JPH08146086A - Ｉｃテスター用ハンドラのテストトレイのトレイインサート - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】 ＩＣテスター用ハンドラのテストトレイのト
レイインサートにおいて、特にパッケージの全周囲の４
方向にリード端子を有するＩＣに最適な、しかも耐久性
が高く長寿命なＩＣ押さえ機構を提供する。 【構成】 ＩＣ３を所定位置に保持するトレイインサー
ト２の収納部４の角部にピン１０とラッチ８とレバー７
及びスプリング９とで構成する所定個数のＩＣ押さえ機
構５を設け、レバー駆動部６で両内側に突起１６を有す
るレバー７を上方部から上下させることで、両外側にガ
イド溝１５を設けたラッチ８にカム動作を行わせ、ラッ
チ８に取り付けたバネ性を有するピン１０を前後に移動
させることで、全周囲にリード端子１２が配置されたＩ
Ｃ３のパッケージ上部を押さえ或いは開放する構成のト
レイインサートの機構。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、ＩＣテスター用ハンド
ラのテストトレイのトレイインサート、特にそれのＩＣ
押さえ機構に関するもので、パッケージの４方向にリー
ド端子を有するＩＣをトレイインサートにおいて押さえ
或いは開放する機構の細部構成に関する。

【０００２】ＩＣテスターを用いてＩＣの電気的特性を
測定する場合に、ＩＣは、ハンドラによってハンドリン
グされ、そのＩＣテスター内で所定の役割を持った各ス
テーションを移送されていく。即ち、「ＩＣの受け取
り」→「温度印加」→「ＩＣ特性測定」→「ＩＣの受け
渡し」と言ったステーションの設定が一般的なものであ
る。しかしハンドラでハンドリングするとき、ハンドラ
の搬送機構そのものによって惹起される振動や、オペレ
ータが操作時に与える振動或いはショックそして傾きが
加えられる等の外部要因によって、ＩＣの位置ズレや飛
び出しが生じてしまう。そこで、それらの不具合を防止
するために、ＩＣテスター内でのＩＣの姿勢や位置を保
持又は制御が可能で、容易には飛び出したり位置ズレが
起こらないような構造とした各種のテストトレイが用い
られる。そして、そのテストトレイを複数個用いてＩＣ
テスターのハンドラ内の上記各ステーション間を循環さ
せている。

【０００３】図４に、一例のテストトレイの斜視図を示
す。また同時にＩＣ３がテストトレイ１内の１つのトレ
イインサート２と呼ばれる部分に収納されることを図示
している。そのＩＣ３の収納部分が１つのテストトレイ
１に１６個×４列＝６４個ある例を示した。図５には、
従来技術によるトレイインサート２のＩＣ押さえ機構５
の細部構成の１部分を示した。図５に示すように、一般
的で代表的なものは、受け取ったＩＣ３が位置ズレした
り飛び出したりしないようにするために、トレイインサ
ート２の１部にプラスチックス製のツメ１１を形成して
いる。その樹脂弾性を利用して、ＩＣ３を受け取る時に
は開閉機構によってツメ１１を拡げて行い、また受け取
った後の所定姿勢及び位置を保持するためには開閉機構
で閉じることでツメ１１で押さえて行っていた。

【０００４】従来技術のトレイインサート２のＩＣ押さ
え機構の構成は、図５−（イ）、（ロ）に示すように、
被測定対象とするＩＣ３のリード端子１２が配置されて
いない側にプラスチックス製の各種形状のツメ１１を掛
けるようにしたものである。近時、ＩＣパッケージは、
軽薄短小化し、また一方では多リード端子化による大型
化も進むなど益々多様化している。しかし、この従来技
術の構成によるツメ１１は、ＩＣ３の収納部４と一体モ
ールド成形型で量産ができ、材料費も安くコストパフォ
ーマンスは良いが、（Ａ）ツメ１１の樹脂弾性の利用を
繰り返すうちバネ性が劣化してしまい寿命が短い。
（Ｂ）また、機械的強度が弱いため外力が加わったとき
破損が起きやすい。（Ｃ）さらに、ツメ１１を開閉する
機構が複雑とならざるを得ず、しかもリード端子１２の
出ている方向を避けるための品種対応が必要である。

【０００５】（Ｄ）そして、その品種対応では、近時多
用されるようになったＱＦＰ（ＱＵＡＤＲＡＴＥ ＦＬ
ＡＴ ＰＡＣＫＡＧＥ）と称され四方向にリード端子１
２が設けられたパッケージのものについては、リード端
子１２を押さえることとなりリード端子曲がりの原因と
なり易く適当ではない。（Ｅ）また、リード端子１２又
はパッケージの上面を押さえると測定端子接点１４のコ
ンタクト時のリードプッシャ１３の動作に傷害となる
（図５−（ハ）参照）。そのために、そこから逃げよう
とすればＩＣ３を押さえていることから開放せねばなら
ない。かつ、パッケージ上面を押さえた場合にはツメ１
１を逃がすためのストロークが大きくなり機構構成全体
が大きくなってしまう。など等の問題点を有していた。

【０００６】

【発明が解決しようとする課題】本発明が解決しようと
する課題は、ＩＣテスター用ハンドラのテストトレイに
おけるトレイインサートのＩＣ押さえ機構において、 （１）ＩＣを押さえるツメに代えて繰り返し開閉されて
もバネ性が劣化せず、長寿命なものとすること。 （２）機械的強度が向上する構成の機構とすること。 （３）開閉機構をシンプルで小型なものとすること。 （４）被測定対象となるＩＣのパッケージ形状が、ＱＦ
Ｐのような周囲四方向全てにリード端子が配置されてい
るものでも、測定端子接点のコンタクト時に必要なリー
ドプッシャの動作の支障とはならず、かつ、ＩＣの押さ
えを常に維持していくことができる機構の構成を得るこ
とである。

【０００７】

【課題を解決するための手段】本発明においては、上記
課題を解決するために、（Ａ）ＩＣを押さえるツメを、
バネ性を有する例えば金属のピンに代え、（Ｂ）レバー
駆動部で、両内側に突起を有するレバーの上方部から上
下させることで、両外側にガイド溝を設けたラッチにカ
ム動作を行わせ、（Ｃ）ラッチに取り付けたバネ性のあ
るピンを前後に移動させ、（Ｄ）全周囲にリード端子が
配置されたＩＣのパッケージ上部を押さえ或いは開放す
る構成の機構とした。

【０００８】即ち、ＩＣを所定位置に保持する収納部の
角部に、バネ性を有するピンと、両内側に突起を有する
レバーと、両内側にガイド溝を設けてカム動作をするラ
ッチと、レバーを押し上げＩＣを押さえる力を加えるス
プリングから構成する所定個数のＩＣ押さえ機構を設け
た、ＩＣテスター用ハンドラのテストトレイのトレイイ
ンサートの構成とした。

【０００９】

【作用】本発明においては、従来技術のいずれにおいて
も不十分で問題点の多かったＱＦＰのようなＩＣパッケ
ージに対して、極めて有効で適正なＩＣ押さえ機構が得
られた。即ち本発明では、ＱＦＰにおいてリード端子が
配置されている周囲四辺上にはＩＣ押さえのためのツメ
を設けることを避け、リード端子の出ていない極めて小
さい間隙しかない４つのコーナー部分に着目したこと
で、バネ性を有するピンによって、ＩＣパッケージ上部
から押さえ或いは押さえを開放する機構が得られたので
ある。

【００１０】

【実施例】図１は、本発明の実施例によるトレイインサ
ート２の平面図である。図２は、本発明の実施例のトレ
イインサート２のＩＣ押さえ機構の詳細部分とその動作
概念図である。また図３は、ＩＣ押さえ機構５を構成す
るピン１０、ラッチ８、レバー７及びスプリング９を示
す。

【００１１】（１）図１に示すのは、本発明の実施例の
テストトレイ１を構成するトレイインサート２である。
そのトレイインサート２のＩＣ押さえ機構５の詳細な構
成と動作概念については図２に示した。即ち、バネ性を
有する金属ピン例えばピアノ線などを活用したピン１０
と、それを取り付けて１体とし両外側にガイド溝１５を
設けたラッチ８と、両内側に突起１６を有するレバー７
と、レバー７を押し上げてＩＣ３を押さえる力を加える
スプリング９とでＩＣ押さえ機構５を構成した。

【００１２】（２）図２−（Ａ）は、ＩＣ押さえ機構５
の“開”状態を示す。レバー７がレバー駆動部６によっ
て押下され、ラッチ８のカム動作によりピン１０が後退
しＩＣ３を受け取る。同時にレバー７が押下されること
でスプリング９は収縮状態となる。同じく、図２−
（Ｂ）は、ＩＣ押さえ機構の５“閉”状態を示す。レバ
ー駆動部６で押下されていた状態から開放することでレ
バー７がスプリング９によって押し上げられ、ラッチ８
のカム動作によりピン１０が前進し、ＩＣ３のパッケー
ジの上部を押さえる。

【００１３】（３）いずれの場合も、図１のＩＣ押さえ
機構５部は図２に示すようにＩＣ３のパッケージの４つ
のコーナーに設置する。なおＩＣ押さえ機構５部はトレ
イインサート２のＩＣ３の収納部４の周囲に埋め込まれ
る構成なのでスプリング９の動作は安定して上下に伸縮
する。また、パッケージのコーナー部であるためにピン
１０が前後に動作せねばならないストロークの長さは極
めて小さくて良く、またＩＣパッケージの上部を押さえ
るのをピン１０としたことで、リード端子１２のないご
く小さいスペースを活用することを可能とした。

【００１４】本発明によれば、測定端子接点１４を測定
時にコンタクトせねばならない場合にも、リードプッシ
ャ１３の動作の障害とはならず、そのためにＩＣ３を押
さえているのを一時的に開放する必要はない。また、本
発明による機構は、ＱＦＰのみならず他のパッケージ形
状の全てに対応することが可能である。

【００１５】

【発明の効果】本発明は、以上説明したように構成され
ているので、以下に記載されるような効果を奏する。 （１）本発明によって、近時各種の電子機器に多量に使
用されるようになったＱＦＰをはじめとする４方向にリ
ード端子を配置したパッケージ形状のＩＣの押さえ或い
は開放が、パッケージ上部から行うことが可能となっ
た。そのために、ＩＣ押さえ或いは解放時の動作による
リード端子曲がりの発生が全くなくなった。 （２）また、本発明によれば、被測定対象ＩＣのリード
端子が配置されている部分以外の、例えば４つのコーナ
ー上部を利用しているので、「ＩＣ特性測定」のステー
ションにおける測定端子接点やリードプッシャと当該Ｉ
Ｃのリード端子との接触動作に、何等の支障もなくなっ
た。

【００１６】（３）そして、本発明は、ＩＣパッケージ
の前後又は左右の２方向にしかリード端子が配置されて
いないものに対して応用することが可能であり、上記
（１）、（２）記載と同様に有効である。 （４）更に、本発明では、従来技術で一般的に用いられ
て来たプラスチックス製のツメに代えて、バネ性のある
金属例えばピアノ線のような金属ピンとしたことで長寿
命化が実現できた。なお本発明の構成によれば、金属に
代えてバネ性のあるプラスチックスピンとしても従来技
術による構成の場合と比較すれば、格段に長寿命化が実
現できた。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の実施例によるトレイインサーとの平面
図である。

【図２】本発明の実施例のトレイインサートのＩＣ押さ
え機構の詳細部分図とその動作概念説明図である。

【図３】本発明の実施例のＩＣ押さえ機構を構成するピ
ン、ラッチ、レバー及びスプリングを示す。

【図４】ＩＣテスターのハンドラ用テストトレイと、Ｉ
Ｃをテストトレイのトレイインサート部分に収納する状
況を示す。

【図５】従来技術によるトレイインサートのＩＣ押さえ
機構の一部分とＩＣ測定部のリードプッシャの構成の概
念を示す。

【符号の説明】

１ テストトレイ ２ トレイインサート ３ ＩＣ ４ 収納部 ５ ＩＣ押さえ機構 ６ レバー駆動部 ７ レバー ８ ラッチ ９ スプリング １０ ピン １１ ツメ １２ リード端子 １３ リードプッシャ １４ 測定端子接点 １５ ガイド溝 １６ 突起

Claims (2)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 テストトレイ（１）のトレイインサート
   （２）において、ＩＣ（３）を所定位置に保持する収納
   部（４）と、 上記収納部（４）の角部にピン（１０）とラッチ（８）
   とレバー（７）及びスプリング（９）とで構成する所定
   個数のＩＣ押さえ機構（５）と、 を具備することを特徴とするＩＣテスター用ハンドラの
   テストトレイのトレイインサート。
2. 【請求項２】 ＩＣ押さえ機構（５）は、レバー駆動部
   （６）で両内側に突起（１６）を有するレバー（７）を
   上部から上下させることで両外側にガイド溝（１５）を
   設けたラッチ（８）にカム動作を行わせ、上記ラッチ
   （８）に取り付けたバネ性を有するピン（１０）を前後
   に移動させ、全周囲にリード端子（１２）が配置された
   ＩＣ（３）のパッケージ上部を押さえ或いは開放するＩ
   Ｃ押さえ機構（５）である請求項１記載のＩＣテスター
   用ハンドラのテストトレイのトレイインサート。