JPH0810399Y2 - Suck back valve - Google Patents

Suck back valve

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JPH0810399Y2
JPH0810399Y2 JP8238089U JP8238089U JPH0810399Y2 JP H0810399 Y2 JPH0810399 Y2 JP H0810399Y2 JP 8238089 U JP8238089 U JP 8238089U JP 8238089 U JP8238089 U JP 8238089U JP H0810399 Y2 JPH0810399 Y2 JP H0810399Y2
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JP
Japan
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diaphragm
pressure receiving
receiving surface
control fluid
suck back
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隆 小松
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Koganei Corp
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Description

【考案の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本考案は、サックバックバルブに関し、特に、たとえ
ば、半導体ウェハへのレジスト液塗布用のノズルとレジ
スト液供給源との間に配設されるサックバックバルブな
どに適用して有効な技術に関する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Industrial field of application] The present invention relates to a suck back valve, and in particular, it is arranged, for example, between a nozzle for applying a resist liquid to a semiconductor wafer and a resist liquid supply source. The technology is effective when applied to suck back valves.

〔従来の技術〕[Conventional technology]

サックバックバルブとして、レジスト液などの制御流
体用流路と、この制御流体用流路に受圧面が露呈してサ
ックバックを行うダイヤフラムと、このダイヤフラムを
変位させるピストンなどを備えているものがある。
Some suck back valves include a flow path for control fluid such as resist liquid, a diaphragm for sucking back when the pressure receiving surface is exposed in the control fluid flow path, and a piston for displacing the diaphragm. .

たとえば、このようなサックバックバルブは、半導体
ウェハへのレジスト液塗布用のノズルと、レジスト液の
供給源との間に介在され、ダイヤフラムの変位によって
制御流体用流路の容積量を変化させることにより、不必
要なレジスト液がノズルから半導体ウェハ上に滴下され
るのを防止する。
For example, such suck-back valve is interposed between a nozzle for applying a resist solution to a semiconductor wafer and a supply source of the resist solution, and changes the volume of the control fluid flow path by the displacement of the diaphragm. This prevents unnecessary resist liquid from dropping from the nozzle onto the semiconductor wafer.

〔考案が解決しようとする課題〕[Problems to be solved by the device]

しかしながら、前記した構造のサックバックバルブ
は、サックバックを行うダイヤフラムの受圧面が制御流
体用流路の流れ方向に沿った内周壁面より外側に位置さ
れているため、ダイヤフラムの受圧面と制御流体用流路
の流れ方向に沿った内周壁面との間にデットスペースが
形成され、このデッドスペースにより泡溜まりや液溜ま
りが生じ易い。
However, in the suck-back valve having the above-described structure, the pressure-receiving surface of the diaphragm that performs suck-back is located outside the inner peripheral wall surface along the flow direction of the control fluid flow path, so that the pressure-receiving surface of the diaphragm and the control fluid are A dead space is formed between the inner peripheral wall surface along the flow direction of the working channel, and the dead space is liable to cause foam accumulation or liquid accumulation.

このため、泡溜まりによりサックバック量が不安定化
したり、あるいは液溜まりによりレジスト液などの制御
流体が変質して汚染される。
Therefore, the suck back amount becomes unstable due to the bubble accumulation, or the control fluid such as the resist liquid is deteriorated and contaminated due to the liquid accumulation.

本考案の目的は、泡溜まりや液溜まりを確実に防止す
ることができるサックバックバルブを提供することにあ
る。
An object of the present invention is to provide a suck back valve capable of reliably preventing foam accumulation and liquid accumulation.

〔課題を解決するための手段〕[Means for solving the problem]

本考案のサックバックバルブの構造は、制御流体用流
路と、この制御流体用流路に受圧面が露呈してサックバ
ックを行うダイヤフラムとを備えているサックバックバ
ルブであって、前記ダイヤフラムの受圧面が前記制御流
体用流路の流れ方向に沿った内周壁面と略同一平面上に
位置され、または前記内周壁面より該制御流体用流路内
に突出されて位置されている構造としたものである。
The structure of the suck back valve of the present invention is a suck back valve including a control fluid flow path and a diaphragm for sucking back when a pressure receiving surface is exposed in the control fluid flow path. A structure in which the pressure receiving surface is located on substantially the same plane as the inner peripheral wall surface along the flow direction of the control fluid channel, or is located so as to project from the inner peripheral wall surface into the control fluid channel. It was done.

この場合に、前記ダイヤフラムの取付面が前記受圧面
の外周側に該受圧面と段差をおいて形成されている構造
とすることができる。
In this case, it is possible to adopt a structure in which the mounting surface of the diaphragm is formed on the outer peripheral side of the pressure receiving surface with a step from the pressure receiving surface.

〔作用〕[Action]

前記したサックバックバルブの構造によれば、ダイヤ
フラムの受圧面が制御流体用流路の流れ方向に沿った内
周壁面と略同一平面上に位置され、または前記内周壁面
より該制御流体用流路内に突出されて位置されているこ
とにより、ダイヤフラムの受圧面と制御流体用流路の流
れ方向に沿った内周壁面との間にデッドスペースが形成
されないので、該デッドスペースによる泡溜まりや液溜
まりを確実に防止することができる。
According to the structure of the suck back valve described above, the pressure receiving surface of the diaphragm is located on substantially the same plane as the inner peripheral wall surface along the flow direction of the control fluid flow path, or the control fluid flow is formed from the inner peripheral wall surface. By being positioned so as to project in the passage, a dead space is not formed between the pressure receiving surface of the diaphragm and the inner peripheral wall surface along the flow direction of the control fluid flow passage, so that bubble accumulation due to the dead space or It is possible to reliably prevent the liquid pool.

この場合に、前記ダイヤフラムの取付面が前記受圧面
の外周側に該受圧面と段差をおいて形成されている構造
とすると、取付面をバルブ内の制御流体用流路の外側に
組み込んでダイヤフラムを固定することにより、前記し
た効果をともなったダイヤフラムのバルブ内への固定を
容易、かつ確実に行うことができる。
In this case, if the structure is such that the mounting surface of the diaphragm is formed on the outer peripheral side of the pressure receiving surface with a step difference from the pressure receiving surface, the mounting surface is incorporated into the outside of the flow path for control fluid in the valve and the diaphragm is installed. It is possible to easily and reliably fix the diaphragm in the valve with the above-mentioned effects by fixing the.

〔実施例1〕 第1図は本考案の一実施例であるサックバックバルブ
を示す断面図である。
[Embodiment 1] FIG. 1 is a sectional view showing a suck back valve which is an embodiment of the present invention.

プレート1が結合されているバルブ本体2には、シリ
ンダチューブ3が結合され、このシリンダチューブ3に
は、Oリングなどのシール部材4を介してカバー5が結
合されている。
A cylinder tube 3 is connected to the valve body 2 to which the plate 1 is connected, and a cover 5 is connected to the cylinder tube 3 via a seal member 4 such as an O-ring.

前記バルブ本体2は、両側面に制御流体用ポート6a,6
bが夫々開設されてこの制御流体用ポート6a,6bからなる
制御流体用流路6が内設されている。
The valve body 2 has control fluid ports 6a, 6 on both sides.
b is opened respectively, and a control fluid channel 6 composed of the control fluid ports 6a and 6b is provided therein.

制御流体用流路6の両端部側は第1図の垂直面方向の
断面が真円状に形成され、また制御流体用流路6の中間
部は同図の水平面方向の断面が真円状に形成されてい
る。
Both ends of the control fluid channel 6 are formed to have a perfect circular cross section in the vertical plane direction of FIG. 1, and the middle portion of the control fluid channel 6 has a perfect circular cross section in the horizontal plane of FIG. Is formed in.

バルブ本体2とシリンダチューブ3との間には、弾性
材などからなるダイヤフラム7がガイドワッシャ8を介
して介在され、このダイヤフラム7の受圧面7aが前記制
御流体用流路6に露呈されている。
A diaphragm 7 made of an elastic material or the like is interposed between the valve body 2 and the cylinder tube 3 via a guide washer 8, and a pressure receiving surface 7a of the diaphragm 7 is exposed to the control fluid passage 6. .

サックバックを行うダイヤフラム7の受圧面7aは、制
御流体用流路6の両端部における流れ方向に沿った内周
壁面と略同一平面上に位置され、ダイヤフラム7の受圧
面7aと制御流体用流路6の流れ方向に沿った内周壁面と
の間にデッドスペースが形成されない構造とされてい
る。
The pressure receiving surface 7a of the diaphragm 7 for sucking back is located on substantially the same plane as the inner peripheral wall surfaces along the flow direction at both ends of the control fluid flow path 6, and the pressure receiving surface 7a of the diaphragm 7 and the flow for control fluid flow. The structure is such that no dead space is formed between the passage 6 and the inner peripheral wall surface along the flow direction.

ダイヤフラム7の受圧面7aの外周側には、ダイヤフラ
ム7の取付面7bが該受圧面7aと段差Hをおいて形成さ
れ、ダイヤフラム7はその取付面7b側がバルブ本体2と
ガイドワッシャ8とによって挟持されて固定されてい
る。
On the outer peripheral side of the pressure receiving surface 7a of the diaphragm 7, a mounting surface 7b of the diaphragm 7 is formed with a step H with the pressure receiving surface 7a, and the diaphragm 7 is sandwiched between the valve body 2 and the guide washer 8 on the mounting surface 7b side. Has been fixed.

前記シリンダチューブ3はその両側面に息抜きポート
9,10が夫々開設され、一方の息抜きポート9はガイドワ
ッシャ8の上面に形成された断面V字状の溝8aを通じて
ダイヤフラム7の受圧面7aの上方の空間部に連通してい
る。
The cylinder tube 3 has breather ports on both sides thereof.
9 and 10 are opened respectively, and one breather port 9 communicates with a space above the pressure receiving surface 7a of the diaphragm 7 through a groove 8a having a V-shaped cross section formed on the upper surface of the guide washer 8.

シリンダチューブ3の軸芯上の貫通部には、シール部
材11を有するピストンロッド12が軸方向に沿って摺動自
在に貫通されている。
A piston rod 12 having a seal member 11 is slidably passed through an axially penetrating portion of the cylinder tube 3 along the axial direction.

ピストンロッド12はその一端部がダイヤフラム7の中
央の接続部7cに結合され、他端部がシール部材13を有し
ているピストン14に結合されている。
The piston rod 12 has one end connected to the central connecting portion 7c of the diaphragm 7 and the other end connected to the piston 14 having the seal member 13.

ピストン14は、シリンダチューブ3とカバー5とによ
って形成されているシリンダ室15に軸方向に沿って摺動
自在に収容され、該シリンダ室15を上側室15aと下側室1
5bとに仕切っている。
The piston 14 is slidably accommodated in the cylinder chamber 15 formed by the cylinder tube 3 and the cover 5 along the axial direction, and the cylinder chamber 15 is housed in the upper chamber 15a and the lower chamber 1
It is divided into 5b.

下側室15bには、息抜きポート10が連通され、またコ
イルばね16が収容されてこのコイルばね16によってピス
トン14がカバー5側に付勢されている。
The breather port 10 is communicated with the lower chamber 15b, and a coil spring 16 is housed therein, and the coil spring 16 urges the piston 14 toward the cover 5.

前記カバー5は一側面に作動流体用給排ポート17が開
設され、この作動流体用給排ポート17は上側室15aに連
通されている。
A working fluid supply / discharge port 17 is opened on one side of the cover 5, and the working fluid supply / discharge port 17 is communicated with the upper chamber 15a.

カバー5の軸芯上の貫通部には、シール部材18および
摘み19を有する調整ねじ20が軸方向に沿って進退自在に
螺合され、この調整ねじ20の先端側の突出量の調整によ
ってピストン14のストロークおよびダイヤフラム7の受
圧面7aの変位量(第1図の上下方向における変位量)が
調整されることにより、サックバック量が調整可能とさ
れている。
An adjusting screw 20 having a seal member 18 and a knob 19 is screwed in a penetrating portion on the axial center of the cover 5 so as to be movable back and forth along the axial direction, and the piston is adjusted by adjusting the amount of protrusion of the adjusting screw 20 on the tip side. The suck back amount can be adjusted by adjusting the stroke of 14 and the displacement amount of the pressure receiving surface 7a of the diaphragm 7 (the displacement amount in the vertical direction in FIG. 1).

なお、カバー5の外端面側には、調整ねじ20用のロッ
クナット21が設けられている。
A lock nut 21 for the adjusting screw 20 is provided on the outer end surface side of the cover 5.

次に、本実施例の作用について説明する。 Next, the operation of this embodiment will be described.

たとえば、本実施例のサックバックバルブは、制御流
体用流路6が半導体ウェハにレジスト液などを塗布する
ノズル(図示せず)と、レジスト液供給源(図示せず)
との間に介在されて配設される。
For example, the suck back valve of the present embodiment includes a nozzle (not shown) through which the control fluid channel 6 applies a resist solution or the like to a semiconductor wafer, and a resist solution supply source (not shown).
And is provided so as to be interposed therebetween.

このように配設されたサックバックバルブにおいて、
圧縮空気などの作動流体を作動流体用給排ポート17を通
じて上側室15aに供給すると、第1図に示す状態のピス
トン14,ピストンロッド12,ダイヤフラム7の受圧面7aが
同図の二点鎖線で示すようにコイルばね16の付勢力に抗
して同図の下側に変位する。
In the suck back valve arranged in this way,
When working fluid such as compressed air is supplied to the upper chamber 15a through the working fluid supply / discharge port 17, the piston 14, the piston rod 12, and the pressure receiving surface 7a of the diaphragm 7 in the state shown in FIG. As shown, the coil spring 16 is displaced to the lower side in the figure against the biasing force.

レジスト液供給源(図示せず)からのレジスト液は、
このような状態においてサックバックバルブの制御流体
用流路6を通じてノズル(図示せず)に供給されて半導
体ウェハに塗布される。
The resist liquid from the resist liquid supply source (not shown)
In such a state, it is supplied to the nozzle (not shown) through the control fluid flow path 6 of the suck back valve and applied to the semiconductor wafer.

この場合に、たとえば、ノズル(図示せず)の先端か
ら不必要なレジスト液が半導体ウェハ上に滴下するなど
のおそれが生じてきた際には、上側室15aの作動流体を
作動流体用給排ポート17を通じて外部に排出する。
In this case, for example, when there is a fear that unnecessary resist liquid may be dripped on the semiconductor wafer from the tip of the nozzle (not shown), the working fluid in the upper chamber 15a is supplied and discharged for working fluid. Discharge to the outside through port 17.

この排出により第1図の下側に変位していたピストン
14,ピストンロッド12,ダイヤフラム7の受圧面7aは、コ
イルばね16の付勢力によって同図の上側に変位し、その
受圧面7aの変位によって制御流体用流路6の容積量が変
化されることにより、不必要なレジスト液がノズル(図
示せず)から半導体ウェハ上に滴下されるのが防止され
る。
The piston displaced downward in Fig. 1 due to this discharge
14, the piston rod 12 and the pressure receiving surface 7a of the diaphragm 7 are displaced upward in the figure by the urging force of the coil spring 16, and the displacement of the pressure receiving surface 7a changes the volume of the control fluid passage 6. As a result, unnecessary resist liquid is prevented from being dropped onto the semiconductor wafer from the nozzle (not shown).

本実施例のサックバックバルブは、このようにして作
動される。
The suck back valve of this embodiment is operated in this manner.

この場合に、本実施例においては、ダイヤフラム7の
受圧面7aが制御流体用流路6の流れ方向に沿った内周壁
面と略同一平面上に位置されている構造とされているこ
とにより、ダイヤフラム7の受圧面7aと制御流体用流路
6の流れ方向に沿った内周壁面との間にデッドスペース
が形成されないので、該デッドスペースによる泡溜まり
や液溜まりを確実に防止することができる。
In this case, in the present embodiment, the pressure receiving surface 7a of the diaphragm 7 is located on substantially the same plane as the inner peripheral wall surface along the flow direction of the control fluid channel 6, Since no dead space is formed between the pressure receiving surface 7a of the diaphragm 7 and the inner peripheral wall surface along the flow direction of the control fluid flow path 6, it is possible to reliably prevent the accumulation of bubbles and liquid due to the dead space. .

また、本実施例のダイヤフラム7は、取付面7bが受圧
面7aの外周側に該受圧面7aと段差Hをおいて形成され、
その取付面7b側がバルブ本体2とガイドワッシャ8とに
よって挟持されて固定されている構造とされているの
で、前記した効果をともなったダイヤフラム7のバルブ
内への固定を容易、かつ確実に行うことができる。
Further, in the diaphragm 7 of this embodiment, the mounting surface 7b is formed on the outer peripheral side of the pressure receiving surface 7a with a step H from the pressure receiving surface 7a,
Since the mounting surface 7b side is sandwiched and fixed by the valve body 2 and the guide washer 8, the diaphragm 7 having the above-mentioned effects can be easily and surely fixed in the valve. You can

〔実施例2〕 第2図は本考案の他の実施例であるサックバックバル
ブを一部省略して示す断面図である。
[Embodiment 2] FIG. 2 is a sectional view showing a suck back valve according to another embodiment of the present invention with a part thereof omitted.

この実施例2のサックバックバルブにおいては、ダイ
ヤフラム7の受圧面7aが制御流体用流路6の両端部にお
ける流れ方向に沿った内周壁面より該制御流体用流路6
内に突出されて位置されている。
In the suck back valve according to the second embodiment, the pressure receiving surface 7a of the diaphragm 7 is formed from the inner peripheral wall surfaces along the flow direction at both ends of the control fluid passage 6 to the control fluid passage 6a.
It is located so as to project inside.

このような実施例2の構造においても、前記した実施
例1の構造と同様に、ダイヤフラム7の受圧面7aと制御
流体用流路6の流れ方向に沿った内周壁面との間には、
デッドスペースが形成されないので、該デッドスペース
による泡溜まりや液溜まりを確実に防止することができ
る。
In the structure of the second embodiment as well, similar to the structure of the first embodiment, between the pressure receiving surface 7a of the diaphragm 7 and the inner peripheral wall surface along the flow direction of the control fluid channel 6,
Since no dead space is formed, it is possible to reliably prevent the accumulation of bubbles and the accumulation of liquid due to the dead space.

以上、本考案者によってなされた考案を実施例に基づ
き具体的に説明したが、本考案は前記実施例1,2に限定
されるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲で種々
変更可能であることはいうまでもない。
Although the invention made by the inventor has been specifically described based on the embodiment, the invention is not limited to the embodiments 1 and 2 and various modifications can be made without departing from the gist of the invention. Needless to say.

たとえば、前記実施例1,2のサックバックバルブは、
半導体ウェハにレジスト液などを塗布するノズルと、レ
ジスト液供給源との間に配設されて使用されているが、
本考案のサックバックバルブはそのようなレジスト液の
流体回路中における使用に限定されるものではなく、薬
液などの所定の流体回路中における使用が可能である。
For example, the suck back valves of the above-mentioned Examples 1 and 2 are
It is used by being installed between a nozzle for applying resist liquid etc. to a semiconductor wafer and a resist liquid supply source.
The suck back valve of the present invention is not limited to the use of such a resist solution in a fluid circuit, but can be used in a predetermined fluid circuit of a chemical solution or the like.

また、前記実施例1,2のサックバックバルブは、ピス
トン14の片側だけに流体圧を供給して該ピストン14を作
動させる単動形シリンダ構造とされているが、本考案の
サックバックバルブにおいては、ピストン14の両側に流
体圧を交互に供給して該ピストン14を作動させる複動形
シリンダ構造とすることも可能である。
In addition, the suck back valve of the first and second embodiments has a single-acting cylinder structure in which the fluid pressure is supplied only to one side of the piston 14 to operate the piston 14. Can have a double-acting cylinder structure in which fluid pressure is alternately supplied to both sides of the piston 14 to operate the piston 14.

なお、前記実施例1,2のサックバックバルブにおいて
は、息抜きポート10の作動流体用給排ポート(下側室側
における作動流体用給排ポート)への変更使用が可能な
構造とされていて、この息抜きポート10の作動流体用給
排ポートへの変更使用,V形パッキンなどからなるシール
部材11,13のOリングなどからなるシール部材への交
換,コイルばね16の取外しなどにより、複動形シリンダ
構造への変更が可能な構造とされている。
In the suck back valve of the first and second embodiments, the breathing port 10 has a structure that can be used by changing to the working fluid supply / discharge port (working fluid supply / discharge port on the lower chamber side). Double-action type by changing the breather port 10 to a working fluid supply / discharge port, replacing the seal members 11 and 13 made of V-type packing with a seal member made of an O-ring, and removing the coil spring 16. The structure can be changed to a cylinder structure.

〔考案の効果〕[Effect of device]

本考案のサックバックバルブの構造によれば、以下の
効果を得ることができる。
According to the structure of the suck back valve of the present invention, the following effects can be obtained.

(1).ダイヤフラムの受圧面が制御流体用流路の流れ
方向に沿った内周壁面と略同一平面上に位置され、また
は前記内周壁面より該制御流体用流路内に突出されて位
置されていることにより、ダイヤフラムの受圧面と制御
流体用流路の流れ方向に沿った内周壁面との間にデッド
スペースが形成されないので、該デッドスペースによる
泡溜まりや液溜まりを確実に防止することができる。
(1). The pressure receiving surface of the diaphragm is located on substantially the same plane as the inner peripheral wall surface along the flow direction of the control fluid flow path, or is projected from the inner peripheral wall surface into the control fluid flow path. As a result, no dead space is formed between the pressure receiving surface of the diaphragm and the inner peripheral wall surface along the flow direction of the control fluid flow path, so that it is possible to reliably prevent the accumulation of bubbles and the accumulation of liquid due to the dead space.

(2).前記した(1)の効果により、泡溜まりによる
サックバック量の不安定化を確実に防止することができ
る。
(2). Due to the effect of (1) described above, it is possible to reliably prevent destabilization of the suck back amount due to the accumulation of bubbles.

(3).前記した(1)の効果により、液溜まりによる
制御流体の変質・汚染を確実に防止することができる。
(3). Due to the effect of (1) described above, it is possible to reliably prevent alteration and contamination of the control fluid due to the liquid pool.

(4).前記した場合に、前記ダイヤフラムの取付面が
前記受圧面の外周側に該受圧面と段差をおいて形成され
ている構造とすると、取付面をバルブ内の制御流体用流
路の外側に組み込んでダイヤフラムを固定することによ
り、前記した(1)〜(3)の効果をともなったダイヤ
フラムのバルブ内への固定を容易、かつ確実に行うこと
ができる。
(4). In the above case, if the structure is such that the mounting surface of the diaphragm is formed on the outer peripheral side of the pressure receiving surface with a step difference from the pressure receiving surface, the mounting surface is incorporated into the outside of the control fluid channel in the valve. By fixing the diaphragm, it is possible to easily and surely fix the diaphragm in the valve with the effects (1) to (3) described above.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

第1図は本考案の一実施例であるサックバックバルブを
示す断面図、第2図は本考案の他の実施例であるサック
バックバルブを一部省略して示す断面図である。 1……プレート、2……バルブ本体、3……シリンダチ
ューブ、4……シール部材、5……カバー、6……制御
流体用流路、6a,6b……制御流体用ポート、7……ダイ
ヤフラム、7a……受圧面、7b……取付面、7c……接続
部、8……ガイドワッシャ、8a……溝、9,10……息抜き
ポート、11……シール部材、12……ピストンロッド、13
……シール部材、14……ピストン、15……シリンダ室、
15a……上側室、15b……下側室、16……コイルばね、17
……作動流体用給排ポート、18……シール部材、19……
摘み、20……調整ねじ、21……ロックナット。H……段
差。
FIG. 1 is a sectional view showing a suck back valve according to an embodiment of the present invention, and FIG. 2 is a sectional view showing a suck back valve according to another embodiment of the present invention with a part thereof omitted. 1 ... Plate, 2 ... Valve body, 3 ... Cylinder tube, 4 ... Sealing member, 5 ... Cover, 6 ... Control fluid passage, 6a, 6b ... Control fluid port, 7 ... Diaphragm, 7a ... Pressure receiving surface, 7b ... Mounting surface, 7c ... Connecting part, 8 ... Guide washer, 8a ... Groove, 9,10 ... Breathing port, 11 ... Seal member, 12 ... Piston rod ,13
...... Seal member, 14 ...... Piston, 15 ...... Cylinder chamber,
15a ... upper chamber, 15b ... lower chamber, 16 ... coil spring, 17
…… Work fluid supply / discharge port, 18 …… Seal member, 19 ……
Pick, 20 …… Adjusting screw, 21 …… Lock nut. H ... step.

Claims (3)

【実用新案登録請求の範囲】[Scope of utility model registration request] 【請求項1】制御流体用流路と、この制御流体用流路に
受圧面が露呈してサックバックを行うダイヤフラムとを
備えているサックバックバルブであって、前記ダイヤフ
ラムの受圧面が前記制御流体用流路の流れ方向に沿った
内周壁面上に位置されていることを特徴とするサックバ
ックバルブ。
1. A suck back valve comprising a control fluid flow passage and a diaphragm for sucking back by exposing the pressure receiving surface to the control fluid flow passage, wherein the pressure receiving surface of the diaphragm is the control. A suck back valve, which is located on an inner peripheral wall surface along a flow direction of a fluid channel.
【請求項2】制御流体用流路と、この制御流体用流路に
受圧面が露呈してサックバックを行うダイヤフラムとを
備えているサックバックバルブであって、前記ダイヤフ
ラムの受圧面が前記制御流体用流路の流れ方向に沿った
内周壁面より該制御流体用流路内に突出されて位置され
ていることを特徴とするサックバックバルブ。
2. A suck back valve comprising a control fluid flow passage and a diaphragm for sucking back by exposing the pressure receiving surface to the control fluid flow passage, wherein the pressure receiving surface of the diaphragm is the control. A suck back valve, wherein the suck back valve is positioned so as to project from the inner peripheral wall surface along the flow direction of the fluid flow passage into the control fluid flow passage.
【請求項3】前記ダイヤフラムの取付面が前記受圧面の
外周側に該受圧面と段差をおいて形成されていることを
特徴とする請求項1、または2記載のサックバックバル
ブ。
3. The suck back valve according to claim 1, wherein the mounting surface of the diaphragm is formed on the outer peripheral side of the pressure receiving surface with a step difference from the pressure receiving surface.
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