JPH08110299A - 干渉計測定装置 - Google Patents
干渉計測定装置Info
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- JPH08110299A JPH08110299A JP3021725A JP2172591A JPH08110299A JP H08110299 A JPH08110299 A JP H08110299A JP 3021725 A JP3021725 A JP 3021725A JP 2172591 A JP2172591 A JP 2172591A JP H08110299 A JPH08110299 A JP H08110299A
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- G01N21/01—Arrangements or apparatus for facilitating the optical investigation
- G01N21/03—Cuvette constructions
- G01N21/0332—Cuvette constructions with temperature control
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- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/41—Refractivity; Phase-affecting properties, e.g. optical path length
- G01N21/45—Refractivity; Phase-affecting properties, e.g. optical path length using interferometric methods; using Schlieren methods
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- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
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- G01N21/01—Arrangements or apparatus for facilitating the optical investigation
- G01N21/03—Cuvette constructions
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- G01N21/62—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light
- G01N21/63—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light optically excited
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Abstract
(57)【要約】
【構成】干渉計装置の検出セル４は、検査媒質３を収容
する輻射線透過可能な細管２を備え、細管は、少なくと
も輻射線入射口側１６にて、およそ±２５％の許容限界
内でその材料の屈折率に相当する屈折率を有する輻射線
透過可能な調和流体１５により囲繞されて成る。これに
より細管２の外側での反射および屈折が殆どなくなるた
め、干渉縞模様が細管２中の媒質３の屈折率のみに依存
することとなる。調和流体１５は同時に細管２のための
温度制御浴として作用する。 【効果】干渉縞模様の評価を単純化することができ、簡
単な方法により評価可能な干渉縞模様を得ることができ
る干渉計測定装置が得られる。しかも、装置の温度安定
性が実質的に増大する。
する輻射線透過可能な細管２を備え、細管は、少なくと
も輻射線入射口側１６にて、およそ±２５％の許容限界
内でその材料の屈折率に相当する屈折率を有する輻射線
透過可能な調和流体１５により囲繞されて成る。これに
より細管２の外側での反射および屈折が殆どなくなるた
め、干渉縞模様が細管２中の媒質３の屈折率のみに依存
することとなる。調和流体１５は同時に細管２のための
温度制御浴として作用する。 【効果】干渉縞模様の評価を単純化することができ、簡
単な方法により評価可能な干渉縞模様を得ることができ
る干渉計測定装置が得られる。しかも、装置の温度安定
性が実質的に増大する。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、好ましくはクロマトグ
ラフィーにおける使用のための干渉計測定装置、特に特
許請求の範囲の請求項１の記載に従う干渉計方法を用い
て、透明な、好ましくは円形の細管における屈折率の変
化を検出するための装置に関する。
ラフィーにおける使用のための干渉計測定装置、特に特
許請求の範囲の請求項１の記載に従う干渉計方法を用い
て、透明な、好ましくは円形の細管における屈折率の変
化を検出するための装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】屈折率検出器は、液体クロマトグラフィ
ーにおいてそして特にＨＰＬＣ、ＳＦＣ、ＦＩＡおよび
ＣＥ用途のために用いられる。用いる検出器は一般に、
調べるべき物質が、それが溶解形態で存在するところの
液体と正確に同じ屈折率を有することを除いて、普遍的
に使用することができる。該溶液は一般に、媒質または
いわゆる移動相と呼ばれる。本発明の基礎となりかつ屈
折率の変化を測定するために使用される屈折率検出器
は、干渉計、とりわけ細管を使用したクロマトグラフィ
ー技術用のものに基礎を置くものである。細管は必要な
インターフェログラム（Interferogram)の生産において
光学的要素として使用される。
ーにおいてそして特にＨＰＬＣ、ＳＦＣ、ＦＩＡおよび
ＣＥ用途のために用いられる。用いる検出器は一般に、
調べるべき物質が、それが溶解形態で存在するところの
液体と正確に同じ屈折率を有することを除いて、普遍的
に使用することができる。該溶液は一般に、媒質または
いわゆる移動相と呼ばれる。本発明の基礎となりかつ屈
折率の変化を測定するために使用される屈折率検出器
は、干渉計、とりわけ細管を使用したクロマトグラフィ
ー技術用のものに基礎を置くものである。細管は必要な
インターフェログラム（Interferogram)の生産において
光学的要素として使用される。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】かかる検出器を使用し
た場合に起きる重要な問題は、その低い感度とその極端
な温度依存性にある。
た場合に起きる重要な問題は、その低い感度とその極端
な温度依存性にある。
【０００４】同じ干渉性光源からの二つの光束が異なる
光路に沿って通過しそしてその後同時に同場所を占めた
ときに、増幅されそして顕著となった干渉が生じる。光
路の長さは物理的な通路の長さに屈折率を乗じたものと
して定義される。したがって物理的な通路長を一定に保
った場合には、干渉模様の変位は媒質中の屈折率の変化
を測定するのに使用することができる。この場合におい
て、干渉は、例えばヘリウムネオンレーザーからの干渉
光による細管の側方照射により作られる。細管に対し指
向する個々のレーザービームは通常細管の軸線に垂直な
平面において分散される。主光線の長手軸線に関して測
定された光強度プロフィルの分散の角度は細管およびそ
の壁の屈折率およびその中に位置する媒質との次元によ
り特徴付けられる。
光路に沿って通過しそしてその後同時に同場所を占めた
ときに、増幅されそして顕著となった干渉が生じる。光
路の長さは物理的な通路の長さに屈折率を乗じたものと
して定義される。したがって物理的な通路長を一定に保
った場合には、干渉模様の変位は媒質中の屈折率の変化
を測定するのに使用することができる。この場合におい
て、干渉は、例えばヘリウムネオンレーザーからの干渉
光による細管の側方照射により作られる。細管に対し指
向する個々のレーザービームは通常細管の軸線に垂直な
平面において分散される。主光線の長手軸線に関して測
定された光強度プロフィルの分散の角度は細管およびそ
の壁の屈折率およびその中に位置する媒質との次元によ
り特徴付けられる。
【０００５】細管上に衝突した後、光線は、それらが細
管の壁上に衝突した所の角度に依りまた媒質の屈折率に
依り、異なる通路に進む。その後干渉模様は細管から平
行形態で現出する異なる一対の光束の偏向された光線間
にて現われる。結果は干渉縞模様の複雑な重ね合せにな
る。
管の壁上に衝突した所の角度に依りまた媒質の屈折率に
依り、異なる通路に進む。その後干渉模様は細管から平
行形態で現出する異なる一対の光束の偏向された光線間
にて現われる。結果は干渉縞模様の複雑な重ね合せにな
る。
【０００６】重大な問題は、評価すべき干渉縞を見出し
かつ選択することにある。何とならば、例えば細管の内
側をバイパスする光線の干渉縞のように、細管中の媒質
の屈折率が変わったときにすべての干渉縞が変化するわ
けでないからである。また種々の干渉縞模様の重ね合せ
のために、歪みの無い、明確な出力信号を得るために適
当な干渉縞（例えば一の干渉群に排他的に属する一の
縞）を見い出すことは大変困難である。
かつ選択することにある。何とならば、例えば細管の内
側をバイパスする光線の干渉縞のように、細管中の媒質
の屈折率が変わったときにすべての干渉縞が変化するわ
けでないからである。また種々の干渉縞模様の重ね合せ
のために、歪みの無い、明確な出力信号を得るために適
当な干渉縞（例えば一の干渉群に排他的に属する一の
縞）を見い出すことは大変困難である。
【０００７】したがって、本発明の課題は、冒頭に述べ
た型の装置で、それによって、相当により簡単な方法に
より評価することができる干渉縞模様を得ることが可能
な装置を提供することにある。加えて、屈折率検出器の
温度安定性を高めることにある。
た型の装置で、それによって、相当により簡単な方法に
より評価することができる干渉縞模様を得ることが可能
な装置を提供することにある。加えて、屈折率検出器の
温度安定性を高めることにある。
【０００８】
【課題を解決するための手段】かかる課題は、特許請求
の範囲第１項の特徴的事項に従う装置により、解決され
た。特に、細管は、およそ±２５％の許容限界内で、細
管の壁の屈折率に相当する屈折率を有する透明材料によ
り囲繞されることを提案するものである。その材料は好
ましくはいわゆる調和流体である。また、透明材料は、
もちろん、固体層の材料であってよい。これにより細管
の外壁での反射は避けられる。このことは実用におい
て、生じる干渉縞模様が今や細管中の媒質の屈折率にの
み依存し、そして、結果として、干渉縞模様が単純化さ
れ（より少ない重ね合せ）また適当な干渉縞について可
能なほどに選択の簡単さのために不可欠な条件が備わ
る。細管は、例えば、簡単な方法によりこの透明調和流
体の中に浸漬することができそして、例えば滴定によっ
て、調和流体の屈折率の簡単な調整を行なうことができ
る。また、調和流体のために、慣用の円形細管を使用で
きることが有利である。平面の外壁と湾曲した内表面と
を有する細管を使用することができるけれども、それは
現時点で製造することが困難であり、またそれを製造で
きる場合にあっも伴う過剰コストが不当なものとなると
ころの特別な細管を必要とする。
の範囲第１項の特徴的事項に従う装置により、解決され
た。特に、細管は、およそ±２５％の許容限界内で、細
管の壁の屈折率に相当する屈折率を有する透明材料によ
り囲繞されることを提案するものである。その材料は好
ましくはいわゆる調和流体である。また、透明材料は、
もちろん、固体層の材料であってよい。これにより細管
の外壁での反射は避けられる。このことは実用におい
て、生じる干渉縞模様が今や細管中の媒質の屈折率にの
み依存し、そして、結果として、干渉縞模様が単純化さ
れ（より少ない重ね合せ）また適当な干渉縞について可
能なほどに選択の簡単さのために不可欠な条件が備わ
る。細管は、例えば、簡単な方法によりこの透明調和流
体の中に浸漬することができそして、例えば滴定によっ
て、調和流体の屈折率の簡単な調整を行なうことができ
る。また、調和流体のために、慣用の円形細管を使用で
きることが有利である。平面の外壁と湾曲した内表面と
を有する細管を使用することができるけれども、それは
現時点で製造することが困難であり、またそれを製造で
きる場合にあっも伴う過剰コストが不当なものとなると
ころの特別な細管を必要とする。
【０００９】とりわけ細管を囲繞する調和流体が使用さ
れる場合において、細管および媒質の温度を簡単でかつ
正確な方法により制御することもまた可能である。有利
には温度制御装置は調和流体の中に浸漬された熱交換器
の形態にある。；熱交換器は好ましくはペルティエ要素
である。調和流体は同時に細管のための温度制御浴とし
て温度の安定性を実質上高めるように作用する。
れる場合において、細管および媒質の温度を簡単でかつ
正確な方法により制御することもまた可能である。有利
には温度制御装置は調和流体の中に浸漬された熱交換器
の形態にある。；熱交換器は好ましくはペルティエ要素
である。調和流体は同時に細管のための温度制御浴とし
て温度の安定性を実質上高めるように作用する。
【００１０】本発明の更なる展開は他の従属請求項にお
いて示す。本発明を、その本質的細部とともに、以下に
図面を参照しながら詳細に説明する。
いて示す。本発明を、その本質的細部とともに、以下に
図面を参照しながら詳細に説明する。
【００１１】
【実施例】図１は本実施例の測定装置の一覧図を示す。
図２は符号４で表わす検出セルの図３のII−II線におけ
る断面図を示す。図３は図２において矢印III の方向か
らみた検出セルの図を示す。図４は細管およびこれを囲
繞する調和流体を通る断面図を示す。図５および図６は
インターフェログラム(interferogram) の各例を示す。
図２は符号４で表わす検出セルの図３のII−II線におけ
る断面図を示す。図３は図２において矢印III の方向か
らみた検出セルの図を示す。図４は細管およびこれを囲
繞する調和流体を通る断面図を示す。図５および図６は
インターフェログラム(interferogram) の各例を示す。
【００１２】細管中に位置する媒質３の屈折率の変化
は、図１に示す測定装置１を使用して測定することがで
きる。細管２は屈折率検出セル４の中に配されている。
ヘリウムネオンレーザー５が干渉性光源として使用され
た。偏光子６、λ／４板７並びに光束スプリッタ８そし
て微視的対象物９は、光線の通路において一連に配置さ
れている。干渉性光の主要部１０は光束スプリッタ８を
通ってそして微視的対象物９上を経由して検出セル４に
達する。細管２中にいかなる媒質が含まれているかに依
り、特定の干渉縞模様が得られる。
は、図１に示す測定装置１を使用して測定することがで
きる。細管２は屈折率検出セル４の中に配されている。
ヘリウムネオンレーザー５が干渉性光源として使用され
た。偏光子６、λ／４板７並びに光束スプリッタ８そし
て微視的対象物９は、光線の通路において一連に配置さ
れている。干渉性光の主要部１０は光束スプリッタ８を
通ってそして微視的対象物９上を経由して検出セル４に
達する。細管２中にいかなる媒質が含まれているかに依
り、特定の干渉縞模様が得られる。
【００１３】干渉縞３０は検出器、好ましくはフォトダ
イオード１１を用いて干渉縞模様から選択される。検出
器１１は好ましくは軸線として細管２の周りにピボット
可能にある。スリット２９は、干渉縞３０の光（陽）の
部分のみがフォトダイオード１１上に当たるように干渉
縞３０の空間的広がりを定める。干渉性光の第二の部分
４０は、光束スプリッタ８において分離されてなるが、
ウェッジフィルタ１３に供給されそして対照フォトダイ
オード１４に運ばれる。フォトダイオード１１において
干渉縞３０により作られる信号および対照フォトダイオ
ード１４において作られる信号は示差増幅器１２に供給
されそして互いに比較される。ここまでの測定装置は市
販で入手可能な装置、例えばAnal.Chem.,1986,58,page5
04における D.J.Bornhopおよび N.J.Dovichiによる論文
において記載されたものに相当する。
イオード１１を用いて干渉縞模様から選択される。検出
器１１は好ましくは軸線として細管２の周りにピボット
可能にある。スリット２９は、干渉縞３０の光（陽）の
部分のみがフォトダイオード１１上に当たるように干渉
縞３０の空間的広がりを定める。干渉性光の第二の部分
４０は、光束スプリッタ８において分離されてなるが、
ウェッジフィルタ１３に供給されそして対照フォトダイ
オード１４に運ばれる。フォトダイオード１１において
干渉縞３０により作られる信号および対照フォトダイオ
ード１４において作られる信号は示差増幅器１２に供給
されそして互いに比較される。ここまでの測定装置は市
販で入手可能な装置、例えばAnal.Chem.,1986,58,page5
04における D.J.Bornhopおよび N.J.Dovichiによる論文
において記載されたものに相当する。
【００１４】干渉縞模様が作られる、より広い領域を記
録するために、スリット２９およびフォトダイオード１
１は細管の軸線の周りにピボットされ、そして示差増幅
器１２の出力信号はピボット角度θの関数として記録さ
れる（図５および図６）。
録するために、スリット２９およびフォトダイオード１
１は細管の軸線の周りにピボットされ、そして示差増幅
器１２の出力信号はピボット角度θの関数として記録さ
れる（図５および図６）。
【００１５】進展する干渉縞模様を単純化するために、
細管２は本発明に従い、細管２の壁と同じ屈折率を有す
る透明材料により囲繞される。図１ないし図４に示す実
施例に従い、細管２は、屈折率がおよそ±２５％の許容
限界内で細管の材料（通常溶融シリカ）の屈折率に相当
するところの調和液体１５中に、配置される。これによ
って細管２の外側での反射および屈折は大きく避けられ
る。従って、発生する重ね合せもまた、干渉模様が評価
の目的のために相当に単純化されて利用できる程に減少
する。好ましくは細管材料および調和流体の屈折率はほ
ぼ同一でありそして従って細管の外側での反射および屈
折は全く避けられかつ重ね合せは完全に防止される。
細管２は本発明に従い、細管２の壁と同じ屈折率を有す
る透明材料により囲繞される。図１ないし図４に示す実
施例に従い、細管２は、屈折率がおよそ±２５％の許容
限界内で細管の材料（通常溶融シリカ）の屈折率に相当
するところの調和液体１５中に、配置される。これによ
って細管２の外側での反射および屈折は大きく避けられ
る。従って、発生する重ね合せもまた、干渉模様が評価
の目的のために相当に単純化されて利用できる程に減少
する。好ましくは細管材料および調和流体の屈折率はほ
ぼ同一でありそして従って細管の外側での反射および屈
折は全く避けられかつ重ね合せは完全に防止される。
【００１６】図５および図６は記録された干渉模様をフ
ォトダイオード１１のピボット角度θの関数として示
す。図５は、調和流体１５を用いずに行なわれた測定の
例を示す一方、図６は、調和流体１５を用いて行なわれ
た測定の例を示す。細管を調和材料、好ましくは調和流
体１５により囲繞することは干渉縞模様またはフォトダ
イオード１１の記録された出力信号の相当な単純化の結
果になることが明らかに分かる。
ォトダイオード１１のピボット角度θの関数として示
す。図５は、調和流体１５を用いずに行なわれた測定の
例を示す一方、図６は、調和流体１５を用いて行なわれ
た測定の例を示す。細管を調和材料、好ましくは調和流
体１５により囲繞することは干渉縞模様またはフォトダ
イオード１１の記録された出力信号の相当な単純化の結
果になることが明らかに分かる。
【００１７】図４は細管２およびこれを囲繞する調和流
体１５を通る断面図を示す。入射口側１６および出射口
側１７は好ましくは面平行の面である。光束はその主要
光線の軸線１０により示す。既に述べたように、調和流
体１５の屈折率は±２５％の許容限界内で細管の材料の
それと釣り合う。使用する調和流体の屈折率は、例えば
滴定により釣り合わせることができる。その目的のため
に、細管の材料の屈折率より僅かに低い屈折率を有する
透明な、有機溶液は、細管の材料の屈折率より僅かに高
い屈折率を有する別の溶液を用いた滴定により、細管の
一部を滴定溶液中に浸漬するや否や、細管がもはや見え
なくなるまで、変化し続けさせることができる。
体１５を通る断面図を示す。入射口側１６および出射口
側１７は好ましくは面平行の面である。光束はその主要
光線の軸線１０により示す。既に述べたように、調和流
体１５の屈折率は±２５％の許容限界内で細管の材料の
それと釣り合う。使用する調和流体の屈折率は、例えば
滴定により釣り合わせることができる。その目的のため
に、細管の材料の屈折率より僅かに低い屈折率を有する
透明な、有機溶液は、細管の材料の屈折率より僅かに高
い屈折率を有する別の溶液を用いた滴定により、細管の
一部を滴定溶液中に浸漬するや否や、細管がもはや見え
なくなるまで、変化し続けさせることができる。
【００１８】図２および図３は検出セル４の構造を示
す。調和流体１５および細管２は互いに反対側に配置さ
れた面平行のガラス板１８、１９によりその範囲が定め
られたチャンバー２０中に配置される。好ましくはアル
ミニウムより成る金属ブロック２１はハウジングとして
使用される。この板形状の金属ブロック２１はチャンバ
ー２０を形成するために貫通開口２２を有する。この貫
通開口２２の一方側は、ハウジングに固定的にかつ密封
して接続されたガラス板１９により形成されている。該
ガラス板は好ましくは接着されている。貫通開口２２の
他方側は別の、取り外し可能に配置されたガラス板１８
により成形されており、その一の平坦側はＯ−リングに
より形成された密封リング２３上にある。圧力はこのガ
ラス板１８の他方の平坦側１に、通路窓２４を開けたま
まにする保持板２５により加えられる。保持板は、螺子
２６を用いて金属ブロック２１に接続されている。
す。調和流体１５および細管２は互いに反対側に配置さ
れた面平行のガラス板１８、１９によりその範囲が定め
られたチャンバー２０中に配置される。好ましくはアル
ミニウムより成る金属ブロック２１はハウジングとして
使用される。この板形状の金属ブロック２１はチャンバ
ー２０を形成するために貫通開口２２を有する。この貫
通開口２２の一方側は、ハウジングに固定的にかつ密封
して接続されたガラス板１９により形成されている。該
ガラス板は好ましくは接着されている。貫通開口２２の
他方側は別の、取り外し可能に配置されたガラス板１８
により成形されており、その一の平坦側はＯ−リングに
より形成された密封リング２３上にある。圧力はこのガ
ラス板１８の他方の平坦側１に、通路窓２４を開けたま
まにする保持板２５により加えられる。保持板は、螺子
２６を用いて金属ブロック２１に接続されている。
【００１９】温度安定性を増大するために、細管の温度
は制御される。特に有利な態様においては、調和流体１
５はその目的のために同時に温度制御浴として使用され
る。熱交換器２７は、調和流体１５中に浸漬されている
が、温度を調節するために使用される。金属ブロック２
１の温度もまた制御されており、その目的のために、流
体輸送管２８が示された態様に従って備えられている。
また金属ブロックの相対的に大きい質量のためにまた良
好な熱伝導特性を有する材料の使用のために、熱変動が
緩衝されることは有利である。熱交換器２７および管２
８は外部温度制御浴と接続されている。温度制御のとり
わけ好ましい方法においては、例えば一個またはそれ以
上のペルティエ要素を用いた電気的温度調節器をも備え
ることができる。備えられた温度制御測定器のため、
２．５ｘ１０-2Ｋほどの良好な温度安定性を達成するこ
とができる。調和流体１５を用いた細管２の温度の制御
は、特に、それが測定装置の光学的関連部位において直
接起きかつ、これまでに知られた装置の場合のように、
実際の測定域の上流側または下流側に配されていないこ
とに大きな利点を示すものである。
は制御される。特に有利な態様においては、調和流体１
５はその目的のために同時に温度制御浴として使用され
る。熱交換器２７は、調和流体１５中に浸漬されている
が、温度を調節するために使用される。金属ブロック２
１の温度もまた制御されており、その目的のために、流
体輸送管２８が示された態様に従って備えられている。
また金属ブロックの相対的に大きい質量のためにまた良
好な熱伝導特性を有する材料の使用のために、熱変動が
緩衝されることは有利である。熱交換器２７および管２
８は外部温度制御浴と接続されている。温度制御のとり
わけ好ましい方法においては、例えば一個またはそれ以
上のペルティエ要素を用いた電気的温度調節器をも備え
ることができる。備えられた温度制御測定器のため、
２．５ｘ１０-2Ｋほどの良好な温度安定性を達成するこ
とができる。調和流体１５を用いた細管２の温度の制御
は、特に、それが測定装置の光学的関連部位において直
接起きかつ、これまでに知られた装置の場合のように、
実際の測定域の上流側または下流側に配されていないこ
とに大きな利点を示すものである。
【００２０】しかしながら、屈折率の変化の測定の特別
な場合に関して記載された本発明による緩衝計測定装置
は、紫外線領域または赤外線領域における測定のために
もまた使用することができる。またそれは、蛍光の用途
に、とりわけレーザー有機蛍光の測定のために十分適合
される。また調和材料の層の選択は使用する輻射線の型
および該輻射線に対する材料の透過性に依る。
な場合に関して記載された本発明による緩衝計測定装置
は、紫外線領域または赤外線領域における測定のために
もまた使用することができる。またそれは、蛍光の用途
に、とりわけレーザー有機蛍光の測定のために十分適合
される。また調和材料の層の選択は使用する輻射線の型
および該輻射線に対する材料の透過性に依る。
【００２１】普通使用する輻射線は、およそ１５０ｎｍ
ないしおよそ５０００ｎｍの波長範囲内にある。それが
大変広範囲の電磁波スペクトルにおいて使用できるとい
うこの事実はそれだけで、本発明による緩衝計測定装置
の普遍的適応性を示すものである。
ないしおよそ５０００ｎｍの波長範囲内にある。それが
大変広範囲の電磁波スペクトルにおいて使用できるとい
うこの事実はそれだけで、本発明による緩衝計測定装置
の普遍的適応性を示すものである。
【００２２】全てにおいて、調和材料の層を使用したこ
と並びに、その屈折率が細管の材料の屈折率の±２５％
の許容限界内であることは、簡単な方法により、細管の
外側での測定光の干渉する反射および屈折の相当な低減
を可能にし、そしてその防止さえをも可能にする。少な
くとも囲繞媒質（普通空気）の熱伝導率より僅かに大き
い熱伝導率を有する材料の層を選択することにより、測
定装置の温度安定性をまた有意義に増大することができ
る。
と並びに、その屈折率が細管の材料の屈折率の±２５％
の許容限界内であることは、簡単な方法により、細管の
外側での測定光の干渉する反射および屈折の相当な低減
を可能にし、そしてその防止さえをも可能にする。少な
くとも囲繞媒質（普通空気）の熱伝導率より僅かに大き
い熱伝導率を有する材料の層を選択することにより、測
定装置の温度安定性をまた有意義に増大することができ
る。
【００２３】
【発明の効果】本発明によれば、細管の外側での反射お
よび屈折は殆どなくなるため、干渉縞模様が細管中の媒
質の屈折率にのみ依存することとなり、相当に単純化さ
れ、従って適当な干渉縞の選択が容易となり、簡単な方
法により評価可能な干渉縞模様を得ることができる干渉
計測定装置が提供される。また、同時に細管の温度制御
浴として作用する調和流体の採用により、装置の温度安
定性が向上するという効果もある。
よび屈折は殆どなくなるため、干渉縞模様が細管中の媒
質の屈折率にのみ依存することとなり、相当に単純化さ
れ、従って適当な干渉縞の選択が容易となり、簡単な方
法により評価可能な干渉縞模様を得ることができる干渉
計測定装置が提供される。また、同時に細管の温度制御
浴として作用する調和流体の採用により、装置の温度安
定性が向上するという効果もある。
【図１】図１は本発明の実施例の測定装置の一覧図であ
る。
る。
【図２】図２は図１中の検出セル４の図３のII−II線に
おける断面図である。
おける断面図である。
【図３】図３は図２において矢印III の方向からみた検
出セルの図である。
出セルの図である。
【図４】図４は細管およびこれを囲繞する調和流体付近
の断面図である。
の断面図である。
【図５】図５はインターフェログラム(interferogram)
の一例を示す。
の一例を示す。
【図６】図６はインターフェログラム(interferogram)
の別の例を示す。
の別の例を示す。
【符号の説明】 １ 測定装置 ２ 細管 ３ 媒質 ４ 検出セル １５ 調和流体 １６ 入射口面 １７ 出射口面 １８ ガラス板 １９ ガラス板 ２０ チャンバー ２１ 金属ブロック（ハウジング） ２３ 密封リング ２４ 通路窓 ２５ 保持板 ２７ 管
Claims (15)
- 【請求項１】 調べるべき媒質を収容するための輻射線
透過可能な、好ましくは円形の細管と、少なくとも輻射
線入射口側にて、細管２が、使用する輻射線に対し透過
可能でありかつ、およそ±２５％の許容限界内で、細管
の材料の屈折率に相当する屈折率を有する材料の層によ
り囲繞されているところの干渉計装置とを有する干渉計
測定装置。 - 【請求項２】 材料の層は入射口側および出射口側にて
細管２を囲繞するところの調和流体１５であるところの
請求項１記載の装置。 - 【請求項３】 材料の層の入射口面および出射口面１
６、１７はともに平面でありかつ好ましくは互いに平行
に配されているところの請求項１または２記載の装置。 - 【請求項４】 調和流体１５および細管２は、互いに反
対側に配置された面平行のガラス板１８、１９により範
囲を定められたチャンバー２０の中に配置されていると
ころの請求項１ないし３のうちいずれか一項記載の装
置。 - 【請求項５】 細管２の温度制御、特に恒温制御のため
に温度制御装置を備えてなるところの請求項１ないし４
のうちいずれか一項記載の装置。 - 【請求項６】 温度制御装置は、温度制御媒質をもちか
つ調和流体１５の中を通過する管２７を有するか、また
はかような熱交換器を有するところの請求項５記載の装
置。 - 【請求項７】 温度制御装置は、好ましくはペルティエ
要素を用いた電気的温度調節器を有するところの請求項
６記載の装置。 - 【請求項８】 チャンバー２０は、好ましくは温度制御
された金属ブロック２１（好ましくはアルミニウムより
成る。）の中に配置されているところの請求項４ないし
７のうちいずれか一項記載の装置。 - 【請求項９】 金属ブロック２１は、外部温度制御浴に
接続されるかまたは温度制御流体を収容するように組み
立てられている一本またはそれ以上の管２８を有すると
ころの請求項８記載の装置。 - 【請求項１０】 金属ブロック２１または同様のハウジ
ングに、チャンバーの範囲を定める二枚のガラス板１９
のうち一方は固定して接続され、そして他方は取り外し
可能に接続されているところの請求項４ないし９のうち
いずれか一項記載の装置。 - 【請求項１１】 固定されたガラス板１９はハウジング
２１に密封して接合されるかまたは同様の方法により接
続されており、また他方の取り外し可能なガラス板１８
は密封リング２３、特にＯ−リング上に一の平坦側にあ
り、そして、ハウジング２１に接続、特に締着すること
ができかつ通路窓２４を開けたままにする保持板２５に
より、圧力がリング他方の平坦側を介してガラス板１８
に加えられているところの請求項１０記載の装置。 - 【請求項１２】 使用する輻射線は、およそ１５０ｎｍ
ないしおよそ５０００ｎｍの波長を有するところの請求
項１ないし１１のうちいずれか一項記載の装置。 - 【請求項１３】 使用する輻射線は、干渉性であるとこ
ろの請求項１ないし１２のうちいずれか一項記載の装
置。 - 【請求項１４】 材料の層の屈折率は細管の材料のそれ
と釣り合うところの請求項１ないし１３のうちいずれか
一項記載の装置。 - 【請求項１５】 材料の層は空気の熱伝導率より大きい
ところの熱伝導率を有するところの請求項１ないし１４
のうちいずれか一項記載の装置。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CH18590 | 1990-01-22 | ||
| CH00185/90-1 | 1990-01-22 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH08110299A true JPH08110299A (ja) | 1996-04-30 |
Family
ID=4181202
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3021725A Pending JPH08110299A (ja) | 1990-01-22 | 1991-01-22 | 干渉計測定装置 |
Country Status (6)
| Country | Link |
|---|---|
| EP (1) | EP0440577B1 (ja) |
| JP (1) | JPH08110299A (ja) |
| AT (1) | ATE112625T1 (ja) |
| DE (1) | DE59103143D1 (ja) |
| DK (1) | DK0440577T3 (ja) |
| ES (1) | ES2062735T3 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2008256530A (ja) * | 2007-04-05 | 2008-10-23 | Shimadzu Corp | 蛍光検出器及びその蛍光検出器を備えた液体クロマトグラフ |
Families Citing this family (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0312490A (ja) * | 1989-06-09 | 1991-01-21 | Canon Inc | 強誘電性カイラルスメクチック液晶組成物およびこれを含む液晶素子 |
| DE69323060T2 (de) * | 1993-03-18 | 1999-06-10 | Novartis Ag, Basel | Optische Detektorvorrichtung für die chemische Analyse von kleinen fluiden Probenvolumina |
| FR2766923B1 (fr) * | 1997-07-30 | 1999-10-15 | France Etat | Instrument de mesure de l'indice de refraction d'un fluide |
| FR2766922B1 (fr) * | 1997-07-30 | 1999-10-15 | France Etat | Instrument de mesure de l'indice de refraction d'un fluide |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US3529896A (en) * | 1966-06-20 | 1970-09-22 | Technicon Corp | Flow cell immersed in a fluid having the same refractive index as the flow cell |
-
1991
- 1991-01-15 ES ES91810024T patent/ES2062735T3/es not_active Expired - Lifetime
- 1991-01-15 DK DK91810024.9T patent/DK0440577T3/da not_active Application Discontinuation
- 1991-01-15 AT AT91810024T patent/ATE112625T1/de not_active IP Right Cessation
- 1991-01-15 EP EP91810024A patent/EP0440577B1/de not_active Expired - Lifetime
- 1991-01-15 DE DE59103143T patent/DE59103143D1/de not_active Expired - Fee Related
- 1991-01-22 JP JP3021725A patent/JPH08110299A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2008256530A (ja) * | 2007-04-05 | 2008-10-23 | Shimadzu Corp | 蛍光検出器及びその蛍光検出器を備えた液体クロマトグラフ |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| ATE112625T1 (de) | 1994-10-15 |
| EP0440577A1 (de) | 1991-08-07 |
| DE59103143D1 (de) | 1994-11-10 |
| EP0440577B1 (de) | 1994-10-05 |
| ES2062735T3 (es) | 1994-12-16 |
| DK0440577T3 (da) | 1994-10-31 |
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