JPH08123706A - Gui型アナログ回路系試験プログラム開発システム - Google Patents

Gui型アナログ回路系試験プログラム開発システム

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JPH08123706A
JPH08123706A JP6256954A JP25695494A JPH08123706A JP H08123706 A JPH08123706 A JP H08123706A JP 6256954 A JP6256954 A JP 6256954A JP 25695494 A JP25695494 A JP 25695494A JP H08123706 A JPH08123706 A JP H08123706A
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JP
Japan
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program
instruction data
statement
instruction
test
Prior art date
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Pending
Application number
JP6256954A
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English (en)
Inventor
清和 ▲高▼橋
Kiyokazu Takahashi
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NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 ミスの発生を低減して作業効率を向上させる
GUI型アナログ回路系試験プログラム開発システムを
提供する。 【構成】 ウィンドウシステム6と、基本ソースプログ
ラム5と、データ指示引き取り部1と、指示データ解析
部2と、第1の指示データを設定するための第1のステ
ートメントが格納されている基本ソースプログラム5の
第1の部分を記憶する指示データポインタ記憶部4と、
基本ソースプログラム5の第1の部分を第1の指示デー
タによって置換するプログラム置換部3とを有する。こ
のとき、プログラム置換部3が、第1の指示データによ
って第2のステートメントを作成し、基本ソースプログ
ラム5の第1の部分に格納されている第1のステートメ
ントを第2のステートメントに置換する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は試験プログラム開発シス
テムに関し、特にグラフィカルユーザインタフェース
(以下、GUIと記述する)を利用したアナログ回路系
試験プログラム開発システムに関する。
【0002】
【従来の技術】従来のアナログ回路における試験として
は、伝送特性試験がある。伝送特性試験は被試験回路に
負荷等の試験条件を設定して入力信号に対する出力信号
の状態を測定することによって行うが、この負荷条件、
信号入力条件、出力信号測定条件等は一般的に非常に多
数のポイントを設定するようになっている。試験プログ
ラムとしては、測定条件の設定は一般的にサブルーチン
化されており、設定ポイントをパラメータとして扱って
サブルーチンコール(以下、処理ルーチンコールと記述
する)の引数や変数として記述する。処理ルーチンコー
ル用のパラメータは設定ポイントが多いために散在し、
編集に使用されるテキストエディタの1画面でとらえる
ことが不可能になる。さらに、アナログ回路系の伝送特
性試験は試験条件が変更される場合が非常に多く、上記
の散在している処理ルーチンコール用のパラメータを的
確に検索して変更しなければならない。
【0003】また、グラフィカルなユーザインタフェー
スを実現したものとしては、特開平4−318622号
公報に開示された簡易プログラム生成方式の発明があ
る。これはGUIによってユーザが指示した通りの処理
を行うプログラムを生成するものであり、プログラムの
変更処理を行うことはできない。また、ユーザの指示ミ
スのチェックも行うことができない。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】このように、従来の手
法でアナログ回路系の試験プログラムを開発または変更
する場合には、以下のような問題点が生じる。非常に多
数のポイントの条件設定を行うので多大な工数を必要と
し、散在する処理ルーチンコール用のパラメータを数値
入力によって編集するのでミスが発生しやすい。また、
編集時にはパラメータの数値的な制限等を人為的にしか
チェックできないので、パラメータ設定ミスは試験プロ
グラムを使用する段階で初めて発覚し、その修正のため
に後戻り作業が発生するので、作業効率を悪化させる。
さらに、パラメータの記述法やプログラム開発に使用さ
れる言語を理解した上で作業しなければならず、プログ
ラム言語等の技術の習得が必要となり、これも作業効率
が非常に悪くなる。
【0005】このような点に鑑み本発明は、ミスの発生
を低減して作業効率を向上させるGUI型アナログ回路
系試験プログラム開発システムを提供することを目的と
する。
【0006】
【課題を解決するための手段】上記問題点を解決するた
めに本発明のGUI型アナログ回路系試験プログラム開
発システムは、グラフィカルユーザインタフェースを備
えるオペレーティングシステムであるウィンドウシステ
ムと、試験プログラムを作成するための基本ソースプロ
グラムと、該ウィンドウシステムとのインタフェースを
備えるデータ指示引き取り部と、該データ指示引き取り
部から出力される指示データを解析して正常性を検査す
る指示データ解析部と、該指示データ解析部において解
析された第1の指示データを設定するための第1のステ
ートメントが格納されている該基本ソースプログラムの
第1の部分を記憶する指示データポインタ記憶部と、該
指示データポインタ記憶部によって指定される該基本ソ
ースプログラムの該第1の部分を該第1の指示データに
よって置換するプログラム置換部とを有する。
【0007】上記本発明ののGUI型アナログ回路系試
験プログラム開発システムは、前記プログラム置換部
が、前記第1の指示データによって第2のステートメン
トを作成し、前記基本ソースプログラムの前記第1の部
分に格納されている前記第1のステートメントを該第2
のステートメントに置換する。
【0008】
【作用】上記のような構成をとることによって本発明
は、アナログ回路系試験プログラム開発において重要と
なる試験条件設定のための処理ルーチンコール用パラメ
ータを、ウィンドウシステム等のGUI上で動作する専
用プログラムによって処理することができるので、ミス
の発生を低減して作業効率を向上することが可能とな
る。
【0009】
【実施例】以下、図面を参照して本発明の実施例を説明
する。
【0010】図1は本発明の一実施例の構成を示すブロ
ック図である。図2は本発明の一実施例の装置構成を示
す概念図である。図3はアナログ回路系の伝送特性試験
における条件設定画面の例を示す図である。図4は処理
ルーチンコールステートメント置換処理動作の詳細を示
す図であり、プログラム置換部3による基本ソースプロ
グラム5の処理ルーチンコール用パラメータデータの置
換と、パラメータポインタ記憶部4との関係を示してい
る。
【0011】初めに、図1および図2を用いて本実施例
の構成を説明する。
【0012】図1に示したデータ指示引き取り部1、パ
ラメータ解析部2、プログラム置換部3、パラメータポ
インタ記憶部4、基本ソースプログラム5、およびウィ
ンドウシステム6は、すべて図2に示した制御部7内に
ある。ウィンドウシステム6は制御部7上で稼動し、デ
ータ指示引き取り部1、パラメータ解析部2、プログラ
ム置換部3、およびパラメータポインタ記憶部4を起動
し、基本プログラム5にアクセスする。
【0013】図2に示した制御部7はパソコン、ワーク
ステーション等を有し、制御部7にはディスプレイ8と
ポインティングデバイスであるマウス10とが接続され
ている。また、制御部7にはディスク等を有する外部記
憶装置9が接続され、外部記憶装置9内には試験プログ
ラム11がある。基本ソースプログラム5は、制御部7
を介して試験プログラム11に書き込みまたは読み出し
の動作を行う。試験プログラム11はコンパイラ13に
よってコンパイルされ、ロードモジュールとしてアナロ
グ回路系試験システム12で使用される。
【0014】ここでいう基本ソースプログラム5とは、
試験プログラム11の素となる、試験条件が全く設定さ
れていない状態のソースモジュールのことである。
【0015】次に、図1ないし図4を用いて本実施例の
動作を説明する。
【0016】データ指示引き取り部1がウィンドウシス
テム6によって起動されると、ディスプレイ8に図3に
示すようなユーザインタフェース画面を表示して、ユー
ザからの指示入力待ちの状態となる。ウィンドウシステ
ム6は、マウス10を使用することによって、ユーザが
GUI上で指示可能となる。
【0017】ユーザがマウス10を使用してGUI上で
試験条件の指示を行うと、指示を受けたデータ指示引き
取り部1はただちにその指示データをパラメータ解析部
2に送り、パラメータ解析部2において指示データの正
常性のチェックを行い、指示データチェック結果を受け
取る。データ指示引き取り部1はウィンドウシステム6
に表示要求を行い、ウィンドウシステム6は、チェック
結果が正常であれば指示データを受けた表示を行い、チ
ェック結果が異常であればアラームを表示してユーザに
設定の修正要求を行う。
【0018】パラメータ解析部2が正常な指示データを
引き取った場合には、その指示データをプログラム置換
部3に引き渡す。指示データを引き渡されたプログラム
置換部3は、パラメータポインタ記憶部4にパラメータ
情報を送って、パラメータポインタデータを受け取り、
基本ソースプログラム5に対して以下に示す処理ルーチ
ンコールステートメント置換処理を行う。
【0019】置換処理は図4に示すように、プログラム
置換部3がパラメータ解析部2から指示データを受け取
ると、指示データに対応して置換する処理ルーチンコー
ルステートメントaを判断し、その旨をパラメータ情報
としてパラメータポインタ記憶部4に送る。パラメータ
ポインタ記憶部4では、置換する処理ルーチンコールス
テートメントaに対応する基本ソースプログラム5のポ
インタAをパラメータポインタデータとしてプログラム
置換部3に送る。プログラム置換部3では、指示データ
によって処理ルーチンコールステートメントaから新し
い処理ルーチンコールステートメントa*を作成し、基
本ソースプログラム5のポインタAの置換すべき処理ル
ーチンコールステートメントaを処理ルーチンコールス
テートメントa*に置換する。
【0020】この置換処理をユーザからの指示にしたが
って繰り返し行い、1つのユーザインタフェース画面に
おける試験条件設定を終了する。
【0021】図3に示した条件設定画面は、伝送特性試
験における信号入力条件、出力信号測定条件等の1つの
設定画面例であり、ユーザはこの他に複数の信号入力条
件および出力信号測定条件、試験項目、試験回数、試験
回線数等の様々な試験条件を設定する。以上の設定が全
て終了すると、図2における基本ソースプログラム5
は、上記の置換処理によって外部記憶装置9に書き込ま
れて試験プログラム11となる。
【0022】試験プログラム11は必要に応じてコンパ
イラ13によってコンパイルされ、ロードモジュールと
してアナログ回路系試験システム12で使用される。
【0023】また、試験プログラム11を変更する場合
には、あらかじめ試験プログラム11を基本ソースプロ
グラム5に読み込んでおくことによって、試験条件の設
定を必要な箇所についてのみ行えば良く、作業効率が向
上する。
【0024】なお、本発明は上記の実施例に限定される
ものでなく、種々の変形が可能である。
【0025】
【発明の効果】以上の説明から明らかなように本発明
は、アナログ回路系試験プログラム開発において重要と
なる試験条件設定のための処理ルーチンコール用パラメ
ータを、ウィンドウシステム等のGUI上で動作する専
用プログラムによって設定し処理することによって、以
下に示す効果を有する。 (1)試験条件設定の際に発生するミスを低減すること
ができる。 (2)設定パラメータの正常性をリアルタイムでチェッ
クすることができ、パラメータ設定ミスによって発生す
るミスを後工程において修正することを防ぎ、作業効率
を向上することができる。 (3)試験条件設定のための処理ルーチンのパラメータ
設定方法や試験プログラムの記述形式の技術の習得を必
要とせずに、試験プログラム開発を行うことができ、作
業効率を向上することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例の構成を示すブロック図
【図2】本発明の一実施例の装置構成を示す概念図
【図3】アナログ回路系の伝送特性試験における条件設
定画面の例を示す図
【図4】処理ルーチンコールステートメント置換処理動
作の詳細を示す図
【符号の説明】
1 データ指示引き取り部 2 パラメータ解析部 3 プログラム置換部 4 パラメータポインタ記憶部 5 基本ソースプログラム 6 ウィンドウシステム 7 制御部 8 ディスプレイ 9 外部記憶装置 10 マウス 11 試験プログラム 12 アナログ回路系試験システム 13 コンパイラ

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 グラフィカルユーザインタフェースを備
    えるオペレーティングシステムであるウィンドウシステ
    ムと、 試験プログラムを作成するための基本ソースプログラム
    と、 該ウィンドウシステムとのインタフェースを備えるデー
    タ指示引き取り部と、 該データ指示引き取り部から出力される指示データを解
    析して正常性を検査する指示データ解析部と、 該指示データ解析部において解析された第1の指示デー
    タを設定するための第1のステートメントが格納されて
    いる該基本ソースプログラムの第1の部分を記憶する指
    示データポインタ記憶部と、 該指示データポインタ記憶部によって指定される該基本
    ソースプログラムの該第1の部分を該第1の指示データ
    によって置換するプログラム置換部とを有することを特
    徴とする、GUI型アナログ回路系試験プログラム開発
    システム。
  2. 【請求項2】 前記プログラム置換部が、前記第1の指
    示データによって第2のステートメントを作成し、前記
    基本ソースプログラムの前記第1の部分に格納されてい
    る前記第1のステートメントを該第2のステートメント
    に置換する、請求項1に記載のGUI型アナログ回路系
    試験プログラム開発システム。
JP6256954A 1994-10-21 1994-10-21 Gui型アナログ回路系試験プログラム開発システム Pending JPH08123706A (ja)

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Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS62290939A (ja) * 1986-06-11 1987-12-17 Hitachi Ltd 実行命令の動的置換方式
JPH028939A (ja) * 1988-06-28 1990-01-12 Mitsubishi Electric Corp 測定プログラム自動作成装置
JPH04171533A (ja) * 1990-11-05 1992-06-18 Mitsubishi Electric Corp プログラマブルロジックデバイス用検査プログラムの自動生成方式
JPH04213725A (ja) * 1990-12-12 1992-08-04 Nec Ic Microcomput Syst Ltd テスト・プログラムの自動発生方式
JPH04318622A (ja) * 1991-04-17 1992-11-10 Fuji Xerox Co Ltd 簡易プログラム生成方式

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