JPH0797176B2

JPH0797176B2 - 焦点検出装置

Info

Publication number: JPH0797176B2
Application number: JP61231329A
Authority: JP
Inventors: 康夫須田; 和彦荒川; 圭史大高; 剛史小山; 一朗大貫
Original assignee: Canon Inc
Current assignee: Canon Inc
Priority date: 1986-10-01
Filing date: 1986-10-01
Publication date: 1995-10-18
Anticipated expiration: 2010-10-18
Also published as: JPS6388512A

Description

【発明の詳細な説明】（発明の利用分野）本発明は、直交した２方向の物体の輝度分布に基づいて
焦点状態を検出する焦点検出装置に関するものである。

（発明の背景）従来、例えばカメラに配置された位相差検出方向の焦点
検出装置においては、被写体の一方向のみの輝度分布か
ら撮影レンズのデフォーカス量を検出するように構成さ
れていることから、その方向に輝度分布を持たない被写
体に対しては焦点検出不能となるといった欠点を有して
いた。この点に鑑み、本願出願人は特開昭60−235822号
（未公開）により、例えば直交して配置される縦方向対
の焦点検出用ラインセンサと横方向対の焦点検出用ライ
ンセンサ及びこれらに二次像を形成する対のレンズ部を
有する二次結像レンズ等を配置して撮影画面の横方向及
び縦方向の輝度分布を検出し、それぞれのセンサ出力よ
り撮影レンズのデフォーカス量を検出することを可能と
した装置を提案している。これにより、その時の被写体
の外観，パターンによって一方のデフォーカス量が演算
不能に落ちいることがあっても、他方の輝度分布からデ
フォーカス量を得ることが可能な為、焦点検出が不能に
なるといったことがなくなり、非常に有効な装置と言え
る。

ところで、前述の様な実施例装置において、それぞれ直
交して配置される２対のラインセンサはいずれも入射す
る光速の光軸に対して垂直な方向に位置して配置される
ことが正確な焦点状態を検出する上で必須条件である
が、組立て誤差等により対となるラインセンサの一方、
或いは両方が前記関係を失った場合（長手方向に誤差を
生じている場合）、正確な焦点状態の検出が不可能とな
ってしまう。

（発明の目的）本発明の目的は、光軸に垂直な面に対してそれぞれの焦
点検出用センサ対が傾いて配置されていた場合であって
も、その傾き調整を行え、誤った焦点状態の検出を行う
ことを防止することのできる焦点検出装置を提供するこ
とである。

（発明の特徴）上記目的を達成するために、本発明は、一方の焦点検出
用センサ対が並ぶ方向における、センサ保持部材の、光
軸と垂直な面に対する傾き量を調整する第１の調整機構
と、他方の焦点検出用センサ対が並ぶ方向における、セ
ンサ保持部材の、光軸と垂直な面に対する傾き量が調整
する第２の調整機構とを備え、以て、前記第1,第２の調
整機構により一方及び他方の焦点検出用センサ対を光軸
に垂直な面と一致させるようにしたことを特徴とする。

（発明の実施例）以下、本発明を図示の実施例に基づいて詳細に説明す
る。

第１〜３図は本発明をカメラに適用した場合の一実施例
を示すものであり、第１図はストロボが装着された状態
での断面図である。第１図において、１はカメラボデ
ィ、２は撮影レンズ３を光軸４の方向に移動可能に保持
するレンズ鏡筒、５はサブミラー６と共に前記撮影レン
ズ３を透過した被写体光をファインダー系とAF・測光系
に分離する主ミラー、７はペンタプリズム８及び接眼レ
ンズ９と共にファインダー系を構成するピントグラス、
10は、フィルードレンズ11,二次結像レンズ12,AF用ライ
ンセンサとAF用センサとが配置（詳細は後述）されるセ
ンサ部13a等を保持するAF・AE用センサ保持部材13,セン
サ部14a等を有するTTLストロボ調光用センサ14とを有す
るAF・測光系（ここではTTLストロボ調光系とAE系の両
方の系を測光系と称している）を成すAF・測光ユニッ
ト、15はシャッタ、16はストロボ、17は閃光発光部、18
はAF用近赤外線補助光発光部である。

第2,3図は第１図にて示したAF・測光ユニット10の主要
部のみの詳細図であり、第２図はその断面図であり、第
３図はその展開斜視図である。

本体ブロック19の上面側には、視野マスク20、透過率の
異なる領域21a,21bを有する赤外カットフィルタ21、フ
ィールドレンズ11の順番でそれぞれが取り付けられ、ま
た下面側には、絞り22、二次結像レンズ12、押えばね2
3、センサブロック24、センサホルダ25、AF・AE用セン
サ保持部材13の順番でそれぞれ取り付けられる。更に本
体ブロック19には、フィルム面よりの反射光を前記フィ
ールドレンズ11を介して受光する事のできる位置にTTL
ストロボ調光用センサ14が取り付けられる。

前記絞り22は第３図に示す様に直交して設けられた対の
開口部22a,22bと22c,22dを有すると共に、これら開口部
の中心Ａと一致した点を半径とする弧を持つ位置決め部
22e,22f及びばね部22g,長穴22hとを有している。レンズ
部12a〜12dを有する二次結像レンズ12は前述の様な各部
を有する絞り22を本体ブロック19との間に挟み込んだ状
態でピン12e,12fによって位置決めされ、押えばね23に
よって固定される（第２図参照）。この様な状態におい
て、前記二次結像レンズ12のレンズ部12a〜12dは前記開
口部22a〜22dと対応した位置関係にあり（詳細は後
述）、また前記位置決め部22e,22fには二次結像レンズ1
2のピン12g,12hが、ばね部22gにはピン12iが、それぞれ
挿入される。前記ばね部22gにピン12iが挿入されること
により、該ばね部22gは第２図の様に変形し、絞り22を
位置決め部22e,22fの方向に付勢する力を生じる。した
がって、偏心ピン26を絞り22の長穴22hを介して本体ブ
ロック19の穴に差し込み、これを回転させることによっ
て絞り22の各開口部の中心Ａを軸とした該絞り22の微小
角回転（第２図矢印Ｂ方向）が可能となる。

前記二次結像レンズ12の下部には前述した様にセンサブ
ロック24、センサホルダ25が配置されるが、これらは取
次けビス27,ワッシャ28,偏心ピン29と共にさらにその下
部に配置されるAF・AE用センサ保持部材13の傾き調整機
構を成している。前記AF・AE用センサ13はセンサホルダ
25の取付け面25aに接着され、このセンサホルダ25は取
付け穴24a,24bを有するセンサブロック24の円弧状取付
け面24cに前記取付け穴24aを介して取付けビス27,ワッ
シャ28によって固定される。

ここで、前記円弧状取付け面24cのＲ中心は第２図に想
定して描いた軸Ｃであり、またセンサブロック24の取付
け穴24aは長穴になっている為、第２図矢印Ｄ方向の傾
斜調整が可能である。さらにセンサホルダ25は前記取付
け穴24aと同様長穴となっている取付け穴24bを介して偏
心ピン29によってもセンサブロック24に固定され、又セ
ンサホルダ25の屈曲部25bの肉厚を十分に薄くして可撓
性を持たせてある為、前記偏心ピン29を回転させること
によって第２図に想定して描いた軸Ｅをほぼ中心として
第２図矢印Ｆ方向の傾斜調整が可能である。

以上の様な構成より成るAF・測光ユニット10において、
以下にTTLストロボ調光系、AF系、AE系のそれぞれにつ
いて説明する。

まずTTLストロボ調光系（以下の実施例においては調光
系と略記する）について述べる。調光系は、ストロボ撮
影時のフィルム面の反射光をフィールドレンズ11により
調光用センサ14のセンサ部14aに取り込み、その受光量
によってストロボ16の発光を停止させる為のものであ
る。つまり、主ミラー5,サブミラー６が上昇し、シャッ
タ15の先幕が走行しフィルムが露出した状態でストロボ
16が発光すると、被写体像がフィルム上に結像し、その
反射光が生じる。その一部の反射光が第２図に示したAF
・測光ユニット10の視野マスク20,赤外カットフィルタ2
1及びフィールドレンズ11を通過して調光用センサ14の
センサ部14aに入射し、例えば受光される受光量が後述
するスポット測光を行うAE用センサによって予め求めら
れている測光量に達したことが後述するマイクロコンピ
ュータによって検知されると、ストロボ16側へ発光停止
信号が出力され、発光が停止する。

尚前述からもわかる様に、AF系、AE系に使用されるフィ
ールドレンズ11をTTL調光系に共用している為、カメラ
のコンパクト化、低コスト化を実現した状態でフィルム
感度分布を良好なものにすることができる。

次にAF系について述べる。第４図及び第５図はAF系の光
路展開図である。二次結像レンズ12には第３図に示した
様に直交して配置された対のレンズ部12a,12bと12c,12d
を有しており、このうちのレンズ部12a,12bの光軸を含
む断面を表したものが第４図であり、レンズ部12c,12d
の光軸を含む断面を表したものが第５図である。尚ここ
では図の簡略化の為に絞り22の各開口部の開口中心を通
過する一次結像面での物高が０の光線のみを描いてお
り、図中矢印Ｇの位置が一次結像面、矢印Ｈがセンサ部
13aのセンサ面である。二次結像レンズ12のレンズ部12a
〜12dには前述した様に絞り22の開口部22a〜22dがそれ
ぞれ対応しており、これによりセンサ部13a上には４つ
の二次像が形成され、これらの二次像の境界は視野マス
ク20の開口像によって分離されている。絞り22の同一形
状をした対となる開口部22aと22bの間隔は開口部22cと2
2dの間隔よりも狭くなっており、これらの開口部はフィ
ールドレンズ11によって撮像レンズ３の瞳上に投影され
ている。この様子を示したのが第６図である。図中31は
撮影レンズ３の射出瞳,31a〜31dはそれぞれ絞り22の開
口部22a〜22dに対応する瞳面上での領域である。一般的
なカメラ用撮影レンズの場合にはM,Nの領域をそれぞれF
4,F8程度に選べばよい。

AF・AE用センサ保持部材13のセンサ部13a上での二次像
の様子を示したのが第７図である。センサ13a上には縦
方向測距と横方向測距を行うAF用のラインセンサSAA,SA
BとSAC,SADと、前記ラインセンサSAA,SABに隣接（測距
エリアを挟む様に）して２つのAE用のセンサSAE,SAFが
配置され、この上に二次像32a〜32dが二次結像レンズ12
によって投影される。前記二次像32a,32bは撮影レンズ
３の瞳上の領域31a,31bを通過した光束による被写体像
であり、二次像32c,32dは領域31c,31dを通過した光束に
よる被写体像である。尚破線部32e,32fはサブミラー６
によって欠られてしまう像領域である。またセンサ部13
a上に配置されている33a〜33dは前記ラインセンサSAA〜
SADのセンサ駆動回路で、この部分への光の入射がセン
サ出力に対して影響しないように遮光用アルミ層がこの
上に形成されている。

第８図はデフォーカス量演算の説明図であり、ラインセ
ンサSAA〜SADの各出力をそれぞれＡ像〜Ｄ像として表し
ている。第６図で説明した様に、A,B像は瞳上の領域31
a,31bを通過した光束によって形成され、一方、C,D像は
より外側の領域31c,31dを通過した光束によって形成さ
れている為、撮影レンズ３のデフォーカスに対する像ず
れ量はC,D像の方がA,B像よりも大きい。つまり第８図に
おいて、位相差X₁よりもX₂の方が大きい。この位相差
X₁,X₂情報が前記センサ駆動回路33a〜33dを介して後述
するマイクロコンピュータへ伝達され、ここでデフォー
カス量の演算が行われて撮影レンズ３の焦点制御が実行
されるわけであるが、ラインセンサSAA,SABとSAC,SADの
両方にて測距を行う場合においては、C,D像からの演算
結果の方が像ずれ量が大きい為、こちらの結果を使用し
た方が焦点検出精度が高いものとなる。

第９図はカメラのファインダ視野内の測距エリアを示す
図である。図中34はカメラのファインダ視野、35は前記
ファインダ視野34内における測距エリアを想定して描い
たものであり、横方向の測距エリアがラインセンサSAA,
SABの逆投影像、縦方向の測距エリアがラインセンサSA
C,SADの逆投影像に一致している。実際測距エリア35は
第１図のピントグラス７に図形として書込まれる。

第10図は二次結像レンズ12に製造誤差を生じている場合
におけるAF・AE用センサ13のセンサ13a上での様子を示
したものである。つまり第11図（ａ）に示す様に理想と
する二次結像レンズ12内の各レンズ部の位置関係が、第
11図（ｂ）の様に誤差（絞り22の各開口部22a〜22dに対
して）を生じている場合を想定している。この様にレン
ズ部12a,12bと12c,12dの直角度が出ていない時は第10図
のように二次像32a,32bと32c,32dの直角度も悪くなる。
したがって、二次像32a,32bに対してラインセンサSAA,S
ABの位置を合わせると、一方で二次像32c,32dに対する
ラインセンサSAC,SADの位置合わせは不可能となる。そ
の結果、ラインセンサSAC,SAD上へは被写体の異なる部
分が投影されることになり、該測距エリアに対して第12
図に示す様に斜め線をもつ輝度パターンの被写体像が入
射した時（製造誤差がない場合には同一の画素上に斜め
線をもつ輝度パターンの被写体像が入射する）には合焦
エラーを生じ、このままでは不都合である。そこで、こ
の様な場合には絞り22を第３図矢印Ｂ方向に回転し、ラ
インセンサSAC,SADに対する二次像32c,32dの位置合わせ
を行う。

第13図は先の説明（位置合わせ）を助ける為の図で、該
図は第５図において二次結像レンズ12を矢印Ｉ方向から
見たものである。図中Ｊはレンズ部12c,12dの二次結像
面であり、この様にレンズ部12c,12dの結像面はAF・AE
用センサ13のセンサ面Ｈより後方に位置し、センサ面Ｈ
上にはデフォーカスした像が投影される。一方レンズ部
12a,12bの結像面はセンサ面Ｈと一致し、ピントの合っ
た像がラインセンサSAA,SABに投影される。換言すれ
ば、二次結像レンズ12の製造誤差に伴う補正を行える様
に、レンズ部12a,12bの結像面はセンサ面Ｈに一致さ
せ、レンズ部12c,12dの結像面は後方（前方であっても
よい）に位置、すなわちセンサ面Ｈ上にはデフォーカス
した像が投影されるように構成している。尚該図におい
て、Ｋはレンズ部12aとレンズ部12bによって決定された
軸、Ｌはレンズ部12cの軸、ｕは絞り22の位置からセン
サ面Ｈまでの距離、ｖはセンサ面Ｈから二次結像面Ｊま
での距離である。

ここでレンズ部12cの軸Ｌがδだけ偏心している時、二
次結像面Ｊ上での像位置のずれがεだけ生じたとする
と、二次結像倍率をβとして ε＝δ（１＋β）（１）なる関係が成る立つ。この時、センサ面Ｈ上での像位置
のずれはα（＝ε・u/（ｕ＋ｖ））である。このずれα
は像がデフォーカスしている為、絞り22の開口部22c,22
dの位置を移動することで変化させることができる。よ
って、二次結像面Ｊでεだけ位置ずれを生じた像をセン
サ面Ｈ上で軸Ｋと交差するように調整すれば、第12図で
示した斜め線をもつ被写体像が入射したとしても合焦エ
ラーはなくなるわけで、その為には絞り22の開口部22c
をｃだけ移動すればよく、この移動量ｃは以下なる式に
より求めることができる。つまり、移動量ｃを前記距離
u,v,偏心量δ，二次結像倍率βと表すと ε/v＝c/u ｃ＝ｕ・ε/v （２）前記（１），（２）式よりｃ＝ｕδ（１＋β）/v （３）となる。前記式より得られる移動量ｃだけ絞り22（開口
部22c,22d）を移動させるのは、第2,3図に示した偏心ピ
ン26を回転することによって可能である。この時他方の
二次像32a,32bについてはピントの合った像がセンサ面
Ｈ上に形成されている為、絞り22の回転によって影響を
与えることはない。仮に、製造誤差によってセンサ部13
aの光軸方向位置がずれていたとしても、二次像32a,32b
を形成する絞り22の開口部22a,22bは内側に位置してい
る為（開口部22c,22dに対して）、絞り22の回転に伴う
前記開口部の移動は比較的小さく、それによる像位置の
ずれも微小量となる。

第14図はセンサ部13aが光軸に対して傾いて配置されて
いる場合の焦点検出エラー量を説明する図である。該図
において、横軸は測距視野内での測距ポイント、縦軸は
焦点検出エラー量を示しており、センサ部13aの第２図
に示した軸Ｃを中心とした矢印Ｄ方向或いは軸Ｅを中心
とした矢印Ｆ方向への組立て誤差等による傾きθをパラ
メータとしている。センサ部13aの光軸に対する傾きが
生じた場合、つまり実質的にはラインセンサSAA,SAB或
いはSAC,SADがそれぞれの長手方向へ傾いている場合、
焦点検出エラーを生じるわけで、矢印Ｅ方向への傾きは
横方向測距視野、矢印Ｆ方向への傾きは縦方向測距視野
のエラーにそれぞれ対応する。これらの傾き調整は第2,
3図において説明した調整機構により調整可能である。
このようにセンサの傾きに応じて測距視野内位置に対す
る合焦エラー量が変化するということは、逆に二次像レ
ンズ12の傾き或いは偏心によって合焦位置の測距視野内
変化が生じたとしても、センサの傾き調整でこれを補正
することが可能ということを示している。

次にAE系について述べる。AE用のセンサSAE,SAFは第７
図により説明した様に、ラインセンサSAA,SABに隣接し
た位置に配置され、絞り22の開口部22a,22bを通過した
光束、すなわち第６図に示した射出瞳上の領域31a,31b
を通過した光束によって視野マスク20の開口像（開口形
状内を通過した被写体像）が投影されている。したがっ
て、AE用のセンサSAE,SAFの合成された測光エリアは第1
5図に示すスポット状、厳密に言うとファインダ視野34
内において、視野マスク20の開口像からラインセンサSA
A,SABに対応する長方形状エリア35cを除いたもの（第15
図の35a,35bで示したエリア）となる。前記長方形状エ
リア35cの面積はかなり小さい為、測光感度分布として
はほとんど視野マスク20の開口形状と見なすことがで
き、よってスポット測光撮影に際してはこの測光エリア
により測光された値に基づいて露出時間制御、つまりは
後述するマイクロコンピュータによりシャッタ15及び不
図示の絞り制御が行われる。

ところで本実施例において、調光系,AF系,AE系はその光
路を共有しているが、前述した様にそれぞれのセンサに
入射する光の波長域はそれらの系毎に制限する必要があ
る。つまり、調光系とAE系はその分光感度特性をフィル
ムの分光感度特性に合致させることが望ましく、一方AF
系は低輝度被写体に対して例えば近赤外補助光が用いら
れることから、近赤外光まで感度を有さなければならな
い。なお近赤外補助光が用いられない場合であっても、
できるだけ多くの光は取り込みたい（測距精度を高め
る）と言う理由から、近赤外光まで感度を有することが
望ましい。一般にセンサは1000nm以上の波長の光に対し
ても感度がある為、赤外光は光学的フィルタによってカ
ットする必要がある。

第16図は前記要求を達成することを可能とした赤外カッ
トフィルタ21を示す図であり、該図に示した36a,36bがA
E系における有効部、37が調光系における有効部であ
る。この赤外カットフィルタ21は分光透過率特性の異な
る２つの領域21a,21bから成り、領域21aは例えば第17図
の如き特性を有し、領域21bは第18図の如き特性を有し
ている。すなわち領域21aの赤外線カット波長は700nm、
領域21bの赤外線カット波長は740nmとなっている。第16
図に示す様に調光系とAE系の有効部は２つの領域にまた
がって位置しているが、いずれにおいても領域21aの占
る割合が領域21bに対して小さい為、フィルムの分光感
度特性（400〜700nm）に近い特性で測光を行うことが可
能である。これに対し、AF系の有効部は領域21aの形状
からもかわるように該領域21aに完全に含まれるように
構成され、ラインセンサ面上での照度むらのないように
配慮されている。

第19図は前記構成から成る一眼レフレックスカメラの主
要部の概略を示すブロック図である。101はカメラの各
種動作を制御する制御回路で、例えば内部にCPU（中央
演算処理部）,RAM,ROM,EEPROM及び入出力ポート等が配
置された１チップマイクロコンピュータであり、前記RO
M並びにEEPROM内にはAF・測光制御を含む一連の制御用
ソフトウエア及びパラメータが格納されている。102は
データバス、103は前記制御回路101より制御信号104が
入力している間データバス102を介して入力するデータ
を受け付け、該データに基づいて前記シャッタ15の先幕
及び後幕の走行制御を行うシャッタ制御回路、105は制
御信号106が入力している間データバス102を介して入力
するデータを受け付け、該データに基づいて不図示の絞
り機構を制御する絞り制御回路、107は制御信号108が入
力している間データバス102を介して入力するデータを
受け付け、該データに基づいて前記撮影レンズ３の光軸
４方向の位置制御を行うレンズ制御回路である。109は
前記調光用センサ14等から成るTTLストロボ調光回路、
又110は前記AE用センサSAE,SAF等から成るAE用の測光回
路であり、これらにて光電変換された測光信号は前記制
御回路101へ送られ、該回路にて前述のシャッタ制御回
路103及び絞り制御回路105並びにストロボ16を制御する
為のデータとして用いられる。

また、33は前記制御回路101より入力する各信号に従っ
てCCDから成る前記２組のラインセンサSAA.SABとSAC,SA
Dを制御する、第７図にて説明したセンサ駆動回路であ
る。

次に一連の撮影動作について簡単に説明する。不図示の
レリーズ釦の第１ストロークが行われると、撮影レンズ
3,主ミラー5,サブミラー6,フィールドレンズ11,二次結
像レンズ12等を通過した光束がAE用センサSAE,SAFに入
射し、測光回路110から光電変換された測光信号が、す
なわち被写体輝度情報が制御回路101へ送られる。

またこれとほぼ同時に制御回路101はＡ像とＢ像、Ｃ像
とＤ像の位相差X₁,X₂を得る為に（尚ここでは絞りとし
てはF4以上が選択されている場合を想定している）セン
サ駆動回路33を介して、同様の光路を通って被写体像が
入射しているラインセンサSAを駆動する。この時の制御
回路101、センサ駆動回路33、ラインセンサSAの各動作
を簡単に説明すると、制御回路101に蓄積開始信号STRが
発生すると、センサ駆動回路33はクリア信号CLをライン
センサSAへ出力し、ラインセンサSAA,SAB及びSAC,SADの
各光電変換部の電荷をクリアする。するとラインセンサ
SAは前段に配置されている二次結像レンズ12によって投
影されている像の光電変換及び電荷蓄積動作を開始す
る。前記動作が開始してから所定時間が経過すると、セ
ンサ駆動回路33は転送信号SHをラインセンサSAへ出力
し、光電変換部に蓄積された電荷をCCD部へ転送する。
同時に前記センサ駆動回路33は蓄積終了信号ENDを制御
回路101へ出力し、該制御回路101よりCCD駆動クロックC
Kが入力するのを待つ。CCD駆動クロックCKが入力する
と、センサ駆動回路33はCCD駆動信号φ₁,φ_２を生成
し、該信号をラインセンサSAへ出力する。CCD駆動信号
φ₁,φ_２が入力すると、ラインセンサSAはこの信号に従
ってアナログ像信号SSAを制御回路101へ出力する。これ
により制御回路101はCCD駆動クロックCKに同期してアナ
ログ像信号をA/D変換し、像信号Ａ（ｉ）〜Ｄ（ｉ）を
得た公知の演算方式により位相差X₁,X₂を、すなわち焦
点検出信号を算出し、レンズ制御回路107へ該データを
出力する。レンズ制御回路107はこれを受けて公知の駆
動方式により撮影レンズ３の制御を行う。

次にレリーズ釦の第２ストロークが行われると、主ミラ
ー5,サブミラー６が上昇し、シャッタ15の先幕が走行す
ると共にストロボ16の発光が開始される。これによりス
トロボ光が被写体面で反射し、この反射光が撮影レンズ
３を透過してフィルムに入射し、該フィルム上への被写
体像の写し込みが開始される。又この様にフィルムに入
射した光束の一部は該フィルム面で反射し、フィールド
レンズ11を介して調光用センサ14へ入射し、ここで受光
され光電変換された測光信号がTTLストロボ調光回路109
より制御回路101へ出力される。すると前記制御回路101
は先の測光回路110よりの測光情報と前記TTLストロボ調
光回路109よりの測光情報とを比較し、一致したことを
検知、すなわち適正露光に達した事を検知するとシャッ
タ制御回路103を介してシャッタ15の後幕を走行させ
る。この後前記フィルムの巻上げが行われ、一連の撮影
動作が終了する。

本実施例によれば、対となるラインセンサSAA,SABの方
向と光軸との両方に直交する方向を軸とした円筒面24c
と、他方の対となるラインセンサSAC,SADの方向と光軸
との両方に直交する方向に屈曲する屈曲部25bとを設け
たことにより、以下の効果がある。

１）横方向測距部と縦方向測距部のそれぞれに対して独
立に傾斜調整が可能となり、傾いたことによる焦点検出
エラーをなくすことができる。

２）構成部品数が極めて少なくこの機構を実現すること
ができる。これによりカメラ低部に組込むことが可能と
なる。

（発明の効果）以上説明したように、本発明によれば、一方の焦点検出
用センサ対が並ぶ方向における、センサ保持部材の、光
軸と垂直な面に対する傾き量を調整する第１の調整機構
と、他方の焦点検出用センサ対が並ぶ方向における、セ
ンサ保持部材の、光軸と垂直な面に対する傾き量を調整
する第２の調整機構とを備え、以て、前記第1,第２の調
整機構により一方及び他方の焦点検出用センサ対を光軸
に垂直な面と一致させるようにしたから、光軸に垂直な
面に対してそれぞれの焦点検出用センサ対が傾いて配置
されていた場合であっても、その傾き調整を行え、誤っ
た焦点状態の検出を行うことを防止することが可能とな
る。また、製造誤差等によって生じたAF光学系構成部材
の偏心で、測距視野内の像位置に依存した測距エラーが
起った場合にも、焦点検出用センサ対の傾き調整によっ
てこの測距エラーを補正することができる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明をカメラに適用した場合の一実施例を示
す断面図、第２図は第１図図示のAF・測光ユニットの断
面図、第３図は同じくAF・測光ユニットの構造を説明す
る展開斜視図、第４図は同じくAF・測光ユニット内にお
けるAF系の一方の光路展開図、第５図は同じく他方の光
路展開図、第６図は瞳領域分割の説明図、第７図は第１
図図示のAF・AE用センサと二次像との関係を説明する
図、第８図はデフォーカス量演算時に使用される像信号
を説明する図、第９図はファインダ視野内における測距
エリアを示す図、第10図は第１図図示の二次結像レンズ
に製造誤差がある場合のセンサ部と二次像との関係を説
明する図、第11図（ａ）は製造誤差のない理想的な二次
結像レンズを示す平面図、第11図（ｂ）は製造誤差のあ
る二次結像レンズを示す平面図、第12図は第11図（ｂ）
の二次結像レンズを使用した時の不得手な被写体像を説
明する図、第13図は第11図（ｂ）の二次結像レンズが使
用された場合における二次像とラインセンサとの位置調
整量を説明する図、第14図は第２図図示のセンサ部が光
軸に対して傾いて配置されている場合の焦点検出エラー
量を説明する図、第15図はファインダ視野内における測
光エリアを示す図、第16図は第２図図示の赤外カットフ
ィルタの各領域を示す上面図、第17図及び第18図は赤外
カットフィルタの各領域での分光透過特性図、第19図は
本発明の一実施例の概略を示すブロック図である。３……カメラ、５……主ミラー、６……サブミラー、10
……AF・測光ユニット、11……フィールドレンズ、12…
…二次結像レンズ、13……AF・AE用センサ部材、13a…
…センサ部、14……TTLストロボ調光用センサ、33……
センサ駆動回路、101……制御回路、109……TTLストロ
ボ調光回路、110……測光回路、SAA〜SAD……ラインセ
ンサ、SAE,SAF……AE用センサ。

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者小山剛史神奈川県川崎市高津区下野毛770番地キヤノン株式会社玉川事業所内 (72)発明者大貫一朗神奈川県川崎市高津区下野毛770番地キヤノン株式会社玉川事業所内 (56)参考文献特開昭58−139131（ＪＰ，Ａ) 米国特許4555169（ＵＳ，Ａ)

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】対物レンズと、センサ保持部材上に直交し
て配置される２対の焦点検出用センサと、該２対の焦点
検出用センサ上にそれぞれ前記対物レンズにより結像さ
れた物体像の二次像を形成する二次結像レンズと、一方
の焦点検出用センサ対が並ぶ方向における、前記センサ
保持部材の、光軸と垂直な面に対する傾き量を調整する
第１の調整機構と、他方の焦点検出用センサ対が並ぶ方
向における、前記センサ保持部材の、光軸と垂直な面に
対する傾き量を調整する第２の調整機構とを備えた焦点
検出装置。