JPH08146208A - 反射鏡およびその製造方法 - Google Patents
反射鏡およびその製造方法Info
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- JPH08146208A JPH08146208A JP29087294A JP29087294A JPH08146208A JP H08146208 A JPH08146208 A JP H08146208A JP 29087294 A JP29087294 A JP 29087294A JP 29087294 A JP29087294 A JP 29087294A JP H08146208 A JPH08146208 A JP H08146208A
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Landscapes
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 基材と反射膜との間に特別に余分な材料を介
さずに、密着力、耐久性および反射性能の良好な反射鏡
およびその製造方法の提供。 【構成】 基材1と反射膜3との間に酸素基2aを含む
中間層2を介し、銀または銀合金から成る反射膜3を成
膜している。
さずに、密着力、耐久性および反射性能の良好な反射鏡
およびその製造方法の提供。 【構成】 基材1と反射膜3との間に酸素基2aを含む
中間層2を介し、銀または銀合金から成る反射膜3を成
膜している。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は照明の反射板、レーザー
用ミラー、その他種々の光学系に用いられる反射鏡に関
し、詳しくは、銀または銀合金から成る反射膜を基材上
に有する反射鏡およびその製造方法に関する。
用ミラー、その他種々の光学系に用いられる反射鏡に関
し、詳しくは、銀または銀合金から成る反射膜を基材上
に有する反射鏡およびその製造方法に関する。
【0002】
【従来の技術】従来より、銀または銀合金から成る反射
膜を有する反射鏡が使用されている。このような反射鏡
は、アルミニウムから成る反射膜を有する反射鏡に比べ
て、可視光の領域の反射率が高く、このような領域の光
の反射鏡として好適なものである。たとえば、照明用反
射鏡として用いた場合、光源の消費電力の削減となっ
て、器具の効率が向上し、小型化できるなどのメリット
がある。
膜を有する反射鏡が使用されている。このような反射鏡
は、アルミニウムから成る反射膜を有する反射鏡に比べ
て、可視光の領域の反射率が高く、このような領域の光
の反射鏡として好適なものである。たとえば、照明用反
射鏡として用いた場合、光源の消費電力の削減となっ
て、器具の効率が向上し、小型化できるなどのメリット
がある。
【0003】しかしながら、銀または銀合金から成る反
射膜は、基材に対する密着力が弱いため、熱や湿度など
の使用環境によっては、剥離しやすいものである。そし
て、部分的な剥離やピンホールなどに腐食性の塩素や硫
黄などを含む汚染物質が付着すると、基材と反射膜との
間に腐食電池が形成され、電気化学的な作用によってよ
り一層腐食が進むこととなって、耐久性に劣るものとな
る。
射膜は、基材に対する密着力が弱いため、熱や湿度など
の使用環境によっては、剥離しやすいものである。そし
て、部分的な剥離やピンホールなどに腐食性の塩素や硫
黄などを含む汚染物質が付着すると、基材と反射膜との
間に腐食電池が形成され、電気化学的な作用によってよ
り一層腐食が進むこととなって、耐久性に劣るものとな
る。
【0004】このような耐久性の改善に配慮して、図2
3に示すような成膜構成とすることによって、基材1と
銀または銀合金から成る反射膜3との密着力を改善した
反射鏡が、特開平5−127004号公報に開示されて
いる。この反射鏡では、図に示すように、基材1の上に
クロムおよび銅の蒸着膜を順に形成して中間層2とし、
この中間層2の上に反射膜3を形成するようにしている
ものである。
3に示すような成膜構成とすることによって、基材1と
銀または銀合金から成る反射膜3との密着力を改善した
反射鏡が、特開平5−127004号公報に開示されて
いる。この反射鏡では、図に示すように、基材1の上に
クロムおよび銅の蒸着膜を順に形成して中間層2とし、
この中間層2の上に反射膜3を形成するようにしている
ものである。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記の
従来例は、密着力を改善できるものの、中間層2を形成
するための蒸着工程および材料を余分に必要とし、製造
工程が煩雑で材料コストがかさむものである。
従来例は、密着力を改善できるものの、中間層2を形成
するための蒸着工程および材料を余分に必要とし、製造
工程が煩雑で材料コストがかさむものである。
【0006】本発明は、以上のような問題点を解決する
ためになされたものであり、その目的は、基材と反射膜
との間に特別に余分な材料を介さずに、密着力、耐久性
および反射性能の良好な反射鏡およびその製造方法の提
供にある。
ためになされたものであり、その目的は、基材と反射膜
との間に特別に余分な材料を介さずに、密着力、耐久性
および反射性能の良好な反射鏡およびその製造方法の提
供にある。
【0007】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決する請求
項1記載の発明は、基材1と反射膜3との間に酸素基2
aを含む中間層2を介し、銀または銀合金から成る反射
膜3を成膜して成ることを特徴として構成している。
項1記載の発明は、基材1と反射膜3との間に酸素基2
aを含む中間層2を介し、銀または銀合金から成る反射
膜3を成膜して成ることを特徴として構成している。
【0008】上記の基材1としては、金属、有機または
無機の材料で成る様々な形状のものであって、反射膜3
を保持するものである。
無機の材料で成る様々な形状のものであって、反射膜3
を保持するものである。
【0009】反射膜3としては、銀本来の光学特性を利
用できる銀または銀合金であって、たとえば、純銀、銀
−アルミニウム合金、銀−白金合金、銀−パラジウム合
金、銀−マグネシウム合金等がある。
用できる銀または銀合金であって、たとえば、純銀、銀
−アルミニウム合金、銀−白金合金、銀−パラジウム合
金、銀−マグネシウム合金等がある。
【0010】酸素基2aとは、化学的な親和力または結
合力に富み、化学的に活性な結合基を有する酸素基2a
または酸素イオンであって、たとえばダングリングボン
トを有する酸素基2aなどである。
合力に富み、化学的に活性な結合基を有する酸素基2a
または酸素イオンであって、たとえばダングリングボン
トを有する酸素基2aなどである。
【0011】請求項2記載の発明は、請求項1記載の発
明において、中間層2として、厚みが数原子以下の酸素
基2aの層を有して成ることを特徴として構成してい
る。
明において、中間層2として、厚みが数原子以下の酸素
基2aの層を有して成ることを特徴として構成してい
る。
【0012】上記の酸素基2aの層の厚みは、できるだ
け薄い方が好ましいく、5〜6原子以下とすることが特
に好ましい。
け薄い方が好ましいく、5〜6原子以下とすることが特
に好ましい。
【0013】請求項3記載の発明は、請求項1記載の発
明において、中間層2として、基材1の酸化層2cまた
は銀もしくは銀合金の酸化層2bを有して成ることを特
徴として構成している。
明において、中間層2として、基材1の酸化層2cまた
は銀もしくは銀合金の酸化層2bを有して成ることを特
徴として構成している。
【0014】請求項4記載の発明は、請求項3記載の発
明において、基材1の酸化層2cと銀または銀合金の酸
化層2bとを混合層として成ることを特徴として構成し
ている。
明において、基材1の酸化層2cと銀または銀合金の酸
化層2bとを混合層として成ることを特徴として構成し
ている。
【0015】請求項5記載の発明は、請求項1記載の発
明において、中間層2を構成する酸素基2aを、基材1
表面に打ち込まれた状態で有して成ることを特徴として
構成している。
明において、中間層2を構成する酸素基2aを、基材1
表面に打ち込まれた状態で有して成ることを特徴として
構成している。
【0016】請求項6記載の発明は、気相処理によっ
て、基材1表面に酸素基2aを含む中間層2を有せしめ
る前処理工程と、この中間層2上に銀または銀合金を励
起させて銀または銀合金から成る反射膜3を形成する成
膜工程と、を順に行うことを特徴として構成している。
て、基材1表面に酸素基2aを含む中間層2を有せしめ
る前処理工程と、この中間層2上に銀または銀合金を励
起させて銀または銀合金から成る反射膜3を形成する成
膜工程と、を順に行うことを特徴として構成している。
【0017】請求項7記載の発明は、請求項6記載の発
明において、前処理工程として、プラズマ5またはイオ
ンビーム11によって酸素基2aを中間層に付与する励
起ガスを発生させ、この励起ガスに基材1を晒すことを
特徴として構成している。
明において、前処理工程として、プラズマ5またはイオ
ンビーム11によって酸素基2aを中間層に付与する励
起ガスを発生させ、この励起ガスに基材1を晒すことを
特徴として構成している。
【0018】請求項8記載の発明は、請求項7記載の発
明において、基材1を導電性の基材1とし、この基材1
にバイアス電圧を印加して前処理工程を行うことを特徴
として構成している。
明において、基材1を導電性の基材1とし、この基材1
にバイアス電圧を印加して前処理工程を行うことを特徴
として構成している。
【0019】請求項9記載の発明は、請求項6記載の発
明において、成膜工程の少なくとも初期に、アシストガ
スを用いずに銀または銀合金を励起させることを特徴と
して構成している。
明において、成膜工程の少なくとも初期に、アシストガ
スを用いずに銀または銀合金を励起させることを特徴と
して構成している。
【0020】上記のアシストガスを用いずに銀または銀
合金を励起させるには、たとえば高周波電力を与えるな
どして行うことができる。そして、この初期において
は、0.1〜100nmの膜厚に成膜されることが好ま
しい。
合金を励起させるには、たとえば高周波電力を与えるな
どして行うことができる。そして、この初期において
は、0.1〜100nmの膜厚に成膜されることが好ま
しい。
【0021】請求項10記載の発明は、請求項6記載の発
明において、成膜工程の少なくとも初期を除いて、銀ま
たは銀合金を励起させない状態で、初期に形成された反
射膜3にさらに重ねて成膜することを特徴として構成し
ている。
明において、成膜工程の少なくとも初期を除いて、銀ま
たは銀合金を励起させない状態で、初期に形成された反
射膜3にさらに重ねて成膜することを特徴として構成し
ている。
【0022】請求項11記載の発明は、請求項6記載の発
明において、成膜工程として、酸素またはオゾンをアシ
ストガスとして用いるとともに、銀または銀合金を励起
させた状態で成膜し、次にアシストガスを用いずに銀ま
たは銀合金を励起させた状態で重ねて成膜したのち、ア
シストガスを用いず銀または銀合金を励起させない状態
でさらに重ねて成膜し、反射膜3を形成することを特徴
として構成している。
明において、成膜工程として、酸素またはオゾンをアシ
ストガスとして用いるとともに、銀または銀合金を励起
させた状態で成膜し、次にアシストガスを用いずに銀ま
たは銀合金を励起させた状態で重ねて成膜したのち、ア
シストガスを用いず銀または銀合金を励起させない状態
でさらに重ねて成膜し、反射膜3を形成することを特徴
として構成している。
【0023】この場合、最初に0.1〜20nmの膜厚
に成膜し、次に50〜100nmの膜厚に重ねて成膜し
たのち、さらに重ねて50〜400nmに成膜すること
が好ましい。
に成膜し、次に50〜100nmの膜厚に重ねて成膜し
たのち、さらに重ねて50〜400nmに成膜すること
が好ましい。
【0024】請求項12記載の発明は、請求項6記載の発
明において、成膜工程として、酸素またはオゾンをアシ
ストガスとしたイオンアシスト蒸着によって成膜したの
ち、アシストガスを用いない真空蒸着によってさらに重
ねて成膜し、反射膜3を形成することを特徴として構成
している。
明において、成膜工程として、酸素またはオゾンをアシ
ストガスとしたイオンアシスト蒸着によって成膜したの
ち、アシストガスを用いない真空蒸着によってさらに重
ねて成膜し、反射膜3を形成することを特徴として構成
している。
【0025】この場合、最初に0.1〜20nmの膜厚
に成膜し、次に50〜400nmに重ねて成膜すること
が好ましい。
に成膜し、次に50〜400nmに重ねて成膜すること
が好ましい。
【0026】請求項13記載の発明は、請求項6記載の発
明において、成膜工程として、酸素またはオゾンをアシ
ストガスとしたスパッタによって成膜したのち、自己ス
パッタによってさらに重ねて成膜し、反射膜3を形成す
ることを特徴として構成している。
明において、成膜工程として、酸素またはオゾンをアシ
ストガスとしたスパッタによって成膜したのち、自己ス
パッタによってさらに重ねて成膜し、反射膜3を形成す
ることを特徴として構成している。
【0027】この場合、最初に0.1〜20nmの膜厚
に成膜し、次に50〜400nmに重ねて成膜すること
が好ましい。
に成膜し、次に50〜400nmに重ねて成膜すること
が好ましい。
【0028】
【作用】請求項1記載の発明では、酸素基2aを含む中
間層2が、基材1と反射膜3との間に化学的な結合力を
もって存在し、反射膜3と基材1とが強く接着させい
る。
間層2が、基材1と反射膜3との間に化学的な結合力を
もって存在し、反射膜3と基材1とが強く接着させい
る。
【0029】請求項2記載の発明では、数原子の厚みの
酸素基2aの層によって、反射膜3と基材1とが強く接
着している。
酸素基2aの層によって、反射膜3と基材1とが強く接
着している。
【0030】請求項3記載の発明では、基材1の酸化層
2cまたは銀もしくは銀合金の酸化層2bが基材1と反
射膜3との間に存在して、基材1と反射膜3とを電気化
学的に絶縁している。したがって、基材1と反射膜3と
の間に腐食電池が形成されにくくなっている。
2cまたは銀もしくは銀合金の酸化層2bが基材1と反
射膜3との間に存在して、基材1と反射膜3とを電気化
学的に絶縁している。したがって、基材1と反射膜3と
の間に腐食電池が形成されにくくなっている。
【0031】請求項4記載の発明では、基材1の酸化層
2cと銀または銀合金の酸化層2bとを混合層として成
り、化学的な結合力がより強力になっている。
2cと銀または銀合金の酸化層2bとを混合層として成
り、化学的な結合力がより強力になっている。
【0032】請求項5記載の発明では、基材1表面に酸
素基2aが打ち込まれた状態で存在し、化学的な結合力
のみならず、物理的な結合力も作用している。
素基2aが打ち込まれた状態で存在し、化学的な結合力
のみならず、物理的な結合力も作用している。
【0033】請求項6記載の発明では、前処理工程とし
て、基材1または反射膜3とは異なる他の金属層などの
形成工程を必要とせず、簡単な気相処理によって、酸素
基2aを含む中間層2を有せしめることができる。
て、基材1または反射膜3とは異なる他の金属層などの
形成工程を必要とせず、簡単な気相処理によって、酸素
基2aを含む中間層2を有せしめることができる。
【0034】また、この中間層2上に銀または銀合金を
励起させて反射膜3を形成しているので、この励起させ
られた銀または銀合金の粒子は、活性化して化学的な結
合力に富んだ状態となっている。したがって、この銀ま
たは銀合金の粒子によって形成される反射膜3は、化学
的に強力に接着している。
励起させて反射膜3を形成しているので、この励起させ
られた銀または銀合金の粒子は、活性化して化学的な結
合力に富んだ状態となっている。したがって、この銀ま
たは銀合金の粒子によって形成される反射膜3は、化学
的に強力に接着している。
【0035】請求項7記載の発明では、プラズマ5また
はイオンビーム11による酸素基2aを含む励起ガスに
よって、基材1表面に酸素基2aが強固に化学的に結合
されている。
はイオンビーム11による酸素基2aを含む励起ガスに
よって、基材1表面に酸素基2aが強固に化学的に結合
されている。
【0036】請求項8記載の発明では、基材1にバイア
ス電圧を印加することによって、酸素基2aが基材1に
打ち込まれる。
ス電圧を印加することによって、酸素基2aが基材1に
打ち込まれる。
【0037】請求項9記載の発明では、成膜工程の少な
くとも初期に、アルゴンなどのアシストガスを用いてい
ないので、このアシストガスによって、基材1に結合し
ている酸素基2aがエッチング除去されることがない。
また、アシストガスが反射膜3中に取り込まれることも
ない。
くとも初期に、アルゴンなどのアシストガスを用いてい
ないので、このアシストガスによって、基材1に結合し
ている酸素基2aがエッチング除去されることがない。
また、アシストガスが反射膜3中に取り込まれることも
ない。
【0038】請求項10記載の発明では、成膜工程の密着
力に寄与の大きい少なくとも初期を除いて、銀または銀
合金を励起させない状態で成膜するので、真空槽4内の
不純物が反射膜3中に取り込まれることがない。
力に寄与の大きい少なくとも初期を除いて、銀または銀
合金を励起させない状態で成膜するので、真空槽4内の
不純物が反射膜3中に取り込まれることがない。
【0039】請求項11記載の発明では、最初に、酸素ま
たはオゾンをアシストガスとして用いるので、基材1表
面に結合している酸素基2aがエッチング除去されるこ
とがない。また、銀または銀合金を励起させた状態とし
ているので、酸素基2aと励起した原子とが化学的に結
合し、基材1の酸化層2cまたは銀または銀合金の酸化
層2bが形成される。
たはオゾンをアシストガスとして用いるので、基材1表
面に結合している酸素基2aがエッチング除去されるこ
とがない。また、銀または銀合金を励起させた状態とし
ているので、酸素基2aと励起した原子とが化学的に結
合し、基材1の酸化層2cまたは銀または銀合金の酸化
層2bが形成される。
【0040】次に、アシストガスを用いずに成膜するこ
とによって、酸化していない銀または銀合金の反射膜3
が形成される。
とによって、酸化していない銀または銀合金の反射膜3
が形成される。
【0041】最後に、銀または銀合金を励起させない状
態で成膜し、不純物を取り込んでいない反射膜3が形成
される。
態で成膜し、不純物を取り込んでいない反射膜3が形成
される。
【0042】請求項12記載の発明では、イオンアシスト
蒸着によって、基材1の酸化層2cまたは銀または銀合
金の酸化層2bが形成されるとともに、酸素基2aが打
ち込まれた状態となる。
蒸着によって、基材1の酸化層2cまたは銀または銀合
金の酸化層2bが形成されるとともに、酸素基2aが打
ち込まれた状態となる。
【0043】こののち、アシストガスを用いない真空蒸
着によって、不純物を取り込まず酸化していない反射膜
3が形成される。
着によって、不純物を取り込まず酸化していない反射膜
3が形成される。
【0044】請求項13記載の発明では、酸素またはオゾ
ンをアシストガスとしたスパッタによって、基材1の酸
化層2cまたは銀もしくは銀合金の酸化層2bが形成さ
れるとともに、緻密な膜欠陥の少ない反射膜3が形成さ
れる。
ンをアシストガスとしたスパッタによって、基材1の酸
化層2cまたは銀もしくは銀合金の酸化層2bが形成さ
れるとともに、緻密な膜欠陥の少ない反射膜3が形成さ
れる。
【0045】こののち、自己スパッタによって、不純物
を取り込まず酸化していない反射膜3が形成される。
を取り込まず酸化していない反射膜3が形成される。
【0046】
【実施例】本発明の一実施例を以下に添付図を参照して
説明する。
説明する。
【0047】この実施例の反射鏡は、基材1と銀などの
反射膜3との界面に酸素基2aを含む中間層2を存在さ
せ、この酸素基2aによる強力で化学的な結合力によっ
て、基材1と反射膜3との密着力を向上させるととも
に、電気化学的絶縁性を向上させることによる耐久性向
上をも達成したものである。
反射膜3との界面に酸素基2aを含む中間層2を存在さ
せ、この酸素基2aによる強力で化学的な結合力によっ
て、基材1と反射膜3との密着力を向上させるととも
に、電気化学的絶縁性を向上させることによる耐久性向
上をも達成したものである。
【0048】図1〜図5は、この実施例の反射鏡の膜構
成を、模式的に示した断面図である。
成を、模式的に示した断面図である。
【0049】図1に示した反射鏡では、基材1と銀また
は銀合金膜から成る反射膜3との間に酸素基2aを含む
中間層2が存在し、この中間層2を介して、基材1と反
射膜3とが接着させられている。
は銀合金膜から成る反射膜3との間に酸素基2aを含む
中間層2が存在し、この中間層2を介して、基材1と反
射膜3とが接着させられている。
【0050】上記の基材1は、金属または有機もしくは
無機の材料で成る様々な形状のものであって、この基材
1によって反射膜3が保持されている。反射膜3は、銀
本来の光学特性を有する銀または銀合金であって、たと
えば、純銀、銀−アルミニウム合金、銀−白金合金、銀
−パラジウム合金、銀−マグネシウム合金等が用いられ
る。
無機の材料で成る様々な形状のものであって、この基材
1によって反射膜3が保持されている。反射膜3は、銀
本来の光学特性を有する銀または銀合金であって、たと
えば、純銀、銀−アルミニウム合金、銀−白金合金、銀
−パラジウム合金、銀−マグネシウム合金等が用いられ
る。
【0051】また、酸素基2aとは、化学的な親和力ま
たは結合力に富み、化学的に活性な結合基を有する酸素
基2aまたは酸素イオンであって、たとえば、ダングリ
ングボンドを有する酸素基2aなどである。このような
酸素基2aは、互いに結合した状態、基材1と、または
銀もしくは銀合金膜から成る反射膜3と化学的に結合し
た状態、または基材1中に打ち込まれた状態で存在し、
これらの状態が混じり合った混在層として中間層2を形
成しているものである。
たは結合力に富み、化学的に活性な結合基を有する酸素
基2aまたは酸素イオンであって、たとえば、ダングリ
ングボンドを有する酸素基2aなどである。このような
酸素基2aは、互いに結合した状態、基材1と、または
銀もしくは銀合金膜から成る反射膜3と化学的に結合し
た状態、または基材1中に打ち込まれた状態で存在し、
これらの状態が混じり合った混在層として中間層2を形
成しているものである。
【0052】この反射鏡では、上記のような中間層2に
よって、基材1と反射膜3とが化学的または物理的に強
く接着しているのである。したがって、熱や湿度によっ
て剥離しにくく、部分的な剥離やピンホールなどのでき
にくいものになっている。このため、腐食性の塩素や硫
黄などを含む汚染物質が付着しても、基材1と反射膜3
との間に腐食電池が形成されることがなく、電気化学的
作用による腐食の心配がないので、耐久性に優れた反射
鏡になっている。そして、銀本来の高反射率特性を生か
して、たとえば、照明用の高反射率、高耐久性の反射鏡
などに用いられているのである。
よって、基材1と反射膜3とが化学的または物理的に強
く接着しているのである。したがって、熱や湿度によっ
て剥離しにくく、部分的な剥離やピンホールなどのでき
にくいものになっている。このため、腐食性の塩素や硫
黄などを含む汚染物質が付着しても、基材1と反射膜3
との間に腐食電池が形成されることがなく、電気化学的
作用による腐食の心配がないので、耐久性に優れた反射
鏡になっている。そして、銀本来の高反射率特性を生か
して、たとえば、照明用の高反射率、高耐久性の反射鏡
などに用いられているのである。
【0053】図2に示す反射鏡では、図1に示した中間
層2が、厚みが数原子以下の酸素基2aの層を有して成
り、この数原子の厚みの酸素基2aの層によって、基材
1と反射膜3とが強く接着し、反射膜3の密着力の良好
な反射鏡となっている。
層2が、厚みが数原子以下の酸素基2aの層を有して成
り、この数原子の厚みの酸素基2aの層によって、基材
1と反射膜3とが強く接着し、反射膜3の密着力の良好
な反射鏡となっている。
【0054】なお、この酸素基2aの層の厚みは、でき
るだけ薄いことが好ましいが、特に5〜6原子以下とす
ることが好ましい。
るだけ薄いことが好ましいが、特に5〜6原子以下とす
ることが好ましい。
【0055】図3に示す反射鏡では、図1に示した中間
層2として、基材1の酸化層2cまたは銀もしくは銀合
金の酸化層2bを有して成り、基材1の酸化層2cまた
は銀もしくは銀合金の酸化層2bが中間層2に存在する
ことによって、基材1と反射膜3との間が電気化学的に
絶縁されて、塩素または硫化物などを含む汚染物質の付
着による基材1と反射膜3との界面における腐食の心配
が少なく、耐久性の良好な反射鏡となってる。
層2として、基材1の酸化層2cまたは銀もしくは銀合
金の酸化層2bを有して成り、基材1の酸化層2cまた
は銀もしくは銀合金の酸化層2bが中間層2に存在する
ことによって、基材1と反射膜3との間が電気化学的に
絶縁されて、塩素または硫化物などを含む汚染物質の付
着による基材1と反射膜3との界面における腐食の心配
が少なく、耐久性の良好な反射鏡となってる。
【0056】図4に示す反射鏡では、図1に示した中間
層2として、基材1の酸化層2cと銀または銀合金の酸
化層2bとを混合層としており、この混合層によって、
化学的な結合力が向上し、反射膜3の密着力がより強力
になっている。
層2として、基材1の酸化層2cと銀または銀合金の酸
化層2bとを混合層としており、この混合層によって、
化学的な結合力が向上し、反射膜3の密着力がより強力
になっている。
【0057】図5に示す反射鏡では、図1に示した中間
層2として、基材1表面に酸素基2aが打ち込まれた状
態で存在することによって、化学的のみならず物理的な
結合力もあり、反射膜3の密着力がより強力になってい
る。
層2として、基材1表面に酸素基2aが打ち込まれた状
態で存在することによって、化学的のみならず物理的な
結合力もあり、反射膜3の密着力がより強力になってい
る。
【0058】なお、図2〜図5に示した中間層2を混合
したようなものが、図1に示した中間層2であり、個々
の図に示した中間層2の持つ特性を合わせ持った反射鏡
となっているのである。
したようなものが、図1に示した中間層2であり、個々
の図に示した中間層2の持つ特性を合わせ持った反射鏡
となっているのである。
【0059】なお、以上のような反射膜3に透明な保護
膜を形成すれば、苛酷な環境下での耐久性がさらに向上
し、反射鏡としての利用環境が拡大するものである。
膜を形成すれば、苛酷な環境下での耐久性がさらに向上
し、反射鏡としての利用環境が拡大するものである。
【0060】つぎに、上記したような中間層2を有する
反射鏡の製造方法について説明する。
反射鏡の製造方法について説明する。
【0061】すなわち、この実施例の反射鏡は、気相処
理によって基材1表面に酸素基2aを含む中間層2を有
せしめる前処理工程と、この中間層2上に銀または銀合
金を励起させて銀または銀合金から成る反射膜3を形成
する成膜工程と、を順に行うことを特徴としているもの
である。
理によって基材1表面に酸素基2aを含む中間層2を有
せしめる前処理工程と、この中間層2上に銀または銀合
金を励起させて銀または銀合金から成る反射膜3を形成
する成膜工程と、を順に行うことを特徴としているもの
である。
【0062】このような製造方法は、反射膜3の密着力
を向上させるために、基材1または反射膜3とは異なる
他の金属膜の形成工程を要しないものである。したがっ
て、材料コストが低く、簡単な気相処理によって、基材
1に密着力強化のための前処理ができるのである。その
上、銀または銀合金を励起させて反射膜3を成膜するこ
とによって、成膜される反射膜3の化学的な結合力が強
く、反射膜3の密着力のよい反射鏡を製造できるのであ
る。
を向上させるために、基材1または反射膜3とは異なる
他の金属膜の形成工程を要しないものである。したがっ
て、材料コストが低く、簡単な気相処理によって、基材
1に密着力強化のための前処理ができるのである。その
上、銀または銀合金を励起させて反射膜3を成膜するこ
とによって、成膜される反射膜3の化学的な結合力が強
く、反射膜3の密着力のよい反射鏡を製造できるのであ
る。
【0063】以下に、この製造方法を具体的に説明す
る。まず、前処理工程としては、清浄化した基材1を真
空槽4内に挿入し、真空槽4内を1 ×10-4Pa以下となる
まで真空排気を行う。次に、酸素ガスを1 ×10-3〜10-1
Pa程度で流し込み、この酸素ガスを励起させる。
る。まず、前処理工程としては、清浄化した基材1を真
空槽4内に挿入し、真空槽4内を1 ×10-4Pa以下となる
まで真空排気を行う。次に、酸素ガスを1 ×10-3〜10-1
Pa程度で流し込み、この酸素ガスを励起させる。
【0064】なお、このとき導入するガスは酸素原子を
含むガスであればよく、オゾン 、二酸化炭素、または
不活性ガスと酸素と、もしくは窒素と酸素と、の混合ガ
スであってもよい。
含むガスであればよく、オゾン 、二酸化炭素、または
不活性ガスと酸素と、もしくは窒素と酸素と、の混合ガ
スであってもよい。
【0065】また、導入したガスを励起させる手段とし
て、高周波または電子ビームなどによるプラズマもしく
はイオンビーム等を使用することができる。
て、高周波または電子ビームなどによるプラズマもしく
はイオンビーム等を使用することができる。
【0066】以上の酸素を含む励起ガス雰囲気中に基材
1を晒すことによって、基材1表面が酸化されて酸化層
2cが形成され、基材1表面は活性な酸素基2aを含む
ことになって、酸素のダングリングボンドが形成され
る。この結果、この基材1表面は非常に化学的な結合力
に富んだ状態となるのである。
1を晒すことによって、基材1表面が酸化されて酸化層
2cが形成され、基材1表面は活性な酸素基2aを含む
ことになって、酸素のダングリングボンドが形成され
る。この結果、この基材1表面は非常に化学的な結合力
に富んだ状態となるのである。
【0067】また、この場合、基材1を導電性のものと
し、この基材1にバイアス電圧を印加することによっ
て、酸素イオンまたは酸素のラジカルを基材1表面に打
ち込んだ状態とするとともに、基材1表面の酸化を促進
して、よりダングリングボンドに富んだ状態にすること
ができる。また、基材1表面の酸化層2cの厚み、酸素
基2aの基材1表面への付与率または基材1表面中への
打ち込み量は、表面処理時間、パワー 、バイアス電圧
等の調整によって、好みの状態に制御できる。
し、この基材1にバイアス電圧を印加することによっ
て、酸素イオンまたは酸素のラジカルを基材1表面に打
ち込んだ状態とするとともに、基材1表面の酸化を促進
して、よりダングリングボンドに富んだ状態にすること
ができる。また、基材1表面の酸化層2cの厚み、酸素
基2aの基材1表面への付与率または基材1表面中への
打ち込み量は、表面処理時間、パワー 、バイアス電圧
等の調整によって、好みの状態に制御できる。
【0068】次に、成膜工程として、上記のような基材
1表面の活性化処理となる前処理工程を行ったのち、反
射膜3となる銀または銀合金膜を形成する訳である。こ
のとき、電子ビーム あるいは抵抗加熱蒸着法による蒸
発粒子を高周波などで励起させ、銀または銀合金粒子を
活性化させることによって、基材1表面への密着力を高
めることができる。
1表面の活性化処理となる前処理工程を行ったのち、反
射膜3となる銀または銀合金膜を形成する訳である。こ
のとき、電子ビーム あるいは抵抗加熱蒸着法による蒸
発粒子を高周波などで励起させ、銀または銀合金粒子を
活性化させることによって、基材1表面への密着力を高
めることができる。
【0069】この場合、通常はアシストガスとしてアル
ゴンのような不活性ガスを導入するが、このような不活
性ガスの励起ガスによって前処理工程を行うと、基材1
表面の酸素基2aがエッチングされてしまう可能性があ
る。したがって、不活性ガスを流さずに蒸発粒子のみを
励起させるか、あるいはアシストガスとして酸素または
オゾンガスを流しながら蒸発粒子を励起させるのが好ま
しい。
ゴンのような不活性ガスを導入するが、このような不活
性ガスの励起ガスによって前処理工程を行うと、基材1
表面の酸素基2aがエッチングされてしまう可能性があ
る。したがって、不活性ガスを流さずに蒸発粒子のみを
励起させるか、あるいはアシストガスとして酸素または
オゾンガスを流しながら蒸発粒子を励起させるのが好ま
しい。
【0070】このような処理により、反射膜3となる蒸
発粒子は基材1表面の活性な酸素基2aと化学的に結合
しやすくなるのである。また、酸素またはオゾンガスを
導入した場合は、酸素またはオゾンガスによる励起ガス
と、励起して活性な銀または銀合金の蒸発粒子の一部と
が反応する。この結果、形成される反射膜3と基材1と
の間に酸化層2b、2cが形成され、基材1との膜界面
の中間層2において化学的共有性が増加してしっかり結
合するので、強固な密着力が得られるのである。
発粒子は基材1表面の活性な酸素基2aと化学的に結合
しやすくなるのである。また、酸素またはオゾンガスを
導入した場合は、酸素またはオゾンガスによる励起ガス
と、励起して活性な銀または銀合金の蒸発粒子の一部と
が反応する。この結果、形成される反射膜3と基材1と
の間に酸化層2b、2cが形成され、基材1との膜界面
の中間層2において化学的共有性が増加してしっかり結
合するので、強固な密着力が得られるのである。
【0071】また、基材1にバイアス電圧を印加するこ
とによって、基材1に成膜しながら基材1をエッチング
する作用を利用することで、中間層2として基材1の酸
化層2cと銀または銀合金の酸化層2bとの混合層を形
成し、この混合層の上に緻密な反射膜3を形成すること
も可能である。これらの中間層2を形成する膜の密着力
または反射特性などの膜性質は、酸素またはオゾンガス
の流量調整またはバイアス電圧の調整などによって制御
することができる。
とによって、基材1に成膜しながら基材1をエッチング
する作用を利用することで、中間層2として基材1の酸
化層2cと銀または銀合金の酸化層2bとの混合層を形
成し、この混合層の上に緻密な反射膜3を形成すること
も可能である。これらの中間層2を形成する膜の密着力
または反射特性などの膜性質は、酸素またはオゾンガス
の流量調整またはバイアス電圧の調整などによって制御
することができる。
【0072】また、電子ビームまたは抵抗加熱による蒸
着を行いながら、酸素またはオゾンのイオンビームでア
シストするイオンビームアシスト蒸着法によって、基材
1と反射膜3との界面に銀あるいは銀合金の酸化層2b
を形成することができる。この酸化層2bによっても、
基材1と反射膜3界面における中間層2の化学的共有性
が増し、強固な密着力が得られるようになる。
着を行いながら、酸素またはオゾンのイオンビームでア
シストするイオンビームアシスト蒸着法によって、基材
1と反射膜3との界面に銀あるいは銀合金の酸化層2b
を形成することができる。この酸化層2bによっても、
基材1と反射膜3界面における中間層2の化学的共有性
が増し、強固な密着力が得られるようになる。
【0073】また、別の方法として、銀または銀合金の
ターゲット12を用い、酸素またはオゾンガスをアシス
トガスとしたスパッタを行うことによっても、同様に酸
化層2cを形成でき、同様な作用によって、強固な密着
力を得ることができる。
ターゲット12を用い、酸素またはオゾンガスをアシス
トガスとしたスパッタを行うことによっても、同様に酸
化層2cを形成でき、同様な作用によって、強固な密着
力を得ることができる。
【0074】しかし、上記のような膜形成方法で反射膜
3を形成し続けた場合、銀または銀合金の励起粒子中
に、真空槽4内の不純物またはアシストガスの酸素もし
くはオゾンガスを巻き込み、色調が黒ずんだり、反射率
が低下したりするため、反射鏡の反射膜3としての機能
が不十分である。
3を形成し続けた場合、銀または銀合金の励起粒子中
に、真空槽4内の不純物またはアシストガスの酸素もし
くはオゾンガスを巻き込み、色調が黒ずんだり、反射率
が低下したりするため、反射鏡の反射膜3としての機能
が不十分である。
【0075】そこで、電子ビームまたは抵抗加熱によっ
て銀または銀合金蒸発粒子を得る方法の場合、成膜中に
蒸発粒子を励起させていた高周波電源7を切り、また、
酸素またはオゾンガスをアシストガスとして導入してい
る場合、そのガスの供給を止めて、通常の電子ビームに
よる抵抗加熱蒸着法に切り換える。同様に、イオンビー
ムアシスト蒸着の場合にも、イオンビーム電源を切り、
アシストガスの供給を止め、通常の電子ビームまたは抵
抗加熱蒸着法に切り換える。また、スパッタによる膜形
成の場合には、アシストガスとしての酸素あるいはオゾ
ンガスの供給を止め、銀または銀合金活性粒子そのもの
が銀または銀合金ターゲットをスパッタする自己スパッ
タに切り換える。
て銀または銀合金蒸発粒子を得る方法の場合、成膜中に
蒸発粒子を励起させていた高周波電源7を切り、また、
酸素またはオゾンガスをアシストガスとして導入してい
る場合、そのガスの供給を止めて、通常の電子ビームに
よる抵抗加熱蒸着法に切り換える。同様に、イオンビー
ムアシスト蒸着の場合にも、イオンビーム電源を切り、
アシストガスの供給を止め、通常の電子ビームまたは抵
抗加熱蒸着法に切り換える。また、スパッタによる膜形
成の場合には、アシストガスとしての酸素あるいはオゾ
ンガスの供給を止め、銀または銀合金活性粒子そのもの
が銀または銀合金ターゲットをスパッタする自己スパッ
タに切り換える。
【0076】以上のような対策によって、銀あるいは銀
合金膜が持つ本来の高反射率特性をを損なわず、高密着
力の反射膜3を有する反射鏡の製造を行うことができる
のである。
合金膜が持つ本来の高反射率特性をを損なわず、高密着
力の反射膜3を有する反射鏡の製造を行うことができる
のである。
【0077】また、基材1と反射膜3との膜界面の良好
な密着力を維持するためには、以上のような前処理工程
の最初から成膜工程の終了までの各工程を、同一の真空
槽4内で連続的に行うことが好ましい。
な密着力を維持するためには、以上のような前処理工程
の最初から成膜工程の終了までの各工程を、同一の真空
槽4内で連続的に行うことが好ましい。
【0078】以下に、具体的な実施例1〜6および比較
例を詳述し、これらの実施例および比較例によって得ら
れた反射鏡の性能を比較説明する。
例を詳述し、これらの実施例および比較例によって得ら
れた反射鏡の性能を比較説明する。
【0079】実施例1を図6ないし図9に基づいて説明
する。図6は前処理工程を行っている状態の装置の概略
断面図であり、図7または図8は、それぞれ初期、後期
の成膜工程を行っている状態の装置の概略断面図であ
る。また、図9は、製品の状態を模式的に示した断面図
であって、図6ないし図8の各工程に(a)ないし
(c)のものがそれぞれ対応している。
する。図6は前処理工程を行っている状態の装置の概略
断面図であり、図7または図8は、それぞれ初期、後期
の成膜工程を行っている状態の装置の概略断面図であ
る。また、図9は、製品の状態を模式的に示した断面図
であって、図6ないし図8の各工程に(a)ないし
(c)のものがそれぞれ対応している。
【0080】まず、図6に示すように、清浄化された平
滑なアルミニウム板を基材1とし、この基材1を蒸着用の真空
槽4の中に入れ、1×10-4Pa以下になるまで真空排気を
行った。その後、酸素ガス5aを5×10-2Paの圧力で流
し、高周波コイル6に高周波電源7より高周波出力500W
を加えて酸素のプラズマ5とし、このプラズマ5の雰囲
気中に300 秒間基材1を晒して、基材1表面に酸素基2
aを含む中間層2を形成した。なお、この時、シャッタ
ー8は閉じた状態で行った。このような処理によって、
図9(a)に示すように、基材1表面に活性な酸素基2
aを含む中間層2が形成された。
滑なアルミニウム板を基材1とし、この基材1を蒸着用の真空
槽4の中に入れ、1×10-4Pa以下になるまで真空排気を
行った。その後、酸素ガス5aを5×10-2Paの圧力で流
し、高周波コイル6に高周波電源7より高周波出力500W
を加えて酸素のプラズマ5とし、このプラズマ5の雰囲
気中に300 秒間基材1を晒して、基材1表面に酸素基2
aを含む中間層2を形成した。なお、この時、シャッタ
ー8は閉じた状態で行った。このような処理によって、
図9(a)に示すように、基材1表面に活性な酸素基2
aを含む中間層2が形成された。
【0081】こののち、酸素のプラズマ5による処理を
停止し、酸素ガス5aの供給も止め、再び真空度が1×
10-4Pa以下になるまで真空排気を行った。
停止し、酸素ガス5aの供給も止め、再び真空度が1×
10-4Pa以下になるまで真空排気を行った。
【0082】つぎに、図7に示すように、基板1にバイ
アス電源10より100Vのバイアス電圧を印加し、電子銃
9によって電子ビームを発生させ、反射膜3となる銀蒸
着材料3aを蒸発可能になるまで加熱し、高周波コイル
6に高周波出力500Wを加え、蒸発が安定してからシャッ
ター8を開けた。このようにして蒸発した銀粒子は高周
波出力500Wで励起され、バイアス電圧100Vで基材1の方
へ加速され、励起した銀粒子は基材1表面に付与された
活性な酸素基2aによりアルミニウム−酸素−銀結合を形成
し、その上に緻密な銀粒子が堆積した。この状態の製品
を図8(b)に示している。なお、この時、励起物質は
銀のみで、アシストガスとなる酸素ガス5aは真空槽4
内に供給しなかった。このようにして、銀粒子を励起し
ながら、100nm の膜厚の反射膜3を形成した。
アス電源10より100Vのバイアス電圧を印加し、電子銃
9によって電子ビームを発生させ、反射膜3となる銀蒸
着材料3aを蒸発可能になるまで加熱し、高周波コイル
6に高周波出力500Wを加え、蒸発が安定してからシャッ
ター8を開けた。このようにして蒸発した銀粒子は高周
波出力500Wで励起され、バイアス電圧100Vで基材1の方
へ加速され、励起した銀粒子は基材1表面に付与された
活性な酸素基2aによりアルミニウム−酸素−銀結合を形成
し、その上に緻密な銀粒子が堆積した。この状態の製品
を図8(b)に示している。なお、この時、励起物質は
銀のみで、アシストガスとなる酸素ガス5aは真空槽4
内に供給しなかった。このようにして、銀粒子を励起し
ながら、100nm の膜厚の反射膜3を形成した。
【0083】こののち、図8に示すように、高周波電源
7、バイアス電源10を停止させ、励起していない銀蒸
発粒子によって、200nm の膜厚に反射膜3を重ねて形成
し、反射鏡を完成させた。この反射鏡の膜構成を図8
(c)に示しており、この反射鏡の反射膜3は、コンタ
ミネーションの影響が少なく、高反射率の銀膜となって
いる。なお、この製品は図2に示したものに対応したも
のである。
7、バイアス電源10を停止させ、励起していない銀蒸
発粒子によって、200nm の膜厚に反射膜3を重ねて形成
し、反射鏡を完成させた。この反射鏡の膜構成を図8
(c)に示しており、この反射鏡の反射膜3は、コンタ
ミネーションの影響が少なく、高反射率の銀膜となって
いる。なお、この製品は図2に示したものに対応したも
のである。
【0084】実施例2を図10ないし図11に基づいて
説明する。図10は初期の成膜工程を行っている状態の
装置の概略断面図である。また、図11は、各工程の製
品の状態を模式的に示した断面図であって、(a)ない
し(d)は、前処理工程、初期の成膜工程、中期の成膜
工程、後期の成膜工程に、それぞれ対応している。
説明する。図10は初期の成膜工程を行っている状態の
装置の概略断面図である。また、図11は、各工程の製
品の状態を模式的に示した断面図であって、(a)ない
し(d)は、前処理工程、初期の成膜工程、中期の成膜
工程、後期の成膜工程に、それぞれ対応している。
【0085】まず、実施例1に示した図6の前処理工程
と同様な装置の状態で、600 秒間基材1を晒して前処理
を行った。実施例1よりも長時間の処理とすることによ
って、図11(a)に示すように、基材1表面を酸化さ
せて酸化層2cを形成すると同時に、基材1表面に活性
な酸素基2aを含む中間層2を形成した。
と同様な装置の状態で、600 秒間基材1を晒して前処理
を行った。実施例1よりも長時間の処理とすることによ
って、図11(a)に示すように、基材1表面を酸化さ
せて酸化層2cを形成すると同時に、基材1表面に活性
な酸素基2aを含む中間層2を形成した。
【0086】こののち、実施例1で行った初期の成膜工
程の前に、さらに前初期の成膜工程を行う三工程に分け
て成膜工程を実施した。
程の前に、さらに前初期の成膜工程を行う三工程に分け
て成膜工程を実施した。
【0087】すなわち、この実施例の成膜工程は、前初
期の成膜工程として図10に示す装置の状態で、酸素ガ
ス5aを供給し続けて酸素のプラズマ5による処理を継
続したまま、電子銃9によって電子ビームを発生させ、
反射膜3となる銀蒸着材料3aを蒸発可能になるまで加
熱し、高周波コイル6に高周波出力500Wを加え、蒸発が
安定してからシャッター8を開けた。このような工程に
よって、図11(b)に示すように、蒸発した銀粒子と
酸素とは高周波出力500Wで励起され、励起した銀粒子は
基材1表面についている活性な酸素基2a、あるいは酸
素のプラズマ5により、酸化銀となって銀の酸化層2b
を形成し、アルミニウム−酸素−銀−酸素−結合を形成してい
る。この状態で膜厚10nmになるまで反射膜3を形成し
た。
期の成膜工程として図10に示す装置の状態で、酸素ガ
ス5aを供給し続けて酸素のプラズマ5による処理を継
続したまま、電子銃9によって電子ビームを発生させ、
反射膜3となる銀蒸着材料3aを蒸発可能になるまで加
熱し、高周波コイル6に高周波出力500Wを加え、蒸発が
安定してからシャッター8を開けた。このような工程に
よって、図11(b)に示すように、蒸発した銀粒子と
酸素とは高周波出力500Wで励起され、励起した銀粒子は
基材1表面についている活性な酸素基2a、あるいは酸
素のプラズマ5により、酸化銀となって銀の酸化層2b
を形成し、アルミニウム−酸素−銀−酸素−結合を形成してい
る。この状態で膜厚10nmになるまで反射膜3を形成し
た。
【0088】このあと、酸素ガス5aの供給を停止し、
実施例1において示した図7の工程によって、膜厚100n
m になるまで緻密な銀粒子から成る反射膜3を重ねて形
成して、図11(c)の状態とした。さらに、実施例1
において示した図8の工程によって、膜厚200nm になる
まで、コンタミネーションの影響が少ない高反射率の銀
膜から成る反射膜3を重ねて形成して、図11(d)の
膜構成とした反射鏡を完成させた。なお、この反射鏡は
図3に示したものに対応している。
実施例1において示した図7の工程によって、膜厚100n
m になるまで緻密な銀粒子から成る反射膜3を重ねて形
成して、図11(c)の状態とした。さらに、実施例1
において示した図8の工程によって、膜厚200nm になる
まで、コンタミネーションの影響が少ない高反射率の銀
膜から成る反射膜3を重ねて形成して、図11(d)の
膜構成とした反射鏡を完成させた。なお、この反射鏡は
図3に示したものに対応している。
【0089】実施例3を図12ないし図15に基づいて
説明する。図12は前処理工程を行っている状態の装置
の概略断面図であり、図13または図14は、それぞれ
初期、後期の成膜工程を行っている状態の装置の概略断
面図である。また、図15は、製品の状態を模式的に示
した断面図であって、図12ないし図14の各工程に
(a)ないし(c)がそれぞれ対応している。
説明する。図12は前処理工程を行っている状態の装置
の概略断面図であり、図13または図14は、それぞれ
初期、後期の成膜工程を行っている状態の装置の概略断
面図である。また、図15は、製品の状態を模式的に示
した断面図であって、図12ないし図14の各工程に
(a)ないし(c)がそれぞれ対応している。
【0090】この実施例では、実施例1で行った各工程
の処理をスパッタ装置を用いて行っているものである。
の処理をスパッタ装置を用いて行っているものである。
【0091】まず、図12に示すように、清浄化された
平滑なアルミニウム板を基材1とし、この基材1をスパッタ用
の真空槽4の中に入れ、1 ×10-4Pa以下になるまで真空
排気を行った。このあと、酸素ガス5aを5 ×10-2Paの
圧力で流し、基材1側に高周波電源7aより高周波出力
500Wを加えて酸素のプラズマ5とし、このプラズマ5の
雰囲気中に600 秒間基材1を晒して、前処理工程を行っ
た。この工程によって、図15(a)に示すように、基
材1表面を酸化させて酸化層2cとすると同時に、酸素
基2aを含む中間層2を形成した。なお、この時、シャ
ッター8は閉じた状態で行った。
平滑なアルミニウム板を基材1とし、この基材1をスパッタ用
の真空槽4の中に入れ、1 ×10-4Pa以下になるまで真空
排気を行った。このあと、酸素ガス5aを5 ×10-2Paの
圧力で流し、基材1側に高周波電源7aより高周波出力
500Wを加えて酸素のプラズマ5とし、このプラズマ5の
雰囲気中に600 秒間基材1を晒して、前処理工程を行っ
た。この工程によって、図15(a)に示すように、基
材1表面を酸化させて酸化層2cとすると同時に、酸素
基2aを含む中間層2を形成した。なお、この時、シャ
ッター8は閉じた状態で行った。
【0092】つぎに、図13に示す装置の状態の工程を
行った。つまり、基材1側への高周波電源7aを切り、
銀ターゲット12側へ高周波電源7bより500Wの高周波
出力をかけ、銀ターゲット12を酸素ガス5aでスパッ
タし、このスパッタが安定してからシャッター8開け、
基材1への成膜を開始した。このような工程によって、
蒸発した銀粒子と酸素ガス5aとは高周波出力500Wで励
起され、励起した銀粒子は基材1表面についている活性
な酸素基2aまたは酸素プラズマ5によって、酸化銀と
なって銀の酸化層2bを形成し、図15(b)に示すよ
うなアルミニウム−酸素−銀−酸素−結合を形成している。こ
の状態で膜厚10nmになるまで反射膜3を形成した。
行った。つまり、基材1側への高周波電源7aを切り、
銀ターゲット12側へ高周波電源7bより500Wの高周波
出力をかけ、銀ターゲット12を酸素ガス5aでスパッ
タし、このスパッタが安定してからシャッター8開け、
基材1への成膜を開始した。このような工程によって、
蒸発した銀粒子と酸素ガス5aとは高周波出力500Wで励
起され、励起した銀粒子は基材1表面についている活性
な酸素基2aまたは酸素プラズマ5によって、酸化銀と
なって銀の酸化層2bを形成し、図15(b)に示すよ
うなアルミニウム−酸素−銀−酸素−結合を形成している。こ
の状態で膜厚10nmになるまで反射膜3を形成した。
【0093】なお、この実施例では、スパッタで酸化膜
が形成されるため、この酸化膜は他の実施例のような蒸
着法に比べて、比較的緻密な膜となっている。
が形成されるため、この酸化膜は他の実施例のような蒸
着法に比べて、比較的緻密な膜となっている。
【0094】こののち、図14に示す装置の状態の工程
として、酸素ガス5aの供給を停止し、銀励起粒子のみ
で銀ターゲット12をスパッタする自己スパッタに切り
換え、銀膜を300nm になるまで重ねて成膜し、図15
(c)に示すような反射膜3を形成した。この反射膜3
はコンタミネーションの影響が少なく、膜欠陥が少ない
ので、反射率の高い反射鏡が完成されている。なお、こ
の反射鏡も膜構成としては、実施例2と同様に図3に示
したものに相当しているが、比較的緻密な膜となってい
るのである。
として、酸素ガス5aの供給を停止し、銀励起粒子のみ
で銀ターゲット12をスパッタする自己スパッタに切り
換え、銀膜を300nm になるまで重ねて成膜し、図15
(c)に示すような反射膜3を形成した。この反射膜3
はコンタミネーションの影響が少なく、膜欠陥が少ない
ので、反射率の高い反射鏡が完成されている。なお、こ
の反射鏡も膜構成としては、実施例2と同様に図3に示
したものに相当しているが、比較的緻密な膜となってい
るのである。
【0095】実施例4を図16ないし図17に基づいて
説明する。図16は初期の成膜工程を行っている状態の
装置の概略断面図である。また、図17は、各工程の製
品の状態を模式的に示した断面図であって、(a)ない
し(c)は、初期の成膜工程、中期の成膜工程、後期の
成膜工程に、それぞれ対応している。
説明する。図16は初期の成膜工程を行っている状態の
装置の概略断面図である。また、図17は、各工程の製
品の状態を模式的に示した断面図であって、(a)ない
し(c)は、初期の成膜工程、中期の成膜工程、後期の
成膜工程に、それぞれ対応している。
【0096】まず、実施例2と全く同じようにして前処
理を行い、図11(a)に示したように、基材1表面を
酸化させて酸化層2cを形成すると同時に、基材1表面
に活性な酸素基2aを含む中間層2を形成した。
理を行い、図11(a)に示したように、基材1表面を
酸化させて酸化層2cを形成すると同時に、基材1表面
に活性な酸素基2aを含む中間層2を形成した。
【0097】つぎに、図16に示すような装置の状態と
して、基材1に500Vのバイアス電圧を印加し、電子銃9
より電子ビームで反射膜3となる銀蒸着材料3aを十分
蒸発可能になるまで加熱し、蒸発が安定してからシャッ
ター8を開けた。このような工程によって、蒸発した銀
粒子と酸素とは高周波出力500Wで励起されるとともに、
500Vのバイアス電圧によって加速される。このため、基
材1表面の酸化層2bが再スパッタされるとともに、こ
のスパッタされた酸化層2bは基材1表面に再付着した
り、加速した励起粒子と反応したりする。この結果、図
17(a)に示すように、アルミニウムの酸化層2bおよび銀
の酸化層2bの混合層が形成されている。この状態で膜
厚10nmになるまで反射膜3を形成した。
して、基材1に500Vのバイアス電圧を印加し、電子銃9
より電子ビームで反射膜3となる銀蒸着材料3aを十分
蒸発可能になるまで加熱し、蒸発が安定してからシャッ
ター8を開けた。このような工程によって、蒸発した銀
粒子と酸素とは高周波出力500Wで励起されるとともに、
500Vのバイアス電圧によって加速される。このため、基
材1表面の酸化層2bが再スパッタされるとともに、こ
のスパッタされた酸化層2bは基材1表面に再付着した
り、加速した励起粒子と反応したりする。この結果、図
17(a)に示すように、アルミニウムの酸化層2bおよび銀
の酸化層2bの混合層が形成されている。この状態で膜
厚10nmになるまで反射膜3を形成した。
【0098】こののち、実施例2と全く同様にして、図
7に示した装置の状態の工程によって、膜厚100nm にな
るまで緻密な銀粒子から成る反射膜3を重ねて形成し
て、図17(b)の状態とした。さらに、図8に示した
装置の状態の工程によって、膜厚200nm になるまでコン
タミネーションの影響が少なく、反射率の高い銀膜から
成る反射膜3を重ねて形成して、図17(b)の状態と
した反射鏡を完成させた。なお、この反射鏡は図4に示
したものに対応している。
7に示した装置の状態の工程によって、膜厚100nm にな
るまで緻密な銀粒子から成る反射膜3を重ねて形成し
て、図17(b)の状態とした。さらに、図8に示した
装置の状態の工程によって、膜厚200nm になるまでコン
タミネーションの影響が少なく、反射率の高い銀膜から
成る反射膜3を重ねて形成して、図17(b)の状態と
した反射鏡を完成させた。なお、この反射鏡は図4に示
したものに対応している。
【0099】実施例5を図18ないし図19に基づいて
説明する。図18は前処理工程を行っている状態の装置
の概略断面図である。図19は、前処理工程の製品の状
態を模式的に示した断面図であって、(a)ないし
(c)は、前処理工程、初期の成膜工程、後期の成膜工
程に、それぞれ対応している。
説明する。図18は前処理工程を行っている状態の装置
の概略断面図である。図19は、前処理工程の製品の状
態を模式的に示した断面図であって、(a)ないし
(c)は、前処理工程、初期の成膜工程、後期の成膜工
程に、それぞれ対応している。
【0100】図18に示すように、この実施例では、実
施例1の前処理工程の装置の状態を示した図6におい
て、実施例1とは異なって基材1へのバイアス電源10
をONとして行っているものである。つまり、バイアス電
圧500 Vを基材1に印加して、実施例1と全く同様な処
理を行ったものである。このような処理工程によって、
図19(a)に示すように、活性な酸素基2aが基材1
表面中に打ち込まれた状態で中間層2が形成されている
のである。
施例1の前処理工程の装置の状態を示した図6におい
て、実施例1とは異なって基材1へのバイアス電源10
をONとして行っているものである。つまり、バイアス電
圧500 Vを基材1に印加して、実施例1と全く同様な処
理を行ったものである。このような処理工程によって、
図19(a)に示すように、活性な酸素基2aが基材1
表面中に打ち込まれた状態で中間層2が形成されている
のである。
【0101】こののち、上記の前処理を行った基材1
に、実施例1と全く同様にして反射膜3を形成すること
によって、図19(b)の状態を経て、図19(c)に
示す状態の反射鏡を完成させたものである。なお、この
反射鏡は図5に示したものに対応している。
に、実施例1と全く同様にして反射膜3を形成すること
によって、図19(b)の状態を経て、図19(c)に
示す状態の反射鏡を完成させたものである。なお、この
反射鏡は図5に示したものに対応している。
【0102】実施例6を図20ないし図23に基づいて
説明する。図20は前処理工程を行っている状態の装置
の概略断面図であり、図21または図22は、それぞれ
初期、後期の成膜工程を行っている状態の装置の概略断
面図である。また、図23は、製品の状態を模式的に示
した断面図であって、図20ないし図22の各工程に
(a)ないし(c)がそれぞれ対応している。
説明する。図20は前処理工程を行っている状態の装置
の概略断面図であり、図21または図22は、それぞれ
初期、後期の成膜工程を行っている状態の装置の概略断
面図である。また、図23は、製品の状態を模式的に示
した断面図であって、図20ないし図22の各工程に
(a)ないし(c)がそれぞれ対応している。
【0103】この実施例では、他の実施例とは異なり、
高周波コイル6に代えて、真空槽4内にイオン銃11a
を備えてイオンビーム11を発生させ、基材1の処理を
行うようにしているものである。
高周波コイル6に代えて、真空槽4内にイオン銃11a
を備えてイオンビーム11を発生させ、基材1の処理を
行うようにしているものである。
【0104】まず、図20に示すように、清浄化された
平滑なアルミニウム板を基材1とし、この基材1を真空槽4の
中に入れ、1 ×10-4Pa以下になるまで真空排気を行い、
酸素ガス5aを5 ×10-2Paの圧力で流すようにする。こ
ののち、イオン銃11aをONとし、加速電圧1kVの条件
で酸素のイオンビーム11を300 秒間照射した。この工
程によって、図23(a)に示すように、基材1表面を
酸化させて酸化層2cを形成するとともに、活性な酸素
基2aが基材1表面中に打ち込まれた状態の中間層2が
形成されている。なお、この時、シャッター8は閉じた
状態として行っている。
平滑なアルミニウム板を基材1とし、この基材1を真空槽4の
中に入れ、1 ×10-4Pa以下になるまで真空排気を行い、
酸素ガス5aを5 ×10-2Paの圧力で流すようにする。こ
ののち、イオン銃11aをONとし、加速電圧1kVの条件
で酸素のイオンビーム11を300 秒間照射した。この工
程によって、図23(a)に示すように、基材1表面を
酸化させて酸化層2cを形成するとともに、活性な酸素
基2aが基材1表面中に打ち込まれた状態の中間層2が
形成されている。なお、この時、シャッター8は閉じた
状態として行っている。
【0105】つぎに、図21に示すように、電子銃9よ
り電子ビームで反射膜3となる銀蒸着材料3aを十分蒸
発可能になるまで加熱し、蒸発が安定してからシャッタ
ー8を開き、加速電圧500Vの酸素のイオンビーム11に
よってイオンビームアシスト蒸着を行った。
り電子ビームで反射膜3となる銀蒸着材料3aを十分蒸
発可能になるまで加熱し、蒸発が安定してからシャッタ
ー8を開き、加速電圧500Vの酸素のイオンビーム11に
よってイオンビームアシスト蒸着を行った。
【0106】この結果、酸素のイオンビーム11が銀粒
子に衝突し、銀粒子に運動エネルギーを与えて励起させ
た状態となる。このため、銀粒子が活性化されて、基材
1表面中に打ち込まれた酸素基2aと結合して酸化銀と
なるとともに、酸素のイオンビーム11とこの活性な銀
粒子とが反応して酸化銀となっている。また、この酸化
銀の粒子が基材1表面に層を形成したり打ち込まれたり
して、複雑に入り交じったミキシング層となった図23
(b)の状態に示したような基材1が得られている。こ
のような状態の反射膜3を10nmの膜厚として形成した。
子に衝突し、銀粒子に運動エネルギーを与えて励起させ
た状態となる。このため、銀粒子が活性化されて、基材
1表面中に打ち込まれた酸素基2aと結合して酸化銀と
なるとともに、酸素のイオンビーム11とこの活性な銀
粒子とが反応して酸化銀となっている。また、この酸化
銀の粒子が基材1表面に層を形成したり打ち込まれたり
して、複雑に入り交じったミキシング層となった図23
(b)の状態に示したような基材1が得られている。こ
のような状態の反射膜3を10nmの膜厚として形成した。
【0107】こののち、図22に示すように、酸素ガス
5aの供給を停止し、イオン銃11aをOFF とし、通常
の電子ビームによる加熱蒸着法に切り換えて、300nm の
膜厚に反射膜3を重ねて形成し、反射鏡を完成させた。
5aの供給を停止し、イオン銃11aをOFF とし、通常
の電子ビームによる加熱蒸着法に切り換えて、300nm の
膜厚に反射膜3を重ねて形成し、反射鏡を完成させた。
【0108】この反射膜3は、コンタミネーションの影
響が少なく、反射率の高い銀膜となっている。この状態
の反射鏡を図23(c)に示しているが、上記した複雑
に入り交じったミキシング層によって、化学的な結合力
がより高くなっているので、非常に密着力の大きい反射
膜3を有した反射鏡となっている。
響が少なく、反射率の高い銀膜となっている。この状態
の反射鏡を図23(c)に示しているが、上記した複雑
に入り交じったミキシング層によって、化学的な結合力
がより高くなっているので、非常に密着力の大きい反射
膜3を有した反射鏡となっている。
【0109】以下に比較例を説明する。実施例1におい
て示した図6の装置の状態で、酸素ガス5aに代えてア
ルゴンガスを用いた他は、全く同様にして前処理を行っ
た。
て示した図6の装置の状態で、酸素ガス5aに代えてア
ルゴンガスを用いた他は、全く同様にして前処理を行っ
た。
【0110】こののち、装置を図8の状態として、電子
ビームによって銀蒸着材料3aを加熱し、基材1の上に
膜厚300nm の反射膜3を形成して反射鏡を得た。
ビームによって銀蒸着材料3aを加熱し、基材1の上に
膜厚300nm の反射膜3を形成して反射鏡を得た。
【0111】以上の実施例および比較例の反射鏡につい
て、性能評価を行い、分光反射率を以下の表1に、反射
膜3の密着力を表2に示している。なお、密着力はプル
スタッド法によって、一定条件で比較評価した結果を示
したものである。
て、性能評価を行い、分光反射率を以下の表1に、反射
膜3の密着力を表2に示している。なお、密着力はプル
スタッド法によって、一定条件で比較評価した結果を示
したものである。
【0112】分光反射率は、いずれの実施例、比較例と
も大きな差異はなく、波長400〜700nmの光に対し
て90%以上の良好な特性を示し、密着力については、
いずれの実施例においても比較例の5〜6倍の値となっ
ている。この結果は、上記のいずれの実施例において
も、反射膜3の銀材質本来の高反射率特性を損なうこと
なく、高密着力化が達成されたものであることを示すも
のである。
も大きな差異はなく、波長400〜700nmの光に対し
て90%以上の良好な特性を示し、密着力については、
いずれの実施例においても比較例の5〜6倍の値となっ
ている。この結果は、上記のいずれの実施例において
も、反射膜3の銀材質本来の高反射率特性を損なうこと
なく、高密着力化が達成されたものであることを示すも
のである。
【0113】
【表1】
【0114】
【表2】
【0115】
【発明の効果】請求項1記載の発明では、酸素基を含む
中間層によって、反射膜と基材とが強く接着している。
したがって、熱や湿度によって剥離しにくく、部分的な
剥離やピンホールなどのできにくいものになっている。
このため、腐食性の塩素や硫黄などを含む汚染物質が付
着しても、基材と反射膜との間に腐食電池が形成される
ことがなく、電気化学的作用による腐食の心配がないの
で、耐久性に優れた反射鏡になっている。
中間層によって、反射膜と基材とが強く接着している。
したがって、熱や湿度によって剥離しにくく、部分的な
剥離やピンホールなどのできにくいものになっている。
このため、腐食性の塩素や硫黄などを含む汚染物質が付
着しても、基材と反射膜との間に腐食電池が形成される
ことがなく、電気化学的作用による腐食の心配がないの
で、耐久性に優れた反射鏡になっている。
【0116】請求項2記載の発明では、数原子の厚みの
酸素基の層によって、反射膜と基材とが強く接着し、反
射膜の密着力の良好な反射鏡となっている。
酸素基の層によって、反射膜と基材とが強く接着し、反
射膜の密着力の良好な反射鏡となっている。
【0117】請求項3記載の発明では、基材の酸化層ま
たは銀もしくは銀合金の酸化層が中間層に存在すること
によって、基材と反射膜との間に腐食電池が形成される
ことによる電気化学的な腐食の心配が少なく、耐久性の
良好な反射鏡となってる。
たは銀もしくは銀合金の酸化層が中間層に存在すること
によって、基材と反射膜との間に腐食電池が形成される
ことによる電気化学的な腐食の心配が少なく、耐久性の
良好な反射鏡となってる。
【0118】請求項4記載の発明では、基材の酸化層と
銀または銀合金の酸化層との混合層によって、反射膜の
密着力がより強力になっている。
銀または銀合金の酸化層との混合層によって、反射膜の
密着力がより強力になっている。
【0119】請求項5記載の発明では、基材表面に酸素
基が打ち込まれた状態で存在することによって、反射膜
の密着力がより強力になっている。
基が打ち込まれた状態で存在することによって、反射膜
の密着力がより強力になっている。
【0120】請求項6記載の発明では、前処理工程とし
て、基材または反射膜とは異なる他の金属層などの形成
工程を必要とせず、材料コストが低く、簡単な気相処理
によって、基材に密着力強化のための前処理ができる。
て、基材または反射膜とは異なる他の金属層などの形成
工程を必要とせず、材料コストが低く、簡単な気相処理
によって、基材に密着力強化のための前処理ができる。
【0121】その上、銀または銀合金を励起させて反射
膜を成膜することによって、反射膜の化学的な結合力が
強く、反射膜の密着力がよい反射鏡を製造できる。請求
項7記載の発明では、プラズマまたはイオンビームによ
る励起ガスによって、基材表面に酸素基が強固に化学的
に結合している中間層を形成する前処理を行うことがで
きる。したがって、反射膜の密着力がよい反射鏡を製造
できる。
膜を成膜することによって、反射膜の化学的な結合力が
強く、反射膜の密着力がよい反射鏡を製造できる。請求
項7記載の発明では、プラズマまたはイオンビームによ
る励起ガスによって、基材表面に酸素基が強固に化学的
に結合している中間層を形成する前処理を行うことがで
きる。したがって、反射膜の密着力がよい反射鏡を製造
できる。
【0122】請求項8記載の発明では、基材にバイアス
電圧を印加することによって、化学的のみならず、物理
的にも強固に中間層を基材に密着させることができる。
したがって、反射膜の密着力がよい反射鏡を製造でき
る。
電圧を印加することによって、化学的のみならず、物理
的にも強固に中間層を基材に密着させることができる。
したがって、反射膜の密着力がよい反射鏡を製造でき
る。
【0123】請求項9記載の発明では、成膜工程の少な
くとも初期に、アシストガスを用いないので、基材に結
合している酸素基がエッチング除去されることがなく、
また、アシストガスが反射膜中に取り込まれることもな
い。したがって、反射膜の密着力が強く、反射膜の特性
の優れた反射鏡を製造することができる。
くとも初期に、アシストガスを用いないので、基材に結
合している酸素基がエッチング除去されることがなく、
また、アシストガスが反射膜中に取り込まれることもな
い。したがって、反射膜の密着力が強く、反射膜の特性
の優れた反射鏡を製造することができる。
【0124】請求項10記載の発明では、成膜工程の少な
くとも、密着力に寄与の大きい初期を除いて、銀または
銀合金を励起させない状態で成膜するので、真空槽内の
不純物が反射膜中に取り込まれることがなく、反射膜の
特性の優れた反射鏡を製造することができる。
くとも、密着力に寄与の大きい初期を除いて、銀または
銀合金を励起させない状態で成膜するので、真空槽内の
不純物が反射膜中に取り込まれることがなく、反射膜の
特性の優れた反射鏡を製造することができる。
【0125】請求項11記載の発明では、最初に、酸素ま
たはオゾンをアシストガスとして用いるので、基材表面
に結合している酸素基がエッチング除去されることがな
く、密着力よく反射膜を形成できる。また、このアシス
トガスは銀または銀合金の励起を助長する。そして、銀
または銀合金を励起させた状態としているので、基材の
酸化層または銀もしくは銀合金の酸化層が形成され、反
射膜の密着力が向上する。
たはオゾンをアシストガスとして用いるので、基材表面
に結合している酸素基がエッチング除去されることがな
く、密着力よく反射膜を形成できる。また、このアシス
トガスは銀または銀合金の励起を助長する。そして、銀
または銀合金を励起させた状態としているので、基材の
酸化層または銀もしくは銀合金の酸化層が形成され、反
射膜の密着力が向上する。
【0126】さらに、反射膜の表面側には、アシストガ
スを用いず、また、銀または銀合金を励起させない状態
で成膜し、酸化せず、不純物の少ない反射膜とし、特性
の良好な反射膜を形成することができる。
スを用いず、また、銀または銀合金を励起させない状態
で成膜し、酸化せず、不純物の少ない反射膜とし、特性
の良好な反射膜を形成することができる。
【0127】請求項12記載の発明では、イオンアシスト
蒸着によって、基材の酸化層または銀または銀合金の酸
化層を形成するとともに、酸素基を打ち込んだ状態とす
ることができるので、反射膜の密着力を強くすることが
できる。
蒸着によって、基材の酸化層または銀または銀合金の酸
化層を形成するとともに、酸素基を打ち込んだ状態とす
ることができるので、反射膜の密着力を強くすることが
できる。
【0128】こののち、アシストガスを用いない真空蒸
着によって、不純物の少ない反射膜とし、特性の良好な
反射膜を形成することができる。
着によって、不純物の少ない反射膜とし、特性の良好な
反射膜を形成することができる。
【0129】請求項13記載の発明では、酸素またはオゾ
ンをアシストガスとしたスパッタによって、基材の酸化
層または銀もしくは銀合金の酸化層を形成でき、反射膜
の密着力を強くすることができる。そのうえ、緻密で膜
欠陥が少ない特性の良好な反射膜を形成できる。
ンをアシストガスとしたスパッタによって、基材の酸化
層または銀もしくは銀合金の酸化層を形成でき、反射膜
の密着力を強くすることができる。そのうえ、緻密で膜
欠陥が少ない特性の良好な反射膜を形成できる。
【0130】こののち、自己スパッタによって、不純物
の少ない反射膜とし、特性の良好な反射膜を形成するこ
とができる。
の少ない反射膜とし、特性の良好な反射膜を形成するこ
とができる。
【図1】本発明の一実施例における反射鏡の膜構成を模
式的に示した断面図である。
式的に示した断面図である。
【図2】同上実施例における別な反射鏡の膜構成を模式
的に示した断面図である。
的に示した断面図である。
【図3】同上実施例におけるさらに別な反射鏡の膜構成
を模式的に示した断面図である。
を模式的に示した断面図である。
【図4】同上実施例におけるさらに別な反射鏡の膜構成
を模式的に示した断面図である。
を模式的に示した断面図である。
【図5】同上実施例におけるさらに別な反射鏡の膜構成
を模式的に示した断面図である。
を模式的に示した断面図である。
【図6】実施例1の前処理工程を行っている状態の装置
を示す概略断面図である。
を示す概略断面図である。
【図7】同上実施例の成膜工程を行っている状態の装置
を示す概略断面図である。
を示す概略断面図である。
【図8】同上実施例の別な成膜工程を行っている状態の
装置を示す概略断面図である。
装置を示す概略断面図である。
【図9】同上実施例の製品の状態を模式的に示した断面
図であって、(a)ないし(c)はそれぞれ異なる工程
に対応したものである。
図であって、(a)ないし(c)はそれぞれ異なる工程
に対応したものである。
【図10】実施例2の成膜工程を行っている状態の装置
を示す概略断面図である。
を示す概略断面図である。
【図11】同上実施例の各工程の製品の状態を模式的に
示した断面図であって、(a)ないし(d)はそれぞれ
異なる工程に対応したものである。
示した断面図であって、(a)ないし(d)はそれぞれ
異なる工程に対応したものである。
【図12】実施例3の前処理工程を行っている状態の装
置を示す概略断面図である。
置を示す概略断面図である。
【図13】同上実施例の成膜工程を行っている状態の装
置を示す概略断面図である。
置を示す概略断面図である。
【図14】同上実施例の別な成膜工程を行っている状態
の装置を示す概略断面図である。
の装置を示す概略断面図である。
【図15】同上実施例の製品の状態を模式的に示した断
面図であって、(a)ないし(c)はそれぞれ異なる工
程に対応したものである。
面図であって、(a)ないし(c)はそれぞれ異なる工
程に対応したものである。
【図16】実施例4の成膜工程を行っている状態の装置
を示す概略断面図である。
を示す概略断面図である。
【図17】同上実施例の製品の状態を模式的に示した断
面図であって、(a)ないし(c)はそれぞれ異なる工
程に対応したものである。
面図であって、(a)ないし(c)はそれぞれ異なる工
程に対応したものである。
【図18】実施例5の前処理工程を行っている状態の装
置を示す概略断面図である。
置を示す概略断面図である。
【図19】実施例5の製品の状態を模式的に示した断面
図であって、(a)ないし(c)はそれぞれ異なる工程
に対応したものである。
図であって、(a)ないし(c)はそれぞれ異なる工程
に対応したものである。
【図20】実施例3の前処理工程を行っている状態の装
置を示す概略断面図である。
置を示す概略断面図である。
【図21】同上実施例の成膜工程を行っている状態の装
置を示す概略断面図である。
置を示す概略断面図である。
【図22】同上実施例の別な成膜工程を行っている状態
の装置を示す概略断面図である。
の装置を示す概略断面図である。
【図23】同上実施例の製品の状態を模式的に示した断
面図であって、(a)ないし(c)はそれぞれ異なる工
程に対応したものである。
面図であって、(a)ないし(c)はそれぞれ異なる工
程に対応したものである。
【図24】従来例の膜構成を示す断面図である。
1 基材 2 中間層 3 反射膜 4 真空槽 5 プラズマ 6 高周波コイル 7 高周波電源 8 シャッター 9 電子銃 10 バイアス電源 11 イオンビーム 12 ターゲット
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 宮野 孝広 大阪府門真市大字門真1048番地松下電工株 式会社内
Claims (13)
- 【請求項1】 基材と反射膜との間に酸素基を含む中間
層を介し、銀または銀合金から成る反射膜を成膜して成
ることを特徴とする反射鏡。 - 【請求項2】 中間層として、厚みが数原子以下の酸素
基の層を有して成ることを特徴とする請求項1記載の反
射鏡。 - 【請求項3】 中間層として、基材の酸化層または銀も
しくは銀合金の酸化層を有して成ることを特徴とする請
求項1記載の反射鏡。 - 【請求項4】 基材の酸化層と銀または銀合金の酸化層
とを混合層として成ることを特徴とする請求項3記載の
反射鏡。 - 【請求項5】 中間層を構成する酸素基を基材表面に打
ち込まれた状態で有して成ることを特徴とする請求項1
記載の反射鏡。 - 【請求項6】 気相処理によって、基材表面に酸素基を
含む中間層を有せしめる前処理工程と、この中間層上に
銀または銀合金を励起させて銀または銀合金から成る反
射膜を形成する成膜工程と、を順に行うことを特徴とす
る反射鏡の製造方法。 - 【請求項7】 前処理工程として、プラズマまたはイオ
ンビームによって酸素基を中間層に付与する励起ガスを
発生させ、この励起ガスに基材を晒すことを特徴とする
請求項6記載の反射鏡の製造方法。 - 【請求項8】 基材を導電性の基材とし、この基材にバ
イアス電圧を印加して前処理工程を行うことを特徴とす
る請求項7記載の反射鏡の製造方法。 - 【請求項9】 成膜工程の少なくとも初期に、アシスト
ガスを用いずに銀または銀合金を励起させることを特徴
とする請求項6記載の反射鏡の製造方法。 - 【請求項10】 成膜工程の少なくとも初期を除いて、銀
または銀合金を励起させない状態で、初期に形成された
反射膜にさらに重ねて成膜することを特徴とする請求項
6記載の反射鏡の製造方法。 - 【請求項11】 成膜工程として、酸素またはオゾンをア
シストガスとして用いるとともに、銀または銀合金を励
起させた状態で成膜し、次にアシストガスを1いずに銀
または銀合金を励起させた状態で重ねて成膜したのち、
銀または銀合金を励起させない状態でさらに重ねて成膜
し、反射膜を形成することを特徴とする請求項6記載の
反射鏡の製造方法。 - 【請求項12】 成膜工程として、酸素またはオゾンをア
シストガスとしたイオンアシスト蒸着によって成膜した
のち、真空蒸着によってさらに重ねて成膜し、反射膜を
形成することを特徴とする請求項6記載の反射鏡の製造
方法。 - 【請求項13】 成膜工程として、酸素またはオゾンをア
シストガスとしたスパッタによって成膜したのち、自己
スパッタによってさらに重ねて成膜し、反射膜を形成す
ることを特徴とする請求項6記載の反射鏡の製造方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP29087294A JPH08146208A (ja) | 1994-11-25 | 1994-11-25 | 反射鏡およびその製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP29087294A JPH08146208A (ja) | 1994-11-25 | 1994-11-25 | 反射鏡およびその製造方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH08146208A true JPH08146208A (ja) | 1996-06-07 |
Family
ID=17761598
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP29087294A Pending JPH08146208A (ja) | 1994-11-25 | 1994-11-25 | 反射鏡およびその製造方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH08146208A (ja) |
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH08304614A (ja) * | 1995-05-12 | 1996-11-22 | Ricoh Co Ltd | 合成樹脂製反射鏡、その製造方法および製造装置 |
| JP2003231207A (ja) * | 2002-11-25 | 2003-08-19 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 複合薄膜 |
| JP2004197117A (ja) * | 2002-12-16 | 2004-07-15 | Ulvac Japan Ltd | Ag合金反射膜、スパッタリングターゲットおよびAg合金薄膜製造方法 |
| US7189460B2 (en) | 2003-06-27 | 2007-03-13 | Asahi Glass Company, Limited | High reflectance mirror |
| JP2012508467A (ja) * | 2008-11-10 | 2012-04-05 | アプライド マテリアルズ インコーポレイテッド | プラズマチャンバ部品用耐プラズマコーティング |
| JP2013075356A (ja) * | 2011-09-14 | 2013-04-25 | Yukio Watabe | 金属酸化物を含むヘテロ接合を有する構造体 |
-
1994
- 1994-11-25 JP JP29087294A patent/JPH08146208A/ja active Pending
Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH08304614A (ja) * | 1995-05-12 | 1996-11-22 | Ricoh Co Ltd | 合成樹脂製反射鏡、その製造方法および製造装置 |
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| JP2004197117A (ja) * | 2002-12-16 | 2004-07-15 | Ulvac Japan Ltd | Ag合金反射膜、スパッタリングターゲットおよびAg合金薄膜製造方法 |
| KR101101732B1 (ko) * | 2002-12-16 | 2012-01-05 | 가부시키가이샤 알박 | 은 합금 박막, 스퍼터링 타겟 및 은 합금 박막 제조방법 |
| US7189460B2 (en) | 2003-06-27 | 2007-03-13 | Asahi Glass Company, Limited | High reflectance mirror |
| JP2012508467A (ja) * | 2008-11-10 | 2012-04-05 | アプライド マテリアルズ インコーポレイテッド | プラズマチャンバ部品用耐プラズマコーティング |
| JP2013075356A (ja) * | 2011-09-14 | 2013-04-25 | Yukio Watabe | 金属酸化物を含むヘテロ接合を有する構造体 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20040109 |
|
| A911 | Transfer of reconsideration by examiner before appeal (zenchi) |
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|
| A912 | Removal of reconsideration by examiner before appeal (zenchi) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A912 Effective date: 20040305 |