JPH08115227A - メモリアクセス方法及びメモリコントロール装置 - Google Patents
メモリアクセス方法及びメモリコントロール装置Info
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- JPH08115227A JPH08115227A JP6278636A JP27863694A JPH08115227A JP H08115227 A JPH08115227 A JP H08115227A JP 6278636 A JP6278636 A JP 6278636A JP 27863694 A JP27863694 A JP 27863694A JP H08115227 A JPH08115227 A JP H08115227A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 メモリに対する不要なアクセスによる電力消
費やシステムノイズの発生を低減させる。 【構成】 メモリ上の同一アドレスに書き込まれるデー
タブロックが複数回、転送されてくる可能性があるシス
テムにおいて、必要なデータブロックが一旦書き込まれ
たら、そのデータブロックについてエラーフラグをオフ
とする。そして或るデータブロックが記憶のために転送
されてきた際には、その書き込むべきアドレスに記憶さ
れているデータについてエラーフラグを確認し、エラー
フラグがオフであったら、転送されてきたデータと同一
データが既に記憶されていることになるため、書き込み
アクセスを実行しないようにする。
費やシステムノイズの発生を低減させる。 【構成】 メモリ上の同一アドレスに書き込まれるデー
タブロックが複数回、転送されてくる可能性があるシス
テムにおいて、必要なデータブロックが一旦書き込まれ
たら、そのデータブロックについてエラーフラグをオフ
とする。そして或るデータブロックが記憶のために転送
されてきた際には、その書き込むべきアドレスに記憶さ
れているデータについてエラーフラグを確認し、エラー
フラグがオフであったら、転送されてきたデータと同一
データが既に記憶されていることになるため、書き込み
アクセスを実行しないようにする。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、例えばデータストリー
マと称されるデータ記録再生装置やオーディオデータの
記録再生装置などにおいて、メモリに対して同一アドレ
スに書き込まれるべきデータブロックが複数回転送され
てくる可能性があるシステムにおいて好適なメモリアク
セス方法及びメモリコントロール装置に関するものであ
る。
マと称されるデータ記録再生装置やオーディオデータの
記録再生装置などにおいて、メモリに対して同一アドレ
スに書き込まれるべきデータブロックが複数回転送され
てくる可能性があるシステムにおいて好適なメモリアク
セス方法及びメモリコントロール装置に関するものであ
る。
【0002】
【従来の技術】S−RAM(スタティックRAM)に比
べて大容量化が容易で、またビットあたりのコストも安
いD−RAM(ダイナミックRAM)は、各種システム
において広く使用されている。
べて大容量化が容易で、またビットあたりのコストも安
いD−RAM(ダイナミックRAM)は、各種システム
において広く使用されている。
【0003】このようなD−RAMとして、例えば1M
ワード×1ビットD−RAMの場合、10ビットのアド
レス端子が形成され、各アドレス端子には行アドレスと
列アドレスがマルチプレクスされた状態で時分割されて
入力されるため、210×210=1048576個(1M
ビット)のメモリセルの1つに対して任意にアクセスす
ることができる。
ワード×1ビットD−RAMの場合、10ビットのアド
レス端子が形成され、各アドレス端子には行アドレスと
列アドレスがマルチプレクスされた状態で時分割されて
入力されるため、210×210=1048576個(1M
ビット)のメモリセルの1つに対して任意にアクセスす
ることができる。
【0004】行アドレスは、反転RAS信号の立ち下り
によって各アドレス端子から内部の行アドレスバッファ
にラッチにされ、また列アドレスは、反転CAS信号の
立ち下りによって各アドレス端子から内部の列アドレス
バッファにラッチにされる。アクセス動作としては、反
転RAS信号で行アドレスを取り込み、その後の反転C
AS信号によって1又は複数の列アドレスが順次取り込
まれることによって、行アドレス及び列アドレスで指定
される所要のメモリセルに対するデータの書込/読出が
行なわれる。
によって各アドレス端子から内部の行アドレスバッファ
にラッチにされ、また列アドレスは、反転CAS信号の
立ち下りによって各アドレス端子から内部の列アドレス
バッファにラッチにされる。アクセス動作としては、反
転RAS信号で行アドレスを取り込み、その後の反転C
AS信号によって1又は複数の列アドレスが順次取り込
まれることによって、行アドレス及び列アドレスで指定
される所要のメモリセルに対するデータの書込/読出が
行なわれる。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】ところで、反転RAS
信号により行アドレスのアクセスが行なわれた場合、そ
の1行についての全てのメモリセルに対応してセンスア
ンプを活性化させて、リフレッシュを実行すると同時
に、各メモリセルのデータを出力バッファに取り込む。
このため、行アドレスのアクセス時には大きなスパイク
電流が流れるという性質がある。さらに、D−RAMの
アクセス時に発生するスパイク電流やIC端子のトラン
ジェントによってシステムノイズが増加するという性質
もあった。このため、D−RAMを用いるシステムで
は、不必要なアクセスは極力避けるようにすることが要
求される。
信号により行アドレスのアクセスが行なわれた場合、そ
の1行についての全てのメモリセルに対応してセンスア
ンプを活性化させて、リフレッシュを実行すると同時
に、各メモリセルのデータを出力バッファに取り込む。
このため、行アドレスのアクセス時には大きなスパイク
電流が流れるという性質がある。さらに、D−RAMの
アクセス時に発生するスパイク電流やIC端子のトラン
ジェントによってシステムノイズが増加するという性質
もあった。このため、D−RAMを用いるシステムで
は、不必要なアクセスは極力避けるようにすることが要
求される。
【0006】ここで、回転ヘッド・ヘリカルスキャン方
式のデジタルテープレコーダを考える。デジタルテープ
レコーダでは磁気テープから再生されたデータをエラー
訂正処理などのために一旦D−RAMに書き込むように
している。このようなデジタルテープレコーダでは、テ
ープパスが、規制された範囲内でメカニズム毎にずれ、
テープ上の記録再生位置がずれる場合がある。また、テ
ープ上のトラックに対するスキャンの始まりと終りの部
分は、ヘッドとテープのあたりが不安定でデータ読取エ
ラーが生ずる場合があった。
式のデジタルテープレコーダを考える。デジタルテープ
レコーダでは磁気テープから再生されたデータをエラー
訂正処理などのために一旦D−RAMに書き込むように
している。このようなデジタルテープレコーダでは、テ
ープパスが、規制された範囲内でメカニズム毎にずれ、
テープ上の記録再生位置がずれる場合がある。また、テ
ープ上のトラックに対するスキャンの始まりと終りの部
分は、ヘッドとテープのあたりが不安定でデータ読取エ
ラーが生ずる場合があった。
【0007】そこで、スキャンの最初と最後となる部分
に同じデータブロックを2重書きしておき、再生時にD
−RAMの同じアドレスに割り当てるようにして、2重
書きしたデータブロックのうち読取りセーフとなった側
のデータブロックをD−RAMに書込むようにしてい
る。これによりスキャンの最初と最後となる部分のいづ
れか一方のデータブロックがテープから読取れない場合
が生じても、データの欠落は生じないことになる。
に同じデータブロックを2重書きしておき、再生時にD
−RAMの同じアドレスに割り当てるようにして、2重
書きしたデータブロックのうち読取りセーフとなった側
のデータブロックをD−RAMに書込むようにしてい
る。これによりスキャンの最初と最後となる部分のいづ
れか一方のデータブロックがテープから読取れない場合
が生じても、データの欠落は生じないことになる。
【0008】ところが、両方のデータブロックがテープ
から適正に読み込めた場合は、D−RAMに対しては同
じデータを2回同じアドレスに書込むことになる。つま
り、最初に読み取れエラーチェックがセーフであったデ
ータブロックをD−RAMに対して或るアドレスに書き
込んだ後、ふたたびD−RAMにはそのアドレスに書込
むべきデータブロックが転送されてくることになり、同
一内容のデータブロックどうしでD−RAM内容の不必
要な書換動作を実行してしまうことになる。このような
D−RAMに対する不要なアクセスは、消費電力やシス
テムノイズの増大を招くことになってしまう。
から適正に読み込めた場合は、D−RAMに対しては同
じデータを2回同じアドレスに書込むことになる。つま
り、最初に読み取れエラーチェックがセーフであったデ
ータブロックをD−RAMに対して或るアドレスに書き
込んだ後、ふたたびD−RAMにはそのアドレスに書込
むべきデータブロックが転送されてくることになり、同
一内容のデータブロックどうしでD−RAM内容の不必
要な書換動作を実行してしまうことになる。このような
D−RAMに対する不要なアクセスは、消費電力やシス
テムノイズの増大を招くことになってしまう。
【0009】また、回転ヘッド・ヘリカルスキャン方式
のデジタルテープレコーダの一種として、いわゆるノン
トラッキング方式のものが知られている。これは、再生
時にトラッキング制御を行なって記録トラックを正確に
トレースする代わりに、再生時には記録時の2倍の密度
でスキャンすることによって、例え再生ヘッドが記録ト
ラックに対して斜めにトレースしてしまっても、すべて
のデータブロックを読み取ることができるようにしてい
るものである。この高密度のノントラッキングトレース
でテープ上で同じデータブロックが読み取れる回数は、
再生スキャンの傾き具合によってほぼ1回から2回の間
に分布している。
のデジタルテープレコーダの一種として、いわゆるノン
トラッキング方式のものが知られている。これは、再生
時にトラッキング制御を行なって記録トラックを正確に
トレースする代わりに、再生時には記録時の2倍の密度
でスキャンすることによって、例え再生ヘッドが記録ト
ラックに対して斜めにトレースしてしまっても、すべて
のデータブロックを読み取ることができるようにしてい
るものである。この高密度のノントラッキングトレース
でテープ上で同じデータブロックが読み取れる回数は、
再生スキャンの傾き具合によってほぼ1回から2回の間
に分布している。
【0010】ここで2回以上、同一のデータブロックが
読み取れた場合を考えると、2回目以降のデータブロッ
クについては、D−RAM上では、既に1回目の読み出
しで記憶されているデータブロックに対して同一内容の
データで不要な書き換えを行なうことになってしまう。
そして、このようなD−RAMに対する不要なアクセス
は、消費電力やシステムノイズの増大を招くことにな
る。
読み取れた場合を考えると、2回目以降のデータブロッ
クについては、D−RAM上では、既に1回目の読み出
しで記憶されているデータブロックに対して同一内容の
データで不要な書き換えを行なうことになってしまう。
そして、このようなD−RAMに対する不要なアクセス
は、消費電力やシステムノイズの増大を招くことにな
る。
【0011】つまり、このようなデジタルテープレコー
ダ上のD−RAMなどのように、メモリ上の同一アドレ
スに書き込まれるべきデータブロックがメモリに対して
複数回転送されてくる可能性があるシステムでは、無駄
なアクセス動作が実行されることが多く、しかもD−R
AMではアクセス時に大きな電流を消費するため、消費
電力の増大やシステムノイズの増大を招き、また電池駆
動のシステムであれば電池寿命の短命化を招いていると
いう問題があった。
ダ上のD−RAMなどのように、メモリ上の同一アドレ
スに書き込まれるべきデータブロックがメモリに対して
複数回転送されてくる可能性があるシステムでは、無駄
なアクセス動作が実行されることが多く、しかもD−R
AMではアクセス時に大きな電流を消費するため、消費
電力の増大やシステムノイズの増大を招き、また電池駆
動のシステムであれば電池寿命の短命化を招いていると
いう問題があった。
【0012】
【課題を解決するための手段】本発明はこれらの問題に
鑑みて、不要なアクセスによる電力消費、及びシステム
ノイズを削減することを目的とする。
鑑みて、不要なアクセスによる電力消費、及びシステム
ノイズを削減することを目的とする。
【0013】このため、複数ワードで処理単位となるデ
ータブロックが構成されているとともに、メモリ上の同
一アドレスに書き込まれるべきデータブロックがメモリ
に対して複数回転送されてくる可能性がある場合におけ
るメモリアクセス方法として次のように実行する。各デ
ータブロック単位のアドレスとなる記憶領域について、
必要なデータブロックの記憶がされている時点では、そ
のデータブロック内の少なくとも所定のワードについて
のエラーフラグがオフとされた記憶状態とし、また各デ
ータブロック単位のアドレスとなる記憶領域について、
記憶されているデータブロックが不要となった時点で
は、そのデータブロック内の少なくとも所定のワードに
ついてのエラーフラグがオンとされた記憶状態とするよ
うにする。そして、転送されてきたデータブロックの書
込みを実行する際には、そのデータブロックを書込むべ
きアドレスにおいて所定のワードについてのエラーフラ
グを検査し、エラーフラグがオンであれば書込アクセス
動作を実行し、エラーフラグがオフであれば書込アクセ
ス動作を実行しないようにする。
ータブロックが構成されているとともに、メモリ上の同
一アドレスに書き込まれるべきデータブロックがメモリ
に対して複数回転送されてくる可能性がある場合におけ
るメモリアクセス方法として次のように実行する。各デ
ータブロック単位のアドレスとなる記憶領域について、
必要なデータブロックの記憶がされている時点では、そ
のデータブロック内の少なくとも所定のワードについて
のエラーフラグがオフとされた記憶状態とし、また各デ
ータブロック単位のアドレスとなる記憶領域について、
記憶されているデータブロックが不要となった時点で
は、そのデータブロック内の少なくとも所定のワードに
ついてのエラーフラグがオンとされた記憶状態とするよ
うにする。そして、転送されてきたデータブロックの書
込みを実行する際には、そのデータブロックを書込むべ
きアドレスにおいて所定のワードについてのエラーフラ
グを検査し、エラーフラグがオンであれば書込アクセス
動作を実行し、エラーフラグがオフであれば書込アクセ
ス動作を実行しないようにする。
【0014】また、複数ワードで処理単位となるデータ
ブロックが構成されているとともに、メモリ上の同一ア
ドレスに書き込まれるべきデータブロックがメモリに対
して複数回転送されてくる可能性があるデータ転送シス
テムにおいて、上記アクセス方法を実現するメモリコン
トロール装置として、エラーフラグ設定手段と、エラー
フラグ検査手段と、アクセス制御手段とを備えるように
する。エラーフラグ設定手段は、各データブロック単位
のアドレスとなる記憶領域について、必要なデータブロ
ックの記憶がされている時点では、そのデータブロック
内の少なくとも所定のワードについてのエラーフラグが
オフとされた記憶状態とするとともに、各データブロッ
ク単位のアドレスとなる記憶領域について、記憶されて
いるデータブロックが不要となった時点では、そのデー
タブロック内の少なくとも所定のワードについてのエラ
ーフラグがオンとされた記憶状態とすることができるよ
うに構成する。エラーフラグ検査手段は、データブロッ
クの転送に応じて、そのデータブロックを書込むべきア
ドレスにおいて所定のワードについてのエラーフラグを
検査することができるようにする。アクセス制御手段
は、エラーフラグ検査手段によって、エラーフラグのオ
ンが検出されたら転送されてきたデータブロックについ
てのメモリに対する書込アクセス動作を実行し、またエ
ラーフラグのオフが検出されたら、転送されてきたデー
タブロックについてのメモリに対する書込アクセス動作
を実行しないようにする。
ブロックが構成されているとともに、メモリ上の同一ア
ドレスに書き込まれるべきデータブロックがメモリに対
して複数回転送されてくる可能性があるデータ転送シス
テムにおいて、上記アクセス方法を実現するメモリコン
トロール装置として、エラーフラグ設定手段と、エラー
フラグ検査手段と、アクセス制御手段とを備えるように
する。エラーフラグ設定手段は、各データブロック単位
のアドレスとなる記憶領域について、必要なデータブロ
ックの記憶がされている時点では、そのデータブロック
内の少なくとも所定のワードについてのエラーフラグが
オフとされた記憶状態とするとともに、各データブロッ
ク単位のアドレスとなる記憶領域について、記憶されて
いるデータブロックが不要となった時点では、そのデー
タブロック内の少なくとも所定のワードについてのエラ
ーフラグがオンとされた記憶状態とすることができるよ
うに構成する。エラーフラグ検査手段は、データブロッ
クの転送に応じて、そのデータブロックを書込むべきア
ドレスにおいて所定のワードについてのエラーフラグを
検査することができるようにする。アクセス制御手段
は、エラーフラグ検査手段によって、エラーフラグのオ
ンが検出されたら転送されてきたデータブロックについ
てのメモリに対する書込アクセス動作を実行し、またエ
ラーフラグのオフが検出されたら、転送されてきたデー
タブロックについてのメモリに対する書込アクセス動作
を実行しないようにする。
【0015】
【作用】必要なデータブロックが一旦書き込まれたら、
そのデータブロックについてエラーフラグをオフとする
ようにする。そして、或るデータブロックがメモリに転
送されてきて書き込みが行なわれる際には、その書き込
むべきアドレスに記憶されているデータについてエラー
フラグを確認する。このとき、エラーフラグがオフであ
れば、転送されてきたデータと同一データが既に記憶さ
れていることになり、つまり、そのデータ転送は2回目
以降のデータ転送であって、新たに書き込む必要はない
と判断することができる。従ってこの場合は書き込みア
クセスを実行しないことで不要なアクセス動作を発生さ
せないようにすることができる。
そのデータブロックについてエラーフラグをオフとする
ようにする。そして、或るデータブロックがメモリに転
送されてきて書き込みが行なわれる際には、その書き込
むべきアドレスに記憶されているデータについてエラー
フラグを確認する。このとき、エラーフラグがオフであ
れば、転送されてきたデータと同一データが既に記憶さ
れていることになり、つまり、そのデータ転送は2回目
以降のデータ転送であって、新たに書き込む必要はない
と判断することができる。従ってこの場合は書き込みア
クセスを実行しないことで不要なアクセス動作を発生さ
せないようにすることができる。
【0016】
【実施例】以下、本発明の実施例として、まず磁気テー
プを記録媒体とし、回転ヘッドによってノントラッキン
グ方式でオーディオデータを記録再生する記録再生装置
において搭載されるD−RAMに対するアクセス方法及
びメモリコントロール装置について説明する。この場
合、記録/再生やエラー訂正のためにオーディオデータ
等をD−RAMに記憶させるものであるが、まず最初に
データフォーマットについて述べておく。
プを記録媒体とし、回転ヘッドによってノントラッキン
グ方式でオーディオデータを記録再生する記録再生装置
において搭載されるD−RAMに対するアクセス方法及
びメモリコントロール装置について説明する。この場
合、記録/再生やエラー訂正のためにオーディオデータ
等をD−RAMに記憶させるものであるが、まず最初に
データフォーマットについて述べておく。
【0017】ノントラッキング方式で磁気テープに対す
る記録/再生を行なうものが知られているが、この場
合、図3に示すように磁気テープTにはヘッドのヘリカ
ルスキャン方式により斜め方向にトラックTKが形成さ
れていくことに対し、再生時にはPa,Pbとして示す
ように記録時より高密度スキャンを行なうことにより、
トラックを正確にトレースしなくてもトラックTK上の
全データを読み込むことができるようにしている。さら
に読み込んだデータはデータとともに記録されているア
ドレスを用いて並び変えていくことで、正確な再生デー
タストリームを再構成することができるようにしたもの
である。
る記録/再生を行なうものが知られているが、この場
合、図3に示すように磁気テープTにはヘッドのヘリカ
ルスキャン方式により斜め方向にトラックTKが形成さ
れていくことに対し、再生時にはPa,Pbとして示す
ように記録時より高密度スキャンを行なうことにより、
トラックを正確にトレースしなくてもトラックTK上の
全データを読み込むことができるようにしている。さら
に読み込んだデータはデータとともに記録されているア
ドレスを用いて並び変えていくことで、正確な再生デー
タストリームを再構成することができるようにしたもの
である。
【0018】図4にノントラッキング方式における磁気
テープ上のトラックTKの構成を示す。図4(a)に示
すように、1トラックは108ブロックで構成される。
1ブロックは288ビットである。トラックのうち中央
の92ブロックがメインデータ領域とされ、その両側に
9ブロックの内側2重記録領域、及び7ブロックの外側
2重記録領域が形成されている。
テープ上のトラックTKの構成を示す。図4(a)に示
すように、1トラックは108ブロックで構成される。
1ブロックは288ビットである。トラックのうち中央
の92ブロックがメインデータ領域とされ、その両側に
9ブロックの内側2重記録領域、及び7ブロックの外側
2重記録領域が形成されている。
【0019】内側2重記録領域では、その位置から外側
方向に92ブロック離れたメインデータ領域内のブロッ
クと同一内容のデータが記録され、また外側2重記録領
域では、その位置から内側方向に92ブロック離れたメ
インデータ領域内のブロックと同一内容のデータが記録
されている。これらは、テープの揺動でヘッドの当たり
位置がずれても、互いに補い合うようにされ、つまりメ
インデータ領域内に記録されているブロックとしてのデ
ータについて、読取不能のブロック(データ内容)が発
生しないようにしている。
方向に92ブロック離れたメインデータ領域内のブロッ
クと同一内容のデータが記録され、また外側2重記録領
域では、その位置から内側方向に92ブロック離れたメ
インデータ領域内のブロックと同一内容のデータが記録
されている。これらは、テープの揺動でヘッドの当たり
位置がずれても、互いに補い合うようにされ、つまりメ
インデータ領域内に記録されているブロックとしてのデ
ータについて、読取不能のブロック(データ内容)が発
生しないようにしている。
【0020】メインデータ領域については、中央の2ブ
ロックがサブコード(AUX)、その両側の各1ブロッ
クがIBG(Inter-block Gap)、さらにその両側の各4
ブロックが制御コード(CTL)の領域とされる。制御
コード(CTL)としては、各種のID情報や曲の頭だ
し信号等が記録される。高速サーチ時などにこの制御コ
ード(CTL)の領域については一部しか読み取れない
ことに鑑みて、8ブロックの各ブロックの内容は同一の
データとされている。つまり同一内容のデータが異なる
アドレスで8回繰り返して記録されている。制御コード
(CTL)となる領域の両側において、40ブロックづ
つのデータ領域が形成される。
ロックがサブコード(AUX)、その両側の各1ブロッ
クがIBG(Inter-block Gap)、さらにその両側の各4
ブロックが制御コード(CTL)の領域とされる。制御
コード(CTL)としては、各種のID情報や曲の頭だ
し信号等が記録される。高速サーチ時などにこの制御コ
ード(CTL)の領域については一部しか読み取れない
ことに鑑みて、8ブロックの各ブロックの内容は同一の
データとされている。つまり同一内容のデータが異なる
アドレスで8回繰り返して記録されている。制御コード
(CTL)となる領域の両側において、40ブロックづ
つのデータ領域が形成される。
【0021】1ブロック内の信号フォーマットは図9
(b)のようになる。まず先頭11ビットがシンクパタ
ーンとされ、続いて13ビットでアドレスADRSが記
録される。このアドレスADRSは6ビットのトラック
アドレスと7ビットのブロックアドレスにより構成され
ている。各ブロックにはこのようにトラックアドレスと
ブロックアドレスが記録されていることにより、再生時
にはブロック毎にD−RAM上の所定のアドレスに書き
込んでいって、適正なブロック順序でデータストリーム
を再構成することができる。
(b)のようになる。まず先頭11ビットがシンクパタ
ーンとされ、続いて13ビットでアドレスADRSが記
録される。このアドレスADRSは6ビットのトラック
アドレスと7ビットのブロックアドレスにより構成され
ている。各ブロックにはこのようにトラックアドレスと
ブロックアドレスが記録されていることにより、再生時
にはブロック毎にD−RAM上の所定のアドレスに書き
込んでいって、適正なブロック順序でデータストリーム
を再構成することができる。
【0022】つまり、ノントラッキング方式の場合、必
ずしもトラックTKが正確にトレースされないため、図
3に示したように高密度スキャンを行なうことで各トラ
ックについて全ブロックを読み出すことができるように
しているが、この場合各ブロックの読出順序はランダム
なものとなる。読み出されたブロックデータは一旦RA
Mに蓄えられるが、このとき、RAM上ではトラックア
ドレスとブロックアドレスを用いて書き込みアドレスを
生成し各ブロックデータを書き込んでいく。従って、或
るトラックについて全ブロックが読み取れた段階では、
RAM上ではそのトラックのデータが並んでいるものと
なる。従ってRAMから順番にブロックデータを読み出
せば適正なデータストリームが再構成されたことにな
る。
ずしもトラックTKが正確にトレースされないため、図
3に示したように高密度スキャンを行なうことで各トラ
ックについて全ブロックを読み出すことができるように
しているが、この場合各ブロックの読出順序はランダム
なものとなる。読み出されたブロックデータは一旦RA
Mに蓄えられるが、このとき、RAM上ではトラックア
ドレスとブロックアドレスを用いて書き込みアドレスを
生成し各ブロックデータを書き込んでいく。従って、或
るトラックについて全ブロックが読み取れた段階では、
RAM上ではそのトラックのデータが並んでいるものと
なる。従ってRAMから順番にブロックデータを読み出
せば適正なデータストリームが再構成されたことにな
る。
【0023】アドレスADRSに続いて各12ビットで
4ワードのP,Qパリティ(POD,QOD,PEV,QEV)
が記録される。そしてパリティワードに続いて各12ビ
ットで16ワードの音声データ(L1,R1 ・・・・・・・L
8,R8)が記録される。16ワードの音声データ(L
1,R1 ・・・・・・・L8,R8)に続いて、各12ビット
で2つのCRCワードが記録される。このCRCワード
はブロック単位のデータについての誤り検査に用いられ
る。
4ワードのP,Qパリティ(POD,QOD,PEV,QEV)
が記録される。そしてパリティワードに続いて各12ビ
ットで16ワードの音声データ(L1,R1 ・・・・・・・L
8,R8)が記録される。16ワードの音声データ(L
1,R1 ・・・・・・・L8,R8)に続いて、各12ビット
で2つのCRCワードが記録される。このCRCワード
はブロック単位のデータについての誤り検査に用いられ
る。
【0024】また、このCRCワードには、オーバーラ
イトプロテクトコード(OWPコード)も記録される。
OWPコードは同じ2ワードを並べて24ビットのCR
CとEX−ORをとってから記録するようにしている。
従って再生時には、再生データから生成したCRCとの
EX−ORを取ることで、OWPコードを復元すること
ができる。
イトプロテクトコード(OWPコード)も記録される。
OWPコードは同じ2ワードを並べて24ビットのCR
CとEX−ORをとってから記録するようにしている。
従って再生時には、再生データから生成したCRCとの
EX−ORを取ることで、OWPコードを復元すること
ができる。
【0025】以上のようなフォーマットのトラックデー
タについての再生系の回路ブロックを図1に示す。図1
において、1は4MビットのD−RAMである。回転ヘ
ッドのヘリカルスキャンにより回転ヘッドの1回転につ
き1トラックが記録され、また再生されることになる
が、ここで1トラックを『V』と呼ぶこととすると、記
録データ又は再生データを記憶するD−RAMには12
8V分の記憶容量を持つものとする。
タについての再生系の回路ブロックを図1に示す。図1
において、1は4MビットのD−RAMである。回転ヘ
ッドのヘリカルスキャンにより回転ヘッドの1回転につ
き1トラックが記録され、また再生されることになる
が、ここで1トラックを『V』と呼ぶこととすると、記
録データ又は再生データを記憶するD−RAMには12
8V分の記憶容量を持つものとする。
【0026】従ってD−RAM上ではまず、図5に模式
的に示すように0V〜127Vというトラックに対応し
たアドレスとして、V6〜V0の7ビットによるアドレ
ス空間が形成される。1つのVアドレス内では、128
ブロック分の領域があり、ブロックアドレスとしてB0
〜B6の7ビットで、00h〜7Fhのアドレスが形成
される。(『h』が付された値は16進表記) また各ブロックの領域はデータ16ワード及びパリティ
4ワードに対応して、W0〜W3の4ビットで0Ch〜
1Fhのワードアドレスが形成される。以上、D−RA
M1は、トラックアドレスV0〜V6、ブロックアドレ
スB0〜B7、ワードアドレスW0〜W3による、18
ビットのアドレス空間とされている。
的に示すように0V〜127Vというトラックに対応し
たアドレスとして、V6〜V0の7ビットによるアドレ
ス空間が形成される。1つのVアドレス内では、128
ブロック分の領域があり、ブロックアドレスとしてB0
〜B6の7ビットで、00h〜7Fhのアドレスが形成
される。(『h』が付された値は16進表記) また各ブロックの領域はデータ16ワード及びパリティ
4ワードに対応して、W0〜W3の4ビットで0Ch〜
1Fhのワードアドレスが形成される。以上、D−RA
M1は、トラックアドレスV0〜V6、ブロックアドレ
スB0〜B7、ワードアドレスW0〜W3による、18
ビットのアドレス空間とされている。
【0027】このD−RAM1は、図1の各部が含まれ
る信号処理ICに対して外付けされている構成とする。
そして、1ワードにつき16ビットが割り当てられる
が、D−RAM1は4ビット幅とされており、1ワード
のアクセスについては、1回の行アクセス内で4回の列
アクセスを行なうことで実行するようにする。D−RA
M1上の16ビットの1ワードにおいて、最初の4ビッ
トはエラーフラグとし、その後の3回アクセス分の12
ビットが、データ、即ち図4に示した1ワードのデータ
が割り当てられる。エラーフラグとしては、セーフの場
合には4ビット内の1ビットを『0』とし、またエラー
の場合は、『1』を書き込むこととする。
る信号処理ICに対して外付けされている構成とする。
そして、1ワードにつき16ビットが割り当てられる
が、D−RAM1は4ビット幅とされており、1ワード
のアクセスについては、1回の行アクセス内で4回の列
アクセスを行なうことで実行するようにする。D−RA
M1上の16ビットの1ワードにおいて、最初の4ビッ
トはエラーフラグとし、その後の3回アクセス分の12
ビットが、データ、即ち図4に示した1ワードのデータ
が割り当てられる。エラーフラグとしては、セーフの場
合には4ビット内の1ビットを『0』とし、またエラー
の場合は、『1』を書き込むこととする。
【0028】テープから読み出されたブロックデータは
D−RAM1に記憶されていくことになるが、ブロック
データの書込みアクセス動作の前に、まず、記憶された
D−RAM1に対する処理を先に説明する。
D−RAM1に記憶されていくことになるが、ブロック
データの書込みアクセス動作の前に、まず、記憶された
D−RAM1に対する処理を先に説明する。
【0029】図1において18はD−RAM1に対する
インターフェース回路である。D−RAM1に書き込ま
れたデータブロックは、まず誤り訂正処理が行なわれる
ことになるが。インターフェース回路18を介してD−
RAM1から読み出されたデータブロックは、データバ
ス17を介して誤り訂正/PQセット処理回路21に供
給される。なお、データバス17は、1ワードにつき1
2ビットのデータと1ビットエラーフラグについて使用
されている。20は訂正処理及びPQセットについての
制御を行なう誤り訂正/PQセット制御回路である。
インターフェース回路である。D−RAM1に書き込ま
れたデータブロックは、まず誤り訂正処理が行なわれる
ことになるが。インターフェース回路18を介してD−
RAM1から読み出されたデータブロックは、データバ
ス17を介して誤り訂正/PQセット処理回路21に供
給される。なお、データバス17は、1ワードにつき1
2ビットのデータと1ビットエラーフラグについて使用
されている。20は訂正処理及びPQセットについての
制御を行なう誤り訂正/PQセット制御回路である。
【0030】訂正処理が施されたデータについては、D
−RAM1上で訂正OKのデータについてはエラーフラ
グオフ(『0』)とされ、訂正しきれなかったデータに
ついてはエラーフラグオン(『1』)とされる。訂正処
理後は一定周期でD−RAM1から読み出されるデータ
が、DAデータラッチ回路22に取り込まれる。19は
DA出力/エラーセットアドレス発生回路であり、DA
データラッチ回路22に対してラッチクロックを供給し
ている。
−RAM1上で訂正OKのデータについてはエラーフラ
グオフ(『0』)とされ、訂正しきれなかったデータに
ついてはエラーフラグオン(『1』)とされる。訂正処
理後は一定周期でD−RAM1から読み出されるデータ
が、DAデータラッチ回路22に取り込まれる。19は
DA出力/エラーセットアドレス発生回路であり、DA
データラッチ回路22に対してラッチクロックを供給し
ている。
【0031】DAデータラッチ回路22には12ビット
幅に圧縮されているオーディオデータが供給されること
になるが、このデータが伸長回路23で18ビットに伸
長される。またDAデータラッチ回路22にラッチされ
た1ワードのデータにつきエラーフラグがオンとされて
いた場合、即ち訂正処理で訂正しきれないものであった
場合は、補間回路24で補間処理が施される。そして、
D/A変換器25においてアナログオーディオ信号とさ
れ、端子26から再生音声信号として出力されることに
なる。
幅に圧縮されているオーディオデータが供給されること
になるが、このデータが伸長回路23で18ビットに伸
長される。またDAデータラッチ回路22にラッチされ
た1ワードのデータにつきエラーフラグがオンとされて
いた場合、即ち訂正処理で訂正しきれないものであった
場合は、補間回路24で補間処理が施される。そして、
D/A変換器25においてアナログオーディオ信号とさ
れ、端子26から再生音声信号として出力されることに
なる。
【0032】ここで、D−RAM1に対して使い終った
メモリエリアについては、次にテープから読み出されて
くるブロックデータの書き込みに先だって、エラーフラ
グを『1』としておく処理が行なわれる。即ち、D/A
変換器25側に出力し終ったデータが記憶されていたの
メモリエリアへのエラーフラグセットとして、DA出力
/エラーセットアドレス発生回路19は、D/A変換器
25側への周期的なD−RAM1からのデータ読み出し
アクセススロットの直後のスロットにおいて、同じアド
レスにエラーフラグ=1を書き込むようにしている。
メモリエリアについては、次にテープから読み出されて
くるブロックデータの書き込みに先だって、エラーフラ
グを『1』としておく処理が行なわれる。即ち、D/A
変換器25側に出力し終ったデータが記憶されていたの
メモリエリアへのエラーフラグセットとして、DA出力
/エラーセットアドレス発生回路19は、D/A変換器
25側への周期的なD−RAM1からのデータ読み出し
アクセススロットの直後のスロットにおいて、同じアド
レスにエラーフラグ=1を書き込むようにしている。
【0033】また、P,Qパリティワードについても同
様に、不要となったメモリエリアには次にテープから読
み出されてくるブロックデータの書き込みに先だって、
エラーフラグを『1』としておく処理が行なわれる。即
ち、誤り訂正/PQセット制御回路20は、訂正処理の
終ったP,Qパリティワードに対してD−RAM1上で
同じアドレスにエラーフラグ=1を書き込むようにして
いる。
様に、不要となったメモリエリアには次にテープから読
み出されてくるブロックデータの書き込みに先だって、
エラーフラグを『1』としておく処理が行なわれる。即
ち、誤り訂正/PQセット制御回路20は、訂正処理の
終ったP,Qパリティワードに対してD−RAM1上で
同じアドレスにエラーフラグ=1を書き込むようにして
いる。
【0034】以上のようにD−RAM1では、使い終っ
たワードデータについては、エラーフラグがセットされ
ていることになる。そしてテープから読み出されたデー
タについてのD−RAM1への書き込みアクセス時に
は、エラーフラグが参照されることになる。以下、この
動作について説明する。
たワードデータについては、エラーフラグがセットされ
ていることになる。そしてテープから読み出されたデー
タについてのD−RAM1への書き込みアクセス時に
は、エラーフラグが参照されることになる。以下、この
動作について説明する。
【0035】図1において2は回転ヘッド部を示し、A
ヘッド、Bヘッドによるヘリカルスキャン再生が行なわ
れる。Aヘッド、Bヘッドはほぼ180°対向して配置
されている。Aヘッド、Bヘッドによって読み取られた
信号はヘッドアンプ3で増幅された後、波形等化器4を
介してPLL回路5に供給される。PLL回路5では再
生データから再生クロックが生成され、復調回路6で再
生クロックを用いてデータの復調処理が行なわれて、同
期信号(SYNC)及びNRZ復調データが出力され
る。
ヘッド、Bヘッドによるヘリカルスキャン再生が行なわ
れる。Aヘッド、Bヘッドはほぼ180°対向して配置
されている。Aヘッド、Bヘッドによって読み取られた
信号はヘッドアンプ3で増幅された後、波形等化器4を
介してPLL回路5に供給される。PLL回路5では再
生データから再生クロックが生成され、復調回路6で再
生クロックを用いてデータの復調処理が行なわれて、同
期信号(SYNC)及びNRZ復調データが出力され
る。
【0036】1ブロック毎の再生データについて、同期
信号(SYNC)及びNRZ復調データはCRC処理部
9に供給され、同期信号(SYNC)のタイミングを基
準としてNRZ復調データのCRCチェックが行なわれ
る。そのデータブロックについてチェックOKであった
場合は、セーフ信号(SAFE)が再生制御回路10に
供給される。再生制御回路10はCRCチェックについ
てセーフとされたデータブロックについて、以降、回路
の同期が取られ、D−RAM1への書き込み及び誤り訂
正、D/A出力などの処理を実行することになる。
信号(SYNC)及びNRZ復調データはCRC処理部
9に供給され、同期信号(SYNC)のタイミングを基
準としてNRZ復調データのCRCチェックが行なわれ
る。そのデータブロックについてチェックOKであった
場合は、セーフ信号(SAFE)が再生制御回路10に
供給される。再生制御回路10はCRCチェックについ
てセーフとされたデータブロックについて、以降、回路
の同期が取られ、D−RAM1への書き込み及び誤り訂
正、D/A出力などの処理を実行することになる。
【0037】7は遅延回路であり、テープから読み出さ
れた1ブロックのデータについてCRCチェックがセー
フでない場合はD−RAM1への書き込みは行なわない
ものであるため、遅延回路7によりCRC処理部9にお
いてCRCチェックを行なう期間を待機させている。遅
延回路7はシフトレジスタや、もしくはメモリ及びカウ
ンタによって構成できる。
れた1ブロックのデータについてCRCチェックがセー
フでない場合はD−RAM1への書き込みは行なわない
ものであるため、遅延回路7によりCRC処理部9にお
いてCRCチェックを行なう期間を待機させている。遅
延回路7はシフトレジスタや、もしくはメモリ及びカウ
ンタによって構成できる。
【0038】8はシリアル/パラレル変換部であり、図
2(a)のようにシリアル転送されてくる1ブロックの
ワードデータをそれぞれパラレルに変換して出力する。
シリアル/パラレル変換部8から出力される1ブロック
のデータについては、データラッチ回路11によって図
2(e)のように各ワード(12ビット)が順次ラッチ
され、データバス17に出力されていく。また、ブロッ
クアドレスは図2(c)のようにブロックアドレスラッ
チ回路12にラッチされる。この場合、ラッチされるア
ドレスは図4に示した各ブロックの13ビットのアドレ
ス(トラックアドレス6ビット+ブロックアドレス7ビ
ット)である。
2(a)のようにシリアル転送されてくる1ブロックの
ワードデータをそれぞれパラレルに変換して出力する。
シリアル/パラレル変換部8から出力される1ブロック
のデータについては、データラッチ回路11によって図
2(e)のように各ワード(12ビット)が順次ラッチ
され、データバス17に出力されていく。また、ブロッ
クアドレスは図2(c)のようにブロックアドレスラッ
チ回路12にラッチされる。この場合、ラッチされるア
ドレスは図4に示した各ブロックの13ビットのアドレ
ス(トラックアドレス6ビット+ブロックアドレス7ビ
ット)である。
【0039】図5に示したようにD−RAM1上ではト
ラックアドレスは7ビットとされているが、その内の1
つのビットV0は、A/Bヘッドのアジマスに対応する
ビットとされ、ブロックアドレスラッチ回路12の出力
に付加される。これにより14ビットのアドレスとさ
れ、アドレス変換回路18に供給される。データラッチ
回路11及びブロックアドレスラッチ回路12には再生
制御回路10からラッチクロックが供給される(図2
(b)(d))。
ラックアドレスは7ビットとされているが、その内の1
つのビットV0は、A/Bヘッドのアジマスに対応する
ビットとされ、ブロックアドレスラッチ回路12の出力
に付加される。これにより14ビットのアドレスとさ
れ、アドレス変換回路18に供給される。データラッチ
回路11及びブロックアドレスラッチ回路12には再生
制御回路10からラッチクロックが供給される(図2
(b)(d))。
【0040】また13はワードカウンタであり、5ビッ
トカウンタとされる。そしてCRCチェックがセーフと
なったタイミング、即ちブロックアドレスラッチ回路1
2のラッチタイミング(図2(b))で、図2(f)の
ように初期値0Bhがロードされる。以降データラッチ
回路11へのラッチタイミング毎(図2(d))にカウ
ントアップされる。図2(e)(f)からわかるよう
に、カウンタ値が0Ch〜0Fhのときは、P,Qパリ
ティワードのアドレスとなり、カウンタ値が10h〜1
FhのときはL,Rデータワードのアドレスとなる。1
Fhを越えると00hとなってカウント動作が停止され
る。1ワードは12ビットであるため、再生制御回路1
0は12ビットカウンタを有し、この12ビットカウン
タのカウントアップ毎にデータラッチ回路11に対する
図2(d)のラッチクロック(=ワードカウンタのカウ
ントクロック)を供給している。
トカウンタとされる。そしてCRCチェックがセーフと
なったタイミング、即ちブロックアドレスラッチ回路1
2のラッチタイミング(図2(b))で、図2(f)の
ように初期値0Bhがロードされる。以降データラッチ
回路11へのラッチタイミング毎(図2(d))にカウ
ントアップされる。図2(e)(f)からわかるよう
に、カウンタ値が0Ch〜0Fhのときは、P,Qパリ
ティワードのアドレスとなり、カウンタ値が10h〜1
FhのときはL,Rデータワードのアドレスとなる。1
Fhを越えると00hとなってカウント動作が停止され
る。1ワードは12ビットであるため、再生制御回路1
0は12ビットカウンタを有し、この12ビットカウン
タのカウントアップ毎にデータラッチ回路11に対する
図2(d)のラッチクロック(=ワードカウンタのカウ
ントクロック)を供給している。
【0041】14はリードワード変換部であり、ブロッ
クの最初のワードを書き込むカウンタ値の1つ前の値
が、存在する或るワードアドレスに変換されるようにし
ている。即ち存在するワードアドレスは0Ch〜1Fh
であるため、最初のワードを書き込むカウンタ値(0C
h)の1つ前の値(0Bh)を、0Ch〜1Fhの或る
値に変換する。この実施例では図2(f)(g)に示す
ように、0Bhを、データR6に相当するワードアドレ
スである1Bhに変換するものとする。
クの最初のワードを書き込むカウンタ値の1つ前の値
が、存在する或るワードアドレスに変換されるようにし
ている。即ち存在するワードアドレスは0Ch〜1Fh
であるため、最初のワードを書き込むカウンタ値(0C
h)の1つ前の値(0Bh)を、0Ch〜1Fhの或る
値に変換する。この実施例では図2(f)(g)に示す
ように、0Bhを、データR6に相当するワードアドレ
スである1Bhに変換するものとする。
【0042】図6のように、ワードアドレス0Ch〜0
Fhについては、W4〜W0の5ビットの各値は、『0
11**』となる。またワードアドレス10h〜1Fh
については、W4〜W0の5ビットの各値は、『1**
**』となる。ここで『0Bh』は『01011』であ
るが、このうちW4を『1』とすることで『1101
1』となり、即ち『1Bh』となる。従って、W2=0
という場合には、そのW4を『1』とするという規則で
変換すればよい。W2=0という場合は、ワードアドレ
ス10h〜1Fh内にも存在するが、この場合はW4の
値は必ず『1』であるため問題ない。即ち、リードワー
ド変換部13では、W4出力について、(W4)OR
(反転W2)というロジックの変換処理が行なわれる。
Fhについては、W4〜W0の5ビットの各値は、『0
11**』となる。またワードアドレス10h〜1Fh
については、W4〜W0の5ビットの各値は、『1**
**』となる。ここで『0Bh』は『01011』であ
るが、このうちW4を『1』とすることで『1101
1』となり、即ち『1Bh』となる。従って、W2=0
という場合には、そのW4を『1』とするという規則で
変換すればよい。W2=0という場合は、ワードアドレ
ス10h〜1Fh内にも存在するが、この場合はW4の
値は必ず『1』であるため問題ない。即ち、リードワー
ド変換部13では、W4出力について、(W4)OR
(反転W2)というロジックの変換処理が行なわれる。
【0043】アドレス変換回路15には、14ビットの
ブロックアドレス(及びトラックアドレス)と、5ビッ
トのワードアドレスが供給される。このアドレス変換回
路15では、ラッチされたテープ上でのブロックアドレ
スから、トラックの両端の2重記録領域におけるブロッ
クを本来のブロックと同じブロックアドレスに変換し、
ワードアドレスを元に、インターリーブ系列に従ってD
−RAM1上の実アドレスに変換する。またインターリ
ーブのかかっていないCTLブロックについても、8ブ
ロックとも同じ実アドレスに変換する。
ブロックアドレス(及びトラックアドレス)と、5ビッ
トのワードアドレスが供給される。このアドレス変換回
路15では、ラッチされたテープ上でのブロックアドレ
スから、トラックの両端の2重記録領域におけるブロッ
クを本来のブロックと同じブロックアドレスに変換し、
ワードアドレスを元に、インターリーブ系列に従ってD
−RAM1上の実アドレスに変換する。またインターリ
ーブのかかっていないCTLブロックについても、8ブ
ロックとも同じ実アドレスに変換する。
【0044】このアドレス変換回路15により、ワード
の実アドレスとしては4ビットに変換され、7ビットの
トラックアドレス、7ビットのブロックアドレスと合わ
せて18ビットがアドレスバス16に出力されることに
なる。
の実アドレスとしては4ビットに変換され、7ビットの
トラックアドレス、7ビットのブロックアドレスと合わ
せて18ビットがアドレスバス16に出力されることに
なる。
【0045】このアドレスバス16に出力されたアドレ
スと、データバス17に出力されているワードデータが
インターフェース回路18を介してD−RAM1に供給
され、書き込みアクセスが実行されるわけであり、従来
では、図2(h)に示すようにワードアドレス0Ch〜
1Fhの各タイミングでPOD〜R8までの各ワードがD
−RAM1に書き込まれていた。つまり、1ブロックに
つき20回の行アクセスが実行されていた。
スと、データバス17に出力されているワードデータが
インターフェース回路18を介してD−RAM1に供給
され、書き込みアクセスが実行されるわけであり、従来
では、図2(h)に示すようにワードアドレス0Ch〜
1Fhの各タイミングでPOD〜R8までの各ワードがD
−RAM1に書き込まれていた。つまり、1ブロックに
つき20回の行アクセスが実行されていた。
【0046】ところが本実施例では、再生制御回路10
はワードカウンタ13のカウント値を取り込んでおり、
カウント値が『0Bh』とされたタイミングで、図2
(i)又は(j)のようにD−RAM1に対するリード
要求を出すようにしている。このとき、ワードカウンタ
13のカウント値『0Bh』は上述したように『1B
h』に変換されてアドレス変換回路15に供給される。
そしてブロックアドレスはワードアドレス『1Bh』に
対応するインターリーブを施したブロックアドレスとな
る。
はワードカウンタ13のカウント値を取り込んでおり、
カウント値が『0Bh』とされたタイミングで、図2
(i)又は(j)のようにD−RAM1に対するリード
要求を出すようにしている。このとき、ワードカウンタ
13のカウント値『0Bh』は上述したように『1B
h』に変換されてアドレス変換回路15に供給される。
そしてブロックアドレスはワードアドレス『1Bh』に
対応するインターリーブを施したブロックアドレスとな
る。
【0047】即ち、カウント値が『0Bh』とされたタ
イミングでのD−RAM1に対するリード要求により、
今回のデータブロックについて書き込むべきブロックア
ドレスでのワードアドレス『1Bh』として記憶されて
いるデータの読み込みが行なわれる。つまり、書き込む
べきブロックアドレスでのエラーフラグの状態が読み込
まれる。読み込まれたエラーフラグはエラーフラグラッ
チ回路27にラッチされ、エラーフラグ状態は再生制御
回路10に検出される。
イミングでのD−RAM1に対するリード要求により、
今回のデータブロックについて書き込むべきブロックア
ドレスでのワードアドレス『1Bh』として記憶されて
いるデータの読み込みが行なわれる。つまり、書き込む
べきブロックアドレスでのエラーフラグの状態が読み込
まれる。読み込まれたエラーフラグはエラーフラグラッ
チ回路27にラッチされ、エラーフラグ状態は再生制御
回路10に検出される。
【0048】ここで、エラーフラグ=『1』であった場
合とは、そのブロックアドレスに記憶されていたデータ
は既にD/A変換出力され、その後、まだそのブロック
アドレスには必要なデータブロック(CRCセーフとさ
れたデータブロック)のデータが記憶されてない場合で
ある。そこで、再生制御回路10は引き続きワードカウ
ンタ13の動作を進め、図2(i)のように0C〜1F
に対応するワードをD−RAM1に書き込んでいくこと
になる。このとき、エラーフラグとしては各ワードにつ
いて『0』を書き込むようにする。
合とは、そのブロックアドレスに記憶されていたデータ
は既にD/A変換出力され、その後、まだそのブロック
アドレスには必要なデータブロック(CRCセーフとさ
れたデータブロック)のデータが記憶されてない場合で
ある。そこで、再生制御回路10は引き続きワードカウ
ンタ13の動作を進め、図2(i)のように0C〜1F
に対応するワードをD−RAM1に書き込んでいくこと
になる。このとき、エラーフラグとしては各ワードにつ
いて『0』を書き込むようにする。
【0049】一方、カウント値が『0Bh』とされたタ
イミングでのD−RAM1に対するリード要求により読
み込まれ、エラーフラグラッチ回路27にラッチされた
エラーフラグが『0』であった場合とは、すでにそのブ
ロックアドレスにはCRCセーフとなったデータブロッ
クが書き込まれている場合である。この場合は、今回の
データブロックについてはD−RAM1へ書き込むこと
は不要であるため、図2(j)のように0C〜1Fに対
応するワードのD−RAM1に書き込みを禁止する。
イミングでのD−RAM1に対するリード要求により読
み込まれ、エラーフラグラッチ回路27にラッチされた
エラーフラグが『0』であった場合とは、すでにそのブ
ロックアドレスにはCRCセーフとなったデータブロッ
クが書き込まれている場合である。この場合は、今回の
データブロックについてはD−RAM1へ書き込むこと
は不要であるため、図2(j)のように0C〜1Fに対
応するワードのD−RAM1に書き込みを禁止する。
【0050】書き込み禁止処理としては、ワードカウン
タ13のカウント動作を停止させてもよいし、又はカウ
ント動作を継続させたまま書込要求を発生させないで書
き込み禁止を行なってもよい。なお、エラーフラグラッ
チ回路27は必ずしも必要ではない。例えば再生制御回
路10が直接エラーフラグを取り込んで、そのエラーフ
ラグに応じてワードカウンタ13のカウント動作の継続
/停止を決定するような構成としてもよい。
タ13のカウント動作を停止させてもよいし、又はカウ
ント動作を継続させたまま書込要求を発生させないで書
き込み禁止を行なってもよい。なお、エラーフラグラッ
チ回路27は必ずしも必要ではない。例えば再生制御回
路10が直接エラーフラグを取り込んで、そのエラーフ
ラグに応じてワードカウンタ13のカウント動作の継続
/停止を決定するような構成としてもよい。
【0051】以上の処理により、本実施例ではD−RA
M1に対するアクセス動作は、必要な場合には図2
(i)のように21回となり、不要な場合、つまり既に
そのデータブロックの書き込みがなされていた場合に
は、書き込みアクセスは行なわれないため、図2(j)
のようにエラーフラグチェックのための読み込みアクセ
スのみの1回となる。従来例においては、テープから読
み出されたデータブロックについてはかならずD−RA
M1に書き込んでおり、従って、読み出されてくる全ブ
ロックに対してそれぞれ図2(h)のように20回のア
クセス動作が実行される。
M1に対するアクセス動作は、必要な場合には図2
(i)のように21回となり、不要な場合、つまり既に
そのデータブロックの書き込みがなされていた場合に
は、書き込みアクセスは行なわれないため、図2(j)
のようにエラーフラグチェックのための読み込みアクセ
スのみの1回となる。従来例においては、テープから読
み出されたデータブロックについてはかならずD−RA
M1に書き込んでおり、従って、読み出されてくる全ブ
ロックに対してそれぞれ図2(h)のように20回のア
クセス動作が実行される。
【0052】ここで、仮にD−RAM1上のブロックア
ドレス数に対して平均2倍のデータブロック(CRCセ
ーフとなったデータブロック)が転送されてきたとす
る。つまりセーフとなった同一ブロックが2回D−RA
M1に転送されるとする。すると、従来ではそのブロッ
クについて40回のアクセスが実行されることに対し、
本実施例の場合は、(21×1+1×1)=22の、2
2回のアクセスとなる。つまり、アクセス回数は従来の
0.55倍となり、著しく減少されたものとなる。
ドレス数に対して平均2倍のデータブロック(CRCセ
ーフとなったデータブロック)が転送されてきたとす
る。つまりセーフとなった同一ブロックが2回D−RA
M1に転送されるとする。すると、従来ではそのブロッ
クについて40回のアクセスが実行されることに対し、
本実施例の場合は、(21×1+1×1)=22の、2
2回のアクセスとなる。つまり、アクセス回数は従来の
0.55倍となり、著しく減少されたものとなる。
【0053】従って本実施例では、D−RAM1のアク
セス時に要する消費電力を減少させることができ、また
D−RAM1と接続する端子や基板パターンの容量を充
放電させるための電流を減らすことができる。これによ
ってシステム全体としての省電力化が促進され、例えば
電池駆動の場合では電池の長寿命化を実現できる。さら
にアクセス回数が少なくなることからアクセス時のスパ
イク電流によるシステムノイズを低減することができ
る。
セス時に要する消費電力を減少させることができ、また
D−RAM1と接続する端子や基板パターンの容量を充
放電させるための電流を減らすことができる。これによ
ってシステム全体としての省電力化が促進され、例えば
電池駆動の場合では電池の長寿命化を実現できる。さら
にアクセス回数が少なくなることからアクセス時のスパ
イク電流によるシステムノイズを低減することができ
る。
【0054】ところで、CTLブロックには各種のID
や曲の頭出し信号等が記録されているが、実施例のデジ
タルオーディオテープレコーダのシステムコントローラ
は、インターフェース回路18を介して通信を行ない、
D−RAM1上のCTL内容の読出/書込を行なうもの
となっている。
や曲の頭出し信号等が記録されているが、実施例のデジ
タルオーディオテープレコーダのシステムコントローラ
は、インターフェース回路18を介して通信を行ない、
D−RAM1上のCTL内容の読出/書込を行なうもの
となっている。
【0055】しかし、CTLブロックが記憶されるエリ
アのエラーフラグがハードウエアによってセットされな
い場合は、新しいデータの書込みが禁止されてしまうの
で、システムコントローラからエラーフラグ=1を書込
む必要が生じる。このとき、すべてのワードについてエ
ラーフラグを書込むようにすると、ワード毎のエラーフ
ラグが有効となる反面、ソフトウエアによる通信回数が
増えてしまう。そこで、特定のワード、すなわりワード
アドレス=1BhとなるR6ワードについてだけエラー
フラグを書込むようにする。すると、新しいデータのD
−RAM1への書込みが許可されることになり、また、
このワードのエラーフラグによりCTLブロック全体の
エラー判定を行なうことが可能となる。
アのエラーフラグがハードウエアによってセットされな
い場合は、新しいデータの書込みが禁止されてしまうの
で、システムコントローラからエラーフラグ=1を書込
む必要が生じる。このとき、すべてのワードについてエ
ラーフラグを書込むようにすると、ワード毎のエラーフ
ラグが有効となる反面、ソフトウエアによる通信回数が
増えてしまう。そこで、特定のワード、すなわりワード
アドレス=1BhとなるR6ワードについてだけエラー
フラグを書込むようにする。すると、新しいデータのD
−RAM1への書込みが許可されることになり、また、
このワードのエラーフラグによりCTLブロック全体の
エラー判定を行なうことが可能となる。
【0056】なお、他の実施例としてデジタルテープレ
コーダにおいてエラーレートを改善するためにA・Bア
ジマスの再生ヘッドを2組設けて、トラックを記録時の
4倍の密度で再生させることも考えられる。この場合、
ダブルアジマスのA・Bヘッドともう1組のA’・B’
ヘッドを、ドラム上のほぼ180°対向した位置に配置
させ、4入力のヘッドアンプで切り換えて2チャンネル
とし、図1に示したD−RAM1までの書込み系の回路
を2系統設けるようにする。このような構成とした場
合、テープ上の同じデータブロックが読める回数は、ほ
ぼ2回から4回の間に分布することとなる。
コーダにおいてエラーレートを改善するためにA・Bア
ジマスの再生ヘッドを2組設けて、トラックを記録時の
4倍の密度で再生させることも考えられる。この場合、
ダブルアジマスのA・Bヘッドともう1組のA’・B’
ヘッドを、ドラム上のほぼ180°対向した位置に配置
させ、4入力のヘッドアンプで切り換えて2チャンネル
とし、図1に示したD−RAM1までの書込み系の回路
を2系統設けるようにする。このような構成とした場
合、テープ上の同じデータブロックが読める回数は、ほ
ぼ2回から4回の間に分布することとなる。
【0057】仮に、D−RAM1上のブロックアドレス
数に対して平均4倍のデータブロック(CRCセーフと
なったデータブロック)が転送されてきたとする。つま
りセーフとなった同一ブロックが4回D−RAM1に転
送されるとする。すると、従来ではそのブロックについ
て80回のアクセスが実行されることに対し、本実施例
の場合は、(21×1+1×3)=24の、24回のア
クセスとなる。つまり、アクセス回数は従来の80回に
比べて 0.3倍となり、著しく減少されたものとなる。つ
まり本発明による消費電力やシステムノイズの削減効果
はより大きなものとなる。
数に対して平均4倍のデータブロック(CRCセーフと
なったデータブロック)が転送されてきたとする。つま
りセーフとなった同一ブロックが4回D−RAM1に転
送されるとする。すると、従来ではそのブロックについ
て80回のアクセスが実行されることに対し、本実施例
の場合は、(21×1+1×3)=24の、24回のア
クセスとなる。つまり、アクセス回数は従来の80回に
比べて 0.3倍となり、著しく減少されたものとなる。つ
まり本発明による消費電力やシステムノイズの削減効果
はより大きなものとなる。
【0058】なお、本発明を実現するための構成は図1
以外にも各種考えられる。また本発明はデジタルオーデ
ィオテープレコーダに限らず各種機器において採用でき
るものである。
以外にも各種考えられる。また本発明はデジタルオーデ
ィオテープレコーダに限らず各種機器において採用でき
るものである。
【0059】
【発明の効果】以上説明したように本発明は、複数ワー
ドで処理単位となるデータブロックが構成されていると
ともに、メモリ上の同一アドレスに書き込まれるべきデ
ータブロックがメモリに対して複数回転送されてくる可
能性があるシステムにおいて、必要なデータブロックが
メモリに一旦書き込まれたら、そのデータブロックにつ
いてエラーフラグをオフとするようにし、不要となった
データブロックについてはエラーフラグをオンとするよ
うにしている。そして、或るデータブロックがメモリに
転送されてきて書き込みが行なわれる際には、その書き
込むべきアドレスに記憶されているデータについてエラ
ーフラグを確認し、エラーフラグがオフであれば、転送
されてきたデータと同一データが既に記憶されていると
して書き込みアクセスを実行しないようにしている。こ
れによって不要なアクセス動作をなくことができ、アク
セス回数が減少されることになるため、消費電力の削
減、及びシステムノイズの低減という効果を得ることが
できる。また、電池駆動のシステムの場合は、電池寿命
の長寿命化も実現できる。
ドで処理単位となるデータブロックが構成されていると
ともに、メモリ上の同一アドレスに書き込まれるべきデ
ータブロックがメモリに対して複数回転送されてくる可
能性があるシステムにおいて、必要なデータブロックが
メモリに一旦書き込まれたら、そのデータブロックにつ
いてエラーフラグをオフとするようにし、不要となった
データブロックについてはエラーフラグをオンとするよ
うにしている。そして、或るデータブロックがメモリに
転送されてきて書き込みが行なわれる際には、その書き
込むべきアドレスに記憶されているデータについてエラ
ーフラグを確認し、エラーフラグがオフであれば、転送
されてきたデータと同一データが既に記憶されていると
して書き込みアクセスを実行しないようにしている。こ
れによって不要なアクセス動作をなくことができ、アク
セス回数が減少されることになるため、消費電力の削
減、及びシステムノイズの低減という効果を得ることが
できる。また、電池駆動のシステムの場合は、電池寿命
の長寿命化も実現できる。
【図1】本発明の実施例のブロック図である。
【図2】実施例の動作の説明のための波形図である。
【図3】ノントラッキング方式の記録/再生動作の説明
図である。
図である。
【図4】ノントラッキング方式のトラックデータフォー
マットの説明図である。
マットの説明図である。
【図5】実施例に搭載されるD−RAMのアドレスの説
明図である。
明図である。
【図6】実施例におけるワードアドレス変換処理の説明
図である。
図である。
1 D−RAM 2 回転ヘッド部 6 復調回路 7 遅延回路 8 シリアル/パラレル変換部 9 CRC処理部 10 再生制御回路 11 データラッチ回路 12 ブロックアドレスラッチ回路 13 ワードカウンタ 14 リードワード変換部 15 アドレス変換回路 16 アドレスバス 17 データバス 18 インターフェース回路 19 DA出力/エラーセットアドレス発生回路 20 誤り訂正/PQセット制御回路 21 誤り訂正/PQセット処理回路 22 DAデータラッチ回路 23 伸長回路 24 補間回路 25 D/A変換器 27 エラーフラグラッチ回路
Claims (2)
- 【請求項1】 複数ワードで処理単位となるデータブロ
ックが構成されているとともに、メモリ上の同一アドレ
スに書き込まれるべきデータブロックが前記メモリに対
して複数回転送されてくる可能性がある場合におけるメ
モリアクセス方法として、 各データブロック単位のアドレスとなる記憶領域につい
て、必要なデータブロックの記憶がされている時点で
は、そのデータブロック内の少なくとも所定のワードに
ついてのエラーフラグがオフとされた記憶状態とし、 また各データブロック単位のアドレスとなる記憶領域に
ついて、記憶されているデータブロックが不要となった
時点では、そのデータブロック内の少なくとも所定のワ
ードについてのエラーフラグがオンとされた記憶状態と
し、 転送されてきたデータブロックの書込みを実行する際に
は、そのデータブロックを書込むべきアドレスにおいて
前記所定のワードについてのエラーフラグを検査し、エ
ラーフラグがオンであれば書込アクセス動作を実行し、
エラーフラグがオフであれば書込アクセス動作を実行し
ないようにしたことを特徴とするメモリアクセス方法。 - 【請求項2】 複数ワードで処理単位となるデータブロ
ックが構成されているとともに、メモリ上の同一アドレ
スに書き込まれるべきデータブロックが前記メモリに対
して複数回転送されてくる可能性があるデータ転送シス
テムにおけるメモリコントロール装置として、 各データブロック単位のアドレスとなる記憶領域につい
て、必要なデータブロックの記憶がされている時点で
は、そのデータブロック内の少なくとも所定のワードに
ついてのエラーフラグがオフとされた記憶状態とすると
ともに、各データブロック単位のアドレスとなる記憶領
域について、記憶されているデータブロックが不要とな
った時点では、そのデータブロック内の少なくとも所定
のワードについてのエラーフラグがオンとされた記憶状
態とすることができるエラーフラグ設定手段と、 データブロックの転送に応じて、そのデータブロックを
書込むべきアドレスにおいて前記所定のワードについて
のエラーフラグを検査するエラーフラグ検査手段と、 前記エラーフラグ検査手段によって、エラーフラグのオ
ンが検出されたら転送されてきたデータブロックについ
てのメモリに対する書込アクセス動作を実行し、またエ
ラーフラグのオフが検出されたら、転送されてきたデー
タブロックについてのメモリに対する書込アクセス動作
を実行しないようにするアクセス制御手段と、 を備えたことを特徴とするメモリコントロール装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP27863694A JP3697728B2 (ja) | 1994-10-19 | 1994-10-19 | メモリアクセス方法、メモリコントロール装置及び再生装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP27863694A JP3697728B2 (ja) | 1994-10-19 | 1994-10-19 | メモリアクセス方法、メモリコントロール装置及び再生装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH08115227A true JPH08115227A (ja) | 1996-05-07 |
| JP3697728B2 JP3697728B2 (ja) | 2005-09-21 |
Family
ID=17600043
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP27863694A Expired - Fee Related JP3697728B2 (ja) | 1994-10-19 | 1994-10-19 | メモリアクセス方法、メモリコントロール装置及び再生装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3697728B2 (ja) |
-
1994
- 1994-10-19 JP JP27863694A patent/JP3697728B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP3697728B2 (ja) | 2005-09-21 |
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Legal Events
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