JPH08122166A - 温度測定方法および装置 - Google Patents
温度測定方法および装置Info
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- JPH08122166A JPH08122166A JP25796994A JP25796994A JPH08122166A JP H08122166 A JPH08122166 A JP H08122166A JP 25796994 A JP25796994 A JP 25796994A JP 25796994 A JP25796994 A JP 25796994A JP H08122166 A JPH08122166 A JP H08122166A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 温度の変化が大きく、どのような値をとるか
不定の場合でも、精度良く温度を測定できる温度測定装
置を提供する。 【構成】 温度に応じて抵抗値の変化する温度センサ1
と、該温度センサに一定電流を供給して抵抗値を電圧値
に変換する抵抗−電圧変換部2と、測定温度スパンの下
限温度のときに温度センサにかかる電圧値を基準として
ゼロ点調整を行うゼロ点調整部5と、測定温度スパンを
A/D変換部の変換範囲の幅に合うようにスパン調整を
行うスパン調整部6と、電圧値をデジタル値に変換する
A/D変換部3と、デジタル値を測定温度値に変換する
演算処理部8とを有する温度測定装置において、最大測
定温度スパンにて温度の計測を行い、該計測温度に基づ
いて、測定温度スパン内に計測温度が入るように測定温
度スパンを設定し、該測定温度スパンに基づき再度温度
計測を行うようにした。
不定の場合でも、精度良く温度を測定できる温度測定装
置を提供する。 【構成】 温度に応じて抵抗値の変化する温度センサ1
と、該温度センサに一定電流を供給して抵抗値を電圧値
に変換する抵抗−電圧変換部2と、測定温度スパンの下
限温度のときに温度センサにかかる電圧値を基準として
ゼロ点調整を行うゼロ点調整部5と、測定温度スパンを
A/D変換部の変換範囲の幅に合うようにスパン調整を
行うスパン調整部6と、電圧値をデジタル値に変換する
A/D変換部3と、デジタル値を測定温度値に変換する
演算処理部8とを有する温度測定装置において、最大測
定温度スパンにて温度の計測を行い、該計測温度に基づ
いて、測定温度スパン内に計測温度が入るように測定温
度スパンを設定し、該測定温度スパンに基づき再度温度
計測を行うようにした。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、温度に応じて抵抗値の
変化する温度センサを用いて温度を測定する温度計測装
置に関する。
変化する温度センサを用いて温度を測定する温度計測装
置に関する。
【0002】
【従来の技術】温度測定装置は気温や水温を測定して表
示等の出力をするものであり、従来の技術を図3を用い
て説明する。図3は温度測定装置のブロック図である。
示等の出力をするものであり、従来の技術を図3を用い
て説明する。図3は温度測定装置のブロック図である。
【0003】図3において、1は温度に応じて抵抗値の
変化する温度センサであり、抵抗−電圧変換部2は温度
センサ1に一定電流を供給して抵抗値を電圧値に変換す
る。
変化する温度センサであり、抵抗−電圧変換部2は温度
センサ1に一定電流を供給して抵抗値を電圧値に変換す
る。
【0004】ゼロ点調整部5は、前記電圧値のゼロ点調
整を行い、スパン調整部6は、スパンの調整を行う。制
御部7は、測定温度スパン入力部4において操作者が入
力した測定温度スパンに基づいて、ゼロ点調整部5およ
びスパン調整部6の調整についての制御を行う。測定温
度スパンの範囲内における温度に従って変化する電圧値
の範囲は、ゼロ点調整およびスパン調整を経て、A/D
変換部3の電圧値の変換範囲と対応付けられる。
整を行い、スパン調整部6は、スパンの調整を行う。制
御部7は、測定温度スパン入力部4において操作者が入
力した測定温度スパンに基づいて、ゼロ点調整部5およ
びスパン調整部6の調整についての制御を行う。測定温
度スパンの範囲内における温度に従って変化する電圧値
の範囲は、ゼロ点調整およびスパン調整を経て、A/D
変換部3の電圧値の変換範囲と対応付けられる。
【0005】A/D変換部3は、電圧値をデジタル値に
変換し、演算処理部8がデジタル値を測定温度値に変換
する。該温度値は、出力部9により表示あるいは外部に
信号として出力する。
変換し、演算処理部8がデジタル値を測定温度値に変換
する。該温度値は、出力部9により表示あるいは外部に
信号として出力する。
【0006】A/D変換部3の分解能は一定であるた
め、操作者が測定温度スパンを広く設定すると、分解能
は低くなり、測定温度スパンを狭く設定すると分解能は
高くなることとなる。
め、操作者が測定温度スパンを広く設定すると、分解能
は低くなり、測定温度スパンを狭く設定すると分解能は
高くなることとなる。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上述の
図3に示すような温度測定装置にあっては、あらかじめ
一定の範囲に測定温度が必ず入ることがわかっている場
合は、測定温度スパンを狭く設定することができ、精度
良く温度の計測が可能であるが、測定対象である温度の
変化が大きく、どのような値をとるか不定の場合、測定
温度スパンを広く設定する必要があり、測定温度スパン
を広く設定すると分解能は低くなるので、一度操作者が
測定温度スパンを設定しただけでは精度良く温度を測定
することができないという問題点があった。
図3に示すような温度測定装置にあっては、あらかじめ
一定の範囲に測定温度が必ず入ることがわかっている場
合は、測定温度スパンを狭く設定することができ、精度
良く温度の計測が可能であるが、測定対象である温度の
変化が大きく、どのような値をとるか不定の場合、測定
温度スパンを広く設定する必要があり、測定温度スパン
を広く設定すると分解能は低くなるので、一度操作者が
測定温度スパンを設定しただけでは精度良く温度を測定
することができないという問題点があった。
【0008】本発明は、上記問題点を改善するために成
されたもので、その目的とするところは、測定対象であ
る温度の変化が大きく、どのような値をとるか不定の場
合においても、精度良く温度を測定できる温度測定装置
を提供することにある。
されたもので、その目的とするところは、測定対象であ
る温度の変化が大きく、どのような値をとるか不定の場
合においても、精度良く温度を測定できる温度測定装置
を提供することにある。
【0009】
【課題を解決するための手段】本発明は上記の問題を解
決するために、請求項1記載の発明にあっては、温度に
応じて抵抗値の変化する温度センサに一定電流を供給し
て抵抗値を電圧値に変換し、電圧値をデジタル値に変換
し、該デジタル値から測定温度値を算出する温度測定方
法において、最大測定温度スパンにて温度の測定を行
い、該計測結果に基づいて、測定温度スパン内に計測温
度が入るように、ゼロ点調整およびスパン調整を行い、
該設定された測定温度スパンにて再び温度の測定を行う
ことを特徴とする方法である。
決するために、請求項1記載の発明にあっては、温度に
応じて抵抗値の変化する温度センサに一定電流を供給し
て抵抗値を電圧値に変換し、電圧値をデジタル値に変換
し、該デジタル値から測定温度値を算出する温度測定方
法において、最大測定温度スパンにて温度の測定を行
い、該計測結果に基づいて、測定温度スパン内に計測温
度が入るように、ゼロ点調整およびスパン調整を行い、
該設定された測定温度スパンにて再び温度の測定を行う
ことを特徴とする方法である。
【0010】また、請求項2記載の発明にあっては、温
度に応じて抵抗値の変化する温度センサと、該温度セン
サに一定電流を供給して抵抗値を電圧値に変換する抵抗
−電圧変換部と、測定温度スパンの下限温度のときに前
記温度センサにかかる電圧値を基準としてゼロ点調整を
行うゼロ点調整部と、前記測定温度スパンをA/D変換
部の変換範囲の幅に合わせるようにスパン調整を行うス
パン調整部と、センサにかかる電圧値をデジタル値に変
換するA/D変換部と、該デジタル値を測定温度値に変
換する演算処理部とを有する温度測定装置において、最
大測定温度スパンにて温度の計測を行い、該計測温度に
基づいて、測定温度スパン内に計測温度が入るように、
測定温度スパンを設定する測定温度スパン設定部を設け
たことを特徴とするものである。
度に応じて抵抗値の変化する温度センサと、該温度セン
サに一定電流を供給して抵抗値を電圧値に変換する抵抗
−電圧変換部と、測定温度スパンの下限温度のときに前
記温度センサにかかる電圧値を基準としてゼロ点調整を
行うゼロ点調整部と、前記測定温度スパンをA/D変換
部の変換範囲の幅に合わせるようにスパン調整を行うス
パン調整部と、センサにかかる電圧値をデジタル値に変
換するA/D変換部と、該デジタル値を測定温度値に変
換する演算処理部とを有する温度測定装置において、最
大測定温度スパンにて温度の計測を行い、該計測温度に
基づいて、測定温度スパン内に計測温度が入るように、
測定温度スパンを設定する測定温度スパン設定部を設け
たことを特徴とするものである。
【0011】
【作用】以上のように構成したことにより、請求項1記
載の発明にあっては、まず最大測定温度スパンにて、ゼ
ロ点調整、スパン調整を行った後に温度の測定を行い、
該計測結果である測定温度に基づいて、該測定温度が測
定温度スパン内に入るように測定温度スパンを設定し、
再度ゼロ点調整およびスパン調整を行い、該設定された
スパンにて再び温度の測定を行うことにより、最大測定
温度スパンと比べて狭い測定温度スパンとA/D変換部
の変換範囲とを対応させることができる。
載の発明にあっては、まず最大測定温度スパンにて、ゼ
ロ点調整、スパン調整を行った後に温度の測定を行い、
該計測結果である測定温度に基づいて、該測定温度が測
定温度スパン内に入るように測定温度スパンを設定し、
再度ゼロ点調整およびスパン調整を行い、該設定された
スパンにて再び温度の測定を行うことにより、最大測定
温度スパンと比べて狭い測定温度スパンとA/D変換部
の変換範囲とを対応させることができる。
【0012】また、請求項2記載の発明にあっては、測
定温度スパン設定部は測定温度スパンに最大測定温度ス
パンを設定し、該測定温度スパンとA/D変換部の変換
範囲とが合うように、ゼロ点調整部がゼロ点調整を行
い、スパン調整部がスパン調整を行った後に温度の測定
を行い、該計測結果である測定温度に基づいて、測定温
度スパン設定部は測定温度が測定温度スパン内に入るよ
うに測定温度スパンを再び設定して、再度ゼロ点調整お
よびスパン調整を行い、該設定された測定温度スパンに
て温度の測定を行うことにより、最大測定温度スパンと
比べて狭い測定温度スパンとA/D変換部の変換範囲と
を対応させることができる。
定温度スパン設定部は測定温度スパンに最大測定温度ス
パンを設定し、該測定温度スパンとA/D変換部の変換
範囲とが合うように、ゼロ点調整部がゼロ点調整を行
い、スパン調整部がスパン調整を行った後に温度の測定
を行い、該計測結果である測定温度に基づいて、測定温
度スパン設定部は測定温度が測定温度スパン内に入るよ
うに測定温度スパンを再び設定して、再度ゼロ点調整お
よびスパン調整を行い、該設定された測定温度スパンに
て温度の測定を行うことにより、最大測定温度スパンと
比べて狭い測定温度スパンとA/D変換部の変換範囲と
を対応させることができる。
【0013】
【実施例】本発明の温度測定装置の一実施例を図1、図
2を用いて説明する。図1は温度測定装置のブロック図
である。図2は、温度測定装置の動作を示すフローチャ
ートである。
2を用いて説明する。図1は温度測定装置のブロック図
である。図2は、温度測定装置の動作を示すフローチャ
ートである。
【0014】図1において、1は温度センサを示す。温
度センサ1は、気温や水温等を検出するもので、その温
度に応じて変化する抵抗値を有し、最大測定温度スパン
[Tmin℃〜Tmax℃]の範囲内の温度が計測可能であ
る。
度センサ1は、気温や水温等を検出するもので、その温
度に応じて変化する抵抗値を有し、最大測定温度スパン
[Tmin℃〜Tmax℃]の範囲内の温度が計測可能であ
る。
【0015】抵抗−電圧変換部2は温度センサ1に一定
電流を供給して、温度Tr℃のときの抵抗値を電圧値Er
に変換する。
電流を供給して、温度Tr℃のときの抵抗値を電圧値Er
に変換する。
【0016】A/D変換部3は、アナログ値である電圧
値をデジタル値に変換するものである。
値をデジタル値に変換するものである。
【0017】測定温度スパン設定部11は、後述する演
算処理部8が出力する測定温度値に基づいて、測定温度
スパン[Ta℃〜Tb℃]を設定するものである。測定温
度スパン[Ta℃〜Tb℃]とは、最大測定温度スパン
[Tmin℃〜Tmax℃]の範囲内で、測定に使用するため
に指定する測定温度の範囲であり、次式を満たす。
算処理部8が出力する測定温度値に基づいて、測定温度
スパン[Ta℃〜Tb℃]を設定するものである。測定温
度スパン[Ta℃〜Tb℃]とは、最大測定温度スパン
[Tmin℃〜Tmax℃]の範囲内で、測定に使用するため
に指定する測定温度の範囲であり、次式を満たす。
【0018】Tmin℃≦Ta℃<Tb℃≦Tmax℃ 最大測定温度スパン[Tmin℃〜Tmax℃]のときの電圧
値の幅[Emin〜Emax]と、A/D変換部3の分解能
(例えば量子化ビット数が8bitであれば、256段
階である)とを対応させる場合に比べ、測定温度スパン
[Ta℃〜Tb℃]のときの電圧値の幅[Ea〜Eb]とA
/D変換部3の分解能とを対応させる方が精度は高くな
る。
値の幅[Emin〜Emax]と、A/D変換部3の分解能
(例えば量子化ビット数が8bitであれば、256段
階である)とを対応させる場合に比べ、測定温度スパン
[Ta℃〜Tb℃]のときの電圧値の幅[Ea〜Eb]とA
/D変換部3の分解能とを対応させる方が精度は高くな
る。
【0019】例えば[0℃〜256℃]の範囲に対応す
る電圧値の幅を8Bitの分解能でA/D変換すると、
デジタルの値1と温度1℃分に相当する電圧値とが対応
し、一方[0℃〜16℃]の範囲に対応する電圧値の幅
を8Bitの分解能でA/D変換すると、デジタルの値
1と温度1/16℃分に相当する電圧とが対応するの
で、測定温度スパンを狭く設定すると計測精度は高くな
ることとなる。
る電圧値の幅を8Bitの分解能でA/D変換すると、
デジタルの値1と温度1℃分に相当する電圧値とが対応
し、一方[0℃〜16℃]の範囲に対応する電圧値の幅
を8Bitの分解能でA/D変換すると、デジタルの値
1と温度1/16℃分に相当する電圧とが対応するの
で、測定温度スパンを狭く設定すると計測精度は高くな
ることとなる。
【0020】つまり、測定温度スパン[Ta℃〜Tb℃]
について計測を行えば、A/D変換部3の分解能と対応
する測定温度スパン[Ta℃〜Tb℃]は最大測定温度ス
パン[Tmin℃〜Tmax℃]と比べて狭いので、A/D変
換部3の分解能が同一であっても相対的に精度が向上す
る。
について計測を行えば、A/D変換部3の分解能と対応
する測定温度スパン[Ta℃〜Tb℃]は最大測定温度ス
パン[Tmin℃〜Tmax℃]と比べて狭いので、A/D変
換部3の分解能が同一であっても相対的に精度が向上す
る。
【0021】しかし、計算上は測定温度スパンを無限に
狭めれば、精度は無限に向上することとなるが、温度セ
ンサの精度に限界があり、測定温度スパンを一定の幅以
下に狭めて精度向上を図っても計測誤差により意味をな
す値を出力しないので、測定温度スパンには計測誤差の
影響を受けない最小の温度幅が存在する。従って、測定
温度スパン[Ta℃〜Tb℃]は最大測定温度スパン[T
min℃〜Tmax℃]より狭く、かつ最小の温度幅より広く
設定する。
狭めれば、精度は無限に向上することとなるが、温度セ
ンサの精度に限界があり、測定温度スパンを一定の幅以
下に狭めて精度向上を図っても計測誤差により意味をな
す値を出力しないので、測定温度スパンには計測誤差の
影響を受けない最小の温度幅が存在する。従って、測定
温度スパン[Ta℃〜Tb℃]は最大測定温度スパン[T
min℃〜Tmax℃]より狭く、かつ最小の温度幅より広く
設定する。
【0022】ゼロ点調整部5は、ブリッジ回路によって
構成されており、測定温度スパン[Ta℃〜Tb℃]の下
限温度Ta℃における温度センサ1にかかる電圧値Eaを
基準とし、温度Tr℃のときに電圧値(Er−Ea)が得
られるように、温度センサ1から取り出す電圧値Erか
ら基準の電圧値Eaを除去するゼロ点調整を行う。
構成されており、測定温度スパン[Ta℃〜Tb℃]の下
限温度Ta℃における温度センサ1にかかる電圧値Eaを
基準とし、温度Tr℃のときに電圧値(Er−Ea)が得
られるように、温度センサ1から取り出す電圧値Erか
ら基準の電圧値Eaを除去するゼロ点調整を行う。
【0023】スパン調整部6は、負帰還のオペアンプに
より構成されており、測定温度スパン[Ta℃〜Tb℃]
に対応する電圧値の幅[Ea〜Eb]をA/D変換部3の
電圧の変換範囲に合うように電圧値を増幅して調整し、
該増幅した電圧値EgをA/D変換部3に入力する。
より構成されており、測定温度スパン[Ta℃〜Tb℃]
に対応する電圧値の幅[Ea〜Eb]をA/D変換部3の
電圧の変換範囲に合うように電圧値を増幅して調整し、
該増幅した電圧値EgをA/D変換部3に入力する。
【0024】A/D変換部3は、電圧値(Er−Ea)を
増幅したアナログ値の電圧値Egからデジタル値Dに変
換し、該デジタル値Dを演算処理部8に入力する。
増幅したアナログ値の電圧値Egからデジタル値Dに変
換し、該デジタル値Dを演算処理部8に入力する。
【0025】制御部7は、測定温度スパン設定部11が
設定した測定温度スパン[Ta℃〜Tb℃]を、ゼロ点調
整部5およびスパン調整部6に入力する。ゼロ点調整部
5は制御部7から入力された測定温度スパン[Ta℃〜
Tb℃]に基づいて調整を行い、スパン調整部6も該測
定温度スパン[Ta℃〜Tb℃]に基づいて調整を行う。
設定した測定温度スパン[Ta℃〜Tb℃]を、ゼロ点調
整部5およびスパン調整部6に入力する。ゼロ点調整部
5は制御部7から入力された測定温度スパン[Ta℃〜
Tb℃]に基づいて調整を行い、スパン調整部6も該測
定温度スパン[Ta℃〜Tb℃]に基づいて調整を行う。
【0026】演算処理部8は、前記デジタル値Dを測定
温度スパン[Ta℃〜Tb℃]の下限温度Ta℃からの相
対温度Th℃に変換し、該相対温度Th℃と前記測定温度
スパンの下限温度Ta℃とを加え合わせて最終的に測定
温度Tr℃を算出する。
温度スパン[Ta℃〜Tb℃]の下限温度Ta℃からの相
対温度Th℃に変換し、該相対温度Th℃と前記測定温度
スパンの下限温度Ta℃とを加え合わせて最終的に測定
温度Tr℃を算出する。
【0027】出力部9は、演算処理部8の算出する測定
温度値を外部に出力するものであり、液晶表示したり、
信号として出力する。記憶部10は、測定温度値および
測定温度スパン設定部11と演算処理部8と制御部7と
の動作プログラムを記憶する。
温度値を外部に出力するものであり、液晶表示したり、
信号として出力する。記憶部10は、測定温度値および
測定温度スパン設定部11と演算処理部8と制御部7と
の動作プログラムを記憶する。
【0028】以上のように構成された温度測定装置の動
作ならびに測定温度スパン設定部11における測定温度
スパンの設定方法を図2に示すフローチャートに基づい
て説明する。また、最大測定温度スパンを[0℃〜25
6℃]とし、測定時の対象となる温度は150.5℃で
あるとして以下の説明を行うこととする。
作ならびに測定温度スパン設定部11における測定温度
スパンの設定方法を図2に示すフローチャートに基づい
て説明する。また、最大測定温度スパンを[0℃〜25
6℃]とし、測定時の対象となる温度は150.5℃で
あるとして以下の説明を行うこととする。
【0029】まず、測定温度スパン設定部11は、測定
温度スパン[Ta℃〜Tb℃]を最大測定温度スパンであ
る[0℃〜256℃]に設定する(ステップ101)。
温度スパン[Ta℃〜Tb℃]を最大測定温度スパンであ
る[0℃〜256℃]に設定する(ステップ101)。
【0030】制御部7がゼロ点調整部5およびスパン調
整部6に測定温度スパン[0℃〜256℃]を入力し、
該測定温度スパン[0℃〜256℃]に基づいて、ゼロ
点調整部5がゼロ点調整を行い、スパン調整部6がスパ
ン調整を行う(ステップ102、103)。測定温度ス
パンを[0℃〜256℃]としたのは、従来の技術にお
いて説明した温度測定装置で、値不定の温度を測定する
ときは測定温度スパンを広く設定するのと同様の理由に
よるものである。
整部6に測定温度スパン[0℃〜256℃]を入力し、
該測定温度スパン[0℃〜256℃]に基づいて、ゼロ
点調整部5がゼロ点調整を行い、スパン調整部6がスパ
ン調整を行う(ステップ102、103)。測定温度ス
パンを[0℃〜256℃]としたのは、従来の技術にお
いて説明した温度測定装置で、値不定の温度を測定する
ときは測定温度スパンを広く設定するのと同様の理由に
よるものである。
【0031】抵抗−電圧変換部2は、温度センサの抵抗
値を電圧値に変換する(ステップ104)。既にゼロ点
調整およびスパン調整が行われているので、該電圧値の
とりうる範囲はA/D変換部3がデジタル値に変換しう
る電圧の範囲と一致する。
値を電圧値に変換する(ステップ104)。既にゼロ点
調整およびスパン調整が行われているので、該電圧値の
とりうる範囲はA/D変換部3がデジタル値に変換しう
る電圧の範囲と一致する。
【0032】そこで、A/D変換部3は、該電圧値を8
bit(256段階)のデジタル値に変換する(ステッ
プ105)。測定温度スパン[0℃〜256℃]の温度
幅256℃にデジタル値の256段階が対応するので、
デジタル値の1は、温度1℃を示す。従って、測温対象
物の温度150.5℃に対応する電圧値より、デジタル
値150が得られる。
bit(256段階)のデジタル値に変換する(ステッ
プ105)。測定温度スパン[0℃〜256℃]の温度
幅256℃にデジタル値の256段階が対応するので、
デジタル値の1は、温度1℃を示す。従って、測温対象
物の温度150.5℃に対応する電圧値より、デジタル
値150が得られる。
【0033】デジタル値の1に対して温度1℃の比率で
あることは測定温度スパンより算出できるので、演算処
理部8はこの比率を用いて、デジタル値150を変換し
て温度150℃を得る。該温度150℃は、測定温度ス
パン[0℃〜256℃]の下限温度0℃からの相対温度
であるから、相対温度150℃と前記測定温度スパンの
下限温度0℃とを加え合わせて最終的に測定温度150
℃を算出する(ステップ106)。
あることは測定温度スパンより算出できるので、演算処
理部8はこの比率を用いて、デジタル値150を変換し
て温度150℃を得る。該温度150℃は、測定温度ス
パン[0℃〜256℃]の下限温度0℃からの相対温度
であるから、相対温度150℃と前記測定温度スパンの
下限温度0℃とを加え合わせて最終的に測定温度150
℃を算出する(ステップ106)。
【0034】測定温度150℃は測定スパン設定部11
に入力され、測定スパン設定部11は該測定温度が12
8℃以上か否かを判断する(ステップ107)。
に入力され、測定スパン設定部11は該測定温度が12
8℃以上か否かを判断する(ステップ107)。
【0035】測定温度が128℃より低ければ、測定ス
パン設定部11は測定温度スパンを[0℃〜128℃]
に設定する(ステップ108)。測定温度が128℃以
上であれば、測定スパン設定部11は測定温度スパンを
[128℃〜256℃]に設定する(ステップ10
9)。現在測定されている温度は150℃であるので、
測定温度スパンは[128℃〜256℃]に設定され
る。
パン設定部11は測定温度スパンを[0℃〜128℃]
に設定する(ステップ108)。測定温度が128℃以
上であれば、測定スパン設定部11は測定温度スパンを
[128℃〜256℃]に設定する(ステップ10
9)。現在測定されている温度は150℃であるので、
測定温度スパンは[128℃〜256℃]に設定され
る。
【0036】次に、新たに設定された測定温度スパン
[128℃〜256℃]に従って、ゼロ点調整(ステッ
プ110)およびスパン調整(ステップ111)を行
う。
[128℃〜256℃]に従って、ゼロ点調整(ステッ
プ110)およびスパン調整(ステップ111)を行
う。
【0037】抵抗−電圧変換部2は、温度センサ1の抵
抗値を電圧値に変換する(ステップ112)。既に新た
に設定された測定温度スパン[128℃〜256℃]に
従ってゼロ点調整およびスパン調整が行われているの
で、該電圧値のとりうる範囲はA/D変換部3がデジタ
ル値に変換しうる電圧の範囲と一致する。
抗値を電圧値に変換する(ステップ112)。既に新た
に設定された測定温度スパン[128℃〜256℃]に
従ってゼロ点調整およびスパン調整が行われているの
で、該電圧値のとりうる範囲はA/D変換部3がデジタ
ル値に変換しうる電圧の範囲と一致する。
【0038】そこで、A/D変換部3は、該アナログ電
圧値を8bitのデジタル値に変換する(ステップ11
3)。即ち、A/D変換部3は、測定温度スパン[12
8℃〜256℃]における測定温度に対応する抵抗値か
ら変換して得た電圧値を、8bit(256段階)のデ
ジタル値に変換する。測定温度スパン[128℃〜25
6℃]の温度幅128℃はデジタル値の256段階と対
応しているので、デジタル値の1は、温度0.5℃を示
す。従って、測温対象物の温度が150.5℃であるな
らば128℃からの温度である22.5℃に対応する電
圧値から、デジタル値45が得られる。
圧値を8bitのデジタル値に変換する(ステップ11
3)。即ち、A/D変換部3は、測定温度スパン[12
8℃〜256℃]における測定温度に対応する抵抗値か
ら変換して得た電圧値を、8bit(256段階)のデ
ジタル値に変換する。測定温度スパン[128℃〜25
6℃]の温度幅128℃はデジタル値の256段階と対
応しているので、デジタル値の1は、温度0.5℃を示
す。従って、測温対象物の温度が150.5℃であるな
らば128℃からの温度である22.5℃に対応する電
圧値から、デジタル値45が得られる。
【0039】演算処理部8は、デジタル値の1に対して
温度0.5℃の比率でデジタル値45を変換して温度2
2.5℃を得る。該温度22.5℃は、測定温度スパン
[128℃〜256℃]の下限温度128℃からの相対
温度である。該相対温度22.5℃と前記測定温度スパ
ンの下限温度128℃とを加え合わせて最終的に測定温
度150.5℃を算出する(ステップ114)。
温度0.5℃の比率でデジタル値45を変換して温度2
2.5℃を得る。該温度22.5℃は、測定温度スパン
[128℃〜256℃]の下限温度128℃からの相対
温度である。該相対温度22.5℃と前記測定温度スパ
ンの下限温度128℃とを加え合わせて最終的に測定温
度150.5℃を算出する(ステップ114)。
【0040】測定温度は記憶部10に格納され、あるい
は液晶ディスプレイ等により外部に出力される(ステッ
プ115、116)。
は液晶ディスプレイ等により外部に出力される(ステッ
プ115、116)。
【0041】なお、本実施例では最大測定温度スパンを
[0℃〜256℃]として説明したが、最大測定温度ス
パンは温度センサの性能により決定されるものであるの
で、[0℃〜256℃]に限定されるものではない。
[0℃〜256℃]として説明したが、最大測定温度ス
パンは温度センサの性能により決定されるものであるの
で、[0℃〜256℃]に限定されるものではない。
【0042】また、測定温度スパンの再設定において、
[0℃〜128℃]と[128℃〜256℃]との温度
の幅が128℃の測定温度スパンを用いたが、測定温度
スパンは128℃に限られるものではない。例えば、5
0℃あるいは10℃等の測定温度スパンを用いてもよ
い。
[0℃〜128℃]と[128℃〜256℃]との温度
の幅が128℃の測定温度スパンを用いたが、測定温度
スパンは128℃に限られるものではない。例えば、5
0℃あるいは10℃等の測定温度スパンを用いてもよ
い。
【0043】本実施例では測定温度スパンの再設定は1
回しか行っていないが、例えば、128℃の測定温度ス
パンで測定した後に、さらに64℃の測定温度スパンで
測定を行うなどのように数回測定温度スパンを行うよう
にしてもよい。
回しか行っていないが、例えば、128℃の測定温度ス
パンで測定した後に、さらに64℃の測定温度スパンで
測定を行うなどのように数回測定温度スパンを行うよう
にしてもよい。
【0044】また、本実施例では抵抗センサ1の示す抵
抗値と抵抗−電圧変換部2により変換された電圧値とは
比例の関係にあり、従って対象物の温度とデジタル値と
の関係も比例の関係にあるが、抵抗センサの示す抵抗値
と抵抗−電圧変換部により変換された電圧値の関係は比
例の関係に限られるものではなく、一定の関係を有して
いれば足りる。例えば、上記関係が曲線の式などの関数
で表されるような場合は、対象物の温度とA/D変換後
のデジタル値も同様の関係を有するので、演算処理部に
おいて逆関数を用いてデジタル値から測定温度値を算出
すればよい。
抗値と抵抗−電圧変換部2により変換された電圧値とは
比例の関係にあり、従って対象物の温度とデジタル値と
の関係も比例の関係にあるが、抵抗センサの示す抵抗値
と抵抗−電圧変換部により変換された電圧値の関係は比
例の関係に限られるものではなく、一定の関係を有して
いれば足りる。例えば、上記関係が曲線の式などの関数
で表されるような場合は、対象物の温度とA/D変換後
のデジタル値も同様の関係を有するので、演算処理部に
おいて逆関数を用いてデジタル値から測定温度値を算出
すればよい。
【0045】
【発明の効果】本発明の温度測定装置は上述のように構
成してあるから、請求項1記載の発明にあっては、まず
最大測定温度スパンにて、ゼロ点調整、スパン調整を行
った後に温度の測定を行い、該計測結果である温度に基
づいて、測定温度スパン内に測定温度が入るように測定
温度スパンを再び設定し、再度ゼロ点調整およびスパン
調整を行い、該設定されたスパンにて温度の測定を行
い、最大測定温度スパンと比べて狭い測定温度スパンと
A/D変換部の変換範囲とを対応させることができるの
で、測定対象である温度の変化が大きく、どのような値
をとるか不定の場合においても、精度良く温度を測定で
きる温度測定方法を提供することができるという効果を
奏する。
成してあるから、請求項1記載の発明にあっては、まず
最大測定温度スパンにて、ゼロ点調整、スパン調整を行
った後に温度の測定を行い、該計測結果である温度に基
づいて、測定温度スパン内に測定温度が入るように測定
温度スパンを再び設定し、再度ゼロ点調整およびスパン
調整を行い、該設定されたスパンにて温度の測定を行
い、最大測定温度スパンと比べて狭い測定温度スパンと
A/D変換部の変換範囲とを対応させることができるの
で、測定対象である温度の変化が大きく、どのような値
をとるか不定の場合においても、精度良く温度を測定で
きる温度測定方法を提供することができるという効果を
奏する。
【0046】請求項2記載の発明にあっては、前記請求
項1の発明を具現化して、測定対象である温度の変化が
大きく、どのような値をとるか不定の場合においても、
精度良く温度を測定できる温度測定装置を提供すること
ができるという効果を奏する。
項1の発明を具現化して、測定対象である温度の変化が
大きく、どのような値をとるか不定の場合においても、
精度良く温度を測定できる温度測定装置を提供すること
ができるという効果を奏する。
【図1】本発明の温度測定装置の一実施例を示すブロッ
ク図である。
ク図である。
【図2】上記実施例の温度測定装置の動作を示すフロー
チャートである。
チャートである。
【図3】従来の温度測定装置のブロック図である。
1 温度センサ 2 抵抗−電圧変換部 3 A/D変換部 5 ゼロ点調整部 6 スパン調整部 8 演算処理部 11 測定温度スパン調整部
Claims (2)
- 【請求項1】 温度に応じて抵抗値の変化する温度セン
サに一定電流を供給して抵抗値を電圧値に変換し、電圧
値をデジタル値に変換し、該デジタル値から測定温度値
を算出する温度測定方法において、最大測定温度スパン
にて温度の測定を行い、該計測結果に基づいて、測定温
度スパン内に計測温度が入るように、ゼロ点調整および
スパン調整を行い、該設定された測定温度スパンにて再
び温度の測定を行うことを特徴とする温度計測方法。 - 【請求項2】 温度に応じて抵抗値の変化する温度セン
サと、該温度センサに一定電流を供給して抵抗値を電圧
値に変換する抵抗−電圧変換部と、測定温度スパンの下
限温度のときに前記温度センサにかかる電圧値を基準と
してゼロ点調整を行うゼロ点調整部と、前記測定温度ス
パンをA/D変換部の変換範囲の幅に合わせるようにス
パン調整を行うスパン調整部と、センサにかかる電圧値
をデジタル値に変換するA/D変換部と、該デジタル値
を測定温度値に変換する演算処理部とを有する温度測定
装置において、最大測定温度スパンにて温度の計測を行
い、該計測温度に基づいて、測定温度スパン内に計測温
度が入るように、測定温度スパンを設定する測定温度ス
パン設定部を設けたことを特徴とする温度計測装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP25796994A JPH08122166A (ja) | 1994-10-24 | 1994-10-24 | 温度測定方法および装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP25796994A JPH08122166A (ja) | 1994-10-24 | 1994-10-24 | 温度測定方法および装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH08122166A true JPH08122166A (ja) | 1996-05-17 |
Family
ID=17313736
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP25796994A Withdrawn JPH08122166A (ja) | 1994-10-24 | 1994-10-24 | 温度測定方法および装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH08122166A (ja) |
Cited By (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100801629B1 (ko) * | 2005-09-27 | 2008-02-11 | 삼창기업 주식회사 | 원자력 발전설비 전자회로기판 정밀 점검 및 정비 방법 |
| KR100806934B1 (ko) * | 2006-07-25 | 2008-02-22 | 삼창기업 주식회사 | 원자력 발전소 안전 계통에 사용되는 브이엠이버스 기반의디지털 신호 입력장치및 방법 |
| KR100806935B1 (ko) * | 2006-07-25 | 2008-02-22 | 삼창기업 주식회사 | 원자력 발전소 안전 계통에 사용되는 브이엠이 버스 기반의디지털/아날로그 변환장치 |
| KR100806937B1 (ko) * | 2006-07-25 | 2008-02-22 | 삼창기업 주식회사 | 원자력 발전소 안전 계통에 사용되는 브이엠이 버스 기반의아날로그/디지털 변환장치 |
| KR100835646B1 (ko) * | 2006-07-25 | 2008-06-05 | 삼창기업 주식회사 | 원자력 발전소의 제어계통에 사용되는 주파수 전압변환모듈 |
| KR100835653B1 (ko) * | 2006-07-25 | 2008-06-05 | 삼창기업 주식회사 | 원자력 발전소 제어계통에 사용되는 전류전압 변환모듈 |
| KR100835651B1 (ko) * | 2006-07-24 | 2008-06-05 | 삼창기업 주식회사 | 원자력 발전소의 제어계통에 사용되는 저항-전압 변환 모듈 |
| KR100848882B1 (ko) * | 2006-07-25 | 2008-07-28 | 삼창기업 주식회사 | 원자력 발전소 안전 계통의 디지털 신호처리 장치 및 방법 |
-
1994
- 1994-10-24 JP JP25796994A patent/JPH08122166A/ja not_active Withdrawn
Cited By (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100801629B1 (ko) * | 2005-09-27 | 2008-02-11 | 삼창기업 주식회사 | 원자력 발전설비 전자회로기판 정밀 점검 및 정비 방법 |
| KR100835651B1 (ko) * | 2006-07-24 | 2008-06-05 | 삼창기업 주식회사 | 원자력 발전소의 제어계통에 사용되는 저항-전압 변환 모듈 |
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| KR100806937B1 (ko) * | 2006-07-25 | 2008-02-22 | 삼창기업 주식회사 | 원자력 발전소 안전 계통에 사용되는 브이엠이 버스 기반의아날로그/디지털 변환장치 |
| KR100835646B1 (ko) * | 2006-07-25 | 2008-06-05 | 삼창기업 주식회사 | 원자력 발전소의 제어계통에 사용되는 주파수 전압변환모듈 |
| KR100835653B1 (ko) * | 2006-07-25 | 2008-06-05 | 삼창기업 주식회사 | 원자력 발전소 제어계통에 사용되는 전류전압 변환모듈 |
| KR100848882B1 (ko) * | 2006-07-25 | 2008-07-28 | 삼창기업 주식회사 | 원자력 발전소 안전 계통의 디지털 신호처리 장치 및 방법 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A300 | Withdrawal of application because of no request for examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 20020115 |