JPH08122255A - 蛍光分析装置 - Google Patents
蛍光分析装置Info
- Publication number
- JPH08122255A JPH08122255A JP26402094A JP26402094A JPH08122255A JP H08122255 A JPH08122255 A JP H08122255A JP 26402094 A JP26402094 A JP 26402094A JP 26402094 A JP26402094 A JP 26402094A JP H08122255 A JPH08122255 A JP H08122255A
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- JP
- Japan
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- fluorescence
- sample
- concentration
- flash lamp
- xenon flash
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 パルス点灯の周期を可変とする機能を設け
て、より正確に蛍光を測定する。 【構成】 試料を励起するために所定周期で点灯するキ
セノンフラッシュランプと、試料中に含まれるSO2 か
ら放出される蛍光を測定する光電子増倍管と、CPUを
備え、CPUにより、光電子増倍管によって測定された
蛍光から試料中に含まれる目的成分の濃度を検出し、そ
の濃度に応じてキセノンフラッシュランプのパルス点灯
周期を変化させる。
て、より正確に蛍光を測定する。 【構成】 試料を励起するために所定周期で点灯するキ
セノンフラッシュランプと、試料中に含まれるSO2 か
ら放出される蛍光を測定する光電子増倍管と、CPUを
備え、CPUにより、光電子増倍管によって測定された
蛍光から試料中に含まれる目的成分の濃度を検出し、そ
の濃度に応じてキセノンフラッシュランプのパルス点灯
周期を変化させる。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は、試料ガスに励起光を
照射し、試料ガスに含まれる目的成分から放出される蛍
光の量を測定することにより、試料ガス中の目的成分の
濃度を定量する蛍光分析装置に関する。
照射し、試料ガスに含まれる目的成分から放出される蛍
光の量を測定することにより、試料ガス中の目的成分の
濃度を定量する蛍光分析装置に関する。
【0002】
【従来の技術】従来、この種の蛍光分析装置において
は、試料ガス中に含まれる、例えば二酸化硫黄(S
O2 )などの目的ガスの濃度を定量する場合には、試料
ガスに紫外線などの励起光を照射し、それによって試料
ガスに含まれるSO2 から放出される蛍光の量をPMT
(フォトマルチチューブ:光電子増倍管)などにより測
定し、試料ガス中のSO2 の濃度を定量するようにして
いる。
は、試料ガス中に含まれる、例えば二酸化硫黄(S
O2 )などの目的ガスの濃度を定量する場合には、試料
ガスに紫外線などの励起光を照射し、それによって試料
ガスに含まれるSO2 から放出される蛍光の量をPMT
(フォトマルチチューブ:光電子増倍管)などにより測
定し、試料ガス中のSO2 の濃度を定量するようにして
いる。
【0003】そして、その場合、試料ガスに対する励起
光の照射には、光源としてキセノンフラッシュランプ
(Xeランプ)等を用い、ランプ寿命の長期化を図るた
めに、一定周期のクロック信号によりランプをパルス点
灯させるようにしている。
光の照射には、光源としてキセノンフラッシュランプ
(Xeランプ)等を用い、ランプ寿命の長期化を図るた
めに、一定周期のクロック信号によりランプをパルス点
灯させるようにしている。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】上述のようなパルス照
射を行って蛍光の量を測定する方法、つまりパルス蛍光
法においては、光源の点灯時間が短く、したがって蛍光
信号も微弱である。PMTによりこれを測定する場合、
光電変換の過程が確率的現象であるため、パルス毎の信
号値のばらつきが大きい。このため、時間的積算を行い
S/Nを高める方法が取られている。具体的には、移動
平均を用いている。
射を行って蛍光の量を測定する方法、つまりパルス蛍光
法においては、光源の点灯時間が短く、したがって蛍光
信号も微弱である。PMTによりこれを測定する場合、
光電変換の過程が確率的現象であるため、パルス毎の信
号値のばらつきが大きい。このため、時間的積算を行い
S/Nを高める方法が取られている。具体的には、移動
平均を用いている。
【0005】光源をパルス点灯し時間平均を行うという
ことは、すなわち一定数のパルス信号を平均することを
意味する。パルス数を増加すれば平均値の確度が増すの
は自明である。蛍光量の時間的変化がない場合には、平
均時間を長くとることと、単位時間あたりのパルス数を
増すことは等価であるが、実際の対象はこの限りでな
い。
ことは、すなわち一定数のパルス信号を平均することを
意味する。パルス数を増加すれば平均値の確度が増すの
は自明である。蛍光量の時間的変化がない場合には、平
均時間を長くとることと、単位時間あたりのパルス数を
増すことは等価であるが、実際の対象はこの限りでな
い。
【0006】すなわち、平均時間を長くとることは時間
的分解能を悪化させ、単に応答を遅くするばかりでな
く、真の蛍光量の変化とかけはなれた出力となりかねな
い。一方、単位時間のパルス数の増加については、光源
をパルス点灯させる目的が光源寿命の長期化であること
から、無制限に増加させることはできない。
的分解能を悪化させ、単に応答を遅くするばかりでな
く、真の蛍光量の変化とかけはなれた出力となりかねな
い。一方、単位時間のパルス数の増加については、光源
をパルス点灯させる目的が光源寿命の長期化であること
から、無制限に増加させることはできない。
【0007】この発明は、このような事情を考慮してな
されたもので、パルス点灯の周期を可変とする機能を設
けて、より正確に蛍光を測定できるようにした蛍光分析
装置を提供するものである。
されたもので、パルス点灯の周期を可変とする機能を設
けて、より正確に蛍光を測定できるようにした蛍光分析
装置を提供するものである。
【0008】
【課題を解決するための手段】この発明は、試料を励起
するために所定周期で点灯するパルス点灯光源と、試料
中に含まれる目的成分から放出される蛍光を測定する検
出器と、検出器によって測定された蛍光から試料中に含
まれる目的成分の濃度を検出し、その濃度に応じてパル
ス点灯光源のパルス点灯周期を変化させる周期変更手段
を備えてなる蛍光分析装置である。
するために所定周期で点灯するパルス点灯光源と、試料
中に含まれる目的成分から放出される蛍光を測定する検
出器と、検出器によって測定された蛍光から試料中に含
まれる目的成分の濃度を検出し、その濃度に応じてパル
ス点灯光源のパルス点灯周期を変化させる周期変更手段
を備えてなる蛍光分析装置である。
【0009】この発明において、パルス点灯光源として
は、各種の光源を用いることができるが、試料中に含ま
れる目的成分が 例えば二酸化硫黄(SO2 )のような
硫化物や、窒素酸化物(NOx ),メタン,炭化水素等
である場合には、目的成分から蛍光を得るために紫外線
を照射する必要があり、そのため、パルス点灯光源とし
ては、キセノンランプ(Xeランプ)を用いることが好
ましい。
は、各種の光源を用いることができるが、試料中に含ま
れる目的成分が 例えば二酸化硫黄(SO2 )のような
硫化物や、窒素酸化物(NOx ),メタン,炭化水素等
である場合には、目的成分から蛍光を得るために紫外線
を照射する必要があり、そのため、パルス点灯光源とし
ては、キセノンランプ(Xeランプ)を用いることが好
ましい。
【0010】励起される試料としては、例えば装置を大
気モニターとして用いるのであれば大気など、各種の試
料を用いることができる。パルス点灯光源の点灯する所
定周期については、ランプ寿命の長期化を図り、かつ例
えば大気中のSO2 などを調べるのであれば、適度な時
間的分解能を有する必要があるため、約5〜20Hz程
度の周期でランプをパルス点灯させることが好ましい。
気モニターとして用いるのであれば大気など、各種の試
料を用いることができる。パルス点灯光源の点灯する所
定周期については、ランプ寿命の長期化を図り、かつ例
えば大気中のSO2 などを調べるのであれば、適度な時
間的分解能を有する必要があるため、約5〜20Hz程
度の周期でランプをパルス点灯させることが好ましい。
【0011】検出器としては、PMT(フォトマルチチ
ューブ:光電子増倍管)や、フォトダイオードなど各種
の光電変換器を用いることが可能であるが、感度の点か
らは、PMTを用いることが好ましい。周期変更手段と
しては、CPU,ROM,RAM,I/Oポートからな
るマイクロコンピュータを用いるのが便利である。
ューブ:光電子増倍管)や、フォトダイオードなど各種
の光電変換器を用いることが可能であるが、感度の点か
らは、PMTを用いることが好ましい。周期変更手段と
しては、CPU,ROM,RAM,I/Oポートからな
るマイクロコンピュータを用いるのが便利である。
【0012】
【作用】この発明によれば、検出器によって測定された
蛍光から試料中に含まれる目的成分の濃度が検出された
場合、その濃度に応じてパルス点灯光源のパルス点灯周
期が変化されるので、パルス点灯光源の寿命を大きく損
なうことなく、より正確な蛍光測定が可能となる。
蛍光から試料中に含まれる目的成分の濃度が検出された
場合、その濃度に応じてパルス点灯光源のパルス点灯周
期が変化されるので、パルス点灯光源の寿命を大きく損
なうことなく、より正確な蛍光測定が可能となる。
【0013】
【実施例】以下、図面に示す実施例に基づいてこの発明
を詳述する。なお、これによってこの発明が限定される
ものではない。
を詳述する。なお、これによってこの発明が限定される
ものではない。
【0014】図1はこの発明の一実施例の構成を示すブ
ロック図である。この図において、1は試料を励起する
ために所定周期で点灯するパルス点灯光源としてのキセ
ノンフラッシュランプ(Xeランプ)である。このキセ
ノンフラッシュランプ1からは紫外光を照射する。2は
試料ガスが導入される試料室である。
ロック図である。この図において、1は試料を励起する
ために所定周期で点灯するパルス点灯光源としてのキセ
ノンフラッシュランプ(Xeランプ)である。このキセ
ノンフラッシュランプ1からは紫外光を照射する。2は
試料ガスが導入される試料室である。
【0015】3は試料ガス中のSO2 から放出される蛍
光を測定する検出器としてのPMT(フォトマルチチュ
ーブ:光電子増倍管)である。4はPTM3から出力さ
れた電気信号を増幅するプリアンプ、5はプリアンプか
ら出力されたアナログ信号をデジタル信号に変換するA
/D変換器である。
光を測定する検出器としてのPMT(フォトマルチチュ
ーブ:光電子増倍管)である。4はPTM3から出力さ
れた電気信号を増幅するプリアンプ、5はプリアンプか
ら出力されたアナログ信号をデジタル信号に変換するA
/D変換器である。
【0016】6はCPUであり、PMT3によって測定
された蛍光から試料ガス内に含まれる目的成分ガスの濃
度を演算し、算出した濃度の移動平均値を算出して、表
示装置(図示しない)にリアルタイムで出力する。目的
成分ガスから放出される蛍光の光強度と目的成分ガスの
濃度とは、ほぼ正比例の関係にあり、蛍光の光強度を測
定することにより、目的成分ガスの濃度を特定すること
ができる。
された蛍光から試料ガス内に含まれる目的成分ガスの濃
度を演算し、算出した濃度の移動平均値を算出して、表
示装置(図示しない)にリアルタイムで出力する。目的
成分ガスから放出される蛍光の光強度と目的成分ガスの
濃度とは、ほぼ正比例の関係にあり、蛍光の光強度を測
定することにより、目的成分ガスの濃度を特定すること
ができる。
【0017】7はトリガ発生回路であり、キセノンフラ
ッシュランプ1に対しランプを点灯させるためのトリガ
信号を与える。この例においては、目的成分ガスを二酸
化硫黄(SO2 )に設定しているが、窒素酸化物(NO
x )やメタン、あるいは炭化水素等であってもよい。
ッシュランプ1に対しランプを点灯させるためのトリガ
信号を与える。この例においては、目的成分ガスを二酸
化硫黄(SO2 )に設定しているが、窒素酸化物(NO
x )やメタン、あるいは炭化水素等であってもよい。
【0018】CPU6は、通常は、キセノンフラッシュ
ランプ1の1回当たりの点灯時間は2〜3μ秒に設定し
ており、また、点灯周期は10回/秒程度に制御するよ
うにしている。
ランプ1の1回当たりの点灯時間は2〜3μ秒に設定し
ており、また、点灯周期は10回/秒程度に制御するよ
うにしている。
【0019】そして、CPU6は、PMT3によって測
定された蛍光値の分散を演算しており、最新の測定値
が、例えば変動範囲3σを越えれば、キセノンフラッシ
ュランプ1の点灯周期を早めて、蛍光値の変動がもとの
状態に戻れば、キセノンフラッシュランプ1の点灯周期
を10回/秒程度に戻す。
定された蛍光値の分散を演算しており、最新の測定値
が、例えば変動範囲3σを越えれば、キセノンフラッシ
ュランプ1の点灯周期を早めて、蛍光値の変動がもとの
状態に戻れば、キセノンフラッシュランプ1の点灯周期
を10回/秒程度に戻す。
【0020】PMT3の受光信号は、大きなばらつきを
持つが、蛍光量に大きな変化がない場合、その有りうべ
き範囲は有限である。すなわち、PMT3の受光信号の
急速な変化の有無は、例えば上記のように3σ程度の変
動範囲を設定しておき、その範囲を外れる信号の有無を
検出することで判断が可能である。
持つが、蛍光量に大きな変化がない場合、その有りうべ
き範囲は有限である。すなわち、PMT3の受光信号の
急速な変化の有無は、例えば上記のように3σ程度の変
動範囲を設定しておき、その範囲を外れる信号の有無を
検出することで判断が可能である。
【0021】こうした突発事象と判断すべき信号を検知
した場合、CPU6によりキセノンフラッシュランプ1
のパルス点灯周期を短縮し、単位時間あたりのパルス数
を増加させることでより正確な測定を行う。
した場合、CPU6によりキセノンフラッシュランプ1
のパルス点灯周期を短縮し、単位時間あたりのパルス数
を増加させることでより正確な測定を行う。
【0022】信号がある程度の時間、変動範囲内にとど
まるようであれば、逆に事象は安定化したと判断でき、
この場合にはキセノンフラッシュランプ1のパルス点灯
周期を長くし、キセノンフラッシュランプ1の寿命の延
長を図る。
まるようであれば、逆に事象は安定化したと判断でき、
この場合にはキセノンフラッシュランプ1のパルス点灯
周期を長くし、キセノンフラッシュランプ1の寿命の延
長を図る。
【0023】図2は励起光の照射状態及び蛍光の受光状
態を示す説明図である。この図において、11は集光レ
ンズ、12は励起波長選択用光学フィルタである。この
励起波長選択用光学フィルタ12には、150〜250
nm程度の波長の光のみを透過させるようなものを用い
る。
態を示す説明図である。この図において、11は集光レ
ンズ、12は励起波長選択用光学フィルタである。この
励起波長選択用光学フィルタ12には、150〜250
nm程度の波長の光のみを透過させるようなものを用い
る。
【0024】13は蛍光選択用光学フィルタであり、こ
の蛍光選択用光学フィルタ13には、300〜400n
m程度の波長の光のみを透過させるようなものを用い
る。この装置を、例えば大気モニターとして用い、大気
中に含まれるSO2 の濃度を測定するのであれば、試料
入口から大気を導入し、キセノンフラッシュランプ1で
その大気に励起光を照射し、大気中に含まれるSO2 か
ら放出された蛍光をPMT3で検出する。
の蛍光選択用光学フィルタ13には、300〜400n
m程度の波長の光のみを透過させるようなものを用い
る。この装置を、例えば大気モニターとして用い、大気
中に含まれるSO2 の濃度を測定するのであれば、試料
入口から大気を導入し、キセノンフラッシュランプ1で
その大気に励起光を照射し、大気中に含まれるSO2 か
ら放出された蛍光をPMT3で検出する。
【0025】図3はキセノンフラッシュランプの発光の
タイミングを示すタイミングチャートである。この図に
示すように、CPU6の指示を受けて、トリガ発生回路
7からキセノンフラッシュランプ1に対してランプトリ
ガの信号が与えられると、それから数10μ秒遅れてキ
セノンフラッシュランプが2〜3μ秒間発光し、それと
ほぼ同時にSO2 から蛍光が放出される。
タイミングを示すタイミングチャートである。この図に
示すように、CPU6の指示を受けて、トリガ発生回路
7からキセノンフラッシュランプ1に対してランプトリ
ガの信号が与えられると、それから数10μ秒遅れてキ
セノンフラッシュランプが2〜3μ秒間発光し、それと
ほぼ同時にSO2 から蛍光が放出される。
【0026】PMT3はその蛍光を受け、電気信号に変
換して出力し、プリアンプ4を介して、A/D変換器5
により、ランプトリガの信号から約50μ秒遅れてデジ
タル信号が出力され、それがCPU6に入力される。
換して出力し、プリアンプ4を介して、A/D変換器5
により、ランプトリガの信号から約50μ秒遅れてデジ
タル信号が出力され、それがCPU6に入力される。
【0027】以下、CPU6の点灯周期変更処理動作の
内容を図4に示すフローチャートに基づいて説明する。
CPU6は、トリガ発生回路7に対して指示を与えて、
トリガ発生回路7にキセノンフラッシュランプ1を発光
させるためのタイミング信号を発生させる(ステップS
1)。
内容を図4に示すフローチャートに基づいて説明する。
CPU6は、トリガ発生回路7に対して指示を与えて、
トリガ発生回路7にキセノンフラッシュランプ1を発光
させるためのタイミング信号を発生させる(ステップS
1)。
【0028】キセノンフラッシュランプ1から励起光が
照射されると、試料室2内のSO2が励起され蛍光を放
出する。PMT3はこれを検出し、プリアンプ4および
A/D変換器5を経て、CPU6にデータが取り込まれ
る(ステップS2)。
照射されると、試料室2内のSO2が励起され蛍光を放
出する。PMT3はこれを検出し、プリアンプ4および
A/D変換器5を経て、CPU6にデータが取り込まれ
る(ステップS2)。
【0029】CPU6は、各パルス毎に通常の移動平均
演算によりデータの平均値を算出し、それに基づいてデ
ータの分散を演算する(ステップS3)、つまり、あり
得べきばらつきの範囲を設定する。この例においては、
3σの変動範囲を設定している。
演算によりデータの平均値を算出し、それに基づいてデ
ータの分散を演算する(ステップS3)、つまり、あり
得べきばらつきの範囲を設定する。この例においては、
3σの変動範囲を設定している。
【0030】そして、信号状態の判定を行って(ステッ
プS4)、信号に変化があった場合、つまり、新規に取
り込まれた信号が、ばらつきの許容範囲を外れた場合に
は、蛍光量(すなわちSO2 の濃度)に急速な変化があ
ったと判断して、トリガ発生回路7に指示を与え、パル
スの周期を変更する(ステップS5)。そして、SO 2
の濃度を算出し(ステップS6)、その算出値を出力し
(ステップS7)、これを繰り返す。信号が安定した場
合の過程もこれと同様である。
プS4)、信号に変化があった場合、つまり、新規に取
り込まれた信号が、ばらつきの許容範囲を外れた場合に
は、蛍光量(すなわちSO2 の濃度)に急速な変化があ
ったと判断して、トリガ発生回路7に指示を与え、パル
スの周期を変更する(ステップS5)。そして、SO 2
の濃度を算出し(ステップS6)、その算出値を出力し
(ステップS7)、これを繰り返す。信号が安定した場
合の過程もこれと同様である。
【0031】このようにして、突発事象と判断すべき信
号を検知した場合、キセノンフラッシュランプ1のパル
ス点灯周期を短縮し、単位時間あたりのパルス数を増加
させ、また、信号がある程度の時間、変動範囲内にとど
まるようであれば、キセノンフラッシュランプ1のパル
ス点灯周期を長くすることにより、キセノンフラッシュ
ランプ1の寿命を大きく損なうことなく、より正確に目
的成分ガスの濃度を測定することができる。
号を検知した場合、キセノンフラッシュランプ1のパル
ス点灯周期を短縮し、単位時間あたりのパルス数を増加
させ、また、信号がある程度の時間、変動範囲内にとど
まるようであれば、キセノンフラッシュランプ1のパル
ス点灯周期を長くすることにより、キセノンフラッシュ
ランプ1の寿命を大きく損なうことなく、より正確に目
的成分ガスの濃度を測定することができる。
【0032】
【発明の効果】この発明によれば、光源の劣化を防ぎ長
寿命化が達成できる他、より正確な蛍光測定が可能とな
る。
寿命化が達成できる他、より正確な蛍光測定が可能とな
る。
【図1】この発明の一実施例の構成を示すブロック図で
ある。
ある。
【図2】励起光の照射状態及び蛍光の受光状態を示す説
明図である。
明図である。
【図3】キセノンフラッシュランプの発光のタイミング
を示すタイミングチャートである。
を示すタイミングチャートである。
【図4】点灯周期変更処理動作の内容を示すフローチャ
ートである。
ートである。
1 キセノンフラッシュランプ 2 試料室 3 PMT(光電子増倍管) 4 プリアンプ 5 A/D変換器 6 CPU 7 トリガ発生回路 11 集光レンズ 12 励起波長選択用光学フィルタ 13 蛍光選択用光学フィルタ
Claims (1)
- 【請求項1】 試料を励起するために所定周期で点灯す
るパルス点灯光源と、 試料中に含まれる目的成分から放出される蛍光を測定す
る検出器と、 検出器によって測定された蛍光から試料中に含まれる目
的成分の濃度を検出し、その濃度に応じてパルス点灯光
源のパルス点灯周期を変化させる周期変更手段を備えて
なる蛍光分析装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP26402094A JPH08122255A (ja) | 1994-10-27 | 1994-10-27 | 蛍光分析装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP26402094A JPH08122255A (ja) | 1994-10-27 | 1994-10-27 | 蛍光分析装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH08122255A true JPH08122255A (ja) | 1996-05-17 |
Family
ID=17397443
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP26402094A Pending JPH08122255A (ja) | 1994-10-27 | 1994-10-27 | 蛍光分析装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH08122255A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN100339699C (zh) * | 2001-12-06 | 2007-09-26 | 株式会社岛津制作所 | 扫描激光显微镜 |
| WO2009096252A1 (ja) * | 2008-01-29 | 2009-08-06 | Konica Minolta Medical & Graphic, Inc. | 蛍光検出ユニット及び反応検出装置 |
-
1994
- 1994-10-27 JP JP26402094A patent/JPH08122255A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN100339699C (zh) * | 2001-12-06 | 2007-09-26 | 株式会社岛津制作所 | 扫描激光显微镜 |
| WO2009096252A1 (ja) * | 2008-01-29 | 2009-08-06 | Konica Minolta Medical & Graphic, Inc. | 蛍光検出ユニット及び反応検出装置 |
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