JPH08124165A - 相変化型光ディスクの記録方法 - Google Patents
相変化型光ディスクの記録方法Info
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- JPH08124165A JPH08124165A JP6263339A JP26333994A JPH08124165A JP H08124165 A JPH08124165 A JP H08124165A JP 6263339 A JP6263339 A JP 6263339A JP 26333994 A JP26333994 A JP 26333994A JP H08124165 A JPH08124165 A JP H08124165A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 相変化型光ディスクにおける最適記録条件を
求める試し書きを行う相変化型光ディスクの記録方法を
提供する。 【構成】 記録及び消去ＬＤパワーの最適値を求めるア
ルゴリズムにおいて、記録ＬＤパワーと消去ＬＤパワー
をそれぞれ同時に変化させて記録を行い、その後に、そ
の再生信号から最適なＬＤパワーを求める。メディアの
差し替えなどが行われた場合、データの記録前に試し書
きを行うようドライブに指令があるとメディアフォーマ
ットから規定される試し書き領域にＬＤ光を移動する
（Ｓ１）。予め設定してある試し書き最初のＬＤパワー
に設定する（Ｓ２）。設定ＬＤパワーにてデータを試し
書きする（Ｓ３）。最後の試し書きが終わったら、試し
書き領域先頭にＬＤを移動させ、再生動作に移る（Ｓ
４）。再生信号状態を検出して記憶する（Ｓ５）。最良
記録状態の記録及び消去ＬＤパワーを選択する（Ｓ
６）。
求める試し書きを行う相変化型光ディスクの記録方法を
提供する。 【構成】 記録及び消去ＬＤパワーの最適値を求めるア
ルゴリズムにおいて、記録ＬＤパワーと消去ＬＤパワー
をそれぞれ同時に変化させて記録を行い、その後に、そ
の再生信号から最適なＬＤパワーを求める。メディアの
差し替えなどが行われた場合、データの記録前に試し書
きを行うようドライブに指令があるとメディアフォーマ
ットから規定される試し書き領域にＬＤ光を移動する
（Ｓ１）。予め設定してある試し書き最初のＬＤパワー
に設定する（Ｓ２）。設定ＬＤパワーにてデータを試し
書きする（Ｓ３）。最後の試し書きが終わったら、試し
書き領域先頭にＬＤを移動させ、再生動作に移る（Ｓ
４）。再生信号状態を検出して記憶する（Ｓ５）。最良
記録状態の記録及び消去ＬＤパワーを選択する（Ｓ
６）。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、相変化型光ディスクの
記録方法に関し、より詳細には、相変化型光ディスクド
ライブにおける最適記録ＬＤ（半導体発光素子）パワー
検出方法に関する。例えば、相変化型光ディスクドライ
ブ（ＤＡＴＡ系、ＣＤ−ＰＣ等）に適用されるものであ
る。
記録方法に関し、より詳細には、相変化型光ディスクド
ライブにおける最適記録ＬＤ（半導体発光素子）パワー
検出方法に関する。例えば、相変化型光ディスクドライ
ブ（ＤＡＴＡ系、ＣＤ−ＰＣ等）に適用されるものであ
る。
【０００２】
【従来の技術】光ディスクにおいて、データ領域の記録
形式は、使用するディスクの記録膜に応じて、大きく追
記型記録（Ｗorm Ｔype）と書換え形記録（Ｒewriteabl
e Ｔype）に分類される。書換え形記録には、光磁気記
録（Ｍagneto-Ｏptical Ｍemory）と相変化記録（Ｐhas
e Ｃhange Ｍemory）がある。相変化記録式ディスクに
おいては、記録膜の２つの遷移状態であるアモルファス
状態（非晶質状態）と結晶状態で反射率が異なることを
利用してデータを記録する。
形式は、使用するディスクの記録膜に応じて、大きく追
記型記録（Ｗorm Ｔype）と書換え形記録（Ｒewriteabl
e Ｔype）に分類される。書換え形記録には、光磁気記
録（Ｍagneto-Ｏptical Ｍemory）と相変化記録（Ｐhas
e Ｃhange Ｍemory）がある。相変化記録式ディスクに
おいては、記録膜の２つの遷移状態であるアモルファス
状態（非晶質状態）と結晶状態で反射率が異なることを
利用してデータを記録する。
【０００３】従来の光ディスクの記録方法について記載
した公知文献としては、例えば、特開昭６３−２５４０
８号公報がある。この公報のものは、記録光強度の最適
値を決定し、常に良好な記録を行なうために、始めに記
録光の強度を変化させながら信号を記録し、この記録さ
れた信号を再生して再生信号が最良の状態となる前記記
録光強度の最適値を決定した後、前記記録光強度が最適
値となるように制御しながら信号記録を行なうものであ
る。すなわち、データを記録する前に最適記録パワーを
決定すべく試し書きを行なうものである。
した公知文献としては、例えば、特開昭６３−２５４０
８号公報がある。この公報のものは、記録光強度の最適
値を決定し、常に良好な記録を行なうために、始めに記
録光の強度を変化させながら信号を記録し、この記録さ
れた信号を再生して再生信号が最良の状態となる前記記
録光強度の最適値を決定した後、前記記録光強度が最適
値となるように制御しながら信号記録を行なうものであ
る。すなわち、データを記録する前に最適記録パワーを
決定すべく試し書きを行なうものである。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】前述のように、記録可
能な光ディスクにおいては、メディアやＬＤ（半導体発
光素子）の経時劣化及びゴミ付着に伴う感度変化、発光
パワー変化などを補正し最適な条件で記録を行う必要が
ある。この最適条件を求める１つの方法が試し書きであ
る。標準化された光ディスクではメディアフォーマット
に試し書き領域が確保されており、データを記録する前
にその領域で記録ＬＤパワーを変化させ試し書きし、そ
の後、この領域を再生して再生信号の状態から最適な記
録条件を求め、以後、データの記録を求めた最適な記録
条件で行うようにする。相変化型光ディスクでもこのよ
うな試し書きが必要であるが、記録状態を決定する記録
ＬＤパワー値が複数あるため、従来から用いられている
最適ＬＤパワー検出アルゴリズムをそのまま用いること
ができず試し書き方法が確立されていない。
能な光ディスクにおいては、メディアやＬＤ（半導体発
光素子）の経時劣化及びゴミ付着に伴う感度変化、発光
パワー変化などを補正し最適な条件で記録を行う必要が
ある。この最適条件を求める１つの方法が試し書きであ
る。標準化された光ディスクではメディアフォーマット
に試し書き領域が確保されており、データを記録する前
にその領域で記録ＬＤパワーを変化させ試し書きし、そ
の後、この領域を再生して再生信号の状態から最適な記
録条件を求め、以後、データの記録を求めた最適な記録
条件で行うようにする。相変化型光ディスクでもこのよ
うな試し書きが必要であるが、記録状態を決定する記録
ＬＤパワー値が複数あるため、従来から用いられている
最適ＬＤパワー検出アルゴリズムをそのまま用いること
ができず試し書き方法が確立されていない。
【０００５】本発明は、このような実情に鑑みてなされ
たもので、相変化型光ディスクにおける最適記録条件を
求める試し書きを行う相変化型光ディスクの記録方法を
提供することを目的としている。
たもので、相変化型光ディスクにおける最適記録条件を
求める試し書きを行う相変化型光ディスクの記録方法を
提供することを目的としている。
【０００６】
【課題を解決するための手段】本発明は、上記課題を解
決するために、（１）相変化記録媒体に光学的に情報を
記録再生する装置の記録及び消去半導体発光素子パワー
の最適値を求める記録方法であって、記録及び消去半導
体発光素子パワーをそれぞれ設定された変化率に応じて
同時に変化させて試し書きを行い、該試し書き領域の再
生信号から最適な記録及び消去半導体発光素子パワーを
決定すること、更には、（２）前記記録及び消去半導体
発光素子パワーの変化率を等しくしたこと、或いは、
（３）相変化記録媒体に光学的に情報を記録再生する装
置の記録及び消去半導体発光素子パワーの最適値を求め
る記録方法であって、記録半導体発光素子パワーと消去
半導体発光素子パワーを独立して変化させて試し書きを
行い、該試し書き領域の再生信号から最適な記録及び消
去半導体発光素子パワーを決定すること、更には、
（４）前記（３）において、前記消去半導体発光素子パ
ワーの最適値は再生信号の復調エラーが最小になる値に
決定すること、更には、（５）前記（３）において、前
記試し書き領域の中のデータ記録済み領域に一定時間ご
とに消去半導体発光素子パワーを変化させながら消去
し、該領域の再生信号レベルから消去半導体発光素子パ
ワーの最適値を決定すること、更には、（６）前記
（３）において、前記試し書き領域の中のデータ記録済
み領域に一定時間ごとに消去半導体発光素子パワーを変
化させながら消去し、該領域の再生微分信号のレベルか
ら消去半導体発光素子パワーの最適値を決定すること、
更には、（７）前記（４）,（５）又は（６）におい
て、前記最適な消去半導体発光素子パワーは条件を満足
する設定パワーのうち、より低い値とすること、更に
は、（８）前記（３）において、前記消去半導体発光素
子パワーを最適値に固定した後に記録半導体発光素子パ
ワーを変化させて試し書きを行い、該領域の再生信号レ
ベルから最適な記録半導体発光素子パワーを決定するこ
と、更には、（９）前記（８）において、前記記録半導
体発光素子パワーの最適値は再生信号のアシンメトリ
（短マークと長マークの再生信号平均レベルの差）が最
小になる値に決定することを特徴としたものである。
決するために、（１）相変化記録媒体に光学的に情報を
記録再生する装置の記録及び消去半導体発光素子パワー
の最適値を求める記録方法であって、記録及び消去半導
体発光素子パワーをそれぞれ設定された変化率に応じて
同時に変化させて試し書きを行い、該試し書き領域の再
生信号から最適な記録及び消去半導体発光素子パワーを
決定すること、更には、（２）前記記録及び消去半導体
発光素子パワーの変化率を等しくしたこと、或いは、
（３）相変化記録媒体に光学的に情報を記録再生する装
置の記録及び消去半導体発光素子パワーの最適値を求め
る記録方法であって、記録半導体発光素子パワーと消去
半導体発光素子パワーを独立して変化させて試し書きを
行い、該試し書き領域の再生信号から最適な記録及び消
去半導体発光素子パワーを決定すること、更には、
（４）前記（３）において、前記消去半導体発光素子パ
ワーの最適値は再生信号の復調エラーが最小になる値に
決定すること、更には、（５）前記（３）において、前
記試し書き領域の中のデータ記録済み領域に一定時間ご
とに消去半導体発光素子パワーを変化させながら消去
し、該領域の再生信号レベルから消去半導体発光素子パ
ワーの最適値を決定すること、更には、（６）前記
（３）において、前記試し書き領域の中のデータ記録済
み領域に一定時間ごとに消去半導体発光素子パワーを変
化させながら消去し、該領域の再生微分信号のレベルか
ら消去半導体発光素子パワーの最適値を決定すること、
更には、（７）前記（４）,（５）又は（６）におい
て、前記最適な消去半導体発光素子パワーは条件を満足
する設定パワーのうち、より低い値とすること、更に
は、（８）前記（３）において、前記消去半導体発光素
子パワーを最適値に固定した後に記録半導体発光素子パ
ワーを変化させて試し書きを行い、該領域の再生信号レ
ベルから最適な記録半導体発光素子パワーを決定するこ
と、更には、（９）前記（８）において、前記記録半導
体発光素子パワーの最適値は再生信号のアシンメトリ
（短マークと長マークの再生信号平均レベルの差）が最
小になる値に決定することを特徴としたものである。
【０００７】
【作用】前記構成を有する本発明の相変化型光ディスク
の記録方法は、相変化記録媒体に光学的に情報を記録再
生する装置の記録及び消去ＬＤ（半導体発光素子）パワ
ーの最適値を求める記録方法であり、（１）試し書き領
域において記録及び消去ＬＤパワーを設定された変化率
に応じて同時に変化させているので、相変化型光ディス
ク以外の試し書きファームシーケンスやメディアフォー
マットをほぼそのまま用いることができるとともに、効
率よく短時間で最適な記録及び消去ＬＤパワーを求める
ことができる。また、メディアの特性上記録、消去ＬＤ
パワーの感度が異なる場合に、記録ＬＤパワーと消去Ｌ
Ｄパワーの変化率の値を変えることにより細かく対応で
きる。
の記録方法は、相変化記録媒体に光学的に情報を記録再
生する装置の記録及び消去ＬＤ（半導体発光素子）パワ
ーの最適値を求める記録方法であり、（１）試し書き領
域において記録及び消去ＬＤパワーを設定された変化率
に応じて同時に変化させているので、相変化型光ディス
ク以外の試し書きファームシーケンスやメディアフォー
マットをほぼそのまま用いることができるとともに、効
率よく短時間で最適な記録及び消去ＬＤパワーを求める
ことができる。また、メディアの特性上記録、消去ＬＤ
パワーの感度が異なる場合に、記録ＬＤパワーと消去Ｌ
Ｄパワーの変化率の値を変えることにより細かく対応で
きる。
【０００８】（２）記録ＬＤパワーと消去ＬＤパワーの
変化率を等しくしているので、ＬＤやメディアの経時劣
化等、記録及び消去ＬＤパワーに対する感度が等しく変
化する場合に効率よく正確に最適ＬＤパワーを求めるこ
とができる。 （３）試し書き領域において記録ＬＤパワーと消去ＬＤ
パワーを独立して変化させ、個別に最適値を求めている
ので、相変化型光ディスク用の試し書きメディアフォー
マット及びファームシーケンスを用いた場合に最適な記
録及び消去ＬＤパワーを求めることができる。
変化率を等しくしているので、ＬＤやメディアの経時劣
化等、記録及び消去ＬＤパワーに対する感度が等しく変
化する場合に効率よく正確に最適ＬＤパワーを求めるこ
とができる。 （３）試し書き領域において記録ＬＤパワーと消去ＬＤ
パワーを独立して変化させ、個別に最適値を求めている
ので、相変化型光ディスク用の試し書きメディアフォー
マット及びファームシーケンスを用いた場合に最適な記
録及び消去ＬＤパワーを求めることができる。
【０００９】（４）消去ＬＤパワーの最適値を再生信号
の復調エラーが最小になる値に決定しているので、消し
残りや形成不良の記録マークの発生を抑えた最適な消去
ＬＤパワーを求めることができる。 （５）記録済み試し書き領域で消去ＬＤパワーを変化さ
せ消去動作を行い、その再生信号レベルから消し残りを
検出しているので、消し残りの無い最適な消去ＬＤパワ
ーを求めることができる。
の復調エラーが最小になる値に決定しているので、消し
残りや形成不良の記録マークの発生を抑えた最適な消去
ＬＤパワーを求めることができる。 （５）記録済み試し書き領域で消去ＬＤパワーを変化さ
せ消去動作を行い、その再生信号レベルから消し残りを
検出しているので、消し残りの無い最適な消去ＬＤパワ
ーを求めることができる。
【００１０】（６）記録済み試し書き領域で消去ＬＤパ
ワーを変化させ消去動作を行い、その再生信号の微分信
号レベルから消し残りを検出しているので、消し残りの
無い最適な消去ＬＤパワーをより正確に求めることがで
きる。 （７）最適な条件を満足する消去ＬＤ設定パワーの中で
も低い値を選択するため、ＬＤ及びメディアの寿命を向
上することができ、また、消費電力を低く抑えることも
できる。
ワーを変化させ消去動作を行い、その再生信号の微分信
号レベルから消し残りを検出しているので、消し残りの
無い最適な消去ＬＤパワーをより正確に求めることがで
きる。 （７）最適な条件を満足する消去ＬＤ設定パワーの中で
も低い値を選択するため、ＬＤ及びメディアの寿命を向
上することができ、また、消費電力を低く抑えることも
できる。
【００１１】（８）消去ＬＤパワーの最適値を決定し、
その値に固定した後に記録ＬＤパワーを変化させ記録
し、その再生信号レベルから最適記録ＬＤパワーを求め
るため、消し残りや形成不良の記録マーク発生を抑えた
最適な記録ＬＤパワーを求めることができる。 （９）消去ＬＤパワーの最適値を決定し、その値に固定
した後に記録ＬＤパワーを変化させ記録し、その再生信
号のアシメントリが最小になる値に最適記録ＬＤパワー
を決定しているので、正確な記録マークを形成する記録
ＬＤパワーを求めることができる。
その値に固定した後に記録ＬＤパワーを変化させ記録
し、その再生信号レベルから最適記録ＬＤパワーを求め
るため、消し残りや形成不良の記録マーク発生を抑えた
最適な記録ＬＤパワーを求めることができる。 （９）消去ＬＤパワーの最適値を決定し、その値に固定
した後に記録ＬＤパワーを変化させ記録し、その再生信
号のアシメントリが最小になる値に最適記録ＬＤパワー
を決定しているので、正確な記録マークを形成する記録
ＬＤパワーを求めることができる。
【００１２】
【実施例】実施例について、図面を参照して以下に説明
する。図２（ａ）,（ｂ）は、相変化型光ディスクと他
の光ディスク（例としてＷＯＲＭ）の記録ＬＤ（半導体
発光素子）発光波形の違いを示す図で、図２（ａ）は相
変化型光ディスク、図２（ｂ）はＷＯＲＭ型光ディスク
の場合を各々示している。相変化型光ディスクではオー
バーライト記録をするために、記録及び消去の最低２値
の異なるＬＤパワーが必要である。
する。図２（ａ）,（ｂ）は、相変化型光ディスクと他
の光ディスク（例としてＷＯＲＭ）の記録ＬＤ（半導体
発光素子）発光波形の違いを示す図で、図２（ａ）は相
変化型光ディスク、図２（ｂ）はＷＯＲＭ型光ディスク
の場合を各々示している。相変化型光ディスクではオー
バーライト記録をするために、記録及び消去の最低２値
の異なるＬＤパワーが必要である。
【００１３】記録メカニズムは高い記録ＬＤパワーで記
録膜を融点以上に熱し、急冷すると膜が非結晶化し、比
較的低い消去ＬＤパワーで記録膜を結晶化温度に熱し、
冷ますと結晶化する（図３（ａ）〜（ｃ））。この２つ
の状態で反射率が異ることを利用して情報を記録するも
のである。なお、図中、Ｉ.Ｐ.は消去パワーなしの独立
パルス（Isolated pulse without erase power）、Ｗ.
Ｐ.は記録パワー（Write power）、Ｅ.Ｐ.は消去パワー
（Erase power）、Ｎ.Ｍ.は新マーク（New mark）、Ｏ.
Ｍ.は旧マーク（Old mark）、Ｅ.Ｒ.は消去リング（Era
sed ring）、Ｍ.Ｐ.は融点（Melting point）、Ｃ.Ｐ.
は結晶化温度（Crystallization point）である。
録膜を融点以上に熱し、急冷すると膜が非結晶化し、比
較的低い消去ＬＤパワーで記録膜を結晶化温度に熱し、
冷ますと結晶化する（図３（ａ）〜（ｃ））。この２つ
の状態で反射率が異ることを利用して情報を記録するも
のである。なお、図中、Ｉ.Ｐ.は消去パワーなしの独立
パルス（Isolated pulse without erase power）、Ｗ.
Ｐ.は記録パワー（Write power）、Ｅ.Ｐ.は消去パワー
（Erase power）、Ｎ.Ｍ.は新マーク（New mark）、Ｏ.
Ｍ.は旧マーク（Old mark）、Ｅ.Ｒ.は消去リング（Era
sed ring）、Ｍ.Ｐ.は融点（Melting point）、Ｃ.Ｐ.
は結晶化温度（Crystallization point）である。
【００１４】この２値のＬＤパワーは、双方とも記録状
態に密接に関係しており、ともに最適なＬＤパワーで記
録を行わなければ、前データの消し残りや記録マーク形
成不良など、データの再生エラーを起こすことになる。
なお、記録ＬＤパワー，消去ＬＤパワーは、それぞれ複
数の値をとることもあるが、基準となる記録及び消去Ｌ
Ｄパワーからの比率で決定するなどで対応できる。
態に密接に関係しており、ともに最適なＬＤパワーで記
録を行わなければ、前データの消し残りや記録マーク形
成不良など、データの再生エラーを起こすことになる。
なお、記録ＬＤパワー，消去ＬＤパワーは、それぞれ複
数の値をとることもあるが、基準となる記録及び消去Ｌ
Ｄパワーからの比率で決定するなどで対応できる。
【００１５】図１は、本発明による相変化型光ディスク
の試し書き方法の一実施例（実施例１,２）を説明する
ためのフローチャートである。以下、各ステップ（S）
に従って順に説明する。実施例１（請求項１）及び実施
例２（請求項２）は、記録及び消去ＬＤパワーの最適値
を求めるアルゴリズムにおいて、記録ＬＤパワーと消去
ＬＤパワーをそれぞれ同時に変化させて記録を行い、そ
の後にその再生信号から最適なＬＤパワーを求めるもの
である。
の試し書き方法の一実施例（実施例１,２）を説明する
ためのフローチャートである。以下、各ステップ（S）
に従って順に説明する。実施例１（請求項１）及び実施
例２（請求項２）は、記録及び消去ＬＤパワーの最適値
を求めるアルゴリズムにおいて、記録ＬＤパワーと消去
ＬＤパワーをそれぞれ同時に変化させて記録を行い、そ
の後にその再生信号から最適なＬＤパワーを求めるもの
である。
【００１６】step１：まず、メディアの差し替えなどが
行われた場合、データの記録前に試し書きを行うようド
ライブに指令があると、メディアフォーマットから規定
される試し書き領域にＬＤ光を移動する。試し書き領域
の例として、データ系光ディスク（９０mm）のメディア
情報ゾーンレイアウトを以下の表１に示す。内周試験ゾ
ーンの駆動装置用が試し書き領域である。
行われた場合、データの記録前に試し書きを行うようド
ライブに指令があると、メディアフォーマットから規定
される試し書き領域にＬＤ光を移動する。試し書き領域
の例として、データ系光ディスク（９０mm）のメディア
情報ゾーンレイアウトを以下の表１に示す。内周試験ゾ
ーンの駆動装置用が試し書き領域である。
【００１７】
【表１】
【００１８】step２：次に、あらかじめ設定してある試
し書き最初のＬＤパワーに設定する（Ｉ＝１，ｔ＝
０）。表２に設定一覧表を示す。
し書き最初のＬＤパワーに設定する（Ｉ＝１，ｔ＝
０）。表２に設定一覧表を示す。
【００１９】
【表２】
【００２０】設定値は記録，消去ＬＤパワーそれぞれ中
心値をＰw ref，Ｐb refとし、Ｉが変わるごとに変化率
ａ,ｂで（２ｎ＋１）段階に変化する。表２では、最初
の設定値が最も小さい値となっているが、この限りでは
ない。また、実施例１ではａ,ｂの大きさは指定しな
い。これは、メディアの特性上記録，消去ＬＤパワーの
感度が異なる場合に、ａとｂの値を変えることにより対
応させるためである。
心値をＰw ref，Ｐb refとし、Ｉが変わるごとに変化率
ａ,ｂで（２ｎ＋１）段階に変化する。表２では、最初
の設定値が最も小さい値となっているが、この限りでは
ない。また、実施例１ではａ,ｂの大きさは指定しな
い。これは、メディアの特性上記録，消去ＬＤパワーの
感度が異なる場合に、ａとｂの値を変えることにより対
応させるためである。
【００２１】step３：前記設定ＬＤパワーにてデータ
（特殊パターンでも良い）を試し書きする。規定された
時間経過後（ｔ＝Ｉ＊ｔ0）記録を中断し、試し書き回
数（Ｉ）を確かめ、終了（Ｉ＝２ｎ＋１）でなければ、
新たなＬＤパワー設定値に変更し（Ｉ＝Ｉ＋１）、試し
書きを続けて行う。step４ ：最後の試し書きが終った（Ｉ＝２ｎ＋１）なら
ば、試し書き領域先頭にＬＤを移動させ（Ｉ＝１，ｔ＝
０）、再生動作に移る。step５ ：（ｔ＝Ｉ＊ｔ0）ごとに再生信号状態を検出し
て記憶する。step６ ：最後の試し書き領域（Ｉ＝２ｎ＋１）まで検出
し、記憶が終了したならば、再生信号状態記憶データの
中から最良記録状態の記録及び消去ＬＤパワーを選択
し、以後のデータ記録に使用する最適記録及び消去ＬＤ
パワーとする。
（特殊パターンでも良い）を試し書きする。規定された
時間経過後（ｔ＝Ｉ＊ｔ0）記録を中断し、試し書き回
数（Ｉ）を確かめ、終了（Ｉ＝２ｎ＋１）でなければ、
新たなＬＤパワー設定値に変更し（Ｉ＝Ｉ＋１）、試し
書きを続けて行う。step４ ：最後の試し書きが終った（Ｉ＝２ｎ＋１）なら
ば、試し書き領域先頭にＬＤを移動させ（Ｉ＝１，ｔ＝
０）、再生動作に移る。step５ ：（ｔ＝Ｉ＊ｔ0）ごとに再生信号状態を検出し
て記憶する。step６ ：最後の試し書き領域（Ｉ＝２ｎ＋１）まで検出
し、記憶が終了したならば、再生信号状態記憶データの
中から最良記録状態の記録及び消去ＬＤパワーを選択
し、以後のデータ記録に使用する最適記録及び消去ＬＤ
パワーとする。
【００２２】実施例２では、試し書きＬＤパワー設定値
の変化率ａ,ｂを等しくすることを特徴とする。実施例
１,２の試し書き方法は、記録及び消去ＬＤパワーを同
時に変えて試し書きを行うため、従来からある相変化型
光ディスク以外の試し書きファームシーケンスやメディ
アフォーマットをほぼそのまま用いることができる。
の変化率ａ,ｂを等しくすることを特徴とする。実施例
１,２の試し書き方法は、記録及び消去ＬＤパワーを同
時に変えて試し書きを行うため、従来からある相変化型
光ディスク以外の試し書きファームシーケンスやメディ
アフォーマットをほぼそのまま用いることができる。
【００２３】図４及び図５は、本発明による相変化型光
ディスクの記録方法の他の実施例（実施例３〜９）を説
明するためのフローチャートである。以下、各ステップ
（S）に従って順に説明する。実施例３〜９（請求項３
〜９）は、記録及び消去ＬＤパワーの最適値を求めるア
ルゴリズムにおいて、記録ＬＤパワーと消去ＬＤパワー
を独立して変化させ記録を行い、後にその再生信号から
最適なＬＤパワーを求めるものである。実施例３〜７は
記録または消去ＬＤパワー最適値のどちらを初めに決定
してもかまわない。実施例８,９は初めに消去ＬＤパワ
ーの最適値を決定する。最適値の決定順序は、例として
消去，記録ＬＤパワーの順序に従うが、実施例３〜７に
ついてはこの限りではない。実施例１のフローチャート
を記録及び消去ＬＤパワーそれぞれに分けて２回連続で
行うのと似ている。
ディスクの記録方法の他の実施例（実施例３〜９）を説
明するためのフローチャートである。以下、各ステップ
（S）に従って順に説明する。実施例３〜９（請求項３
〜９）は、記録及び消去ＬＤパワーの最適値を求めるア
ルゴリズムにおいて、記録ＬＤパワーと消去ＬＤパワー
を独立して変化させ記録を行い、後にその再生信号から
最適なＬＤパワーを求めるものである。実施例３〜７は
記録または消去ＬＤパワー最適値のどちらを初めに決定
してもかまわない。実施例８,９は初めに消去ＬＤパワ
ーの最適値を決定する。最適値の決定順序は、例として
消去，記録ＬＤパワーの順序に従うが、実施例３〜７に
ついてはこの限りではない。実施例１のフローチャート
を記録及び消去ＬＤパワーそれぞれに分けて２回連続で
行うのと似ている。
【００２４】step11：まず、試し書き領域にＬＤ光を移
動する。step12 ：次に、消去ＬＤパワーを決定するため、あらか
じめ設定してある試し書き最初のＬＤパワー値に設定す
る（Ｊ＝ｎ＋１，Ｋ＝１，ｔ＝０）。表３に設定一覧表
を示す。
動する。step12 ：次に、消去ＬＤパワーを決定するため、あらか
じめ設定してある試し書き最初のＬＤパワー値に設定す
る（Ｊ＝ｎ＋１，Ｋ＝１，ｔ＝０）。表３に設定一覧表
を示す。
【００２５】
【表３】
【００２６】設定値は記録，消去ＬＤパワーそれぞれ中
心値をＰw ref，Ｐb refとし、Ｊ,Ｋが変わるごとに変
化率ａ,ｂで（２ｎ＋１）段階に変化する。表３では、
最初の設定値が最も小さい値となっているが、この限り
ではない。step13 ：記録ＬＤパワーは固定し、消去ＬＤパワーを変
え試し書きを行う。step14 ：試し書き領域先頭から再生信号の状態を検出し
て記憶していき、最適な消去ＬＤパワーを決定する。step15 ：記録ＬＤパワーを決定するため、あらかじめ設
定してある試し書き最初のＬＤパワー値に設定する（Ｊ
＝１，Ｋ＝ｘ，ｔ＝０）。ただし、消去ＬＤパワーはフ
ローチャート前半で求めた最適値とする。step16 ：消去ＬＤパワーは固定し、記録ＬＤパワーを変
え試し書きを行う。step17 ：試し書き領域先頭から再生信号の状態を検出し
て記憶していき、最適な記録ＬＤパワーを決定する。step18 ：最適な記録及び消去ＬＤパワーの検出を終了す
る。
心値をＰw ref，Ｐb refとし、Ｊ,Ｋが変わるごとに変
化率ａ,ｂで（２ｎ＋１）段階に変化する。表３では、
最初の設定値が最も小さい値となっているが、この限り
ではない。step13 ：記録ＬＤパワーは固定し、消去ＬＤパワーを変
え試し書きを行う。step14 ：試し書き領域先頭から再生信号の状態を検出し
て記憶していき、最適な消去ＬＤパワーを決定する。step15 ：記録ＬＤパワーを決定するため、あらかじめ設
定してある試し書き最初のＬＤパワー値に設定する（Ｊ
＝１，Ｋ＝ｘ，ｔ＝０）。ただし、消去ＬＤパワーはフ
ローチャート前半で求めた最適値とする。step16 ：消去ＬＤパワーは固定し、記録ＬＤパワーを変
え試し書きを行う。step17 ：試し書き領域先頭から再生信号の状態を検出し
て記憶していき、最適な記録ＬＤパワーを決定する。step18 ：最適な記録及び消去ＬＤパワーの検出を終了す
る。
【００２７】実施例３では、以上のフローの記録ＬＤパ
ワーと消去ＬＤパワーの決定の順序は、この限りではな
く、独立して最適ＬＤパワーを求めることを特徴として
いる。以下に説明する実施例４〜７は、図４のフローチ
ャートにおけるstep13及びstep14の消去ＬＤパワーの決
定に関する。
ワーと消去ＬＤパワーの決定の順序は、この限りではな
く、独立して最適ＬＤパワーを求めることを特徴として
いる。以下に説明する実施例４〜７は、図４のフローチ
ャートにおけるstep13及びstep14の消去ＬＤパワーの決
定に関する。
【００２８】図６（ａ）〜（ｆ）は、実施例４を説明す
るための図で、図６（ａ）は旧データ、図６（ｂ）はオ
ーバーライトデータ、図６（ｃ）は正確な再生信号、図
６（ｄ）は正確な検出データ、図６（ｅ）は消し残りの
ある再生信号、図６（ｆ）はエラーのある検出データで
ある。図６に示すように、旧データの上にオーバーライ
トデータを記録する際、最適な消去ＬＤパワーでない場
合に消し残りのある再生信号が検出される。これを２値
化し復調すると、記録したオーバーライトデータとは異
なったエラーのある情報となる。このエラーの量が最小
となる値を消去ＬＤパワー最適値とする。なお、試し書
きに使用するデータは、あらかじめ決められたデータ、
特にエラーの発生しやすい特殊パターンなどで、より正
確に最適値を求めることができる。
るための図で、図６（ａ）は旧データ、図６（ｂ）はオ
ーバーライトデータ、図６（ｃ）は正確な再生信号、図
６（ｄ）は正確な検出データ、図６（ｅ）は消し残りの
ある再生信号、図６（ｆ）はエラーのある検出データで
ある。図６に示すように、旧データの上にオーバーライ
トデータを記録する際、最適な消去ＬＤパワーでない場
合に消し残りのある再生信号が検出される。これを２値
化し復調すると、記録したオーバーライトデータとは異
なったエラーのある情報となる。このエラーの量が最小
となる値を消去ＬＤパワー最適値とする。なお、試し書
きに使用するデータは、あらかじめ決められたデータ、
特にエラーの発生しやすい特殊パターンなどで、より正
確に最適値を求めることができる。
【００２９】図７（ａ）〜（ｃ）は、実施例５,６を説
明するための図で、図７（ａ）は旧データ、図７（ｂ）
は消去後の再生信号、図７（ｃ）は消去後の再生微分信
号である。実施例５では、記録済み領域を消去ＬＤパワ
ーのみで消去し（データを記録せず）、その領域の再生
信号に残った消し残り信号振幅（ｒ１）が最小となる値
を消去ＬＤパワー最適値とする。実施例６では、記録済
み領域を消去ＬＤパワーのみで消去し（データを記録せ
ず）、その領域の再生信号の微分信号に残った消し残り
信号振幅（ｒ２）が最小となる値を消去ＬＤパワー最適
値とする。
明するための図で、図７（ａ）は旧データ、図７（ｂ）
は消去後の再生信号、図７（ｃ）は消去後の再生微分信
号である。実施例５では、記録済み領域を消去ＬＤパワ
ーのみで消去し（データを記録せず）、その領域の再生
信号に残った消し残り信号振幅（ｒ１）が最小となる値
を消去ＬＤパワー最適値とする。実施例６では、記録済
み領域を消去ＬＤパワーのみで消去し（データを記録せ
ず）、その領域の再生信号の微分信号に残った消し残り
信号振幅（ｒ２）が最小となる値を消去ＬＤパワー最適
値とする。
【００３０】図８は、実施例５,６の消し残り情報を検
出するブロック図で、図中、１は微分回路、２はＡＣ給
合器、３はスライスレベル生成回路、４は２値化回路、
５はカウンタである。再生信号または微分回路１で微分
した再生微分信号をＡＣ結合器２により低域成分を除去
し、スライスレベル生成回路３にて生成した消し残り判
定信号レベルを基準とし、２値化回路４で消し残りデー
タを生成し、カウンタ５で消し残り量を数値化する。
出するブロック図で、図中、１は微分回路、２はＡＣ給
合器、３はスライスレベル生成回路、４は２値化回路、
５はカウンタである。再生信号または微分回路１で微分
した再生微分信号をＡＣ結合器２により低域成分を除去
し、スライスレベル生成回路３にて生成した消し残り判
定信号レベルを基準とし、２値化回路４で消し残りデー
タを生成し、カウンタ５で消し残り量を数値化する。
【００３１】実施例７では、最適な消去条件を満足する
消去ＬＤパワー設定値が複数あるときの判断基準を定め
ている。ＬＤパワーが高いと、ＬＤ，メディアの寿命が
短くなるデメリットがある。そこで、最適条件を満足す
る範囲の設定値の中では、極力低いＬＤパワーを採用す
る。実施例８は、前述した図４のフローチャートの説明
を代用する。消去ＬＤパワーを最適化した後に最適記録
ＬＤパワーを求める順序を規定している。実施例９は、
図５のフローチャートにおけるstep16，step17の記録Ｌ
Ｄパワーの決定に関する。消去パワーを固定して記録Ｌ
Ｄパワーを変化させデータを記録すると、再生信号のア
シンメトリが変化する。この様子を図９（ａ）〜（ｃ）
に示す。この波形は、再生信号をＡＣ結合して観察した
ものである。図９（ａ）は、記録ＬＤパワーが強く全体
的にマークが長い場合を示す。図９（ｂ）は、最適な記
録ＬＤパワーで記録されている場合を示す。図９（ｃ）
は、記録ＬＤパワーが弱く全体的にマークが短い場合を
示す。
消去ＬＤパワー設定値が複数あるときの判断基準を定め
ている。ＬＤパワーが高いと、ＬＤ，メディアの寿命が
短くなるデメリットがある。そこで、最適条件を満足す
る範囲の設定値の中では、極力低いＬＤパワーを採用す
る。実施例８は、前述した図４のフローチャートの説明
を代用する。消去ＬＤパワーを最適化した後に最適記録
ＬＤパワーを求める順序を規定している。実施例９は、
図５のフローチャートにおけるstep16，step17の記録Ｌ
Ｄパワーの決定に関する。消去パワーを固定して記録Ｌ
Ｄパワーを変化させデータを記録すると、再生信号のア
シンメトリが変化する。この様子を図９（ａ）〜（ｃ）
に示す。この波形は、再生信号をＡＣ結合して観察した
ものである。図９（ａ）は、記録ＬＤパワーが強く全体
的にマークが長い場合を示す。図９（ｂ）は、最適な記
録ＬＤパワーで記録されている場合を示す。図９（ｃ）
は、記録ＬＤパワーが弱く全体的にマークが短い場合を
示す。
【００３２】通常、アシンメトリは、ＡＣ結合した再生
信号の＋側，−側振幅最大値をそれぞれＡ1，Ａ2とする
と、 β＝（Ａ1＋Ａ2）／（Ａ1−Ａ2） であらわされる。すなわち、アシンメトリは短マークと
長マークの再生信号平均レベルの差といえる。実施例９
では、このアシンメトリが最小（≒０）となる記録ＬＤ
パワーを最適な記録条件とするものである。
信号の＋側，−側振幅最大値をそれぞれＡ1，Ａ2とする
と、 β＝（Ａ1＋Ａ2）／（Ａ1−Ａ2） であらわされる。すなわち、アシンメトリは短マークと
長マークの再生信号平均レベルの差といえる。実施例９
では、このアシンメトリが最小（≒０）となる記録ＬＤ
パワーを最適な記録条件とするものである。
【００３３】
（１）請求項１に対応する効果：試し書き領域におい
て、記録及び消去ＬＤパワーを設定された変化率に応じ
て同時に変化させているので、相変化型光ディスク以外
の試し書きファームシーケンスやメディアフォーマット
をほぼそのまま用いることができるとともに、効率よく
短時間で最適な記録及び消去ＬＤパワーを求めることが
できる。また、メディアの特性上記録，消去ＬＤパワー
の感度が異なる場合に、記録ＬＤパワーと消去ＬＤパワ
ーの変化率の値を変えることにより、細かく対応でき
る。 （２）請求項２に対応する効果：記録ＬＤパワーと消去
ＬＤパワーの変化率を等しくしているので、ＬＤやメデ
ィアの経時劣化等、記録及び消去ＬＤパワーに対する感
度が等しく変化する場合に効率よく正確に最適ＬＤパワ
ーを求めることができる。 （３）請求項３に対応する効果：試し書き領域において
記録ＬＤパワーと消去ＬＤパワーを独立して変化させ、
個別に最適値を求めているので、相変化型光ディスク用
の試し書きメディアフォーマット及びファームシーケン
スを用いた場合に最適な記録及び消去ＬＤパワーを求め
ることができる。 （４）請求項４に対応する効果：消去ＬＤパワーの最適
値を再生信号の復調エラーが最小になる値に決定してい
るので、消し残りや形成不良の記録マークの発生を抑え
た最適な消去ＬＤパワーを求めることができる。 （５）請求項５に対応する効果：記録済み試し書き領域
で消去ＬＤパワーを変化させ、消去動作を行い、その再
生信号レベルから消し残りを検出しているので、消し残
りのない最適な消去ＬＤパワーを求めることができる。 （６）請求項６に対応する効果：記録済み試し書き領域
で消去ＬＤパワーを変化させ、消去動作を行い、その再
生信号の微分信号レベルから消し残りを検出しているの
で、消し残りのない最適な消去ＬＤパワーをより正確に
求めることができる。 （７）請求項７に対応する効果：最適な条件を満足する
消去ＬＤ設定パワーの中でも低い値を選択するため、Ｌ
Ｄ及びメディアの寿命を向上することができ、また、消
費電力を低く抑えることもできる。 （８）請求項８に対応する効果：消去ＬＤパワーの最適
値を決定し、その値に固定した後に記録ＬＤパワーを変
化させ記録し、その再生信号レベルから最適記録ＬＤパ
ワーを求めるため、消し残りや形成不良の記録マーク発
生を抑えた最適な記録ＬＤパワーを求めることができ
る。 （９）請求項９に対応する効果：消去ＬＤパワーの最適
値を決定し、その値に固定した後に記録ＬＤパワーを変
化させ記録し、その再生信号のアシンメトリが最小にな
る値に最適記録ＬＤパワーを決定しているので、正確な
記録マークを形成する記録ＬＤパワーを求めることがで
きる。
て、記録及び消去ＬＤパワーを設定された変化率に応じ
て同時に変化させているので、相変化型光ディスク以外
の試し書きファームシーケンスやメディアフォーマット
をほぼそのまま用いることができるとともに、効率よく
短時間で最適な記録及び消去ＬＤパワーを求めることが
できる。また、メディアの特性上記録，消去ＬＤパワー
の感度が異なる場合に、記録ＬＤパワーと消去ＬＤパワ
ーの変化率の値を変えることにより、細かく対応でき
る。 （２）請求項２に対応する効果：記録ＬＤパワーと消去
ＬＤパワーの変化率を等しくしているので、ＬＤやメデ
ィアの経時劣化等、記録及び消去ＬＤパワーに対する感
度が等しく変化する場合に効率よく正確に最適ＬＤパワ
ーを求めることができる。 （３）請求項３に対応する効果：試し書き領域において
記録ＬＤパワーと消去ＬＤパワーを独立して変化させ、
個別に最適値を求めているので、相変化型光ディスク用
の試し書きメディアフォーマット及びファームシーケン
スを用いた場合に最適な記録及び消去ＬＤパワーを求め
ることができる。 （４）請求項４に対応する効果：消去ＬＤパワーの最適
値を再生信号の復調エラーが最小になる値に決定してい
るので、消し残りや形成不良の記録マークの発生を抑え
た最適な消去ＬＤパワーを求めることができる。 （５）請求項５に対応する効果：記録済み試し書き領域
で消去ＬＤパワーを変化させ、消去動作を行い、その再
生信号レベルから消し残りを検出しているので、消し残
りのない最適な消去ＬＤパワーを求めることができる。 （６）請求項６に対応する効果：記録済み試し書き領域
で消去ＬＤパワーを変化させ、消去動作を行い、その再
生信号の微分信号レベルから消し残りを検出しているの
で、消し残りのない最適な消去ＬＤパワーをより正確に
求めることができる。 （７）請求項７に対応する効果：最適な条件を満足する
消去ＬＤ設定パワーの中でも低い値を選択するため、Ｌ
Ｄ及びメディアの寿命を向上することができ、また、消
費電力を低く抑えることもできる。 （８）請求項８に対応する効果：消去ＬＤパワーの最適
値を決定し、その値に固定した後に記録ＬＤパワーを変
化させ記録し、その再生信号レベルから最適記録ＬＤパ
ワーを求めるため、消し残りや形成不良の記録マーク発
生を抑えた最適な記録ＬＤパワーを求めることができ
る。 （９）請求項９に対応する効果：消去ＬＤパワーの最適
値を決定し、その値に固定した後に記録ＬＤパワーを変
化させ記録し、その再生信号のアシンメトリが最小にな
る値に最適記録ＬＤパワーを決定しているので、正確な
記録マークを形成する記録ＬＤパワーを求めることがで
きる。
【図１】 本発明による相変化型光ディスクの試し書き
方法の一実施例（実施例１，２）を説明するためのフロ
ーチャートである。
方法の一実施例（実施例１，２）を説明するためのフロ
ーチャートである。
【図２】 本発明におけるＬＤ発光とマーク形成を説明
するための図である。
するための図である。
【図３】 本発明におけるビームスポットの温度分布を
説明するための図である。
説明するための図である。
【図４】 本発明による相変化型光ディスクの記録方法
の他の実施例（実施例３）を説明するためのフローチャ
ート（その１）である。
の他の実施例（実施例３）を説明するためのフローチャ
ート（その１）である。
【図５】 本発明による相変化型光ディスクの記録方法
の他の実施例（実施例３）を説明するためのフローチャ
ート（その２）である。
の他の実施例（実施例３）を説明するためのフローチャ
ート（その２）である。
【図６】 本発明による相変化型光ディスクの記録方法
の更に他の実施例（実施例４）を説明するための図であ
る。
の更に他の実施例（実施例４）を説明するための図であ
る。
【図７】 本発明による相変化型光ディスクの記録方法
の更に他の実施例（実施例５，６）を説明するための図
である。
の更に他の実施例（実施例５，６）を説明するための図
である。
【図８】 本発明の実施例５，６の実現するためのブロ
ック図である。
ック図である。
【図９】 本発明における再生信号のアシンメトリを示
す図である。
す図である。
１…微分回路、２…ＡＣ結合器、３…スライスレベル生
成回路、４…２値化回路、５…カウンタ。
成回路、４…２値化回路、５…カウンタ。
Claims (9)
- 【請求項１】 相変化記録媒体に光学的に情報を記録再
生する装置の記録及び消去半導体発光素子パワーの最適
値を求める記録方法であって、記録及び消去半導体発光
素子パワーをそれぞれ設定された変化率に応じて同時に
変化させて試し書きを行い、該試し書き領域の再生信号
から最適な記録及び消去半導体発光素子パワーを決定す
ることを特徴とする相変化型光ディスクの記録方法。 - 【請求項２】 前記記録及び消去半導体発光素子パワー
の変化率を等しくしたことを特徴とする請求項１記載の
相変化型光ディスクの記録方法。 - 【請求項３】 相変化記録媒体に光学的に情報を記録再
生する装置の記録及び消去半導体発光素子パワーの最適
値を求める記録方法であって、記録半導体発光素子パワ
ーと消去半導体発光素子パワーを独立して変化させて試
し書きを行い、該試し書き領域の再生信号から最適な記
録及び消去半導体発光素子パワーを決定することを特徴
とする相変化型光ディスクの記録方法。 - 【請求項４】 前記消去半導体発光素子パワーの最適値
は再生信号の復調エラーが最小になる値に決定すること
を特徴とする請求項３記載の相変化型光ディスクの記録
方法。 - 【請求項５】 前記試し書き領域の中のデータ記録済み
領域に一定時間ごとに消去半導体発光素子パワーを変化
させながら消去し、該領域の再生信号レベルから消去半
導体発光素子パワーの最適値を決定することを特徴とす
る請求項３記載の相変化型光ディスクの記録方法。 - 【請求項６】 前記試し書き領域の中のデータ記録済み
領域に一定時間ごとに消去半導体発光素子パワーを変化
させながら消去し、該領域の再生微分信号のレベルから
消去半導体発光素子パワーの最適値を決定することを特
徴とする請求項３記載の相変化型光ディスクの記録方
法。 - 【請求項７】 前記最適な消去半導体発光素子パワーは
条件を満足する設定パワーのうち、より低い値とするこ
とを特徴とする請求項４，５又は６記載の相変化型光デ
ィスクの記録方法。 - 【請求項８】 前記消去半導体発光素子パワーを最適値
に固定した後に記録半導体発光素子パワーを変化させて
試し書きを行い、該領域の再生信号レベルから最適な記
録半導体発光素子パワーを決定することを特徴とする請
求項３記載の相変化型光ディスクの記録方法。 - 【請求項９】 前記記録半導体発光素子パワーの最適値
は再生信号のアシンメトリが最小になる値に決定するこ
とを特徴とする請求項８記載の相変化型光ディスクの記
録方法。
Priority Applications (4)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6263339A JP3065892B2 (ja) | 1994-10-27 | 1994-10-27 | 相変化型光ディスクの記録方法 |
| US08/536,833 US5648952A (en) | 1994-09-28 | 1995-09-26 | Phase-change optical disc recording method and apparatus, and information recording apparatus and recording pre-compensation method |
| US08/811,713 US5956313A (en) | 1994-09-28 | 1997-03-05 | Phase-change optical disc recording method and apparatus, and information recording apparatus and recording pre-compensation method |
| US08/812,970 US5745463A (en) | 1994-09-28 | 1997-03-05 | Phase-change optical disc recording method and apparatus, and information recording apparatus and recording pre-compensation method |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6263339A JP3065892B2 (ja) | 1994-10-27 | 1994-10-27 | 相変化型光ディスクの記録方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH08124165A true JPH08124165A (ja) | 1996-05-17 |
| JP3065892B2 JP3065892B2 (ja) | 2000-07-17 |
Family
ID=17388105
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP6263339A Expired - Lifetime JP3065892B2 (ja) | 1994-09-28 | 1994-10-27 | 相変化型光ディスクの記録方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3065892B2 (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6456576B1 (en) | 1999-11-17 | 2002-09-24 | Tdk Corporation | Optical recording method |
| JP2003261770A (ja) * | 2002-03-08 | 2003-09-19 | Kanegafuchi Chem Ind Co Ltd | 封止剤、半導体等の封止方法、半導体装置の製造方法、および半導体装置 |
| WO2003102932A1 (en) * | 2002-06-03 | 2003-12-11 | Tdk Corporation | Laser beam power modulation pattern decision method, device for recording data onto optical recording medium, and optical recording medium |
| KR20040037894A (ko) * | 2002-10-30 | 2004-05-08 | 삼성전자주식회사 | 광 기록 매체의 자동 기록 최적화 방법 및 이를 수행하는광 기록/재생 장치 |
| US7479363B2 (en) | 2002-04-26 | 2009-01-20 | Tdk Corporation | Optical recording medium and method for optically recording data in the same |
-
1994
- 1994-10-27 JP JP6263339A patent/JP3065892B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6456576B1 (en) | 1999-11-17 | 2002-09-24 | Tdk Corporation | Optical recording method |
| JP2003261770A (ja) * | 2002-03-08 | 2003-09-19 | Kanegafuchi Chem Ind Co Ltd | 封止剤、半導体等の封止方法、半導体装置の製造方法、および半導体装置 |
| US7479363B2 (en) | 2002-04-26 | 2009-01-20 | Tdk Corporation | Optical recording medium and method for optically recording data in the same |
| WO2003102932A1 (en) * | 2002-06-03 | 2003-12-11 | Tdk Corporation | Laser beam power modulation pattern decision method, device for recording data onto optical recording medium, and optical recording medium |
| US7254101B2 (en) | 2002-06-03 | 2007-08-07 | Tdk Corporation | Laser beam power modulation pattern decision method, device for recording data onto optical recording medium, and optical recording medium |
| KR20040037894A (ko) * | 2002-10-30 | 2004-05-08 | 삼성전자주식회사 | 광 기록 매체의 자동 기록 최적화 방법 및 이를 수행하는광 기록/재생 장치 |
| EP1416477A3 (en) * | 2002-10-30 | 2006-10-25 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Method of and apparatus for automatically optimising writing on optical recording medium |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP3065892B2 (ja) | 2000-07-17 |
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Legal Events
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