準備操作に時間
がかかるという欠点がある。斐にそれ以上に、ｔＩ４１
も回転と停止とを繰返すことになるので、試料に補正し
雌い繍影響を及はすという欠点がある。
１足の自動化がＩＡ４雌であるし、測定準備操作に時間
がかかるという欠点がある。斐にそれ以上に、ｔＩ４１
も回転と停止とを繰返すことになるので、試料に補正し
雌い繍影響を及はすという欠点がある。
つまり、１転と停止とを繰返すと試料は所定の回転数に
達するまでの間、及びその回転数から停止゛するまでの
間も沈降を行なっているので、それの補正が非常に蝋し
いのである。
達するまでの間、及びその回転数から停止゛するまでの
間も沈降を行なっているので、それの補正が非常に蝋し
いのである。
本発明はこのような欠点を悉く解消し、広い粒度分布を
有する試料であっても短時間に測定を行なうことのでき
る巧みな一方法を提供するものである。
有する試料であっても短時間に測定を行なうことのでき
る巧みな一方法を提供するものである。
而して本発明に係る遠心式粒度分布測定方法は、試料セ
ルを設置した回転ディスクの回転を時間的に連続して増
大させて試料セル内の試料粒子ｋｂｕ速度的に増大する
遠心重力によって沈降させるようにし、もって各瞬時に
おける回転ディスクの１転数及び回転開始時からその瞬
時までに賛した時間並びに沈′ＰＩ＃面から一定距離は
なれた粒子濃度を検出する検出器の各瞬時における検出
データの３者を演算処理して試料粒子の粒度分布を求め
るようにしたことを要旨とする。ここに回転ディスクの
回転数を時間的に連続して増大させるｗ４ａ！としては
一次関数的或いは二次関数的に増大させる等各種の態様
で行なうことができる。このように回転数を経時的に増
大させると上記第（２）式中のωが時間の関数となるの
で、目減の分母にあるｗ２Ｌは各瞬時ΔＬにおけるω′
の値を全ての時間にばって加算した値、換イすればω２
の時間積分値（ｓｏω’ｄｔ）であられされる。この丸
め、＃ｉ定に際しては各瞬時における−の値と、回転開
始時から各瞬時までの時間とを測抄、それを演算処理の
段階で加痒或いは４１１１算処理する必要がある。そし
て、この処理の結果優られた値を検出器からの？−夕と
共に第（２）式に基づいて演算処理すれば粒度分布を求
めることができる。上鮎各瞬時のωの値と回転開始から
各一時までの時間との加算、積算処理及びその処理によ
って得られた値と検出器からのデータの演痒処−は論理
回路によって行なうことができるが、ｉ！！ｌ路が複雑
になるし、組立に手数を要するので、４常コンピユータ
によって行なうのが望ましい、尚、検出データの検出方
法としては一般に光透過法を用いるのが望ましい、１ ＣＪＦＶＣ本発明の一実施例を図面に基づいて説明する
。＠Ｌ図は検出データを光透−法によって得るように１
７た遠心式粒度分布／ＩＮ＋定方法全方法するだめの構
成を示し、（１）は回転ディスク、＋２） 、１２１は
回転ディスクトに設けられた試料セル、（３）は回転デ
ィスク１を回転するモータである。このモータＣよ１回
転ディスク（１）の回転数を経時的に増大させる必要が
ある関係り、回転数制御のできるモータを用いるのが良
い。
ルを設置した回転ディスクの回転を時間的に連続して増
大させて試料セル内の試料粒子ｋｂｕ速度的に増大する
遠心重力によって沈降させるようにし、もって各瞬時に
おける回転ディスクの１転数及び回転開始時からその瞬
時までに賛した時間並びに沈′ＰＩ＃面から一定距離は
なれた粒子濃度を検出する検出器の各瞬時における検出
データの３者を演算処理して試料粒子の粒度分布を求め
るようにしたことを要旨とする。ここに回転ディスクの
回転数を時間的に連続して増大させるｗ４ａ！としては
一次関数的或いは二次関数的に増大させる等各種の態様
で行なうことができる。このように回転数を経時的に増
大させると上記第（２）式中のωが時間の関数となるの
で、目減の分母にあるｗ２Ｌは各瞬時ΔＬにおけるω′
の値を全ての時間にばって加算した値、換イすればω２
の時間積分値（ｓｏω’ｄｔ）であられされる。この丸
め、＃ｉ定に際しては各瞬時における−の値と、回転開
始時から各瞬時までの時間とを測抄、それを演算処理の
段階で加痒或いは４１１１算処理する必要がある。そし
て、この処理の結果優られた値を検出器からの？−夕と
共に第（２）式に基づいて演算処理すれば粒度分布を求
めることができる。上鮎各瞬時のωの値と回転開始から
各一時までの時間との加算、積算処理及びその処理によ
って得られた値と検出器からのデータの演痒処−は論理
回路によって行なうことができるが、ｉ！！ｌ路が複雑
になるし、組立に手数を要するので、４常コンピユータ
によって行なうのが望ましい、尚、検出データの検出方
法としては一般に光透過法を用いるのが望ましい、１ ＣＪＦＶＣ本発明の一実施例を図面に基づいて説明する
。＠Ｌ図は検出データを光透−法によって得るように１
７た遠心式粒度分布／ＩＮ＋定方法全方法するだめの構
成を示し、（１）は回転ディスク、＋２） 、１２１は
回転ディスクトに設けられた試料セル、（３）は回転デ
ィスク１を回転するモータである。このモータＣよ１回
転ディスク（１）の回転数を経時的に増大させる必要が
ある関係り、回転数制御のできるモータを用いるのが良
い。
（４）は光源、（５）は光源用′ｔｊＬ源、（６）は検
出器と１２、（例えばフォトダイオード、 （７１ｔ；
ｊ増幅器である、っ前ｄピ光源（４）と検出器１６）と
は試料ヒル（２）の沈降向（２ｄ）から一定距ｌｉ、ｌ
隔てた地点（２ｂ）を照準、規準するように配設されて
いる。１８）は演痙装置として例えばコンピュータＣ１
このコンピュータ＃Ｊ上述し、ゲ閲県機能の（ｌｆｘに
モータ（３）を駆動する璽圧をコントロールする機能、
モータの回転数を経時的に酌める機能、及び各瞬時にお
けるモータの回転数を測定する機能並びに回転開始時か
ら各瞬時までの時１１ｊ１を測定する機能を有している
。このコンピュータｆ８＋１（接続された入力装置（９
）には、モータ躯動用の電圧を一次関数的あるいは二次
関数的等いかなる態様で上昇させるかのプログジムや、
その回転数から角速度ωを算出するための係数及びスト
ークスの沈降式ＣＭ１２１式）中のηＧ、ρ＋ｐｏ等演
算に必要な情報が記憶され、コンピュータｆ８１にそれ
らの情報を入力している、このコンピュータ（８）にて
演算処理された結果は、出力装＊ＱＯで表示さ７するー
）ｉｌｊ力Ｍ［ｔＱｌ）！： Ｌ、テｉｊＣＲＴ、或い
はべ’４＠Ａ”ログラフ等が適用できる０ 尚、回転ディスクｔ１）の回転数の絞入は試料中に誰ま
れる最小粒子径によって適配定めることができるが、一
般には５００ｒｐ（Ｕ程度とすれば良い。
出器と１２、（例えばフォトダイオード、 （７１ｔ；
ｊ増幅器である、っ前ｄピ光源（４）と検出器１６）と
は試料ヒル（２）の沈降向（２ｄ）から一定距ｌｉ、ｌ
隔てた地点（２ｂ）を照準、規準するように配設されて
いる。１８）は演痙装置として例えばコンピュータＣ１
このコンピュータ＃Ｊ上述し、ゲ閲県機能の（ｌｆｘに
モータ（３）を駆動する璽圧をコントロールする機能、
モータの回転数を経時的に酌める機能、及び各瞬時にお
けるモータの回転数を測定する機能並びに回転開始時か
ら各瞬時までの時１１ｊ１を測定する機能を有している
。このコンピュータｆ８＋１（接続された入力装置（９
）には、モータ躯動用の電圧を一次関数的あるいは二次
関数的等いかなる態様で上昇させるかのプログジムや、
その回転数から角速度ωを算出するための係数及びスト
ークスの沈降式ＣＭ１２１式）中のηＧ、ρ＋ｐｏ等演
算に必要な情報が記憶され、コンピュータｆ８１にそれ
らの情報を入力している、このコンピュータ（８）にて
演算処理された結果は、出力装＊ＱＯで表示さ７するー
）ｉｌｊ力Ｍ［ｔＱｌ）！： Ｌ、テｉｊＣＲＴ、或い
はべ’４＠Ａ”ログラフ等が適用できる０ 尚、回転ディスクｔ１）の回転数の絞入は試料中に誰ま
れる最小粒子径によって適配定めることができるが、一
般には５００ｒｐ（Ｕ程度とすれば良い。
この構成にしいて試料粒子−のれ度分４を求めるための
操作手順は、単−回だけ１１転デイスクを一定回転数で
回転させて＃ｌ′ｉＥする従来の方法と全く同じである
０、ただ回転？イスクの回転が経時的に増大するので粒
子の沈降速度が刻ン異なＬそのためこの沈降速度の変化
を演ギ処理の段階で加味するに！°き′ない。しかし、
この演算処理もコンピュータ（８）内でｈなわれるので
、操作手順としては従来と１１ＩＪら異ならない〇 即し、セル内の試料を均一に懸濁して後、回転ディスク
を回転さするだけで↓いｏ’ｆｂ回転ディスク（１）の
回転数Ｎが第２図に破線で示を如く直線的に増大され、
その羨−足回転数（例えば５θ０Ｏｒｐ山）に維持され
るという変化を辿った場合において各瞬時における検出
器（６）にて検出されるデータＤが同図に実線で示す如
く変化したとするっこの検出データＤは透過光量であり
、それは粒子濃度を意味している。この場合、各瞬時に
おける回転数Ｎ１四転開始から各瞬時までの時間ｔＩ、
ｔＩ・・・、その他第（２）式中のη０．ρ、ρＯ、ｘ
、 、 Ｘｔは既知であるから、コンピュータ侶）が、
これら既知−をストークスの沈降式に基づいて演算処理
することによって時間ｔ１秒においてはある一定の径以
り。
操作手順は、単−回だけ１１転デイスクを一定回転数で
回転させて＃ｌ′ｉＥする従来の方法と全く同じである
０、ただ回転？イスクの回転が経時的に増大するので粒
子の沈降速度が刻ン異なＬそのためこの沈降速度の変化
を演ギ処理の段階で加味するに！°き′ない。しかし、
この演算処理もコンピュータ（８）内でｈなわれるので
、操作手順としては従来と１１ＩＪら異ならない〇 即し、セル内の試料を均一に懸濁して後、回転ディスク
を回転さするだけで↓いｏ’ｆｂ回転ディスク（１）の
回転数Ｎが第２図に破線で示を如く直線的に増大され、
その羨−足回転数（例えば５θ０Ｏｒｐ山）に維持され
るという変化を辿った場合において各瞬時における検出
器（６）にて検出されるデータＤが同図に実線で示す如
く変化したとするっこの検出データＤは透過光量であり
、それは粒子濃度を意味している。この場合、各瞬時に
おける回転数Ｎ１四転開始から各瞬時までの時間ｔＩ、
ｔＩ・・・、その他第（２）式中のη０．ρ、ρＯ、ｘ
、 、 Ｘｔは既知であるから、コンピュータ侶）が、
これら既知−をストークスの沈降式に基づいて演算処理
することによって時間ｔ１秒においてはある一定の径以
り。
例えばｌＯミクロン以上の粒子は測定面を通過してしま
っており時間１．秒においては例えば９ミクロン以上の
粒子ｔよ測定面を通過してしまっていることが針鼻され
る。従って回転開始時よりし１秒までの間における検出
データの減装置り。１（＝ｌ）１゜Ｄ、）からｌθミク
ロン以上の粒子の占める割合がわかシ、ｔＩ秒からｔ□
秒までの時間における検出データＤＩ、＋（＝ Ｄ＋
−Ｄｊｌ ）から９ミクロン以上１０ミクロン未膚の粒
子の占める割合がわかる。このようにして検出データの
減小履を各瞬時において次々と針痒してゆくことにより
粒度分布を求めることができる。
っており時間１．秒においては例えば９ミクロン以上の
粒子ｔよ測定面を通過してしまっていることが針鼻され
る。従って回転開始時よりし１秒までの間における検出
データの減装置り。１（＝ｌ）１゜Ｄ、）からｌθミク
ロン以上の粒子の占める割合がわかシ、ｔＩ秒からｔ□
秒までの時間における検出データＤＩ、＋（＝ Ｄ＋
−Ｄｊｌ ）から９ミクロン以上１０ミクロン未膚の粒
子の占める割合がわかる。このようにして検出データの
減小履を各瞬時において次々と針痒してゆくことにより
粒度分布を求めることができる。
本＠明に係る遠心式粒度分布測定方法は以上述べた如く
、回転ディスクの回転数を時間的に連続して増大させて
セル内の試料粒子を加速度的に増大する遠心血力により
て沈降さぜるようにして遂行されるものであるから５次
の如き優れた効果がある、 中 回転数を大粒子の測定に適した低速から小粒子の測
定に適した高速まで増大させるので幅広い粒度分布をも
つ試料の測定が単−回の操作でイ１なうことができる。
、回転ディスクの回転数を時間的に連続して増大させて
セル内の試料粒子を加速度的に増大する遠心血力により
て沈降さぜるようにして遂行されるものであるから５次
の如き優れた効果がある、 中 回転数を大粒子の測定に適した低速から小粒子の測
定に適した高速まで増大させるので幅広い粒度分布をも
つ試料の測定が単−回の操作でイ１なうことができる。
従って、これによって測定の自動化４０１能となる（−
１測定時間の大幅なｗｋ１縮が可能となる。
１測定時間の大幅なｗｋ１縮が可能となる。
■ 加えて、従来にあっては回転ディスクの回転と停止
を交互に行なって幅広い粒度分布をもつ試料の測定を行
なっており、そのために一定回転に達するまでの間、一
定回転数から停止するまでの間の夫々の期間における粒
子の沈降という補正の困難な問題に直面せざるを得ない
が本発明におって＃−ｉＭ転ディスクの回転数を経時的
に連続して増大させるのでそのような困難な問題はなく
、正６１１な粒度分布測定が可能となる１゜
を交互に行なって幅広い粒度分布をもつ試料の測定を行
なっており、そのために一定回転に達するまでの間、一
定回転数から停止するまでの間の夫々の期間における粒
子の沈降という補正の困難な問題に直面せざるを得ない
が本発明におって＃−ｉＭ転ディスクの回転数を経時的
に連続して増大させるのでそのような困難な問題はなく
、正６１１な粒度分布測定が可能となる１゜
第１図番ｊ本発明の方法を実施する装置をボナ図、第２
図は第１図の装置によって得られた検出ビータ及び回転
ディスクの時間的変化を小−ノ゛図である。。 ＋１）・・・回転ディスク、（２）・・・試料セル、＋
６１・・快出祷。 １）・・・検出データ、Ｎ・・・回転数。 第１図 第２図 −−一一一−１
図は第１図の装置によって得られた検出ビータ及び回転
ディスクの時間的変化を小−ノ゛図である。。 ＋１）・・・回転ディスク、（２）・・・試料セル、＋
６１・・快出祷。 １）・・・検出データ、Ｎ・・・回転数。 第１図 第２図 −−一一一−１
Claims (1)
- 試料セルを設置した回転ディスクの回転を時間的に連続
して増大させて試料セル内の試料粒子を加速度的に増大
する遠心重力によって沈降させるようにし、もって各瞬
時における回転ディスクの同転数及び回転開始時からそ
の瞬時までに要した時間並びに沈降面から一定距離はな
れた位置の粒子濃度を検出する検出器の各瞬時における
検出データの３者を演算処理して試料粒子の粒度分布を
求めるようにしたことを特徴とする遠心式粒度分布測定
方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4486782A JPS58160843A (ja) | 1982-03-18 | 1982-03-18 | 遠心式粒度分布測定方法および装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4486782A JPS58160843A (ja) | 1982-03-18 | 1982-03-18 | 遠心式粒度分布測定方法および装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS58160843A true JPS58160843A (ja) | 1983-09-24 |
| JPH0251134B2 JPH0251134B2 (ja) | 1990-11-06 |
Family
ID=12703441
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4486782A Granted JPS58160843A (ja) | 1982-03-18 | 1982-03-18 | 遠心式粒度分布測定方法および装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS58160843A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS58165040A (ja) * | 1982-03-25 | 1983-09-30 | Shimadzu Corp | 粒度分布測定装置 |
| JPS61175546A (ja) * | 1985-01-30 | 1986-08-07 | Shimadzu Corp | 粒度分布測定装置 |
| US4671102A (en) * | 1985-06-18 | 1987-06-09 | Shell Oil Company | Method and apparatus for determining distribution of fluids |
| US5279150A (en) * | 1992-03-13 | 1994-01-18 | Katzer Albert E | Automated miniature centrifuge |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS58122447A (ja) * | 1982-01-13 | 1983-07-21 | Ricoh Co Ltd | 光透過式粒度分布測定方法 |
-
1982
- 1982-03-18 JP JP4486782A patent/JPS58160843A/ja active Granted
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
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|---|---|---|---|---|
| JPS58165040A (ja) * | 1982-03-25 | 1983-09-30 | Shimadzu Corp | 粒度分布測定装置 |
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Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0251134B2 (ja) | 1990-11-06 |
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