JPH08123Y2 - 光学式自動計測装置の受光機の保護装置 - Google Patents
光学式自動計測装置の受光機の保護装置Info
- Publication number
- JPH08123Y2 JPH08123Y2 JP12567689U JP12567689U JPH08123Y2 JP H08123 Y2 JPH08123 Y2 JP H08123Y2 JP 12567689 U JP12567689 U JP 12567689U JP 12567689 U JP12567689 U JP 12567689U JP H08123 Y2 JPH08123 Y2 JP H08123Y2
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- optical
- protective cover
- receiving surface
- light
- measurement
- Prior art date
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- Expired - Lifetime
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- Details Of Measuring And Other Instruments (AREA)
- Machine Tool Sensing Apparatuses (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】 ［産業上の利用分野］ 本考案は、光学式自動計測装置に使用される受光機の
受光面の保護装置に関する。
受光面の保護装置に関する。
［従来の技術］ 数値制御系の工作機械においては、被加工物の形状，
寸法等を検知するため光学式自動計測装置、例えば光学
式計測プローブ等が使用される。この場合前記光学式計
測プローブによる測定結果の検出信号は電波として遠隔
位置に固設されている受光機側に送られる。該受光機は
その入力信号をキャッチし、必要の情報を制御系に伝達
する。それにより工作機械は所定の自動制御を行う。
寸法等を検知するため光学式自動計測装置、例えば光学
式計測プローブ等が使用される。この場合前記光学式計
測プローブによる測定結果の検出信号は電波として遠隔
位置に固設されている受光機側に送られる。該受光機は
その入力信号をキャッチし、必要の情報を制御系に伝達
する。それにより工作機械は所定の自動制御を行う。
一方、自動工具交換装置を有するマシニングセンタの
ような工作機械においては、スピンドル内に前記光学式
計測プローブを自動装置して自動計測を行うと共に、前
記光学式計測プローブの替りに切削工具をスピンドル内
に自動装着し、引続き切削加工を行う場合が多い。前記
光学式計測プローブによる自動計測時には、該光学式計
測プローブと前記受光機とは対峙する位置に配置される
ことが必要であり、当然ながら受光面は開放され、前記
光学式計測プローブの方を向いて配置される。従って、
切削加工時においても受光面は開放状態に保持される。
ような工作機械においては、スピンドル内に前記光学式
計測プローブを自動装置して自動計測を行うと共に、前
記光学式計測プローブの替りに切削工具をスピンドル内
に自動装着し、引続き切削加工を行う場合が多い。前記
光学式計測プローブによる自動計測時には、該光学式計
測プローブと前記受光機とは対峙する位置に配置される
ことが必要であり、当然ながら受光面は開放され、前記
光学式計測プローブの方を向いて配置される。従って、
切削加工時においても受光面は開放状態に保持される。
［考案が解決しようとする課題］ 被加工物の切削加工中においては、切粉，塵埃等が発
生すると共に、被加工物の周りには切削油が飛散する。
従って、前記受光面が開放状態におかれると飛散した切
粉，塵埃，切削油等が前記受光面に当り、該受光面に傷
を与えたり、その面を曇らせる問題点が生ずる。また高
速切削加工の場合には、飛散した切粉により、前記受光
面が損傷する問題点も生ずる。更に、受光面の汚れは計
測エラを発生させ、制御系に誤情報が伝達され、最悪時
には被加工物，工具，計測機器等を破損，損傷させる問
題点も生ずる。
生すると共に、被加工物の周りには切削油が飛散する。
従って、前記受光面が開放状態におかれると飛散した切
粉，塵埃，切削油等が前記受光面に当り、該受光面に傷
を与えたり、その面を曇らせる問題点が生ずる。また高
速切削加工の場合には、飛散した切粉により、前記受光
面が損傷する問題点も生ずる。更に、受光面の汚れは計
測エラを発生させ、制御系に誤情報が伝達され、最悪時
には被加工物，工具，計測機器等を破損，損傷させる問
題点も生ずる。
本考案は以上の問題点を解決するもので、受光機の受
光面の損傷や汚れが防止され、正確な計測信号が制御系
に伝達されると共に、計測を必要とする場合には正確な
計測が出来る光学式自動計測装置の受光機の保護装置を
提供することを目的とする。
光面の損傷や汚れが防止され、正確な計測信号が制御系
に伝達されると共に、計測を必要とする場合には正確な
計測が出来る光学式自動計測装置の受光機の保護装置を
提供することを目的とする。
［課題を解決するための手段］ 本考案は以上の目的を達成するために、光学式自動計
測装置による計測信号を遠隔位置でキャッチし、制御系
に情報信号を送る受光機の保護装置であって、該受光機
の受光面の前面に、これを覆う保護カバを設けると共
に、該保護カバを開閉操作する駆動手段を設けてなる光
学式自動計測装置の受光機の保護装置を構成するもので
ある。
測装置による計測信号を遠隔位置でキャッチし、制御系
に情報信号を送る受光機の保護装置であって、該受光機
の受光面の前面に、これを覆う保護カバを設けると共
に、該保護カバを開閉操作する駆動手段を設けてなる光
学式自動計測装置の受光機の保護装置を構成するもので
ある。
［作用］ 自動計測時においては保護装置の保護カバが開放さ
れ、受光機の受光面は工作機械のスピンドル側に装着さ
れる計測装置側を向く。従って、正しい計測が行われ
る。一方、切削加工時には前記保護カバは閉止され、切
削時に飛散する切粉，塵埃，切削油は保護カバに当り、
内部の受光面には接触しない。それにより受光面は保護
されることになる。なお保護カバの開閉は工作機械の制
御系により自動操作するものでも、又は手動により操作
するものでも良い。
れ、受光機の受光面は工作機械のスピンドル側に装着さ
れる計測装置側を向く。従って、正しい計測が行われ
る。一方、切削加工時には前記保護カバは閉止され、切
削時に飛散する切粉，塵埃，切削油は保護カバに当り、
内部の受光面には接触しない。それにより受光面は保護
されることになる。なお保護カバの開閉は工作機械の制
御系により自動操作するものでも、又は手動により操作
するものでも良い。
［実施例］ 以下、本考案の一実施例を図面に基づき説明する。
第１図に保護装置の全体構造を示す。受光面３を前面
に配設する受光機２は、円筒状のケース本体５内に収納
固定され、そのリード線４を介し、機械の制御系17に連
結する。ケース本体５の受光面３と対峙する位置には開
口部６が設けられる。保護カバ１は開口部６を覆うもの
で、円弧体から形成される。保護カバ１の一端部には駆
動手段の１つであるシリンダ８のロッド７がピン結合す
る。またシリンダ８はケース本体５に固定されるブラケ
ット９にその端部をピン支持される。シリンダ８はそれ
に連結する駆動機構18により往復動作され、制御装置19
は駆動機構18を自動制御する。
に配設する受光機２は、円筒状のケース本体５内に収納
固定され、そのリード線４を介し、機械の制御系17に連
結する。ケース本体５の受光面３と対峙する位置には開
口部６が設けられる。保護カバ１は開口部６を覆うもの
で、円弧体から形成される。保護カバ１の一端部には駆
動手段の１つであるシリンダ８のロッド７がピン結合す
る。またシリンダ８はケース本体５に固定されるブラケ
ット９にその端部をピン支持される。シリンダ８はそれ
に連結する駆動機構18により往復動作され、制御装置19
は駆動機構18を自動制御する。
以上の構成により、制御装置19からの指令により駆動
機構18を介してシリンダ８が動作し、保護カバ１は開口
部６を開放又は閉止する方向に移動することになる。な
お保護カバ１は切粉，塵埃等により損傷されず、かつ切
削油の付着により材質が劣化しないものであればよく、
かつスピンドル側に装着した光学式の計測機器からの信
号を遮断し得るものであれば良い。
機構18を介してシリンダ８が動作し、保護カバ１は開口
部６を開放又は閉止する方向に移動することになる。な
お保護カバ１は切粉，塵埃等により損傷されず、かつ切
削油の付着により材質が劣化しないものであればよく、
かつスピンドル側に装着した光学式の計測機器からの信
号を遮断し得るものであれば良い。
保護カバの材質としては、例えば硝子，マイカ，耐熱
硬質で透明の合成樹脂、例えばポリエーテルやポリカー
ポネートのものが用いられる。
硬質で透明の合成樹脂、例えばポリエーテルやポリカー
ポネートのものが用いられる。
第２図は被加工物13を切削工具の１つであるドリル12
により孔明け加工する場合を示す。ドリル12を保持する
ツールシャンク10がスピンドル11内に装着されると、自
動交換信号が制御装置19に入力されるため、加工開始時
期が自動的に把握される。従って、制御装置19から駆動
機構18に動作指令が発せられ、シリンダ８は保護カバ１
を閉止方向に移動させる。切削加工により、図示のよう
に切粉14等が飛散するが、保護カバ１によりケース本体
５の開口部６が閉止されるため、受光面３には切粉，塵
埃，切削油が当らず、これ等から完全に遮断される。ま
た、保護カバ１も前記したような性質を有する材料から
なるため、特別の損傷が生じない。
により孔明け加工する場合を示す。ドリル12を保持する
ツールシャンク10がスピンドル11内に装着されると、自
動交換信号が制御装置19に入力されるため、加工開始時
期が自動的に把握される。従って、制御装置19から駆動
機構18に動作指令が発せられ、シリンダ８は保護カバ１
を閉止方向に移動させる。切削加工により、図示のよう
に切粉14等が飛散するが、保護カバ１によりケース本体
５の開口部６が閉止されるため、受光面３には切粉，塵
埃，切削油が当らず、これ等から完全に遮断される。ま
た、保護カバ１も前記したような性質を有する材料から
なるため、特別の損傷が生じない。
第３図はスピンドル11内に光学式計測プローブ15を挿
着したものである。光学式計測プローブ15はその接触子
16を被加工物13に当接し、その形状，寸法等の計測情報
を送るもので、図略の発信部から計測信号が矢印のよう
に受光面３に向かって発せられる。光学式計測プローブ
15がスピンドル11内に装着されると、その事実が制御装
置19により把握されるため、シリンダ８はロッド７を開
放方向に移動させ保護カバ１を開放する。それによりケ
ース本体５の開口部６が開口するため、光学式計測プロ
ーブ15からの計測信号は受光機２の受光面３に入力さ
れ、制御系17に必要情報が伝達されることになる。以上
により正確な計測が問題なく行われることになる。
着したものである。光学式計測プローブ15はその接触子
16を被加工物13に当接し、その形状，寸法等の計測情報
を送るもので、図略の発信部から計測信号が矢印のよう
に受光面３に向かって発せられる。光学式計測プローブ
15がスピンドル11内に装着されると、その事実が制御装
置19により把握されるため、シリンダ８はロッド７を開
放方向に移動させ保護カバ１を開放する。それによりケ
ース本体５の開口部６が開口するため、光学式計測プロ
ーブ15からの計測信号は受光機２の受光面３に入力さ
れ、制御系17に必要情報が伝達されることになる。以上
により正確な計測が問題なく行われることになる。
本実施例では保護カバ１を自動開閉するものについて
説明したが、勿論、必要時に手動によって開閉するもの
であってもよい。また本実施例ではケース本体５を円筒
状のものとし、保護カバ１を円弧体としたが、球体およ
び半球体でもよく、またその他の形状のものであっても
よい。また本実施例はドリル12による加工について説明
したが、他の切削工具による場合にも適用されることは
勿論である。
説明したが、勿論、必要時に手動によって開閉するもの
であってもよい。また本実施例ではケース本体５を円筒
状のものとし、保護カバ１を円弧体としたが、球体およ
び半球体でもよく、またその他の形状のものであっても
よい。また本実施例はドリル12による加工について説明
したが、他の切削工具による場合にも適用されることは
勿論である。
［考案の効果］ 本考案によれば次のような効果が上げられる。
（１） 切削加工時においては受光面は保護カバにより
完全に閉止されるため、切削時に生じた切粉，塵埃，切
削油は保護カバにさえぎられ、受光面は完全に保護され
る。従って、受光面の損傷，汚れ等が生じない。
完全に閉止されるため、切削時に生じた切粉，塵埃，切
削油は保護カバにさえぎられ、受光面は完全に保護され
る。従って、受光面の損傷，汚れ等が生じない。
（２） 計測の必要時には保護カバが開口すると共に、
受光面には汚れが生じないため、正確な計測が常時安定
して行われる。
受光面には汚れが生じないため、正確な計測が常時安定
して行われる。
（３） 保護カバおよびその駆動手段は簡単なもので、
安価に実施することができると共に、既設の工作機械に
対しても容易に取り付けることが出来る。
安価に実施することができると共に、既設の工作機械に
対しても容易に取り付けることが出来る。
（４） 各部がピン結合からなるため、不必要時には簡
単に取り外すことが出来る。
単に取り外すことが出来る。
第１図は本考案の一実施例の全体構成図、第２図は加工
時における保護カバの閉止状態を示す説明用側面図、第
３図は自動光学系計測時における保護カバの開放状態を
示す説明用側面図である。 １……保護カバ、２……受光機、３……受光面、４……
リード線、５……ケース本体、６……開口部、７……ロ
ッド、８……シリンダ、９……ブラケット、10……ツー
ルシャンク、11……スピンドル、12……ドリル（切削工
具）、13……被加工物、14……切粉、15……光学計測プ
ローブ、16……接触子、17……制御系、18……駆動機
構、19……制御装置。
時における保護カバの閉止状態を示す説明用側面図、第
３図は自動光学系計測時における保護カバの開放状態を
示す説明用側面図である。 １……保護カバ、２……受光機、３……受光面、４……
リード線、５……ケース本体、６……開口部、７……ロ
ッド、８……シリンダ、９……ブラケット、10……ツー
ルシャンク、11……スピンドル、12……ドリル（切削工
具）、13……被加工物、14……切粉、15……光学計測プ
ローブ、16……接触子、17……制御系、18……駆動機
構、19……制御装置。
Claims (1)
- 【請求項１】光学式自動計測装置による計測信号を遠隔
位置でキャッチし、制御系に情報信号を送る受光機の保
護装置であって、該受光機の受光面の前面に、これを覆
う保護カバを設けると共に、該保護カバを開閉操作する
駆動手段を設けることを特徴とする光学式自動計測装置
の受光機の保護装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12567689U JPH08123Y2 (ja) | 1989-10-30 | 1989-10-30 | 光学式自動計測装置の受光機の保護装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12567689U JPH08123Y2 (ja) | 1989-10-30 | 1989-10-30 | 光学式自動計測装置の受光機の保護装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0365648U JPH0365648U (ja) | 1991-06-26 |
| JPH08123Y2 true JPH08123Y2 (ja) | 1996-01-10 |
Family
ID=31673538
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP12567689U Expired - Lifetime JPH08123Y2 (ja) | 1989-10-30 | 1989-10-30 | 光学式自動計測装置の受光機の保護装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH08123Y2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2025113599A (ja) * | 2024-01-23 | 2025-08-04 | 達朗 中川 | センサーを備えた装置 |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006068099A (ja) * | 2004-08-31 | 2006-03-16 | Kyoto Nishikawa:Kk | 枕 |
-
1989
- 1989-10-30 JP JP12567689U patent/JPH08123Y2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2025113599A (ja) * | 2024-01-23 | 2025-08-04 | 達朗 中川 | センサーを備えた装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0365648U (ja) | 1991-06-26 |
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