JPH0814876A - ワーク寸法自動測定システム - Google Patents
ワーク寸法自動測定システムInfo
- Publication number
- JPH0814876A JPH0814876A JP16898194A JP16898194A JPH0814876A JP H0814876 A JPH0814876 A JP H0814876A JP 16898194 A JP16898194 A JP 16898194A JP 16898194 A JP16898194 A JP 16898194A JP H0814876 A JPH0814876 A JP H0814876A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- work
- part program
- information
- workpiece
- external information
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims abstract description 25
- 238000012545 processing Methods 0.000 claims abstract description 19
- 238000000034 method Methods 0.000 claims abstract description 7
- 239000000523 sample Substances 0.000 claims description 14
- 230000001105 regulatory effect Effects 0.000 abstract 1
- 238000001444 catalytic combustion detection Methods 0.000 description 9
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 8
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 description 7
- 238000005286 illumination Methods 0.000 description 5
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 3
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 2
- 238000000605 extraction Methods 0.000 description 2
- 230000010365 information processing Effects 0.000 description 2
- 238000002955 isolation Methods 0.000 description 2
- 238000012937 correction Methods 0.000 description 1
- 239000000284 extract Substances 0.000 description 1
- 238000013208 measuring procedure Methods 0.000 description 1
- 238000003909 pattern recognition Methods 0.000 description 1
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 1
- 230000000717 retained effect Effects 0.000 description 1
- 238000011144 upstream manufacturing Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 おおよその寸法値が未知のワークの測定を可
能にすると共に、予め用意しておくパートプログラムの
数を削減する。 【構成】 測定対象のワークを撮像してワークの画像情
報を得、この画像情報に基づいてワークの形状及び位置
を画像処理装置で認識し、この認識結果に基づいてワー
クに対する三次元測定機のプローブの移動経路を決定す
るための制御装置が設けられる。制御装置に記憶される
パートプログラムの中の必要な数値部分は変数で置き換
えられる。画像処理装置で認識されたワークの位置、寸
法値等の情報は上記変数に対応した数値として保持され
る。パートプログラムを実行する際には、パートプログ
ラムの変数部分が変数に対応した数値で置き換えられて
パートプログラムが実行される。
能にすると共に、予め用意しておくパートプログラムの
数を削減する。 【構成】 測定対象のワークを撮像してワークの画像情
報を得、この画像情報に基づいてワークの形状及び位置
を画像処理装置で認識し、この認識結果に基づいてワー
クに対する三次元測定機のプローブの移動経路を決定す
るための制御装置が設けられる。制御装置に記憶される
パートプログラムの中の必要な数値部分は変数で置き換
えられる。画像処理装置で認識されたワークの位置、寸
法値等の情報は上記変数に対応した数値として保持され
る。パートプログラムを実行する際には、パートプログ
ラムの変数部分が変数に対応した数値で置き換えられて
パートプログラムが実行される。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、様々な形状及び大きさ
のワークの寸法を自動計測するのに好適のワーク寸法自
動測定システムに関する。
のワークの寸法を自動計測するのに好適のワーク寸法自
動測定システムに関する。
【0002】
【従来の技術】搬送ラインを介して搬送される形状の異
なる種々のワークを自動測定するシステムは従来から知
られている(例えば特開昭60−35210号)。この
種のシステムでは、ライン上流に配置された撮像装置で
ワークを撮像し、その撮像結果からワークの形状を判別
し、ライン下流に配置されたメジャリングロボットを判
別形状に対応したプログラムで動作させるようにしてい
る。
なる種々のワークを自動測定するシステムは従来から知
られている(例えば特開昭60−35210号)。この
種のシステムでは、ライン上流に配置された撮像装置で
ワークを撮像し、その撮像結果からワークの形状を判別
し、ライン下流に配置されたメジャリングロボットを判
別形状に対応したプログラムで動作させるようにしてい
る。
【0003】このシステムのように、ワークの寸法測定
を三次元測定機で行う場合、三次元測定機の使用プロー
ブやプローブの移動経路等は、三次元測定機を制御する
ためのパートプログラムによって与えられる。従って、
ワークが同種の形状であっても、その置かれている位置
や、内径、外径、高さ等の寸法値が異なると、それぞれ
の位置及び寸法値に対応したパートプログラムをそれぞ
れ作成し、準備しておかなければならない。
を三次元測定機で行う場合、三次元測定機の使用プロー
ブやプローブの移動経路等は、三次元測定機を制御する
ためのパートプログラムによって与えられる。従って、
ワークが同種の形状であっても、その置かれている位置
や、内径、外径、高さ等の寸法値が異なると、それぞれ
の位置及び寸法値に対応したパートプログラムをそれぞ
れ作成し、準備しておかなければならない。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】このように、従来の測
定システムでは、予め測定手順を記載したパートプログ
ラムを準備しておく関係上、おおよその寸法値が分かっ
ているワークしか測定することができない。また、測定
すべきワークの種類が多くなると、予め用意しておくパ
ートプログラムの数も増し、記憶すべき情報量が増大す
るという問題がある。
定システムでは、予め測定手順を記載したパートプログ
ラムを準備しておく関係上、おおよその寸法値が分かっ
ているワークしか測定することができない。また、測定
すべきワークの種類が多くなると、予め用意しておくパ
ートプログラムの数も増し、記憶すべき情報量が増大す
るという問題がある。
【0005】本発明は、このような問題点を解決するた
めになされたもので、おおよその寸法値が未知のワーク
の測定が可能であると共に、予め用意しておくパートプ
ログラムの数も削減することができるワーク寸法自動測
定システムを提供することを目的とする。
めになされたもので、おおよその寸法値が未知のワーク
の測定が可能であると共に、予め用意しておくパートプ
ログラムの数も削減することができるワーク寸法自動測
定システムを提供することを目的とする。
【0006】
【課題を解決するための手段】本発明に係るワーク寸法
自動測定システムは、測定対象のワークに関する各種情
報を外部情報として取り込む外部情報取込手段と、この
手段によって取り込まれた外部情報に基づいて前記ワー
クに対する三次元測定機のプローブの移動経路を決定し
て三次元測定機を制御する制御手段と、この制御手段に
より制御されて前記ワークの寸法を測定する三次元測定
機とを備えたワーク寸法自動測定システムにおいて、前
記制御手段が、前記ワークのパターン種類別に作成され
必要な数値部分が変数で置き換えられたパートプログラ
ムを記憶するパートプログラム記憶手段と、前記外部情
報に基づいて前記パートプログラム記憶手段から前記ワ
ークに対応した1つのパートプログラムを選択する手段
と、前記外部情報を変数に対応した数値として保持する
変数保持手段と、この変数保持手段に保持された変数に
対応した数値を適宜参照しながら前記選択されたパート
プログラムを実行するパートプログラム実行手段とを備
えたものであることを特徴とする。
自動測定システムは、測定対象のワークに関する各種情
報を外部情報として取り込む外部情報取込手段と、この
手段によって取り込まれた外部情報に基づいて前記ワー
クに対する三次元測定機のプローブの移動経路を決定し
て三次元測定機を制御する制御手段と、この制御手段に
より制御されて前記ワークの寸法を測定する三次元測定
機とを備えたワーク寸法自動測定システムにおいて、前
記制御手段が、前記ワークのパターン種類別に作成され
必要な数値部分が変数で置き換えられたパートプログラ
ムを記憶するパートプログラム記憶手段と、前記外部情
報に基づいて前記パートプログラム記憶手段から前記ワ
ークに対応した1つのパートプログラムを選択する手段
と、前記外部情報を変数に対応した数値として保持する
変数保持手段と、この変数保持手段に保持された変数に
対応した数値を適宜参照しながら前記選択されたパート
プログラムを実行するパートプログラム実行手段とを備
えたものであることを特徴とする。
【0007】
【作用】本発明によれば、記憶されるパートプログラム
の中の必要な数値部分が変数で置き換えられると共に、
外部情報として取り込まれたワークの位置、寸法値等の
情報が上記変数に対応した数値として保持され、且つ前
記パートプログラムを実行する際には、パートプログラ
ムの変数部分が変数に対応した数値で置き換えられてパ
ートプログラムが実行される。このため、同種パターン
のワークであれば、ワークの位置や寸法値が異なっても
同一のパートプログラムを使用することができ、記憶し
ておくパートプログラムの数を大幅に削減することがで
きると共に、おおよその寸法値が未知のワークについて
も、外部情報を使用して使用プローブの選択動作を含め
た測定が可能になる。
の中の必要な数値部分が変数で置き換えられると共に、
外部情報として取り込まれたワークの位置、寸法値等の
情報が上記変数に対応した数値として保持され、且つ前
記パートプログラムを実行する際には、パートプログラ
ムの変数部分が変数に対応した数値で置き換えられてパ
ートプログラムが実行される。このため、同種パターン
のワークであれば、ワークの位置や寸法値が異なっても
同一のパートプログラムを使用することができ、記憶し
ておくパートプログラムの数を大幅に削減することがで
きると共に、おおよその寸法値が未知のワークについて
も、外部情報を使用して使用プローブの選択動作を含め
た測定が可能になる。
【0008】なお、三次元測定機による測定の過程で測
定値から前記ワークの位置情報を求めたのち、前記変数
保持手段に保持された前記ワークの位置情報を、この新
たに求められたワークの位置情報で置き換えるようにす
ると、ワーク位置情報の信頼性が高まるので、プローブ
経路をワークに対して更にシビアにすることなどによっ
て以後の測定の効率を高めることができる。
定値から前記ワークの位置情報を求めたのち、前記変数
保持手段に保持された前記ワークの位置情報を、この新
たに求められたワークの位置情報で置き換えるようにす
ると、ワーク位置情報の信頼性が高まるので、プローブ
経路をワークに対して更にシビアにすることなどによっ
て以後の測定の効率を高めることができる。
【0009】
【実施例】以下、添付の図面を参照してこの発明の実施
例に係るワーク寸法自動測定システムについて説明す
る。図1は、このシステムの概略構成を示す斜視図であ
る。公知の特殊空気式の除振装置1の上には除振装置用
特殊架台2が載置され、更にこの特殊架台2の上の一方
の側には三次元測定機3が、また他方の側には第1の照
明装置4がそれぞれ設置されている。三次元測定機3
は、ベースとなる定盤11と、この定盤11の両側端の
Y軸ガイド12に沿ってY軸方向に移動すると共に定盤
11の両側端を連絡するブリッジ形のアーム支持体13
と、このアーム支持体13のX軸ガイド14に沿ってX
軸方向に移動するZ軸ガイド15と、このZ軸ガイド1
5に沿ってZ軸方向に移動するアーム16と、このアー
ム16に支持された測定用のタッチ・シグナル・プロー
ブ17とを備えて構成されている。また、三次元測定機
3には、プローブ交換のためのプローブ自動交換装置1
8が備えられている。
例に係るワーク寸法自動測定システムについて説明す
る。図1は、このシステムの概略構成を示す斜視図であ
る。公知の特殊空気式の除振装置1の上には除振装置用
特殊架台2が載置され、更にこの特殊架台2の上の一方
の側には三次元測定機3が、また他方の側には第1の照
明装置4がそれぞれ設置されている。三次元測定機3
は、ベースとなる定盤11と、この定盤11の両側端の
Y軸ガイド12に沿ってY軸方向に移動すると共に定盤
11の両側端を連絡するブリッジ形のアーム支持体13
と、このアーム支持体13のX軸ガイド14に沿ってX
軸方向に移動するZ軸ガイド15と、このZ軸ガイド1
5に沿ってZ軸方向に移動するアーム16と、このアー
ム16に支持された測定用のタッチ・シグナル・プロー
ブ17とを備えて構成されている。また、三次元測定機
3には、プローブ交換のためのプローブ自動交換装置1
8が備えられている。
【0010】三次元測定機3の定盤11の上方には、三
次元測定機の測定領域が形成され、第1の照明装置4の
上方には撮像領域が形成される。これら両領域を連絡す
るように、ステージ駆動機構5が設置されている。ステ
ージ駆動機構5は、三次元測定機3の定盤11と第1の
照明装置4とを連絡する2本の並行レール21と、この
並行レール21に案内されて移動するコ字状のスライド
テーブル22と、このスライドテーブル22を駆動する
モータ23及びネジ形の駆動軸24とにより構成されて
いる。スライドテーブル22上には、パレット6が装着
される。このパレット6は、ワーク7を載置するステー
ジを構成するもので、透明なガラス板31と、このガラ
ス板31の周縁部に装着された枠体32とで構成されて
いる。枠体32には、位置決め孔33が形成されてお
り、この孔33とスライドテーブル22に設けた位置決
めボス34とが嵌合されてパレット6がスライドテーブ
ル22に位置決めされる。
次元測定機の測定領域が形成され、第1の照明装置4の
上方には撮像領域が形成される。これら両領域を連絡す
るように、ステージ駆動機構5が設置されている。ステ
ージ駆動機構5は、三次元測定機3の定盤11と第1の
照明装置4とを連絡する2本の並行レール21と、この
並行レール21に案内されて移動するコ字状のスライド
テーブル22と、このスライドテーブル22を駆動する
モータ23及びネジ形の駆動軸24とにより構成されて
いる。スライドテーブル22上には、パレット6が装着
される。このパレット6は、ワーク7を載置するステー
ジを構成するもので、透明なガラス板31と、このガラ
ス板31の周縁部に装着された枠体32とで構成されて
いる。枠体32には、位置決め孔33が形成されてお
り、この孔33とスライドテーブル22に設けた位置決
めボス34とが嵌合されてパレット6がスライドテーブ
ル22に位置決めされる。
【0011】パレット6上に配置されたワーク7の上方
及び側方には、ワーク7を撮像するCCDカメラ8,9
がそれぞれ配置されている。ワーク7対してCCDカメ
ラ9とは反対側には第2の照明装置10が配置されてい
る。照明装置4,10は、それぞれ内部に図示しない光
源を収納したケース41と、このケース41を密閉する
と共に光源からの光を均一化させる半透明板42とによ
り構成されている。
及び側方には、ワーク7を撮像するCCDカメラ8,9
がそれぞれ配置されている。ワーク7対してCCDカメ
ラ9とは反対側には第2の照明装置10が配置されてい
る。照明装置4,10は、それぞれ内部に図示しない光
源を収納したケース41と、このケース41を密閉する
と共に光源からの光を均一化させる半透明板42とによ
り構成されている。
【0012】図2は、このシステムの信号・情報処理系
統を示すブロック図である。CCDカメラ8,9で撮像
された画像情報は、画像処理装置51に供給され、ここ
で画像認識処理によってワーク位置、ワークパターン及
びワーク主要寸法からなる予備情報が求められる。三次
元測定機データ処理装置52は、予備情報から三次元測
定の手順を規定するパートプログラムを選択し、このパ
ートプログラムに必要な変数を与えてコントローラ53
を駆動する。コントローラ53は、ステージ駆動機構5
及び三次元測定機3を駆動する。
統を示すブロック図である。CCDカメラ8,9で撮像
された画像情報は、画像処理装置51に供給され、ここ
で画像認識処理によってワーク位置、ワークパターン及
びワーク主要寸法からなる予備情報が求められる。三次
元測定機データ処理装置52は、予備情報から三次元測
定の手順を規定するパートプログラムを選択し、このパ
ートプログラムに必要な変数を与えてコントローラ53
を駆動する。コントローラ53は、ステージ駆動機構5
及び三次元測定機3を駆動する。
【0013】次に、このように構成された本システムの
動作を説明する。図3は、本システムの測定手順を示す
フローチャートである。測定開始状態では、パレット6
がCCD8,9による撮像が可能な撮像領域に配置され
る。この状態で、人手又はロボット等の搬送手段によっ
てワーク7がパレット6上に搬入されると(S1)、C
CDカメラ8,9によってワーク7が撮像される(S
2)。このとき、第1の照明装置4からの照明光は、並
行レール21の間、スライドテーブル22のくり貫き部
分及びパレット6のガラス板31を透過してワーク7を
下側から照明する。CCDカメラ8は、照明装置4とは
反対側の上方からワーク7を撮像するので、ワーク7の
部分は逆光となって図4(a)に示すように、ワークの
部分と背景とのコントラストが強調された明確な画像情
報が得られる。同様に、第2の照明装置10からの照明
光を受光するCCDカメラ9で得られるワーク7の側面
の画像情報も、図4(b)に示すように、ワークの部分
と背景とのコントラストが強調された明確な画像情報と
なる。
動作を説明する。図3は、本システムの測定手順を示す
フローチャートである。測定開始状態では、パレット6
がCCD8,9による撮像が可能な撮像領域に配置され
る。この状態で、人手又はロボット等の搬送手段によっ
てワーク7がパレット6上に搬入されると(S1)、C
CDカメラ8,9によってワーク7が撮像される(S
2)。このとき、第1の照明装置4からの照明光は、並
行レール21の間、スライドテーブル22のくり貫き部
分及びパレット6のガラス板31を透過してワーク7を
下側から照明する。CCDカメラ8は、照明装置4とは
反対側の上方からワーク7を撮像するので、ワーク7の
部分は逆光となって図4(a)に示すように、ワークの
部分と背景とのコントラストが強調された明確な画像情
報が得られる。同様に、第2の照明装置10からの照明
光を受光するCCDカメラ9で得られるワーク7の側面
の画像情報も、図4(b)に示すように、ワークの部分
と背景とのコントラストが強調された明確な画像情報と
なる。
【0014】画像情報が画像処理装置51に供給される
と、画像処理装置51では供給された画像情報から予備
情報を算出する(S3)。即ち、図5に示すように、画
像情報は、2値化部61で2値化されたのち、輪郭抽出
部62で2値画像のエッジ部分が抽出される。続いて、
パターンマッチングの処理効率を高めるため、特徴抽出
部63で輪郭情報から特徴部分を抽出し、この特徴部分
と基本パターン記憶部64に格納されているいくつかの
基本パターンとが照合部65で照合される。これによ
り、求められたワークパターンに基づいて、位置算出部
66及び主要寸法算出部67が画像の特徴部分からワー
クの位置及び内径、外形、高さ、幅等の主要寸法を算出
する。求められたワークパターン、ワーク位置及びワー
ク主要寸法からなる予備情報が三次元測定機データ処理
装置52に転送される(S4)。
と、画像処理装置51では供給された画像情報から予備
情報を算出する(S3)。即ち、図5に示すように、画
像情報は、2値化部61で2値化されたのち、輪郭抽出
部62で2値画像のエッジ部分が抽出される。続いて、
パターンマッチングの処理効率を高めるため、特徴抽出
部63で輪郭情報から特徴部分を抽出し、この特徴部分
と基本パターン記憶部64に格納されているいくつかの
基本パターンとが照合部65で照合される。これによ
り、求められたワークパターンに基づいて、位置算出部
66及び主要寸法算出部67が画像の特徴部分からワー
クの位置及び内径、外形、高さ、幅等の主要寸法を算出
する。求められたワークパターン、ワーク位置及びワー
ク主要寸法からなる予備情報が三次元測定機データ処理
装置52に転送される(S4)。
【0015】三次元測定機データ処理装置52では、先
ず、図6に示すように、パートプログラム選択部71
が、パターン別パートプログラム格納部72に格納され
たパートプログラムのうちの一つを画像処理装置51か
ら与えられたワークパターン情報に基づいて選択する
(S5)。次に、画像処理装置51で求められた画像処
理座標系におけるワーク位置を、座標系修正部73で三
次元測定機座標系におけるワーク位置に変換し(S
6)、変換後のワーク位置と画像処理装置51から与え
られるワーク主要寸法とを変数レジスタ74に格納する
(S7)。続いて、コントローラ53の制御のもとでス
テージ駆動機構5が動作して、スライドテーブル22が
撮像領域から測定領域に予め定められた移動量だけ移動
され、ワーク7が測定領域に搬送される(S8)。
ず、図6に示すように、パートプログラム選択部71
が、パターン別パートプログラム格納部72に格納され
たパートプログラムのうちの一つを画像処理装置51か
ら与えられたワークパターン情報に基づいて選択する
(S5)。次に、画像処理装置51で求められた画像処
理座標系におけるワーク位置を、座標系修正部73で三
次元測定機座標系におけるワーク位置に変換し(S
6)、変換後のワーク位置と画像処理装置51から与え
られるワーク主要寸法とを変数レジスタ74に格納する
(S7)。続いて、コントローラ53の制御のもとでス
テージ駆動機構5が動作して、スライドテーブル22が
撮像領域から測定領域に予め定められた移動量だけ移動
され、ワーク7が測定領域に搬送される(S8)。
【0016】ワーク7の移動が完了すると、パートプロ
グラム実行部75が起動され、選択されたパートプログ
ラムが実行される。パートプログラムは、プローブの移
動量や選択プローブを特定する情報等が変数として与え
られており、様々な大きさのワークに柔軟に対応できる
ようになっている。図7及び図8は、パートプログラム
の一例を示す図である。ここでV1,V2,V3,…,
U9,U10,L9等は変数であり、これらに対応する
数値は、画像処理装置51から与えられたり、パートプ
ログラム内部の演算によって求められ、変数レジスタ7
4に格納される。この例は、円筒の内径及び外径測定の
例で、例えばV1は円筒の深さ、V2は測定点数、V3
は径、V20は測定すべき断面数、U9はプローブ種類
を示している。
グラム実行部75が起動され、選択されたパートプログ
ラムが実行される。パートプログラムは、プローブの移
動量や選択プローブを特定する情報等が変数として与え
られており、様々な大きさのワークに柔軟に対応できる
ようになっている。図7及び図8は、パートプログラム
の一例を示す図である。ここでV1,V2,V3,…,
U9,U10,L9等は変数であり、これらに対応する
数値は、画像処理装置51から与えられたり、パートプ
ログラム内部の演算によって求められ、変数レジスタ7
4に格納される。この例は、円筒の内径及び外径測定の
例で、例えばV1は円筒の深さ、V2は測定点数、V3
は径、V20は測定すべき断面数、U9はプローブ種類
を示している。
【0017】パートプログラム実行部75は、パートプ
ログラムの実行の過程で、変数レジスタ74の内容を随
時参照し、プローブの移動コマンドと必要な移動量とを
コントローラ53に供給して三次元測定機3のタッチ・
シグナル・プローブ17をパートプログラムに従って移
動させる。これにより、自動測定が実行される(S
9)。また、パートプログラム実行部75は、この測定
の過程で得られた実際の三次元測定値から、ワークの位
置を求め、予め与えられたワーク位置を実際の測定値か
ら求めたワーク位置で置き換える。これにより、以後の
測定は、新たに求められた正確なワーク位置を基準とし
て実行される。
ログラムの実行の過程で、変数レジスタ74の内容を随
時参照し、プローブの移動コマンドと必要な移動量とを
コントローラ53に供給して三次元測定機3のタッチ・
シグナル・プローブ17をパートプログラムに従って移
動させる。これにより、自動測定が実行される(S
9)。また、パートプログラム実行部75は、この測定
の過程で得られた実際の三次元測定値から、ワークの位
置を求め、予め与えられたワーク位置を実際の測定値か
ら求めたワーク位置で置き換える。これにより、以後の
測定は、新たに求められた正確なワーク位置を基準とし
て実行される。
【0018】測定が終了したら、測定データを外部装置
に出力し(S10)、ステージ駆動機構5を起動して、
ワーク7を測定領域から撮像領域に移動させる(S1
1)。測定を終了したワーク7は、人手又はロボット等
の搬送手段によって搬出される(S12)。
に出力し(S10)、ステージ駆動機構5を起動して、
ワーク7を測定領域から撮像領域に移動させる(S1
1)。測定を終了したワーク7は、人手又はロボット等
の搬送手段によって搬出される(S12)。
【0019】このシステムによれば、ワークの形状が同
種であれば、寸法が異なる複数のワークを同一のパート
プログラムで測定することができるので、準備すべきパ
ートプログラムの数は、ワークのパターンの種類(例え
ば、円筒用、円柱用、つば付き円筒用等)だけあれば足
り、パートプログラム格納部72の容量を小さくするこ
とができる。また、未知の寸法のワークについても、画
像処理装置51からの情報に基づいて測定を行うことが
できる。
種であれば、寸法が異なる複数のワークを同一のパート
プログラムで測定することができるので、準備すべきパ
ートプログラムの数は、ワークのパターンの種類(例え
ば、円筒用、円柱用、つば付き円筒用等)だけあれば足
り、パートプログラム格納部72の容量を小さくするこ
とができる。また、未知の寸法のワークについても、画
像処理装置51からの情報に基づいて測定を行うことが
できる。
【0020】なお、以上の実施例では、CCDカメラ
8,9の位置と三次元測定機3の位置との関係が不変で
あることを前提としたが、CCDカメラ8,9自体の位
置に変動が生じた場合には、画像情報における座標系と
三次元測定領域の座標系との間の関係を正しく決定する
ことができなくなる。そこで、例えば、図9に示すよう
に、パレット6の枠体32に基準マーク部材35を設
け、この基準マーク部材35の位置を基準としたワーク
7の位置をワーク位置として求めることにより、撮像手
段の位置変動に係わらず、ワーク位置を正確に求めるこ
とができる。
8,9の位置と三次元測定機3の位置との関係が不変で
あることを前提としたが、CCDカメラ8,9自体の位
置に変動が生じた場合には、画像情報における座標系と
三次元測定領域の座標系との間の関係を正しく決定する
ことができなくなる。そこで、例えば、図9に示すよう
に、パレット6の枠体32に基準マーク部材35を設
け、この基準マーク部材35の位置を基準としたワーク
7の位置をワーク位置として求めることにより、撮像手
段の位置変動に係わらず、ワーク位置を正確に求めるこ
とができる。
【0021】この基準マーク部材35は、ワーク7の三
次元位置及び姿勢を算出するためには、XYZ軸方向に
重ならない少なくとも2箇所に配置する必要がある。こ
の実施例では、枠体32の対角位置に基準マーク部材3
5を設けるようにしている。また、基準マーク部材35
は、そのパターンを容易に認識可能であると共に、その
位置を正確に把握しやすい形状であることが好ましい。
この実施例では、基準マーク部材35の先端に基準球を
形成しているので、パターン認識が容易であり、その中
心位置も求め易いという利点がある。この基準球は、撮
像領域及び測定領域の両領域において、予め定められた
位置に配置されることが予め分かっているので、三次元
測定機3側でも基準球の位置を測定するようにすれば、
両領域の間の座標変換精度を更に高めることもできる。
次元位置及び姿勢を算出するためには、XYZ軸方向に
重ならない少なくとも2箇所に配置する必要がある。こ
の実施例では、枠体32の対角位置に基準マーク部材3
5を設けるようにしている。また、基準マーク部材35
は、そのパターンを容易に認識可能であると共に、その
位置を正確に把握しやすい形状であることが好ましい。
この実施例では、基準マーク部材35の先端に基準球を
形成しているので、パターン認識が容易であり、その中
心位置も求め易いという利点がある。この基準球は、撮
像領域及び測定領域の両領域において、予め定められた
位置に配置されることが予め分かっているので、三次元
測定機3側でも基準球の位置を測定するようにすれば、
両領域の間の座標変換精度を更に高めることもできる。
【0022】また、上記実施例では、画像情報から認識
された形状、位置、寸法等の情報を、三次元測定機に与
える外部情報として使用したが、CADシステムから取
り込まれるCAD情報やキーボード等の人手入力による
情報等を三次元測定機に外部情報として与えるようにし
てもよい。
された形状、位置、寸法等の情報を、三次元測定機に与
える外部情報として使用したが、CADシステムから取
り込まれるCAD情報やキーボード等の人手入力による
情報等を三次元測定機に外部情報として与えるようにし
てもよい。
【0023】
【発明の効果】以上述べたように、本発明によれば、記
憶されるパートプログラムの中の必要な数値部分が変数
で置き換えられると共に、外部から与えられるワークの
位置、寸法値等の情報が上記変数に対応した数値として
保持され、且つ前記パートプログラムを実行する際に
は、パートプログラムの変数部分が変数に対応した数値
で置き換えられてパートプログラムが実行されるので、
同種のワークであれば、ワークの位置や寸法値が異なっ
ても同一のパートプログラムを使用することができるよ
うになり、記憶しておくパートプログラムの数を大幅に
削減することができると共に、おおよその寸法値が未知
のワークについても、外部情報を使用して測定すること
が可能になるという効果を奏する。
憶されるパートプログラムの中の必要な数値部分が変数
で置き換えられると共に、外部から与えられるワークの
位置、寸法値等の情報が上記変数に対応した数値として
保持され、且つ前記パートプログラムを実行する際に
は、パートプログラムの変数部分が変数に対応した数値
で置き換えられてパートプログラムが実行されるので、
同種のワークであれば、ワークの位置や寸法値が異なっ
ても同一のパートプログラムを使用することができるよ
うになり、記憶しておくパートプログラムの数を大幅に
削減することができると共に、おおよその寸法値が未知
のワークについても、外部情報を使用して測定すること
が可能になるという効果を奏する。
【図1】 本発明の実施例に係るワーク寸法自動測定シ
ステムの斜視図である。
ステムの斜視図である。
【図2】 同システムの信号・情報処理系のブロック図
である。
である。
【図3】 同システムの測定手順を示すフローチャート
である。
である。
【図4】 同システムで得られた画像情報の例を示す図
である。
である。
【図5】 同システムにおける画像処理装置の構成を示
す機能ブロック図である。
す機能ブロック図である。
【図6】 同システムにおける三次元測定機データ処理
装置の構成を示す機能ブロック図である。
装置の構成を示す機能ブロック図である。
【図7】 パートプログラムの一例を示す図である。
【図8】 図7のパートプログラムの続きの部分を示す
図である。
図である。
【図9】 同システムにおけるパレットの他の構成例を
示す斜視図である。
示す斜視図である。
1…除振装置、2…除振装値用特殊架台、3…三次元測
定機、4…第1の照明装置、5…ステージ駆動機構、6
…パレット、7…ワーク、8,9…CCDカメラ、10
…第2の照明装置。
定機、4…第1の照明装置、5…ステージ駆動機構、6
…パレット、7…ワーク、8,9…CCDカメラ、10
…第2の照明装置。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 高橋 伸二 神奈川県川崎市高津区坂戸1丁目20番1号 株式会社ミツトヨ内 (72)発明者 菊池 直也 神奈川県川崎市高津区坂戸1丁目20番1号 株式会社ミツトヨ内
Claims (3)
- 【請求項1】 測定対象のワークに関する各種情報を外
部情報として取り込む外部情報取込手段と、 この手段によって取り込まれた外部情報に基づいて前記
ワークに対する三次元測定機のプローブの移動経路を決
定して三次元測定機を制御する制御手段と、 この制御手段により制御されて前記ワークの寸法を測定
する三次元測定機とを備えたワーク寸法自動測定システ
ムにおいて、 前記制御手段は、 前記ワークのパターン種類別に作成され必要な数値部分
が変数で置き換えられたパートプログラムを記憶するパ
ートプログラム記憶手段と、 前記外部情報に基づいて前記パートプログラム記憶手段
から前記ワークに対応した1つのパートプログラムを選
択する手段と、 前記外部情報を変数に対応した数値として保持する変数
保持手段と、 この変数保持手段に保持された変数に対応した数値を適
宜参照しながら前記選択されたパートプログラムを実行
するパートプログラム実行手段とを備えたものであるこ
とを特徴とするワーク寸法自動測定システム。 - 【請求項2】 前記外部情報には、前記ワークの位置情
報が含まれ、前記制御手段は、前記三次元測定機による
測定の過程で測定値から前記ワークの位置情報を求めた
のち、前記変数保持手段に保持された前記ワークの位置
情報を、この新たに求められたワークの位置情報で置き
換えるものであることを特徴とする請求項1記載のワー
ク寸法自動測定システム。 - 【請求項3】 前記外部情報取込手段は、 測定対象のワークを撮像してワークの画像情報を出力す
る撮像手段と、 この撮像手段から出力される画像情報に基づいて前記ワ
ークの形状及び位置を前記外部情報として認識する画像
処理手段とを備えたものであることを特徴とする請求項
1又は2記載のワーク寸法自動測定システム。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6168981A JP2731724B2 (ja) | 1994-06-28 | 1994-06-28 | ワーク寸法自動測定システム |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6168981A JP2731724B2 (ja) | 1994-06-28 | 1994-06-28 | ワーク寸法自動測定システム |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0814876A true JPH0814876A (ja) | 1996-01-19 |
| JP2731724B2 JP2731724B2 (ja) | 1998-03-25 |
Family
ID=15878147
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP6168981A Expired - Fee Related JP2731724B2 (ja) | 1994-06-28 | 1994-06-28 | ワーク寸法自動測定システム |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2731724B2 (ja) |
Cited By (10)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2000055644A (ja) * | 1998-08-12 | 2000-02-25 | Mitsutoyo Corp | インライン測定システム |
| WO2000012965A1 (en) * | 1998-08-28 | 2000-03-09 | Mitutoyo Corporation | Apparatus and method for supporting maintenance control of instrument for measuring coordinates and surface properties |
| WO2000012964A1 (fr) * | 1998-08-28 | 2000-03-09 | Mitutoyo Corporation | Dispositif et procede d'analyse et de generation d'un programme piece destine aux mesures de coordonnees et de proprietes de surface |
| JP2004294311A (ja) * | 2003-03-27 | 2004-10-21 | Nikon Corp | 画像測定装置 |
| JP2007033349A (ja) * | 2005-07-29 | 2007-02-08 | Roland Dg Corp | 形状計測方法およびそのシステム |
| JP2007534933A (ja) * | 2004-01-26 | 2007-11-29 | カール ツァイス インドゥストリエレ メステヒニク ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツング | ワークピースの座標を確定するための方法 |
| US7420588B2 (en) | 1999-06-09 | 2008-09-02 | Mitutoyo Corporation | Measuring method, measuring system and storage medium |
| JP2015081882A (ja) * | 2013-10-24 | 2015-04-27 | 株式会社ミツトヨ | 画像測定装置、及び高さ測定方法 |
| JP2020020658A (ja) * | 2018-07-31 | 2020-02-06 | 株式会社ミツトヨ | オフラインティーチング装置、測定制御装置及びプログラム |
| CN118010751A (zh) * | 2024-04-08 | 2024-05-10 | 杭州汇萃智能科技有限公司 | 一种用于工件缺陷检测的机器视觉检测方法及系统 |
Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS4946083A (ja) * | 1972-09-08 | 1974-05-02 | ||
| JPS6035210A (ja) * | 1983-08-08 | 1985-02-23 | Amada Co Ltd | メジヤリングロボツトを備えた自動測定システム |
| JPS60236011A (ja) * | 1984-05-10 | 1985-11-22 | Toyoda Autom Loom Works Ltd | 素材寸法判定装置 |
-
1994
- 1994-06-28 JP JP6168981A patent/JP2731724B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS4946083A (ja) * | 1972-09-08 | 1974-05-02 | ||
| JPS6035210A (ja) * | 1983-08-08 | 1985-02-23 | Amada Co Ltd | メジヤリングロボツトを備えた自動測定システム |
| JPS60236011A (ja) * | 1984-05-10 | 1985-11-22 | Toyoda Autom Loom Works Ltd | 素材寸法判定装置 |
Cited By (12)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2000055644A (ja) * | 1998-08-12 | 2000-02-25 | Mitsutoyo Corp | インライン測定システム |
| WO2000012965A1 (en) * | 1998-08-28 | 2000-03-09 | Mitutoyo Corporation | Apparatus and method for supporting maintenance control of instrument for measuring coordinates and surface properties |
| WO2000012964A1 (fr) * | 1998-08-28 | 2000-03-09 | Mitutoyo Corporation | Dispositif et procede d'analyse et de generation d'un programme piece destine aux mesures de coordonnees et de proprietes de surface |
| US6708138B1 (en) | 1998-08-28 | 2004-03-16 | Mitutoyo Corporation | Maintenance-and-control apparatus and method for coordinate and surface texture measuring device |
| JP4038334B2 (ja) * | 1998-08-28 | 2008-01-23 | 株式会社ミツトヨ | 座標及び表面性状測定におけるパートプログラムの解析及びパートプログラムの作成に関する装置及び方法 |
| US7420588B2 (en) | 1999-06-09 | 2008-09-02 | Mitutoyo Corporation | Measuring method, measuring system and storage medium |
| JP2004294311A (ja) * | 2003-03-27 | 2004-10-21 | Nikon Corp | 画像測定装置 |
| JP2007534933A (ja) * | 2004-01-26 | 2007-11-29 | カール ツァイス インドゥストリエレ メステヒニク ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツング | ワークピースの座標を確定するための方法 |
| JP2007033349A (ja) * | 2005-07-29 | 2007-02-08 | Roland Dg Corp | 形状計測方法およびそのシステム |
| JP2015081882A (ja) * | 2013-10-24 | 2015-04-27 | 株式会社ミツトヨ | 画像測定装置、及び高さ測定方法 |
| JP2020020658A (ja) * | 2018-07-31 | 2020-02-06 | 株式会社ミツトヨ | オフラインティーチング装置、測定制御装置及びプログラム |
| CN118010751A (zh) * | 2024-04-08 | 2024-05-10 | 杭州汇萃智能科技有限公司 | 一种用于工件缺陷检测的机器视觉检测方法及系统 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2731724B2 (ja) | 1998-03-25 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US20060259180A1 (en) | Device and method for workpiece calibration | |
| JP4544796B2 (ja) | 部品実装方法及び部品実装装置 | |
| JP2002517104A (ja) | 基板を直線的に位置決めしかつその位置を認識するための方法及び装置 | |
| JPH0814876A (ja) | ワーク寸法自動測定システム | |
| US20030059964A1 (en) | Electric-circuit fabricating method and system, and electric-circuit fabricating program | |
| JPH09253979A (ja) | 刃先位置計測装置 | |
| EP0939382A1 (en) | Image acquisition device | |
| JPH0795639B2 (ja) | 生産ラインにおける位置ずれ自動補正方法 | |
| US5437359A (en) | Parts insertion machine | |
| JP3107709B2 (ja) | ワーク寸法自動測定システム | |
| JPH11160036A (ja) | 複雑形状品の自動検査方法及び同検査装置 | |
| JPH10133728A (ja) | 製品検査データの自動フィードバック装置及びこの装置を用いた自動プログラム修正方法 | |
| JP2013045940A (ja) | 識別情報の検出方法、基板処理装置、基板処理システムおよびコンピュータープログラム | |
| JP2024086351A (ja) | 原点校正方法および原点校正システム | |
| JP2745881B2 (ja) | 数値制御装置およびcad/cam装置 | |
| JP3668381B2 (ja) | 測定データ評価システム | |
| JPH11351824A (ja) | 座標系補正方法及び画像測定装置 | |
| JP2805191B2 (ja) | 部品組立装置 | |
| JP3668375B2 (ja) | インライン測定システム | |
| JP3725774B2 (ja) | 遊技盤検査装置 | |
| JPH0557567A (ja) | 被加工物の中心位置測定方法 | |
| JPH0615914Y2 (ja) | 液体自動充填装置 | |
| JP6918756B2 (ja) | 検出システム | |
| JPH09186489A (ja) | プリント基板における作業位置座標算出方法およびその装置 | |
| JPH0737104A (ja) | 画像処理方法および同装置 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |