JPH08117212A - 放射線撮像装置 - Google Patents
放射線撮像装置Info
- Publication number
- JPH08117212A JPH08117212A JP6265758A JP26575894A JPH08117212A JP H08117212 A JPH08117212 A JP H08117212A JP 6265758 A JP6265758 A JP 6265758A JP 26575894 A JP26575894 A JP 26575894A JP H08117212 A JPH08117212 A JP H08117212A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- sensor
- ray
- data
- standard value
- radiation
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- Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)
- Measurement Of Radiation (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 多くの放射線センサが集積されたラインセン
サや２次元センサを用いた場合であっても、個々のセン
サ特性を迅速に求めることができる放射線撮像装置を提
供する。 【構成】ラインセンサ１０のそれぞれのＸ線センサから
得られた検出データは、データ記憶手段１に一時的に記
憶された後、演算手段２によって、標準値変換関数記憶
手段３に記憶されたそれぞれのＸ線センサに対応する標
準値変換関数を用いて所定の標準値に変換される。そし
て、それぞれ変換された標準値は変換手段４によってＸ
線強度に関する信号に変換されて、表示手段５にＸ線画
像として表示される。
サや２次元センサを用いた場合であっても、個々のセン
サ特性を迅速に求めることができる放射線撮像装置を提
供する。 【構成】ラインセンサ１０のそれぞれのＸ線センサから
得られた検出データは、データ記憶手段１に一時的に記
憶された後、演算手段２によって、標準値変換関数記憶
手段３に記憶されたそれぞれのＸ線センサに対応する標
準値変換関数を用いて所定の標準値に変換される。そし
て、それぞれ変換された標準値は変換手段４によってＸ
線強度に関する信号に変換されて、表示手段５にＸ線画
像として表示される。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、被検体の放射線像を撮
像する放射線撮像装置、例えば、半導体Ｘ線センサを用
いて被検体の撮影画像を構成する方式のＸ線撮像装置に
関する。
像する放射線撮像装置、例えば、半導体Ｘ線センサを用
いて被検体の撮影画像を構成する方式のＸ線撮像装置に
関する。
【０００２】
【従来技術】近年、胸部用の放射線撮像装置として、例
えば、直接フィルムに透過Ｘ線を照射することでＸ線画
像を得る方式に代わり、半導体センサにより透過Ｘ線を
電気信号に変換することでＸ線撮影像を得る方式が開発
されている。
えば、直接フィルムに透過Ｘ線を照射することでＸ線画
像を得る方式に代わり、半導体センサにより透過Ｘ線を
電気信号に変換することでＸ線撮影像を得る方式が開発
されている。
【０００３】この半導体センサは例えば個々のＸ線セン
サを１次元のアレイ状に配列したラインセンサとして構
成され、このラインセンサを被検体の体軸方向に走査す
ることによって２次元画像を得るものである。
サを１次元のアレイ状に配列したラインセンサとして構
成され、このラインセンサを被検体の体軸方向に走査す
ることによって２次元画像を得るものである。
【０００４】図７は、このラインセンサを用いたＸ線撮
像装置の概略図で、ラインセンサ１０が体軸方向に設置
された支柱１１に対して、その軸方向に移動可能に配設
され、対向する位置にはＸ線管１２が配設されている。
かかるＸ線撮像装置では、ラインセンサ１０の前に立た
せた被検体Ｂに対してＸ線管１２からＸ線を照射し、そ
の状態でラインセンサ１０を下方、即ち被検体Ｂの体軸
方向へ移動させながら透過Ｘ線を検出することにより被
検体Ｂの２次元Ｘ線画像を得る。
像装置の概略図で、ラインセンサ１０が体軸方向に設置
された支柱１１に対して、その軸方向に移動可能に配設
され、対向する位置にはＸ線管１２が配設されている。
かかるＸ線撮像装置では、ラインセンサ１０の前に立た
せた被検体Ｂに対してＸ線管１２からＸ線を照射し、そ
の状態でラインセンサ１０を下方、即ち被検体Ｂの体軸
方向へ移動させながら透過Ｘ線を検出することにより被
検体Ｂの２次元Ｘ線画像を得る。
【０００５】ここで、ラインセンサ１０の個々のＸ線セ
ンサから得られる電気信号はＸ線の入射量に応じた値と
して得られるが、通常これらの間には比例関係がないた
め、図８に示すようにＸ線透過度（厚さ）を段状に変化
させたアクリルファントム１３等をラインセンサ１０の
前に配置し、各段毎の撮像により得られるＸ線センサの
検出データを縦軸に、アクリル１３等の厚さから得られ
Ｘ線入射量の真値に対応するＸ線強度データを横軸に取
り、これらの関係を所定の関数で近似する必要が生じ
る。
ンサから得られる電気信号はＸ線の入射量に応じた値と
して得られるが、通常これらの間には比例関係がないた
め、図８に示すようにＸ線透過度（厚さ）を段状に変化
させたアクリルファントム１３等をラインセンサ１０の
前に配置し、各段毎の撮像により得られるＸ線センサの
検出データを縦軸に、アクリル１３等の厚さから得られ
Ｘ線入射量の真値に対応するＸ線強度データを横軸に取
り、これらの関係を所定の関数で近似する必要が生じ
る。
【０００６】かかる場合、これらを３次式等の多項式で
近似すると、図９に示されるようになり、正確に両者の
関係を表すことができないため、従来では、図１０に示
すように両者の関係を特性曲線あるいはスプライン補間
等により近似していた。
近似すると、図９に示されるようになり、正確に両者の
関係を表すことができないため、従来では、図１０に示
すように両者の関係を特性曲線あるいはスプライン補間
等により近似していた。
【０００７】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、近年、
分解能の高い撮影像を得るために、Ｘ線センサを高密度
に集積したラインセンサや２次元センサが開発されてお
り、かかる場合に、すべてのＸ線センサについて上述し
た処理を行うと非常に多大な時間が必要となる。例え
ば、特性曲線を用いる場合、非マヒ型モデルであれば、
下記の式 ｙ＝ηχ／（１＋ηχ・τ／Ｔ） （１） で近似され、マヒ型モデルであれば、下記の式 ｙ＝ηχｅｘｐ（−ηχ・τ／Ｔ） （２） χ：真値を示す補正データ、ｙ：Ｘ線検出器から直接得
られた測定データ、Ｔ：測定時間、τ：Ｘ線フォトンの
入射後に次のパルスが立ちうるまでの時間を示す不感時
間、η：検出効率を示す定数 で近似されるが、これらのパラメータを求めるには、マ
ーカル法に代表される非線形最小２乗法を用いる必要が
あり、各Ｘ線センサ毎に非常に複雑な計算が必要にな
る。
分解能の高い撮影像を得るために、Ｘ線センサを高密度
に集積したラインセンサや２次元センサが開発されてお
り、かかる場合に、すべてのＸ線センサについて上述し
た処理を行うと非常に多大な時間が必要となる。例え
ば、特性曲線を用いる場合、非マヒ型モデルであれば、
下記の式 ｙ＝ηχ／（１＋ηχ・τ／Ｔ） （１） で近似され、マヒ型モデルであれば、下記の式 ｙ＝ηχｅｘｐ（−ηχ・τ／Ｔ） （２） χ：真値を示す補正データ、ｙ：Ｘ線検出器から直接得
られた測定データ、Ｔ：測定時間、τ：Ｘ線フォトンの
入射後に次のパルスが立ちうるまでの時間を示す不感時
間、η：検出効率を示す定数 で近似されるが、これらのパラメータを求めるには、マ
ーカル法に代表される非線形最小２乗法を用いる必要が
あり、各Ｘ線センサ毎に非常に複雑な計算が必要にな
る。
【０００８】また、スプライン補間を用いる場合には、
さらにサンプル点の取り方によって近似精度が異なるこ
とから、各Ｘ線センサ毎にサンプル点の特定動作が非常
に複雑なものとなる。
さらにサンプル点の取り方によって近似精度が異なるこ
とから、各Ｘ線センサ毎にサンプル点の特定動作が非常
に複雑なものとなる。
【０００９】そこで、本発明はこれらの課題を解消する
ため、多くの放射線センサが集積されたラインセンサや
２次元センサを用いた場合であっても、個々のセンサ特
性を迅速に求めることができる放射線撮像装置を提供す
ることを目的とする。
ため、多くの放射線センサが集積されたラインセンサや
２次元センサを用いた場合であっても、個々のセンサ特
性を迅速に求めることができる放射線撮像装置を提供す
ることを目的とする。
【００１０】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明は、放射線センサをアレイ状または２次元状
に配列して、被検体の放射線像を撮像する放射線撮像装
置において、前記放射線センサのそれぞれのセンサ特性
関数をパラメータに関して線形な関数で変換しうる所定
の標準値関数と、前記それぞれのセンサ特性関数との関
係を規定する標準値変換関数を、個々の放射線センサ毎
に記憶する標準値変換関数記憶手段と、前記放射線セン
サの検出データを前記標準値変換関数記憶手段に記憶さ
れた対応する標準値変換関数を用いて標準データを算出
する演算手段と、算出された標準データを放射線強度デ
ータに変換するための変換手段と、を備えたことを特徴
とする。
に、本発明は、放射線センサをアレイ状または２次元状
に配列して、被検体の放射線像を撮像する放射線撮像装
置において、前記放射線センサのそれぞれのセンサ特性
関数をパラメータに関して線形な関数で変換しうる所定
の標準値関数と、前記それぞれのセンサ特性関数との関
係を規定する標準値変換関数を、個々の放射線センサ毎
に記憶する標準値変換関数記憶手段と、前記放射線セン
サの検出データを前記標準値変換関数記憶手段に記憶さ
れた対応する標準値変換関数を用いて標準データを算出
する演算手段と、算出された標準データを放射線強度デ
ータに変換するための変換手段と、を備えたことを特徴
とする。
【００１１】
【作用】本発明の作用を図１に基づいて説明すると、ラ
インセンサ１０のそれぞれのＸ線センサから得られた検
出データは、データ記憶手段１に一時的に記憶された
後、演算手段２によって、標準値変換関数記憶手段３に
記憶されたそれぞれのＸ線センサに対応する標準値変換
関数を用いて所定の標準データに変換される。そして、
それぞれ変換された標準データは変換手段４によってＸ
線強度データに変換されて、表示手段５にＸ線画像とし
て表示される。
インセンサ１０のそれぞれのＸ線センサから得られた検
出データは、データ記憶手段１に一時的に記憶された
後、演算手段２によって、標準値変換関数記憶手段３に
記憶されたそれぞれのＸ線センサに対応する標準値変換
関数を用いて所定の標準データに変換される。そして、
それぞれ変換された標準データは変換手段４によってＸ
線強度データに変換されて、表示手段５にＸ線画像とし
て表示される。
【００１２】
【実施例】以下、本発明の一実施例を図１〜図１０に基
づいて説明する。
づいて説明する。
【００１３】図１は本発明にかかる放射線撮像装置の一
つであるＸ線撮像装置のブロック図である。同図におい
て、１０はラインセンサで、多数のＸ線センサがアレイ
状に配列された構造を有し、図７に示されるように被検
体Ｂの体軸方向に走査されることで被検体Ｂの２次元的
なデータが得られる。１はデータ記憶手段で、かかるラ
インセンサ１０から得られた検出データを一時的に記憶
する。２は演算手段で、ラインセンサ１０のそれぞれの
Ｘ線センサから得られる検出データを標準値変換関数記
憶手段３に記憶された対応するＸ線センサについての標
準値変換関数を用いて所定の標準データに変換する。４
は変換手段で、演算手段２で算出された標準データをＸ
線強度データに変換する。表示手段５は、ＣＲＴ等によ
り構成され、演算手段４からのＸ線強度データから撮影
されたＸ線像を表示する。
つであるＸ線撮像装置のブロック図である。同図におい
て、１０はラインセンサで、多数のＸ線センサがアレイ
状に配列された構造を有し、図７に示されるように被検
体Ｂの体軸方向に走査されることで被検体Ｂの２次元的
なデータが得られる。１はデータ記憶手段で、かかるラ
インセンサ１０から得られた検出データを一時的に記憶
する。２は演算手段で、ラインセンサ１０のそれぞれの
Ｘ線センサから得られる検出データを標準値変換関数記
憶手段３に記憶された対応するＸ線センサについての標
準値変換関数を用いて所定の標準データに変換する。４
は変換手段で、演算手段２で算出された標準データをＸ
線強度データに変換する。表示手段５は、ＣＲＴ等によ
り構成され、演算手段４からのＸ線強度データから撮影
されたＸ線像を表示する。
【００１４】次に、それぞれのＸ線センサの標準値変換
関数を算出するための手順を図２のフローチャートに基
づいて説明する。まず、従来技術で説明したように、図
７に示すアクリルファントム１３を撮影し、それぞれの
Ｘ線センサについてアクリルファントム１３の格段毎の
検出データを得る（Ｓ１）。
関数を算出するための手順を図２のフローチャートに基
づいて説明する。まず、従来技術で説明したように、図
７に示すアクリルファントム１３を撮影し、それぞれの
Ｘ線センサについてアクリルファントム１３の格段毎の
検出データを得る（Ｓ１）。
【００１５】そして、得られた検出データからアクリル
ファントム１３の格段毎の標準データを求める（Ｓ
２）。ここで、求める標準データは、それぞれのＸ線セ
ンサについてアクリルファントム１３の格段毎の検出デ
ータをパラメータに関して線形な変換関数で変換しうる
ものであればよい。すなわち、パラメータに関して線形
な変換関数とは、Ｘ線センサで得られる検出データと標
準データとの関係を表す関数の係数が一次であることを
意味し、例えば、以下に示す多項式や、 ｙ＝ａn Ｘn ＋ａn-1 Ｘn-1 ＋・・・・＋ａ0 ｙ＝αＸ＋βｅx 等が該当する。
ファントム１３の格段毎の標準データを求める（Ｓ
２）。ここで、求める標準データは、それぞれのＸ線セ
ンサについてアクリルファントム１３の格段毎の検出デ
ータをパラメータに関して線形な変換関数で変換しうる
ものであればよい。すなわち、パラメータに関して線形
な変換関数とは、Ｘ線センサで得られる検出データと標
準データとの関係を表す関数の係数が一次であることを
意味し、例えば、以下に示す多項式や、 ｙ＝ａn Ｘn ＋ａn-1 Ｘn-1 ＋・・・・＋ａ0 ｙ＝αＸ＋βｅx 等が該当する。
【００１６】ここで、ＸはＸ線センサの検出データの
値、ｙは標準データの値を、またａi（i=0 〜1 ）、
α、βはパラメータを示す。
値、ｙは標準データの値を、またａi（i=0 〜1 ）、
α、βはパラメータを示す。
【００１７】かかる条件を満たす標準データとして好ま
しいと考えられるのは、例えば、それぞれのＸ線センサ
についてアクリルファントム１３の格段毎に得られた検
出データの平均値データであり、図３に示されるよう
に、かかる平均値データ（ＱＲsenser count）とＸ線強
度データ（incident Ｘ-ray）との関係を表す標準値関
数は、個々のＸ線センサのセンサ特性関数とその特性が
近似したものとなるため、これらを多項式で関係づける
ことが容易となる。
しいと考えられるのは、例えば、それぞれのＸ線センサ
についてアクリルファントム１３の格段毎に得られた検
出データの平均値データであり、図３に示されるよう
に、かかる平均値データ（ＱＲsenser count）とＸ線強
度データ（incident Ｘ-ray）との関係を表す標準値関
数は、個々のＸ線センサのセンサ特性関数とその特性が
近似したものとなるため、これらを多項式で関係づける
ことが容易となる。
【００１８】このようにして、アクリルファントム１３
の格段毎に得られた標準データとそれぞれのＸ線センサ
の検出データから、それぞれのＸ線センサ毎にこれらの
対応関係を示す標準値変換関数を求め、標準値変換関数
記憶手段３に記憶する（Ｓ３）。図４は、一つのＸ線セ
ンサについて、Ｘ線センサの検出データと標準データと
の関係を示す標準値変換関数を多項式である３次多項式
で近似したものである。これらのパラメータに関して線
形な関数は、線形自乗法を用いて簡単に求めることがで
きるため、アレイセンサや２次元センサを構成するＸ線
センサが多数あっても、それらの標準値変換関数を非常
に迅速に求めることが可能となる。
の格段毎に得られた標準データとそれぞれのＸ線センサ
の検出データから、それぞれのＸ線センサ毎にこれらの
対応関係を示す標準値変換関数を求め、標準値変換関数
記憶手段３に記憶する（Ｓ３）。図４は、一つのＸ線セ
ンサについて、Ｘ線センサの検出データと標準データと
の関係を示す標準値変換関数を多項式である３次多項式
で近似したものである。これらのパラメータに関して線
形な関数は、線形自乗法を用いて簡単に求めることがで
きるため、アレイセンサや２次元センサを構成するＸ線
センサが多数あっても、それらの標準値変換関数を非常
に迅速に求めることが可能となる。
【００１９】次に、図３に示されるように、かかる標準
データとＸ線強度データとの関係を表す標準値関数を算
出し、変換手段４に記憶させる（Ｓ４）。なお、標準値
関数は、アクリルファントム１３の格段毎に得られた標
準データと、Ｘ線強度データ、例えば格段毎のアクリル
厚さとの関係から、従来と同様に、下記の非マヒ型モデ
ルや ｙ＝ηχ／（１＋ηχ・τ／Ｔ） 下記のマヒ型モデル ｙ＝ηχｅｘｐ（−ηχ・τ／Ｔ） χ：真値を示す補正データ、ｙ：Ｘ線検出器から直接得
られた測定データ、Ｔ：測定時間、τ：Ｘ線フォトンの
入射後に次のパルスが立ちうるまでの時間を示す不感時
間、η：検出効率を示す定数 で近似した特性関数を周知のマルカール法に代表される
非線形最小２乗法を用いて求めれば良く、また、スプラ
イン補間を用いた近似関数として求めてもよい。
データとＸ線強度データとの関係を表す標準値関数を算
出し、変換手段４に記憶させる（Ｓ４）。なお、標準値
関数は、アクリルファントム１３の格段毎に得られた標
準データと、Ｘ線強度データ、例えば格段毎のアクリル
厚さとの関係から、従来と同様に、下記の非マヒ型モデ
ルや ｙ＝ηχ／（１＋ηχ・τ／Ｔ） 下記のマヒ型モデル ｙ＝ηχｅｘｐ（−ηχ・τ／Ｔ） χ：真値を示す補正データ、ｙ：Ｘ線検出器から直接得
られた測定データ、Ｔ：測定時間、τ：Ｘ線フォトンの
入射後に次のパルスが立ちうるまでの時間を示す不感時
間、η：検出効率を示す定数 で近似した特性関数を周知のマルカール法に代表される
非線形最小２乗法を用いて求めれば良く、また、スプラ
イン補間を用いた近似関数として求めてもよい。
【００２０】次に、本発明を用いて、実際にＸ線撮影を
行う場合の動作を図５のフローチャートに基づいて説明
する。
行う場合の動作を図５のフローチャートに基づいて説明
する。
【００２１】まず、被検体のＸ線撮影を行い（Ｓ１
１）、ラインセンサ１０のそれぞれのＸ線センサから得
られた検出データが、演算手段２によって、標準値変換
関数記憶手段３に記憶されたそれぞれのＸ線センサに対
応する標準値変換関数を用いて所定の標準データに変換
される（Ｓ１２）。そして、それぞれ変換された標準デ
ータは変換手段４によってＸ線強度データに変換され
て、表示手段５にＸ線画像として表示される。
１）、ラインセンサ１０のそれぞれのＸ線センサから得
られた検出データが、演算手段２によって、標準値変換
関数記憶手段３に記憶されたそれぞれのＸ線センサに対
応する標準値変換関数を用いて所定の標準データに変換
される（Ｓ１２）。そして、それぞれ変換された標準デ
ータは変換手段４によってＸ線強度データに変換され
て、表示手段５にＸ線画像として表示される。
【００２２】以上の通り、Ｘ線センサの検出データから
Ｘ線強度データを求めるのに、まず、パラメータに関し
て線形な関数で示すことができる標準データに変換した
後、その標準データからＸ線強度データを得るよう構成
したため、Ｘ線検出データとＸ線強度データとの関係を
得るのに、個々のＸ線センサ毎に計算が容易な標準値変
換関数を求め、標準データとＸ線強度データとの関係を
示す非線形近似関数を一つ求めればよい。このため、Ｘ
線センサの特性が変化した場合であっても、従来のよう
に個々のＸ線センサ毎に非線形近似関数を算出する必要
はなく、極めて短時間で、Ｘ線センサの検出データとＸ
線強度データとの対応関係の修正、すなわちＸ線センサ
の感度補正が可能となる。
Ｘ線強度データを求めるのに、まず、パラメータに関し
て線形な関数で示すことができる標準データに変換した
後、その標準データからＸ線強度データを得るよう構成
したため、Ｘ線検出データとＸ線強度データとの関係を
得るのに、個々のＸ線センサ毎に計算が容易な標準値変
換関数を求め、標準データとＸ線強度データとの関係を
示す非線形近似関数を一つ求めればよい。このため、Ｘ
線センサの特性が変化した場合であっても、従来のよう
に個々のＸ線センサ毎に非線形近似関数を算出する必要
はなく、極めて短時間で、Ｘ線センサの検出データとＸ
線強度データとの対応関係の修正、すなわちＸ線センサ
の感度補正が可能となる。
【００２３】なお、上述した実施例では、標準データを
各Ｘ線センサの検出データの平均値データとしたが、代
表的なＸ線センサを選び、その検出データを標準データ
としてもよい。また、各Ｘ線センサにおいて、センサ特
性が他のＸ線センサに比べて極めて異なるものが存在す
る場合は、図６に示されるようにその特性に合わせて数
種類の標準データを用いてもよい。かかる場合、標準デ
ータの種類だけ、標準値関数が必要になる。
各Ｘ線センサの検出データの平均値データとしたが、代
表的なＸ線センサを選び、その検出データを標準データ
としてもよい。また、各Ｘ線センサにおいて、センサ特
性が他のＸ線センサに比べて極めて異なるものが存在す
る場合は、図６に示されるようにその特性に合わせて数
種類の標準データを用いてもよい。かかる場合、標準デ
ータの種類だけ、標準値関数が必要になる。
【００２４】さらに、上述した実施例では、標準データ
とＸ線強度データとの対応関係を標準値関数を用いて示
したが、例えば、これらの対応を変換テーブルに記憶
し、変換された標準データに対して、線形補間により、
Ｘ線強度データを算出するよう構成してもよい。
とＸ線強度データとの対応関係を標準値関数を用いて示
したが、例えば、これらの対応を変換テーブルに記憶
し、変換された標準データに対して、線形補間により、
Ｘ線強度データを算出するよう構成してもよい。
【００２５】
【発明の効果】本発明によれば、放射線センサの検出デ
ータから放射線強度データを求めるのに、まず、パラメ
ータに関して線形な関数で示すことができる標準データ
に変換した後、その標準データから放射線強度データを
得るよう構成したため、放射線検出データと放射線強度
データとの関係を得るのに、個々の放射線センサ毎の標
準値変換関数と、標準データと放射線強度データとの関
係を示す一つの非線形近似関数を求めればよい。このた
め、放射線センサの特性が変化した場合であっても、従
来のように個々の放射線センサ毎に非線形近似関数を算
出するのに比べて、極めて短時間で、放射線センサ特性
の感度補正が可能となる。
ータから放射線強度データを求めるのに、まず、パラメ
ータに関して線形な関数で示すことができる標準データ
に変換した後、その標準データから放射線強度データを
得るよう構成したため、放射線検出データと放射線強度
データとの関係を得るのに、個々の放射線センサ毎の標
準値変換関数と、標準データと放射線強度データとの関
係を示す一つの非線形近似関数を求めればよい。このた
め、放射線センサの特性が変化した場合であっても、従
来のように個々の放射線センサ毎に非線形近似関数を算
出するのに比べて、極めて短時間で、放射線センサ特性
の感度補正が可能となる。
【図１】本発明にかかるＸ線撮像装置をブロック図で示
した図である。
した図である。
【図２】Ｘ線センサ出力とＸ線強度データとの対応関係
を求める手順を示すフローチャートである。
を求める手順を示すフローチャートである。
【図３】センサ特性関数と標準値関数を示す図である。
【図４】標準値変換関数を示す図である。
【図５】本発明の動作を示すフローチャートである。
【図６】２つの標準値変換関数を示す図である。
【図７】Ｘ線撮像装置の概略図を示す図である。
【図８】アクリル板を用いてＸ線センサのセンサ特性を
求める場合を示す図である。
求める場合を示す図である。
【図９】センサ特性関数を３次式で近似した図である。
【図１０】センサ特性関数を示す図である。
１・・・・・・データ記憶手段 ２・・・・・・演算手段 ３・・・・・・標準値関数記憶手段 ４・・・・・・変換手段 ５・・・・・・表示手段
Claims (1)
- 【請求項１】 放射線センサをアレイ状または２次元状
に配列して、被検体の放射線像を撮像する放射線撮像装
置において、 前記放射線センサのそれぞれのセンサ特性関数をパラメ
ータに関して線形な関数で変換しうる所定の標準値関数
と、前記それぞれのセンサ特性関数との関係を規定する
標準値変換関数を、個々の放射線センサ毎に記憶する標
準値変換関数記憶手段と、 前記放射線センサの検出データを前記標準値変換関数記
憶手段に記憶された対応する標準値変換関数を用いて標
準データを算出する演算手段と、 算出された標準データを放射線強度データに変換するた
めの変換手段と、を備えたことを特徴とする放射線撮像
装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6265758A JP2778487B2 (ja) | 1994-10-28 | 1994-10-28 | 放射線撮像装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6265758A JP2778487B2 (ja) | 1994-10-28 | 1994-10-28 | 放射線撮像装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH08117212A true JPH08117212A (ja) | 1996-05-14 |
| JP2778487B2 JP2778487B2 (ja) | 1998-07-23 |
Family
ID=17421611
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP6265758A Expired - Fee Related JP2778487B2 (ja) | 1994-10-28 | 1994-10-28 | 放射線撮像装置 |
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| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2778487B2 (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH11271459A (ja) * | 1998-03-26 | 1999-10-08 | Jeol Ltd | ビームの測定方法 |
| WO2003000136A1 (fr) * | 2001-06-22 | 2003-01-03 | Hitachi Medical Corporation | Dispositif de diagnostic d'images radiologiques et procede de correction de donnees d'images radiologiques |
| US6748049B1 (en) | 1999-03-29 | 2004-06-08 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | X-ray camera |
-
1994
- 1994-10-28 JP JP6265758A patent/JP2778487B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH11271459A (ja) * | 1998-03-26 | 1999-10-08 | Jeol Ltd | ビームの測定方法 |
| US6748049B1 (en) | 1999-03-29 | 2004-06-08 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | X-ray camera |
| WO2003000136A1 (fr) * | 2001-06-22 | 2003-01-03 | Hitachi Medical Corporation | Dispositif de diagnostic d'images radiologiques et procede de correction de donnees d'images radiologiques |
| US6944267B2 (en) * | 2001-06-22 | 2005-09-13 | Hitachi Medical Corporation | X-ray image diagnostic device, and x-ray image data correcting method |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2778487B2 (ja) | 1998-07-23 |
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