JPH08102396A - Ｘ線透視撮影装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】 最適なフィルム濃度が得られるようにＸ線露
光時間を自動制御できるＸ線透視撮影装置を提供する。 【構成】 Ｘ線撮影において、Ｘ線自動露出制御部１０
は、プリズム７で分配された光像の任意の部分エリアを
遮光する液晶マスク１１と、液晶マスク１１を透過した
光像を検出して電気信号に変換する光電子増倍管１２
と、光電子増倍管１２で変換された電気信号を積分する
積分器１３と、積分器１３の充電電圧Ｖs と基準電圧Ｖ
r を比較し、充電電圧Ｖs が基準電圧Ｖr に達したとき
Ｘ線高電圧装置５にＸ線遮断信号を出力する比較器１５
と、液晶マスク１１の基準レベルから外れたレベル外分
割領域を全て遮光するとともに、基準電圧Ｖr に対応す
る光量になるように前記レベル外分割領域以外の分割領
域を選択的に遮断制御する透視プロセッサ２０とを備え
て構成されている。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】この発明は、Ｘ線透視撮影装置に
係り、特に、Ｘ線写真撮影に伴うＸ線露出量を適正値に
自動制御する技術に関する。

【０００２】

【従来の技術】従来、Ｘ線透視撮影装置として、図９に
示すような装置が知られている。これは、Ｘ線管１００
から被検体ＭにＸ線を曝射して被検体Ｍからの透過Ｘ線
をイメージインテンシファイヤ（以下、単にI.I.とい
う）１０１で光像に変換し、この光像をＴＶカメラ１０
２で撮像して映像信号を生成する。そして、この映像信
号を増幅器等を介してＴＶモニタ１０３に与えることに
より、そのＴＶモニタ１０３に被検体Ｍの透視像を映し
出している。術者は、このＴＶモニタ１０３上の透視像
を観察しながら、撮影器１０４で被検体Ｍの関心部位を
撮影している。

【０００３】フィルムＦに被検体ＭのＸ線像を撮影する
場合、つぎのようにしてＸ線露出量が適正値になるよう
にＸ線自動露出制御部１０５で自動制御される。I.I.１
０１で変換された光像の一部をプリズムレンズなどの分
配器１１０をとおして検出器（ホトマル）１０６に導き
電気量に変換し、この電気量を積分器１０７により積分
する。この積分された充電電圧Ｖs を比較器１０８で基
準電圧Ｖr と比較して、充電電圧Ｖs が基準電圧Ｖｒに
達したとき、Ｘ線遮断信号をＸ線高電圧装置１０９に出
力することにより、Ｘ線の曝射が停止される。これによ
り、Ｘ線露出時間が自動制御されて適正なフィルム濃度
でフィルムＦに被検体ＭのＸ線像が撮影される。なお、
基準電圧Ｖr は、予め実験的に求められるものであり、
測光領域内に造影剤や空気層が存在しない通常の臓器に
Ｘ線を曝射した時に得られる基準となる電気量が積算さ
れて、フィルム感度に応じた適正なＸ線露光時間に達す
る時の積算電圧である（図８参照）。

【０００４】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上述し
た従来装置には、次のような問題がある。すなわち、被
検体Ｍの撮影部位によって透過する透過Ｘ線量が異なる
ので、積分器１０７での充電電圧（積算電圧）Ｖs が基
準電圧Ｖｒに達する時間に差が生じることになる。従っ
て、Ｘ線露光時間のバラツキによる露出不足や露出過多
となり、最適なフィルム濃度が得られない。

【０００５】例えば、造影剤を含んだ胃を撮影する場
合、図１０に示すように、検出器１０６では測光領域Ｐ
ｂの光量を電気量に変換しているので、測光領域Ｐｂ内
において、造影剤を含んだＸ線を透過しない領域Ａｂが
多くなると、電気量が少なくなり、充電電圧Ｖs が基準
電圧Ｖｒに達するまでに時間がかかることになる。その
結果、Ｘ線露光時間が長くなってフィルム濃度の高い輪
郭のぼやけた撮影像になる。

【０００６】一方、被検体の食道周辺を撮影する場合、
測光領域Ｐａ内の肺部分Ａａには空気が入っているた
め、Ｘ線がほとんど吸収されずに透過するので、測光領
域Ｐａ内の光量が多くなり、充電電圧Ｖs がはやく基準
電圧Ｖｒに達することになる。従って、Ｘ線露光が短時
間で終了することになり、フィルム濃度が低くい撮影像
になる。

【０００７】この発明は、このような事情に鑑みてなさ
れたものであって、最適なフィルム濃度に自動制御でき
るＸ線透視撮影装置を提供することを目的とする。

【０００８】

【課題を解決するための手段】この発明は、このような
目的を達成するため、次のような構成をとる。すなわ
ち、被検体に向けてＸ線を曝射するＸ線曝射手段と、被
検体からの透過Ｘ線をフィルム上に撮影する撮影手段
と、被検体からの透過Ｘ線を検出して光像に変換するＸ
線検出手段と、前記Ｘ線検出手段で変換された光像の一
部を測光領域として取り出す分配手段と、前記Ｘ線検出
手段で変換された光像を撮像し、映像信号を生成する撮
像手段と、前記分配手段で取り出された測光領域の光量
を検出して電気信号に変換する検出手段と、前記検出手
段からの電気信号を積算する積算手段と、前記積算手段
で積算された積算値と基準値とを比較することにより、
前記積算値が基準値に達した場合に前記Ｘ線曝射手段に
Ｘ線遮断信号を与える比較手段と、前記検出手段の測光
領域を分割し、その分割領域毎に遮光する遮光手段と、
前記撮像手段の映像信号から得られる前記測光領域の各
分割領域ごとの信号レベルと基準レベルとを比較して、
基準レベルから外れた分割領域を検出することに基づ
き、その領域に対応した前記遮光手段の分割領域のレベ
ル外分割領域を全て遮光するとともに、前記測光領域の
光量が前記比較手段の基準値に応じた適正な光量になる
ように前記遮光手段の前記レベル外分割領域以外の分割
領域を選択的に遮光する制御手段と、を備えたものであ
る。

【０００９】

【作用】この発明の構成によれば、次のような作用があ
る。Ｘ線曝射手段から被検体に向けてＸ線が曝射され、
被検体からの透過Ｘ線がＸ線検出手段で光像に変換され
る。この光像が撮像手段で撮像されて映像信号が生成さ
れるとともに、光像の一部が測光領域として分配手段を
とおして検出手段に導きかれて電気量に変換される。

【００１０】この際、制御手段によって、撮像手段で撮
像された映像信号から得られる測光領域の各分割領域ご
との信号レベルと基準レベルとが比較され、基準レベル
から外れた分割領域が検出される。そして、基準レベル
から外れた領域の光が検出手段に入射しないように遮光
手段の分割領域のレベル外分割領域が全て遮断制御され
るとともに、測光領域の光量が比較手段の基準値に応じ
た適正な光量になるように遮光手段の前記レベル外分割
領域以外の分割領域が選択的に遮断制御される。

【００１１】遮光手段で適正な値にされた測光領域の光
像は、検出手段で電気信号に変換され、この電気信号が
積算手段で積算される。この積算値は比較手段で基準値
と比較され、積算値が基準値に達したとき、Ｘ線曝射手
段にＸ線遮断信号が出力され、Ｘ線の曝射が停止され
る。従って、Ｘ線露出時間が自動制御されて適正なフィ
ルム濃度で撮影手段に被検体の透視像が撮影される。

【００１２】

【実施例】以下、図面を参照してこの発明の一実施例を
説明する。図１は、この発明に係る一実施例のＸ線透視
撮影装置の構成を示すブロック図である。

【００１３】図中、符号１は被検体Ｍが載置される天板
を示し、この天板１に載置された被検体Ｍを挟んだ状態
で、Ｘ線管２と、撮影器３（撮影手段）及びI.I.（イメ
ージインテンシファイヤ）４（Ｘ線検出手段）とが対向
配置されている。Ｘ線管２にはＸ線高電圧装置５が接続
されており、後述するタイミングでＸ線高電圧装置５に
指示が出されると、被検体ＭへのＸ線曝射が停止され
る。なお、Ｘ線管２とＸ線高電圧装置５とで、この発明
におけるＸ線曝射手段に相当する。

【００１４】天板１と撮影器３との間には、グリッド６
が配置されており、このグリッド６によって被検体Ｍ内
で発生した不要な散乱Ｘ線が撮影器３及びI.I.４に入射
しないように防止されている。

【００１５】撮影器３は、撮影用のフィルムＦと、フィ
ルムＦを挟み込みＸ線をフィルムＦに応じた光に変換す
る一対の増感紙３ａと、フィルムＦと一対の増感紙３ａ
とを密着させる圧着機構３ｂと、フィルムＦを透過した
Ｘ線を吸収して反射を防止する鉛板３ｃとから構成され
ている。また、撮影器３は、Ｘ線が照射される撮影位置
に対して進退自在に配置されている。

【００１６】I.I.４には、プリズム７（分配手段）を介
してＴＶカメラ８（撮像手段）が接続されており、被検
体Ｍを透過した透過Ｘ線はI.I.４で光像に変換され、こ
の光像がＴＶカメラ８で撮像されて映像信号が生成され
る。生成された映像信号は、後述する透視プロセッサを
介してＴＶモニタ９に送られ、ＴＶモニタ９上に被検体
Ｍの透視像が映し出される。

【００１７】プリズム７は、I.I.４で変換された光像を
ＴＶカメラ９に送るとともに、その光像の一部（図９に
示す側光領域Ｐ）を分配してＸ線自動露出制御部１０に
導くものである。

【００１８】Ｘ線自動露出制御部１０は、プリズム７で
分配された光像の所定エリアを遮断する液晶マスク１１
（遮光手段）と、液晶マスク１１を透過した光像を検出
して電気信号に変換する光電子増倍管１２（検出手段）
と、光電子増倍管１２で変換された電気信号を充電する
積分器１３（積算手段）と、積分器１３の充電電圧Ｖs
と基準電圧Ｖr とを比較し、充電電圧Ｖs が基準電圧Ｖ
r に達したとき前記したＸ線高電圧装置５にＸ線遮断信
号を出力する比較器１５（比較手段）と、画像処理や後
述するＸ線の露出時間を制御する透視プロセッサ２０
（制御手段）とを備えて構成されている。

【００１９】次に、液晶マスク１１の構成を図２を参照
して説明する。なお、図２には、斜線部をマスキングが
ＯＮされて光が遮断される状態、空白部をマスキングが
ＯＦＦされて光が透過される状態をそれぞれ示してい
る。液晶マスク１１は、図１０に示すような測光領域Ｐ
ａ，Ｐｂに対応し、その領域を例えば１００等分したド
ットＤｉ（ｉ＝１〜１００）から構成されている。ま
た、図２に示すように、造影剤や空気層が存在しない場
合、すなわち、各ドットＤｉが全て適正範囲にある場合
には、例えば、分割した各ドットＤｉを一つ置きにマス
キングするように透視プロセッサ２０に制御されてい
る。すなわち、マスキングＯＮ：５０ドット、マスキン
グＯＦＦ：５０ドットの割合になるように設定される。
この割合は、比較器１５で比較される基準電圧Ｖr 、す
なわち、空気層や造影剤を含まない通常の臓器にＸ線を
曝射した時に、適正なフィルム濃度になるＸ線露出時間
が得られるように設定されている。なお、基準電圧Ｖr
は、予め実験的に求められるものであり、測光領域内に
造影剤や空気層が存在しない通常の臓器にＸ線を曝射し
た時に得られる基準となる電気量が積算されて、フィル
ム感度に応じた適正なＸ線露光時間に達する時の積算電
圧である（図８参照）。造影剤や空気層が存在する場合
の液晶マスク１１の各ドットＤｉの制御は後述する。

【００２０】透視プロセッサ２０は、図３に示すよう
に、ＴＶカメラ８で撮像された映像信号をデジタル信号
に変換するＡ／Ｄ変換器２１と、デジタル化された映像
信号のデータを記憶するフレームメモリ２２と、フレー
ムメモリ２２を通過したデジタル映像信号をアナログ信
号に変換するＤ／Ａ変換器２３と、フレームメモリ２２
内のデータをホールドしたり、液晶マスク１１に命令信
号を出力するＣＰＵ２４とから構成されている。

【００２１】フレームメモリ２２は、ＴＶカメラ８から
送られてきた映像信号、すなわち、図４に示すように、
測光領域Ｐに対応する領域を５１２×５１２画素群と
し、ＣＰＵ２４による処理では、この画素群Ｇを液晶マ
スク１１のドット数（１００ドット）に対応して１００
等分して取り扱われる。すなわち、エリアＡ₁ がドット
Ｄ₁ に対応する。

【００２２】次に、Ｘ線露光制御、及び撮影動作を図５
〜図８を参照して説明する。図５はフローチャート、図
６は食道Ｓ周辺を撮影する場合の液晶マスク１１の構成
を示す模式図、図７は造影剤を含んだ胃Ｅを撮影する場
合の液晶マスク１１の構成を示す模式図、図８は充電電
圧Ｖs と基準電圧Ｖr との関係を示す図である。

【００２３】（１）まず、撮影器３が退避し（図１に実
線で示す位置）、Ｘ線が曝射されてＴＶモニタ９に被検
体Ｍの透視像が映し出されている状態で関心部位が決め
られた後、術者が、撮影スイッチＳＷを操作することに
より、Ｘ線露出制御が開始される。

【００２４】ステップ１，２：ＣＰＵ２４は、スイッチ
ＳＷがＯＮされたか判断し、スイッチＳＷがＯＮなら
ば、後述する各値を初期化する。すなわち、図４の分割
エリアＡｉ（ｉ＝１〜１００）のアドレスｉを設定する
レジスタを「１」に、明るいエリアの個数ａを計数する
レジスタを「０」に、暗いエリアの個数ｂを計数するレ
ジスタを「０」にそれぞれ初期化する。

【００２５】ステップ３：次に、ＣＰＵ２４は、フレー
ムメモリ２２にホールド信号を出力し、フレームメモリ
２２内の輝度データをホールドさせる。

【００２６】ステップ４〜１１：そして、画素群Ｇの１
００等分された各エリアＡｉ毎に、各画素上のデータの
総和Σｖｉを求め、このデータ総和値ｖｉと上限基準レ
ベルＶ_U とを比較する。例えば、画素群ＧのエリアＡ₁
のデータ総和値ｖ₁ が上限基準レベルＶ_U より大きけれ
ば、ステップ６に進み、明るいエリアの個数ａを計数す
るレジスタの内容を一つカウントアップするとともに、
画素群ＧのエリアＡ₁に対応する液晶マスク１１のドッ
トＤ₁ をマスキングする。例えば、図６に示す測光領域
Ｐａにおいて、Ｘ線透過量の多い肺部分ＡａのドットＤ
ａをマスキングする。ここで、上限基準レベルＶ_U は実
験で求められた値であり、予めＣＰＵ２４に記憶させて
いる。なお、上限基準レベルＶ_U は図示しない操作部か
ら入力するようにしてもよい。

【００２７】エリアＡ₁ の処理が終了すると、アドレス
ｉを一つカウントアップし、ステップ４に戻って次のエ
リアＡ₂ において、上記したステップ４，５の処理を繰
り返す。

【００２８】エリアＡ₂ のデータ総和値ｖ₂ が下限基準
レベルＶ_L より小さければ、ステップ１０に進み、暗い
エリアの個数ｂを計数するレジスタの内容を一つカウン
トアップするとともに、画素群ＧのエリアＡ₂ に対応す
る液晶マスク１１のドットＤ₂ をマスキングする。例え
ば、図７に示す測光領域Ｐｂにおいて、Ｘ線透過量の少
ない部分ＡｂのドットＤｂをマスキングする。ここで、
下限基準レベルＶ_L は実験で求められた値であり、予め
ＣＰＵ２４に記憶させている。なお、下限基準レベルＶ
_L は図示しない操作部から入力するようにしてもよい。

【００２９】そして、エリアＡ₂ の処理が終了すると、
アドレスｉを一つカウントアップし、ステップ４に戻っ
て次のエリアＡ₃ において、上記したステップ４〜１０
の処理を繰り返す。

【００３０】エリアＡ₃ のデータ総和値ｖ₃ が上下基準
レベルＶ_U ，Ｖ_L の範囲内であれば、ステップ１１に進
む。このようにして、画素群ＧのエリアＡ₁ からエリア
Ａ_{10 0} までの各エリアＡｉ毎にステップ４〜１０の処理
を繰り返し、まず上下基準レベルＶ_U ，Ｖ_L から外れた
レベル外分割領域である各エリアＡｉに対応する液晶マ
スク１１の各ドットＤｉを全てマスキングする。

【００３１】ステップ１２，１３：そして、エリアＡ
₁₀₀ の処理が終了したことを判断すると、上記したマス
キングＯＮ：５０ドット、マスキングＯＦＦ：５０ドッ
トの割合、すなわち、測光領域Ｐの光量を基準電圧Ｖr
に応じた適正な光量にするために、上下基準レベル
Ｖ_U ，Ｖ_L から外れてマスキングされたエリア以外の残
りのマスキングエリアを算出する。すなわち、５０ドッ
ト−（明るいエリアの個数ａ＋暗いエリアの個数ｂ）を
算出し、算出されたマスキングエリアをマスキングす
る。以下に具体的に説明する。

【００３２】図６に示すように、上基準レベルＶ_U から
外れたエリアに対応するドットＤａを３２ヵ所マスキン
グしたとすると、残りのマスキングエリアは１８ヵ所に
なり、この１８ヵ所のドットＤｃを、上から順番に一つ
置きにマスキングする。すなわち、上基準レベルＶ_U か
ら外れたエリアを含めて５０ヵ所のエリアをマスキング
する。これにより、測光領域Ｐに空気層が存在しても、
光電子増倍管１２に入射する光量が常に基準値Ｖｒに応
じた適正な値になる。なお、図２に示すように、単に５
０ヵ所のエリアだけをマスキングするだけでは、マスキ
ングをしないエリアに空気層が存在するとＸ線透過量が
多くなるので、マスキングエリアの割合は同じでも光量
が多くなり、フィルム濃度が低くくなる。従って、空気
層を含んだ部分を全てマスキングしたうえでマスキング
エリアが５０ヵ所になるように残りのエリアをマスキン
グしている。

【００３３】一方、図７に示すように、下基準レベルＶ
_L から外れたエリアに対応するドットＤｂを２３ヵ所マ
スキングしたとすると、残りのマスキングエリアは２７
ヵ所になり、この２７ヵ所のドットＤｃを、上から順番
に一つ置きにマスキングする。すなわち、下基準レベル
Ｖ_L から外れたエリアを含めて５０ヵ所のエリアをマス
キングする。これにより、測光領域Ｐに造影剤が存在し
ても、光電子増倍管１２に入射する光量が常に基準値Ｖ
ｒに応じた適正な値になる。なお、上記と同様に、単に
５０ヵ所のエリアだけをマスキングするだけでは、マス
キングをしないエリアに造影剤が存在するとＸ線が透過
しないので、マスキングエリアの割合が増加することに
なり、フィルム濃度が高くなる。従って、造影剤を含ん
だ部分を全てマスキングしたうえでマスキングエリアが
５０ヵ所になるように残りのエリアをマスキングしてい
る。

【００３４】ステップ１４：液晶マスク１１がマスキン
グされると、ＣＰＵ２４の指示に基づいて、以下のよう
に、Ｘ線撮影が開始される。なお、ここで、術者が、撮
影用スイッチＳＷを操作することにより、Ｘ線撮影が開
始されようにしてもよい。

【００３５】（２）まず、Ｘ線管２のＸ線曝射を停止し
た後、撮影器３を、図１に鎖線で示す撮影位置に進入さ
せる。そして、圧着機構３ｂを作動させて一対の増感紙
３ａをフィルムＦに挟み込むように圧着させる。この状
態で、Ｘ線曝射開始信号をＸ線高電圧装置５に出力す
る。

【００３６】（３）Ｘ線高電圧装置５は、Ｘ線曝射開始
信号が与えられると、高電圧をＸ線管２に印加する。こ
れにより、Ｘ線管２から天板１に載置された被検体Ｍに
Ｘ線が曝射される。

【００３７】（４）被検体Ｍを透過した透過Ｘ線は、増
感紙３ａを介してフィルムＦに照射してＸ線露光が開始
される。フィルムＦを透過した透過Ｘ線は、I.I.４によ
って光像に変換される。そして、この光像の一部をプリ
ズム９をとおして検出器１２に導き電気量に変換する。
この際、上記したように、上下基準レベルＶ_U ，Ｖ_Lか
ら外れたエリア（レベル外分割領域）が存在すれば、レ
ベル外分割領域である液晶マスク１１の各ドットＤｉが
全て遮断されるとともに、測光領域Ｐの光量が基準値Ｖ
r に応じた適正な光量になるように、前記レベル外分割
領域以外の分割領域である液晶マスク１１の各ドットＤ
ｉが遮断制御される。この電気量を積分器１７により積
分する。この充電された電圧Ｖs を、図８に示すよう
に、比較器１５で基準電圧Ｖr と比較し、充電電圧Ｖs
が基準電圧Ｖr に達したとき、すなわち時間Ｔにおい
て、Ｘ線遮断信号をＸ線高電圧装置５に出力することに
より、Ｘ線の曝射が停止され、フィルムＦへのＸ線像の
撮影が終わる。

【００３８】以上のように、上下基準レベルＶ_U ，Ｖ_L
から外れたエリアを全て含めて基準電圧Ｖr に応じた光
量になるように液晶マスク１１の測光領域が遮断制御さ
れるので、測光領域内に造影剤や空気層が存在しても、
光電子増倍管１２に入射する光量は常に適正な値にな
る。そして、この適正な光量の充電電圧Ｖs と基準電圧
Ｖr とを比較して、充電電圧Ｖs が基準電圧Ｖr に達し
たときにＸ線露光を停止しているので、基準電圧Ｖr を
変えることなく、Ｘ線露光時間を常に適正な時間にする
ことができる。従って、適正なフィルム濃度でＸ線撮影
することができる。

【００３９】なお、上記実施例では、液晶マスク１１と
フレームメモリ２２をそれぞれ１００等分したが、この
発明はこれに限らず、両者が対応するように分割すれば
よい。

【００４０】また、上記実施例では、エリアＡｉ毎にデ
ータの総和ΣＶｉを求めて上下基準レベルＶ_U ，Ｖ_L と
比較するようにしたが、この発明はこれに限らず、例え
ば、エリアＡｉのデータの総和ΣＶｉから画素数で割っ
た平均値と１画素当たりの基準レベルとを比較するよう
にしてもよい。

【００４１】また、上記実施例では、上下基準レベルＶ
_U ，Ｖ_L から外れたエリアをマスキングした後、残りの
マスキングエリアを一つ置きにマスキングするようにし
たが、この発明はこれに限らず、例えば、図６におい
て、上から連続してマスキングしてもよく、また下から
連続してマスキングしてもよい。要するに、上下基準レ
ベルＶ_U ，Ｖ_L から外れたエリアを含めて５０ヵ所のエ
リアをマスキングすればよい。

【００４２】また、上記実施例では、液晶マスク１１の
１００ドットに対して５０ドットのエリアをマスキング
するようにしたが、この発明はこれに限らず、例えば、
測光領域内において、造影剤や空気層が多く含まれるこ
とが予想される場合には、液晶マスク１１のマスキング
エリアの割合を多くするように設定し、それに応じた基
準値Ｖｒの値を設定してもよい。

【００４３】

【発明の効果】以上の説明から明らかなように、この発
明のＸ線透視撮影装置によれば、次のような効果を奏す
る。制御手段によって、基準レベルから外れた分割領域
のレベル外分割領域を全て含めて基準値に応じた適正な
光量になるように遮光手段が遮断制御されるので、測光
領域内に造影剤や空気層が存在しても、検出手段に入射
する光量は常に適正な値になる。従って、測光領域にお
ける光量の積算値が基準値に達したときにＸ線露光を停
止させるＸ線露光時間を常に適正な時間にすることがで
き、適正なフィルム濃度でＸ線撮影することができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】この発明に係る一実施例のＸ線透視撮影装置の
構成を示すブロック図である。

【図２】液晶マスクの構成を示す模式図である。

【図３】透視プロセッサの構成を示すブロック図であ
る。

【図４】フレームメモリのデータ構成を示す模式図であ
る。

【図５】Ｘ線露光制御のフローチャートである。

【図６】食道周辺を撮影する場合の液晶マスクの構成を
示す模式図である。

【図７】造影剤を含んだ胃を撮影する場合の液晶マスク
の構成を示す模式図である。

【図８】充電電圧と基準電圧との関係を示す図である。

【図９】従来装置の構成を示すブロック図である。

【図１０】従来装置の課題を説明する図である。

【符号の説明】

１ … 天板 ２ … Ｘ線管（Ｘ線曝射手段） ３ … 撮影器（撮影手段） ４ … I.I.（イメージインテンシファイヤ）（Ｘ線検
出手段） ５ … Ｘ線高電圧装置（Ｘ線曝射手段） ７ … プリズム（分配手段） ８ … ＴＶカメラ（撮像手段） １０ … Ｘ線自動露出制御部 １１ … 液晶マスク（遮光手段） １２ … 光電子増倍管（検出手段） １３ … 積分器（積算手段） １５ … 比較器（比較手段） ２０ … 透視プロセッサ（制御手段） ２２ … フレームメモリ ２４ … ＣＰＵ

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 被検体に向けてＸ線を曝射するＸ線曝射
   手段と、被検体からの透過Ｘ線をフィルム上に撮影する
   撮影手段と、被検体からの透過Ｘ線を検出して光像に変
   換するＸ線検出手段と、前記Ｘ線検出手段で変換された
   光像の一部を測光領域として取り出す分配手段と、前記
   Ｘ線検出手段で変換された光像を撮像し、映像信号を生
   成する撮像手段と、前記分配手段で取り出された測光領
   域の光量を検出して電気信号に変換する検出手段と、前
   記検出手段からの電気信号を積算する積算手段と、前記
   積算手段で積算された積算値と基準値とを比較すること
   により、前記積算値が基準値に達した場合に前記Ｘ線曝
   射手段にＸ線遮断信号を与える比較手段と、前記検出手
   段の測光領域を分割し、その分割領域毎に遮光する遮光
   手段と、前記撮像手段の映像信号から得られる前記測光
   領域の各分割領域ごとの信号レベルと基準レベルとを比
   較して、基準レベルから外れた分割領域を検出すること
   に基づき、その領域に対応した前記遮光手段の分割領域
   のレベル外分割領域を全て遮光するとともに、前記測光
   領域の光量が前記比較手段の基準値に応じた適正な光量
   になるように前記遮光手段の前記レベル外分割領域以外
   の分割領域を選択的に遮光する制御手段と、を備えたこ
   とを特徴とするＸ線透視撮影装置。