JPH08136335A - 電子式はかりのムダ目消去およびゲイン調整方法 - Google Patents
電子式はかりのムダ目消去およびゲイン調整方法Info
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- JPH08136335A JPH08136335A JP27820094A JP27820094A JPH08136335A JP H08136335 A JPH08136335 A JP H08136335A JP 27820094 A JP27820094 A JP 27820094A JP 27820094 A JP27820094 A JP 27820094A JP H08136335 A JPH08136335 A JP H08136335A
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- signal
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 作業効率を改善する電子式はかりのムダ目消
去およびゲイン調整方法を提供する。 【構成】 ロードセル１の荷重検出信号ａの増幅信号
ａ’からムダ目消去調整回路４３において調整されたム
ダ目消去信号ｄを減算し、この減算出力（計量信号）ｅ
をゲイン調整回路４５において調整し、Ａ／Ｄ変換器１
６においてディジタル信号ｆに変換してコンピュータ４
１へ出力するアナログ回路部Ａ’を備えた電子式はかり
において、コンピュータ４１は、はかりの各設定値に基
づいて、ムダ目消去調整回路４３とゲイン調整回路４５
のゲインを一定値以内のロードセルおよびアナログ回路
部の零点変化を許容でき、かつ秤量に対応するＡ／Ｄ変
換値が最大となるように調整する。 【効果】 自動で調整を終了でき、作業効率を改善で
き、コストを低減できる。
去およびゲイン調整方法を提供する。 【構成】 ロードセル１の荷重検出信号ａの増幅信号
ａ’からムダ目消去調整回路４３において調整されたム
ダ目消去信号ｄを減算し、この減算出力（計量信号）ｅ
をゲイン調整回路４５において調整し、Ａ／Ｄ変換器１
６においてディジタル信号ｆに変換してコンピュータ４
１へ出力するアナログ回路部Ａ’を備えた電子式はかり
において、コンピュータ４１は、はかりの各設定値に基
づいて、ムダ目消去調整回路４３とゲイン調整回路４５
のゲインを一定値以内のロードセルおよびアナログ回路
部の零点変化を許容でき、かつ秤量に対応するＡ／Ｄ変
換値が最大となるように調整する。 【効果】 自動で調整を終了でき、作業効率を改善で
き、コストを低減できる。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は電子式はかりのムダ目消
去およびゲイン調整方法に関するものである。
去およびゲイン調整方法に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】従来の上記電子式はかりの回路構成を図
３，図４に示す。図３において、１は、はかりの検出手
段のロードセルであり、その励磁端子２は後述するアナ
ログ回路部Ａの電源端子３に接続され、電源が供給さ
れ、また出力端子４はアナログ回路部Ａの入力端子５に
接続され、ロードセル１の荷重検出信号ａがアナログ回
路部Ａに入力され、また励磁端子２はアナログ回路部Ａ
の基準端子６に接続され、ロードセル１の電圧信号ｂが
アナログ回路部Ａに入力されている。
３，図４に示す。図３において、１は、はかりの検出手
段のロードセルであり、その励磁端子２は後述するアナ
ログ回路部Ａの電源端子３に接続され、電源が供給さ
れ、また出力端子４はアナログ回路部Ａの入力端子５に
接続され、ロードセル１の荷重検出信号ａがアナログ回
路部Ａに入力され、また励磁端子２はアナログ回路部Ａ
の基準端子６に接続され、ロードセル１の電圧信号ｂが
アナログ回路部Ａに入力されている。
【０００３】アナログ回路部Ａは、入力端子５に接続さ
れ、ロードセル１の荷重検出信号ａを増幅し、増幅され
た荷重検出信号ａ’を出力するプリアンプ11と、基準端
子６に接続されロードセル１の電圧信号ｂを増幅し、基
準電圧信号ｃを出力する基準アンプ12と、基準アンプ12
に接続され基準電圧信号ｃを調整し、はかりのムダ目に
相当するムダ目消去信号ｄを出力するムダ目消去調整回
路13（後述する）と、プリアンプ11とムダ目消去調整回
路13に接続され、荷重検出信号ａ’よりムダ目消去信号
ｄを減算し、計量信号ｅを出力する減算器14と、減算器
14に接続され、計量信号ｅを調整し、計量信号ｅ’を出
力するゲイン調整回路15（後述する）と、ゲイン調整回
路15と基準アンプ12に接続され、基準電圧信号ｃに応じ
て計量信号ｅ’をディジタル信号ｆに変換するアナログ
−ディジタル変換器（以下、Ａ／Ｄ変換器と略す）16か
ら構成されている。
れ、ロードセル１の荷重検出信号ａを増幅し、増幅され
た荷重検出信号ａ’を出力するプリアンプ11と、基準端
子６に接続されロードセル１の電圧信号ｂを増幅し、基
準電圧信号ｃを出力する基準アンプ12と、基準アンプ12
に接続され基準電圧信号ｃを調整し、はかりのムダ目に
相当するムダ目消去信号ｄを出力するムダ目消去調整回
路13（後述する）と、プリアンプ11とムダ目消去調整回
路13に接続され、荷重検出信号ａ’よりムダ目消去信号
ｄを減算し、計量信号ｅを出力する減算器14と、減算器
14に接続され、計量信号ｅを調整し、計量信号ｅ’を出
力するゲイン調整回路15（後述する）と、ゲイン調整回
路15と基準アンプ12に接続され、基準電圧信号ｃに応じ
て計量信号ｅ’をディジタル信号ｆに変換するアナログ
−ディジタル変換器（以下、Ａ／Ｄ変換器と略す）16か
ら構成されている。
【０００４】Ａ／Ｄ変換器16から出力された計量のディ
ジタル信号ｆは出力端子17を介してコンピュータ21へ出
力され、コンピュータ21により計量値がディジタル表示
器（図示せず）に表示される。
ジタル信号ｆは出力端子17を介してコンピュータ21へ出
力され、コンピュータ21により計量値がディジタル表示
器（図示せず）に表示される。
【０００５】ムダ目消去調整回路13の回路図を図４に示
す。ムダ目消去調整回路13は一般にオペアンプを使用し
た反転増幅回路と呼ばれる回路であり、入力側抵抗Ｒs
と帰還側抵抗Ｒf の抵抗値の比により増幅率（ゲイン）
を定めることができる。帰還側抵抗Ｒf は、粗調整用の
複数の固定抵抗31を直列に接続し、これら各固定抵抗31
にそれぞれ並列にディップ−スイッチ32を接続し、固定
抵抗31にさらに微調整用の可変抵抗33を直列に接続して
構成されている。
す。ムダ目消去調整回路13は一般にオペアンプを使用し
た反転増幅回路と呼ばれる回路であり、入力側抵抗Ｒs
と帰還側抵抗Ｒf の抵抗値の比により増幅率（ゲイン）
を定めることができる。帰還側抵抗Ｒf は、粗調整用の
複数の固定抵抗31を直列に接続し、これら各固定抵抗31
にそれぞれ並列にディップ−スイッチ32を接続し、固定
抵抗31にさらに微調整用の可変抵抗33を直列に接続して
構成されている。
【０００６】ゲイン調整回路15の回路も同様の構成であ
り、説明を省略する。但し、微調整用の可変抵抗33は不
要である。上記構成による動作を説明する。
り、説明を省略する。但し、微調整用の可変抵抗33は不
要である。上記構成による動作を説明する。
【０００７】ロードセル１により検出された荷重検出信
号ａは、プリアンプ14により増幅され、減算器14により
荷重検出信号ａ’からムダ目消去調整回路13により調整
されたムダ目消去信号ｄが減算されて計量信号ｅが求め
られ、この出力はゲイン調整回路15で調整され、Ａ／Ｄ
変換器16によりディジタル信号ｆに変換されてコンピュ
ータ21へ入力され、計量値がディジタル表示器に表示さ
れる。
号ａは、プリアンプ14により増幅され、減算器14により
荷重検出信号ａ’からムダ目消去調整回路13により調整
されたムダ目消去信号ｄが減算されて計量信号ｅが求め
られ、この出力はゲイン調整回路15で調整され、Ａ／Ｄ
変換器16によりディジタル信号ｆに変換されてコンピュ
ータ21へ入力され、計量値がディジタル表示器に表示さ
れる。
【０００８】次に、ゲイン調整回路15とムダ目消去調整
回路13のゲインの調整方法について説明する。 錘を載せない状態でロードセル１に電源を供給する。
回路13のゲインの調整方法について説明する。 錘を載せない状態でロードセル１に電源を供給する。
【０００９】そしてまず、ムダ目消去調整回路13を調
整する。すなわち、減算器14の出力信号（計量信号）ｅ
のレベルを確認しながら、この出力信号ｅのレベルが所
定値αと一致するように、ムダ目消去調整回路13のディ
ップ−スイッチ32を投入して粗調整し、続いて可変抵抗
33を可変する。
整する。すなわち、減算器14の出力信号（計量信号）ｅ
のレベルを確認しながら、この出力信号ｅのレベルが所
定値αと一致するように、ムダ目消去調整回路13のディ
ップ−スイッチ32を投入して粗調整し、続いて可変抵抗
33を可変する。
【００１０】上記所定値αは、ロードセル１の荷重検出
信号ａがマイナス側に振れた場合、Ａ／Ｄ変換器16の入
力信号がマイナスとならないように設定されたバイアス
値である（Ａ／Ｄ変換器によっては入力信号がマイナス
となると、正確にＡ／Ｄ変換できないものがある）。こ
の所定値αに相当するディジタル信号ｆ（＝α’）をコ
ンピュータ21は計量値が零であると認識する。
信号ａがマイナス側に振れた場合、Ａ／Ｄ変換器16の入
力信号がマイナスとならないように設定されたバイアス
値である（Ａ／Ｄ変換器によっては入力信号がマイナス
となると、正確にＡ／Ｄ変換できないものがある）。こ
の所定値αに相当するディジタル信号ｆ（＝α’）をコ
ンピュータ21は計量値が零であると認識する。
【００１１】はかりに、秤量の錘を載せる。 そして次に、ゲイン調整回路15を調整する。すなわ
ち、秤量の錘を載せたときのゲイン調整回路15の出力信
号ｅ’がＡ／Ｄ変換器16の入力信号の上限値以下になる
ように、ゲイン調整回路15の出力信号ｅ’のレベルを確
認しながら、ゲイン調整回路15のディップ−スイッチ32
を投入して調整する。
ち、秤量の錘を載せたときのゲイン調整回路15の出力信
号ｅ’がＡ／Ｄ変換器16の入力信号の上限値以下になる
ように、ゲイン調整回路15の出力信号ｅ’のレベルを確
認しながら、ゲイン調整回路15のディップ−スイッチ32
を投入して調整する。
【００１２】このとき、ゲイン調整回路15の調整によ
って出力信号ｅ’が変化するので、ゲイン調整後に秤量
の錘を降ろして、出力信号ｅ’のレベルが所定値α’に
一致するように、ムダ目消去調整回路13を再調整する。
って出力信号ｅ’が変化するので、ゲイン調整後に秤量
の錘を降ろして、出力信号ｅ’のレベルが所定値α’に
一致するように、ムダ目消去調整回路13を再調整する。
【００１３】調整された後のディジタル信号ｆをβとす
ると、（β−α’）をコンピュータ21は秤量であると認
識する。
ると、（β−α’）をコンピュータ21は秤量であると認
識する。
【００１４】
【発明が解決しようとする課題】しかし、このような従
来のゲイン調整回路15とムダ目消去調整回路13のゲイン
の調整方法では、作業員が信号レベルを確認しながら調
整する必要があり、またムダ目消去調整回路13の再調整
も必要なことから、調整に時間と手間がかかり作業効率
が悪く、コストがかかるという問題があった。
来のゲイン調整回路15とムダ目消去調整回路13のゲイン
の調整方法では、作業員が信号レベルを確認しながら調
整する必要があり、またムダ目消去調整回路13の再調整
も必要なことから、調整に時間と手間がかかり作業効率
が悪く、コストがかかるという問題があった。
【００１５】本発明はこのような問題点を解決するもの
であり、作業効率を改善する電子式はかりのムダ目消去
およびゲイン調整方法を提供することを目的とするもの
である。
であり、作業効率を改善する電子式はかりのムダ目消去
およびゲイン調整方法を提供することを目的とするもの
である。
【００１６】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
本発明の電子式はかりのムダ目消去およびゲイン調整方
法は、はかりの検出手段としてロードセルを有し、この
ロードセルの荷重検出信号をアンプにより増幅し、減算
器により前記アンプの増幅信号からムダ目消去調整回路
において調整されたムダ目消去信号を減算し、この減算
信号をゲイン調整回路において調整し、アナログ−ディ
ジタル変換器においてディジタル信号に変換してコンピ
ュータへ出力するアナログ回路部を有す電子式はかりに
おいて、前記ムダ目消去調整回路およびゲイン調整回路
のゲインを調整する方法であって、前記ロードセルの印
加電圧をＶ，ロードセルの定格出力をＬ，ロードセルの
定格容量をＦ，ロードセルの並列接続個数をＮ，前記電
子式はかりの秤量をＷ，前記電子式はかりのムダ目を
Ｚ，前記アナログ−ディジタル変換器の基準電圧をＸ，
アナログ−ディジタル変換器のフルスケールをＳ，前記
アンプのゲインをＧP，前記ゲイン調整回路のゲインを
ＧG ，前記ムダ目消去調整回路のゲインをＧM，はかり
の零点の基準スケールをＪ，はかりのスパンの基準スケ
ールをＫとすると、 Ｖ・Ｌ・Ｗ／（Ｆ・Ｎ）・ＧP ・Ｓ／Ｘ・ＧG ≦Ｋ …（１） を満たす最大のゲイン調整回路のゲインＧG を選択し、
この選択されたゲインＧ G において Ｖ・Ｌ・Ｚ／（Ｆ・Ｎ）・ＧP ・Ｓ／Ｘ・ＧG −Ｖ・ＧM ・Ｓ／Ｘ・ＧG ≧Ｊ …（２） を満たす最大のムダ目消去調整回路のゲインＧM を選択
することを特徴とするものである。
本発明の電子式はかりのムダ目消去およびゲイン調整方
法は、はかりの検出手段としてロードセルを有し、この
ロードセルの荷重検出信号をアンプにより増幅し、減算
器により前記アンプの増幅信号からムダ目消去調整回路
において調整されたムダ目消去信号を減算し、この減算
信号をゲイン調整回路において調整し、アナログ−ディ
ジタル変換器においてディジタル信号に変換してコンピ
ュータへ出力するアナログ回路部を有す電子式はかりに
おいて、前記ムダ目消去調整回路およびゲイン調整回路
のゲインを調整する方法であって、前記ロードセルの印
加電圧をＶ，ロードセルの定格出力をＬ，ロードセルの
定格容量をＦ，ロードセルの並列接続個数をＮ，前記電
子式はかりの秤量をＷ，前記電子式はかりのムダ目を
Ｚ，前記アナログ−ディジタル変換器の基準電圧をＸ，
アナログ−ディジタル変換器のフルスケールをＳ，前記
アンプのゲインをＧP，前記ゲイン調整回路のゲインを
ＧG ，前記ムダ目消去調整回路のゲインをＧM，はかり
の零点の基準スケールをＪ，はかりのスパンの基準スケ
ールをＫとすると、 Ｖ・Ｌ・Ｗ／（Ｆ・Ｎ）・ＧP ・Ｓ／Ｘ・ＧG ≦Ｋ …（１） を満たす最大のゲイン調整回路のゲインＧG を選択し、
この選択されたゲインＧ G において Ｖ・Ｌ・Ｚ／（Ｆ・Ｎ）・ＧP ・Ｓ／Ｘ・ＧG −Ｖ・ＧM ・Ｓ／Ｘ・ＧG ≧Ｊ …（２） を満たす最大のムダ目消去調整回路のゲインＧM を選択
することを特徴とするものである。
【００１７】
【作用】上記方法によると、ロードセルの印加電圧Ｖ，
ロードセルの定格出力Ｌ，ロードセルの定格容量Ｆ，ロ
ードセルの並列接続個数Ｎ，電子式はかりの秤量Ｗ，ム
ダ目Ｚ，アナログ−ディジタル変換器の基準電圧Ｘ，ア
ナログ−ディジタル変換器のフルスケールＳ，アンプの
ゲインＧP ，はかりの零点の基準スケールＪ，はかりの
スパンの基準スケールＫを設定することにより、上記
（１）式を満たす最大のゲイン調整回路のゲインＧG が
選択され、この選択されたゲインＧG において上記
（２）式を満たす最大のムダ目調整回路のゲインＧM が
選択される。
ロードセルの定格出力Ｌ，ロードセルの定格容量Ｆ，ロ
ードセルの並列接続個数Ｎ，電子式はかりの秤量Ｗ，ム
ダ目Ｚ，アナログ−ディジタル変換器の基準電圧Ｘ，ア
ナログ−ディジタル変換器のフルスケールＳ，アンプの
ゲインＧP ，はかりの零点の基準スケールＪ，はかりの
スパンの基準スケールＫを設定することにより、上記
（１）式を満たす最大のゲイン調整回路のゲインＧG が
選択され、この選択されたゲインＧG において上記
（２）式を満たす最大のムダ目調整回路のゲインＧM が
選択される。
【００１８】上記（１）式は、秤量に対応する最大のＡ
／Ｄ変換値を得るものであり、ゲイン調整回路のゲイン
ＧG の選択によりはかりのスパンの基準スケールＫ内で
最大のＡ／Ｄ変換値が得られる。
／Ｄ変換値を得るものであり、ゲイン調整回路のゲイン
ＧG の選択によりはかりのスパンの基準スケールＫ内で
最大のＡ／Ｄ変換値が得られる。
【００１９】また上記（２）式は、一定値以内のロード
セルおよびアナログ回路部の零点変化を許容できるよう
に、すなわち零点変化によりＡ／Ｄ変換器の入力信号が
マイナスにならないように、バイアス値を与えるもので
あり、選択されたゲインＧGにおいて上記（２）式を満
たす最大のムダ目調整回路のゲインＧM が選択され、基
準スケールＪ以上のバイアス値が与えられる。
セルおよびアナログ回路部の零点変化を許容できるよう
に、すなわち零点変化によりＡ／Ｄ変換器の入力信号が
マイナスにならないように、バイアス値を与えるもので
あり、選択されたゲインＧGにおいて上記（２）式を満
たす最大のムダ目調整回路のゲインＧM が選択され、基
準スケールＪ以上のバイアス値が与えられる。
【００２０】
【実施例】以下、本発明の一実施例を図面に基づいて説
明する。なお、従来例の図３の構成と同一の構成には同
一の符号を付して説明を省略する。
明する。なお、従来例の図３の構成と同一の構成には同
一の符号を付して説明を省略する。
【００２１】図１は本発明のムダ目消去およびゲイン調
整方法を使用した電子式はかりの回路構成図である。図
示のように、アナログ回路部Ａ’には、従来のムダ目消
去調整回路13に代えて、後述するコンピュータ41から第
１選択入力端子42を介して、ムダ目消去選択信号ｇを入
力し、アナログスイッチ（図示せず）によりゲインを調
整し、はかりのムダ目に相当するムダ目消去信号ｄを出
力するムダ目消去調整回路43が設けられ、さらに従来の
ゲイン調整回路15に代えて、コンピュータ41から第２選
択入力端子44を介して、ゲイン選択信号ｈを入力し、ア
ナログスイッチ（図示せず）によりゲインを調整し、計
量信号ｅを調整し、計量信号ｅ’を出力するゲイン調整
回路45が設けられている。
整方法を使用した電子式はかりの回路構成図である。図
示のように、アナログ回路部Ａ’には、従来のムダ目消
去調整回路13に代えて、後述するコンピュータ41から第
１選択入力端子42を介して、ムダ目消去選択信号ｇを入
力し、アナログスイッチ（図示せず）によりゲインを調
整し、はかりのムダ目に相当するムダ目消去信号ｄを出
力するムダ目消去調整回路43が設けられ、さらに従来の
ゲイン調整回路15に代えて、コンピュータ41から第２選
択入力端子44を介して、ゲイン選択信号ｈを入力し、ア
ナログスイッチ（図示せず）によりゲインを調整し、計
量信号ｅを調整し、計量信号ｅ’を出力するゲイン調整
回路45が設けられている。
【００２２】コンピュータ41による、電子式はかりのム
ダ目消去およびゲイン調整方法を図２のフローチャート
にしたがって説明する。 〔ステップ−１〕コンピュータ41に下記の数値が設定さ
れたかを確認する。括弧内に単位を示す。
ダ目消去およびゲイン調整方法を図２のフローチャート
にしたがって説明する。 〔ステップ−１〕コンピュータ41に下記の数値が設定さ
れたかを確認する。括弧内に単位を示す。
【００２３】１．ロードセル１の印加電圧Ｖ（ｖ）， ２．ロードセル１の定格出力Ｌ（ｍｖ／ｖ）， ３．ロードセル１の定格容量Ｆ（ｋｇｆ）， ４．ロードセル１の並列接続個数Ｎ， ５．電子式はかりの秤量Ｗ（ｋｇ）， ６．電子式はかりのムダ目Ｚ（ｋｇ）， ７．Ａ／Ｄ変換器16の基準電圧Ｘ（ｖ）， ８．Ａ／Ｄ変換器16のフルスケールＳ， ９．プリアンプ11のゲインＧP （倍）， 10．はかりの零点の基準スケールＪ， 11．はかりのスパンの基準スケールＫ 12．ムダ目消去調整回路43が選択可能なゲインＧ
M （倍）， 13．ゲイン調整回路45が選択可能なゲインＧG （倍） 〔ステップ−２〕次に、下記（１）式を満たすゲイン調
整回路45のゲインＧG を演算する。
M （倍）， 13．ゲイン調整回路45が選択可能なゲインＧG （倍） 〔ステップ−２〕次に、下記（１）式を満たすゲイン調
整回路45のゲインＧG を演算する。
【００２４】 Ｖ・Ｌ・Ｗ／（Ｆ・Ｎ）・ＧP ・Ｓ／Ｘ・ＧG ≦Ｋ …（１） 上記（１）式は、秤量Ｗに対応する最大のＡ／Ｄ変換値
（基準スケールＫ内）を得るものである。
（基準スケールＫ内）を得るものである。
【００２５】たとえば、Ｖ＝12ｖ，Ｌ＝２ｍｖ／ｖ，Ｆ
＝120 ｋｇｆ，Ｎ＝１，Ｗ＝50ｋｇ，Ｘ＝２ｖ，Ｓ＝10
0000，ＧP ＝100 倍，Ｋ＝60000 とすると、 ゲインＧG ≦1.20 が求まる。 〔ステップ−３〕上記（１）式を満たす最大のゲイン調
整回路45のゲインＧG を選択する。
＝120 ｋｇｆ，Ｎ＝１，Ｗ＝50ｋｇ，Ｘ＝２ｖ，Ｓ＝10
0000，ＧP ＝100 倍，Ｋ＝60000 とすると、 ゲインＧG ≦1.20 が求まる。 〔ステップ−３〕上記（１）式を満たす最大のゲイン調
整回路45のゲインＧG を選択する。
【００２６】たとえば、ＧG ；1.00，1.40，1.96，2.74
が選択可能であるとすると、 ゲインＧG ＝1.00 が選択される。 〔ステップ−４〕選択したゲインＧG のゲイン選択信号
ｈをゲイン調整回路45へ出力する。このゲイン選択信号
ｈによりゲイン調整回路45においてゲインが調整され
る。 〔ステップ−５〕さらに、選択したゲインＧG による秤
量Ｗに対するＡ／Ｄ変換器16の変換値を演算して、記憶
する。いま、（１）式の左辺の計算値は”50000 ”とな
り、秤量Ｗに対するＡ／Ｄ変換値は”50000 ”となる。
したがって、以後コンピュータ41はディジタル信号ｆ
の、増分”50000 ”を秤量（Ｗ＝50ｋｇ）と認識する。
が選択可能であるとすると、 ゲインＧG ＝1.00 が選択される。 〔ステップ−４〕選択したゲインＧG のゲイン選択信号
ｈをゲイン調整回路45へ出力する。このゲイン選択信号
ｈによりゲイン調整回路45においてゲインが調整され
る。 〔ステップ−５〕さらに、選択したゲインＧG による秤
量Ｗに対するＡ／Ｄ変換器16の変換値を演算して、記憶
する。いま、（１）式の左辺の計算値は”50000 ”とな
り、秤量Ｗに対するＡ／Ｄ変換値は”50000 ”となる。
したがって、以後コンピュータ41はディジタル信号ｆ
の、増分”50000 ”を秤量（Ｗ＝50ｋｇ）と認識する。
【００２７】上記ステップ−２〜５により、ゲイン調整
回路45のゲインＧG の選択によりコンピュータ41へ出力
する基準スケールＫ（＝60000 ）内で最大のＡ／Ｄ変換
値（＝50000 ）が得られる。 〔ステップ−６〕上記選択されたゲインＧG において、
下記（２）式を満たすムダ目調整回路43のゲインＧM を
演算する。
回路45のゲインＧG の選択によりコンピュータ41へ出力
する基準スケールＫ（＝60000 ）内で最大のＡ／Ｄ変換
値（＝50000 ）が得られる。 〔ステップ−６〕上記選択されたゲインＧG において、
下記（２）式を満たすムダ目調整回路43のゲインＧM を
演算する。
【００２８】 Ｖ・Ｌ・Ｚ／（Ｆ・Ｎ）・ＧP ・Ｓ／Ｘ・ＧG −Ｘ・ＧM ・Ｓ／Ｘ・ＧG ≧Ｊ …（２） 上記（２）式は、一定値以内のロードセル１およびアナ
ログ回路部Ａ’の零点変化を許容できるように、すなわ
ち零点変化によりＡ／Ｄ変換器16の入力信号がマイナス
にならないように、バイアス値を与えるものである。
ログ回路部Ａ’の零点変化を許容できるように、すなわ
ち零点変化によりＡ／Ｄ変換器16の入力信号がマイナス
にならないように、バイアス値を与えるものである。
【００２９】ＧG ＝1.00において、たとえば、Ｚ＝42ｋ
ｇ，Ｊ＝20000 とすると、 ゲインＧM ≦0.22 が求まる。 〔ステップ−７〕上記（２）式を満たす最大のムダ目調
整回路43のゲインＧM を選択する。
ｇ，Ｊ＝20000 とすると、 ゲインＧM ≦0.22 が求まる。 〔ステップ−７〕上記（２）式を満たす最大のムダ目調
整回路43のゲインＧM を選択する。
【００３０】たとえば、ＧM ；0.10，0.15，0.23，0.34
が選択可能であるとすると、 ゲインＧM ＝0.15 が選択される。 〔ステップ−８〕選択したゲインＧM のムダ目消去選択
信号ｇをムダ目消去調整回路43へ出力する。このムダ目
消去選択信号ｇによりムダ目消去調整回路43においてゲ
インが調整される。 〔ステップ−９〕さらに、選択したゲインＧM による零
点のバイアス値を演算して、零点の値として記憶する。
いま、（２）式の左辺の計算値は”27000 ”となり、零
点に対するＡ／Ｄ変換値は”27000 ”となる。したがっ
て、コンピュータ41はディジタル信号ｆとして、”2700
0 ”を入力すると、計量値を０ｋｇと認識する。以後、
コンピュータ41はＡ／Ｄ変換値”27000 〜77000 （＝27
000 ＋50000 ）”を”０〜50ｋｇ”と認識することにな
る。
が選択可能であるとすると、 ゲインＧM ＝0.15 が選択される。 〔ステップ−８〕選択したゲインＧM のムダ目消去選択
信号ｇをムダ目消去調整回路43へ出力する。このムダ目
消去選択信号ｇによりムダ目消去調整回路43においてゲ
インが調整される。 〔ステップ−９〕さらに、選択したゲインＧM による零
点のバイアス値を演算して、零点の値として記憶する。
いま、（２）式の左辺の計算値は”27000 ”となり、零
点に対するＡ／Ｄ変換値は”27000 ”となる。したがっ
て、コンピュータ41はディジタル信号ｆとして、”2700
0 ”を入力すると、計量値を０ｋｇと認識する。以後、
コンピュータ41はＡ／Ｄ変換値”27000 〜77000 （＝27
000 ＋50000 ）”を”０〜50ｋｇ”と認識することにな
る。
【００３１】上記ステップ−６〜９により、選択された
ゲインＧG において上記（２）式を満たす最大のムダ目
調整回路のゲインＧM が選択され、基準スケールＪ以上
のバイアス値が与えられる。
ゲインＧG において上記（２）式を満たす最大のムダ目
調整回路のゲインＧM が選択され、基準スケールＪ以上
のバイアス値が与えられる。
【００３２】このように、必要な電子式はかりの項目を
コンピュータ41に設定することにより、一定値以内のロ
ードセル１およびアナログ回路部Ａ’の零点の変化を許
容でき、かつ秤量に対応するＡ／Ｄ変換値が最大となる
ように自動で調整を終了することができ、よって作業効
率を改善でき、コストを低減することができる。
コンピュータ41に設定することにより、一定値以内のロ
ードセル１およびアナログ回路部Ａ’の零点の変化を許
容でき、かつ秤量に対応するＡ／Ｄ変換値が最大となる
ように自動で調整を終了することができ、よって作業効
率を改善でき、コストを低減することができる。
【００３３】
【発明の効果】以上述べたように本発明によると、ロー
ドセルの印加電圧Ｖ，ロードセルの定格出力Ｌ，ロード
セルの定格容量Ｆ，ロードセルの並列接続個数Ｎ，電子
式はかりの秤量Ｗ，ムダ目Ｚ，アナログ−ディジタル変
換器の基準電圧Ｘ，アナログ−ディジタル変換器のフル
スケールＳ，アンプのゲインＧP ，はかりの零点の基準
スケールＪ，はかりのスパンの基準スケールＫを設定す
ることにより、最大のゲイン調整回路のゲインＧG が選
択され、最大のムダ目調整回路のゲインＧM が選択され
ることによって、一定値以内のロードセルおよびアナロ
グ回路部の零点の変化を許容でき、かつ秤量に対応する
Ａ／Ｄ変換値が最大となるように自動で調整を終了する
ことができ、作業効率を改善でき、コストを低減するこ
とができる。
ドセルの印加電圧Ｖ，ロードセルの定格出力Ｌ，ロード
セルの定格容量Ｆ，ロードセルの並列接続個数Ｎ，電子
式はかりの秤量Ｗ，ムダ目Ｚ，アナログ−ディジタル変
換器の基準電圧Ｘ，アナログ−ディジタル変換器のフル
スケールＳ，アンプのゲインＧP ，はかりの零点の基準
スケールＪ，はかりのスパンの基準スケールＫを設定す
ることにより、最大のゲイン調整回路のゲインＧG が選
択され、最大のムダ目調整回路のゲインＧM が選択され
ることによって、一定値以内のロードセルおよびアナロ
グ回路部の零点の変化を許容でき、かつ秤量に対応する
Ａ／Ｄ変換値が最大となるように自動で調整を終了する
ことができ、作業効率を改善でき、コストを低減するこ
とができる。
【図１】本発明のムダ目消去およびゲイン調整方法を使
用した電子式はかりの回路構成図である。
用した電子式はかりの回路構成図である。
【図２】同電子式はかりのフローチャートである。
【図３】従来の電子式はかりの回路構成図である。
【図４】従来の電子式はかりのムダ目消去調整回路の回
路構成図である。
路構成図である。
１ ロードセル 11 プリアンプ 12 基準アンプ 14 減算器 16 アナログ−ディジタル変換器 41 コンピュータ 43 ムダ目消去調整回路 45 ゲイン調整回路 Ａ’ アナログ回路部 ａ，ａ’ 荷重検出信号 ｂ 電圧信号 ｃ 基準電圧信号 ｄ ムダ目消去信号 ｅ，ｅ’ 計量信号 ｆ ディジタル信号 ｇ ムダ目消去選択信号 ｈ ゲイン選択信号
Claims (1)
- 【請求項１】 はかりの検出手段としてロードセルを有
し、このロードセルの荷重検出信号をアンプにより増幅
し、減算器により前記アンプの増幅信号からムダ目消去
調整回路において調整されたムダ目消去信号を減算し、
この減算信号をゲイン調整回路において調整し、アナロ
グ−ディジタル変換器においてディジタル信号に変換し
てコンピュータへ出力するアナログ回路部を有す電子式
はかりにおいて、前記ムダ目消去調整回路およびゲイン
調整回路のゲインを調整する方法であって、 前記ロードセルの印加電圧をＶ，ロードセルの定格出力
をＬ，ロードセルの定格容量をＦ，ロードセルの並列接
続個数をＮ，前記電子式はかりの秤量をＷ，前記電子式
はかりのムダ目をＺ，前記アナログ−ディジタル変換器
の基準電圧をＸ，アナログ−ディジタル変換器のフルス
ケールをＳ，前記アンプのゲインをＧP，前記ゲイン調
整回路のゲインをＧG ，前記ムダ目消去調整回路のゲイ
ンをＧM，はかりの零点の基準スケールをＪ，はかりの
スパンの基準スケールをＫとすると、 Ｖ・Ｌ・Ｗ／（Ｆ・Ｎ）・ＧP ・Ｓ／Ｘ・ＧG ≦Ｋ を満たす最大のゲイン調整回路のゲインＧG を選択し、
この選択されたゲインＧ G において Ｖ・Ｌ・Ｚ／（Ｆ・Ｎ）・ＧP ・Ｓ／Ｘ・ＧG−Ｖ・Ｇ
M ・Ｓ／Ｘ・ＧG ≧Ｊ を満たす最大のムダ目消去調整回路のゲインＧM を選択
することを特徴とする電子式はかりのムダ目消去および
ゲイン調整方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP27820094A JPH08136335A (ja) | 1994-11-14 | 1994-11-14 | 電子式はかりのムダ目消去およびゲイン調整方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP27820094A JPH08136335A (ja) | 1994-11-14 | 1994-11-14 | 電子式はかりのムダ目消去およびゲイン調整方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH08136335A true JPH08136335A (ja) | 1996-05-31 |
Family
ID=17593999
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP27820094A Pending JPH08136335A (ja) | 1994-11-14 | 1994-11-14 | 電子式はかりのムダ目消去およびゲイン調整方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH08136335A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP1118865A1 (en) * | 2000-01-20 | 2001-07-25 | STMicroelectronics S.r.l. | Circuit and method for detecting load impedance |
| JP2013088311A (ja) * | 2011-10-19 | 2013-05-13 | Yamato Scale Co Ltd | 計量システム |
-
1994
- 1994-11-14 JP JP27820094A patent/JPH08136335A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP1118865A1 (en) * | 2000-01-20 | 2001-07-25 | STMicroelectronics S.r.l. | Circuit and method for detecting load impedance |
| US6812715B2 (en) | 2000-01-20 | 2004-11-02 | Stmicroelectronics S.R.L. | Circuit and method for detecting load impedance |
| JP2013088311A (ja) * | 2011-10-19 | 2013-05-13 | Yamato Scale Co Ltd | 計量システム |
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