JPH04213725A - テスト・プログラムの自動発生方式 - Google Patents
テスト・プログラムの自動発生方式Info
- Publication number
- JPH04213725A JPH04213725A JP2401454A JP40145490A JPH04213725A JP H04213725 A JPH04213725 A JP H04213725A JP 2401454 A JP2401454 A JP 2401454A JP 40145490 A JP40145490 A JP 40145490A JP H04213725 A JPH04213725 A JP H04213725A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- test program
- test
- steps
- basic format
- program
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)
- Stored Programmes (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明はテスト・プログラムの自
動発生方式に関し、特にＩＣテスター用として用いられ
るテスト・プログラムの自動発生方式に関する。
動発生方式に関し、特にＩＣテスター用として用いられ
るテスト・プログラムの自動発生方式に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来のＩＣテスター用のテスト・プログ
ラムの自動発生方式においては、図２に示されるように
、テスト条件を入力するステップ２０１、テスト項目に
適合した基本書式を入力するステップ２０２、全テスト
条件を処理するまでのステップ２０３、変換条件からテ
スト条件のキーワードを抽出するステップ２０４、基本
書式中にキーワードを検索するステップ２０５およびキ
ーワードをテスト条件に書換えるステップ２０６を含む
手順により、テスト・プログラムの作成が行われており
、ＩＣテスターの専用言語により書かれたテスト・プロ
グラムの基本書式を、周辺装置の磁気デスク上に備えて
おき、テスト条件を基本書式に書込むための変換規則を
、テスト・プログラム発生用プログラム内部に組込んで
、テスト・プログラムの作成を実施しているのが実態で
ある。
ラムの自動発生方式においては、図２に示されるように
、テスト条件を入力するステップ２０１、テスト項目に
適合した基本書式を入力するステップ２０２、全テスト
条件を処理するまでのステップ２０３、変換条件からテ
スト条件のキーワードを抽出するステップ２０４、基本
書式中にキーワードを検索するステップ２０５およびキ
ーワードをテスト条件に書換えるステップ２０６を含む
手順により、テスト・プログラムの作成が行われており
、ＩＣテスターの専用言語により書かれたテスト・プロ
グラムの基本書式を、周辺装置の磁気デスク上に備えて
おき、テスト条件を基本書式に書込むための変換規則を
、テスト・プログラム発生用プログラム内部に組込んで
、テスト・プログラムの作成を実施しているのが実態で
ある。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】上述した従来のテスト
・プログラムの発生方式においては、所定のテスト条件
を、ＩＣテスター用語によって書かれたテスト・プログ
ラムの基本書式に書込むための変換規則が、テスト・プ
ログラム自動発生用プログラムの内部に組込まれている
ために、ＩＣテスターの種類ごとに、それぞれ別個にテ
スト・プログラム自動発生用プログラムを作成しなけれ
ばならないという欠点がある。
・プログラムの発生方式においては、所定のテスト条件
を、ＩＣテスター用語によって書かれたテスト・プログ
ラムの基本書式に書込むための変換規則が、テスト・プ
ログラム自動発生用プログラムの内部に組込まれている
ために、ＩＣテスターの種類ごとに、それぞれ別個にテ
スト・プログラム自動発生用プログラムを作成しなけれ
ばならないという欠点がある。
【０００４】
【課題を解決するための手段】本発明のテスト・プログ
ラム自動発生方式は、ＩＣテスター用のテスト・プログ
ラムの作成時に用いられるテスト・プログラムの自動発
生方式において、ＩＣテスター用言語によって書かれた
テスト・プログラムの基本書式を読込むステップと、所
定のテスト条件を、前記テスト・プログラムの基本書式
に書込むための変換規則のデータベースを読込むステッ
プと、前記変換規則に従って、前記テスト・プログラム
の基本書式を書き直すステップと、を有している。
ラム自動発生方式は、ＩＣテスター用のテスト・プログ
ラムの作成時に用いられるテスト・プログラムの自動発
生方式において、ＩＣテスター用言語によって書かれた
テスト・プログラムの基本書式を読込むステップと、所
定のテスト条件を、前記テスト・プログラムの基本書式
に書込むための変換規則のデータベースを読込むステッ
プと、前記変換規則に従って、前記テスト・プログラム
の基本書式を書き直すステップと、を有している。
【０００５】
【実施例】次に、本発明について図面を参照して説明す
る。
る。
【０００６】図１は本発明の一実施例におけるフローチ
ャートを示す図である。図１に示されるように、、本実
施例においては、まず、テスト条件を入力して読込み（
ステップ１０１）、次いでテスト条件に示されるテスト
項目に従って、基本書式を読込んで、コンピュータのメ
モリ上に展開する（ステップ１０２）。このステップ１
０１および１０２が基本書式を読込むステップである。
ャートを示す図である。図１に示されるように、、本実
施例においては、まず、テスト条件を入力して読込み（
ステップ１０１）、次いでテスト条件に示されるテスト
項目に従って、基本書式を読込んで、コンピュータのメ
モリ上に展開する（ステップ１０２）。このステップ１
０１および１０２が基本書式を読込むステップである。
【０００７】次に、全体条件に関して、以下の作業が繰
返して行われる。
返して行われる。
【０００８】まず、テスト条件における変換規則を、テ
スター別データベースより検索して読込む（ステップ１
０４）。次に、読込まれた変換規則から基本書式中の書
換え場所、書換え方法、および書換える文字数を抽出し
（ステップ１０５）、ステップ１０５により得られた書
換え場所に従って、基本書式から書換えをする行を検出
する（ステップ１０６）。そして、ステップ１０６によ
り検出された行を、ステップ１０５により得られた書換
え方法および書換える文字数に従って、変換する（ステ
ップ１０７）。しかる後、変換された行を、基本書式に
おける元の行に書込む（ステップ１０８）。
スター別データベースより検索して読込む（ステップ１
０４）。次に、読込まれた変換規則から基本書式中の書
換え場所、書換え方法、および書換える文字数を抽出し
（ステップ１０５）、ステップ１０５により得られた書
換え場所に従って、基本書式から書換えをする行を検出
する（ステップ１０６）。そして、ステップ１０６によ
り検出された行を、ステップ１０５により得られた書換
え方法および書換える文字数に従って、変換する（ステ
ップ１０７）。しかる後、変換された行を、基本書式に
おける元の行に書込む（ステップ１０８）。
【０００９】以上が、本実施例における作業手順である
が、上記における、ステップ１０１〜１０２は基本書式
を読込むステップであり、ステップ１０４〜１０５は変
換規則のデータベースを読込むステップであり、そして
、ステップ１０６〜１０８は基本書式を書直すステップ
である。
が、上記における、ステップ１０１〜１０２は基本書式
を読込むステップであり、ステップ１０４〜１０５は変
換規則のデータベースを読込むステップであり、そして
、ステップ１０６〜１０８は基本書式を書直すステップ
である。
【００１０】
【発明の効果】以上説明したように、本発明は、ＩＣテ
スター用言語により書かれたテスト・プログラムの基本
書式と、テスト条件を基本書式に書込むための変換規則
とを、ＩＣテスターの機種ごとにデータベースとして備
え、且つ、前記変換規則に従ってテスト・プログラムの
基本書式を書直すことにより、一つのプログラムによっ
て、多機種のＩＣテスター用として適用できるテスト・
プログラムの自動発生方式を提供することができるとい
う効果がある。
スター用言語により書かれたテスト・プログラムの基本
書式と、テスト条件を基本書式に書込むための変換規則
とを、ＩＣテスターの機種ごとにデータベースとして備
え、且つ、前記変換規則に従ってテスト・プログラムの
基本書式を書直すことにより、一つのプログラムによっ
て、多機種のＩＣテスター用として適用できるテスト・
プログラムの自動発生方式を提供することができるとい
う効果がある。
【図１】本発明の一実施例におけるフローチャートを示
す図である。
す図である。
【図２】従来例におけるフローチャートを示す図である
。
。
Claims (1)
- 【請求項１】 ＩＣテスター用のテスト・プログラム
の作成時に用いられるテスト・プログラムの自動発生方
式において、ＩＣテスター用言語によって書かれたテス
ト・プログラムの基本書式を読込むステップと、所定の
テスト条件を、前記テスト・プログラムの基本書式に書
込むための変換規則のデータベースを読込むステップと
、前記変換規則に従って、前記テスト・プログラムの基
本書式を書き直すステップと、を有することを特徴とす
るテスト・プログラムの自動発生方式。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2401454A JPH04213725A (ja) | 1990-12-12 | 1990-12-12 | テスト・プログラムの自動発生方式 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2401454A JPH04213725A (ja) | 1990-12-12 | 1990-12-12 | テスト・プログラムの自動発生方式 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04213725A true JPH04213725A (ja) | 1992-08-04 |
Family
ID=18511279
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2401454A Pending JPH04213725A (ja) | 1990-12-12 | 1990-12-12 | テスト・プログラムの自動発生方式 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH04213725A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH08123706A (ja) * | 1994-10-21 | 1996-05-17 | Nec Corp | Ｇｕｉ型アナログ回路系試験プログラム開発システム |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH04178727A (ja) * | 1990-11-13 | 1992-06-25 | Hitachi Ltd | プログラム生成装置 |
-
1990
- 1990-12-12 JP JP2401454A patent/JPH04213725A/ja active Pending
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH04178727A (ja) * | 1990-11-13 | 1992-06-25 | Hitachi Ltd | プログラム生成装置 |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH08123706A (ja) * | 1994-10-21 | 1996-05-17 | Nec Corp | Ｇｕｉ型アナログ回路系試験プログラム開発システム |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 19970610 |