JPH0812154B2 - 半田面外観検査方法 - Google Patents

半田面外観検査方法

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JPH0812154B2
JPH0812154B2 JP63040963A JP4096388A JPH0812154B2 JP H0812154 B2 JPH0812154 B2 JP H0812154B2 JP 63040963 A JP63040963 A JP 63040963A JP 4096388 A JP4096388 A JP 4096388A JP H0812154 B2 JPH0812154 B2 JP H0812154B2
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哲 辻
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Matsushita Electric Works Ltd
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    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/95—Investigating the presence of flaws or contamination characterised by the material or shape of the object to be examined
    • G01N21/956—Inspecting patterns on the surface of objects
    • G01N21/95684—Patterns showing highly reflecting parts, e.g. metallic elements

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  • Pathology (AREA)
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  • Electric Connection Of Electric Components To Printed Circuits (AREA)
  • Supply And Installment Of Electrical Components (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明は被検査物の半田面を撮像して半田面を検査す
る場合に用いる半田面外観検査方法に関するものであ
る。
[従来の技術] 従来の半田面外観検査方法を用いた外観検査装置とし
ては特開昭62−123339号に示された装置がある。この装
置では配線基板のような被検査物が増えるたびに夫々の
被検査物に対応した検査データを作成するもので、判定
精度を上げるために微妙な位置、形状の調整が必要なた
め検査データの作成に時間がかかっていた。従って検査
ライン内で検査データの作成を行っている場合、データ
作成時には検ラインを長時間止める必要があり、この問
題点を解決するために、工程外でのデータ作成が必要と
されていた。
[発明が解決しようとする課題] ところで上記特開昭62−123339号に示された半田面外
観検査方法を用いた装置において検査データ作成をライ
ン外で行うには次のような問題点があった。
即ち被検査物である配線基板はランドの形状が各配線
基板の各ポイント毎に異なるため、判定精度を高くする
には各ポイントの検査データにランド形状のデータを入
れる必要があり、また配線基板上の位置により半田の付
きかたに特徴があるため、半田の付きかたのデータも作
成する必要がある。
以上のようなデータを作成するのをライン外で行なわ
せると、検査データ作成の為のデータを作るのに時間が
かかってしまい実現不可能であった。
又第3図のように被検査物の検査面AにマスクBをか
けてマスク内のデータで検査判定を行う半田面外観検査
方法はマスクの形状、大きさを変え最適なマスクパター
ンを作成する必要があり、ライン外では標準パターンを
CADデータの位置情報より作成し、ライン内では撮像カ
メラCで被検査物Aを撮像した実画像を見ながら修正を
するようになっているが、上述のランド形状や半田の付
きかたのデータを作成する必要から最初からオンライン
でデータを作成した場合と大差なかった。
本発明は上述の点に鑑みて為されたもので、その目的
とするところは被検査物の検査データを作成する際に、
検査ラインの停止時間を最小にすることができる半田面
外観検査方法を提供するにある。
[課題を解決する手段] 本発明の半田面外観検査方法は被検査物の半田面を撮
像してその画像により半田面を検査する装置を用いて撮
像した画像のデータを外部記憶装置に記憶させ、この外
部記憶装置で記憶させている上記データを呼び出して画
像処理部、フレームメモリ、キーボード及びモニタを備
えた教示装置に取り込み、この取り込んだデータを前記
モニタに画像として再生し、再生した画像に基づいて半
田面の検査データを作成するものである。
[作用] 而して検査データを作成する場合には半田面を検査す
る装置を用いて被検査物の半田面を撮像し、その画像の
データを外部記憶装置に記憶させる。
次いでこの外部記憶装置から記憶させている上記デー
タをライン外の装置を用いて呼び出して画像をモニタに
再生し、この再生した画像に基づいて半田面の検査デー
タを作成するのである。つまり検査データの作成がライ
ン外で行えることになる。
[実施例] 以下本発明を実施例により説明する。
第1図は本発明の半田面外観検査方法を用い、ライン
内において被検査物の半田面を検査する外観検査装置の
回路構成を示しており、被検査物の半田面を撮像する撮
像カメラ1と、撮像されて得られたアナログ画像信号を
A/D変換して例えば8ビットの2値化画像データに変換
するA/D変換部2と、変化された画像データを一時記憶
するフレームメモリ部3と、このフレームメモリ部3で
記憶した画像データをD/A変換してアナログ画像信号を
作成するD/A変換部4と、この変換されたアナログ画像
信号により元の画像を再生するモニタ5と、装置内の各
部を制御するとともに本来の半田面の外観検査を行うた
めの演算制御機能を持つCPU部6と、このCPU部6により
フロッピーディスクコントロール部(図示せず)を介し
て制御され、上記フレームメモリ部3に記憶されている
画像データを外部記憶装置たる例えば8インチのフロッ
ピーディスク8に記憶させ、また後述の検査データを記
憶したフロッピーディスク8から検査データを呼び出す
フロッーピディスク駆動装置7とから構成されている。
勿論外部記憶装置としては8インチのフロッピーディス
ク以外のフロッピーディスクであっても良く、またその
他の記憶媒体からなる外部記憶装置として用いても良
い。
第2図は本発明の半田面外観検査方法を用いたライン
外において検査データを作成するための所謂教示装置の
回路構成を示しており、この装置では装置の各部の制御
と、演算とを行うCPU部10と、上記外観検査装置で画像
データを記憶させたフロッピーディスク8から記憶した
データを呼び出し且つ作成された検査データを書き込む
ためのフロッピーディスク駆動装置9と、このフロッピ
ーディスク駆動装置9をCPU部10からの制御データに基
づいて制御するフロッピーディスクコントロール部11
と、画像処理を行うのに必要な画像処理部12と、フレー
ムメモリ13と、データ入力を行うキーボード17及び画像
再生を行うモニタ14を制御するCRT/KBコントロール部15
と、他のメモリ16とから構成される。
而して本発明の半田面外観検査装方法の実施例を用い
た第1図、第2図に示した装置を用いて検査データを作
成するにあたっては半田面の検査を行う第1図に示す装
置において、被検査物の品種に対応するシーケンスデー
タ、2値化レベルデータ、位置補正データ等のデータ設
定を行った後、撮像カメラ1により撮像され、更に2値
化されてフレームメモリ3に一時記憶させてある被検査
物の画像のデータを画像No、品種等のラベルを付した上
でフロッピーディスク駆動装置7に入れた画像保存用の
フロッピーディスク8に記憶させる。
この後、フロッピーディスク駆動装置7からフロッピ
ーディスク8を取り出して、第2図に示す教示装置のフ
ロッピーディスク駆動装置9に入れて記憶されている画
像データを画像Noや、品種、回路等毎により呼び出して
フレームメモリ13に一時記憶させ、この記憶された画像
データを画像処理部12と、CRT/Kコントロール部15の働
きによりD/A変換した後にモニタ14に画像を再生する。
この再生画像を見ながら処理範囲を決めるマスク(ウイ
ンドウ)パターンのデータをキーボード17の操作等によ
り入力して編集作成する。同様にしてマーキング等のデ
ータの作成を行い、これらのデータ作成後、フロッピー
ディスク8に作成されたデータを保存するのである。こ
の保存されたデータを第1図の装置にロードすれば検査
データが新たな検査データとして使用することができる
こととなる。
[発明の効果] 本発明は被検査物の半田面を撮像してその画像により
半田面を検査する装置を用いて撮像した画像のデータを
外部記憶装置に記憶させ、この外部記憶装置で記憶させ
ている上記データを呼び出して画像処理部、フレームメ
モリ、キーボード及びモニタを備えた教示装置に取り込
み、この取り込んだデータを前記モニタに画像として再
生し、再生した画像に基づいて半田面の検査データを作
成するので、検査データを検査ライン外で作成すること
ができるので検査ラインを停止させている時間が短く済
み、検査効率の向上が図れるという効果を奏する。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の半田面外観検査方法の実施例に用いる
半田面の外観検査を行う装置の構成図、第2図は同上に
用いる教示装置の構成図、第3図は従来例の説明図であ
る。 8……フロッピーディスク、12……画像処理部、13……
フレームメモリ、14……モニタ、17……キーボードであ
る。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】被検査物の半田面を撮像してその画像によ
    り半田面を検査する装置を用いて撮像した画像のデータ
    を外部記憶装置に記憶させ、この外部記憶装置で記憶さ
    れている上記データを呼び出して画像処理部、フレーム
    メモリ、キーボード及びモニタを備えた教示装置に取り
    込み、この取り込んだデータを前記モニタに画像として
    再生し、再生した画像に基づいて半田面の検査データを
    作成することを特徴とする半田面外観検査方法。
JP63040963A 1988-02-24 1988-02-24 半田面外観検査方法 Expired - Lifetime JPH0812154B2 (ja)

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JPH01214741A JPH01214741A (ja) 1989-08-29
JPH0812154B2 true JPH0812154B2 (ja) 1996-02-07

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ID=12595138

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US7336374B2 (en) * 2005-10-24 2008-02-26 General Electric Company Methods and apparatus for generating a mask

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JPH01214741A (ja) 1989-08-29

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