JPH08149075A - 光線路試験システム - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】 心線選択装置の構成を簡素化し且つ汎用的な
構成を持つ光線路試験システムを提供する。 【構成】 光分岐モジュールと、試験光ファイバの選択
を行う第一心線選択装置と、試験装置及びこれと第一心
線選択装置との接続を行う第二心線選択装置を有する試
験制御装置とを含む第一試験局、及び、第一試験局と中
継光ケーブルを介して接続され、光分岐モジュールと、
第一試験局内の試験制御装置の制御により試験光ファイ
バの選択を行う第三心線選択装置とを含む少なくとも一
つの第二試験局を具え、第一、第二及び第三心線選択装
置が、複数の光ファイバを一列に整列配置した固定側光
ファイバと、この複数の固定側光ファイバから少なくと
も２本の任意の光ファイバに対向する少なくとも２本の
可動側光ファイバを突き合わせて光路を切り替える機能
を具える。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、光伝送システムのオペ
レーション分野における光線路試験システムに関する。
更に詳しくは、本発明は、光合分岐器と、心線選択装置
と、試験装置及びＣＰＵを含む制御装置とを含む光線路
試験システムに利用され、特に、試験光ファイバを選択
する心線選択装置の構成と、試験光ファイバの試験及び
監視を行うための試験光ファイバへの試験光の送受、及
び、試験光ファイバからの光信号の受信を行う試験装置
の構成に関する。

【０００２】

【従来の技術】光線路試験システムとしては、従来、特
願平 4−7906号に記載されているシステムが提供されて
いる。この従来の光線路試験システムを図１、図２、図
３及び図４を参照して説明する。

【０００３】図１は従来の光線路試験システムの構成を
示す概要図であり、１は各種試験を遠隔で指示するワー
クステーション、２は光ファイバケーブルの成端及び試
験装置を設置している第一試験局ビル、３はユーザビル
Ａ、４は第二試験局ビル、５は試験制御装置、６は光フ
ァイバケーブルの成端架、７は光分岐モジュール、８は
１×Ｎ心線選択装置、９はＣＰＵ（制御処理装置）、10
は光パルス試験装置、損失試験用光源、心線対照用光
源、光パワーメータ及びフレームモニタ装置を含む試験
装置、11はＬ×Ｍ心線選択装置、12は加入者光ケーブ
ル、12a は光ファイバ、14は局内側伝送装置、15は局外
側伝送装置、16は通信光を透過し且つ試験光を反射する
光フィルタ型の故障切分け器、17はワークステーション
１と試験制御装置５との間のデータ通信回線、18は１×
Ｎ心線選択装置８とＬ×Ｍ心線選択装置11との間を結ぶ
光ファイバコード、24は中継光ケーブルを成端する成端
架、26は制御用信号において電気信号と光信号とを変換
する第一試験局ビル２側の制御用信号変換器、27a は制
御信号を伝送する第一試験局ビル２側の制御用光ファイ
バ、27b は制御信号を伝送する第二試験局ビル４側の制
御用光ファイバ、28は第一試験局ビル２側の光ファイ
バ、29は中継光ケーブル、32は第二試験局ビル４側の光
ファイバ、33は制御用信号において電気信号と光信号と
を変換する第二試験局ビル４側の制御用信号変換器、34
は中継光ケーブルを成端する成端架、35は張出用１×Ｎ
心線選択装置、40は光分岐モジュール、41は加入者光ケ
ーブル、41aは光ファイバ、42は光ファイバケーブルの
成端架、43は局外側伝送装置、44は局内側伝送装置及び
47はユーザビルＢである。

【０００４】図２は図１のシステム概要図に関して、特
に、前記第一試験局ビル２の試験制御装置５及び光ファ
イバケーブルの成端架６の一例を示す構成図であり、図
１の各部に対応する部分には、同一参照符号を付して、
これらの説明を省略する。

【０００５】図２において、7aは２×２ポートからなる
光カプラ、7bは通信光を透過して試験光を遮断する光フ
ィルタである。8aは１×Ｎ心線選択装置８のマトリクス
部であり、光分岐モジュール７から分岐された光ファイ
バの終端に光コネクタを取り付けてマトリクス部8aに固
定している。8bは１×Ｎ心線選択装置８のヘッド部光コ
ネクタであり、マトリクス部8aに固定された任意の光コ
ネクタに接続できる。18a 及び18b は１×Ｎ心線選択装
置８とＬ×Ｍ心線選択装置11とを結ぶ光ファイバコード
であり、8c及び8dはマトリクス部8aに固定された光コネ
クタである。

【０００６】20a 及び20b は光分岐モジュール７から分
岐された光ファイバである。10a は光パルス試験装置、
10b は心線対照用光源、10c は損失試験用光源、10d は
光パワーメータ、10e はフレームモニタ装置である。11
a はＬ×Ｍ心線選択装置11のマトリクス部、11b はＬ×
Ｍ心線選択装置11のヘッド駆動部分、9aはＣＰＵ９から
の動作指示により、１×Ｎ心線選択装置８、Ｌ×Ｍ心線
選択装置11及び張出用１×Ｎ心線選択装置35を駆動させ
る制御回路である。

【０００７】13a, 13b及び13c はＬ×Ｍ心線選択装置11
のヘッド駆動部11b に固定された光コネクタであり、13
d, 13e, 13f 及び13g はＬ×Ｍ心線選択装置11のマトリ
クス部11a に固定された光コネクタである。21a は光カ
プラ、21b 及び21c は通信光遮断光コネクタ、19a は光
切替えスイッチ19の駆動側光コネクタ、19b は光切替え
スイッチ19の固定側光コネクタである。25a は中継光ケ
ーブルを成端する成端架24での光ファイバの融着接続点
である。

【０００８】図３は図１のシステム概要図に関して、特
に、前記第二試験局ビル４の光ファイバケーブルの成端
架42に設置される張出用１×Ｎ心線選択装置35の一例を
示す構成図であり、図１及び図２の各部に対応する部分
には、同一参照符号を付して、これらの説明を省略す
る。

【０００９】図３において、40a は２×２ポートからな
る光カプラ、40b は通信光を透過して試験光を遮断する
光フィルタである。35a は張出用１×Ｎ心線選択装置35
のマトリクス部であり、光分岐モジュール40から分岐さ
れた光ファイバの終端に光コネクタを取り付けてマトリ
クス部35a に固定している。35b は張出用１×Ｎ心線選
択装置35のヘッド部光コネクタであり、マトリクス部35
a に固定された任意の光コネクタに接続できる。39a 及
び39b は光分岐モジュール40から分岐された光ファイバ
であり、35c 及び35d はマトリクス部35a に固定された
光コネクタである。

【００１０】36a, 36b及び36c は光切替えスイッチ36の
駆動側光コネクタであり、36d, 36e 及び36f は光切替
えスイッチ36の固定側光コネクタである。光切替えスイ
ッチ36の駆動側光コネクタ36a は固定側光コネクタ36d
へ、駆動側光コネクタ36b は固定側光コネクタ36e へ、
駆動側光コネクタ36c は固定側光コネクタ36f へそれぞ
れ接続できる。36g は駆動側光コネクタ36b と固定側光
コネクタ36e とを結ぶ光ファイバで、その端末は斜めに
切断され低反射処理をされている。30a 及び37a はそれ
ぞれ中継光ケーブルを成端する成端架34及び１×Ｎ心線
選択装置35での光ファイバの融着接続点である。

【００１１】図４は図１のシステム概要図に関して、特
に、前記第一試験局ビル２の試験装置10内の光パルス試
験装置10a の一例を示す構成図であり、図１及び図２の
各部に対応する部分には、同一参照符号を付して、これ
らの説明を省略する。

【００１２】図４において、58はパルス光を発生するＬ
Ｄ光源パッケージ、58a は1.31μmＬＤ光源、58b は1.5
5μm ＬＤ光源、73a は1.31μm ＬＤ光源58a の光コネ
クタ、60c は1.55μm ＬＤ光源58b の光コネクタ、72は
光ファイバ、72a 及び72b は光ファイバ72の光コネク
タ、64はパルス光を送受する送受光パッケージ、65は光
路を高速で切替えるＡ／Ｏスイッチ、65a 、65b 、65c
及び65d はＡ／Ｏスイッチ65の光コネクタ、68はパルス
光を受光する光検出部、68a は光検出部68の光コネクタ
である。

【００１３】Ａ／Ｏスイッチ65は光コネクタ65a 又は光
コネクタ65b からの光入力の場合は光コネクタ65d に接
続し、光コネクタ65d からの戻り光入力の場合は光コネ
クタ65c に接続する。61及び62はパッケージとパッケー
ジを接続する光ファイバ、61a 及び61b は光ファイバ61
の光コネクタ、62a 及び62b は光ファイバ62の光コネク
タ、19a は光切替えスイッチ19の駆動側コネクタであ
る。

【００１４】次に、図１、図２、図３及び図４のシステ
ム構成において光パルス試験を実施する例についてこれ
らの図面を参照して説明する。図２おいて、第一試験局
ビル２に成端されている光ファイバ12a を光パルス試験
する場合、１×Ｎ心線選択装置８において、ヘッド部光
コネクタ8bを光コネクタ8cに接続し、且つ、Ｌ×Ｍ心線
選択装置11において、ヘッド部光コネクタ13aをマトリ
クス部光コネクタ13d に接続し、且つ、光切替えスイッ
チ19の駆動側光コネクタ19a を固定側光コネクタ19b の
通信光遮断光フィルタ21b が設置されている心線側に接
続し、光路を設定する。

【００１５】これにより、光パルス試験装置10a におい
て、1.55μｍＬＤ光源58b から送出されたパルス光は、
光ファイバ72、光ファイバ62、Ａ／Ｏスイッチ65、光切
替えスイッチ19の駆動側光コネクタ19a 、固定側光コネ
クタ19b 、通信光遮断光フィルタ21b 、Ｌ×Ｍ心線選択
装置11のヘッド部光コネクタ13a 、マトリクス部光コネ
クタ13d 、光ファイバコード18a 、１×Ｎ心線選択装置
８のヘッド部光コネクタ8b、光コネクタ8c、光ファイバ
20a 及び光カプラ7aを介して光ファイバ12a に挿入され
る。ここで、前記1.55μｍＬＤ光源58b から送出される
パルス光には、通信波長帯の光信号成分が含まれている
が、前記通信光遮断光フィルタ21b を通過する際に通信
波長帯の成分は遮断される。

【００１６】そして、この挿入されたパルス光は、光フ
ァイバ12a 内で散乱し、その散乱光のうち後方散乱成分
は光信号として前述のパルス光の進行経路を逆戻りす
る。前記の状態において、局外側伝送装置15からの光信
号（通信光）は前記光信号（パルス光）と同様に光カプ
ラ7a、１×Ｎ心線選択装置８及びＬ×Ｍ心線選択装置11
を介して通信光遮断光フィルタ21b まで到達するが、前
記通信光遮断光フィルタ21b において前記光信号（通信
光）は遮断されるため、後方散乱したパルス光のみが通
過し、光パルス試験装置10a 内のＡ／Ｏスイッチ65にお
いて、光コネクタ65d 、光コネクタ65c を介して光検出
部68へ到達して信号解析される。

【００１７】次に、図２及び図３において、第二試験局
ビル４に成端されている光ファイバ41a を試験する場
合、Ｌ×Ｍ心線選択装置11において、ヘッド部光コネク
タ13aとマトリクス部11a 側光コネクタ13f とを接続す
る。これにより、光パルス試験装置10a から送出された
パルス光は、Ｌ×Ｍ心線選択装置11のヘッド部光コネク
タ13a 、光コネクタ13f 、試験用光ファイバ28a 、光フ
ァイバ接続部25及び中継光ファイバ29を介して第二試験
局ビル４に到達する。

【００１８】図３において、前記パルス光は、光ファイ
バ接続部30及び試験用ファイバ32aを介して張出用１×
Ｎ心線選択装置35に到達する。ここで、張出用１×Ｎ心
線選択装置35において、ヘッド部光コネクタ35b を光コ
ネクタ35c に接続し、且つ、光切替えスイッチ36の駆動
側光コネクタ36a と固定側光コネクタ36d 、駆動側光コ
ネクタ36b と固定側光コネクタ36e 及び駆動側光コネク
タ36c と固定側光コネクタ36f を、試験用光ファイバ32
a と光ファイバ39a とが接続できる位置にそれぞれ接続
することにより、前述のパルス光は光ファイバ39a 及び
光カプラ40a を介して光ファイバ41a に挿入される。

【００１９】この時、パルス光は光カプラ40a を介して
光ファイバ39b にも挿入され、張出用１×Ｎ心線選択装
置35の光コネクタ35c 、ヘッド部光コネクタ35b を介し
て光ファイバ36g まで到達する。ここで、光ファイバ39
b に挿入されたパルス光は光ファイバ36g の低反射処理
により減衰する。光ファイバ41a 内で発生したパルス光
の後方散乱光は、光信号として前述のパルス光の進行経
路を逆戻りして通信光遮断光フィルタ21b まで到達す
る。以上の外の動作は前述の光ファイバ12a を光パルス
試験する場合と同様である。

【００２０】

【発明が解決しようとする課題】以上に述べた従来の光
線路試験システムにおいて、Ｌ×Ｍ心線選択装置11は光
切替えスイッチ19を使用していたために、ヘッド駆動部
11b に固定する光コネクタ及び光ファイバがそれぞれ２
個及び２心必要であった。また、光マトリクス部11a と
光切替えスイッチ19の２段スイッチであるために構成が
複雑になり、小型化が困難で、各スイッチの複雑な制御
が必要になる問題点があった。

【００２１】張出用１×Ｎ心線選択装置35は光切替えス
イッチ36を使用していたために、ヘッド駆動部35b に固
定する光ファイバが８心必要であった。また、光マトリ
クス部35a と光切替えスイッチ36の２段スイッチ（スイ
ッチによる接続点が合計４ヵ所）であるために構成が複
雑で大型になり、各スイッチの複雑な制御が必要で、且
つ、スイッチの動作時間が長い問題点があった。

【００２２】Ｌ×Ｍ心線選択装置11、張出用１×Ｎ心線
選択装置35及び１×Ｎ心線選択装置８は光コネクタ突き
合わせ型のスイッチであるために、光マトリクス部に収
容できる光ファイバの心数が光コネクタの大きさに依存
するので心線収容率が低く、且つ、光ファイバ収容心数
の増加に伴い、心線選択装置が大型になるという必然性
があり、設備スペースが拡大し、設備コストが増大する
問題があった。また、光マトリクス部が光コネクタ固定
型であるために、光ファイバ収容心数の増減に伴う心線
選択装置の増設、削減が困難であり、効率的な設備配置
ができないという問題点があった。

【００２３】光パルス試験装置10a は各パッケージ内の
配線及びパッケージ間の接続が固定型であるため、他光
源、他素子、他パッケージ等の増設が不可能であり、光
パルス試験装置10a の高機能化、高性能化が容易に実現
できなかった。また、心線対照用の心線対照用光源10b
が必要であり、試験装置10の小型化、低コスト化が困難
であった。

【００２４】この発明は上述した事情に鑑みてなされた
もので、光線路試験システムの、特に心線選択装置の構
成を簡素化し、且つ、心線収容率の向上を図ると共に、
試験装置の汎用的な構成により、システムの縮小化及び
設備コストの低減を可能にする光線路試験システムを提
供することを目的としている。

【００２５】

【課題を解決するための手段】上述した課題を解決する
ために、本発明は、光ファイバに挿入された光カプラを
含む光分岐モジュールと、この光分岐モジュールの近傍
に配置され試験光ファイバの選択を行う第一心線選択装
置と、試験光ファイバへのパルス光、心線対照光及び光
損失光の送受並びに試験光ファイバからの光信号の受信
を行う試験装置及び試験装置と前記第一心線選択装置と
の接続を行う第二心線選択装置を有する試験制御装置と
を含む第一試験局、及び、前記第一試験局と中継光ケー
ブルを介して接続され、光分岐モジュールと、この光分
岐モジュールの近傍に配置され前記第一試験局内の前記
試験制御装置の制御により試験光ファイバの選択を行う
第三心線選択装置とを含む少なくとも一つの第二試験局
を具えた光線路試験システムにおいて、前記第一、第二
及び第三心線選択装置が、複数の光ファイバを一列に整
列配置した固定側光ファイバと、この複数の固定側光フ
ァイバから少なくとも２本の任意の光ファイバに対向す
る少なくとも２本の可動側光ファイバを突き合わせて光
路を切り替える機能を具えたことを特徴とする。

【００２６】また、前記第三心線選択装置は、前記光カ
プラを介して進入する特定波長又は波長帯域の光信号を
遮断又は通過させる機能を有する光スイッチを可動側光
ファイバヘッド部前部に具えてもよい。また、前記試験
装置は、前記光カプラを介して進入する特定波長又は波
長帯域の光信号を遮断又は通過させる機能を有するフィ
ルタ型光スイッチを光パルス試験装置内光検出部前部
に、通信光遮断光フィルタをパルス光源前部に具えても
よい。また、前記試験装置は、心線対照光源を光パルス
試験装置のパルス光源と共用してもよい。

【００２７】

【作用】本発明によれば、光コネクタを使用せず、複数
の光ファイバを効率良く、且つ、高密度にマトリクス部
に固定できるので、心線選択装置は小型化、高心線収容
率化、増設性の向上により、設備コストを低減すること
が可能になる。

【００２８】また、第三心線選択装置に光スイッチを設
置することにより、光カプラの近傍で折り返したパルス
光を無反射で遮断できるので、折り返しパルス光による
試験光ファイバへの影響を除去できる。また、光パルス
試験装置内にフィルタ型光スイッチ及び通信光遮断フィ
ルタを配置することにより、第一心線選択装置内に設置
されていた通信光遮断フィルタ、光切替えスイッチ、光
カプラ及び光コネクタを撤去できるので、心線選択装置
の構成の簡素化、小型化、低コスト化が可能になる。

【００２９】また、光パルス試験装置内に他光源、他素
子、他パッケージ等の増設ができるので、新しい光伝送
システム及び長尺な光ファイバにも対応でき、光パルス
試験装置の高性能化、高機能化及び汎用化が容易に実現
できる。更に、心線対照用光源を光パルス試験装置内の
パルス光源と共用することにより、試験装置の簡素化、
小型化及び低コスト化を図ることができる。

【００３０】

【実施例】

（第１実施例）図５、図６及び図７はこの発明の第１実
施例の構成を示す説明図であり、この図において、従来
の技術（図１、図２、図３及び図４参照）の各部に対応
する部分には同一符号を付してこれらの説明を省略す
る。図５において、8eは１×Ｎ心線選択装置８のマトリ
クス部であり、光分岐モジュール７から分岐された光フ
ァイバの終端を一列に整列配置して、マトリクス部8eに
固定している。8gは１×Ｎ心線選択装置８のヘッド部で
あり、マトリクス部8eに固定された任意の光ファイバに
接続できる。18a 及び18b はそれぞれ１×Ｎ心線選択装
置８とＬ×Ｍ心線選択装置11間を結ぶ光ファイバコード
であり、その終端は、光コネクタ接続点23を介して一列
に整列配置して、Ｌ×Ｍ心線選択装置11のマトリクス部
22a に固定している。

【００３１】22d はＬ×Ｍ心線選択装置11のヘッド部で
あり、マトリクス部22a に固定された任意の光ファイバ
に接続できる。22c は中継光ケーブル29に接続されてい
る試験用光ファイバ28a 及び試験用光ファイバ28b を含
む光ファイバをマトリクス部22a に固定した終端部であ
る。31a, 31c, 31d, 31e及び31f はそれぞれＬ×Ｍ心線
選択装置11のヘッド部22d と、パルス試験装置10a 、損
失試験用光源10c 、光パワーメータ10d 及びフレームモ
ニタ装置10e とを接続する光ファイバである。31b はフ
ァイバ端末を斜めに切断し低反射処理をした光ファイバ
である。低反射手段として光吸収板を用いても良い。

【００３２】図６において、38は張出用１×Ｎ心線選択
装置35内の心線選択装置であり、38a は心線選択装置38
のマトリクス部であり、光分岐モジュール40から分岐さ
れた光ファイバの終端を一列に整列配置して、マトリク
ス部38a に固定している。38c は心線選択装置38のヘッ
ド部であり、マトリクス部38a に固定された任意の光フ
ァイバに接続できる。

【００３３】54a 及び54b はそれぞれ心線選択装置38と
心線選択装置48間を結ぶ光ファイバコードであり、その
終端は、一列に整列配置して心線選択装置48のマトリク
ス部48a に固定されている。48c は心線選択装置48のヘ
ッド部であり、マトリクス部48a に固定された任意の光
ファイバに接続できる。48d は心線選択装置48の光スイ
ッチであり、スイッチがＯＮ状態で光ファイバを無反射
断線状態にし、パルス光を遮断する。

【００３４】図７において、60a は1.55μｍＬＤ光源58
b から送出されるパルス光に含まれる通信波長帯の光信
号成分を遮断する通信光遮断光フィルタ、66はフィルタ
型光スイッチであり、スイッチがＯＮ状態で通信光を遮
断する。66a 及び66b はフィルタ型光スイッチ66の光コ
ネクタであり、22d はＬ×Ｍ心線選択装置11のヘッド部
である。

【００３５】次に、この第１実施例の動作について説明
する。図５、図６及び図７において、第二試験局ビル４
に成端されている光ファイバ41a を光パルス試験する場
合、ワークステーション１からデータ通信回路17を介し
て、試験制御装置５のＣＰＵ９へ試験心線と試験項目を
指示する。ＣＰＵ９はワークステーション１からの指示
により、試験装置10及びＬ×Ｍ心線選択装置11に試験の
動作をプログラム制御する。

【００３６】制御用信号の指示により光パルス試験装置
10a は、フィルタ型光スイッチ66をＯＮ状態にする。前
記制御用信号の指示によりＬ×Ｍ心線選択装置11は、ヘ
ッド部光ファイバ31a とマトリクス部22a に固定されて
いる試験用光ファイバ28a 及びヘッド部光ファイバ31b
と試験用光ファイバ28b とを接続すると共に、張出用１
×Ｎ心線選択装置35へ制御用信号を、信号変換器26、第
一試験局ビル２側の制御用光ファイバ27a 、中継光ケー
ブル29、第二試験局ビル４側の制御用光ファイバ27b を
介して信号変換器33へ送信する。

【００３７】張出用１×Ｎ心線選択装置35は制御用信号
の指示により、心線選択装置48のヘッド部48c をマトリ
クス部48a に固定されている光ファイバコード54a 及び
光ファイバコード54b に接続し、光スイッチ48d をＯＮ
状態にすると共に、心線選択装置38のヘッド部38c をマ
トリクス部38a に固定されている光ファイバ39a 及び光
ファイバ39b に接続する。これにより、光パルス試験装
置10a 内の1.55μｍＬＤ光源58b から送出されるパルス
光は光カプラ40a を介して光ファイバ41a に挿入され
る。

【００３８】この時、前述のパルス光は、光カプラ40a
を介して光ファイバ39b にも挿入され、心線選択装置38
のヘッド部38c 、光ファイバコード54b 、心線選択装置
48のヘッド部48c を介して光スイッチ48d まで到達す
る。ここで、光スイッチ48d がスイッチＯＮ状態におい
てパルス光は無反射で遮断されるため、光ファイバ39b
に挿入されたパルス光による光ファイバ41a への影響が
除去される。光ファイバ41a 内で発生したパルス光の後
方散乱光は光信号として前述のパルス光の進行経路を逆
戻りする。

【００３９】前記の状態において、局外側伝送装置43か
らの光信号（通信光）は前記光信号（パルス光）と同様
に光カプラ40a 、張出用１×Ｎ心線選択装置35及びＬ×
Ｍ心線選択装置11を介して光パルス試験装置10a 内のフ
ィルタ型光スイッチ66まで到達するが、フィルタ型光ス
イッチ66がＯＮ状態において、前記光信号（通信光）が
遮断されるため、後方散乱したパルス光のみが通過し、
光検出部68へ到達して信号解析される。

【００４０】図５及び図７において、第一試験局ビル２
に成端されている光ファイバ12a を光パルス試験する場
合、制御用信号の指示により光パルス試験装置10a は、
フィルタ型光スイッチ66をＯＮ状態にする。前記制御用
信号の指示によりＬ×Ｍ心線選択装置11はヘッド部光フ
ァイバ31a とマトリクス部22a に固定されている光ファ
イバコード18a に、ヘッド部光ファイバ31b と光ファイ
バコード18b とを接続する。１×Ｎ心線選択装置８はヘ
ッド部8gをマトリクス部8eに固定されている光ファイバ
20a 及び光ファイバ20b に接続する。光ファイバ12a 内
で発生したパルス光の後方散乱光は光信号として前述の
パルス光の進行経路を逆戻りする。以上の外の動作は前
述の光ファイバ41a を光パルス試験する場合と同様であ
る。

【００４１】（第２実施例）図８は本発明の第２実施例
の構成を示す説明図であり、この図において、従来の技
術及び第１実施例の説明図の各部に対応する部分には同
一符号を付してこれらの説明を省略する。図８におい
て、50は張出用１×Ｎ心線選択装置35内の心線選択装置
であり、50a は心線選択装置50のマトリクス部であり、
光分岐モジュール40から分岐された光ファイバの終端を
一列に整列配置してマトリクス部50a に固定している。
50d はヘッド部であり、マトリクス部50a に固定された
任意の光ファイバに接続できる。39a 及び39b は心線選
択装置50のマトリクス部50a に固定されている光ファイ
バである。50e は張出用１×Ｎ心線選択装置35内の心線
選択装置50の光スイッチであり、スイッチがＯＮ状態で
光ファイバを無反射断線状態にし、パルス光を遮断す
る。51は光ファイバコード、52は光ファイバコード51の
光コネクタである。

【００４２】次に、この第２実施例の動作について説明
する。図５、図７及び図８において、第二試験局ビル４
に成端されている光ファイバ41a を光パルス試験する場
合、制御用信号の指示により光パルス試験装置10a は、
フィルタ型光スイッチ66をＯＮ状態にする。前記制御用
信号の指示により張出用１×Ｎ心線選択装置35は、心線
選択装置50のヘッド部50d をマトリックス部50a に固定
されている光ファイバ39a 及び光ファイバ39b に接続す
ると共に、光スイッチ50e をＯＮ状態にする。これによ
り、光パルス試験装置10a 内の1.55μｍＬＤ光源58b か
ら送出されるパルス光は光ファイバ41a に挿入される。
以上の外の動作は前述の第１実施例において、光ファイ
バ41a を光パルス試験する場合と同様である。

【００４３】（第３実施例）図９は本発明の第３実施例
の構成を示す説明図であり、この図において、従来の技
術並びに第１及び第２実施例の説明図の各部に対応する
部分には同一符号を付してこれらの説明を省略する。図
９において、40c は２×２ポートからなる光カプラ、41
b は第二試験局側加入者光ファイバ、53は張出用１×Ｎ
心線選択装置35内の増設用心線選択装置、53a は増設用
心線選択装置53のマトリクス部であり、光分岐モジュー
ル40から分岐された光ファイバの終端を一列に整列配置
して、マトリクス部53a に固定している。

【００４４】53c は増設用心線選択装置53のヘッド部で
あり、マトリクス部53a に固定された任意の光ファイバ
に接続できる。56a 及び56b は増設用心線選択装置53の
マトリクス部に固定されている光ファイバである。53d
は増設用心線選択装置53の光コネクタ、55a 及び55b は
増設用心線選択装置53と心線選択装置48との間を結ぶ光
ファイバコードであり、その終端は、一列に整列配置し
て心線選択装置48のマトリクス部48a に固定されてい
る。49c は光ファイバコード55a 及び光ファイバコード
55b を増設用心線選択装置53に接続する光コネクタであ
る。

【００４５】次に、この第３実施例の動作について説明
する。図５、図７及び図９において、第二試験局ビル４
に成端されている光ファイバ41b を光パルス試験する場
合、張出用１×Ｎ心線選択装置35は制御用信号の指示に
より心線選択装置48のヘッド部48c をマトリックス部48
a に固定されている光ファイバコード55a 及び光ファイ
バコード55b に接続し、光スイッチ48d をＯＮ状態にす
ると共に、増設用心線選択装置53のヘッド部53c をマト
リクス部53a に固定されている光ファイバ56a 及び光フ
ァイバ56b に接続する。これにより、光パルス試験装置
10a 内の1.55μｍＬＤ光源58b から送出されるパルス光
は光カプラ40c を介して光ファイバ41b に挿入される。
以上の外の動作は前述の第１実施例において、光ファイ
バ41a を光パルス試験する場合と同様である。

【００４６】（第４実施例）次に本発明の第４実施例に
ついて説明する。図10は本発明の第４実施例の構成を示
す説明図であり、この図において、従来の技術並びに第
１、第２及び第３実施例の説明図の各部に対応する部分
には同一符号を付してこれらの説明を省略する。図10に
おいて、57は張出用１×Ｎ心線選択装置35の増設用心線
選択装置、57a は増設用心線選択装置57のマトリクス部
であり、光分岐モジュール40から分岐された光ファイバ
の終端を一列に整列配置して、マトリクス部57a に固定
している。

【００４７】57c は増設用心線選択装置57のヘッド部で
あり、マトリクス部57a に固定された任意の光ファイバ
に接続できる。56a 及び56b は増設用心線選択装置57の
マトリクス部に固定されている光ファイバである。57d
及び57e は増設用心線選択装置57の光コネクタ、51a 及
び51b は増設用心線選択装置57と心線選択装置50との間
を結ぶ光ファイバコードであり、その終端は、一列に整
列配置して心線選択装置50のマトリクス部50a に固定さ
れている。52c 及び52d は光ファイバコード51a 及び51
b を増設用心線選択装置57に接続する光コネクタであ
る。

【００４８】次に、この第４実施例の動作について説明
する。図５、図７及び図10において、第二試験局ビル４
に成端されている光ファイバ41b を光パルス試験する場
合、張出用１×Ｎ心線選択装置35は制御用信号の指示に
より、心線選択装置50のヘッド部50d をマトリックス部
50a に固定されている光ファイバコード51a 及び光ファ
イバコード51b に接続し、光スイッチ50e をＯＮ状態に
すると共に、増設用心線選択装置57のヘッド部57c をマ
トリクス部57aに固定されている光ファイバ56a 及び56b
に接続する。これにより、光パルス試験装置10a 内の
1.55μｍＬＤ光源58b から送出されるパルス光は光カプ
ラ40c を介して光ファイバ41b に挿入される。以上の外
の動作は前述の第２実施例において、光ファイバ41a を
光パルス試験する場合と同様である。

【００４９】（第５実施例）次に本発明の第５実施例に
ついて説明する。図11は本発明の第５実施例の構成を示
す説明図であり、この図において、従来の技術並びに第
１、第２、第３及び第４実施例の説明図の各部に対応す
る部分には同一符号を付してこれらの説明を省略する。
図11において、58c は増設用1.65μｍＬＤ光源、60b は
増設用1.65μｍＬＤ光源58c から送出されるパルス光に
含まれる通信波長帯の光信号成分を遮断する通信光遮断
光フィルタである。ここで、1.65μｍＬＤ光源58c から
送出されるパルス光を試験光として使用する場合の対象
光伝送システムの通信光の波長は、1.31μｍ、1.55μｍ
であり、通信光遮断光フィルタ60b は波長1.31μｍ及び
1.55μｍの通信光を遮断する。

【００５０】59はＷＤＭカプラ、59a, 59b及び59c はＷ
ＤＭカプラ59の光コネクタである。ＷＤＭカプラ59は光
コネクタ59b からの光入力の場合及び光コネクタ59c か
らの光入力の場合は光コネクタ59a にのみ出力する。67
はフィルタ型光スイッチであり、スイッチがＯＮ状態で
通信光（波長は1.55μｍ）を遮断する。67a 及び67bは
フィルタ型光スイッチ67の光コネクタである。69は増設
用高出力光源パッケージで、70は1.55μｍリングレー
ザ、70a は1.55μｍリングレーザ光源70から送出される
パルス光に含まれる通信波長帯の光信号成分を遮断する
通信光遮断光フィルタである。

【００５１】ここで、1.55μｍリングレーザ光源70から
送出されるパルス光を試験光として使用する場合の対象
光伝送システムの通信光の波長は、1.31μｍであり、通
信光遮断光フィルタ70a は波長1.31μｍの通信光を遮断
する。71は光スイッチで、71a は駆動側光コネクタ、71
b 及び71c は固定側光コネクタであり、71d, 71e及び71
f は光スイッチ71の光コネクタである。63はパッケージ
とパッケージを接続する光ファイバ、63a 及び63b は光
ファイバ63の光コネクタであり、22d はＬ×Ｍ心線選択
装置11のヘッド部である。

【００５２】次に、この第５実施例の動作について説明
する。図11において、通信波長が1.31μｍ及び1.55μｍ
の対象光伝送システムにおいて、増設用1.65μｍＬＤ光
源58c を用いて光パルス試験する場合、光パルス試験装
置10a は制御用信号の指示により、光スイッチ71におい
て、駆動側光コネクタ71a と固定側光コネクタ71c を接
続すると共に、フィルタ型光スイッチ66及びフィルタ型
光スイッチ67のスイッチをそれぞれＯＮ状態にする。

【００５３】増設用1.65μｍＬＤ光源58c から発生した
パルス光は、通信光遮断光フィルタ60b 、ＷＤＭカプラ
59、光ファイバ62、光スイッチ71、光ファイバ63、Ａ／
Ｏスイッチ65を介してＬ×Ｍ心線選択装置11のヘッド部
22d へ送出される。また、試験光ファイバから1.31μｍ
及び1.55μｍの通信光を含む光信号として逆戻りしたパ
ルス光は、Ｌ×Ｍ心線選択装置11のヘッド部22d 、Ａ／
Ｏスイッチ65を介してフィルタ型光スイッチ66まで到達
するが、フィルタ型光スイッチ66がＯＮ状態において、
前記光信号のうち1.31μｍの通信光が遮断され、1.55μ
ｍの通信光とパルス光が通過し、フィルタ型光スイッチ
67まで到達する。

【００５４】フィルタ型光スイッチ67がＯＮ状態におい
て、1.55μｍの通信光は遮断されるため、後方散乱した
パルス光のみが通過し光検出部68へ到達して信号解析さ
れる。以上の外の動作は前述の第１及び第２実施例にお
いて、光ファイバ12a 或いは光ファイバ41a を光パルス
試験する場合、又は、第３及び第４実施例において、光
ファイバ41b を光パルス試験する場合と同様である。

【００５５】また、前述の従来のシステム又は1.55μｍ
ＬＤ光源58b から送出されるパルス光では測定が不可能
な長尺な光ファイバに対して光パルス試験を実施する場
合、光パルス試験装置10a は制御用信号の指示により、
光スイッチ71において、駆動側光コネクタ71a と固定側
光コネクタ71b を接続すると共に、フィルタ型光スイッ
チ66をＯＮ状態に、フィルタ型光スイッチ67のスイッチ
をＯＦＦ状態にする。1.55μｍリングレーザ光源70から
発生したパルス光は、通信光遮断光フィルタ70a 、光ス
イッチ71、光ファイバ63、Ａ／Ｏスイッチ65を介してＬ
×Ｍ心線選択装置11のヘッド部22d へ送出される。

【００５６】また、試験光ファイバから1.3 μｍの通信
光を含む光信号として逆戻りしたパルス光はＬ×Ｍ心線
選択装置11のヘッド部22d 、Ａ／Ｏスイッチ65を介して
フィルタ型光スイッチ66まで到達するが、フィルタ型光
スイッチ66がＯＮ状態において、前記光信号のうち1.31
μｍの通信光が遮断されるためパルス光のみが通過し、
且つ、フィルタ型光スイッチ67がＯＦＦ状態において、
後方散乱したパルス光のみが通過し光検出部68へ到達し
て信号解析される。以上の外の動作は前述の第１及び第
２実施例において光ファイバ12a 或いは光ファイバ41a
を光パルス試験する場合、又は、第３及び第４実施例に
おいて光ファイバ41b を光パルス試験する場合と同様で
ある。

【００５７】（第６実施例）次に本発明の第６実施例に
ついて説明する。図７及び図11は本発明の第６実施例の
構成を示す説明図であり、これらの図において、従来の
技術並びに第１、第２、第３、第４及び第５実施例の説
明図の各部に対応する部分には同一符号を付してこれら
の説明を省略する。図７及び図11において、58b は1.55
μｍＬＤ光源であり、本発明の光線路試験システムでは
1.55μｍＬＤ光源58b を光パルス試験用光源として、且
つ、心線対象用光源としても使用する。

【００５８】次に、この第６実施例の動作について説明
する。図11において、第二試験局ビル４に成端されてい
る光ファイバ41b を光心線対照する場合、光パルス試験
装置10a は制御用信号の指示により、1.55μｍＬＤ光源
58b から心線対照光を送出する。これ以外の動作は前述
の第１及び第２実施例において、光ファイバ12a 、光フ
ァイバ41a を光パルス試験する場合、又は、第３及び第
４実施例において、光ファイバ41b を光パルス試験する
場合と同様である。これにより、心線対照光は試験ファ
イバに挿入される。作業場所において、作業者は対象心
線において、心線対照光を受信できるか否かを確認する
ことにより、対象心線の光心線対照を実施できる。

【００５９】

【発明の効果】以上、説明したように、本発明の光線路
試験システムにおける心線選択装置は、複数の光ファイ
バを一列に整列配置した固定側光ファイバと、この複数
の固定側光ファイバから少なくとも２本の任意の光ファ
イバに対向する少なくとも２本の可動側光ファイバを突
き合わせて光路を切り替える機能を有することにより、
光コネクタを使用せずに光ファイバを高密度、且つ、効
率良く収容できるので、高心線収容率化、小型化が図れ
ると共に、収容される試験光ファイバの増減に対応した
心線選択装置の増設、撤去が容易にでき、設備コストの
低減ができるといる利点が得られる。

【００６０】また、光パルス試験装置内にフィルタ型光
スイッチ、通信光遮断フィルタを配置するので、第二心
線選択装置内に設置されていた通信光遮断フィルタ、光
切替えスイッチ、光カプラ、光コネクタ等を撤去でき、
第三心線選択装置内に設置されていた光切替えスイッ
チ、光コネクタ、光ファイバ等を撤去できるので、心線
選択装置の構成の簡素化により、スイッチの制御が簡易
になり、スイッチの動作時間の短縮化、小型化、低コス
ト化が図れる。

【００６１】また、第三心線選択装置内に光スイッチを
設置することにより、光カプラを介して試験光ファイバ
以外の光ファイバにも挿入されたパルス光を無反射で遮
断できるので、折り返しパルス光による試験光ファイバ
への影響を除去できる。

【００６２】また、本発明によれば、新たな通信波長が
光伝送システムに適用された場合に、それらの光伝送シ
ステムの光パルス試験を可能とする光パルス光源、通信
光遮断光フィルタ、ＷＤＭカプラ及びフィルタ型光スイ
ッチ等を増設できる点と、従来の光パルス光源から送出
されるパルス光では測定が不可能な長尺な光ファイバに
対しても光パルス試験を実施できる高出力光源パッケー
ジを光パルス試験装置に容易に増設できる利点があり、
システムの汎用化、高機能化、高性能化が容易に実現で
きると共に、システムダイナミックレンジの拡大を図る
ことができるという利点が得られる。

【００６３】また、本発明によれば、光パルス試験用光
源と心線対照用光源を共用化できるので、試験装置の小
型化、簡素化及び設備コストの大幅な低減に対して著し
い効果がある。

【図面の簡単な説明】

【図１】従来の光線路試験システムの一構成を示す概要
図である。

【図２】従来の光線路試験システムにおける、特に、第
一、第二心線選択装置の構成を示すブロック図である。

【図３】従来の光線路試験システムにおける、特に、第
三心線選択装置の構成を示すブロック図である。

【図４】従来の光線路試験システムにおける、光パルス
試験装置の一構成を示すブロック図である。

【図５】本発明の第１実施例の、特に、第一、第二心線
選択装置の構成を示すブロック図である。

【図６】本発明の第１実施例の、特に、第三心線選択装
置の構成を示すブロック図である。

【図７】本発明の第１実施例の、光パルス試験装置の構
成を示すブロック図である。

【図８】本発明の第２実施例の、特に、第三心線選択装
置の構成を示すブロック図である。

【図９】本発明の第３実施例の、特に、第三心線選択装
置の構成を示すブロック図である。

【図１０】本発明の第４実施例の、特に、第三心線選択
装置の構成を示すブロック図である。

【図１１】本発明の第５実施例の、光パルス試験装置の
構成を示すブロック図である。

【符号の説明】

１ ワークステーション ２ 第一試験局ビル ３ ユーザビルＡ ４ 第二試験局ビル ５ 試験制御装置 ６ 光ファイバケーブル成端架 ７ 光分岐モジュール 7a 光カプラ 7b 光フィルタ ８ １×Ｎ心線選択装置 8a, 8e マトリクス部 8b ヘッド部光コネクタ 8c, 8d 光コネクタ 8f 終端部 8g ヘッド部 ９ ＣＰＵ（制御処理装置） 9a 制御回路 10 試験装置 10a 光パルス試験装置 10b 心線対照用光源 10c 損失試験用光源 10d 光パワーメータ 10e フレームモニタ装置 11 Ｌ×Ｍ心線選択装置 11a マトリクス部 11b ヘッド駆動部 12 加入者光ケーブル 12a 光ファイバ 13 光コネクタ 14 局内側伝送装置 15 局外側伝送装置 16 故障切分け器 17 データ通信回線 17a モデム 18 光ファイバコード 19 光切替えスイッチ 19a 駆動側光コネクタ 19b 固定側光コネクタ 20a, 20b 光ファイバ 21a 光カプラ 21b, 21c 通信光遮断光フィルタ 22a マトリクス部 22b, 22c 終端部 22d ヘッド部 23 光コネクタ接続点 24 中継光ケーブル成端架 25 接続部 25a 融着接続点 26 第一試験局ビル側制御用信号変換器 27a 第一試験局ビル側制御用光ファイバ 27b 第二試験局ビル側制御用光ファイバ 28 第一試験局ビル側光ファイバ 28a, 28b 試験用光ファイバ 29 中継光ケーブル 30 接続部 30a 融着接続点 31 光ファイバ 32 第二試験局側光ファイバ 32a, 32b 試験用光ファイバ 33 第二試験局ビル側制御用信号変換器 34 中継光ケーブル成端架 35 張出用１×Ｎ心線選択装置 35a マトリクス部 35b ヘッド部光コネクタ 35c, 35d 光コネクタ 36 光切替えスイッチ 36a, 36b, 36c 駆動側光コネクタ 36d, 36e, 36f 固定側光コネクタ 36g 光ファイバ 37a 融着接続点 37b 光コネクタ接続点 38 心線選択装置 38a マトリクス部 38b 終端部 38c ヘッド部 38d 光コネクタ 39a, 39b 光ファイバ 40 光分岐モジュール 40a,40c 光カプラ 40b 光フィルタ 41 加入者光ケーブル 41a, 41b 光ファイバ 42 光ファイバケーブル成端架 43 局外側伝送装置 44 局内側伝送装置 45, 46 制御線 47 ユーザビルＢ 48 心線選択装置 48a マトリクス部 48b 終端部 48c ヘッド部 48d 光スイッチ 49 光コネクタ 50 心線選択装置 50a マトリクス部 50b, 50c 終端部 50d ヘッド部 50e 光スイッチ 51 光ファイバコード 52 光コネクタ 53 増設用心線選択装置 53a マトリクス部 53b 終端部 53c ヘッド部 53d 光コネクタ 54, 55 光ファイバコード 56 光ファイバ 57 増設用心線選択装置 57a マトリクス部 57b 終端部 57c ヘッド部 57d, 57e 光コネクタ 58 ＬＤ光源パッケージ 58a 1.31μｍＬＤ光源 58b 1.55μｍＬＤ光源 58c 増設用1.65μｍＬＤ光源 59 ＭＤＭカプラ 59a, 59b, 59c 光コネクタ 60a, 60b 通信光遮断光フィルタ 60c 光コネクタ 61 光ファイバ 61a, 61b 光コネクタ 62 光ファイバ 62a, 62b 光コネクタ 63 光ファイバ 63a, 63b 光コネクタ 64 送受光パッケージ 65 Ａ／Ｏスイッチ 65a, 65b, 65c, 65d 光コネクタ 66 フィルタ型光スイッチ 66a, 66b 光コネクタ 67 フィルタ型光スイッチ 67a, 67b 光コネクタ 68 光検出部 68a 光コネクタ 69 増設用高出力光源パッケージ 70 1.55μｍリングレーザ 70a 通信光遮断光フィルタ 71 光スイッチ 71a 駆動側光コネクタ 71b, 71c 固定側光コネクタ 71d, 71e, 71f 光コネクタ 72 光ファイバ 72a, 72b, 72c 光コネクタ

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 中西 功 東京都千代田区内幸町１丁目１番６号 日 本電信電話株式会社内

Claims (4)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 光ファイバに挿入された光カプラを含む
   光分岐モジュールと、この光分岐モジュールの近傍に配
   置され試験光ファイバの選択を行う第一心線選択装置
   と、試験光ファイバへのパルス光、心線対照光及び光損
   失光の送受並びに試験光ファイバからの光信号の受信を
   行う試験装置及び該試験装置と前記第一心線選択装置と
   の接続を行う第二心線選択装置を有する試験制御装置と
   を含む第一試験局、及び、該第一試験局と中継光ケーブ
   ルを介して接続され、光分岐モジュールと、この光分岐
   モジュールの近傍に配置され前記第一試験局内の前記試
   験制御装置の制御により試験光ファイバの選択を行う第
   三心線選択装置とを含む少なくとも一つの第二試験局を
   具えた光線路試験システムにおいて、 前記第一、第二及び第三心線選択装置が、複数の光ファ
   イバを一列に整列配置した固定側光ファイバと、この複
   数の固定側光ファイバから少なくとも２本の任意の光フ
   ァイバに対向する少なくとも２本の可動側光ファイバを
   突き合わせて光路を切り替える機能を具えたことを特徴
   とする光線路試験システム。
2. 【請求項２】 前記第三心線選択装置は、前記光カプラ
   を介して進入する特定波長又は波長帯域の光信号を遮断
   又は通過させる機能を有する光スイッチを可動側光ファ
   イバヘッド部前部に具えたことを特徴とする請求項１に
   記載の光線路試験システム。
3. 【請求項３】 前記試験装置は、前記光カプラを介して
   進入する特定波長又は波長帯域の光信号を遮断又は通過
   させる機能を有するフィルタ型光スイッチを光パルス試
   験装置内光検出部前部に、通信光遮断光フィルタをパル
   ス光源部前部にそれぞれ具え、他光源、他素子、他パッ
   ケージ等の増設を可能とする汎用的な配線構成を具備し
   たことを特徴とする請求項１に記載の光線路試験システ
   ム。
4. 【請求項４】 前記試験装置は、心線対照用光源を光パ
   ルス試験装置のパルス光源と共用するように構成された
   ことを特徴とする請求項１に記載の光線路試験システ
   ム。