JPH08111149A - 真空バルブの製造装置 - Google Patents
真空バルブの製造装置Info
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- JPH08111149A JPH08111149A JP6245886A JP24588694A JPH08111149A JP H08111149 A JPH08111149 A JP H08111149A JP 6245886 A JP6245886 A JP 6245886A JP 24588694 A JP24588694 A JP 24588694A JP H08111149 A JPH08111149 A JP H08111149A
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- processing chamber
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- chamber
- vacuum
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Abstract
(57)【要約】
【目的】接点の表面に形成された微少な突起や表面に付
着した粒子などに起因する遮断性能と絶縁特性の低下を
防ぐ。 【構成】第1の処理室12と第2の処理室14を気密容器15
に設け、この気密容器15の外壁には、真空ポンプ16を接
続する。このうち、第1の処理室12の上部には、電子ビ
ーム出射装置11を収納し、第1の処理室12から第2の処
理室14に通じる搬送コンベア17を設ける。第2の処理室
14には、加熱装置13を設ける。第1の処理室12では、可
動通電軸7にろう付された可動電極6と固定通電軸5に
ろう付された固定電極5の表面の接点に対して、電子ビ
ーム出射装置11から出射されたビーム11aを照射して、
この接点の改質と表面の突起の解消を行う。
着した粒子などに起因する遮断性能と絶縁特性の低下を
防ぐ。 【構成】第1の処理室12と第2の処理室14を気密容器15
に設け、この気密容器15の外壁には、真空ポンプ16を接
続する。このうち、第1の処理室12の上部には、電子ビ
ーム出射装置11を収納し、第1の処理室12から第2の処
理室14に通じる搬送コンベア17を設ける。第2の処理室
14には、加熱装置13を設ける。第1の処理室12では、可
動通電軸7にろう付された可動電極6と固定通電軸5に
ろう付された固定電極5の表面の接点に対して、電子ビ
ーム出射装置11から出射されたビーム11aを照射して、
この接点の改質と表面の突起の解消を行う。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、真空バルブの製造装置
に関する。
に関する。
【0002】
【従来の技術】真空遮断器に組み込まれる真空バルブで
は、10-2Pa以下の高真空中で一対の接点を開離すること
により、真空の優れた消弧性と絶縁性を利用し、一対の
接点間を通電していた電流を遮断して、回路を開く。図
4は、その代表的な縦断面図を示し、セラミックスまた
はガラスで製造された絶縁円筒1の両端の開口部の片側
に、固定側端板2をろう付けし、開口部の他側に可動側
端板3をろう付で密封して、気密容器を構成している。
は、10-2Pa以下の高真空中で一対の接点を開離すること
により、真空の優れた消弧性と絶縁性を利用し、一対の
接点間を通電していた電流を遮断して、回路を開く。図
4は、その代表的な縦断面図を示し、セラミックスまた
はガラスで製造された絶縁円筒1の両端の開口部の片側
に、固定側端板2をろう付けし、開口部の他側に可動側
端板3をろう付で密封して、気密容器を構成している。
【0003】このうち、固定側端板2の中心には、下端
に固定電極4が接合された固定通電軸5が貫通して上端
の下面がろう付され、この固定電極4と対向して可動電
極6が図示しない操作機構に下端が連結された可動通電
軸7の上端にろう付されている。
に固定電極4が接合された固定通電軸5が貫通して上端
の下面がろう付され、この固定電極4と対向して可動電
極6が図示しない操作機構に下端が連結された可動通電
軸7の上端にろう付されている。
【0004】また、固定電極4と可動電極6Aが接触す
る対向面には、真空遮断器の用途に応じて、複数の種々
の材料の合金でなる略円板状の接点8がそれぞれの電極
にろう付されている。そして、可動通電軸7が貫通する
可動側端板3の開口部をベローズ9により気密に封止す
ることで、真空バルブ内の真空を保ちながら可動電極6
を固定電極7に接離させている。
る対向面には、真空遮断器の用途に応じて、複数の種々
の材料の合金でなる略円板状の接点8がそれぞれの電極
にろう付されている。そして、可動通電軸7が貫通する
可動側端板3の開口部をベローズ9により気密に封止す
ることで、真空バルブ内の真空を保ちながら可動電極6
を固定電極7に接離させている。
【0005】さらに、電流遮断時に接点8と電極4,6
から飛散する金属蒸気や金属溶融粉が絶縁円筒1の内面
に付着して、この絶縁円筒1の内面の絶縁特性が低下す
る現象を防ぐために、略円筒状のシールド10が電極4,
6Aの外側に挿入され、絶縁円筒1の内面に固定されて
いる。
から飛散する金属蒸気や金属溶融粉が絶縁円筒1の内面
に付着して、この絶縁円筒1の内面の絶縁特性が低下す
る現象を防ぐために、略円筒状のシールド10が電極4,
6Aの外側に挿入され、絶縁円筒1の内面に固定されて
いる。
【0006】このように構成された真空バルブの絶縁特
性と遮断性能は、接点8に採用されている材料と、その
表面状態に強く影響される。特に後者に関しては、接点
の表面に微細な突起が形成されていたり微粒子が付着し
ていた場合や、接点の表面に酸素等のガスが吸着してい
たり、塵埃などの不純物が付着(汚損)している場合に
は、それらがないときに比べて絶縁破壊電圧や遮断性能
が大きく低下することがある。
性と遮断性能は、接点8に採用されている材料と、その
表面状態に強く影響される。特に後者に関しては、接点
の表面に微細な突起が形成されていたり微粒子が付着し
ていた場合や、接点の表面に酸素等のガスが吸着してい
たり、塵埃などの不純物が付着(汚損)している場合に
は、それらがないときに比べて絶縁破壊電圧や遮断性能
が大きく低下することがある。
【0007】したがって、真空バルブの遮断性能を向上
させる一方法として、例えば特開昭63-141226号公報に
示されるように、接点の表面に電子ビームやレーザビー
ムを照射する方法が提案されている。この方法では、電
子ビームやレーザビームの照射により、接点の表面に存
在した微小な突起や微粒子を溶融し、吸着ガスや不純物
を飛散させる。
させる一方法として、例えば特開昭63-141226号公報に
示されるように、接点の表面に電子ビームやレーザビー
ムを照射する方法が提案されている。この方法では、電
子ビームやレーザビームの照射により、接点の表面に存
在した微小な突起や微粒子を溶融し、吸着ガスや不純物
を飛散させる。
【0008】真空バルブの絶縁特性と遮断性能を低下さ
せる一要因となる接点の表面の微小な突起の発生原因に
ついて説明する。接点の素材を施盤等によって加工する
と、巨視的には平滑な面が得られる。しかし、その表面
を電子顕微鏡で観察すると、鋭利な突起部や微粒子が観
察される。このうち、鋭利な突起の先端は、電圧印加時
に極めて高い電界となり、この突起の先端からトンネル
効果で電子が放出される。
せる一要因となる接点の表面の微小な突起の発生原因に
ついて説明する。接点の素材を施盤等によって加工する
と、巨視的には平滑な面が得られる。しかし、その表面
を電子顕微鏡で観察すると、鋭利な突起部や微粒子が観
察される。このうち、鋭利な突起の先端は、電圧印加時
に極めて高い電界となり、この突起の先端からトンネル
効果で電子が放出される。
【0009】すると、この電子の流れで発生するジュー
ル熱により、表面の突起が溶融し蒸発してプラズマ源と
なり、接点間の絶縁破壊となる。また、突起の先端から
放出された電子が加速されて対向した電極に衝突するこ
とにより、この衝突面から二次的に荷電粒子が放出され
る。また、接点の表面に存在する微粒子は、静電気力に
より接点間を移動して対向した電極に衝突するが、衝突
によるエネルギーがある値を超えると、微粒子が溶融蒸
発して、やはりプラズマ源となる。
ル熱により、表面の突起が溶融し蒸発してプラズマ源と
なり、接点間の絶縁破壊となる。また、突起の先端から
放出された電子が加速されて対向した電極に衝突するこ
とにより、この衝突面から二次的に荷電粒子が放出され
る。また、接点の表面に存在する微粒子は、静電気力に
より接点間を移動して対向した電極に衝突するが、衝突
によるエネルギーがある値を超えると、微粒子が溶融蒸
発して、やはりプラズマ源となる。
【0010】例えば、真空バルブの接点材料として多用
されている銅・クロム合金接点を切削加工して、表面の
粗さの最大高さが6μmの場合には、切削加工としては
かなり平滑な仕上面ということができる。
されている銅・クロム合金接点を切削加工して、表面の
粗さの最大高さが6μmの場合には、切削加工としては
かなり平滑な仕上面ということができる。
【0011】しかし、接点の表面には、前述したよう
に、微少な荒れ(ささくれ・剥がれ)が無数に形成され
ており、これらのささくれや剥がれ部分は、真空バルブ
の開閉動作の衝撃などにより、表面に起立したり、ある
いは離脱して、微小突起や微粒子となり、前述のような
絶縁破壊の要因となる。
に、微少な荒れ(ささくれ・剥がれ)が無数に形成され
ており、これらのささくれや剥がれ部分は、真空バルブ
の開閉動作の衝撃などにより、表面に起立したり、ある
いは離脱して、微小突起や微粒子となり、前述のような
絶縁破壊の要因となる。
【0012】図4に示した真空バルブは、一般に以下の
ような製造工程で組み立てられており、各部品は銀ろう
で接合されている。すなわち、防塵室で洗浄処理された
部品の接合面には、銀ろう材が挿入されて重ねられる。
重ねられた部品は、真空中で加熱接合するために真空炉
の中に挿入された後、銀ろう材が溶融するまで加熱さ
れ、部品相互の接合と図4で示した絶縁円筒1の両端の
封着が行われる。
ような製造工程で組み立てられており、各部品は銀ろう
で接合されている。すなわち、防塵室で洗浄処理された
部品の接合面には、銀ろう材が挿入されて重ねられる。
重ねられた部品は、真空中で加熱接合するために真空炉
の中に挿入された後、銀ろう材が溶融するまで加熱さ
れ、部品相互の接合と図4で示した絶縁円筒1の両端の
封着が行われる。
【0013】このような真空バルブの製造装置で製作さ
れた真空バルブの接点やその他の構成部品の表面には、
大気中のガスを吸着して形成された、厚さが数百オング
ストロムの吸着ガス層で覆われている。たとえば、材料
が銅の場合には、表面はCuOやCu2 O等の銅の酸化
物で覆われている。
れた真空バルブの接点やその他の構成部品の表面には、
大気中のガスを吸着して形成された、厚さが数百オング
ストロムの吸着ガス層で覆われている。たとえば、材料
が銅の場合には、表面はCuOやCu2 O等の銅の酸化
物で覆われている。
【0014】吸着ガス層は、真空炉での加熱処理によっ
て除去されるが、完全に除くことはできないので、厚さ
が数十オングストロムの吸着ガス層が電極の表面に形成
される。このような吸着ガス層が形成されると、前述し
たように低い電圧で吸着ガス層がジュール熱により溶融
・蒸発し、絶縁破壊の要因となる。
て除去されるが、完全に除くことはできないので、厚さ
が数十オングストロムの吸着ガス層が電極の表面に形成
される。このような吸着ガス層が形成されると、前述し
たように低い電圧で吸着ガス層がジュール熱により溶融
・蒸発し、絶縁破壊の要因となる。
【0015】また、前述したように真空バルブの部品の
組立は、クラス1,000 〜100,000 の防塵室内で行われて
いるので、防塵室内に残留していた塵埃が接点や部品の
表面に付着する。この接点や部品に付着した塵埃は、微
粒子と同様に静電気により接点間を移動して、対向電極
に衝突するが、この衝突によるエネルギーがある値を超
えると、微粒子が溶融し蒸発して、やはりプラズマ源と
なる。
組立は、クラス1,000 〜100,000 の防塵室内で行われて
いるので、防塵室内に残留していた塵埃が接点や部品の
表面に付着する。この接点や部品に付着した塵埃は、微
粒子と同様に静電気により接点間を移動して、対向電極
に衝突するが、この衝突によるエネルギーがある値を超
えると、微粒子が溶融し蒸発して、やはりプラズマ源と
なる。
【0016】このような電極表面の微小突起,微粒子,
吸着ガス,付着物を除くために、真空遮断器の完成後に
は、実際に電流を遮断する電流コンディショニング処理
や、高電圧を印加して絶縁破壊を繰り返す電圧コンディ
ショニング処理が行われている。
吸着ガス,付着物を除くために、真空遮断器の完成後に
は、実際に電流を遮断する電流コンディショニング処理
や、高電圧を印加して絶縁破壊を繰り返す電圧コンディ
ショニング処理が行われている。
【0017】
【発明が解決しようとする課題】ところが、このうち、
前者の電流コンディショニング処理においては、安全性
と簡便性の点から小電流を遮断した場合には、アークが
接点の一部分の間で点弧し、全面に亘る突起や異物の除
去ができないおそれがあり、逆に大電流で処理すると、
絶縁円筒の内面が汚損したり、ときには電極部まで溶融
して、耐電圧性能が低下するおそれもある。
前者の電流コンディショニング処理においては、安全性
と簡便性の点から小電流を遮断した場合には、アークが
接点の一部分の間で点弧し、全面に亘る突起や異物の除
去ができないおそれがあり、逆に大電流で処理すると、
絶縁円筒の内面が汚損したり、ときには電極部まで溶融
して、耐電圧性能が低下するおそれもある。
【0018】また、真空バルブの電極を開閉する際に
は、接点間に印加されている電圧により接点が実際に接
触する直前に絶縁破壊が生じ、プレアーク(先行放電)
が点弧し突入電流が流れる。さらに、接点が接触した後
にバウンドするチャタリング現象が発生することもあ
る。
は、接点間に印加されている電圧により接点が実際に接
触する直前に絶縁破壊が生じ、プレアーク(先行放電)
が点弧し突入電流が流れる。さらに、接点が接触した後
にバウンドするチャタリング現象が発生することもあ
る。
【0019】このような狭い接点間隙で点弧したアーク
は、充分に拡散することができないため、接点間に注入
されるエネルギー密度が高くなり、接点の接触面が部分
的に溶着するおそれもある。この溶着面積は僅かである
ので、真空バルブの開極動作により比較的容易に引き剥
がされる。しかし、その結果、前述した銅・クロム接点
の表面に大きな突起が形成される。
は、充分に拡散することができないため、接点間に注入
されるエネルギー密度が高くなり、接点の接触面が部分
的に溶着するおそれもある。この溶着面積は僅かである
ので、真空バルブの開極動作により比較的容易に引き剥
がされる。しかし、その結果、前述した銅・クロム接点
の表面に大きな突起が形成される。
【0020】この突起の表面は接点母材がむき出しで、
引き続き行われる開閉動作により組成粒子が離脱し易い
状態になっており、さらに、突起の先端では、電界も高
くなっているため、このような微粒子が静電気によって
浮上し易く、前述の接点間の絶縁破壊が生じ易い。
引き続き行われる開閉動作により組成粒子が離脱し易い
状態になっており、さらに、突起の先端では、電界も高
くなっているため、このような微粒子が静電気によって
浮上し易く、前述の接点間の絶縁破壊が生じ易い。
【0021】一方、このような電流コンディショニング
処理は、真空バルブの製造工程を増やし、製作期間が長
くなる。つまり、真空バルブの完成後に、この真空バル
ブに操作機構に連結して電流コンディショニング処理を
行うため、作業工程が増え製作期間が長くなる。
処理は、真空バルブの製造工程を増やし、製作期間が長
くなる。つまり、真空バルブの完成後に、この真空バル
ブに操作機構に連結して電流コンディショニング処理を
行うため、作業工程が増え製作期間が長くなる。
【0022】そこで、本発明の目的は、接点の表面に形
成される微小突起,微粒子,吸着ガス,付着物などに起
因する絶縁性能の低下を防ぐことのできる真空バルブの
製造装置を得ることにある。
成される微小突起,微粒子,吸着ガス,付着物などに起
因する絶縁性能の低下を防ぐことのできる真空バルブの
製造装置を得ることにある。
【0023】
【課題を解決するための手段】請求項1及び請求項2に
記載の発明の真空バルブの製造装置は、真空バルブの構
成部品が収納される第1の処理室を片側に設け、構成部
品で組み立てられた真空バルブが収納される第2の処理
室を他側に設け、第1の処理室と第2の処理室を結ぶ搬
送装置を収納し、外壁に真空ポンプが接続された気密容
器を備え、構成部品の接点の表面にビームを照射するビ
ーム照射器を第1の処理室に収納し、搬送装置によって
第1の処理室から搬送された真空バルブの端板と真空バ
ルブの絶縁筒をろう付する加熱装置を第2の処理室の外
周に設けたことを特徴とする。なお、加熱装置を第2の
処理室の内側に収納してもよい。
記載の発明の真空バルブの製造装置は、真空バルブの構
成部品が収納される第1の処理室を片側に設け、構成部
品で組み立てられた真空バルブが収納される第2の処理
室を他側に設け、第1の処理室と第2の処理室を結ぶ搬
送装置を収納し、外壁に真空ポンプが接続された気密容
器を備え、構成部品の接点の表面にビームを照射するビ
ーム照射器を第1の処理室に収納し、搬送装置によって
第1の処理室から搬送された真空バルブの端板と真空バ
ルブの絶縁筒をろう付する加熱装置を第2の処理室の外
周に設けたことを特徴とする。なお、加熱装置を第2の
処理室の内側に収納してもよい。
【0024】また、請求項3及び請求項4並びに請求項
5に記載の発明の真空バルブの製造装置は、真空バルブ
の構成部品が収納される第1の処理室を片側に設け、構
成部品で仮組みされた真空バルブが収納される第2の処
理室を他側に設け、第1の処理室と第2の処理室の間に
組立室を設け、第1の処理室及び組立室と第2の処理室
を結ぶ搬送装置を収納し、外壁に真空ポンプが接続され
た気密容器を備え、構成部品の接点の表面にビームを照
射するビーム照射器を第1の処理室に収納し、組立室で
仮組みされ搬送装置によって搬送された真空バルブの端
板と真空バルブの絶縁筒をろう付する加熱装置を第2の
処理室の内周に設けたことを特徴とする。なお、組立室
の天井部に構成部品を組立てる組立ロボットを設けても
よく、さらに、組立室に不活性ガスが封入してもよい。
5に記載の発明の真空バルブの製造装置は、真空バルブ
の構成部品が収納される第1の処理室を片側に設け、構
成部品で仮組みされた真空バルブが収納される第2の処
理室を他側に設け、第1の処理室と第2の処理室の間に
組立室を設け、第1の処理室及び組立室と第2の処理室
を結ぶ搬送装置を収納し、外壁に真空ポンプが接続され
た気密容器を備え、構成部品の接点の表面にビームを照
射するビーム照射器を第1の処理室に収納し、組立室で
仮組みされ搬送装置によって搬送された真空バルブの端
板と真空バルブの絶縁筒をろう付する加熱装置を第2の
処理室の内周に設けたことを特徴とする。なお、組立室
の天井部に構成部品を組立てる組立ロボットを設けても
よく、さらに、組立室に不活性ガスが封入してもよい。
【0025】
【作用】真空バルブの接点は、第1の処理室のビーム照
射器で照射されるビームによって、表面の微小な突起が
溶融され表面に付着したガスが飛散され、組織が微細に
改質されるとともに、真空ポンプによって真空状態とな
る第2の処理室で最終の封着が行われる。
射器で照射されるビームによって、表面の微小な突起が
溶融され表面に付着したガスが飛散され、組織が微細に
改質されるとともに、真空ポンプによって真空状態とな
る第2の処理室で最終の封着が行われる。
【0026】
【実施例】以下、本発明の真空バルブの製造装置の一実
施例を図面を参照して説明する。図1は、請求項1及び
請求項2に記載の発明の真空バルブの製造装置を示す縦
断面図である。図1において、正面から見て略凹字状に
形成され外周をステンレス鋼板で気密に製造された気密
容器15は、左側の第1の処理室12と右側の第2の処理室
13で構成されている。これらの第1の処理室12と第2の
処理室14の下部には、無端状の搬送コンベア17が設置さ
れている。
施例を図面を参照して説明する。図1は、請求項1及び
請求項2に記載の発明の真空バルブの製造装置を示す縦
断面図である。図1において、正面から見て略凹字状に
形成され外周をステンレス鋼板で気密に製造された気密
容器15は、左側の第1の処理室12と右側の第2の処理室
13で構成されている。これらの第1の処理室12と第2の
処理室14の下部には、無端状の搬送コンベア17が設置さ
れている。
【0027】このうち、左側の第1の処理室12の下部の
搬送コンベア17の左端の上面には、図示しない昇降機構
付のパレットが固定され、このパレットの上面には、図
示しない組立治具が載置・固定され、この組立治具に
は、以下説明する可動側通電部30が載置されている。
搬送コンベア17の左端の上面には、図示しない昇降機構
付のパレットが固定され、このパレットの上面には、図
示しない組立治具が載置・固定され、この組立治具に
は、以下説明する可動側通電部30が載置されている。
【0028】すなわち、この組立治具には、図4で示し
た可動側端板3が載置された状態で位置決めされ、この
可動側端板3には、同じく図4で示したベローズ9があ
らかじめ載置されてろう付されている。さらに、ベロー
ズ9には、可動側通電軸7が挿入され、あらかじめベロ
ーズ9にろう付されている。この可動側通電軸7の上面
には、可動電極6が載置されあらかじめろう付されてい
る。
た可動側端板3が載置された状態で位置決めされ、この
可動側端板3には、同じく図4で示したベローズ9があ
らかじめ載置されてろう付されている。さらに、ベロー
ズ9には、可動側通電軸7が挿入され、あらかじめベロ
ーズ9にろう付されている。この可動側通電軸7の上面
には、可動電極6が載置されあらかじめろう付されてい
る。
【0029】さらに、可動側通電部30の右端には、以下
説明する固定側通電部31が図示しない組立治具に載置さ
れている。すなわち、この組立治具には、固定通電軸5
が載置され、この固定通電軸5には、固定側端板2があ
らかじめ挿入され固定側通電軸5にろう付されている。
固定通電軸5の上端には、固定電極5が図示しない円板
状のろう材を介してろう付されている。
説明する固定側通電部31が図示しない組立治具に載置さ
れている。すなわち、この組立治具には、固定通電軸5
が載置され、この固定通電軸5には、固定側端板2があ
らかじめ挿入され固定側通電軸5にろう付されている。
固定通電軸5の上端には、固定電極5が図示しない円板
状のろう材を介してろう付されている。
【0030】第1の処理室12の上方には、電子ビーム出
射装置11が取り付けられ、この電子ビーム出射装置11の
下面には、図示しないビーム出射口が突設されている。
気密容器15の右端に形成された第2の処理室14の上部外
周には、縦断面が逆U字状の加熱装置13が載置されてい
る。また、気密容器15の下端中央部には、図示しない空
圧継手が螺合され、この空圧継手には、配圧33Aの片側
が接続されている。この配管33Aの他側には空圧バルブ
23の片側が接続され、この空圧バルブ23の他側には、配
管33Bを介して真空ポンプ16が接続されている。
射装置11が取り付けられ、この電子ビーム出射装置11の
下面には、図示しないビーム出射口が突設されている。
気密容器15の右端に形成された第2の処理室14の上部外
周には、縦断面が逆U字状の加熱装置13が載置されてい
る。また、気密容器15の下端中央部には、図示しない空
圧継手が螺合され、この空圧継手には、配圧33Aの片側
が接続されている。この配管33Aの他側には空圧バルブ
23の片側が接続され、この空圧バルブ23の他側には、配
管33Bを介して真空ポンプ16が接続されている。
【0031】このように構成された真空バルブの製造装
置においては、真空ポンプ16によって気密容器15の内部
は10-2Pa以下に維持されている。この状態で、気密容
器15に隣接して設置された図示しない制御装置の指令に
よって、電子ビーム出射装置11の電源側に接続された接
触器が投入されると、電子ビーム出射装置11から出射さ
れたビーム11aは、図1の破線で示すように、隣接した
固定電極4と可動電極6に照射される。
置においては、真空ポンプ16によって気密容器15の内部
は10-2Pa以下に維持されている。この状態で、気密容
器15に隣接して設置された図示しない制御装置の指令に
よって、電子ビーム出射装置11の電源側に接続された接
触器が投入されると、電子ビーム出射装置11から出射さ
れたビーム11aは、図1の破線で示すように、隣接した
固定電極4と可動電極6に照射される。
【0032】すると、これらの固定電極4と可動電極6
の表面は加熱され、これらの固定電極4と可動電極6の
表面に形成されていた微少な突起や、表面に付着してい
た微細な粒子は溶融され、気化し飛散して除去される。
さらに、このビーム11aによって加熱された固定電極4
と可動電極6の表面にろう付されている接点は、加熱に
よって上昇した熱により加熱され微細な組織に改質され
る。
の表面は加熱され、これらの固定電極4と可動電極6の
表面に形成されていた微少な突起や、表面に付着してい
た微細な粒子は溶融され、気化し飛散して除去される。
さらに、このビーム11aによって加熱された固定電極4
と可動電極6の表面にろう付されている接点は、加熱に
よって上昇した熱により加熱され微細な組織に改質され
る。
【0033】したがって、真空遮断器などに組み込まれ
て事故電流などを遮断する場合には、固定電極4と可動
電極6との間において荷電粒子が移動する現象を解消す
ることができるので、固定電極4と可動電極6との間の
絶縁耐力の低下や、遮断性能の低下を防ぐことができ
る。
て事故電流などを遮断する場合には、固定電極4と可動
電極6との間において荷電粒子が移動する現象を解消す
ることができるので、固定電極4と可動電極6との間の
絶縁耐力の低下や、遮断性能の低下を防ぐことができ
る。
【0034】なお、第1の処理室12で固定電極4と可動
電極6の接点が改質された可動側通電部30と固定側通電
部31は、この第1の処理室12に設置された図示しない多
関節ロボットによって、絶縁円筒を介して組み立てら
れ、図示しない制御装置で駆動される搬送コンベア17に
よって、右側に形成された第2の処理室14に搬送され、
所定の位置に停止される。
電極6の接点が改質された可動側通電部30と固定側通電
部31は、この第1の処理室12に設置された図示しない多
関節ロボットによって、絶縁円筒を介して組み立てら
れ、図示しない制御装置で駆動される搬送コンベア17に
よって、右側に形成された第2の処理室14に搬送され、
所定の位置に停止される。
【0035】すると、図示しないパレットに内蔵されて
いる昇降機構によって図1の一点鎖線で示す位置まで上
昇される。次に、図示しない制御装置によって加熱装置
13に通電され、第2の処理室14と固定側端板2,可動側
端板3及び絶縁円筒24が加熱されて、固定側端板2及び
可動側端板3は絶縁円筒24にろう付される。なお、上記
実施例において、接点を改質し表面を平滑且つ浄化する
電子ビーム出射装置11の代りに、レーザ加工装置を使っ
てもよい。
いる昇降機構によって図1の一点鎖線で示す位置まで上
昇される。次に、図示しない制御装置によって加熱装置
13に通電され、第2の処理室14と固定側端板2,可動側
端板3及び絶縁円筒24が加熱されて、固定側端板2及び
可動側端板3は絶縁円筒24にろう付される。なお、上記
実施例において、接点を改質し表面を平滑且つ浄化する
電子ビーム出射装置11の代りに、レーザ加工装置を使っ
てもよい。
【0036】次に、図2は、請求項3,請求項4及び請
求項5に記載の発明の真空バルブの製造装置を示す縦断
面図で、図1に対応する図である。図2において、図1
と異なるところは、気密容器15Aの中央部に仕切り15
a,15bが垂設されて、この間に後述する組立室18が設
けられていることと、第2の処理室14には、加熱装置13
Aが内蔵されていることが大きく異なっている。
求項5に記載の発明の真空バルブの製造装置を示す縦断
面図で、図1に対応する図である。図2において、図1
と異なるところは、気密容器15Aの中央部に仕切り15
a,15bが垂設されて、この間に後述する組立室18が設
けられていることと、第2の処理室14には、加熱装置13
Aが内蔵されていることが大きく異なっている。
【0037】このうち、第3の処理室18には、天井部に
多関節ロボット19がアーム19aを下側にして取り付けら
れ、この多関節ロボット19の各軸を駆動するモータは、
前述した制御装置に接続されている。なお、絶縁筒24
は、処理室18の紙面直交方向に設けられた図示しないパ
レットにあらかじめ載置されている。
多関節ロボット19がアーム19aを下側にして取り付けら
れ、この多関節ロボット19の各軸を駆動するモータは、
前述した制御装置に接続されている。なお、絶縁筒24
は、処理室18の紙面直交方向に設けられた図示しないパ
レットにあらかじめ載置されている。
【0038】また、気密装置15Aの右側に垂設された仕
切り15bの下部の中央部には、図示しない側面図では逆
U字状の切欠き部18aが形成されている。この切欠き部
18aの左側には、仕切り15bの左側面に縦設された図示
しない案内部に両側が嵌合した詳細省略したシャッタ34
が添設されている。その他は、図1と同様で、同一部分
には同一符号を付して説明を省略する。
切り15bの下部の中央部には、図示しない側面図では逆
U字状の切欠き部18aが形成されている。この切欠き部
18aの左側には、仕切り15bの左側面に縦設された図示
しない案内部に両側が嵌合した詳細省略したシャッタ34
が添設されている。その他は、図1と同様で、同一部分
には同一符号を付して説明を省略する。
【0039】このように構成された真空バルブの製造装
置においても、第1の処理室12においては、図1で示し
た第1の処理室12と同様に、電子ビーム照射装置11から
出射されたビーム11aによって、固定電極4と可動電極
6の表面にろう付された接点の改質が行われる。
置においても、第1の処理室12においては、図1で示し
た第1の処理室12と同様に、電子ビーム照射装置11から
出射されたビーム11aによって、固定電極4と可動電極
6の表面にろう付された接点の改質が行われる。
【0040】これらの固定電極4と可動電極6の改質が
行われた可動側通電部30と固定側通電部31は、搬送コン
ベア17によって右側に設けられた組立室18に搬送され、
所定の位置に位置決めされる。
行われた可動側通電部30と固定側通電部31は、搬送コン
ベア17によって右側に設けられた組立室18に搬送され、
所定の位置に位置決めされる。
【0041】すると、搬送コンベア17に設置されている
図示しないリミットスイッチの動作信号によって、制御
装置は、多関節ロボット19をあらかじめ教示した軌跡に
従い駆動して、組立室18に設置されたパレット上のシー
ルド付の絶縁筒24を把持して、固定側端板2の上面に載
置する。
図示しないリミットスイッチの動作信号によって、制御
装置は、多関節ロボット19をあらかじめ教示した軌跡に
従い駆動して、組立室18に設置されたパレット上のシー
ルド付の絶縁筒24を把持して、固定側端板2の上面に載
置する。
【0042】次に、多関節ロボット19は、更に駆動さ
れ、可動側通電部30の可動側通電軸7を把持して、この
可動側通電部30に組み込まれた可動側端板3を絶縁筒24
の上面に、可動側通電軸7を固定側通電軸5と同一軸心
線上にして載置する。
れ、可動側通電部30の可動側通電軸7を把持して、この
可動側通電部30に組み込まれた可動側端板3を絶縁筒24
の上面に、可動側通電軸7を固定側通電軸5と同一軸心
線上にして載置する。
【0043】多関節ロボット19のグリップが可動側通電
軸7から離れて、各アームが上方に退避すると、搬送コ
ンベア17が駆動され、仮組状態の真空バルブは第2の処
理室14に搬送され、所定の位置に停止された後、図示し
ない昇降機構によって上昇される。以下、加熱装置13A
によって、固定側端板2と可動側端板3は、図1で示し
た実施例と同様に、絶縁筒24にそれぞれろう付される。
軸7から離れて、各アームが上方に退避すると、搬送コ
ンベア17が駆動され、仮組状態の真空バルブは第2の処
理室14に搬送され、所定の位置に停止された後、図示し
ない昇降機構によって上昇される。以下、加熱装置13A
によって、固定側端板2と可動側端板3は、図1で示し
た実施例と同様に、絶縁筒24にそれぞれろう付される。
【0044】なお、仕切り15bの下部左側面に添設され
たシャッタ34は、仮組状態の真空バルブが第2の処理室
14に直前に上方に駆動される。次に、真空バルブが第2
の処理室に搬送されると、搬送コンベアに設けられた図
示しないリミットスイッチの検出信号が入力された制御
装置によって、空圧シリンダが作動して、再び下方に復
帰する。
たシャッタ34は、仮組状態の真空バルブが第2の処理室
14に直前に上方に駆動される。次に、真空バルブが第2
の処理室に搬送されると、搬送コンベアに設けられた図
示しないリミットスイッチの検出信号が入力された制御
装置によって、空圧シリンダが作動して、再び下方に復
帰する。
【0045】次に、図3は、請求項3,4及び請求項5
に記載の発明の真空バルブの製造装置の他の実施例を示
す縦断面図で、図1及び図2に対応する図である。図3
において、図2と異なるところは、第1の処理室12及び
第2の処理室14と組立室18は、それぞれ独立した気密室
となっており、搬送コンベアは、第1の処理室12と組立
室18に設けられた搬送コンベア17Aと、第2の処理室14
に設けられた搬送コンベア(株)真空技研製型式EL-5
00R)17Bに分割されていることである(注;図3で
は、搬送コンベア17Aの左端と搬送コンベア17Bの右端
は、外壁の内側となるように示しているが、実際には外
側に突き出た図示しない外壁の一部とともに突き出てい
る)。
に記載の発明の真空バルブの製造装置の他の実施例を示
す縦断面図で、図1及び図2に対応する図である。図3
において、図2と異なるところは、第1の処理室12及び
第2の処理室14と組立室18は、それぞれ独立した気密室
となっており、搬送コンベアは、第1の処理室12と組立
室18に設けられた搬送コンベア17Aと、第2の処理室14
に設けられた搬送コンベア(株)真空技研製型式EL-5
00R)17Bに分割されていることである(注;図3で
は、搬送コンベア17Aの左端と搬送コンベア17Bの右端
は、外壁の内側となるように示しているが、実際には外
側に突き出た図示しない外壁の一部とともに突き出てい
る)。
【0046】また、各気密室の隣接部の壁には、各気密
室を気密に仕切るゲートバルブ(日電アネルバ(株)
製、型式 951-7789)20,21がそれぞれ取り付けられてい
る。さらに、組立室18の上面に接続された配管には、空
圧バルブ23Aを介してガスボンベ22が接続され、このガ
スボンベ22には、アルゴンガスが封入されている。一
方、第1の処理室12及び第2の処理室14と組立室18の底
部には、それぞれ空圧バルブ23が接続され、それぞれ真
空ポンプ16に接続されている。
室を気密に仕切るゲートバルブ(日電アネルバ(株)
製、型式 951-7789)20,21がそれぞれ取り付けられてい
る。さらに、組立室18の上面に接続された配管には、空
圧バルブ23Aを介してガスボンベ22が接続され、このガ
スボンベ22には、アルゴンガスが封入されている。一
方、第1の処理室12及び第2の処理室14と組立室18の底
部には、それぞれ空圧バルブ23が接続され、それぞれ真
空ポンプ16に接続されている。
【0047】このように構成された真空バルブの製造装
置においては、組立室18は、隣接室との間に設けられた
ゲートバルブ20,21によって気密が維持されるととも
に、ガスボンベ22から封入されたアルゴンガスによっ
て、内部に残留した酸素などが真空バルブの構成部品の
表面に吸着するおそれを防ぐことができるので、遮断性
能の低下や絶縁特性の低下を更に防ぐことができる。な
お、多関節ロボット19は、複腕の多関節ロボットでもよ
く、アルゴンガスは他の不活性ガス、例えば、窒素ガス
でもよい。
置においては、組立室18は、隣接室との間に設けられた
ゲートバルブ20,21によって気密が維持されるととも
に、ガスボンベ22から封入されたアルゴンガスによっ
て、内部に残留した酸素などが真空バルブの構成部品の
表面に吸着するおそれを防ぐことができるので、遮断性
能の低下や絶縁特性の低下を更に防ぐことができる。な
お、多関節ロボット19は、複腕の多関節ロボットでもよ
く、アルゴンガスは他の不活性ガス、例えば、窒素ガス
でもよい。
【0048】
【発明の効果】以上、本発明の真空バルブの製造装置に
よれば、真空バルブの構成部品が収納される第1の処理
室を片側に設け、構成部品で組み立てられた真空バルブ
が収納される第2の処理室を他側に設け、第1の処理室
と第2の処理室を結ぶ搬送装置を収納し、外壁に真空ポ
ンプが接続された気密容器を備え、構成部品の接点の表
面にビームを照射するビーム照射器を第1の処理室に収
納し、搬送装置によって第1の処理室から搬送された真
空バルブの端板と真空バルブの絶縁筒をろう付する加熱
装置を備えることで、真空バルブの接点を、第1の処理
室のビーム照射器で照射されるビームによって、表面の
微少な突起を溶融し表面に付着したガスを飛散し、組織
を微細に改質するとともに、真空ポンプによって真空状
態となる第2の処理室で最終の封着を行ったので、接点
の表面に形成される微少突起や付着物に起因する遮断性
能と絶縁特性の低下を防ぐことのできる真空バルブの製
造装置を得ることができる。
よれば、真空バルブの構成部品が収納される第1の処理
室を片側に設け、構成部品で組み立てられた真空バルブ
が収納される第2の処理室を他側に設け、第1の処理室
と第2の処理室を結ぶ搬送装置を収納し、外壁に真空ポ
ンプが接続された気密容器を備え、構成部品の接点の表
面にビームを照射するビーム照射器を第1の処理室に収
納し、搬送装置によって第1の処理室から搬送された真
空バルブの端板と真空バルブの絶縁筒をろう付する加熱
装置を備えることで、真空バルブの接点を、第1の処理
室のビーム照射器で照射されるビームによって、表面の
微少な突起を溶融し表面に付着したガスを飛散し、組織
を微細に改質するとともに、真空ポンプによって真空状
態となる第2の処理室で最終の封着を行ったので、接点
の表面に形成される微少突起や付着物に起因する遮断性
能と絶縁特性の低下を防ぐことのできる真空バルブの製
造装置を得ることができる。
【図1】請求項1及び請求項2に記載の発明の真空バル
ブの製造装置の一実施例を示す縦断面図。
ブの製造装置の一実施例を示す縦断面図。
【図2】請求項3及び請求項4又は請求項5に記載の発
明の真空バルブの製造装置の一実施例を示す縦断面図。
明の真空バルブの製造装置の一実施例を示す縦断面図。
【図3】請求項3及び請求項4又は請求項5に記載の発
明の真空バルブの製造装置の他の実施例を示す縦断面
図。
明の真空バルブの製造装置の他の実施例を示す縦断面
図。
【図4】従来の真空バルブの一例を示す縦断面図。
2…固定側端板、3…可動側端板、4…固定電極、5…
固定通電軸、6…可動電極、7…可動側通電軸、11…電
子ビーム出射装置、12…第1の処理室、13,13A…加熱
装置、14…第2の処理室、15,15A…気密容器、16…真
空ポンプ、17…搬送コンベア、18…第3の処理室、19…
多関節ロボット、20,21…ゲートバルブ、22…ガスボン
ベ、23, 23A…空圧バルブ、24…絶縁筒。
固定通電軸、6…可動電極、7…可動側通電軸、11…電
子ビーム出射装置、12…第1の処理室、13,13A…加熱
装置、14…第2の処理室、15,15A…気密容器、16…真
空ポンプ、17…搬送コンベア、18…第3の処理室、19…
多関節ロボット、20,21…ゲートバルブ、22…ガスボン
ベ、23, 23A…空圧バルブ、24…絶縁筒。
Claims (5)
- 【請求項1】 真空バルブの構成部品が収納される第1
の処理室が片側に設けられ、前記構成部品で組み立てら
れた前記真空バルブが収納される第2の処理室が他側に
設けられ、前記第1の処理室と前記第2の処理室を結ぶ
搬送装置が収納され、外壁に真空ポンプが接続された気
密容器と、前記第1の処理室に収納された前記構成部品
の接点の表面にビームを照射するビーム照射器と、前記
第2の処理室の外周に設けられ前記搬送装置によって前
記第1の処理室から搬送された前記真空バルブの端板と
前記真空バルブの絶縁筒をろう付する加熱装置を備えた
真空バルブの製造装置。 - 【請求項2】 加熱装置を第2の処理室の内周に収納し
たことを特徴とする請求項1に記載の真空バルブの製造
装置。 - 【請求項3】 真空バルブの構成部品が収納される第1
の処理室が片側に設けられ、前記構成部品で仮組みされ
た前記真空バルブが収納される第2の処理室が他側に設
けられ、前記第1の処理室と前記第2の処理室の間に組
立室が設けられ、前記第1の処理室及び前記組立室と前
記第2の処理室を結ぶ搬送装置が収納され、外壁に真空
ポンプが接続された気密容器と、前記第1の処理室に収
納され前記構成部品の接点の表面にビームを照射するビ
ーム照射器と、前記第2の処理室の内周に設けられ前記
組立室で仮組みされ前記搬送装置によって搬送された前
記真空バルブの端板と前記真空バルブの絶縁筒をろう付
する加熱装置を備えた真空バルブの製造装置。 - 【請求項4】 組立室の天井部に構成部品を組立てる組
立ロボットを設けたことを特徴とする請求項3に記載の
真空バルブの製造装置。 - 【請求項5】 組立室に不活性ガスが封入したことを特
徴とする請求項3又は請求項4に記載の真空バルブの製
造装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6245886A JPH08111149A (ja) | 1994-10-12 | 1994-10-12 | 真空バルブの製造装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6245886A JPH08111149A (ja) | 1994-10-12 | 1994-10-12 | 真空バルブの製造装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH08111149A true JPH08111149A (ja) | 1996-04-30 |
Family
ID=17140276
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP6245886A Pending JPH08111149A (ja) | 1994-10-12 | 1994-10-12 | 真空バルブの製造装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH08111149A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2021008866A1 (en) * | 2019-07-16 | 2021-01-21 | Eaton Intelligent Power Limited | Circuit breaker |
| CN120878497A (zh) * | 2025-07-11 | 2025-10-31 | 湖北大禹汉光真空电器有限公司 | 一种真空灭弧室及其装配方法 |
-
1994
- 1994-10-12 JP JP6245886A patent/JPH08111149A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2021008866A1 (en) * | 2019-07-16 | 2021-01-21 | Eaton Intelligent Power Limited | Circuit breaker |
| US11640886B2 (en) | 2019-07-16 | 2023-05-02 | Eaton Intelligent Power Limited | Circuit breaker |
| CN120878497A (zh) * | 2025-07-11 | 2025-10-31 | 湖北大禹汉光真空电器有限公司 | 一种真空灭弧室及其装配方法 |
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