JPH0812647B2 - 周辺装置の試験方法 - Google Patents
周辺装置の試験方法Info
- Publication number
- JPH0812647B2 JPH0812647B2 JP62013317A JP1331787A JPH0812647B2 JP H0812647 B2 JPH0812647 B2 JP H0812647B2 JP 62013317 A JP62013317 A JP 62013317A JP 1331787 A JP1331787 A JP 1331787A JP H0812647 B2 JPH0812647 B2 JP H0812647B2
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- Japan
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Description
【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、中央処理装置、主記憶装置、チャネル制御
装置及びI/O装置で構成される情報処理システムに係
り、特に、複数のI/O装置に対する試験を効率よく行う
ことを可能とした周辺装置の試験方法に関する。
装置及びI/O装置で構成される情報処理システムに係
り、特に、複数のI/O装置に対する試験を効率よく行う
ことを可能とした周辺装置の試験方法に関する。
情報処理システムの評価及び保守を目的とする試験
は、情報処理システムに接続される各種I/O装置を効率
よく多重動作させ、短時間に目的とするテストを実施す
る必要がある。
は、情報処理システムに接続される各種I/O装置を効率
よく多重動作させ、短時間に目的とするテストを実施す
る必要がある。
このため、この種テストは、一般に、I/O装置に対す
る起動順序を管理するスケジユーラ及び個々のI/O装置
の状態情報を格納するI/O制御テーブルを持つて行われ
ている。
る起動順序を管理するスケジユーラ及び個々のI/O装置
の状態情報を格納するI/O制御テーブルを持つて行われ
ている。
このようなI/O装置に対する試験に関する従来技術と
して、例えば、特開昭60−72037号公報、特開昭60−112
165号公報等に記載された技術が知られている。これら
の従来技術は、I/O装置対応のI/O制御テーブルに従って
シーケンシャルにI/O装置の試験を行い、または、乱数
によつて任意の１つを決定することによりI/O装置の試
験を行うものである。
して、例えば、特開昭60−72037号公報、特開昭60−112
165号公報等に記載された技術が知られている。これら
の従来技術は、I/O装置対応のI/O制御テーブルに従って
シーケンシャルにI/O装置の試験を行い、または、乱数
によつて任意の１つを決定することによりI/O装置の試
験を行うものである。
I/O装置の台数が増加する傾向にある近年の情報処理
システムを試験する場合、前述のシーケンシャルに試験
を行う従来技術は、同一チャネル内の複数のI/O装置の
試験を行う場合、１階の試験で、そのチャネル内の上位
のI/O装置から順次試験を行い、ビジーのI/O装置につい
ては試験を行わず、また、途中でその回の試験時間が終
了すると、それより下位のI/O装置の試験を行わずにそ
の回の試験を終了し、そして、次の回の試験時、再び、
上位のI/O装置から試験を開始する。その結果、この従
来技術は、チャネルに接続されるI/O装置群の先頭に位
置するI/O装置ほど試験が行われる頻度が増加し、逆
に、最下位のI/O装置に対する試験が全く行われない場
合が生じるという問題点を有している。また、乱数によ
つてサービスを行う従来技術は、その処理のために多重
度が低下し、システムの利用効率を低下させ、短時間に
各I/O装置に対する全てのテスト項目を消化する確実性
が望めないという問題点を有する。
システムを試験する場合、前述のシーケンシャルに試験
を行う従来技術は、同一チャネル内の複数のI/O装置の
試験を行う場合、１階の試験で、そのチャネル内の上位
のI/O装置から順次試験を行い、ビジーのI/O装置につい
ては試験を行わず、また、途中でその回の試験時間が終
了すると、それより下位のI/O装置の試験を行わずにそ
の回の試験を終了し、そして、次の回の試験時、再び、
上位のI/O装置から試験を開始する。その結果、この従
来技術は、チャネルに接続されるI/O装置群の先頭に位
置するI/O装置ほど試験が行われる頻度が増加し、逆
に、最下位のI/O装置に対する試験が全く行われない場
合が生じるという問題点を有している。また、乱数によ
つてサービスを行う従来技術は、その処理のために多重
度が低下し、システムの利用効率を低下させ、短時間に
各I/O装置に対する全てのテスト項目を消化する確実性
が望めないという問題点を有する。
本発明の目的は、前述の従来技術の問題点を解決し、
多重度を低下させることなく、全てのI/O装置に対する
確実なサービスを短時間で行うことができるI/O装置等
の周辺装置の試験方法を提供することにある。
多重度を低下させることなく、全てのI/O装置に対する
確実なサービスを短時間で行うことができるI/O装置等
の周辺装置の試験方法を提供することにある。
本発明によれば、前記目的は、中央処理装置、主記憶
装置、チャネル制御装置を備え、チャネルを介してI/O
装置等の各種周辺装置の試験を行う情報処理システムに
おいて、複数のチャネルと１対１に対応し、そのチャネ
ルに接続されたI/O装置の中で最初に試験を行うI/O装置
を示すI/O優先サービスポインタを有するチャネル制御
テーブルと、複数のI/O装置と１対１に対応し、そのI/O
装置の試験頻度を示すI/O試験頻度情報を有するI/O制御
テーブルとを備え、I/O装置の試験時、前記チャネルテ
ーブルの１つを決定後、前記I/O優先サービスポインタ
が示すI/O制御テーブルから順次シーケンシャルにI/O装
置の試験を行い、この試験中に、前記I/O優先サービス
ポインタを、同一のチャネルに接続される複数のI/O装
置の中で最も小さいI/O試験頻度情報を有するI/O制御テ
ーブルを示すように書替えることにより達成される。
装置、チャネル制御装置を備え、チャネルを介してI/O
装置等の各種周辺装置の試験を行う情報処理システムに
おいて、複数のチャネルと１対１に対応し、そのチャネ
ルに接続されたI/O装置の中で最初に試験を行うI/O装置
を示すI/O優先サービスポインタを有するチャネル制御
テーブルと、複数のI/O装置と１対１に対応し、そのI/O
装置の試験頻度を示すI/O試験頻度情報を有するI/O制御
テーブルとを備え、I/O装置の試験時、前記チャネルテ
ーブルの１つを決定後、前記I/O優先サービスポインタ
が示すI/O制御テーブルから順次シーケンシャルにI/O装
置の試験を行い、この試験中に、前記I/O優先サービス
ポインタを、同一のチャネルに接続される複数のI/O装
置の中で最も小さいI/O試験頻度情報を有するI/O制御テ
ーブルを示すように書替えることにより達成される。
チャネル制御テーブルに設けられたI/O優先サービス
ポインタは、常にそのチャネルに接続されているI/O装
置の中の最も試験頻度の低いI/O装置を示している。従
つて、スケジユーラは、I/O装置試験の開始時にこのI/O
優先サービスポインタにより指示されているI/O装置か
ら試験を開始することができ、同一チャネルに接続され
ている全てのI/O装置を均等に短時間でサービスするこ
とが可能となる。
ポインタは、常にそのチャネルに接続されているI/O装
置の中の最も試験頻度の低いI/O装置を示している。従
つて、スケジユーラは、I/O装置試験の開始時にこのI/O
優先サービスポインタにより指示されているI/O装置か
ら試験を開始することができ、同一チャネルに接続され
ている全てのI/O装置を均等に短時間でサービスするこ
とが可能となる。
以下、本発明による周辺装置の試験方法の一実施例を
図面により詳細に説明する。
図面により詳細に説明する。
第１図は本発明の周辺装置の試験方法が適用される情
報処理システムの一例の構成図、第２図はチャネル及び
I/O装置と１対１に対応したテーブルの接続図、第３図
はチャネル制御テーブルとI/O制御テーブルの構成図、
第４図は本発明の動作を説明するスケジユーラのフロー
チヤートである。第１図〜第３図において、１は中央処
理装置、２は主記憶装置、３はチャネル制御装置、31〜
3nはチャネル、311〜31nはI/O制御装置、3111〜31nnはI
/O装置、T31〜T3nはチャネル制御テーブル、T3111〜T31
nnはI/O制御テーブル、41はチャネルアドレス、42はI/O
優先サービスポインタ、43、52はI/Oサービスカウン
タ、44はチャネル制御テーブルポインタ、51はI/O装置
アドレス、53はI/O制御テーブルポインタである。
報処理システムの一例の構成図、第２図はチャネル及び
I/O装置と１対１に対応したテーブルの接続図、第３図
はチャネル制御テーブルとI/O制御テーブルの構成図、
第４図は本発明の動作を説明するスケジユーラのフロー
チヤートである。第１図〜第３図において、１は中央処
理装置、２は主記憶装置、３はチャネル制御装置、31〜
3nはチャネル、311〜31nはI/O制御装置、3111〜31nnはI
/O装置、T31〜T3nはチャネル制御テーブル、T3111〜T31
nnはI/O制御テーブル、41はチャネルアドレス、42はI/O
優先サービスポインタ、43、52はI/Oサービスカウン
タ、44はチャネル制御テーブルポインタ、51はI/O装置
アドレス、53はI/O制御テーブルポインタである。
本発明が適用される情報処理システムは、第１図に示
すように、複数のI/O装置3111〜311n、3121〜312n、…
…31n1〜31nnが夫々対応する複数のI/O制御装置311〜31
nに接続され、これらのI/O制御装置311〜31nがチャネル
31を介してチャネル制御装置３に接続され、さらに、チ
ャネル制御装置３が中央処理装置１と主記憶装置２に接
続されて構成されている。チャネル32〜3nには、チャネ
ル31と同様にI/O制御装置、I/O装置が接続されている
が、説明の便宜上省略してある。
すように、複数のI/O装置3111〜311n、3121〜312n、…
…31n1〜31nnが夫々対応する複数のI/O制御装置311〜31
nに接続され、これらのI/O制御装置311〜31nがチャネル
31を介してチャネル制御装置３に接続され、さらに、チ
ャネル制御装置３が中央処理装置１と主記憶装置２に接
続されて構成されている。チャネル32〜3nには、チャネ
ル31と同様にI/O制御装置、I/O装置が接続されている
が、説明の便宜上省略してある。
第１図に示す計算機システムを構成するチャネル31〜
3n、I/O装置3111〜31nnに対応して作成されるチャネル
制御テーブルT31〜T3n、I/O制御テーブルT3111〜T31nn
は、夫々内部に設けられるポインタにより、第２図に示
すように相互にループ状になるように接続され、チャネ
ル制御テーブルT31とI/O制御テーブルT3111〜T31nnと
は、チャネルとI/O装置の接続と同一の構成となるよう
に接続されている。
3n、I/O装置3111〜31nnに対応して作成されるチャネル
制御テーブルT31〜T3n、I/O制御テーブルT3111〜T31nn
は、夫々内部に設けられるポインタにより、第２図に示
すように相互にループ状になるように接続され、チャネ
ル制御テーブルT31とI/O制御テーブルT3111〜T31nnと
は、チャネルとI/O装置の接続と同一の構成となるよう
に接続されている。
チャネル制御テーブルT31〜T3nとI/O制御テーブルT31
11〜T31nnの構成が第３図に示されており、チャネル制
御テーブルT31〜T3nは、チャネルが動作可能かどうかを
チャネル命令語によつて調べるために必要なチャネルア
ドレス41、I/O装置を優先して試験するために必要なI/O
優先サービスポインタ42、このI/O優先サービスポイン
タ42を効率よく切替えるために必要な初期値allX“FF"
（最大値）を有するI/Oサービスカウンタ43、及び次の
チャネル制御テーブルを示すチャネルテーブルポインタ
44を含んで構成される。I/O制御テーブルT3111〜T31nn
は、I/O装置アドレス51、アドレス装置を試験できた回
数をサービス頻度情報として示す初期値all0のI/Oサー
ビスカウンタ52及び次のI/O制御テーブルを示すI/O制御
テーブルポインタ53を含んで構成される。
11〜T31nnの構成が第３図に示されており、チャネル制
御テーブルT31〜T3nは、チャネルが動作可能かどうかを
チャネル命令語によつて調べるために必要なチャネルア
ドレス41、I/O装置を優先して試験するために必要なI/O
優先サービスポインタ42、このI/O優先サービスポイン
タ42を効率よく切替えるために必要な初期値allX“FF"
（最大値）を有するI/Oサービスカウンタ43、及び次の
チャネル制御テーブルを示すチャネルテーブルポインタ
44を含んで構成される。I/O制御テーブルT3111〜T31nn
は、I/O装置アドレス51、アドレス装置を試験できた回
数をサービス頻度情報として示す初期値all0のI/Oサー
ビスカウンタ52及び次のI/O制御テーブルを示すI/O制御
テーブルポインタ53を含んで構成される。
前述した第２図に示すI/O制御テーブルT3111〜T31nn
の接続情報は、第１図のI/O装置3111〜31nnと、I/O制御
装置311〜31nを含む接続構成と一致していないが、各I/
O制御テーブル内のI/O装置アドレス51に夫々のI/O装置
が接続されているI/O制御装置のアドレスを含んでお
り、両者は、同一の接続構成となる。
の接続情報は、第１図のI/O装置3111〜31nnと、I/O制御
装置311〜31nを含む接続構成と一致していないが、各I/
O制御テーブル内のI/O装置アドレス51に夫々のI/O装置
が接続されているI/O制御装置のアドレスを含んでお
り、両者は、同一の接続構成となる。
このように構成された本発明の一実施例の動作を第４
図に示すフローチャートにより説明する。
図に示すフローチャートにより説明する。
（１）まず、I/O装置の試験開始に先立って、先頭のチ
ャネルテーブルを求め、チャネル命令語を用いてチャネ
ルが動作可能か否かを調べる（処理S1,S2）。
ャネルテーブルを求め、チャネル命令語を用いてチャネ
ルが動作可能か否かを調べる（処理S1,S2）。
（２）もし、チャネルが動作可能であれば、そのチャネ
ルに対応するチャネル制御テーブル内のI/O優先サービ
スポインタで示されるI/O制御テーブルを求め、そのI/O
制御テーブル内の制御フラグにより、そのI/O装置に対
し試験を実行するか否かの判定を行う。すなわち、I/O
装置が動作中である場合や、結果のチエツクが未処理等
の条件であれば試験は行われない（処理S3,S4）。
ルに対応するチャネル制御テーブル内のI/O優先サービ
スポインタで示されるI/O制御テーブルを求め、そのI/O
制御テーブル内の制御フラグにより、そのI/O装置に対
し試験を実行するか否かの判定を行う。すなわち、I/O
装置が動作中である場合や、結果のチエツクが未処理等
の条件であれば試験は行われない（処理S3,S4）。
（３）試験条件が成立すれば、チャネルコマンド・ワー
ド、データの作成等の試験のための準備を行い、試験を
実行するためにI/O命令を実行し、I/O装置の各種テスト
を行う（処理S5）。
ド、データの作成等の試験のための準備を行い、試験を
実行するためにI/O命令を実行し、I/O装置の各種テスト
を行う（処理S5）。
（４）試験が成功すれば、そのI/O制御テーブル内のI/O
サービスカウンタ52を更新する（処理S6,S8）。
サービスカウンタ52を更新する（処理S6,S8）。
（５）試験がビジーにより受けられなかつた場合、チャ
ネル制御テーブル内のI/O優先サービスポインタを当該I
/O制御テーブルに向けるか否か決定するため、チャネル
制御テーブル内のI/Oサービスカウンタ43の値と当該I/O
制御テーブル内のI/Oサービスカウンタ52の値とを比較
する（処理S6,S7）。
ネル制御テーブル内のI/O優先サービスポインタを当該I
/O制御テーブルに向けるか否か決定するため、チャネル
制御テーブル内のI/Oサービスカウンタ43の値と当該I/O
制御テーブル内のI/Oサービスカウンタ52の値とを比較
する（処理S6,S7）。
（６）もし、当該I/O制御テーブル内のI/Oサービスカウ
ンタの値が小さければ、当該I/Oサービスカウンタ52の
値をチャネル制御テーブル内のI/Oサービスカウンタ43
に設定するとともに、I/O優先サービスポインタ42を当
該1/O制御テーブルに切替える（処理S9,S11）。
ンタの値が小さければ、当該I/Oサービスカウンタ52の
値をチャネル制御テーブル内のI/Oサービスカウンタ43
に設定するとともに、I/O優先サービスポインタ42を当
該1/O制御テーブルに切替える（処理S9,S11）。
（７）試験が成功した場合も失敗した場合も、I/O制御
テーブルポインタ53により次のI/O制御テーブルを求
め、同一のチャネル制御テーブルに接続されている全て
のI/O制御テーブルに示されているI/O装置の試験が一巡
するまで前述の処理S4以降を繰返し実行する（処理S12,
S13,S4……）。
テーブルポインタ53により次のI/O制御テーブルを求
め、同一のチャネル制御テーブルに接続されている全て
のI/O制御テーブルに示されているI/O装置の試験が一巡
するまで前述の処理S4以降を繰返し実行する（処理S12,
S13,S4……）。
（８）１つのチャネル制御テーブルに接続された全ての
I/O制御テーブルの処理が終了すると、チャネル制御テ
ーブルポインタ44により次のチャネルテーブルを求め、
処理S2以降を繰返し実行することにより全てのチャネル
制御テーブルの処理を終了する（処理S14,S15,S2…
…）。
I/O制御テーブルの処理が終了すると、チャネル制御テ
ーブルポインタ44により次のチャネルテーブルを求め、
処理S2以降を繰返し実行することにより全てのチャネル
制御テーブルの処理を終了する（処理S14,S15,S2…
…）。
前述した動作は、上位の親装置等からの指示により、
必要に応じて、あるいは所定時間毎に繰返し実行され
る。処理S7〜S11により、チャネルに接続される複数のI
/O装置のうち、最も試験頻度の少ないI/O装置を優先し
て試験する様に、優先サービスポインタが切替えられて
いるので、次回の動作では、処理S3により、この最も試
験頻度の少ないI/O装置を優先して試験することが可能
となる。
必要に応じて、あるいは所定時間毎に繰返し実行され
る。処理S7〜S11により、チャネルに接続される複数のI
/O装置のうち、最も試験頻度の少ないI/O装置を優先し
て試験する様に、優先サービスポインタが切替えられて
いるので、次回の動作では、処理S3により、この最も試
験頻度の少ないI/O装置を優先して試験することが可能
となる。
以上、本発明の一実施例の構成と動作を説明したが、
第３図に示したチャネル制御テーブル及びI/O制御テー
ブル内のI/Oサービスカウンタ43,52は、I/O試験時間の
蓄積情報としてもよい。この場合、第４図のフローチャ
ートにおける処理S7,S9,S10のI/Oサービスカウンタは、
I/O試験時間の蓄積情報に置き替えられることになり、
処理S8は、I/O試験時間の退避処理となり、I/O動作終了
検出時にI/O試験時間を蓄積する処理となる。
第３図に示したチャネル制御テーブル及びI/O制御テー
ブル内のI/Oサービスカウンタ43,52は、I/O試験時間の
蓄積情報としてもよい。この場合、第４図のフローチャ
ートにおける処理S7,S9,S10のI/Oサービスカウンタは、
I/O試験時間の蓄積情報に置き替えられることになり、
処理S8は、I/O試験時間の退避処理となり、I/O動作終了
検出時にI/O試験時間を蓄積する処理となる。
また、第２図に示すI/O制御テーブルは、必ずしもル
ープを形成する必要はなく、スケジユーラで一巡の試験
ができるものであればよい。
ープを形成する必要はなく、スケジユーラで一巡の試験
ができるものであればよい。
以上説明したように、本発明によれば、チャネルに接
続されている複数のI/O装置の中の試験頻度の最も少な
いI/O装置を、次回の試験時に、優先して試験を行うI/O
装置として設定しておき、次回の試験時にこの試験頻度
の最も少ないI/O装置からシーケンシャル試験を行うよ
うにしているので、全てのI/O装置に対してほぼ均等
に、短時間のうちに目的とするテストを行うことが可能
となり、情報処理システムの正常性の確認、障害検出時
間の短縮に大きな効果を奏する。
続されている複数のI/O装置の中の試験頻度の最も少な
いI/O装置を、次回の試験時に、優先して試験を行うI/O
装置として設定しておき、次回の試験時にこの試験頻度
の最も少ないI/O装置からシーケンシャル試験を行うよ
うにしているので、全てのI/O装置に対してほぼ均等
に、短時間のうちに目的とするテストを行うことが可能
となり、情報処理システムの正常性の確認、障害検出時
間の短縮に大きな効果を奏する。
第１図は本発明の周辺装置の試験方法が適用される情報
処理システムの一例の構成図、第２図はチャネル及びI/
O装置と１対１に対応したテーブルの接続図、第３図は
チャネル制御テーブルとI/O制御テーブルの構成図、第
４図は本発明の動作を説明するスケジユーラのフローチ
ャートである。 １……中央処理装置、２……主記憶装置、３……チャネ
ル制御装置、31〜3n……チャネル、311〜31n……I/O制
御装置、3111〜31nn……I/O装置、T31〜T3n……チャネ
ル制御テーブル、T3111〜T31nn……I/O制御テーブル、4
1……チャネルアドレス、42……I/O優先サービスポイン
タ、43,52……I/Oサービスカウンタ、44……チャネル制
御テーブルポインタ、51……I/O装置アドレス、53……I
/O制御テーブルポインタ。
処理システムの一例の構成図、第２図はチャネル及びI/
O装置と１対１に対応したテーブルの接続図、第３図は
チャネル制御テーブルとI/O制御テーブルの構成図、第
４図は本発明の動作を説明するスケジユーラのフローチ
ャートである。 １……中央処理装置、２……主記憶装置、３……チャネ
ル制御装置、31〜3n……チャネル、311〜31n……I/O制
御装置、3111〜31nn……I/O装置、T31〜T3n……チャネ
ル制御テーブル、T3111〜T31nn……I/O制御テーブル、4
1……チャネルアドレス、42……I/O優先サービスポイン
タ、43,52……I/Oサービスカウンタ、44……チャネル制
御テーブルポインタ、51……I/O装置アドレス、53……I
/O制御テーブルポインタ。
フロントページの続き (72)発明者 大賀 健 神奈川県秦野市堀山下１番地 株式会社日 立製作所神奈川工場内 (72)発明者 田丸 久 神奈川県秦野市堀山下１番地 日立コンピ ユータエンジニアリング株式会社内 (72)発明者 山本 立 神奈川県秦野市堀山下１番地 株式会社日 立コンピユータエレクトロニクス内
Claims (1)
- 【請求項１】中央処理装置、主記憶装置、チャネル制御
装置を備え、チャネルを介してI/O装置等の各種周辺装
置の試験を行う情報処理システムにおいて、複数のチャ
ネルと１対１に対応し、そのチャネルに接続されたI/O
装置の中で最初に試験を行うI/O装置を示すI/O優先サー
ビスポインタを有するチャネル制御テーブルと、複数の
I/O装置と１対１に対応し、そのI/O装置の試験頻度を示
すI/O試験頻度情報を有するI/O制御テーブルとを備え、
I/O装置の試験時、前記チャネル制御テーブルの１つを
決定後、前記I/O優先サービスポインタが示すI/O制御テ
ーブルから順次シーケンシャルにI/O装置の試験を行
い、この試験中に、前記I/O優先サービスポインタを、
同一のチャネルに接続される複数のI/O装置の中で最も
小さいI/O試験頻度情報を有するI/O制御テーブルを示す
ように書替えることを特徴とする周辺装置の試験方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62013317A JPH0812647B2 (ja) | 1987-01-24 | 1987-01-24 | 周辺装置の試験方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62013317A JPH0812647B2 (ja) | 1987-01-24 | 1987-01-24 | 周辺装置の試験方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS63182760A JPS63182760A (ja) | 1988-07-28 |
| JPH0812647B2 true JPH0812647B2 (ja) | 1996-02-07 |
Family
ID=11829794
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP62013317A Expired - Lifetime JPH0812647B2 (ja) | 1987-01-24 | 1987-01-24 | 周辺装置の試験方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0812647B2 (ja) |
-
1987
- 1987-01-24 JP JP62013317A patent/JPH0812647B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS63182760A (ja) | 1988-07-28 |
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